JPH07124114A

JPH07124114A - 眼科用測定装置

Info

Publication number: JPH07124114A
Application number: JP5152271A
Authority: JP
Inventors: Ryoichi Yahagi; 良一矢萩
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1993-06-23
Filing date: 1993-06-23
Publication date: 1995-05-16

Abstract

(57)【要約】【目的】眼球の偏光特性と複屈折性に影響されずにコ
ントラストの良好な干渉信号が得られる眼科用測定装置
を提供する。【構成】眼科用測定装置は、幾何光学的原理を利用し
て角膜頂点位置１２０Ｐを測定する角膜距離測定系１０
０と、物理光学的原理を利用して眼底１５２の位置を測
定する干渉光学系１０１とを備え、干渉光学系１１０１
には測定光源部から出射された光束を被検眼内を経由す
る測定光と可動参照ミラー１７６を経由する参照光とに
分割して測定光路１７１と参照光路１７４とを形成する
と共に測定光路１７１と参照光路１７４とを合成して干
渉光路１７３を形成するビームスプリッタ１３５が設け
られ、干渉光路１３５には眼底１５２により反射された
測定光と可動参照ミラー１７６により反射された参照光
とによる干渉光を受光する受光素子１４２が設けられ、
測定光源部からの光束は直線偏光であり、測定光源部か
ら出射された光束が被検眼１０３に導かれる光路の途中
にその光軸回りに回転調節可能な旋光子１９１が設けら
れている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、幾何光学的原理を利用
して角膜頂点の位置を測定する角膜距離測定系と、物理
光学的原理を利用して眼内測定対象物の位置を測定する
干渉光学系とを備え、眼内測定対象物から角膜頂点の位
置までの長さを測定する眼科用測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、眼科用測定装置には、幾何光
学的原理を利用して角膜頂点の位置を測定する角膜距離
測定系と、物理光学的原理を利用して眼内測定対象物の
位置を測定する干渉光学系とを備え、眼内測定対象物か
ら角膜頂点位置までの長さを測定するものが知られてい
る。

【０００３】この種の眼科用測定装置では、干渉光学系
を利用して眼内測定対象物の位置を測定するために、測
定光束を眼内測定対象物に照射することにより得られる
眼内測定対象物からの反射光束を観測して、干渉信号を
得ている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、被検眼の眼
球（眼内測定対象物）に異常屈折、偏光特性が存在しな
い場合には、眼内測定対象物により反射された測定光と
被検眼対応参照面で反射された参照光とをそのまま干渉
させることにより、コントラストの良好な干渉信号を得
ることができる。

【０００５】しかしながら、被検眼の眼球には複屈折性
が存在する。この場合には、直線偏光の測定光を用いた
としても、眼内測定対象物により反射された測定光が常
光線と異常光線との２つの偏光光束となるため、これら
２つの偏光光束の間で位相差が生じる。また、眼内測定
対象物が眼底の場合、網膜に存在する視神経繊維、血管
等のため、途中に存在する水晶体、角膜も繊維状又は膜
状となつているため、眼底からの反射光束が偏光光束と
なる。

【０００６】この種の偏光が存在すると、眼内測定対象
物により反射された測定光の偏光方向と眼内測定対象物
に入射する測定光の偏光方向とが不一致の場合、特に眼
内測定対象物からの反射光量が少ない場合に眼内測定対
象物により反射された測定光と被検眼対応参照面により
反射された参照光とを干渉させたときに、受光素子から
得られる干渉信号のコントラストが低下し、正確な生体
眼の寸法の測定ができなくなる。被検眼に白内障眼等の
疾患が存在する場合にこのような干渉信号のコントラス
トの低下がとりわけ生じる。

【０００７】本発明は上記の事情を考慮して為されたも
のであり、眼球の偏光特性と複屈折性とに影響されずに
コントラストの良好な干渉信号が得られる眼科用測定装
置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明に係わる請求項１
に記載の眼科用測定装置は、上記の課題を解決するた
め、測定のための光束を射出する測定光源部と、該測定
光源部から射出された光束を被検眼内を経由する測定光
と被検眼対応参照面を経由する参照光とに分割して、測
定光路と参照光路とを形成すると共に、該測定光路と該
参照光路とを合成して干渉光路を形成するビームスプリ
ッタを含む干渉光学系と、前記被検眼内の測定対象物に
より反射された測定光と前記被検眼対応参照面により反
射された参照光とによる干渉光を受光する受光素子を有
する眼科用測定装置において、前記測定光源部は直線偏
光の光束を射出するものとし、前記測定光源部から射出
される光束が前記測定光路と前記参照光路とに分割され
る前にその光軸回りに回転可能な旋光子が設けられてい
ることを特徴とする。

