CN117789620A - 显示面板的残像检测方法及残像检测装置 - Google Patents

显示面板的残像检测方法及残像检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN117789620A
CN117789620A CN202211160520.XA CN202211160520A CN117789620A CN 117789620 A CN117789620 A CN 117789620A CN 202211160520 A CN202211160520 A CN 202211160520A CN 117789620 A CN117789620 A CN 117789620A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sub
display area
display
display panel
brightness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202211160520.XA
Other languages
English (en)
Inventor
浦超
张大成
单庆山
陈小川
杨盛际
杨俊彦
杨树成
张明瑞
屈刘泽明
王蕾
王玉玲
苏琦
马召
谢卓洋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Yunnan Chuangshijie Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Yunnan Chuangshijie Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Yunnan Chuangshijie Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN202211160520.XA priority Critical patent/CN117789620A/zh
Priority to PCT/CN2023/119431 priority patent/WO2024061167A1/zh
Publication of CN117789620A publication Critical patent/CN117789620A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

一种显示面板的残像检测方法，包括：获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息；根据第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息；根据多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数；根据至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定显示面板的残像评价参数。其中，第一画面包括多个第一子画面，显示面板的显示区域包括与多个第一子画面一一对应的多个子显示区，第二画面包括多个第二子画面，第二子画面与至少两个相邻子显示区的交界区域对应。

Description

显示面板的残像检测方法及残像检测装置
技术领域
本文涉及但不限于显示技术领域，尤指一种显示面板的残像检测方法及残像检测装置。
背景技术
随着显示技术的快速发展，人们对显示产品的画质提出了更严格的要求。其中，残像(Image Sticking)是对画质影响最大且最难改善的一项因素。残像是指显示面板长时间显示同一画面后，再切换至另一画面，会在新画面上留有上一个画面的残影的现象。为了保证显示产品的生产质量并控制成本，残像检测成为显示产品的生成过程中不可或缺的重要部分。
目前行业内的残像检测方法主要采用人工视觉检查法，即通过肉眼观测点亮的显示面板，并与残像等级样本进行目视对比，进而判读显示面板有无缺陷并判定相应残像等级。然而，由于人与人之间的视觉感受差异、眼睛疲劳等因素使得不同人员判定的残像等级存在差异，因此，这种人工视觉判定残像等级无法准确客观地评判显示产品的画面品质。
发明内容
以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
本公开实施例提供一种显示面板的残像检测方法及残像检测装置。
一方面，本公开实施例提供一种显示面板的残像检测方法，包括：获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息；根据所述第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息；根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数；根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数。其中，所述第一画面包括多个第一子画面，所述显示面板的显示区域包括与所述多个第一子画面一一对应的多个子显示区，所述第二画面包括多个第二子画面，所述第二子画面与至少两个相邻子显示区的交界区域对应。
在一些示例性实施方式中，所述根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数，包括：计算确定出的亮度变化参数的平均值，将所述平均值作为残像评价参数。
在一些示例性实施方式中，所述根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，包括：针对一个子显示区，当所述子显示区对应的第一子画面的灰阶小于相邻子显示区对应的第一子画面的灰阶，计算所述子显示区的第二亮度信息与所述相邻子显示区的第二亮度信息的差值，并将所述差值与所述子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述子显示区与所述相邻子显示区之间的亮度变化参数；当所述子显示区对应的第一子画面的灰阶大于相邻子显示区对应的第一子画面的灰阶，计算所述相邻子显示区的第二亮度信息与所述子显示区的第二亮度信息的差值，并将所述差值与所述相邻子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述子显示区与所述相邻子显示区之间的亮度变化参数。
在一些示例性实施方式中，所述根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，包括：针对一个子显示区，根据所述子显示区的第二亮度信息和沿第一方向的相邻子显示区的第二亮度信息，确定所述子显示区与沿第一方向的相邻子显示区之间的第一亮度变化参数；根据所述子显示区的第二亮度信息和沿第二方向的相邻子显示区的第二亮度信息，确定所述子显示区与沿第二方向的相邻子显示区之间的第二亮度变化参数；其中，所述第一方向与所述第二方向交叉。
在一些示例性实施方式中，所述第一方向垂直于所述第二方向。
在一些示例性实施方式中，所述根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数，包括：根据以下式子计算残像评价参数：
其中，ISP为残像评价参数，n表示沿所述第一方向的子显示区的数目，m表示沿所述第二方向的子显示区的数目；m和n均为大于1的整数；μ为修正系数，且μ大于0；CH(i,j)表示位于第i行第j列的子显示区与沿第一方向的相邻子显示区之间的第一亮度变化参数，CV(i,j)表示位于第i行第j列的子显示区与沿第二方向的相邻子显示区之间的第二亮度变化参数。
在一些示例性实施方式中，所述子显示区包括至少一个发光单元；所述第一亮度信息包括：所述显示区域的全部发光单元的亮度值。
在一些示例性实施方式中，所述根据所述第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息，包括：将所述子显示区的异常的亮度值去除，并计算保留的亮度值的平均值，将所述平均值作为所述子显示区的第二亮度信息。
在一些示例性实施方式中，所述将所述子显示区内的异常的亮度值去除，包括：将所述子显示区内不满足3σ准则的亮度值去除。
在一些示例性实施方式中，所述残像检测方法还包括：获取所述显示面板在不同视角下的亮度曲线。在获取所述显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息之后，所述残像检测方法还包括：利用所述亮度曲线，对所述第一亮度信息进行亮度校准。
