CN106297613B - 一种显示屏残影检测系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示屏残影检测系统及方法。方法包括：获得待检测残影的显示屏图像；将显示屏图像中显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域；以至少两个区域中的一个为参考区，按参考区的大小绘制区域棋盘格画面；将区域棋盘格画面和显示画面部分的各个区域分别进行傅里叶变换，获得各个区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，另外获取各个区域的参考频率在频域结构中的第二频谱能量值；获得各个区域对应的第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值。通过上述方式，本发明能够客观、有效地评价显示画面的局部残影的严重程度。

Description

一种显示屏残影检测系统及方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示屏残影检测系统及方法。
背景技术
在设计液晶面板时，会对液晶面板进行影像残留的检测(Image Sticking)，即让液晶面板停留在一个画面(如棋盘格画面)上达100多小时，改变显示内容后，观察前一个画面的残留程度。一般检测残影的依据是基于人眼判断的JND(Just noticeabledifference,最小可觉差)模型，其主观因素过高。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种显示屏残影检测系统及方法，能够客观、有效地评价显示画面的局部残影的严重程度。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示屏残影检测方法，包括：获得待检测残影的显示屏图像；将所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域；以至少两个所述区域中的一个为参考区，按所述参考区的大小绘制区域棋盘格画面；将所述区域棋盘格画面和所述显示画面部分的各个所述区域分别进行傅里叶变换，获得各个所述区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，另外获取各个所述区域的参考频率在频域结构中的第二频谱能量值；获得各个所述区域对应的所述第一频谱能量值与所述第二频谱能量值的比值。
其中，方法进一步包括：获得各个所述区域对应的比值中最大的一个比值；判断所述最大的一个比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出所述数值范围，则判断为不合格，否则为合格。
其中，将所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同的区域包括：将所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同且形状相同的区域。
其中，将所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同、形状相同且部分重叠的区域包括：将所述显示屏的显示画面部分平均划分为不重叠且面积相同、形状相同的第一矩形区域；在所述第一矩形区域基础上，继续在相邻两个所述第一矩形区域之间、四个所述第一矩形区域之间划分相互重叠且面积相同、形状相同的第二矩形区域。
其中，所述参考频率是零频。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示屏残影检测系统，包括：获取装置，用于获得待检测残影的显示屏图像；划分装置，用于将所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域；绘制装置，用于以所述至少两个区域中的一个为参考区，按所述参考区的大小绘制区域棋盘格画面；运算装置，用于将所述区域棋盘格画面和所述显示画面部分的各个所述区域分别进行傅里叶变换，获得各个所述区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，另外获取各个所述区域的参考频率在频域结构中的第二频谱能量值，进一步获得各个所述区域对应的所述第一频谱能量值与所述第二频谱能量值的比值。
其中，所述运算装置进一步包括：获取单元，用于获得各个所述区域对应的比值中最大的一个比值；判断单元，用于判断所述最大的一个比值是否超出对应检测合格的数值范围；处理单元，用于在所述判断单元判断到超出所述数值范围时，判断为不合格，否则为合格。
其中，所述划分装置具体是将所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同且形状相同的区域。
其中，所述划分装置具体是将所述显示屏的显示画面部分平均划分为不重叠且面积相同、形状相同的第一矩形区域，并在所述第一矩形区域基础上，继续在相邻两个所述第一矩形区域之间、四个所述第一矩形区域之间划分相互重叠且面积相同、形状相同的第二矩形区域。
其中，所述参考频率是零频。