【０００９】本発明に係わる請求項２に記載の眼科用測
定装置は、上記の課題を解決するため、幾何光学的原理
を利用して角膜頂点位置を測定する角膜距離測定系と、
物理光学的原理を利用して眼内測定対象物の位置を測定
する干渉光学系とを備え、該干渉光学系には測定光源部
から出射された光束を被検眼内を経由する測定光と被検
眼対応参照面を経由する参照光とに分割して測定光路と
参照光路とを形成すると共に該測定光路と該参照光路と
を合成して干渉光路を形成するビームスプリッタが設け
られ、前記干渉光路には前記眼内測定対象物により反射
された測定光と前記被検眼対応参照面により反射された
参照光とによる干渉光を受光する受光素子が設けられ、
眼内測定対象物から角膜頂点位置までの長さを測定する
眼科用測定装置において、前記測定光源部からの光束が
直線偏光であり、該測定光源部から出射された光束が前
記被検眼に導かれる光路の途中にその光軸回りに回転調
節可能な旋光子が設けられていることを特徴とする。

【００１０】

【作用】本発明に係わる眼科用測定装置によれば、測定
光は被検眼に直線偏光で入射される。その際、受光素子
から得られる干渉信号のコントラストが最大となるよう
に、旋光子が光軸回りに回転調節される。

【００１１】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。

【００１２】図１において、１００は角膜距離測定系、
１０１は干渉光学系、１０２は被検眼角膜にリング状の
光束を照射するリング状光源投影部、１０３は被検眼、
１０４は対物レンズである。

【００１３】角膜距離測定系１００は、第１光路１０
５、第２光路１０６を有している。第１光路１０５は二
次元イメージセンサ１０７、結像レンズ１０８、ハーフ
ミラー１０９、絞り１１０、レンズ１１１、全反射ミラ
ー１１２、レンズ１１３、ハーフミラー１１４、ダイク
ロイックミラー１１５、対物レンズ１０４から大略構成
されている。第２光路１０６は、全反射ミラー１１６、
レンズ１１７、全反射ミラー１１８，１１９、絞り１２
４から大略構成されている。

【００１４】リング状光源投影部１０２は、リング状光
源とパターン板（図示を略す）とからなり、ここでは、
メリジオナル横断光線が平行であるような照明光を被検
眼１０３に投影している。この照明光を被検眼１０３に
向かって照射すると、被検眼１０３の角膜１２０にはリ
ング状の虚像１２１が形成される。ここで、リング状光
源投影部１０２の照明光の波長は９００ｎｍ〜１０００
ｎｍである。ダイクロイックミラー１１５は、その照明
光を透過し、後述する測定光源部から出射された所定波
長の光束を反射する役割を果たす。

【００１５】角膜１２０による反射光は、対物レンズ１
０４、ダイクロイックミラー１１５を介してハーフミラ
ー１１４に導かれ、第１光路１０５と第２光路１０６と
に分岐される。第１光路１０５に導かれた反射光は、レ
ンズ１１３に基づきいったんリング状の空中像１２２と
して結像され、更に、全反射ミラー１１２、レンズ１１
１、絞り１１０、ハーフミラー１０９、結像レンズ１０
８を経由して、二次元イメージセンサ１０７にリング像
ｉ₂（図２参照）として結像される。なお、このリング
像ｉ₂の結像倍率は、ここでは０．５倍とする。第２光
路１０６に導かれた反射光は、全反射ミラー１１９によ
り反射され、対物レンズ１０４に基づき一旦空中像１２
３として結像され、全反射ミラー１１８、レンズ１１
７、全反射ミラー１１６、絞り１２４、ハーフミラー１
０９、結像レンズ１０８を経由して、二次元イメージセ
ンサ１０７にリング像ｉ₁として結像される。このリン
グ像ｉ₁の結像倍率は、リング像ｉ₂の結像倍率よりも大
きく設定されている。

