JPH07270278A - 表示装置の検査方法 - Google Patents
表示装置の検査方法Info
- Publication number
- JPH07270278A JPH07270278A JP6189294A JP6189294A JPH07270278A JP H07270278 A JPH07270278 A JP H07270278A JP 6189294 A JP6189294 A JP 6189294A JP 6189294 A JP6189294 A JP 6189294A JP H07270278 A JPH07270278 A JP H07270278A
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 位置決め精度や集積規模に依存することな
く、高解像度且つ高精度に表示装置の検査を行う。 【構成】 各表示素子を固有の周波数で同時に点滅させ
て得られる合成された明るさの信号を周波数解析して、
各素子に対応する信号強度を求めることによって、各素
子の点滅機能や点灯時の輝度を検査する。
く、高解像度且つ高精度に表示装置の検査を行う。 【構成】 各表示素子を固有の周波数で同時に点滅させ
て得られる合成された明るさの信号を周波数解析して、
各素子に対応する信号強度を求めることによって、各素
子の点滅機能や点灯時の輝度を検査する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、表示装置の検査方法に
係り、特に、液晶ディスプレイの各表示素子の点滅機能
や点灯時の輝度を検査する際に用いるのに好適な検査方
法に関する。
係り、特に、液晶ディスプレイの各表示素子の点滅機能
や点灯時の輝度を検査する際に用いるのに好適な検査方
法に関する。
【０００２】
【従来の技術】計算機を始めとする様々な装置が、人間
に対して情報を伝達する手段として、文字や記号あるい
は画像を表示する装置を備えている。これらの表示装置
の中には、液晶ディスプレイに代表されるように、表示
要素毎に、その点灯を制御できる素子を配列して作られ
るものがある。
に対して情報を伝達する手段として、文字や記号あるい
は画像を表示する装置を備えている。これらの表示装置
の中には、液晶ディスプレイに代表されるように、表示
要素毎に、その点灯を制御できる素子を配列して作られ
るものがある。
【０００３】このような表示装置における表示の検査
は、各素子の点灯と消灯や、その輝度について行われ
る。従来の検査方法は、標準パターンを表示して、目視
あるいは画像処理装置で一致を確認することにより、良
否を判定するものであった。この画像処理装置で行われ
る判定では、比較する全ての標準パターンを内部に持た
なければらないため、検査パターンの数が限定される。
は、各素子の点灯と消灯や、その輝度について行われ
る。従来の検査方法は、標準パターンを表示して、目視
あるいは画像処理装置で一致を確認することにより、良
否を判定するものであった。この画像処理装置で行われ
る判定では、比較する全ての標準パターンを内部に持た
なければらないため、検査パターンの数が限定される。
【０００４】これを回避するために、特開昭６２−２８
８８９２のように、間接的な特徴量によって判定するな
どの工夫がなされている。又、画像上での処理範囲の限
定や障害部位の位置を求めるために、特開昭６４−９８
９のような位置決めの工夫もなされている。
８８９２のように、間接的な特徴量によって判定するな
どの工夫がなされている。又、画像上での処理範囲の限
定や障害部位の位置を求めるために、特開昭６４−９８
９のような位置決めの工夫もなされている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、人の目
視によって検査する方法では、多大な労力を必要とする
だけでなく、作業のばらつきや処理速度による限界があ
った。
視によって検査する方法では、多大な労力を必要とする
だけでなく、作業のばらつきや処理速度による限界があ
った。
【０００６】又、従来の画像処理装置による自動判定で
は、標準パターンとの一致を評価したり、評価結果とし
て障害位置を報告するために、厳密な位置決め手段を備
える必要があった。更に、表示装置の集積規模に見合っ
たカメラの解像度が必要であり、１台のカメラで不足す
