JPH0829360A - Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法 - Google Patents
Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法Info
- Publication number
- JPH0829360A JPH0829360A JP6185483A JP18548394A JPH0829360A JP H0829360 A JPH0829360 A JP H0829360A JP 6185483 A JP6185483 A JP 6185483A JP 18548394 A JP18548394 A JP 18548394A JP H0829360 A JPH0829360 A JP H0829360A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lcd
- ccd
- image
- pixels
- pixel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、検査対象LCDパネルをCCDカ
メラのCCD画素により測定するときに、少ないCCD
画素数で検査対象LCDパネルの画像の明暗を忠実に測
定することを目的としている。 【構成】 本発明においては、CCDカメラ内にCCD
エリアセンサを使用している。そして、検査対象LCD
パネルにキャリブレーションパターンやテストパターン
を表示するLCD駆動部を設けている。CCD画素で検
出した明暗を画像測定部でA/D変換し、キャリブレー
ションパターンの輝点を使用してLCD画素とそれに対
応するCCD画素の位置を実数で特定し、上記輝点のア
ドレスからLCD全画素のサンプリングアドレスを実数
で求めるLCD画素のCCDアドレス設定手段を設け
る。上記サンプリングアドレスを用いて近傍線形補間を
し、LCDパネルの画素数サイズの画像に変換するプリ
サンプリング処理手段を設ける。
メラのCCD画素により測定するときに、少ないCCD
画素数で検査対象LCDパネルの画像の明暗を忠実に測
定することを目的としている。 【構成】 本発明においては、CCDカメラ内にCCD
エリアセンサを使用している。そして、検査対象LCD
パネルにキャリブレーションパターンやテストパターン
を表示するLCD駆動部を設けている。CCD画素で検
出した明暗を画像測定部でA/D変換し、キャリブレー
ションパターンの輝点を使用してLCD画素とそれに対
応するCCD画素の位置を実数で特定し、上記輝点のア
ドレスからLCD全画素のサンプリングアドレスを実数
で求めるLCD画素のCCDアドレス設定手段を設け
る。上記サンプリングアドレスを用いて近傍線形補間を
し、LCDパネルの画素数サイズの画像に変換するプリ
サンプリング処理手段を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LCDパネルの画素に
対応したCCDの測定画素の中心位置を求め、LCDパ
ネルの全画素に対応したCCD画素の各測定中心位置と
その周辺での明るさを求めてLCD画像を作成し、LC
Dパネルの欠陥判定を行うLCDパネル画質検査装置及
びLCD画像プリサンプリング方法に関するものであ
る。
対応したCCDの測定画素の中心位置を求め、LCDパ
ネルの全画素に対応したCCD画素の各測定中心位置と
その周辺での明るさを求めてLCD画像を作成し、LC
Dパネルの欠陥判定を行うLCDパネル画質検査装置及
びLCD画像プリサンプリング方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】LCD(Liquid Crystal Display)パネ
ル検査において、CCD(Charge Coupled Device )カ
メラを使って検査対象物の画素の明暗を測定する場合、
少ないCCD画素数で検査対象LCDパネルの画素の明
暗を、いかに忠実に取り込むことができるかが、検査装
置を安価で測定精度が良く製造ラインでの使用に適した
装置にする条件となっている。従来、LCDパネルとC
CDカメラの位置合わせは次のように行われていた。 図6に示す位置合わせのためのキャリブレーション
パターンをLCDパネル上に輝点として表示する。 CCD画素単位でLCD画素の明暗を測定し、複数
のCCD画素によって測定された輝点の中心の画素をL
CDの輝点の中心とする。 上記キャリブレーションパターンを使用して測定さ
れたCCD画素による輝点の中心の画素のアドレスか
ら、LCD画素の全ての中心位置をCCD画素のアドレ
スとして整数で計算し認識する。 LCDパネルの全画素に対して、LCD画素の中心
に対応したCCD画素で明暗を測定し、その測定結果に
よりLCDの画像を作成する。
ル検査において、CCD(Charge Coupled Device )カ
メラを使って検査対象物の画素の明暗を測定する場合、
少ないCCD画素数で検査対象LCDパネルの画素の明
暗を、いかに忠実に取り込むことができるかが、検査装
置を安価で測定精度が良く製造ラインでの使用に適した
装置にする条件となっている。従来、LCDパネルとC
CDカメラの位置合わせは次のように行われていた。 図6に示す位置合わせのためのキャリブレーション
パターンをLCDパネル上に輝点として表示する。 CCD画素単位でLCD画素の明暗を測定し、複数
のCCD画素によって測定された輝点の中心の画素をL
CDの輝点の中心とする。 上記キャリブレーションパターンを使用して測定さ
れたCCD画素による輝点の中心の画素のアドレスか
ら、LCD画素の全ての中心位置をCCD画素のアドレ
スとして整数で計算し認識する。 LCDパネルの全画素に対して、LCD画素の中心