在一些示例性实施方式中，所述第一画面为棋盘格画面，所述棋盘格画面包括矩阵排列的多个第一子画面，所述多个第一子画面包括多个第一纯色子画面和多个第二纯色子画面，所述第一纯色子画面为具有第一灰阶的纯色子画面，所述第二纯色子画面为具有第二灰阶的纯色子画面；沿所述矩阵的行方向和列方向，所述第一纯色子画面和第二纯色子画面交替排列；所述第一灰阶不同于所述第二灰阶。
在一些示例性实施方式中，所述第一灰阶为0灰阶，第二灰阶为255灰阶；或者，所述第一灰阶为255灰阶，所述第二灰阶为0灰阶。
在一些示例性实施方式中，所述第二画面为具有第三灰阶的纯色画面，所述第三灰阶不同于所述第一灰阶和第二灰阶，或者，所述第三灰阶与所述第一灰阶或第二灰阶相同。
在一些示例性实施方式中，所述第三灰阶为255灰阶。
在一些示例性实施方式中，所述残像检测方法还包括：按照设定的等级对照表，根据所述显示面板的残像评价参数，确定所述显示面板的残像等级；所述等级对照表记录所述残像评价参数的数值范围与残像等级的对应关系。
在一些示例性实施方式中，所述获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息，包括：在所述显示面板显示第二画面时，对所述显示面板的显示区域进行整面单次亮度采集，得到第一亮度信息。
另一方面，本公开实施例提供一种显示面板的残像检测装置，包括：获取模块和第一处理模块。获取模块配置为获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息；其中，所述第一画面包括多个第一子画面，所述显示面板的显示区域包括与所述多个第一子画面一一对应的多个子显示区，所述第二画面包括多个第二子画面，所述第二子画面与至少两个相邻子显示区的交界区域对应。第一处理模块，配置为根据所述第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息；根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数；以及根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数。
另一方面，本公开实施例提供一种非瞬态计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现如上所述的显示面板的残像检测方法的步骤。
另一方面，本公开实施例提供一种显示面板的残像检测方法，包括：根据待检测的显示面板的显示区域的发光单元的属性信息、以及采集设备的采集参数，确定是否满足针对所述显示面板的一次性整面采集条件；在满足所述一次性整面采集条件且所述显示面板从第一画面切换为第二画面后，通过一次采集得到所述显示面板的第一亮度信息，以便利用所述第一亮度信息进行残像评价。
在一些示例性实施方式中，所述一次性整面采集条件包括：
0.01<ka×Nx/f<0.1；其中，k＝nx/Nx或者k＝ny/Ny；
其中，f表示镜头焦距，a表示所述显示区域的发光单元沿第一方向的长度，Nx表示所述显示区域内沿所述第一方向的发光单元的个数，Ny表示所述显示区域内沿第二方向的发光单元的个数，所述第一方向与所述第二方向垂直；nx表示沿所述第一方向的有效采样直径范围内的发光单元的个数，ny表示沿所述第二方向的有效采样直径范围内的发光单元的个数。
另一方面，本公开实施例提供一种显示面板的残像检测装置，包括：第二处理模块和采集模块。第二处理模块配置为根据待检测的显示面板的显示区域的发光单元的属性信息、以及采集设备的采集参数，确定是否满足针对所述显示面板的一次性整面采集条件。采集模块配置为在满足所述一次性整面采集条件且所述显示面板从第一画面切换为第二画面后，通过一次采集得到所述显示面板的第一亮度信息，以便利用所述第一亮度信息进行残像评价。
在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。
附图说明
附图用来提供对本公开技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开的技术方案的限制。附图中一个或多个部件的形状和大小不反映真实比例，目的只是示意说明本公开内容。
图1为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测方法的流程图；
图2为一种人眼对比敏感度函数的示意图；
图3为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测方法的示例流程图；
图4为本公开至少一实施例的第一画面的局部示意图；
图5为本公开至少一实施例的显示面板显示的残像的局部示意图；
图6为本公开至少一实施例的亮度信息的采集示意图；
图7为本公开至少一实施例的显示面板在不同视角下的亮度曲线的示意图；
图8为本公开至少一实施例的残像检测结果的对比示意图；
图9为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测装置的示意图；
图10为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测系统的示意图；
图11为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测方法的另一流程图；
图12为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测装置的另一示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本公开实施例进行详细说明。实施方式可以以多个不同形式来实施。所属技术领域的普通技术人员可以很容易地理解一个事实，就是方式和内容可以在不脱离本公开的宗旨及其范围的条件下被变换为一种或多种形式。因此，本公开不应该被解释为仅限定在下面的实施方式所记载的内容中。在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图中，有时为了明确起见，夸大表示了一个或多个构成要素的大小、层的厚度或区域。因此，本公开的一个方式并不一定限定于该尺寸，附图中多个部件的形状和大小不反映真实比例。此外，附图示意性地示出了理想的例子，本公开的一个方式不局限于附图所示的形状或数值等。
本公开中的“第一”、“第二”、“第三”等序数词是为了避免构成要素的混同而设置，而不是为了在数量方面上进行限定的。本公开中的“多个”表示两个或两个以上的数量。
在本公开中，为了方便起见，使用“中部”、“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示方位或位置关系的词句以参照附图说明构成要素的位置关系，仅是为了便于描述本说明书和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。构成要素的位置关系根据描述构成要素的方向适当地改变。因此，不局限于在说明书中说明的词句，根据情况可以适当地更换。
在本公开中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解。例如，可以是固定连接，或可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或通过中间件间接相连，或两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据情况理解上述术语在本公开中的含义。
本公开实施例提供一种显示面板的残像检测方法和残像检测装置，可以定量化客观评价显示面板的残像水平，从而提高残像检测结果的准确性和评价效率。
在一些示例中，本实施例的残像检测方法适用的显示面板可以是微发光二极管(Micro-OLED，Micro Light Emitting Diode)显示面板、有机发光二极管(OLED，OrganicLight-Emitting Diode)显示面板、量子点发光二极管(QLED，Quantum dot LightEmitting Diode)显示面板、迷你二极管(Mini-LED)显示面板或者液晶显示面板(LCD，Liquid Crystal Display)。本实施例对于显示面板的类型并不限定。