る場合は複数台のカメラを用いたり、カメラあるいは被
検査物を高い精度で移動させた上で、複数回の取込みを
行わなければならなかった。又、各素子の輝度の検査に
おいて、高い精度の測定を要求される場合には、カメラ
からの入力に対して、ノイズの混入や外光の揺らぎ、あ
るいは光電変換部の感度変化などの影響が無視できない
という問題もあった。
は、標準パターンとの一致を評価したり、評価結果とし
て障害位置を報告するために、厳密な位置決め手段を備
える必要があった。更に、表示装置の集積規模に見合っ
たカメラの解像度が必要であり、１台のカメラで不足す
る場合は複数台のカメラを用いたり、カメラあるいは被
検査物を高い精度で移動させた上で、複数回の取込みを
行わなければならなかった。又、各素子の輝度の検査に
おいて、高い精度の測定を要求される場合には、カメラ
からの入力に対して、ノイズの混入や外光の揺らぎ、あ
るいは光電変換部の感度変化などの影響が無視できない
という問題もあった。
【０００７】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、表示装置の検査を、位置決め精度や
表示装置の集積規模に依存することなく、高解像度且つ
高精度で実現することが可能な検査方法を提供すること
を目的とする。
くなされたもので、表示装置の検査を、位置決め精度や
表示装置の集積規模に依存することなく、高解像度且つ
高精度で実現することが可能な検査方法を提供すること
を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、文字や画像の
表示装置の表示を構成する素子を検査する方法におい
て、表示を構成する素子あるいは素子群を、それぞれ固
有の周波数又は位相で点滅させ、合成された明るさの信
号を周波数解析又は位相解析して、周波数スペクトラム
又は位相スペクトラムから素子あるいは素子群を特定
し、その周波数信号強度又は位相信号強度の大きさによ
って、各素子あるいは素子群の点滅機能や点灯時の輝度
を検査することにより、前記目的を達成したものであ
る。
表示装置の表示を構成する素子を検査する方法におい
て、表示を構成する素子あるいは素子群を、それぞれ固
有の周波数又は位相で点滅させ、合成された明るさの信
号を周波数解析又は位相解析して、周波数スペクトラム
又は位相スペクトラムから素子あるいは素子群を特定
し、その周波数信号強度又は位相信号強度の大きさによ
って、各素子あるいは素子群の点滅機能や点灯時の輝度
を検査することにより、前記目的を達成したものであ
る。
【０００９】
【作用】本発明では、各素子あるいは素子群を、それぞ
れ固有の周波数又は位相で点滅させる。すると、周波数
又は位相で素子が特定されると共に、輝度変化量が周波
数信号強度又は位相信号強度の大きさによって与えら
れ、且つ、ある時間内で信号が総和されて精度が上が
る。そこで、素子あるいは素子群を同時に点滅させて得
られる合成された明るさの信号を周波数解析又は位相解
析し、その信号強度を求めることによって、各素子ある
いは素子群の点滅機能や点灯時の輝度を検査するように
している。従って、集積度の高い表示位置の検査と、精
度の高い輝度の測定が同時に可能となり、位置決め精度
や表示装置の集積規模に依存することなく、精度の高い
検査ができるようになる。
れ固有の周波数又は位相で点滅させる。すると、周波数
又は位相で素子が特定されると共に、輝度変化量が周波
数信号強度又は位相信号強度の大きさによって与えら
れ、且つ、ある時間内で信号が総和されて精度が上が
る。そこで、素子あるいは素子群を同時に点滅させて得
られる合成された明るさの信号を周波数解析又は位相解
析し、その信号強度を求めることによって、各素子ある
いは素子群の点滅機能や点灯時の輝度を検査するように
している。従って、集積度の高い表示位置の検査と、精
度の高い輝度の測定が同時に可能となり、位置決め精度
や表示装置の集積規模に依存することなく、精度の高い
検査ができるようになる。
【００１０】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。
細に説明する。
【００１１】本発明の第１実施例では、図１に示すよう
な構成において、表示パターン発生手段３０で、各表示
素子が異なる周波数で点滅するようなパターンを発生し
て、被検査物である表示装置１０に入力し、該表示装置