【００１６】絞り１１０は、レンズ１１１、レンズ１１
３によって対物レンズ１０４の後方焦点位置付近にリレ
ーされ、共役像１２５がその対物レンズ１０４の後方焦
点位置に形成され、第１光路１０５の光学系は物体側に
テレセントリックである。絞り１２４は、レンズ１１７
によって被検眼１０３の前方（対物レンズ１０４の前
方）にリレーされ、ここでは、その共役像（実像）１２
６が被検眼１０３の前方２５ｍｍ〜５０ｍｍの個所に形
成される。

【００１７】この角膜距離測定系１００を用いての角膜
頂点１２０Ｐの位置は、二次元受光素子１０７に結像さ
れたリング状の像ｉ₂，ｉ₁に基づき求められ、その詳細
は特願平２−１４５１０７号（発明の名称：眼内長さ測
定装置：出願日平成２年５月３１日；特開平４−３５
６３７号公報）に記載されているのでその詳細な説明は
割愛する。

【００１８】次に、干渉光学系１０１について説明す
る。

【００１９】干渉光学系１０１は測定光源１３０、眼底
１５２からの反射光の戻りを防止すると共に直線偏光子
の役割を果たす光アイソレータ１９０、レンズ１３３か
ら構成され、これらは測定光源部を構成している。測定
光源１３０には、低コヒーレント長のもので、そのコヒ
ーレント長が例えば、０．０５ｍｍ〜０．１ｍｍ程度の
ものを使用する。その測定光源１３０はレーザー駆動部
１５３により駆動される。

【００２０】測定光源１３０から出射された光束は光ア
イソレータ１９０によって光軸回りに４５度の直線偏光
とされる。この光束はレンズ１３３によってピンホール
１３４に収束される。ピンホール１３４は準点光源とし
ての役割を果たす。ピンホール１３４を通過した光束は
ビームスプリッタ１３５に導かれる。ビームスプリッタ
１３５とピンホール１３４との間には１／２波長板１９
１が設けられている。この１／２波長板１９１は光軸回
りに−９０度方向に直線偏光の方向を回転させる。

【００２１】ビームスプリッタ１３５は、測定光源部か
ら出射された光束を被検眼内を経由する測定光と被検眼
対応参照面を経由する参照光とに分割して測定光路１７
１と参照光路１７４とを形成すると共にこの測定光路１
７１と参照光路１７４とを合成して干渉光路１７３を形
成する。

【００２２】測定光路１７１にはレンズ１３６、合焦レ
ンズ１３７、ダイクロイックミラー１１５、対物レンズ
１０４が設けられている。参照光路１７４にはコリメー
トレンズ１３８、全反射ミラー１７２、被検眼対応参照
面としての可動参照ミラー１７６が設けられている。干
渉光路１７３にはピンホール１４０、レンズ１４１、受
光素子１４２が設けられている。

【００２３】レンズ１３６は、ビームスプリッタ１３５
によって反射された光束ををコリメートする役割を果た
す。レンズ１３６によってコリメートされた光束は測定
光として合焦レンズ１３７に導かれる。合焦レンズ１３
７は光軸方向に移動可能とされ、被検眼１０３に対する
屈折力補正光学系としての役割を果たす。２００はその
合焦レンズ１３７の駆動モータである。

【００２４】合焦レンズ１３７を通過した測定光は、ダ
イクロイックミラー１１５、対物レンズ１０４を通り、
被検眼１０３に導かれ、眼内測定対象物としての眼底１
５２に収束される。

【００２５】合焦レンズ１３７は、眼底１５２より反射
された測定光をコリメートする機能を果たし、このコリ
メートされた測定光はレンズ１３６、ビームスプリッタ
１３５を経由してピンホール１４０にリレーされる。ピ
ンホール１４０は、ピンホール１３４とビームスプリッ
タ１３５との反射面に関して共役位置に設けられ、被検
眼１０３に対して対物レンズ１０４の光軸が多少ずれて
も眼底１５２により反射された測定光はピンホール１４
０を通過できる。

【００２６】ビームスプリッタ１３５を通過した光束は
コリメートレンズ１３８に参照光として導かれる。参照
光はコリメートレンズ１３８により平行光束とされ、全
反射ミラー１７２で反射され、可動参照ミラー１７６に
導かれる。可動参照ミラー１７６は、参照光路１７４の
光路長と測定光路１７１の測定光路長とが同じになるよ
うに移動される。