本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明提供一种显示屏残影检测系统及方法，包括以下步骤：首先获得待检测残影的显示屏图像，然后将显示屏图像中显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域，进而以至少两个区域中的一个为参考区，按参考区的大小绘制区域棋盘格画面，进一步将区域棋盘格画面和显示画面部分的各个区域分别进行傅里叶变换，获得各个区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，另外获取各个区域的参考频率在频域结构中的第二频谱能量值，最后获得各个区域对应的第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值。本发明对局部图像频域结构进行处理，能够客观、有效地评价显示画面的局部残影的严重程度。
附图说明
图1是本发明实施方式提供的一种显示屏残影检测方法的流程图；
图2是显示屏的显示画面部分划分为9区域时前5个区域的示意图；
图3是显示屏的显示画面部分划分为9区域时后4个区域的示意图；
图4是按参考区的大小绘制的区域棋盘格画面；
图5是本发明实施方式提供的一种显示屏残影检测系统的结构示意图。
具体实施方式
请参阅图1，图1是本发明实施方式提供的一种显示屏残影检测方法的流程图。如图1所示，本实施例的方法包括以下步骤：
步骤S1：获得待检测残影的显示屏图像。
本步骤中，具体是通过照相机等图像获取工具采用标准照相手法获取经过IS实验的128灰阶下显示屏图像。
其中，标准拍照手法的说明如下：
相机型号：Canon600D；
测量距离为显示屏宽度的3倍，测量方向垂直于显示屏平面；
测量环境：暗室；
相机参数：ISO100；色彩空间sRGB；闪光灯关闭；自动亮度：关闭；白平衡偏移/包围：0，0/±0；减轻红眼开/关：禁用；自动对焦模式：实时模式；显示网格线：禁用；长宽比：3：2；
测光定时器：16秒；低音增强：禁用；经由HDMI控制：禁用。
步骤S2：将显示屏图像中显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域。
本步骤中，区域的数量根据实际情况而定，例如可以为9区域、25区域等。请参阅图2和图3所示为9区域的划分方法，其中，图2为显示屏的显示画面部分划分为9区域时前5个区域的示意图，图3为显示屏的显示画面部分划分为9区域时后4个区域的示意图。其中，划分9区域的划分方法，即将显示画面划分成9个区域，并且9个区域中每个区域的面积、周期以及黑白矩阵(blocks)的数目均相同。
具体而言，至少两个相同的区域包括两个区域的面积、周期或者黑白矩阵(blocks)的数目均相同。即将显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同且形状相同的区域。更具体的，将显示屏的显示画面部分平均划分为不重叠且面积相同、形状相同的第一矩形区域101，然后在第一矩形区域101基础上，继续在相邻两个第一矩形区域101之间、四个第一矩形区域101之间划分相互重叠且面积相同、形状相同的第二矩形区域102。
步骤S3：以至少两个区域中的一个为参考区，按参考区的大小绘制区域棋盘格画面。如以图2的区域5作为参考区，按此区域5的大小绘制区域棋盘格画面如图4所示。
步骤S4：将区域棋盘格画面和显示画面部分的各个区域分别进行傅里叶变换，具体是进行二维傅立叶变换，获得各个区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，另外获取各个区域的参考频率在频域结构中的第二频谱能量值。其中，参考频率是零频。
承接前文的9个区域的例子，将如图4所示的区域棋盘格画面和显示画面的9个区域画面分别进行傅里叶变换，分别获得1-9该9个区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，记为L1’～L9’。
在频域结构中读取显示画面的9个区域各自的零频对应的频谱能量值，记为L1～L9，即9个区域画面背景强度对应的频谱能量值。
步骤S5：获得各个区域对应的第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值。具体为：获得各个区域对应的比值中最大的一个比值，然后判断最大的一个比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出数值范围，则判断为不合格，否则为合格。
如上述的9个区域，将上述的各区域的特征频率的第一频谱能量值Li’与其零频对应的频谱能量值Li做比值，获得各区域残影的评价值，γi＝Li‘/Li，γi越大，说明此区域的残影越严重。其中，可取这9个区域中残影最为严重的区域，即比值γi的最大值，作为评价整个显示画面的最终残影程度的评价值。
以图2和图3所示的显示画面为例，以下给出9个区域的残影评价值：
区域 1 2 3 4 5 6 7 8 9
比值 3.0552 1.9475 1.9440 2.5595 0.7954 1.3746 2.4196 2.3507 1.5548
以上述评价值可知，图2和图3中残影程度最大的区域为1区域。由此判断1区域的比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出数值范围，则判断为不合格，否则为合格。
承前所述，本实施例通过获得显示屏图像，将显示屏图像平均分为几个局域分别进行处理，对显示屏图像中的显示屏的显示画面部分的各区域进行二维傅里叶变化处理，在频域中提取各区域残影画面对应的特征频率及其对应的频谱能量值，求得其与零频对应的频谱能量值的比值，最终得到各区域残影程度的评价值，从而通过拍摄方法和计算方法的客观性，能够客观量化评价局部残影严重程度，降低主观因素影响，提高IS的分辨能力。
请参阅图5，图5是本发明实施例方式提供的一种显示屏残影检测系统的结构示意图。如图5所示，本实施例的显示屏残影检测系统50包括获取装置51、划分装置52、绘制装置53以及运算装置54。
其中，获取装置51用于获得待检测残影的显示屏图像。获取装置51可以为相机等图像获取工具。本实施例中，获取装置51优选为相机，采用标准照相手法获取经过IS实验的128灰阶下显示屏图像。
其中，标准拍照手法的说明如下：
相机型号：Canon600D；
测量距离为显示屏宽度的3倍，测量方向垂直于显示屏平面；
测量环境：暗室；
相机参数：ISO100；色彩空间sRGB；闪光灯关闭；自动亮度：关闭；白平衡偏移/包围：0，0/±0；减轻红眼开/关：禁用；自动对焦模式：实时模式；显示网格线：禁用；长宽比：3：2；
测光定时器：16秒；低音增强：禁用；经由HDMI控制：禁用。
划分装置52用于将显示屏图像中显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域。其中，区域的数量根据实际情况而定，例如可以为9区域、25区域等。请参阅图2和图3所示为9区域的划分方法，其中，图2为显示屏的显示画面部分划分为9区域时前5个区域的示意图，图3为显示屏的显示画面部分划分为9区域时后4个区域的示意图。
具体的，至少两个相同的区域包括两个区域的面积、周期或者黑白矩阵的数目均相同。即划分装置52是将显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同、形状相同且部分重叠的区域。更具体的，是将显示屏的显示画面部分平均划分为不重叠且面积相同、形状相同的第一矩形区域101，并在第一矩形区域101基础上，继续在相邻两个第一矩形区域101之间、四个第一矩形区域101之间划分相互重叠且面积相同、形状相同的第二矩形区域102。
绘制装置53用于以至少两个区域中的一个为参考区，按参考区的大小绘制区域棋盘格画面。如以图2的区域5作为参考区，按此区域5的大小绘制区域棋盘格画面如图4所示。
运算装置54用于将区域棋盘格画面和显示画面部分的各个区域分别进行傅里叶变换，具体是进行二维傅立叶变换，获得各个区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，另外获取各个区域的参考频率在频域结构中的第二频谱能量值。其中，参考频率是零频。
承接前文的9个区域的例子，将如图4所示的区域棋盘格画面和显示画面的9个区域画面分别进行傅里叶变换，分别获得1-9该9个区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，记为L1’～L9’。
在频域结构中读取显示画面的9个区域各自的零频对应的频谱能量值，记为L1～L9，即9个区域画面背景强度对应的频谱能量值。
进一步的，运算装置54还获得各个区域对应的第一频谱能量值与第二频谱能量值的比值。具体而言，运算装置54包括获取单元541、判断单元542以及处理单元543。
其中，获取单元541用于获得各个区域对应的比值中最大的一个比值。
判断单元542用于判断最大的一个比值是否超出对应检测合格的数值范围。
处理单元543用于在判断单元542判断到超出数值范围时，判断为不合格，否则为合格。
如上述的9个区域，将上述的各区域的特征频率的第一频谱能量值Li’与其零频对应的频谱能量值Li做比值，获得各区域残影的评价值，γi＝Li‘/Li，γi越大，说明此区域的残影越严重。其中，可取这9个区域中残影最为严重的区域，即比值γi的最大值，作为评价整个显示画面的最终残影程度的评价值。
以图2和图3所示的显示画面为例，以下给出9个区域的残影评价值：
区域 1 2 3 4 5 6 7 8 9
比值 3.0552 1.9475 1.9440 2.5595 0.7954 1.3746 2.4196 2.3507 1.5548
以上述评价值可知，图2和图3中残影程度最大的区域为1区域。由此判断1区域的比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出数值范围，则判断为不合格，否则为合格。
综上所述，本发明有效地避免了使用传统的基于人眼判断残影的主观性，客观地的评价残影程度，有效评价显示屏画面不同区域的残影程度。
针对面板厂均需要进行的IS实验，本发明可用于在IS实验过程中局部残影的即时性量化检测与评价，以及IS后面残影量化检测与评价，可降低IS判断的人工成本和时间成本，减弱人眼判断的主观性影响。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示屏残影检测方法，其特征在于，包括：
获得待检测残影的显示屏图像；
将所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域,所述至少两个相同的区域包括互不重叠的区域和相互重叠的区域；
以至少两个所述区域中的一个为参考区，按所述参考区的大小绘制区域棋盘格画面；
将所述区域棋盘格画面和所述显示画面部分的各个所述区域分别进行傅里叶变换，获得各个所述区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，另外获取各个所述区域的参考频率在频域结构中的第二频谱能量值；
获得各个所述区域对应的所述第一频谱能量值与所述第二频谱能量值的比值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：
获得各个所述区域对应的比值中最大的一个比值；
判断所述最大的一个比值是否超出对应检测合格的数值范围，若超出所述数值范围，则判断为不合格，否则为合格。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域包括：
将所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同且形状相同的区域。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，将所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同且形状相同的区域包括：
将所述显示屏的显示画面部分平均划分为面积相同、不重叠且形状相同的第一矩形区域；
在所述第一矩形区域基础上，继续在相邻两个所述第一矩形区域之间、四个所述第一矩形区域之间划分相互重叠且面积相同、形状相同的第二矩形区域。
5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述参考频率是零频。
6.一种显示屏残影检测系统，其特征在于，包括：
获取装置，用于获得待检测残影的显示屏图像；
划分装置，用于将所述显示屏图像中所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个相同的区域,所述至少两个相同的区域包括互不重叠的区域和相互重叠的区域；
绘制装置，用于以至少两个所述区域中的一个为参考区，按所述参考区的大小绘制区域棋盘格画面；
运算装置，用于将所述区域棋盘格画面和所述显示画面部分的各个所述区域分别进行傅里叶变换，获得各个所述区域残影的特征频率及其对应在各自频谱结构中的第一频谱能量值，另外获取各个所述区域的参考频率在频域结构中的第二频谱能量值，进一步获得各个所述区域对应的所述第一频谱能量值与所述第二频谱能量值的比值。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述运算装置进一步包括：
获取单元，用于获得各个所述区域对应的比值中最大的一个比值；
判断单元，用于判断所述最大的一个比值是否超出对应检测合格的数值范围；
处理单元，用于在所述判断单元判断到超出所述数值范围时，判断为不合格，否则为合格。
8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述划分装置具体是将所述显示屏的显示画面部分平均分为至少两个面积相同且形状相同的区域。
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述划分装置具体是将所述显示屏的显示画面部分平均划分为不重叠且面积相同、形状相同的第一矩形区域，并在所述第一矩形区域基础上，继续在相邻两个所述第一矩形区域之间、四个所述第一矩形区域之间划分相互重叠且面积相同、形状相同的第二矩形区域。
10.根据权利要求6至9任一项所述的系统，其特征在于，所述参考频率是零频。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110895806A (zh) * 2019-07-25 2020-03-20 研祥智能科技股份有限公司 屏幕显示缺陷的检测方法及系统
CN111341233B (zh) 2020-04-09 2022-03-22 昆山国显光电有限公司 显示面板残影检测方法以及检测装置
CN113176677A (zh) * 2020-07-28 2021-07-27 深圳同兴达科技股份有限公司 屏幕残影的测试方法
CN112129489A (zh) * 2020-09-28 2020-12-25 厦门天马微电子有限公司 一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1366270A (zh) * 2001-01-18 2002-08-28 精工爱普生株式会社 用于液晶投影仪的图象赝象去除技术
CN101325021A (zh) * 2007-06-15 2008-12-17 中华映管股份有限公司 检测显示器的烧附现象的方法
TW200917814A (en) * 2007-10-12 2009-04-16 Taiwan Tft Lcd Ass Method and apparatus of measuring image-sticking of a display device
CN103050074A (zh) * 2012-04-27 2013-04-17 京东方科技集团股份有限公司 一种显示器的残像等级评定装置及方法
CN105427776A (zh) * 2016-01-26 2016-03-23 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板影像残留检测方法和装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001223882A (ja) * 2000-02-09 2001-08-17 M Ken Co Ltd 原画像の被変形処理方法検出方法、原画像サイズ検出方法及び原画像の電子透かし検出方法
KR100422295B1 (ko) * 2002-05-18 2004-03-11 엘지.필립스 엘시디 주식회사 디스플레이 장치의 화질 분석 방법 및 시스템
US7663663B2 (en) * 2006-04-28 2010-02-16 Nvidia Corporation Burn-in control
US20080106508A1 (en) * 2006-11-08 2008-05-08 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Method of preventing image sticking
US8248328B1 (en) * 2007-05-10 2012-08-21 Imaging Systems Technology Plasma-shell PDP with artifact reduction
CN101425246A (zh) 2007-10-31 2009-05-06 台湾薄膜电晶体液晶显示器产业协会 检测显示器的残影现象的方法及装置
CN101655409A (zh) 2008-08-22 2010-02-24 北京京东方光电科技有限公司 残像等级评定方法及装置
KR20100043011A (ko) * 2008-10-17 2010-04-27 세이코 엡슨 가부시키가이샤 유기 ｅｌ 장치, 유기 ｅｌ 장치의 제조 방법, 전자 기기
US9485501B2 (en) * 2011-12-30 2016-11-01 Barco N.V. Method and system for determining image retention
CN103165057B (zh) * 2013-03-12 2015-04-08 合肥京东方光电科技有限公司 一种确定显示器残像等级的方法及装置
US20150255029A1 (en) * 2014-03-07 2015-09-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, display module including the display device, and electronic device including the display device or the display module
CN104091555B (zh) * 2014-06-20 2016-06-08 京东方科技集团股份有限公司 一种显示器残像等级的评价方法及其装置
KR102238741B1 (ko) * 2015-01-06 2021-04-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널의 발광 상태 측정 방법 및 표시 패널의 발광 상태 보정 방법
CN106409193A (zh) * 2016-07-08 2017-02-15 深圳市华星光电技术有限公司 一种显示屏残影检测系统及其方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1366270A (zh) * 2001-01-18 2002-08-28 精工爱普生株式会社 用于液晶投影仪的图象赝象去除技术
CN101325021A (zh) * 2007-06-15 2008-12-17 中华映管股份有限公司 检测显示器的烧附现象的方法
TW200917814A (en) * 2007-10-12 2009-04-16 Taiwan Tft Lcd Ass Method and apparatus of measuring image-sticking of a display device
CN103050074A (zh) * 2012-04-27 2013-04-17 京东方科技集团股份有限公司 一种显示器的残像等级评定装置及方法
CN105427776A (zh) * 2016-01-26 2016-03-23 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板影像残留检测方法和装置

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