１０の対面に設置された光電変換手段２０で、表示装置
１０により投射される光の強度をアナログ電気信号に変
換して信号処理装置４０に入力する。
な構成において、表示パターン発生手段３０で、各表示
素子が異なる周波数で点滅するようなパターンを発生し
て、被検査物である表示装置１０に入力し、該表示装置
１０の対面に設置された光電変換手段２０で、表示装置
１０により投射される光の強度をアナログ電気信号に変
換して信号処理装置４０に入力する。
【００１２】図２に示すような構成の前記信号処理装置
４０内部では、入力したアナログ電気信号を、ＡＤ変換
手段４１によってデジタル信号に変換して、この変換値
をデータ蓄積手段４２に保持する。表示装置１０の表示
パターンが変化する度に蓄積を繰返すことにより、デー
タ蓄積手段４２には、時間的に変化する光の強度を表す
デジタル値が蓄積される。
４０内部では、入力したアナログ電気信号を、ＡＤ変換
手段４１によってデジタル信号に変換して、この変換値
をデータ蓄積手段４２に保持する。表示装置１０の表示
パターンが変化する度に蓄積を繰返すことにより、デー
タ蓄積手段４２には、時間的に変化する光の強度を表す
デジタル値が蓄積される。
【００１３】蓄積されたデータは、フーリエ解析手段４
３によって時間軸でフーリエ解析され、パワースペクト
ラムが求められる。対応付け手段４４は、このパワース
ペクトラムから、各素子固有の点滅周波数に対応する強
度値を求め、輝度値変換手段４５で輝度値に変換して、
図１の判定手段５０に伝える。
３によって時間軸でフーリエ解析され、パワースペクト
ラムが求められる。対応付け手段４４は、このパワース
ペクトラムから、各素子固有の点滅周波数に対応する強
度値を求め、輝度値変換手段４５で輝度値に変換して、
図１の判定手段５０に伝える。
【００１４】判定手段５０では、輝度値について予め与
えられた判定基準に従って、表示装置１０の良否を判定
する。
えられた判定基準に従って、表示装置１０の良否を判定
する。
【００１５】第１実施例における処理の流れを図３に示
す。
す。
【００１６】図３に示される表示パターン発生ステップ
１００は、表示装置１０及び表示パターン発生手段３０
で実行され、光電変換ステップ１１０は、光電変換手段
２０で実行され、ＡＤ変換ステップ１２０は、信号処理
装置４０内のＡＤ変換手段４１で処理され、データ蓄積
ステップ１３０は、同じくデータ蓄積手段４２で処理さ
れ、フーリエ変換ステップ１４０は、同じくフーリエ変
換手段４３で処理され、素子との対応付けステップ１５
０は、同じく対応付け手段４４で処理され、輝度値変換
ステップ１６０は、同じく輝度値変換手段４５で処理さ
れ、判定ステップ１７０は、判定手段５０で処理され
る。
１００は、表示装置１０及び表示パターン発生手段３０
で実行され、光電変換ステップ１１０は、光電変換手段
２０で実行され、ＡＤ変換ステップ１２０は、信号処理
装置４０内のＡＤ変換手段４１で処理され、データ蓄積
ステップ１３０は、同じくデータ蓄積手段４２で処理さ
れ、フーリエ変換ステップ１４０は、同じくフーリエ変
換手段４３で処理され、素子との対応付けステップ１５
０は、同じく対応付け手段４４で処理され、輝度値変換
ステップ１６０は、同じく輝度値変換手段４５で処理さ
れ、判定ステップ１７０は、判定手段５０で処理され
る。
【００１７】この第１実施例では、光電変換手段２０が
１点での観測を行うものとされているが、ＣＣＤセンサ
のように、１次元あるいは２次元に配列された複数の観
測点を持つものを用いてもよい。又、表示素子の点滅周
波数以外に位相を利用してもよい。
１点での観測を行うものとされているが、ＣＣＤセンサ
のように、１次元あるいは２次元に配列された複数の観
測点を持つものを用いてもよい。又、表示素子の点滅周
波数以外に位相を利用してもよい。
【００１８】次に本発明の第２実施例として、ビデオカ
メラを用いて、より短時間に検査する方法を示す。
メラを用いて、より短時間に検査する方法を示す。
【００１９】第１実施例との違いは、図１における光電
変換手段２０として、２次元のセンサ、即ち、ビデオカ
メラを用いて、信号処理装置４０にて、２次元の測定値
の蓄積を繰返して、時間軸のフーリエ変換を２次元の要
素それぞれについて行う点である。
変換手段２０として、２次元のセンサ、即ち、ビデオカ
メラを用いて、信号処理装置４０にて、２次元の測定値