【００２７】可動参照ミラー１７６により反射された参
照光はビームスプリッタ１３５により反射されて測定光
と合成され、干渉光となる。この干渉光はピンホール１
４０にリレーされ、そのピンホール１４０を通過した干
渉光は、レンズ１４１によって集光され、受光素子１４
２に収束される。

【００２８】可動参照ミラー１７６を移動させて、参照
光路１７４と測定光路１７１との光路差がコヒーレント
長以下になると、参照光と測定光とが干渉を起こし、可
動参照ミラー１７６の移動速度と測定光源１３０から出
射された光束の発振波長とに応じた干渉信号が受光素子
１４２に得られる。この干渉信号は、参照光路１７４と
測定光路１７１との光路差が測定光源１３０の発振波長
の一波長分変化するごとに正弦波的に変化し、参照光路
１７４と測定光路１７１との光路長が等しくなった時、
最も強い干渉が得られる。つまり、最も強い干渉が得ら
れた時の参照光路１７４の光路長が測定光路１７１の光
路長に等しく、このときの可動参照ミラー１７６の位置
がビームスプリッタ１３５の反射面に対して眼底１５２
と同一の位置になる。

【００２９】次に、図３を参照しつつ信号処理の詳細を
説明する。

【００３０】眼底１５２により反射された測定光は、参
照光に比べて微弱光であり、光量差が大きい。しかし、
両光束を干渉させて干渉信号として測定するので、受光
素子１４２の暗電流に基づくノイズ成分等を除去するこ
とができ、効率よく信号成分を検出することができる。
そのため、増幅器１５０は、受光素子１４２の干渉信号
の交流成分のみを増幅する。

【００３１】この時得られる干渉信号Ｃ₄は、図４に示
すように０Ｖを中心とする交流波形となるが、ショット
ノイズ等のランダムノイズに埋もれている。このため、
このままでは、干渉信号Ｃ₄が得られた時点の可動参照
ミラー１７６の位置を検出することが困難である。

【００３２】しかしながら、干渉信号Ｃ₄の周波数ｆ
は、可動参照ミラー１７６の移動速度Ｖと、測定光源１
３０の発信波長λ₀とが既知であれば、下記の式により
求めることができる。

【００３３】ｆ＝２・Ｖ／λ₀ ここで、可動参照ミラー１７６の移動量を適宜に設定
し、測定中の移動速度Ｖを一定と考えれば、周波数ｆに
中心周波数を有するバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）１７
９を使用することにより、ランダムノイズから干渉信号
Ｃ₄のみを抽出できる。

【００３４】可動参照ミラー１７６の位置を横軸にと
り、受光素子１４２の出力電圧を縦軸にとると、バンド
パスフィルタ１７９から図４に示す干渉信号Ｃ₄が得ら
れる。この干渉信号Ｃ₄は、全波整流回路１８０に入力
され、図５に示す整流波形Ｃ₅に波形整形される。その
整流波形Ｃ₅は、平滑回路１８１に入力され、図６に示
す平滑波形Ｃ₆とされる。

【００３５】平滑波形Ｃ₆は、ピークホールド回路１８
２を介して比較回路１８３に入力されると共に、Ａ／Ｄ
コンバータ１８９に入力される。ピークホールド回路１
８２は、平滑波形Ｃ₆よりもΔＶだけ低い電圧をピーク
電圧として保持し、この保持電圧を出力する。すなわ
ち、ピークホールド回路１８２は、図７に示すような波
形Ｃ₇を出力する。比較回路１８３は、波形Ｃ₆と波形Ｃ
₇を比較し、波形Ｃ₇が波形Ｃ₆よりも大きくなった位置
Ｘ₀で、出力がＬからＨになり、ステップ信号Ｃ₈を出力
することになる。

【００３６】ここで、ΔＶが平滑波形Ｃ₆の出力ピーク
レベルＶに対して十分に小さければ、比較回路１８３の
出力信号の反転する位置Ｘ₀の本来のピーク位置Ｘ_pとの
ずれ量としてのｄを十分に小さいと考えてよく、比較回
路１８３の出力信号が反転する時の可動参照ミラー１７
６の位置Ｘ₀を干渉が最も強く生じた時点の可動参照ミ
ラー１７６の位置とみなしてよい。