に対応したCCD画素で明暗を測定し、その測定結果に
よりLCDの画像を作成する。
【0003】以上のような方法でLCD画素の位置を特
定するためには、1個のLCD画素に対して多数のCC
D画素が対応する必要があり、例えば、LCD1画素に
対して36点のCCD画素を対応させていた。
定するためには、1個のLCD画素に対して多数のCC
D画素が対応する必要があり、例えば、LCD1画素に
対して36点のCCD画素を対応させていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したような従
来の方法では次のような問題があった。 CCDの画素密度を高くする必要があり、測定され
るデータ数が多くデータ処理に時間がかかる。 CCDの画素密度を高くするためコストが高くな
る。本発明は、検査対象LCDパネルをCCDカメラの
CCD画素により測定するときに、少ないCCD画素数
で検査対象LCDパネルの画像の明暗を忠実に測定する
ことを目的としている。
来の方法では次のような問題があった。 CCDの画素密度を高くする必要があり、測定され
るデータ数が多くデータ処理に時間がかかる。 CCDの画素密度を高くするためコストが高くな
る。本発明は、検査対象LCDパネルをCCDカメラの
CCD画素により測定するときに、少ないCCD画素数
で検査対象LCDパネルの画像の明暗を忠実に測定する
ことを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明においては、CCDカメラ内にCCDエリア
センサを使用している。そして、検査対象LCDパネル
にキャリブレーションパターンやテストパターンを表示
するLCD駆動部を設けている。CCD画素で測定した
明暗を画像測定部でA/D変換し、上記キャリブレーシ
ョンパターンの例えば輝点のような認識パターンを使用
してLCD画素とそれに対応するCCD画素の位置を実
数で特定し、上記認識パターンのアドレスからLCD全
画素のサンプリングアドレスを実数として求めるLCD
画素のCCDアドレス設定手段を設ける。LCDパネル
の画像をCCDにより測定し、上記サンプリングアドレ
スを用いて近傍線形補間をし、LCDパネルの画素数サ
イズの画像に変換するプリサンプリング処理手段を設け
る。そして、LCDパネルの画像として得られた各LC
D画素の明暗データにより欠陥を判定する欠陥判定手段
を設ける。以上の処理手段を全体として処理するため
に、制御部、表示部を設ける。
に、本発明においては、CCDカメラ内にCCDエリア
センサを使用している。そして、検査対象LCDパネル
にキャリブレーションパターンやテストパターンを表示
するLCD駆動部を設けている。CCD画素で測定した
明暗を画像測定部でA/D変換し、上記キャリブレーシ
ョンパターンの例えば輝点のような認識パターンを使用
してLCD画素とそれに対応するCCD画素の位置を実
数で特定し、上記認識パターンのアドレスからLCD全
画素のサンプリングアドレスを実数として求めるLCD
画素のCCDアドレス設定手段を設ける。LCDパネル
の画像をCCDにより測定し、上記サンプリングアドレ
スを用いて近傍線形補間をし、LCDパネルの画素数サ
イズの画像に変換するプリサンプリング処理手段を設け
る。そして、LCDパネルの画像として得られた各LC
D画素の明暗データにより欠陥を判定する欠陥判定手段
を設ける。以上の処理手段を全体として処理するため
に、制御部、表示部を設ける。
【0006】LCD画像プリサンプリング方法として、
まず、キャリブレーションパターンを被検査対象LCD
パネルに輝点として表示する。上記輝点を複数のCCD
画素でその明暗を測定し、測定画像の輝点の近傍から明
るさの最大値を探し、その画素を中心として縦方向及び
横方向に隣接した画素の明るさを考慮して輝点の中心位
置を計算により実数として求める。輝点の中心アドレス
より、LCDパネルの全画素がCCD測定画素のどこの
アドレスに対応するのかを表すサンプリングアドレスを
実数として求める。プリサンプリングするLCDパネル
の画像をCCDにより測定し、上記サンプリングアドレ
スを用いて近傍の線形補間を近傍4画素または近傍9画
素などで行い、測定画像をLCDパネルの画素数サイズ
の画像に変換している。
まず、キャリブレーションパターンを被検査対象LCD
パネルに輝点として表示する。上記輝点を複数のCCD
画素でその明暗を測定し、測定画像の輝点の近傍から明
るさの最大値を探し、その画素を中心として縦方向及び
横方向に隣接した画素の明るさを考慮して輝点の中心位
置を計算により実数として求める。輝点の中心アドレス
より、LCDパネルの全画素がCCD測定画素のどこの
アドレスに対応するのかを表すサンプリングアドレスを
実数として求める。プリサンプリングするLCDパネル
の画像をCCDにより測定し、上記サンプリングアドレ
スを用いて近傍の線形補間を近傍4画素または近傍9画
素などで行い、測定画像をLCDパネルの画素数サイズ
の画像に変換している。
【0007】
【実施例】LCDの画素に対応したCCD画素で明暗を
測定し、LCDの画像を作成するため、次のステップで
測定及び計算を行う。 キャリブレーションパターンの輝点について、LC
D画素とそれに対応するCCD画素のアドレスを特定す
る。まず、従来と同じ図6に示すキャリブレーションパ
ターンを640×480画素のLCD上に表示する。キ
ャリブレーションパターンは、図6に示すLCD素子の
アドレスに25個の輝点を表示する。そして、例えば、
1534×1024画素のCCDエリアセンサを使用
し、LCD1画素に対して縦横それぞれ3個、合わせて
9個のCCD画素でLCDの明暗を測定する。LCDの
輝点は図2のようなイメージでCCD画素に取り込む。