の蓄積を繰返して、時間軸のフーリエ変換を２次元の要
素それぞれについて行う点である。
【００２０】この第２実施例における処理の流れを、図
４に示す。
４に示す。
【００２１】図４に示される表示パターン発生ステップ
１００は、表示装置１０及び表示パターン発生手段３０
で実行され、光電変換ステップ１１０は、光電変換手段
２０で実行され、ＡＤ変換ステップ１２０は、信号処理
装置４０内のＡＤ変換手段４１で処理され、データ蓄積
ステップ１３０は、同じくデータ蓄積手段４２で処理さ
れ、フーリエ変換ステップ１４０は、同じくフーリエ変
換手段４３で処理され、近傍同一周波数統合ステップ１
４５及び素子との対応付けステップ１５０は、同じく対
応付け手段４４で処理され、輝度値変換ステップ１６０
は、同じく輝度値変換手段４５で処理され、判定ステッ
プ１７０は、判定手段５０で処理される。
１００は、表示装置１０及び表示パターン発生手段３０
で実行され、光電変換ステップ１１０は、光電変換手段
２０で実行され、ＡＤ変換ステップ１２０は、信号処理
装置４０内のＡＤ変換手段４１で処理され、データ蓄積
ステップ１３０は、同じくデータ蓄積手段４２で処理さ
れ、フーリエ変換ステップ１４０は、同じくフーリエ変
換手段４３で処理され、近傍同一周波数統合ステップ１
４５及び素子との対応付けステップ１５０は、同じく対
応付け手段４４で処理され、輝度値変換ステップ１６０
は、同じく輝度値変換手段４５で処理され、判定ステッ
プ１７０は、判定手段５０で処理される。
【００２２】前記第１実施例では、表示装置１０の全て
の素子について異なる周波数を割当てて点滅させなれば
ならないが、第２実施例では、信号処理装置４０で２次
元の各要素内に含まれる範囲で固有になるようにすれば
よい。実際には、隣合う要素に渡って検出されることが
考えられるので、２要素分以上の間隔をおくように表示
パターン発生手段３０で各素子の点滅周波数を割当て
る。
の素子について異なる周波数を割当てて点滅させなれば
ならないが、第２実施例では、信号処理装置４０で２次
元の各要素内に含まれる範囲で固有になるようにすれば
よい。実際には、隣合う要素に渡って検出されることが
考えられるので、２要素分以上の間隔をおくように表示
パターン発生手段３０で各素子の点滅周波数を割当て
る。
【００２３】なお、フーリエ変換の結果で、隣の要素に
同一周波数要素が現われた場合は、ステップ１４５で、
１つの表示素子の光が複数の要素に分割して観測された
ものとみなして統合する。
同一周波数要素が現われた場合は、ステップ１４５で、
１つの表示素子の光が複数の要素に分割して観測された
ものとみなして統合する。
【００２４】図５に、表示要素を４×４、光電変換の素
子数及びフーリエ変換要素も４×４とした場合の発生パ
ターンの例を示す。
子数及びフーリエ変換要素も４×４とした場合の発生パ
ターンの例を示す。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれば、点滅周波数又は位相に
よって素子を特定するので、検査する表示装置の正確な
位置決めが不要であり、表示素子の集積規模に依存する
ことなく、同じ入力装置で様々な素子数の表示装置を検
査することができる。
よって素子を特定するので、検査する表示装置の正確な
位置決めが不要であり、表示素子の集積規模に依存する
ことなく、同じ入力装置で様々な素子数の表示装置を検
査することができる。
【００２６】又、ある時間内で信号が総和された周波数
信号強度又は位相信号強度の大きさによって輝度変化量
を求めるので、ノイズの混入や外乱による揺らぎなどの
影響を抑えて高い精度を得ることができる。
信号強度又は位相信号強度の大きさによって輝度変化量
を求めるので、ノイズの混入や外乱による揺らぎなどの
影響を抑えて高い精度を得ることができる。
【図１】本発明の第１実施例における表示検査方法を示
す線図
す線図
【図２】第１実施例における信号処理装置を示すブロッ
ク線図
ク線図
【図３】第１実施例の処理の流れを説明する流れ図
【図４】本発明の第２実施例における処理の流れを説明
する流れ図
する流れ図
【図５】第２実施例における表示パターンの例を示す図
１０…表示装置 ２０…光電変換手段 ３０…表示パターン発生手段 ４０…信号処理装置 ４１…ＡＤ変換手段 ４２…データ蓄積手段 ４３…フーリエ変換手段 ４４…対応付け手段 ４５…輝度値変換手段 ５０…判定手段