【００３７】比較回路１８３の出力信号は、ラッチ回路
１８４、制御回路１５７に入力される。可動参照ミラー
１７６は、ユニット駆動部１８５により駆動され、位置
検出回路１８６でその位置データを検出可能な構成とさ
れている。ラッチ回路１８４は、可動参照ミラー１７６
の移動量を表す位置検出回路１８６の位置データをラッ
チする。

【００３８】位置検出回路１８６は、例えば、ユニット
駆動部１８５のモータの回転に伴ってパルス列を出力す
るエンコーダの出力信号をカウントし、そのカウント数
から可動参照ミラー１７６の移動量を検出する構成とす
ればよい。また、可動参照ミラー１７６に直接セットさ
れたリニアエンコーダの出力信号をカウントしてもよ
い。

【００３９】従って、ラッチ回路１８４は、干渉信号Ｃ
₄が最も強く現れた時の可動参照ミラー１７６の位置デ
ータを保存する。その位置データは、演算部１２９に入
力され、基準位置から眼内測定対象物１５２までの距離
が測定される。また、角膜距離測定系１００により、基
準位置から角膜頂点１２０Ｐまでの距離を測定すること
が可能なため、両測定結果から生体眼の寸法を測定する
ことができる。

【００４０】しかし、実際の測定は、１／２波長板１９
１の回転調節の作業を行ってから測定する。測定結果
は、表示部１６４に表示される。

【００４１】ここで、被検眼１０３の微動の影響を除去
するために、両測定が同時に行われる必要があるが、比
較回路１８３の出力信号を角膜距離測定系１００のスタ
ート信号として使用し、制御回路１５７がスタート信号
を検出すると同時に、二次元イメージセンサ１０７のリ
ング像ｉ₁，ｉ₂のデータをフレームメモリ１６３に取り
込むことにより、同時測定を行うことができる。

【００４２】バンドパスフィルタ１７９、全波整流回路
１８０、平滑回路１８１、ピークホールド回路１８２、
比較回路１８３を有する波形整形回路１７８は、角膜距
離測定系１００のスタート信号生成部１７８としての機
能を果たす。

【００４３】次に、旋光子（１／２波長板）の回転調節
手段について説明する。

【００４４】１／２波長板操作部１９３から制御回路１
５７へ回転駆動信号を送ると、制御回路１５７はパルス
モータＭ₁を駆動し、１／２波長板１９１が回転され
る。その１／２波長板１９１の回転速度は、可動参照ミ
ラー１７６の移動速度と合焦レンズ１３７の移動速度と
に同期しない速度とする。即ち、可動参照ミラー１７６
の一行程期間（可動参照ミラー１７６が移動可能とされ
ている範囲の端から端まで移動するのに必要な期間）と
合焦レンズ１３７の一行程期間（合焦レンズ１３７が移
動可能とされる範囲の端から端まで移動するのに必要な
期間）に差をもたせる必要がある。

【００４５】ここで、可動参照ミラー１７６の一行程期
間が合焦レンズ１３７の一行程期間よりも充分短いか又
はその逆で充分に長い場合、すなわち、この差を大きく
することによって、測定時間を短縮することができる。

【００４６】１／２波長板１９１の軸を０°〜９０°回
転すると、１／２波長板１９１に入射する前の直線偏光
の方向に対してこの１／２波長板１９１を透過した後の
直線偏光の方向は光軸回りに０°〜１８０°回転するこ
ととなる。これにより、眼底１５２からの測定光の反射
光量が最大になるのがどの偏光方向であっても対応でき
ることになる。

【００４７】そこで、１／２波長板１９１を０°〜９０
°まで回転させ、受光素子１４２から出力される干渉信
号を増幅器１５０、バンドパスフィルタ１７９、全波整
流回路１８０、平滑回路１８１を介してＡ／Ｄコンバー
タ１８９に導き、Ａ／Ｄコンバータ１８９によりデータ
変換して制御回路１５７に干渉信号のデータを蓄積し、
この干渉信号のデータのうち受光量が最大となる１／２
波長板１９１の回転角を抽出し（干渉信号のコントラス
トが最も良好なときの１／２波長板１９１の回転角を抽
出し）、この１／２波長板１９１の回転角位置にこれら
を事前にセットする。そして、制御回路１５７は、その
後、生体眼の実際の寸法測定に入ることにする。