在一些示例中，显示面板的显示区域可以包括多个像素单元。例如，一个像素单元可以包括三个子像素。三个子像素可以分别为红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素。或者，在另一些示例中，一个像素单元可以包括四个子像素，四个子像素可以分别为红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和白色子像素。在一些示例中，子像素的形状可以是矩形、菱形、五边形或六边形。一个像素单元包括三个子像素时，三个子像素可以依次沿某一方向间隔设置，或者，可以呈品字型方式设置；一个像素单元包括四个子像素时，四个子像素可以依次沿某一方向间隔设置或以阵列方式设置。然而，本实施例对此并不限定。
在一些示例中，每个子像素可以包括：像素电路以及与像素电路连接的发光元件。像素电路可以包括多个晶体管和至少一个电容，例如，像素电路可以为3T1C结构、7T1C结构、5T1C结构、8T1C结构或者8T2C结构等，其中，上述电路结构中的T指的是薄膜晶体管，C指的是电容，T前面的数字代表电路中薄膜晶体管的数量，C前面的数字代表电路中电容的数量。在一些示例中，发光元件可以为发光面积不大于1×105um2的元件，例如，微发光二极管、或迷你二极管、或有机发光二极管、或量子点发光二极管。
以Micro-OLED显示面板为例，由于受到像素单元老化衰减的影响，像素单元的发光亮度会随着发光时间的增加而降低，而且像素单元老化衰减程度除了与发光材料的寿命有关外，还与显示面板的温度和显示灰阶有关。由于显示面板的不同像素单元老化衰减程度不同，使得不同像素单元之间的发光亮度降低的程度也不同，会出现显示残像的现象，这将降低显示面板的显示效果并影响用户体验。本实施例提供的残像检测方法可以对显示面板的残像水平进行客观定量化的评价，从而提高残像检测评价结果的准确性和评价效率，以便改善显示面板的显示效果，并提升用户体验。
图1为本公开至少一实施例提供的显示面板的残像检测方法的流程图。在一些示例中，如图1所示，本示例提供的显示面板的残像检测方法可以包括步骤S11至步骤S14。
步骤S11、获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息。其中，第一画面可以包括多个第一子画面，显示面板的显示区域可以包括与多个第一子画面一一对应的多个子显示区。一个子显示区可以为显示对应的一个第一子画面的区域。在一些示例中，一个第一子画面可以为一个纯色画面，任两个相邻第一子画面可以为亮度互不相同的纯色画面。本实施例对于第一子画面和子显示区的形状和大小并不限定。例如，第一画面可以为棋盘格画面，或者可以为条形码画面，或者可以为二维码画面，或者可以为其他具有黑白间隔图像的画面。又如，第一画面中的至少一个第一子画面可以不是纯色画面，且该第一子画面与相邻第一子画面之间的亮度差异可以视觉区分。
在一些示例中，子显示区可以包括至少一个发光单元。例如，一个发光单元可以为一个子像素，或者，一个发光单元可以为一个像素单元。例如，在显示面板显示第一画面时，一个子显示区的多个发光单元的显示灰阶可以是相同的。又如，在显示面板显示第一画面时，至少一个子显示区的多个发光单元的显示灰阶可以接近。
在一些示例中，第二画面可以包括多个第二子画面。第二子画面可以与至少两个相邻子显示区的交界区域对应。第二子画面可以覆盖第一画面中不同亮度的第一子画面之间的边界。如此一来，在显示第二画面时可以体现第一画面的不同亮度的相邻第一子画面之间的边界残像，以便有利于进行残像检测。在一些示例中，第二画面可以为整体的纯色画面，第二画面的多个第二子画面的显示灰阶可以相同。然而，本实施例对于第二画面的显示灰阶、第二子画面的数目和形状并不限定。在另一些示例中，第二画面可以包括显示灰阶不同的多个第二子画面，且第二子画面可以为纯色子画面。在另一些示例中，第二画面中的至少一个第二子画面不是纯色子画面。
在一些示例中，第一画面在显示面板的显示时长越长越有利于残像检测的准确性。在兼顾检测效率的情况下，第一画面的显示时长可以约为1分钟至10分钟，例如可以约为5分钟或10分钟。然而，本实施例对此并不限定。
在一些示例中，第二画面在显示面板的显示时长越长残像显示越弱，为了提高残像检测的准确性并兼顾检测效率，可以在显示面板切换为第二画面的5分钟内完成亮度采集。例如，在进行亮度采集时，第二画面的显示时长可以小于或等于5分钟。然而，本实施例对此并不限定。
在一些示例中，在待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面之后，可以采集显示面板的显示区域内的所有发光单元的亮度值，从而得到第一亮度信息。其中，第一亮度信息可以包括：显示区域的全部发光单元的亮度值。在一些示例中，可以利用面成像亮度计采集显示面板的显示区域内的所有发光单元的亮度值。例如，可以通过一次采集得到显示面板的整面发光单元的亮度值。通过一次采集实现对显示区域的整面亮度采集，可以得到同一时刻显示区域的不同位置的亮度值，从而可以排除显示面板的温度变化对残像检测结果的影响。
步骤S12、根据第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息。在一些示例中，利用显示区域的全部发光单元的亮度值，可以计算每个子显示区的第二亮度信息。例如，每个子显示区的第二亮度信息可以为该子显示区内的全部发光单元的亮度值的平均值。
在一些示例中，针对任一子显示区，将所述子显示区内的异常的亮度值去除，并计算保留的亮度值的平均值，将所述平均值作为所述子显示区的第二亮度信息。例如，可以将该子显示区内不满足3σ(3Sigma)准则的亮度值去除，计算该子显示区内满足3σ准则的亮度值的平均值，并将该平均值作为该子显示区的第二亮度信息。其中，3σ准则又称为拉依达准则，该准则先是假设一组数据只含有随机误差，并对其进行计算处理得到标准偏差，按照一定概率确定一个区间，认为凡超过这个区间的误差就不属于随机误差而是粗大误差，含有该粗大误差的数据应予以剔除。本实施例通过采用3σ准则可以有效剔除异常亮度值，有利于提高残像检测结果的准确性。关于3σ准则的处理方式可以参照相关技术中的实现方式，故于此不再赘述。
步骤S13、根据多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数。
在一些示例中，针对一个子显示区，当所述子显示区对应的第一子画面的灰阶小于相邻子显示区对应的第一子画面的灰阶，计算所述子显示区的第二亮度信息与相邻子显示区的第二亮度信息的差值，并将所述差值与所述子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数；当所述子显示区对应的第一子画面的灰阶大于相邻子显示区对应的第一子画面的灰阶，计算所述相邻子显示区的第二亮度信息与所述子显示区的第二亮度信息的差值，并将所述差值与所述相邻子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数。在本示例中，相邻两个子显示区之间的亮度变化参数，可以根据相邻两个子显示区的第二亮度信息以及相邻两个子显示区在第一画面对应的第一子画面的灰阶来确定。在一些示例中，第一子画面为纯色子画面，第一子画面的灰阶即为该纯色子画面的灰阶；当第一子画面为非纯色子画面，第一子画面的灰阶可以为该子画面的平均显示灰阶。
在一些示例中，多个子显示区可以沿第一方向和第二方向依次排布。第一方向与第二方向可以交叉，例如，第一方向可以垂直于第二方向。一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数可以包括：该子显示区与沿第一方向的相邻子显示区之间的第一亮度变化参数、以及该子显示区与沿第二方向的相邻子显示区之间的第二亮度变化参数。在一些示例中，针对一个子显示区，根据该子显示区的第二亮度信息和沿第一方向的相邻子显示区的第二亮度信息，可以确定该子显示区与沿第一方向的相邻子显示区之间的第一亮度变化参数；根据该子显示区的第二亮度信息和沿第二方向的相邻子显示区的第二亮度信息，可以确定该子显示区与沿第二方向的相邻子显示区之间的第二亮度变化参数。
在一些示例中，当一个子显示区对应的第一子画面的灰阶小于沿第一方向的相邻子显示区对应的第一子画面的灰阶，计算所述子显示区的第二亮度信息与沿第一方向的相邻子显示区的第二亮度信息的差值，并将所述差值与所述子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述子显示区与沿第一方向的所述相邻子显示区之间的第一亮度变化参数。当所述子显示区对应的第一子画面的灰阶大于沿第一方向的相邻子显示区对应的第一子画面的灰阶，计算沿第一方向的所述相邻子显示区的第二亮度信息与所述子显示区的第二亮度信息的差值，并将所述差值与沿第一方向的所述相邻子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述子显示区与沿第一方向的所述相邻子显示区之间的第一亮度变化参数。同理，可以确定所述子显示区与沿第二方向的相邻子显示区之间的第二亮度变化参数。