Claims (1)
- 【請求項１】文字や画像の表示装置の表示を構成する素
子を検査する方法において、 表示を構成する素子あるいは素子群を、それぞれ固有の
周波数又は位相で点滅させ、 合成された明るさの信号を周波数解析又は位相解析し
て、周波数スペクトラム又は位相スペクトラムから素子
あるいは素子群を特定し、 その周波数信号強度又は位相信号強度の大きさによっ
て、各素子あるいは素子群の点滅機能や点灯時の輝度を
検査することを特徴とする表示装置の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6189294A JPH07270278A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 表示装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6189294A JPH07270278A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 表示装置の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07270278A true JPH07270278A (ja) | 1995-10-20 |
Family
ID=13184259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6189294A Pending JPH07270278A (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 表示装置の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07270278A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100823291B1 (ko) * | 2007-03-29 | 2008-04-21 | 삼성전자주식회사 | 계측시스템 |
| JP2010016110A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Fujitsu Component Ltd | アレイ型発光素子の検査装置及び検査方法 |
| CN103439087A (zh) * | 2013-08-31 | 2013-12-11 | 浙江大学 | 基于dsp的16通道闪光信号测量装置及闪光同步测量方法和闪光脉冲捕捉方法 |
| JP2014032142A (ja) * | 2012-08-06 | 2014-02-20 | Fujitsu Ltd | 検査方法及び検査システム |
| CN106989905A (zh) * | 2017-05-05 | 2017-07-28 | 安徽谱泉光谱科技有限公司 | 一种发光面板多功能检测方法及设备 |
-
1994
- 1994-03-31 JP JP6189294A patent/JPH07270278A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100823291B1 (ko) * | 2007-03-29 | 2008-04-21 | 삼성전자주식회사 | 계측시스템 |
| JP2010016110A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Fujitsu Component Ltd | アレイ型発光素子の検査装置及び検査方法 |
| JP2014032142A (ja) * | 2012-08-06 | 2014-02-20 | Fujitsu Ltd | 検査方法及び検査システム |
| CN103439087A (zh) * | 2013-08-31 | 2013-12-11 | 浙江大学 | 基于dsp的16通道闪光信号测量装置及闪光同步测量方法和闪光脉冲捕捉方法 |
| CN106989905A (zh) * | 2017-05-05 | 2017-07-28 | 安徽谱泉光谱科技有限公司 | 一种发光面板多功能检测方法及设备 |
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