【００４８】なお、符号１６０はピークホールドレベル
を表示するレベル表示回路、１６２は二次元イメージセ
ンサ１０７からデータが入力されるゲートアレー、符号
１６３はフレームメモリー、符号１７０はモニターテレ
ビである。

【００４９】実施例では、受光素子１４２からの干渉信
号のコントラストが最も良好な箇所で、１／２波長板１
９１を自動的に停止させる手段を説明したが、レベル表
示回路１６０により干渉信号の状態を確認しながら、１
／２波長板操作部１９３を手動で操作することにより、
１／２波長板１９１を光軸回りに調節する方法も考えら
れる。

【００５０】なお、生体眼の寸法は、装置光学系から角
膜頂点までの位置と装置光学系から眼内測定対象物まで
の位置に基づき求められるが、その詳細については、特
願平２−１４５１０７５号に記載されているので、説明
は割愛する。また、測定・演算の詳細については、特願
平３−２７９６９７号（発明の名称；視度調整機能付眼
軸長測定装置；平成３年１０月２５日出願；国内優先に
よる取り下げ）及び特願平４−２８６１０９号（発明の
名称；屈折力補正機能付生体眼寸法測定装置；特願平３
−２７９６９７号に基づく国内優先権主張出願；平成４
年１０月２３日出願）に記載されているので、説明は割
愛する。

【００５１】本発明はこれに限定されるものではなく、
他の方式、例えば干渉光学系の測定光源１３０の可干渉
距離が長くかつ波長変化が可能な光源により角膜１２０
Ｐから眼内測定対象物１５２までの距離を測る生体眼寸
法測定装置などにも適用することができる。

【００５２】

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成した
ので、眼球の偏光特性と複屈折性とに影響されずに確実
に眼内測定対象物から反射光が得られ、その結果、正確
に生体眼の寸法を測定することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例に係る眼科用測定装置の光学図
である。

【図２】二次元イメージセンサに結像された２重のリン
グ像を示す説明図である。

【図３】本発明の眼科用測定装置のブロック回路図であ
る。

【図４】干渉信号を示す波形図である。

【図５】干渉信号の整流波形図である。

【図６】干渉信号の整流波形を平滑した波形図である。

【図７】図６に示す波形のピークホールドを検出するた
めの説明図である。

【符号の説明】

１０３被検眼１３０測定光源１３５ビームスプリッタ１７１測定光路１７３干渉光路１７４参照光路１９０偏光ビームスプリッタ（直線偏光子）１９１１／２波長板（旋光子）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】測定のための光束を射出する測定光源部
と、該測定光源部から射出された光束を被検眼内を経由する
測定光と被検眼対応参照面を経由する参照光とに分割し
て、測定光路と参照光路とを形成すると共に、該測定光
路と該参照光路とを合成して干渉光路を形成するビーム
スプリッタを含む干渉光学系と、前記被検眼内の測定対象物により反射された測定光と前
記被検眼対応参照面により反射された参照光とによる干
渉光を受光する受光素子を有する眼科用測定装置におい
て、前記測定光源部は直線偏光の光束を射出するものとし、前記測定光源部から射出される光束が前記測定光路と前
記参照光路とに分割される前にその光軸回りに回転可能
な旋光子が設けられていることを特徴とする眼科用測定
装置。
【請求項２】幾何光学的原理を利用して角膜頂点位置
を測定する角膜距離測定系と、物理光学的原理を利用し
て眼内測定対象物の位置を測定する干渉光学系とを備
え、該干渉光学系には測定光源部から出射された光束を
被検眼内を経由する測定光と被検眼対応参照面を経由す
る参照光とに分割して測定光路と参照光路とを形成する
と共に該測定光路と該参照光路とを合成して干渉光路を
形成するビームスプリッタが設けられ、前記干渉光路に
は前記眼内測定対象物により反射された測定光と前記被
検眼対応参照面により反射された参照光とによる干渉光
を受光する受光素子が設けられ、眼内測定対象物から角
膜頂点位置までの長さを測定する眼科用測定装置におい
て、前記測定光源部からの光束が直線偏光であり、該測定光
源部から出射された光束が前記被検眼に導かれる光路の
途中にその光軸回りに回転調節可能な旋光子が設けられ
ていることを特徴とする眼科用測定装置。
【請求項３】前記旋光子が前記測定光源部と前記ビー
ムスプリッタとの間に設けられていることを特徴とする
請求項１又は２に記載の眼科用測定装置。