JP2005331929A - 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム - Google Patents

画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム Download PDF

Info

Publication number
JP2005331929A
JP2005331929A JP2005116438A JP2005116438A JP2005331929A JP 2005331929 A JP2005331929 A JP 2005331929A JP 2005116438 A JP2005116438 A JP 2005116438A JP 2005116438 A JP2005116438 A JP 2005116438A JP 2005331929 A JP2005331929 A JP 2005331929A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
pixel
display
panel
obtaining
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2005116438A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2005331929A5 (enExample
Inventor
Masahiko Hayakawa
昌彦 早川
Tatsuji Nishijima
辰司 西島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP2005116438A priority Critical patent/JP2005331929A/ja
Publication of JP2005331929A publication Critical patent/JP2005331929A/ja
Publication of JP2005331929A5 publication Critical patent/JP2005331929A5/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
JP2005116438A 2004-04-19 2005-04-14 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム Withdrawn JP2005331929A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005116438A JP2005331929A (ja) 2004-04-19 2005-04-14 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004122618 2004-04-19
JP2005116438A JP2005331929A (ja) 2004-04-19 2005-04-14 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005331929A true JP2005331929A (ja) 2005-12-02
JP2005331929A5 JP2005331929A5 (enExample) 2008-03-21

Family

ID=35486595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005116438A Withdrawn JP2005331929A (ja) 2004-04-19 2005-04-14 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005331929A (enExample)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007212996A (ja) * 2006-02-06 2007-08-23 Lg Philips Lcd Co Ltd 平板表示装置とその画質制御方法及び平板表示装置
JP2008096302A (ja) * 2006-10-12 2008-04-24 Yokogawa Electric Corp 欠陥検査装置
JP2010266502A (ja) * 2009-05-12 2010-11-25 Casio Computer Co Ltd 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法
KR101182327B1 (ko) 2006-06-29 2012-09-24 엘지디스플레이 주식회사 평판표시장치와 그 화질제어 방법
JP2012215425A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Sony Corp 輝度ムラ検出装置、輝度ムラ検出方法及び表示装置
JP2013127484A (ja) * 2013-03-22 2013-06-27 Toshiba Corp 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム
WO2013118304A1 (ja) * 2012-02-10 2013-08-15 シャープ株式会社 検査装置、検査方法、および記録媒体
WO2013128616A1 (ja) * 2012-03-01 2013-09-06 株式会社日本マイクロニクス 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置
WO2013128617A1 (ja) * 2012-03-01 2013-09-06 株式会社日本マイクロニクス 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置
JP2014119362A (ja) * 2012-12-18 2014-06-30 Lg Display Co Ltd フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法
JP2014119363A (ja) * 2012-12-18 2014-06-30 Lg Display Co Ltd フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法
KR20140086619A (ko) * 2012-12-28 2014-07-08 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법
JPWO2014128821A1 (ja) * 2013-02-19 2017-02-02 株式会社イクス パターン位置検出方法、パターン位置検出システム及びこれらを用いた画質調整技術
JP2019144245A (ja) * 2018-02-22 2019-08-29 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. 前処理を含む線欠陥検出システム及び方法
KR20210016247A (ko) * 2019-07-31 2021-02-15 삼성디스플레이 주식회사 얼룩 검출 장치, 얼룩 검출 방법 및 표시 장치
CN116259261A (zh) * 2021-12-09 2023-06-13 乐金显示有限公司 补偿显示装置的方法
CN120198787A (zh) * 2025-05-26 2025-06-24 中国人民解放军海军航空大学 面向边缘结构清晰度的sar图像质量评价方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0829360A (ja) * 1994-07-14 1996-02-02 Advantest Corp Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法
JPH08327497A (ja) * 1995-05-31 1996-12-13 Sanyo Electric Co Ltd カラー液晶表示パネルの検査方法
JP2000105167A (ja) * 1998-09-30 2000-04-11 Advantest Corp 画質検査装置のアドレス・キャリブレーション方法
JP2003042900A (ja) * 2001-08-02 2003-02-13 Seiko Epson Corp 検査装置及び検査方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0829360A (ja) * 1994-07-14 1996-02-02 Advantest Corp Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法
JPH08327497A (ja) * 1995-05-31 1996-12-13 Sanyo Electric Co Ltd カラー液晶表示パネルの検査方法
JP2000105167A (ja) * 1998-09-30 2000-04-11 Advantest Corp 画質検査装置のアドレス・キャリブレーション方法
JP2003042900A (ja) * 2001-08-02 2003-02-13 Seiko Epson Corp 検査装置及び検査方法

Cited By (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007212996A (ja) * 2006-02-06 2007-08-23 Lg Philips Lcd Co Ltd 平板表示装置とその画質制御方法及び平板表示装置
KR101182327B1 (ko) 2006-06-29 2012-09-24 엘지디스플레이 주식회사 평판표시장치와 그 화질제어 방법
JP2008096302A (ja) * 2006-10-12 2008-04-24 Yokogawa Electric Corp 欠陥検査装置
JP2010266502A (ja) * 2009-05-12 2010-11-25 Casio Computer Co Ltd 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法
JP2012215425A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Sony Corp 輝度ムラ検出装置、輝度ムラ検出方法及び表示装置
WO2013118304A1 (ja) * 2012-02-10 2013-08-15 シャープ株式会社 検査装置、検査方法、および記録媒体
JPWO2013128616A1 (ja) * 2012-03-01 2015-07-30 株式会社日本マイクロニクス 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置
TWI501627B (zh) * 2012-03-01 2015-09-21 Nihon Micronics Kk Display unevenness detection method and device thereof
WO2013128617A1 (ja) * 2012-03-01 2013-09-06 株式会社日本マイクロニクス 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置
KR101640118B1 (ko) 2012-03-01 2016-07-15 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치
WO2013128616A1 (ja) * 2012-03-01 2013-09-06 株式会社日本マイクロニクス 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置
KR101637408B1 (ko) * 2012-03-01 2016-07-07 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치
CN104137171A (zh) * 2012-03-01 2014-11-05 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 显示设备的显示不均匀检测方法及其装置
KR20140133881A (ko) * 2012-03-01 2014-11-20 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치
KR20140133882A (ko) * 2012-03-01 2014-11-20 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치
JPWO2013128617A1 (ja) * 2012-03-01 2015-07-30 株式会社日本マイクロニクス 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置
TWI501626B (zh) * 2012-03-01 2015-09-21 Nihon Micronics Kk Display unevenness detection method and device thereof
JP2014119363A (ja) * 2012-12-18 2014-06-30 Lg Display Co Ltd フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法
JP2014119362A (ja) * 2012-12-18 2014-06-30 Lg Display Co Ltd フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法
KR102090706B1 (ko) * 2012-12-28 2020-03-19 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법
KR20140086619A (ko) * 2012-12-28 2014-07-08 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법
JPWO2014128821A1 (ja) * 2013-02-19 2017-02-02 株式会社イクス パターン位置検出方法、パターン位置検出システム及びこれらを用いた画質調整技術
JP2013127484A (ja) * 2013-03-22 2013-06-27 Toshiba Corp 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム
KR102611224B1 (ko) 2018-02-22 2023-12-07 삼성디스플레이 주식회사 전처리를 포함하는 선 결함 감지 시스템 및 방법
KR20190101874A (ko) * 2018-02-22 2019-09-02 삼성디스플레이 주식회사 전처리를 포함하는 선 결함 감지 시스템 및 방법
JP7274885B2 (ja) 2018-02-22 2023-05-17 三星ディスプレイ株式會社 表示装置の欠陥識別システム及び方法
JP2019144245A (ja) * 2018-02-22 2019-08-29 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. 前処理を含む線欠陥検出システム及び方法
KR20210016247A (ko) * 2019-07-31 2021-02-15 삼성디스플레이 주식회사 얼룩 검출 장치, 얼룩 검출 방법 및 표시 장치
KR102880769B1 (ko) 2019-07-31 2025-11-05 삼성디스플레이 주식회사 얼룩 검출 장치, 얼룩 검출 방법 및 표시 장치
US20230186426A1 (en) * 2021-12-09 2023-06-15 Lg Display Co., Ltd. Method of Compensating Display Device
JP2023086096A (ja) * 2021-12-09 2023-06-21 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド 表示装置の補償方法
US12039691B2 (en) * 2021-12-09 2024-07-16 Lg Display Co., Ltd. Method of compensating display device
US12340483B2 (en) * 2021-12-09 2025-06-24 Lg Display Co., Ltd. Method of compensating display device
CN116259261A (zh) * 2021-12-09 2023-06-13 乐金显示有限公司 补偿显示装置的方法
CN120198787A (zh) * 2025-05-26 2025-06-24 中国人民解放军海军航空大学 面向边缘结构清晰度的sar图像质量评价方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8340457B2 (en) Image analysis method, image analysis program and pixel evaluation system having the sames
CN101210890B (zh) 缺陷检测装置及方法、图像传感器器件和模块
CN102132147B (zh) 缺陷检测装置
US8391585B2 (en) Defect detecting device, defect detecting method, image sensor device, image sensor module, defect detecting program, and computer-readable recording medium
JP2005331929A (ja) 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム
JP3333686B2 (ja) 表示画面検査方法
CN113785181A (zh) Oled屏幕点缺陷判定方法、装置、存储介质及电子设备
JP2007315967A (ja) 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、および、それを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
CN113469171A (zh) 识别sfr测试卡图像中感兴趣区域的方法及装置、介质
JPWO2014013792A1 (ja) ノイズ評価方法、画像処理装置、撮像装置およびプログラム
JP2005331929A5 (enExample)
JP2009036582A (ja) 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム
JPH09101236A (ja) 表示欠陥検査装置および表示欠陥検査方法
JP3695120B2 (ja) 欠陥検査方法
JP4520880B2 (ja) しみ検査方法及びしみ検査装置
CN118397664B (zh) 一种壳体指纹残留的检测方法及装置
JP2005140655A (ja) シミ欠陥の検出方法及びその検出装置
JP4244046B2 (ja) 画像処理方法および画像処理装置
JP2004219176A (ja) 画素ムラ欠陥の検出方法及び装置
CN110458840B (zh) 一种降低面板缺陷过检率的方法、系统及终端设备
JP3941403B2 (ja) 画像濃淡ムラ検出方法及びこの検査装置
JP2010044010A (ja) 網入りまたは線入りガラスの欠陥検出方法
KR100484675B1 (ko) 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한검사 방법
JP4491922B2 (ja) 表面欠陥検査方法
JP3912063B2 (ja) 画像濃淡ムラの検出方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Effective date: 20080130

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A621 Written request for application examination

Effective date: 20080130

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20110621

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20110805

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20121002

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20121126