JP2005331929A - 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム - Google Patents
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Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007212996A (ja) * | 2006-02-06 | 2007-08-23 | Lg Philips Lcd Co Ltd | 平板表示装置とその画質制御方法及び平板表示装置 |
| JP2008096302A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-04-24 | Yokogawa Electric Corp | 欠陥検査装置 |
| JP2010266502A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-25 | Casio Computer Co Ltd | 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法 |
| KR101182327B1 (ko) | 2006-06-29 | 2012-09-24 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시장치와 그 화질제어 방법 |
| JP2012215425A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Sony Corp | 輝度ムラ検出装置、輝度ムラ検出方法及び表示装置 |
| JP2013127484A (ja) * | 2013-03-22 | 2013-06-27 | Toshiba Corp | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
| WO2013118304A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 検査装置、検査方法、および記録媒体 |
| WO2013128616A1 (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-06 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置 |
| WO2013128617A1 (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-06 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置 |
| JP2014119362A (ja) * | 2012-12-18 | 2014-06-30 | Lg Display Co Ltd | フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法 |
| JP2014119363A (ja) * | 2012-12-18 | 2014-06-30 | Lg Display Co Ltd | フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法 |
| KR20140086619A (ko) * | 2012-12-28 | 2014-07-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법 |
| JPWO2014128821A1 (ja) * | 2013-02-19 | 2017-02-02 | 株式会社イクス | パターン位置検出方法、パターン位置検出システム及びこれらを用いた画質調整技術 |
| JP2019144245A (ja) * | 2018-02-22 | 2019-08-29 | 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. | 前処理を含む線欠陥検出システム及び方法 |
| KR20210016247A (ko) * | 2019-07-31 | 2021-02-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | 얼룩 검출 장치, 얼룩 검출 방법 및 표시 장치 |
| CN116259261A (zh) * | 2021-12-09 | 2023-06-13 | 乐金显示有限公司 | 补偿显示装置的方法 |
| CN120198787A (zh) * | 2025-05-26 | 2025-06-24 | 中国人民解放军海军航空大学 | 面向边缘结构清晰度的sar图像质量评价方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0829360A (ja) * | 1994-07-14 | 1996-02-02 | Advantest Corp | Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法 |
| JPH08327497A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-13 | Sanyo Electric Co Ltd | カラー液晶表示パネルの検査方法 |
| JP2000105167A (ja) * | 1998-09-30 | 2000-04-11 | Advantest Corp | 画質検査装置のアドレス・キャリブレーション方法 |
| JP2003042900A (ja) * | 2001-08-02 | 2003-02-13 | Seiko Epson Corp | 検査装置及び検査方法 |
-
2005
- 2005-04-14 JP JP2005116438A patent/JP2005331929A/ja not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0829360A (ja) * | 1994-07-14 | 1996-02-02 | Advantest Corp | Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法 |
| JPH08327497A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-13 | Sanyo Electric Co Ltd | カラー液晶表示パネルの検査方法 |
| JP2000105167A (ja) * | 1998-09-30 | 2000-04-11 | Advantest Corp | 画質検査装置のアドレス・キャリブレーション方法 |
| JP2003042900A (ja) * | 2001-08-02 | 2003-02-13 | Seiko Epson Corp | 検査装置及び検査方法 |
Cited By (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007212996A (ja) * | 2006-02-06 | 2007-08-23 | Lg Philips Lcd Co Ltd | 平板表示装置とその画質制御方法及び平板表示装置 |
| KR101182327B1 (ko) | 2006-06-29 | 2012-09-24 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시장치와 그 화질제어 방법 |
| JP2008096302A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-04-24 | Yokogawa Electric Corp | 欠陥検査装置 |
| JP2010266502A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-25 | Casio Computer Co Ltd | 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法 |
| JP2012215425A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Sony Corp | 輝度ムラ検出装置、輝度ムラ検出方法及び表示装置 |
| WO2013118304A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 検査装置、検査方法、および記録媒体 |
| JPWO2013128616A1 (ja) * | 2012-03-01 | 2015-07-30 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置 |
| TWI501627B (zh) * | 2012-03-01 | 2015-09-21 | Nihon Micronics Kk | Display unevenness detection method and device thereof |
| WO2013128617A1 (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-06 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置 |
| KR101640118B1 (ko) | 2012-03-01 | 2016-07-15 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치 |
| WO2013128616A1 (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-06 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置 |
| KR101637408B1 (ko) * | 2012-03-01 | 2016-07-07 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치 |
| CN104137171A (zh) * | 2012-03-01 | 2014-11-05 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 显示设备的显示不均匀检测方法及其装置 |
| KR20140133881A (ko) * | 2012-03-01 | 2014-11-20 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치 |
| KR20140133882A (ko) * | 2012-03-01 | 2014-11-20 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치 |
| JPWO2013128617A1 (ja) * | 2012-03-01 | 2015-07-30 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置 |
| TWI501626B (zh) * | 2012-03-01 | 2015-09-21 | Nihon Micronics Kk | Display unevenness detection method and device thereof |
| JP2014119363A (ja) * | 2012-12-18 | 2014-06-30 | Lg Display Co Ltd | フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法 |
| JP2014119362A (ja) * | 2012-12-18 | 2014-06-30 | Lg Display Co Ltd | フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法 |
| KR102090706B1 (ko) * | 2012-12-28 | 2020-03-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법 |
| KR20140086619A (ko) * | 2012-12-28 | 2014-07-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법 |
| JPWO2014128821A1 (ja) * | 2013-02-19 | 2017-02-02 | 株式会社イクス | パターン位置検出方法、パターン位置検出システム及びこれらを用いた画質調整技術 |
| JP2013127484A (ja) * | 2013-03-22 | 2013-06-27 | Toshiba Corp | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
| KR102611224B1 (ko) | 2018-02-22 | 2023-12-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 전처리를 포함하는 선 결함 감지 시스템 및 방법 |
| KR20190101874A (ko) * | 2018-02-22 | 2019-09-02 | 삼성디스플레이 주식회사 | 전처리를 포함하는 선 결함 감지 시스템 및 방법 |
| JP7274885B2 (ja) | 2018-02-22 | 2023-05-17 | 三星ディスプレイ株式會社 | 表示装置の欠陥識別システム及び方法 |
| JP2019144245A (ja) * | 2018-02-22 | 2019-08-29 | 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. | 前処理を含む線欠陥検出システム及び方法 |
| KR20210016247A (ko) * | 2019-07-31 | 2021-02-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | 얼룩 검출 장치, 얼룩 검출 방법 및 표시 장치 |
| KR102880769B1 (ko) | 2019-07-31 | 2025-11-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 얼룩 검출 장치, 얼룩 검출 방법 및 표시 장치 |
| US20230186426A1 (en) * | 2021-12-09 | 2023-06-15 | Lg Display Co., Ltd. | Method of Compensating Display Device |
| JP2023086096A (ja) * | 2021-12-09 | 2023-06-21 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 表示装置の補償方法 |
| US12039691B2 (en) * | 2021-12-09 | 2024-07-16 | Lg Display Co., Ltd. | Method of compensating display device |
| US12340483B2 (en) * | 2021-12-09 | 2025-06-24 | Lg Display Co., Ltd. | Method of compensating display device |
| CN116259261A (zh) * | 2021-12-09 | 2023-06-13 | 乐金显示有限公司 | 补偿显示装置的方法 |
| CN120198787A (zh) * | 2025-05-26 | 2025-06-24 | 中国人民解放军海军航空大学 | 面向边缘结构清晰度的sar图像质量评价方法 |
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