步骤S14、根据至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定显示面板的残像评价参数。
在一些示例中，残像评价参数可以为计算得到的全部亮度变化参数的平均值，即确定出的亮度变化参数的总和与个数的比值。本示例中，残像评价参数还可以称为残像百分比(ISP，Image Sticking Percent)
图2为一种人眼对比敏感度函数的示意图。人眼对比敏感度是一种人眼分辨能力。人眼对比敏感度函数可以衡量人类视觉系统对多种视觉刺激频率的敏感性。人眼对比敏感度函数可以反映在不同的空间频率上，人眼对目标亮度的辨别力不同。图2所示的横坐标为空间频率(例如，同一画面中黑白图像的间隔频率)，纵坐标表示灵敏度。发明人经过研究和分析发现，在显示面板的背景亮度和空间频率确定的情况下，通过对显示区域的亮度变化进行计算处理可以得到考虑人眼对比敏感度函数的客观事实的残像百分比，残像百分比可以客观定量化评价显示面板的残像水平。残像百分比为人眼对比敏感度函数中的灵敏度的倒数。在本示例中，通过显示第一画面来固定空间频率，通过显示第二画面来固定背景亮度，再针对采集到的第一亮度信息进行一系列处理，可以得到考虑人眼对比度敏感函数的客观事实的残像百分比，从而可以保证残像评估参数不会因人的主观意识而有所差别，并且可以提高残像评价结果的准确性和评价效率。
下面通过一些示例对本实施例的方案进行举例说明。
图3为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测方法的示例流程图。本示例中的显示面板可以为Micro OLED显示面板。在一些示例中，待检测的显示面板的数目可以大于或等于3片，且待检测的显示面板经过测试没有画质显示不良(Mura)。针对每片显示面板可以分别按照以下的残像检测方法进行检测。显示面板的检测环境温度可以为20摄氏度至30摄氏度，比如可以为25摄氏度。然而，本实施例对此并不限定。
在一些示例中，如图3所示，本实施例的显示面板的残像检测方法可以包括以下步骤S21至步骤S25。
步骤S21、获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息。
图4为本公开至少一实施例的第一画面的局部示意图。在一些示例中，如图4所示，第一画面可以为棋盘格画面。第一画面可以包括矩阵排布的多个第一子画面。本示例中，一个第一子画面可以为一个棋盘格。多个棋盘格的形状和尺寸可以大致相同。多个第一子画面可以包括多个第一纯色子画面11和多个第二纯色子画面12。第一纯色子画面11可以为具有第一灰阶的纯色子画面，第二纯色子画面12可以为具有第二灰阶的纯色子画面。在第一画面中，第一纯色子画面11与相邻的第二纯色子画面12之间的边界存在亮暗对比关系。
在一些示例中，灰阶是指地物电磁波辐射强度表现在黑白影像上的色调深浅的等级，是划分地物波谱特征的尺度，其代表了由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别，层次级别越多，所能够呈现的画面效果也就越细腻。例如，以8bit的显示面板为例，能表现2的8次方，共256个亮度层次，通常称之为256灰阶，包括0至255灰阶。因此，一般灰阶以整数形状出现。在本示例中，第一灰阶可以为0灰阶，第二灰阶可以为255灰阶。如此，相邻棋盘格之间的灰阶差最大，有利于提高后续显示的第二画面中残像位置与其他区域的对比度。在另一些示例中，第一灰阶可以为255灰阶，第二灰阶可以为0灰阶。
在一些示例中，如图4所示，第一纯色子画面11和第二纯色子画面12的形状和大小可以大致相同。例如，第一纯色子画面11和第二纯色子画面12可以均为矩形，例如可以为正方形。沿第一方向X，多个第一纯色子画面11和多个第二纯色子画面12可以交替排列；沿第二方向Y，多个第一纯色子画面11和多个第二纯色子画面12可以交替排列。沿第一方向X排列的多个第一子画面可以称为一行第一子画面。多行第一子画面可以沿第二方向Y排列。沿第二方向Y排列的多个第一子画面可以称为一列第一子画面，多列第一子画面可以沿第一方向X排列。本示例中，第一子画面的行数可以为m行，列数可以为n列，换言之，第一画面可以包括m×n个棋盘格。
本示例中，纯色画面指的是画面中所有发光单元(例如子像素)的显示灰阶均相同。
图5为本公开至少一实施例的显示面板显示的残像的局部示意图。在一些示例中，在显示面板长时间显示静止的第一画面之后切换为显示第二画面时，显示面板的显示画面可以如图5所示。
在一些示例中，第二画面可以为具有第三灰阶的纯色画面。例如，第三灰阶可以为255灰阶。即，第二画面可以为纯白色画面。显示面板在显示第二画面时，显示区域的所有发光单元的显示灰阶均为255灰阶。本示例通过设置第二画面为纯白画面，有利于第一画面的残像显示，有利于进行残像检测。然而，本实施例对此并不限定。
在一些示例中，显示区域可以包括与第一画面的多个第一子画面一一对应的多个子显示区。在显示第一画面时，每个子显示区显示一个第一子画面。每个子显示区可以与第一画面中的一个棋盘格对应。以第一画面包括m×n个棋盘格为例，显示区域可以被划分为m×n个子显示区。例如，第i行第j列子显示区可以记为B(i,j)。i可以为小于或等于m的整数，j可以为小于或等于n的整数。子显示区B(i,j)沿第一方向X的相邻子显示区可以为第i行第j+1列子显示区B(i,j+1)，子显示区B(i,j)沿第二方向Y的相邻子显示区可以为第i+1行第k列子显示区B(i+1,j)。
在一些示例中，可以通过面成像亮度计，单次整面采集显示面板从第一画面切换至第二画面后的所有发光单元的亮度信息。由于显示面板的温度对显示亮度产生影响，因此在不同时刻采集到的亮度信息会存在温度影响。本示例通过一次采集实现对显示面板的整面采集，可以排除显示面板温度变化对测试评价结果的影响。
图6为本公开至少一实施例的亮度信息的采集示意图。在一些示例中，如图6所示，采集设备20(例如面成像亮度计)可以位于显示面板10的出光侧，以便对显示面板10进行亮度采集。显示面板10的显示区域可以包括多个发光单元110(例如子像素)。发光单元110例如可以为矩形。发光单元110沿第一方向X的长度可以为a，沿第二方向Y的长度可以为b。显示面板10的显示区域沿第一方向X的发光单元110的个数可以为Nx，沿第二方向Y的发光单元110的个数可以为Ny。例如，显示面板的发光单元110的属性信息可以至少包括：发光单元110沿第一方向X的长度a、沿第二方向Y的长度b、显示区域沿第一方向X的发光单元个数Nx、显示区域沿第二方向Y的发光单元个数Ny。
在一些示例中，如图6所示，采集设备20可以包括电荷耦合元件(CDD，Charge-Coupled Device)。电荷耦合元件的镜头焦距可以为f。在垂直于显示面板10所在平面且经过电荷耦合元件的中心线的平面内，电荷耦合元件的有效采样直径可以为L。在垂直于显示面板10所在平面、经过电荷耦合元件的中心线、且平行于第一方向X的平面内，在有效采样直径范围内的发光单元的个数可以为nx；在垂直于显示面板10所在平面、经过电荷耦合元件的中心线、且平行于第二方向Y的平面内，在有效采样直径范围内的发光单元的个数可以为ny。电荷耦合元件的采样视角(例如，采样边缘视线与电荷耦合元件的中心线之间的夹角)可以为θ。在本示例中，采集设备20的采集参数可以至少包括：电荷耦合元件的镜头焦距f、采样视角θ、有效采样直径L。例如，在进行亮度采集时，电荷耦合元件的中心线可以经过待检测的显示面板的出光面所在中心。然而，本实施例对此并不限定。
在一些示例中，针对显示面板的一次性整面采集条件可以包括：0.01<ka×Nx/f<0.1；其中，k＝nx/Nx或者k＝ny/Ny。例如，k可以大于0.3。在采集设备20满足针对待检测的显示面板的一次性整面采集条件时，采集设备20可以排除温度因素对显示面板的全部发光单元的亮度值进行采集。如此一来，利用采集得到的第一亮度信息进行的残像检测，有利于提高检测评价结果的准确性和评价效率。在另一些示例中，一次性整面采集条件还可以包括：采样视角θ小于或等于8度。本示例中，在满足一次性整面采集条件时，采集设备20可以同时排除视角和温度因素对显示面板的全部发光单元的亮度值进行采集，以有利于提高检测评价结果的准确性和评价效率。
表1
表1所示为多种类别的显示面板的发光单元的属性信息和采集参数的示例。如表1所示，显示面板一可以为小尺寸(例如0.39英寸(inch)，分辨率为1920×1080)显示面板，显示面板二可以为大尺寸(例如，6.0inch，分辨率为2560×1600)显示面板，显示面板三可以为大尺寸(例如，6.0inch，分辨率为1280×720)显示面板，显示面板四可以为大尺寸(例如，5.0inch，分辨率为1920×1080)显示面板，显示面板五可以为大尺寸(例如，7.0inch，分辨率为1024×600)显示面板，显示面板六可以为大尺寸(例如，9.7inch，分辨率为2048×1536)显示面板。由表1可见，显示面板一为小尺寸显示面板，显示面板二至六均为大尺寸显示面板。针对小尺寸显示面板，在满足一次性整面采集条件时，利用采集设备可以单次整面采集显示面板的全部发光单元的亮度值，从而排除视角和温度对残像检测结果的影响。针对大尺寸显示面板，由于采集设备在单次仅采集显示面板的微小区域内的发光单元的亮度值，超出采集范围内的发光单元的亮度值将失真，需要进行多次采集才能实现整面采集，在多次采集过程中无法排除温度对残像检测结果的影响。
在一些示例中，在满足针对显示面板的一次性整面采集条件时，可以对显示面板进行一次性采集得到第一亮度信息，并利用第一亮度信息进行排除温度影响的残像检测。在不满足针对显示面板的一次性整面采集条件时，可以对显示面板进行多次采集得到第一亮度信息，并利用第一亮度信息进行残像检测，但是该检测过程得到的残像检测结果会存在温度影响，残像检测结果的准确性会受到影响。
本示例利用一次性整面采集条件可以判断针对待检测的显示面板是否可以通过一次性整面采集得到显示区域的全部发光单元的亮度值，有助于区分是否在残像检测过程中排除温度影响，或者排除温度和视角影响。
在另一些示例中，本示例的残像检测方法还可以包括：获取显示面板在显示初始画面时在不同视角下的亮度曲线。例如，在显示面板显示初始画面时，通过采集设备可以获取显示面板在不同视角下的亮度信息，从而得到亮度曲线。例如，初始画面可以为纯色画面，且显示灰阶可以为255灰阶。亮度曲线可以包括显示面板在不同视角下的点亮度值。
图7为本公开至少一实施例的显示面板在不同视角下的亮度曲线的示意图。在图7中，横坐标可以表示采集设备的采样视角，纵坐标可以表示点亮度值。由图7可见，在采样视角为0度时，点亮度值最大，随着采样视角逐渐增大，点亮度值变小。例如，图7中的亮度曲线的拟合函数可以为：
y＝-5E-08x5-3E-07x5+0.0009x4+0.002x3-1.6524x2-2.1549x+1124.9。
在一些示例中，在获取第一亮度信息之后，可以利用亮度曲线，对第一亮度信息进行亮度校准。例如，在大采样视角下发光单元的亮度衰减明显，可以根据以下式子对非正视角(即非0度视角)下的发光单元的亮度进行修正：
其中，L0(x)为采样视角x位置对应的发光单元的亮度值，y(x)为采样视角x下的点亮度，y(0)为采样视角0度下的点亮度，L1(x)为采样视角x下的发光单元的修正亮度值。例如，在图7中，采样视角为10度处的点亮度值衰减为0度处的10％，则采样视角为10度位置对应的发光单元的亮度值可以修正为采集到的亮度值与0.9的比值。在本示例中，利用亮度曲线对采集到的第一亮度信息进行校准，可以在残像检测过程中排除视角的影响。
在另一些示例中，本示例的残像检测方法还可以包括：获取显示面板在显示第一画面时在不同视角下的亮度曲线。例如，在显示面板显示第一画面时，通过采集设备可以获取显示面板的多个子显示区在不同视角下的亮度信息，从而得到亮度曲线。亮度曲线可以包括显示面板的多个子显示区在不同视角下的点亮度值。然后，在获取第一亮度信息之后，可以利用亮度曲线，对第一亮度信息进行亮度校准。例如，针对每个子显示区分别进行亮度校准。如此一来，可以在残像检测过程中排除视角的影响。
步骤S22、根据第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息。在一些示例中，针对每个子显示区，可以将子显示区内的异常亮度值去除，例如可以按照3Sigma准则去除异常的亮度值。在去除异常的亮度值之后，可以计算每个子显示区内的亮度值的平均值作为第二亮度信息。例如，一个子显示区的第二亮度信息可以等于该子显示区内除异常亮度值以外的亮度值总和与亮度值总数目的比值。例如，子显示区B(i,j)的第二亮度信息可以记为L(i，j)。
步骤S23、根据多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数。
在一些示例中，子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数可以包括：子显示区与沿第一方向的相邻子显示区之间的第一亮度变化参数、子显示区与沿第二方向的相邻子显示区域之间的第二亮度变化参数。例如，第i行第j列的子显示区B(i，j)具有沿第一方向(即水平方向)的第一亮度变化参数CH(i，j)，以及沿第二方向(即竖直方向)的第二亮度变化参数CV(i，j)。换言之，第一亮度变化参数为横向相邻子显示区之间的亮度变化参数，第二亮度变化参数为纵向相邻子显示区之间的亮度变化参数。
在一些示例中，如图4和图5所示，在i为奇数，j为奇数时，子显示区B(i，j)对应的第一子画面的第一灰阶可以为255灰阶，子显示区B(i,j)沿第一方向的相邻子显示区B(i,j+1)对应的第一子画面的第二灰阶可以为0灰阶，子显示区B(i,j)和子显示区B(i,j+1)之间的第一亮度变化参数可以根据以下式子确定：
其中，L(i，j)为子显示区B(i，j)的第二亮度信息，L(i，j+1)为子显示区B(i，j+1)的第二亮度信息。
在i为奇数，j为奇数时，子显示区B(i，j)对应的第一子画面的第一灰阶可以为255灰阶，子显示区B(i，j)沿第二方向的相邻子显示区B(i+1，j)对应的第一子画面的第二灰阶可以为0灰阶，子显示区B(i，j)和子显示区B(i+1，j)之间的第二亮度变化参数可以根据以下式子确定：
其中，L(i，j)为子显示区B(i，j)的第二亮度信息，L(i+1，j)为子显示区B(i+1，j)的第二亮度信息。
在i为奇数，j为偶数时，子显示区B(i，j)对应的第一子画面的第一灰阶可以为0灰阶，子显示区B(i，j)沿第一方向的相邻子显示区B(i，j+1)对应的第一子画面的第二灰阶可以为255灰阶，子显示区B(i，j)和子显示区B(i，j+1)之间的第一亮度变化参数可以根据以下式子确定：
其中，L(i，j)为子显示区B(i，j)的第二亮度信息，L(i，j+1)为子显示区B(i，j+1)的第二亮度信息。
在i为奇数，j为偶数时，子显示区B(i，j)对应的第一子画面的第一灰阶可以为0灰阶，子显示区B(i，j)沿第二方向的相邻子显示区B(i+1，j)对应的第一子画面的第二灰阶可以为255灰阶，子显示区B(i，j)和子显示区B(i+1，j)之间的第二亮度变化参数可以根据以下式子确定：
其中，L(i，j)为子显示区B(i，j)的第二亮度信息，L(i+1，j)为子显示区B(i+1，j)的第二亮度信息。
在i为偶数，j为奇数时，子显示区B(i，j)对应的第一子画面的第一灰阶可以为0灰阶，子显示区B(i，j)沿第一方向的相邻子显示区B(i，j+1)对应的第一子画面的第二灰阶可以为255灰阶，子显示区B(i，j)和子显示区B(i，j+1)之间的第一亮度变化参数可以根据以下式子确定：
其中，L(i，j)为子显示区B(i，j)的第二亮度信息，L(i，j+1)为子显示区B(i，j+1)的第二亮度信息。
在i为偶数，j为奇数时，子显示区B(i，j)对应的第一子画面的第一灰阶可以为0灰阶，子显示区B(i，j)沿第二方向的相邻子显示区B(i+1，j)对应的第一子画面的第二灰阶可以为255灰阶，子显示区B(i，j)和子显示区B(i+1，j)之间的第二亮度变化参数可以根据以下式子确定：
其中，L(i，j)为子显示区B(i，j)的第二亮度信息，L(i+1，j)为子显示区B(i+1，j)的第二亮度信息。
在i为偶数，j为偶数时，子显示区B(i，j)对应的第一子画面的第一灰阶可以为255灰阶，子显示区B(i，j)沿第一方向的相邻子显示区B(i，j+1)对应的第一子画面的第二灰阶可以为0灰阶，子显示区B(i，j)和子显示区B(i，j+1)之间的第一亮度变化参数可以根据以下式子确定：
其中，L(i，j)为子显示区B(i，j)的第二亮度信息，L(i，j+1)为子显示区B(i，j+1)的第二亮度信息。
在i为偶数，j为偶数时，子显示区B(i，j)对应的第一子画面的第一灰阶可以为0灰阶，子显示区B(i，j)沿第二方向的相邻子显示区B(i+1，j)对应的第一子画面的第二灰阶可以为255灰阶，子显示区B(i，j)和子显示区B(i+1，j)之间的第二亮度变化参数可以根据以下式子确定：
其中，L(i，j)为子显示区B(i，j)的第二亮度信息，L(i+1，j)为子显示区B(i+1，j)的第二亮度信息。
在一些示例中，如图4和图5所示，针对一行子显示区，根据沿第一方向X的n个子显示区的第二亮度信息，可以计算得到n-1个第一亮度变化参数。针对一列子显示区，根据沿第二方向Y的m个子显示区的第二亮度信息，可以计算得到m-1个第二亮度变化参数。针对整个显示区域可以计算得到(n-1)×m个第一亮度变化参数，以及(m-1)×n个第二亮度变化参数。
在另一些示例中，当在第一方向X和第二方向Y上第一画面的第一子画面和第二子画面的排布顺序发生改变之后，相邻子显示区之间的第一亮度变化参数和第二亮度变化参数的计算式子会发生适应性变化。例如，针对相邻的两个子显示区，可以计算对应的第一子画面的灰阶较小的子显示区的第二亮度信息与对应的第一子画面的灰阶较大的子显示区的第二亮度信息的差值，并将该差值与对应的第一子画面的灰阶较小的子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述相邻的两个子显示区之间的亮度变化参数。
步骤S24、根据至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定显示面板的残像评价参数。
在一些示例中，可以根据以下式子确定残像评价参数：
其中，ISP为残像评价参数，又称为残像百分比。μ为修正系数，且μ大于0。例如，μ＝(m-1)n+(n-1)m＝2mn-m-n。
本示例的第一亮度信息的获取过程中可以排除显示面板的温度和视角的影响，在残像百分比的计算过程中，考虑了人眼对比敏感度函数的客观事实。因此，本示例得到的ISP既排除了显示面板的温度和视角变化对残像测试评价结果的影响，又考虑了人眼对比敏感度函数的客观事实。本示例的ISP可以反映显示面板的残像水平，其中，ISP的数值越大说明显示面板的残像越严重。
步骤S25、按照设定的等级对照表，根据显示面板的残像评价参数，确定显示面板的残像等级(ISL，Image Sticking Level)。
在一些示例中，可以设定如表2所示的等级对照表。等级对照表可以记录残像评价参数的数据区间与残像等级的对应关系。利用等级对照表，可以将计算得到的残像评价参数转换为残像等级，以便统一残像检测的评价方式。
表2等级对照表
如表2所示，ISP的多个数据区间可以对应ISL小于或等于4的多个等级。相较于残像等级的评价方式，本示例的ISP不仅可以定量化显示面板的残像水平，而且可以更准确地区分不同水平的残像。
图8为本公开至少一实施例的残像检测结果的对比示意图。图8中横坐标表示待检测的显示面板的编号，纵坐标表示残像等级。图8中实线表示采用人眼检测方式得到的残像检测结果，虚线表示采用本实施例的方法得到的残像检测结果。如图8所示，本示例的残像检测方法得到的检测结果和采用人眼检测方式得到的检测结果之间的吻合度高达95％。即，本实施例的残像检测方法的结果趋势与人眼检测方式得到的结果趋势是一致的。本实施例提供的残像检测方法可以用于定量化测试评价显示面板(例如，Micro OLED显示面板)的残像，以辅助改善提升用户体验。
本实施例提供的残像检测方法，通过单次整面采集长时间点亮第一画面(例如，棋盘格画面)后的显示面板在切换为第二画面后的第一亮度信息，并基于人眼对比敏感度函数来客观定量化评价显示面板的残像水平，保证了计算得到的残像评价参数不会因人的主观意识而有所差别，并且提高了检测评价结果的准确性和评价效率。而且，通过对显示面板单次整面采集第一亮度信息，可以排除温度对残像检测结果的影响。而且，利用亮度曲线对采集到的第一亮度信息进行亮度补偿，可以排除视角对残像检测结果的影响。
图9为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测装置的示意图。在一些示例中，如图9所示，本实施例的显示面板的残像检测装置31可以包括：获取模块311和处理模块312。获取模块311可以配置为获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息。其中，第一画面包括多个第一子画面，显示面板的显示区域包括与多个第一子画面一一对应的多个子显示区，第二画面包括多个第二子画面，所述第二子画面与至少两个相邻子显示区的交界区域对应。第一处理模块312配置为根据所述第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息；根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数；以及根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数。
在一些示例中，残像检测装置还可以包括：存储模块。存储模块可以配置为存储设定的等级对照表。等级对照表可以记录残像评价参数的数值范围与残像等级的对应关系。第一处理模块可以配置为按照设定的等级对照表，根据所述显示面板的残像评价参数，确定所述显示面板的残像等级。
在一些示例中，存储模块可以包括易失性存储器(Volatile Memory)，例如随机存取存储器(RAM，Random-Access Memory)；或者可以包括非易失性存储器(non-VolatileMemory)，例如只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、快闪存储器(flash memory)、硬盘(HDD，Hard Disk Drive)或者固态硬盘(SSD，Solid-State Drive)；或者可以包括上述种类的存储器的组合。
在一些示例中，第一处理模块312和获取模块311可以集成在一个模块中，该集成的模块可以是一个处理器，或者可以是多个处理元件的统称。例如，处理器可以为中央处理器(CPU，Central Processing Unit)、或者可以为其他通用处理器、数字信号处理器(DSP，Digital Signal Processor)、专用集成电路(ASIC，Application Specific IntegratedCircuit)、现场可编程门阵列(FPGA，Field-programmable Gate Array)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者可以是任何常规的处理器等。处理器可以包括基带处理器、视频处理芯片等中的至少一个。
图10为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测系统的示意图。在一些示例中，如图10所示，残像检测装置31的获取模块311可以分别与显示面板10和采集设备20进行数据传输。例如，残像检测装置31的获取模块311可以从采集设备20获取显示面板10从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息。又如，获取模块311可以控制显示面板10显示第一画面或者第二画面。然而，本实施例对此并不限定。在另一些示例中，采集设备20和残像检测装置31可以集成在一个设备中。
图11为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测方法的另一流程图。在一些示例中，如图11所示，本实施例的残像检测方法可以包括步骤S31和S32。
步骤S31、根据待检测的显示面板的显示区域的发光单元的属性信息、以及采集设备的采集参数，确定是否满足针对所述显示面板的一次性整面采集条件。例如，显示区域的发光单元的属性信息可以包括：发光单元沿第一方向的长度、发光单元沿第二方向的长度、显示区域内沿第一方向的发光单元的个数、显示区域内沿第二方向的发光单元的个数。采集设备的采集参数可以包括：电荷耦合元件的镜头焦距、采样视角、有效采样直径。
在一些示例中，一次性整面采集条件包括：0.01<ka×Nx/f<0.1；其中，k＝nx/Nx或者k＝ny/Ny；
其中，f表示镜头焦距，a表示所述显示区域的发光单元沿第一方向的长度，Nx表示显示区域内沿所述第一方向的发光单元的个数，Ny表示显示区域内沿第二方向的发光单元的个数，所述第一方向与所述第二方向垂直；nx表示沿第一方向的有效采样直径范围内的发光单元的个数，ny表示沿所述第二方向的有效采样直径范围内的发光单元的个数。
步骤S32、在满足所述一次性整面采集条件且所述显示面板从第一画面切换为第二画面后，通过一次采集得到所述显示面板的第一亮度信息，以便利用所述第一亮度信息进行残像评价。
关于本示例的残像检测方法的执行过程可以参照图6对应的实施例的描述，故于此不再赘述。
本实施例提供的显示面板的残像检测方法可以通过对显示面板单次整面采集第一亮度信息，排除温度对残像检测结果的影响，从而有助于提高检测评价结果的准确性。
图12为本公开至少一实施例的显示面板的残像检测装置的另一示意图。在一些示例中，如图12所示，本示例的残像检测装置32可以包括：第二处理模块321和采集模块322。第二处理模块321配置为根据待检测的显示面板的显示区域的发光单元的属性信息、以及采集设备的采集参数，确定是否满足针对所述显示面板的一次性整面采集条件。采集模块322配置为在满足所述一次性整面采集条件且所述显示面板从第一画面切换为第二画面后，通过一次采集得到所述显示面板的第一亮度信息，以便利用所述第一亮度信息进行残像评价。在一些示例中，第二处理模块321可以为处理器；采集模块322可以包括电荷耦合元件。然而，本实施例对此并不限定。关于本实施例的残像检测装置的说明可以参照前述实施例的描述，故于此不再赘述。
此外，本公开至少一实施例还提供一种非瞬态计算机可读存储介质，存储有计算机程序，该计算机程序被执行时实现如图1或图3所述的残像检测方法的步骤。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块或单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
以上显示和描述了本公开的基本原理、主要特征和本公开的优点。本公开不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本公开的原理，在不脱离本公开精神和范围的前提下，本公开还会有多种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本公开的范围内。

Claims (21)

1.一种显示面板的残像检测方法，其特征在于，包括：
获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息；其中，所述第一画面包括多个第一子画面，所述显示面板的显示区域包括与所述多个第一子画面一一对应的多个子显示区，所述第二画面包括多个第二子画面，所述第二子画面与至少两个相邻子显示区的交界区域对应；
根据所述第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息；
根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数；
根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数，包括：计算确定出的亮度变化参数的平均值，将所述平均值作为残像评价参数。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，包括：
针对一个子显示区，当所述子显示区对应的第一子画面的灰阶小于相邻子显示区对应的第一子画面的灰阶，计算所述子显示区的第二亮度信息与所述相邻子显示区的第二亮度信息的差值，并将所述差值与所述子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述子显示区与所述相邻子显示区之间的亮度变化参数；
当所述子显示区对应的第一子画面的灰阶大于相邻子显示区对应的第一子画面的灰阶，计算所述相邻子显示区的第二亮度信息与所述子显示区的第二亮度信息的差值，并将所述差值与所述相邻子显示区的第二亮度信息之间的比值作为所述子显示区与所述相邻子显示区之间的亮度变化参数。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，包括：
针对一个子显示区，根据所述子显示区的第二亮度信息和沿第一方向的相邻子显示区的第二亮度信息，确定所述子显示区与沿第一方向的相邻子显示区之间的第一亮度变化参数；
根据所述子显示区的第二亮度信息和沿第二方向的相邻子显示区的第二亮度信息，确定所述子显示区与沿第二方向的相邻子显示区之间的第二亮度变化参数；其中，所述第一方向与所述第二方向交叉。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一方向垂直于所述第二方向。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数，包括：根据以下式子计算残像评价参数：
其中，ISP为残像评价参数，n表示沿所述第一方向的子显示区的数目，m表示沿所述第二方向的子显示区的数目；m和n均为大于1的整数；μ为修正系数，且μ大于0；
CH(i,j)表示位于第i行第j列的子显示区与沿第一方向的相邻子显示区之间的第一亮度变化参数，CV(i,j)表示位于第i行第j列的子显示区与沿第二方向的相邻子显示区之间的第二亮度变化参数。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述子显示区包括至少一个发光单元；所述第一亮度信息包括：所述显示区域的全部发光单元的亮度值。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息，包括：
将所述子显示区的异常的亮度值去除，并计算保留的亮度值的平均值，将所述平均值作为所述子显示区的第二亮度信息。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述将所述子显示区内的异常的亮度值去除，包括：将所述子显示区内不满足3σ准则的亮度值去除。
10.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述显示面板在不同视角下的亮度曲线；
在获取所述显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息之后，所述方法还包括：利用所述亮度曲线，对所述第一亮度信息进行亮度校准。
11.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一画面为棋盘格画面，所述棋盘格画面包括矩阵排列的多个第一子画面，所述多个第一子画面包括多个第一纯色子画面和多个第二纯色子画面，所述第一纯色子画面为具有第一灰阶的纯色子画面，所述第二纯色子画面为具有第二灰阶的纯色子画面；沿所述矩阵的行方向和列方向，所述第一纯色子画面和第二纯色子画面交替排列；所述第一灰阶不同于所述第二灰阶。
12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述第一灰阶为0灰阶，第二灰阶为255灰阶；或者，所述第一灰阶为255灰阶，所述第二灰阶为0灰阶。
13.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述第二画面为具有第三灰阶的纯色画面，所述第三灰阶不同于所述第一灰阶和第二灰阶，或者，所述第三灰阶与所述第一灰阶或第二灰阶相同。
14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述第三灰阶为255灰阶。
15.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：按照设定的等级对照表，根据所述显示面板的残像评价参数，确定所述显示面板的残像等级；所述等级对照表记录所述残像评价参数的数值范围与残像等级的对应关系。
16.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息，包括：在所述显示面板显示第二画面时，对所述显示面板的显示区域进行整面单次亮度采集，得到第一亮度信息。
17.一种显示面板的残像检测装置，其特征在于，包括：
获取模块，配置为获取待检测的显示面板从第一画面切换为第二画面后的第一亮度信息；其中，所述第一画面包括多个第一子画面，所述显示面板的显示区域包括与所述多个第一子画面一一对应的多个子显示区，所述第二画面包括多个第二子画面，所述第二子画面与至少两个相邻子显示区的交界区域对应；
第一处理模块，配置为根据所述第一亮度信息，确定每个子显示区的第二亮度信息；根据所述多个子显示区的第二亮度信息，确定至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数；以及根据所述至少一个子显示区与相邻子显示区之间的亮度变化参数，确定所述显示面板的残像评价参数。
18.一种非瞬态计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现如权利要求1至16中任一项所述的显示面板的残像检测方法。
19.一种显示面板的残像检测方法，其特征在于，包括：
根据待检测的显示面板的显示区域的发光单元的属性信息、以及采集设备的采集参数，确定是否满足针对所述显示面板的一次性整面采集条件；
在满足所述一次性整面采集条件且所述显示面板从第一画面切换为第二画面后，通过一次采集得到所述显示面板的第一亮度信息，以便利用所述第一亮度信息进行残像评价。
20.根据权利要求19所述的方法，其特征在于，所述一次性整面采集条件包括：
0.01<ka×Nx/f<0.1；其中，k＝nx/Nx或者k＝ny/Ny；
其中，f表示镜头焦距，a表示所述显示区域的发光单元沿第一方向的长度，Nx表示所述显示区域内沿所述第一方向的发光单元的个数，Ny表示所述显示区域内沿第二方向的发光单元的个数，所述第一方向与所述第二方向垂直；nx表示沿所述第一方向的有效采样直径范围内的发光单元的个数，ny表示沿所述第二方向的有效采样直径范围内的发光单元的个数。
21.一种显示面板的残像检测装置，其特征在于，包括：
第二处理模块，配置为根据待检测的显示面板的显示区域的发光单元的属性信息、以及采集设备的采集参数，确定是否满足针对所述显示面板的一次性整面采集条件；
采集模块，配置为在满足所述一次性整面采集条件且所述显示面板从第一画面切换为第二画面后，通过一次采集得到所述显示面板的第一亮度信息，以便利用所述第一亮度信息进行残像评价。
CN202211160520.XA 2022-09-22 2022-09-22 显示面板的残像检测方法及残像检测装置 Pending CN117789620A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211160520.XA CN117789620A (zh) 2022-09-22 2022-09-22 显示面板的残像检测方法及残像检测装置
PCT/CN2023/119431 WO2024061167A1 (zh) 2022-09-22 2023-09-18 显示面板的残像检测方法及残像检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211160520.XA CN117789620A (zh) 2022-09-22 2022-09-22 显示面板的残像检测方法及残像检测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN117789620A true CN117789620A (zh) 2024-03-29

Family

ID=90378612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202211160520.XA Pending CN117789620A (zh) 2022-09-22 2022-09-22 显示面板的残像检测方法及残像检测装置

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN117789620A (zh)
WO (1) WO2024061167A1 (zh)

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009130640A (ja) * 2007-11-22 2009-06-11 Ricoh Co Ltd 画像処理装置
CN101635130B (zh) * 2008-07-23 2013-08-28 范红霞 一种逐点亮度调整的系统及方法
CN101441853A (zh) * 2008-12-22 2009-05-27 北京巨数数字技术开发有限公司 一种现场调整led显示屏的装置、系统及方法
CN103050074B (zh) * 2012-04-27 2015-09-09 京东方科技集团股份有限公司 一种显示器的残像等级评定装置及方法
US20160027354A1 (en) * 2013-12-20 2016-01-28 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Display unevenness correction apparatus, display apparatus, method for correcting display unevenness, an method for manufacturing the display apparatus
CN108922463A (zh) * 2018-07-25 2018-11-30 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的残像等级检测方法和残像等级检测装置
CN108877615B (zh) * 2018-08-14 2021-10-19 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的残像检测方法和残像检测装置
CN111397856B (zh) * 2020-03-30 2022-03-29 昆山国显光电有限公司 显示面板的残影测试方法、残影测试装置
CN111341233B (zh) * 2020-04-09 2022-03-22 昆山国显光电有限公司 显示面板残影检测方法以及检测装置
CN112129489A (zh) * 2020-09-28 2020-12-25 厦门天马微电子有限公司 一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备

Also Published As

Publication number Publication date
WO2024061167A1 (zh) 2024-03-28
WO2024061167A9 (zh) 2024-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103943080B (zh) 一种显示器件像素亮度补偿控制方法及装置
US9135851B2 (en) Methods and systems for measuring and correcting electronic visual displays
CN108877631B (zh) 显示屏的Mura补偿方法、装置、计算机设备及存储介质
WO2021203860A1 (zh) 显示面板残影检测方法以及检测装置
WO2018205953A1 (zh) 液晶显示面板的闪烁调试方法及装置
WO2015180371A1 (zh) 显示器件的亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示器件
US9940883B2 (en) Display panel inspection apparatus
WO2010146732A1 (ja) 表示パネルの欠陥検査方法および欠陥検査装置
JP6041858B2 (ja) 表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置
JP2009122690A (ja) ムラ欠陥の低減方法、およびディスプレー
WO2016179867A1 (zh) 用于控制图像显示的方法
CN108986734B (zh) 显示面板的影像补偿方法
KR20180092000A (ko) 표시 장치 및 그 구동 방법
US20170162102A1 (en) Image display method and display apparatus
US8537144B2 (en) Method and device for avoiding image misinterpretation due to defective pixels in a matrix display
CN116685168B (zh) 显示面板和显示装置
US11238817B2 (en) Method and apparatus for pixel signal conversion
KR102142654B1 (ko) 디스플레이 장치의 화질 검사장치 및 그 방법
US20070252797A1 (en) Flat display and driving method thereof
CN117789620A (zh) 显示面板的残像检测方法及残像检测装置
CN104581148B (zh) 一种液晶屏的3d串扰值测量方法
KR101218637B1 (ko) 윤곽선 검출을 위한 대각선 스캔방법
WO2010146745A1 (ja) 表示パネルの検査方法、及び表示装置の製造方法
KR20150000580A (ko) 엘이디 백라이트 시스템을 이용한 액정 디스플레이 패널의 광학영상검사시스템
JP4139485B2 (ja) 表示画像評価方法および表示画像評価システム

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication