CN103050074B - 一种显示器的残像等级评定装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示器的残像等级评定装置及方法，其中装置包括：用于获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度的第一获得单元；用于获得测试区域在灰阶水平下，残像测试后的第二亮度的第二获得单元；用于获得第一亮度和第二亮度的亮度差值的第三获得单元；用于获得所述测试区域的残像等级和残像区域系数的第四获得单元；用于获得所述测试画面的残像等级的第五获得单元。本发明可以更加准确和全面给出显示器的残像等级。

Description

一种显示器的残像等级评定装置及方法

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别是一种显示器的残像等级评定装置及方法。

背景技术

近年来，液晶显示器的性能与质量越来越受到人们的关注。现有技术中，有许多的评价指标，来评价显示器的性能，如亮度、色度、对比度、均匀性、闪烁、串扰和响应时间等等。但是，目前还有一些显示器的评价指标是不能精确量化的，如姆拉，残像等。其中，残像的评价是一项重要的技术指标。在液晶显示器的制作过程中，由于各种因素的存在，液晶盒内会存在一些离子。而这些离子可能会因为电场的缘故堆积在基板的两侧，当电压撤去后，残留的电荷产生一定的电场，使得液晶显示器仍然显示之前显示的画面，这就是残像。由于许多的公共显示器通常会在同一画面下保持很长时间，这样是很容易出现残像的，所以残像的评价显得尤为重要。目前，大多数情况下人们都是通过肉眼观察直接来评定残像等级，这样存在主观性较大，评定不准确的问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种显示器的残像等级评定装置及方法，可以更加准确和全面地给出显示器的残像等级。

为解决上述技术问题，本发明的实施例提供一种显示器的残像等级评定装置，包括：

用于获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度的第一获得单元；

用于获得所述测试区域在所述灰阶水平下，所述残像测试后的第二亮度的第二获得单元；

分别与所述第一获得单元和所述第二获得单元连接，用于获得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值的第三获得单元；

与所述第三获得单元连接，用于获得所述测试区域的残像等级和残像区域系数的第四获得单元；

与所述第四获得单元连接，用于获得所述测试画面的残像等级的第五获得单元。

其中，所述第一获得单元和所述第二获得单元均为电耦合器件CCD或者互补性氧化金属半导体CMOS光学器件的亮度获得单元。

其中，所述第一获得单元和所述第二获得单元均包括：

用于获得所述测试区域的各原色的颜色值的电耦合器件CCD或者互补性氧化金属半导体CMOS光学器件的第一获得子模块；

与所述第一获得子模块连接，用于根据所述测试区域的各原色的颜色值，计算所述测试区域的亮度的计算模块。

其中，所述第四获得单元包括：

用于判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级的确定模块；

与所述确定模块连接，用于获得所述测试区域的残像区域系数的第二获得子模块。

其中，所述确定模块包括：

用于判断所述亮度差值是否在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内的判断子模块；

与所述判断子模块连接，用于在所述亮度差值不在所述当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，循环调用所述判断子模块，再选择另一预定残像等级进行判断，直到所述亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内，并确定最终选择的预定残像等级为所述测试区域的残像等级的确定子模块。

其中，所述第五获得单元包括：

用于控制所述确定模块获得各个测试区域的残像等级的第一控制子模块；

用于控制所述第二获得子模块获得各个测试区域的残像区域系数的第二控制子模块；以及

分别与所述第一控制子模块、所述第二控制子模块、所述确定模块以及所述第二获得子模块连接，并用于通过公式：

$L=\frac{L_{11}\×K_{11}+L_{12}\×K_{12}+...+L_{21}\×K_{21}+L_{22}\×K_{22}+L_{23}\×K_{23}+...+\mathrm{Lmn}\×K_{\mathrm{mn}}}{m\×n}$

获得所述测试画面的残像等级的第三获得子模块；

其中，L为所述测试画面的残像等级，L₁₁……L_mn为各个测试区域的残像等级，K₁₁……K_mn为各个测试区域分别对应的残像区域系数。

本发明的实施例还提供一种显示器的残像等级评定方法，包括：

获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度，以及所述测试区域在所述灰阶水平下残像测试后的第二亮度；

根据所述第一亮度和所述第二亮度，获得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值；

根据所述亮度差值，确定所述测试区域的残像等级；

根据所述测试区域，获得所述测试区域的残像区域系数；

根据所述测试区域的残像等级和残像区域系数，获得所述测试画面的残像等级；其中，所述测试画面包括多个测试区域。

其中，获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度，以及所述测试区域在所述灰阶水平下残像测试后的第二亮度的步骤包括：

获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前所述测试区域的各原色的颜色值，以及残像测试后的所述测试区域的各原色的颜色值；

根据残像测试前所述测试区域的各原色的颜色值，计算残像测试前所述测试区域的第一亮度；

根据残像测试后所述测试区域的各原色的颜色值，计算残像测试后所述测试区域的第二亮度。

其中，根据所述亮度差值，确定所述测试区域的残像等级的步骤包括：

判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级。

其中，判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级的步骤包括：

判断所述亮度差值是否在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内；

若所述亮度差值不在所述当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，再选择另一预定残像等级进行判断，直到所述亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内，并确定最终选择的预定残像等级为所述测试区域的残像等级。

其中，根据所述测试区域的残像等级和残像区域系数，获得所述测试画面的残像等级的步骤包括：

确定各个测试区域的残像等级；

获得各个测试区域的残像区域系数；

通过公式： $L=\frac{L_{11}\×K_{11}+L_{12}\×K_{12}+...+L_{21}\×K_{21}+L_{22}\×K_{22}+L_{23}\×K_{23}+...+\mathrm{Lmn}\×K_{\mathrm{mn}}}{m\×n}$ 获得所述测试画面的残像等级；

其中，L为所述测试画面的残像等级，L₁₁……L_mn为各个测试区域的残像等级，K₁₁……K_mn为各个测试区域分别对应的残像区域系数。

本发明的上述技术方案的有益效果如下：

上述方案中，解决了人为观察评定残像等级主观性较大、评定不准确的问题；相对于现有技术，本发明的该方案可以更加准确更加全面地评价出显示器的残像的大小。

附图说明

图1是本发明的实施例残像等级评定装置的结构图；

图2是显示器面板残像测试用的棋盘画面；

图3是残像测试后在L127灰阶下的画面；

图4A是测试画面残像测试前的测试区域A和B的亮度图；

图4B是测试用的棋盘画面；

图4C是测试画面残像测试后的测试区域A’和B’的亮度图；

图5是显示器面板上不同测试区域的残像等级评价图（5行×5列）；

图6是显示器面板上不同测试区域的残像区域系数图（5行×5列）；

图7是本发明的第一实施例流程图；

图8是本发明的第二实施例流程图。

具体实施方式

为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。

如图1所示，为本发明的实施例残像等级评定装置的结构图，该评定装置包括：

用于获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度的第一获得单元11；

用于获得所述测试区域在所述灰阶水平下，所述残像测试后的第二亮度的第二获得单元12；

分别与所述第一获得单元11和所述第二获得单元12连接，用于获得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值的第三获得单元13；

与所述第三获得单元13连接，用于获得所述测试区域的残像等级和残像区域系数的第四获得单元14；其中，残像区域系数是反映显示器面板不同区域的残像对整体显示品质影响程度的系数，通常越靠近显示器面板中心的区域，残像区域系数越大，所述残像区域系数是预先设定的，并且测试区域不同划分情况所对应的残像区域系数也不尽相同（如：将画面分成5行×5列的测试区域和6行×6列的测试区域的残像区域系数是不相同的）；

与所述第四获得单元14连接，用于获得所述测试画面的残像等级的第五获得单元15。

本发明的实施例通过根据测试画面的测试前后的亮度差值，确定测试画面的残像等级，可以更加准确更加全面地评价出显示器的残像的大小。

在本发明的第一实施例中，所述第一获得单元11和所述第二获得单元12均为电耦合器件CCD或者互补性氧化金属半导体CMOS光学器件的亮度获得单元。即通过CCD或CMOS等光学器件，直接获取某一灰阶水平（如L127灰阶水平，但不限于是L127灰阶水平）下显示器上不同测试区域的显示参照图案的初始亮度（即上述第一亮度）以及残像测试后的最终亮度（即上述第二亮度）。

在本发明的第二实施例中，所述第一获得单元11和所述第二获得单元12均包括：用于获得所述测试区域的各原色的颜色值的电耦合器件CCD或者互补性氧化金属半导体CMOS光学器件的第一获得子模块；以及与所述第一获得子模块连接，用于根据所述测试区域的各原色的颜色值，计算所述测试区域的亮度的计算模块。

即通过CCD或CMOS等光学器件，获取某一灰阶水平（如L127灰阶水平，但不限于是L127灰阶水平）下显示器上不同测试区域显示参照图案的初始颜色值以及残像测试后的最终颜色值；并根据如下公式：Y=R×0.299＋G×0.587＋B×0.114将颜色值转换成亮度；其中：Y表示亮度，R、G、B分别表示像素三原色（红、绿、蓝）的颜色值；进而获取L127灰阶下显示器显示参照图案的初始亮度（即上述第一亮度），以及残像测试后显示器上显示参照图案的最终亮度（即上述第二亮度）。

进一步地，在上述第一实施例或者第二实施例中，所述第四获得单元14包括：

用于判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级的确定模块；

与所述确定模块连接，用于获得所述测试区域的残像区域系数的第二获得子模块。

其中，所述确定模块包括：

用于判断所述亮度差值是否在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内的判断子模块；

与所述判断子模块连接，用于在所述亮度差值不在所述当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，循环调用所述判断子模块，再选择另一预定残像等级进行判断，直到所述亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内，并确定最终选择的预定残像等级为所述测试区域的残像等级的确定子模块。

进一步地，在上述第一实施例和第二实施例中，所述第五获得单元包括：

用于控制所述确定模块获得各个测试区域的残像等级的第一控制子模块；

用于控制所述第二获得子模块获得各个测试区域的残像区域系数的第二控制子模块；以及

分别与所述第一控制子模块、所述第二控制子模块、所述确定模块以及所述第二获得子模块连接，并用于通过公式：

$L=\frac{L_{11}\×K_{11}+L_{12}\×K_{12}+...+L_{21}\×K_{21}+L_{22}\×K_{22}+L_{23}\×K_{23}+...+\mathrm{Lmn}\×K_{\mathrm{mn}}}{m\×n}$

获得所述测试画面的残像等级的第三获得子模块；

其中，L为所述测试画面的残像等级，L₁₁……L_mn为各个测试区域的残像等级，K₁₁……K_mn为各个测试区域分别对应的残像区域系数。

本发明的实施例还提供一种显示器的残像等级评定方法，包括：

步骤11，获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度，以及所述测试区域在所述灰阶水平下残像测试后的第二亮度；

步骤12，根据所述第一亮度和所述第二亮度，获得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值；

步骤13，根据所述亮度差值，确定所述测试区域的残像等级；

步骤14，根据所述测试区域，获得所述测试区域的残像区域系数；

步骤15，根据所述测试区域的残像等级和残像区域系数，获得所述测试画面的残像等级；其中，所述测试画面包括多个测试区域。

其中，步骤14不依赖于步骤11至步骤13。步骤14除了可放在步骤13之后，也可以位于步骤11至步骤13中的任一步骤之前，在此不作限定。

其中，步骤11包括：

步骤111，获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前所述测试区域的各原色的颜色值，以及残像测试后的所述测试区域的各原色的颜色值；

步骤112，根据残像测试前所述测试区域的各原色的颜色值，计算残像测试前所述测试区域的第一亮度；

步骤113，根据残像测试后所述测试区域的各原色的颜色值，计算残像测试后所述测试区域的第二亮度。

其中，步骤13包括：

判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级。

具体地，确定残像等级的步骤包括：判断所述亮度差值是否在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内；若所述亮度差值不在所述当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，再选择另一预定残像等级进行判断，直到所述亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内，并确定最终选择的预定残像等级为所述测试区域的残像等级。

其中，步骤15包括：

步骤151，确定各个测试区域的残像等级；

步骤152，获得各个测试区域的残像区域系数；

步骤153，

通过公式： $L=\frac{L_{11}\×K_{11}+L_{12}\×K_{12}+...+L_{21}\×K_{21}+L_{22}\×K_{22}+L_{23}\×K_{23}+...+\mathrm{Lmn}\×K_{\mathrm{mn}}}{m\×n}$ 获得所述测试画面的残像等级；

其中，L为所述测试画面的残像等级，L₁₁……L_mn为各个测试区域的残像等级，K₁₁……K_mn为各个测试区域分别对应的残像区域系数。

下面结合具体的应用实例说明本发明的上述实施例的具体实现过程：

结合图2、图3、图4A、图4B、图4C、图5、图6、图7说明上述第一实施例的具体实现过程。

其中，图2为显示器面板残像测试用的棋盘画面；图3是残像测试后在L127灰阶下的画面；图4A是测试画面残像测试前的测试区域A和B的亮度图；图4B是测试用的棋盘画面；图4C是测试画面残像测试后的测试区域A’和B’的亮度图；图5是显示器面板上不同测试区域的残像等级评价图（以5行×5列为例进行说明，但本发明的实施例中不限于是5行×5列）；图6是显示器面板上不同测试区域的残像区域系数图（5行×5列）；

图7为上述第一实施例的具体流程图，包括：

步骤161，在对显示器残像测试之前，在显示器上显示参照图案（即测试画面），如图4A所示，参照图案选择L127灰阶下的全屏灰色画面；通过CCD或CMOS等光学器件的亮度获得单元直接测量，获取L127灰阶下显示器上不同测试区域（如：将画面分成5行×5列的测试区域）显示参照图案的初始亮度（即上述第一亮度），并作为残像测试前在L127灰阶下的对比画面；

步骤162，将显示器画面调节到图4B所示的残像测试用的棋盘画面，进行残像测试；

步骤163，经过一段时间的测试，显示器的测试画面出现残像，这时再将测试画面调节到L127灰阶下的全屏灰色画面，如图4C所示的残像测试后在L127灰阶下的画面；

步骤164，采用CCD或CMOS等光学器件的亮度获得单元直接测量，获取L127灰阶下显示器显示参照图案的最终亮度（即上述第二亮度）；

步骤165，上述第三获得单元具体可以通过公式得到测试区域测试前后的亮度差值：A点的亮度差值＝A’点的亮度－A点的亮度，即测试区域A在测试前后的亮度差值＝A’所代表的第二亮度－A所代表的第一亮度；同样的，B点的亮度差值＝B’点的亮度－B点的亮度，计算得到初始亮度与最终亮度的差值；

步骤166，上述第三获得单元进一步计算显示器的不同测试区域测试前后的亮度差值的绝对值；

步骤167，选择一个预定残像等级；

步骤168，上述确定模块中的判断子模块判断测试区域的测试前后的亮度差值是否处于预定残像等级的相对亮度差值范围内；上述确定子模块在计算出来的亮度差值不在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，循环调用上述判断子模块，再选择另一预定残像等级进行判断，直到亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内；

步骤169，确定子模块确定最终选择的预定残像等级为该测试区域的残像等级；

步骤170，根据各个测试区域的残像等级，生成显示器上不同测试区域的残像等级评价图，如图5所示；

步骤171，获得不同测试区域对应的残像区域系数，如图6所示，一般是K1>K2>K3；本实施例中，K₁₁=K₁₂=K₁₃＝K₁₄＝K₁₅＝K₂₅＝K₃₅＝K₄₅＝K₅₅＝K₅₄＝K₅₃＝K₅₂＝K₅₁＝K₄₁＝K₃₁＝K₂₁＝K3；K₂₂＝K₂₃＝K₂₄＝K₃₄＝K₄₄＝K₄₃＝K₄₂＝K₃₂＝K2；K₃₃＝K1；

步骤172，将显示器上不同测试区域的残像等级与残像区域系数分别做乘积，并求加权平均值，得到显示器的残像等级，如下式所示：

$L=\frac{L_{11}\×K_3+L_{12}\×K_3+...+L_{21}\×K_3+L_{22}\×K_2+L_{23}\×K_2+...+L_{33}\×K_1}{5\×5}$

其中，L是测试画面的残像等级，L₁₁……L₅₅是各测试区域对应的残像等级，K1，K2，K3是测试区域对应的残像区域系数。

结合图2、图3、图4A、图4B、图4C、图5、图6、图8说明上述第二实施例的具体实现过程，图8为上述第二实施例的具体流程图，包括：

步骤261，在对显示器残像测试之前，在显示器上显示参照图案（即测试画面），如图4A所示，参照图案选择L127灰阶下的全屏灰色画面；通过CCD或CMOS等光学器件的第一获得子模块获取L127灰阶下显示器上不同测试区域（如：将画面分成5行×5列的测试区域）显示参照图案的初始颜色值，并作为残像测试前在L127灰阶下的对比画面；

步骤262，将显示器的测试画面调节到图4B所示的残像测试用的棋盘画面，进行残像测试；

步骤263，经过一段时间的测试，显示器的测试画面出现残像，这时再将测试画面调节到L127灰阶下的全屏灰色画面，如图4C所示的残像测试后在L127灰阶下的画面；

步骤264，采用CCD或CMOS等光学器件的第一获得子模块获取L127灰阶下显示器显示参照图案的最终颜色值；

步骤265，上述计算模块根据上述显示器面板的各个测试区域的颜色值，计算得到各个测试区域显示参照图案的初始亮度值和最终亮度值；

步骤266，上述第三获得单元具体可以通过公式得到测试区域测试前后的亮度差值：A点的亮度差值＝A’点的亮度－A点的亮度，即测试区域A在测试前后的亮度差值＝A’所代表的第一亮度－A所代表的第二亮度；同样的，B点的亮度差值＝B’点的亮度－B点的亮度，计算得到初始亮度与最终亮度的差值；

步骤267，上述第三获得单元进一步计算显示器的不同测试区域测试前后的亮度差值的绝对值；

步骤268，选择一个预定残像等级；

步骤269，上述确定模块中的判断子模块判断测试区域的测试前后的亮度差值是否处于预定残像等级的相对亮度差值范围内；上述确定子模块在计算出来的亮度差值不在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，循环调用上述判断子模块，再选择另一预定残像等级进行判断，直到所述亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内；

步骤270，确定子模块确定最终选择的预定残像等级为所述测试区域的残像等级；

步骤271，根据各个测试区域的残像等级，生成显示器上不同测试区域的残像等级评价图，如图5所示；

步骤272，获得不同测试区域对应的残像区域系数，如图6所示，一般是K1>K2>K3；本实施例中，K₁₁=K₁₂=K₁₃＝K₁₄＝K₁₅＝K₂₅＝K₃₅＝K₄₅＝K₅₅＝K₅₄＝K₅₃＝K₅₂＝K₅₁＝K₄₁＝K₃₁＝K₂₁＝K3；K₂₂＝K₂₃＝K₂₄＝K₃₄＝K₄₄＝K₄₃＝K₄₂＝K₃₂＝K2；K₃₃＝K1；

步骤273，将显示器上不同测试区域的残像等级与残像区域系数分别做乘积，并求加权平均值，得到显示器的残像等级，如下式所示：

$L=\frac{L_{11}\×K_3+L_{12}\×K_3+...+L_{21}\×K_3+L_{22}\×K_2+L_{23}\×K_2+...+L_{33}\×K_1}{5\×5}$

其中，L是测试画面的残像等级，L₁₁……L₅₅是各测试区域对应的残像等级，K1，K2，K3是测试区域对应的残像区域系数。

本发明的上述实施例克服了人为观察评定残像等级主观性较大、评定不准确的问题；相对于现有技术，本发明的实施例所述的装置可以更加准确更加全面地评价出显示器的残像的大小。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种显示器的残像等级评定装置，其特征在于，包括：

用于获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度的第一获得单元；

用于获得所述测试区域在所述灰阶水平下，所述残像测试后的第二亮度的第二获得单元；

分别与所述第一获得单元和所述第二获得单元连接，用于获得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值的第三获得单元；

与所述第三获得单元连接，用于获得所述测试区域的残像等级和残像区域系数的第四获得单元；其中，所述残像区域系数是预先设定的反映显示器面板不同区域的残像对整体显示品质影响程度的系数，靠近显示器面板中心的测试区域对应的残像区域系数大于远离所述显示器面板中心的测试区域对应的残像区域系数；

与所述第四获得单元连接，用于根据测试区域的残像等级和残像区域系数获得所述测试画面的残像等级的第五获得单元，其中，所述测试画面包括多个测试区域；

其中，所述第五获得单元通过公式：

$L=\frac{L_{11}\×K_{11}+L_{12}\×K_{12}+...+L_{21}\×K_{21}+L_{22}\×K_{22}+L_{23}\×K_{23}+...+Lmn\×K_{mn}}{m\×n}$

获得所述测试画面的残像等级；

其中，L为所述测试画面的残像等级，L₁₁……L_mn为各个测试区域的残像等级，K₁₁……K_mn为各个测试区域分别对应的残像区域系数，且K₁₁>K_PI>K_mn，其中，p小于m，I小于n。

2.根据权利要求1所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述第一获得单元和所述第二获得单元均为电耦合器件CCD或者互补性氧化金属半导体CMOS光学器件的亮度获得单元。

3.根据权利要求1所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述第一获得单元和所述第二获得单元均包括：

用于获得所述测试区域的各原色的颜色值的电耦合器件CCD或者互补性氧化金属半导体CMOS光学器件的第一获得子模块；

与所述第一获得子模块连接，用于根据所述测试区域的各原色的颜色值，计算所述测试区域的亮度的计算模块。

4.根据权利要求2或3所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述第四获得单元包括：

用于判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级的确定模块；

与所述确定模块连接，用于获得所述测试区域的残像区域系数的第二获得子模块。

5.根据权利要求4所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述确定模块包括：

用于判断所述亮度差值是否在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内的判断子模块；

与所述判断子模块连接，用于在所述亮度差值不在所述当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，循环调用所述判断子模块，再选择另一预定残像等级进行判断，直到所述亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内，并确定最终选择的预定残像等级为所述测试区域的残像等级的确定子模块。

6.根据权利要求4所述的显示器的残像等级评定装置，其特征在于，所述第五获得单元包括：

用于控制所述确定模块获得各个测试区域的残像等级的第一控制子模块；

用于控制所述第二获得子模块获得各个测试区域的残像区域系数的第二控制子模块；以及

分别与所述第一控制子模块、所述第二控制子模块、所述确定模块以及所述第二获得子模块连接，并用于通过公式：

$L=\frac{L_{11}\×K_{11}+L_{12}\×K_{12}+...+L_{21}\×K_{21}+L_{22}\×K_{22}+L_{23}\×K_{23}+...+Lmn\×K_{mn}}{m\×n}$

获得所述测试画面的残像等级的第三获得子模块；

其中，L为所述测试画面的残像等级，L₁₁……L_mn为各个测试区域的残像等级，K₁₁……K_mn为各个测试区域分别对应的残像区域系数,且K₁₁>K_PI>K_mn，其中，p小于m，I小于n。

7.一种显示器的残像等级评定方法，其特征在于，包括：

获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度，以及所述测试区域在所述灰阶水平下残像测试后的第二亮度；

根据所述第一亮度和所述第二亮度，获得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值；

根据所述亮度差值，确定所述测试区域的残像等级；

根据所述测试区域，获得所述测试区域的残像区域系数；所述残像区域系数是预先设定的反映显示器面板不同区域的残像对整体显示品质影响程度的系数，靠近显示器面板中心的测试区域对应的残像区域系数大于远离所述显示器面板中心的测试区域对应的残像区域系数；

根据所述测试区域的残像等级和残像区域系数，获得所述测试画面的残像等级；其中，所述测试画面包括多个测试区域；

其中，具体通过公式：

$L=\frac{L_{11}\×K_{11}+L_{12}\×K_{12}+...+L_{21}\×K_{21}+L_{22}\×K_{22}+L_{23}\×K_{23}+...+Lmn\×K_{mn}}{m\×n}$

获得所述测试画面的残像等级；

其中，L为所述测试画面的残像等级，L₁₁……L_mn为各个测试区域的残像等级，K₁₁……K_mn为各个测试区域分别对应的残像区域系数，且K₁₁>K_PI>K_mn，其中，p小于m，I小于n。

8.根据权利要求7所述的显示器的残像等级评定方法，其特征在于，获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前的第一亮度，以及所述测试区域在所述灰阶水平下残像测试后的第二亮度的步骤包括：

获得显示器的测试画面的测试区域在一灰阶水平下，残像测试前所述测试区域的各原色的颜色值，以及残像测试后的所述测试区域的各原色的颜色值；

根据残像测试前所述测试区域的各原色的颜色值，计算残像测试前所述测试区域的第一亮度；

根据残像测试后所述测试区域的各原色的颜色值，计算残像测试后所述测试区域的第二亮度。

9.根据权利要求7或8所述的显示器的残像等级评定方法，其特征在于，根据所述亮度差值，确定所述测试区域的残像等级的步骤包括：

判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级。

10.根据权利要求9所述的显示器的残像等级评定方法，其特征在于，判断所述亮度差值在一预定残像等级对应的亮度差值范围内时，确定所述预定残像等级为所述测试区域的残像等级的步骤包括：

判断所述亮度差值是否在当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内；

若所述亮度差值不在所述当前选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内时，再选择另一预定残像等级进行判断，直到所述亮度差值在一选择的预定残像等级对应的亮度差值范围内，并确定最终选择的预定残像等级为所述测试区域的残像等级。

11.根据权利要求9所述的显示器的残像等级评定方法，其特征在于，根据所述测试区域的残像等级和残像区域系数，获得所述测试画面的残像等级的步骤包括：

确定各个测试区域的残像等级；

获得各个测试区域的残像区域系数；

通过公式： $L=\frac{L_{11}\×K_{11}+L_{12}\×K_{12}+...+L_{21}\×K_{21}+L_{22}\×K_{22}+L_{23}\×K_{23}+...+Lmn\×K_{mn}}{m\×n}$ 获得所述测试画面的残像等级；

其中，L为所述测试画面的残像等级，L₁₁……L_mn为各个测试区域的残像等级，K₁₁……K_mn为各个测试区域分别对应的残像区域系数,且K₁₁>K_PI>K_mn，其中，p小于m，I小于n。