この輝点のアドレスを正確に求めるために以下の方法を
用いる。CCDによる測定画像の輝点の近傍から明るさ
の最大値を探し、その画素を中心とする。図3(a)の
ように、その中心の画素をXn とし、その左右の画素
Xn−1 及びXn+1 の明るさの測定値に注目する。
図3(b)の斜線部分の左右の面積を等しく分けるとこ
ろをX方向の求めるアドレスとする。これを計算式で表
すと次のようになる。 X方向の求めるアドレス=Xn +(Hn+1 −Hn−
1 )/2Hn 同じことを上下つまりY方向の画素についても行うこと
により輝点のY方向のアドレスを求める。これを25個
の輝点について行い、LCD画素25個の輝点のCCD
アドレスであるXアドレス及びYアドレスを算出する。
測定し、LCDの画像を作成するため、次のステップで
測定及び計算を行う。 キャリブレーションパターンの輝点について、LC
D画素とそれに対応するCCD画素のアドレスを特定す
る。まず、従来と同じ図6に示すキャリブレーションパ
ターンを640×480画素のLCD上に表示する。キ
ャリブレーションパターンは、図6に示すLCD素子の
アドレスに25個の輝点を表示する。そして、例えば、
1534×1024画素のCCDエリアセンサを使用
し、LCD1画素に対して縦横それぞれ3個、合わせて
9個のCCD画素でLCDの明暗を測定する。LCDの
輝点は図2のようなイメージでCCD画素に取り込む。
この輝点のアドレスを正確に求めるために以下の方法を
用いる。CCDによる測定画像の輝点の近傍から明るさ
の最大値を探し、その画素を中心とする。図3(a)の
ように、その中心の画素をXn とし、その左右の画素
Xn−1 及びXn+1 の明るさの測定値に注目する。
図3(b)の斜線部分の左右の面積を等しく分けるとこ
ろをX方向の求めるアドレスとする。これを計算式で表
すと次のようになる。 X方向の求めるアドレス=Xn +(Hn+1 −Hn−
1 )/2Hn 同じことを上下つまりY方向の画素についても行うこと
により輝点のY方向のアドレスを求める。これを25個
の輝点について行い、LCD画素25個の輝点のCCD
アドレスであるXアドレス及びYアドレスを算出する。
【0008】 LCD全画素のサンプリングアドレス
を作成する。キャリブレーションパターンを取り込んだ
画像は、4角を輝点とする16の領域に分割される。そ
れぞれの領域について、先に求めた4角の輝点のアドレ
スとその輝点のあるLCDパネルの画素アドレスの関係
から、その領域に含まれるLCDパネルの画素がCCD
測定画素のどこのアドレスに対応するのかを実数で求め
る。これにより、LCDパネルの全画素がCCD測定画
素のどこのアドレスに対応するのかを表すサンプリング
アドレスが作成できる。
を作成する。キャリブレーションパターンを取り込んだ
画像は、4角を輝点とする16の領域に分割される。そ
れぞれの領域について、先に求めた4角の輝点のアドレ
スとその輝点のあるLCDパネルの画素アドレスの関係
から、その領域に含まれるLCDパネルの画素がCCD
測定画素のどこのアドレスに対応するのかを実数で求め
る。これにより、LCDパネルの全画素がCCD測定画
素のどこのアドレスに対応するのかを表すサンプリング
アドレスが作成できる。
【0009】 プリサンプリング処理により、LCD
パネルの画素数サイズの画像に変換する。プリサンプリ
ング対象とするLCDパネルの画像をCCDにより測定
する。その画像に対して先に求めたサンプリングアドレ
スを用いて近傍4画素の線形補間、又は、近傍9画素の
線形補間を行い、測定画像をLCDパネルの画素数サイ
ズの画像に変換する。
パネルの画素数サイズの画像に変換する。プリサンプリ
ング対象とするLCDパネルの画像をCCDにより測定
する。その画像に対して先に求めたサンプリングアドレ
スを用いて近傍4画素の線形補間、又は、近傍9画素の
線形補間を行い、測定画像をLCDパネルの画素数サイ
ズの画像に変換する。
【0010】 近傍4画素の線形補間 図4(a)のようにサンプリングアドレス22を中心と
して1×1の正方形を考える。この正方形はCCD4画
素の取り込み画像にまたがる。図4(b)及び図4
(c)のように、この各画素の明るさデータ値と各画素
における正方形の重なり合う面積の割合を求め、双方の
値を掛けた値の和がプリサンプリング結果となる。この
計算式は次のようになる。 プリサンプリング結果=da・sa+db・sb+dc
・sc+dd・sd
して1×1の正方形を考える。この正方形はCCD4画
素の取り込み画像にまたがる。図4(b)及び図4
(c)のように、この各画素の明るさデータ値と各画素
における正方形の重なり合う面積の割合を求め、双方の
値を掛けた値の和がプリサンプリング結果となる。この
計算式は次のようになる。 プリサンプリング結果=da・sa+db・sb+dc
・sc+dd・sd
【0011】 近傍9画素の線形補間 図5(a)のようにサンプリングアドレス22を中心と
して2×2の正方形を考える。この正方形はCCD9画
素の取り込み画像にまたがる。図5(b)及び図5
(c)のように、この各画素の明るさデータ値と各画素
における正方形の重なり合う面積の割合を求め、双方の
値を掛けた値の和を4で割ったものがプリサンプリング
結果となる。
して2×2の正方形を考える。この正方形はCCD9画
素の取り込み画像にまたがる。図5(b)及び図5
(c)のように、この各画素の明るさデータ値と各画素
における正方形の重なり合う面積の割合を求め、双方の
値を掛けた値の和を4で割ったものがプリサンプリング
結果となる。
【0012】図1に以上のLCD画素プリサンプリング
処理を実行するLCDパネル画質検査装置のブロック図
を示す。本発明のLCDパネル画質検査装置は、検査対
象LCDパネル10と、LCDパネル10にキャリブレ
ーションパターンや各種テストパターンを表示するLC
D駆動部11と、CCDエリアセンサを内蔵しLCDの
明暗を測定するCCDカメラ12と、CCD画素で測定
した明暗をA/D変換する画像測定部13と、キャリブ
レーションパターンの輝点を使用してLCD画素とそれ
に対応するCCD画素の位置を特定し、輝点のアドレス
からLCD全画素のサンプリングアドレスを求めるLC
D画素のCCDアドレス設定手段14と、LCDパネル
の画像をCCDにより測定し、上記サンプリングアドレ
スを用いて近傍線形補間をし、LCDパネルの画素数サ
イズの画像に変換するプリサンプリング処理手段15
と、LCDパネルの画像として得られた各LCD画素の
明暗データより欠陥を判定する欠陥判定手段16と、全
体の流れを制御する制御部17と、LCD画像の表示及
び制御操作状況を表示する表示部19とで構成される。
処理を実行するLCDパネル画質検査装置のブロック図
を示す。本発明のLCDパネル画質検査装置は、検査対
象LCDパネル10と、LCDパネル10にキャリブレ
ーションパターンや各種テストパターンを表示するLC
D駆動部11と、CCDエリアセンサを内蔵しLCDの
明暗を測定するCCDカメラ12と、CCD画素で測定
した明暗をA/D変換する画像測定部13と、キャリブ
レーションパターンの輝点を使用してLCD画素とそれ
に対応するCCD画素の位置を特定し、輝点のアドレス
からLCD全画素のサンプリングアドレスを求めるLC
D画素のCCDアドレス設定手段14と、LCDパネル
の画像をCCDにより測定し、上記サンプリングアドレ
スを用いて近傍線形補間をし、LCDパネルの画素数サ
イズの画像に変換するプリサンプリング処理手段15
と、LCDパネルの画像として得られた各LCD画素の
明暗データより欠陥を判定する欠陥判定手段16と、全
体の流れを制御する制御部17と、LCD画像の表示及
び制御操作状況を表示する表示部19とで構成される。
【0013】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成さ
れ、また、以上説明したような方法でLCDパネルの画
素数の画像を得ているため次の効果がある。 測定するCCD画素数が少ないためデータ処理の時
間が短縮される。 CCD画素密度が低いためコストの低減ができる。 LCD画素の位置をCCD画素のアドレスに変換す
るとき、整数ではなく実数で変換しているため、複数の
CCD画素の測定結果が加味され、LCDパネルの画像
の明暗を忠実に測定できる。
れ、また、以上説明したような方法でLCDパネルの画
素数の画像を得ているため次の効果がある。 測定するCCD画素数が少ないためデータ処理の時
間が短縮される。 CCD画素密度が低いためコストの低減ができる。 LCD画素の位置をCCD画素のアドレスに変換す
るとき、整数ではなく実数で変換しているため、複数の
CCD画素の測定結果が加味され、LCDパネルの画像
の明暗を忠実に測定できる。
【図1】本発明のLCDパネル画質検査装置のブロック
図である。
図である。
【図2】実施例におけるLCD輝点をCCD画素に取り
込む様子を示した説明図である。
込む様子を示した説明図である。
【図3】実施例における輝点のX方向アドレスを求める
方法を示した説明図である。
方法を示した説明図である。
【図4】実施例におけるLCD画素の明るさを求める近
傍4画素の線形補間の場合の説明図である。
傍4画素の線形補間の場合の説明図である。
【図5】実施例におけるLCD画素の明るさを求める近
傍9画素の線形補間の場合の説明図である。
傍9画素の線形補間の場合の説明図である。
【図6】キャリブレーションパターンの輝点のアドレス
を示す説明図である。
を示す説明図である。
10 LCDパネル 11 LCD駆動部 12 CCDカメラ 13 画像測定部 14 LCD画素のCCDアドレス設定手段 15 プリサンプリング処理手段 16 欠陥判定手段 17 制御部 19 表示部 20 LCD輝点 21 CCD画素 22 サンプリングアドレス
Claims (4)
- 【請求項1】 検査対象LCDパネル(10)にキャリ
ブレーションパターンやテストパターンを表示するLC
D駆動部(11)を設け、 CCDエリアセンサを内蔵しLCDの明暗を測定するC
CDカメラ(12)を設け、 CCD画素で測定した明暗をA/D変換する画像測定部
(13)を設け、 上記キャリブレーションパターンの認識パターンを使用
してLCD画素とそれに対応するCCD画素の位置を実
数で特定し、上記認識パターンのアドレスからLCD全
画素のサンプリングアドレスを実数として求めるLCD
画素のCCDアドレス設定手段(14)を設け、 LCDパネル(10)の画像をCCDにより測定し、上
記サンプリングアドレスを用いて近傍補間をし、LCD
パネルの画素数サイズの画像に変換するプリサンプリン
グ処理手段(15)を設け、 LCDパネルの画像として得られた各LCD画素の明暗
データにより欠陥を判定する欠陥判定手段(16)を設
け、 全体の流れを制御する制御部(17)と、LCD画像の
表示及び制御操作状況を表示する表示部(19)を設
け、 以上を具備することを特徴としたLCDパネル画質検査
装置。 - 【請求項2】 キャリブレーションパターンを被検査対
象LCDパネルに輝点として表示し、 上記輝点について複数のCCD画素で明暗を測定し、 CCDによる測定画像の輝点の近傍から明るさの最大値
を探し、その画素を中心として周辺の画素の明るさを考
慮して輝点の中心アドレスを計算により実数として求
め、 上記輝点の中心アドレスより、LCDパネルの全画素が
CCD測定画素のどこのアドレスに対応するのかを表す
サンプリングアドレス(22)を実数として求め、 プリサンプリングするLCDパネルの画像をCCDによ
り測定し、上記サンプリングアドレス(22)を用いて
近傍の線形補間を行い、測定画像をLCDパネルの画素
数サイズの画像に変換する、 以上を特徴とするLCD画像プリサンプリング方法。 - 【請求項3】 請求項2において、近傍の線形補間を、
近傍4画素とした、LCD画像プリサンプリング方法。 - 【請求項4】 請求項2において、近傍の線形補間を、
近傍9画素とした、LCD画像プリサンプリング方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18548394A JP3343444B2 (ja) | 1994-07-14 | 1994-07-14 | Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法 |
TW084106647A TW298628B (ja) | 1994-07-14 | 1995-06-28 | |
KR1019950020282A KR0167843B1 (ko) | 1994-07-14 | 1995-07-11 | 액정 디스플레이 패널 화질 검사 장치 및 액정 디스플레이 화상 프리샘플링 방법 |
US08/502,578 US5650844A (en) | 1994-07-14 | 1995-07-14 | LCD panel image quality inspection system and LCD image presampling method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18548394A JP3343444B2 (ja) | 1994-07-14 | 1994-07-14 | Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0829360A true JPH0829360A (ja) | 1996-02-02 |
JP3343444B2 JP3343444B2 (ja) | 2002-11-11 |
Family
ID=16171560
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18548394A Expired - Fee Related JP3343444B2 (ja) | 1994-07-14 | 1994-07-14 | Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5650844A (ja) |
JP (1) | JP3343444B2 (ja) |
KR (1) | KR0167843B1 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100480074B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-04-07 | 엘지전자 주식회사 | 이동 통신 단말기의 엘시디 상태조정 방법 |
JP2005331929A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-12-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム |
KR100848153B1 (ko) * | 2006-04-14 | 2008-07-23 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이 기기의 켈리브레이션 장치 및 그 방법 |
JP2010266502A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-25 | Casio Computer Co Ltd | 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法 |
JP2011196685A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Sharp Corp | 欠陥検出装置、欠陥修復装置、表示パネル、表示装置、欠陥検出方法、プログラム |
US8340457B2 (en) | 2004-04-19 | 2012-12-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image analysis method, image analysis program and pixel evaluation system having the sames |
KR101426487B1 (ko) * | 2008-01-02 | 2014-08-06 | 삼성전자주식회사 | 표시패널의 검사 장치 및 그 방법 |
JP2016004037A (ja) * | 2014-06-19 | 2016-01-12 | 株式会社イクス | 輝度測定方法、輝度測定装置及びこれらを用いた画質調整技術 |
JP2022514892A (ja) * | 2018-12-21 | 2022-02-16 | ナノストリング テクノロジーズ,インコーポレイティド | 病理組織標本のモバイルデジタル空間プロファイリングのための方法、装置、システムおよびデバイス。 |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW343308B (en) * | 1996-10-04 | 1998-10-21 | Adoban Tesuto Kk | Image processing method |
US6154561A (en) * | 1997-04-07 | 2000-11-28 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for detecting Mura defects |
US6177955B1 (en) | 1997-10-09 | 2001-01-23 | Westar Corporation | Visual display inspection system |
JP3985981B2 (ja) * | 1998-04-16 | 2007-10-03 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置および表示装置補正システム |
US6285349B1 (en) * | 1999-02-26 | 2001-09-04 | Intel Corporation | Correcting non-uniformity in displays |
US6633301B1 (en) * | 1999-05-17 | 2003-10-14 | Displaytech, Inc. | RGB illuminator with calibration via single detector servo |
JP2001016622A (ja) | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Agilent Technologies Japan Ltd | 撮像素子のデバッグ装置と試験方法 |
US6606116B1 (en) * | 2000-03-30 | 2003-08-12 | Ncr Corporation | Methods and apparatus for assessing quality of information displays |
KR20010104449A (ko) * | 2000-04-28 | 2001-11-26 | 윤종용 | 변조전달함수 측정 시스템 및 그에 따른 컬러 액정표시소자의 화질 평가방법 |
TW509796B (en) * | 2001-05-03 | 2002-11-11 | Ind Tech Res Inst | Detection method and system for multi-stage display module of LED |
CA2460485A1 (en) * | 2001-09-14 | 2003-03-27 | American Panel Corporation | Visual display testing, optimization and harmonization method and system |
KR100422295B1 (ko) * | 2002-05-18 | 2004-03-11 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 디스플레이 장치의 화질 분석 방법 및 시스템 |
US7308157B2 (en) * | 2003-02-03 | 2007-12-11 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for optical inspection of a display |
FR2854300B1 (fr) * | 2003-04-25 | 2005-08-05 | Johnson Contr Automotive Elect | Dispositif d'ecran plat de visualisation et systeme de reglage pour un tel dispositif. |
US6987400B2 (en) * | 2003-05-20 | 2006-01-17 | Panelvision Technologies | Testing flat panel display plates using high frequency AC signals |
US20050122414A1 (en) * | 2003-12-09 | 2005-06-09 | Voss James S. | Digital camera system and method for maximizing television viewing area |
KR100558943B1 (ko) * | 2004-01-14 | 2006-03-10 | 삼성전자주식회사 | 평판 디스플레이 검사방법 |
US7050027B1 (en) | 2004-01-16 | 2006-05-23 | Maxim Integrated Products, Inc. | Single wire interface for LCD calibrator |
US7570238B2 (en) * | 2004-04-01 | 2009-08-04 | Seiko Epson Corporation | System and method for reducing power consumption by a display controller |
US7084970B2 (en) * | 2004-05-14 | 2006-08-01 | Photon Dynamics, Inc. | Inspection of TFT LCD panels using on-demand automated optical inspection sub-system |
JP4583155B2 (ja) * | 2004-12-13 | 2010-11-17 | Hoya株式会社 | 欠陥検査方法及びシステム、並びにフォトマスクの製造方法 |
US20060170774A1 (en) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for calibrating and correcting tone scale differences between two or more outputs of a CCD |
US8022977B2 (en) * | 2005-10-17 | 2011-09-20 | I2Ic Corporation | Camera placed behind a display with a transparent backlight |
JP4799329B2 (ja) * | 2006-09-07 | 2011-10-26 | 株式会社東芝 | ムラ検査方法、表示パネルの製造方法及びムラ検査装置 |
US8436632B2 (en) * | 2008-06-27 | 2013-05-07 | American Panel Corporation | System and method for optimizing LCD displays |
CN101650481B (zh) * | 2008-08-14 | 2011-09-28 | 比亚迪股份有限公司 | 一种液晶显示器调试方法及系统 |
CN103050074B (zh) * | 2012-04-27 | 2015-09-09 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示器的残像等级评定装置及方法 |
US8928758B2 (en) | 2012-06-18 | 2015-01-06 | Electronic Warfare Associates, Inc. | Imaging data correction system and method |
WO2014167641A1 (ja) * | 2013-04-08 | 2014-10-16 | 株式会社イクス | 輝度測定方法、輝度測定装置及びこれらを用いた画質調整技術 |
CN104570422B (zh) * | 2014-12-31 | 2017-10-13 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种液晶显示面板的品质的监控方法 |
WO2017156046A1 (en) * | 2016-03-07 | 2017-09-14 | Hyla, Inc. | Screen damage detection for devices |
CN109613004A (zh) * | 2018-12-13 | 2019-04-12 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种背光检中缺陷显示方法 |
US11704887B2 (en) | 2019-09-16 | 2023-07-18 | Assurant, Inc. | System, method, apparatus, and computer program product for utilizing machine learning to process an image of a mobile device to determine a mobile device integrity status |
US11580627B2 (en) | 2020-01-06 | 2023-02-14 | Assurant, Inc. | Systems and methods for automatically grading pre-owned electronic devices |
DE102021205703A1 (de) | 2021-06-07 | 2022-12-08 | TechnoTeam Holding GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur lichttechnischen Vermessung eines elektronischen Displays sowie Verfahren zur Ansteuerung eines elektronischen Displays |
CN114264669B (zh) * | 2022-03-03 | 2022-05-17 | 武汉精立电子技术有限公司 | 屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5351201A (en) * | 1992-08-19 | 1994-09-27 | Mtl Systems, Inc. | Method and apparatus for automatic performance evaluation of electronic display devices |
-
1994
- 1994-07-14 JP JP18548394A patent/JP3343444B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-07-11 KR KR1019950020282A patent/KR0167843B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-07-14 US US08/502,578 patent/US5650844A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100480074B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2005-04-07 | 엘지전자 주식회사 | 이동 통신 단말기의 엘시디 상태조정 방법 |
JP2005331929A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-12-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム |
US8340457B2 (en) | 2004-04-19 | 2012-12-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image analysis method, image analysis program and pixel evaluation system having the sames |
KR100848153B1 (ko) * | 2006-04-14 | 2008-07-23 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이 기기의 켈리브레이션 장치 및 그 방법 |
KR101426487B1 (ko) * | 2008-01-02 | 2014-08-06 | 삼성전자주식회사 | 표시패널의 검사 장치 및 그 방법 |
JP2010266502A (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-25 | Casio Computer Co Ltd | 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法 |
JP2011196685A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Sharp Corp | 欠陥検出装置、欠陥修復装置、表示パネル、表示装置、欠陥検出方法、プログラム |
CN102279189A (zh) * | 2010-03-17 | 2011-12-14 | 夏普株式会社 | 缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 |
JP2016004037A (ja) * | 2014-06-19 | 2016-01-12 | 株式会社イクス | 輝度測定方法、輝度測定装置及びこれらを用いた画質調整技術 |
JP2022514892A (ja) * | 2018-12-21 | 2022-02-16 | ナノストリング テクノロジーズ,インコーポレイティド | 病理組織標本のモバイルデジタル空間プロファイリングのための方法、装置、システムおよびデバイス。 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5650844A (en) | 1997-07-22 |
KR0167843B1 (ko) | 1999-03-20 |
JP3343444B2 (ja) | 2002-11-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3343444B2 (ja) | Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法 | |
CN110044405B (zh) | 一种基于机器视觉的汽车仪表自动化检测装置及方法 | |
JP3471436B2 (ja) | 画質検査装置及びその画像合成方法 | |
KR20050051535A (ko) | 결함 검사 장치 | |
KR20140075042A (ko) | 표시패널 검사 장치 및 그 방법 | |
JP2006245891A (ja) | カメラモジュールの画像検査用チャート、この画像検査用チャートを用いたカメラモジュールの画像検査方法および画像検査装置 | |
JP3618713B2 (ja) | ディスプレイ画面検査方法およびディスプレイ画面検査装置 | |
JP3343445B2 (ja) | Lcdパネル画質検査装置 | |
JPH0875542A (ja) | 表示画素の光量測定方法並びに表示画面の検査方法及び装置 | |
JPH11132720A (ja) | 点欠陥検出装置及び方法 | |
KR101426487B1 (ko) | 표시패널의 검사 장치 및 그 방법 | |
JPH1031730A (ja) | キャリブレーション方法 | |
JPH0943292A (ja) | パネル画質検査装置及びその画質補正方法 | |
JPH06250139A (ja) | 液晶表示パネルの検査方法 | |
JPH11257937A (ja) | 欠陥検査方法 | |
CN101178422B (zh) | 字符型发光器件检测方法 | |
JP2009079915A (ja) | 微小寸法測定方法および測定装置 | |
JP2000081368A (ja) | Lcd パネル画質検査方法、lcd パネル画質検査装置及び画像取込方法 | |
JP3062711B2 (ja) | 液晶表示パネルの点灯輝度測定方法 | |
US7330580B2 (en) | System and method for inspecting an LCD panel | |
JPH0979946A (ja) | 表示装置の検査装置 | |
JP2000105167A (ja) | 画質検査装置のアドレス・キャリブレーション方法 | |
JP2003185528A (ja) | 液晶表示装置の検査方法および検査装置 | |
JPH07270278A (ja) | 表示装置の検査方法 | |
JP2000221111A (ja) | 表示画面の検査方法と装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020723 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |