KR100823291B1 - 계측시스템 - Google Patents

계측시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR100823291B1
KR100823291B1 KR1020070030834A KR20070030834A KR100823291B1 KR 100823291 B1 KR100823291 B1 KR 100823291B1 KR 1020070030834 A KR1020070030834 A KR 1020070030834A KR 20070030834 A KR20070030834 A KR 20070030834A KR 100823291 B1 KR100823291 B1 KR 100823291B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pattern
measurement
display device
unit
display
Prior art date
Application number
KR1020070030834A
Other languages
English (en)
Inventor
서성원
최재영
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020070030834A priority Critical patent/KR100823291B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100823291B1 publication Critical patent/KR100823291B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/462—Computing operations in or between colour spaces; Colour management systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G01J2001/4446—Type of detector
    • G01J2001/446—Photodiode

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

본 발명에 따른 계측 시스템은 디스플레이장치의 광학특성을 분석하며, 패턴생성부 및 상기 디스플레이장치의 복수의 항목을 측정하는 측정부와 통신하는 인터페이스부와; 소정의 패턴을 생성하여 상기 디스플레이장치에 출력하고 상기 패턴에 따라 출력되는 상기 디스플레이장치의 항목을 측정하도록 상기 인터페이스부를 통해 상기 패턴생성부 및 상기 측정부를 제어하고, 상기 측정된 항목을 통해 상기 디스플레이장치의 광학특성을 분석하는 제어부를 포함한다. 그리하여 디스플레이장치에 정량화된 패턴을 송출하고, 자동측정함으로써 계측시간을 단축하고, 표준화된 계측 방법으로 개발 단계에서 제작된 디스플레이장치를 효율적으로 검증할 수 있다.

Description

계측시스템{Measuring System}
도 1은 본 발명에 따른 계측시스템의 제어블록도이고,
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 계측 프로그램을 도시한 도면이고,
도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 계측 프로그램의 모니터링 화면을 도시한 도면이고,
도 3은 본 발명에 따른 계측시스템의 제어흐름도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
110 : 인터페이스부 120 : 제어부
130 : 사용자입력부 210 : 패턴생성부
220 : 측정부 300 : 디스플레이장치
본 발명은 계측시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 디스플레이장치의 광학특성을 분석할 수 있는 계측시스템에 관한 것이다.
일반적으로 TV와 모니터 등의 디스플레이장치는 기능적인 품질뿐만이 아니라 감성적인 품질의 향상을 소비자들로부터 요구받고 있다. 또한, 최근 국내외의 디스 플레이장치 제조 업체에서도 시장에서 자사제품이 보다 우월한 경쟁력을 가질 수 있도록 제품의 기능, 디자인 등은 물론이고 디스플레이장치의 시각적 감성 품질을 높이기 위하여 최종 품질검사를 강화하고 있다.
여기서, 시각적 감성품질은 색상의 선명도, 색상이나 휘도의 균일성 등의 광학특성을 포함한다.
종래의 디스플레이장치에 있어서, 광학특성의 계측은 사용자가 패턴 생성기를 통해 패턴을 송출하여 디스플레이장치의 측정 데이터를 계측장치를 이용하여 수동으로 계측하고, 얻어진 데이터를 일일이 분류하여 분석하였다.
이에 따라, 정형화된 패턴의 형식이 없이 사용자에 따라 패턴을 선택하여 디스플레이장치의 광학특성을 측정함으로써 계측 및 분석하는데 시간적 소요가 많고 데이터의 신뢰성이 떨어지며 비정규화된 측정 프로세스로 인해 다량의 디스플레이장치의 산포검증에 이용할 수 없으며 그로 인해 품질 향상을 기대할 수 없는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 디스플레이장치에 정량화된 패턴을 송출하고, 자동측정 함으로써 계측시간을 단축하고, 표준화된 계측 방법으로 개발 단계에서 제작된 디스플레이장치를 효율적으로 검증할 수 있는 계측시스템을 제공하는 것이다.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 디스플레이장치의 광학특성을 분석하는 계측시스템에 있어서, 패턴생성부 및 상기 디스플레이장치의 복수의 항목을 측정하는 측정부와 통신하는 인터페이스부와; 소정의 패턴을 생성하여 상기 디스플레이장치에 출력하고 상기 패턴에 따라 출력되는 상기 디스플레이장치의 항목을 측정하도록 상기 인터페이스부를 통해 상기 패턴생성부 및 상기 측정부를 제어하고, 상기 측정된 항목을 통해 상기 디스플레이장치의 광학특성을 분석하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 계측시스템에 의해 달성된다.
여기서, 상기 제어부는 상기 디스플레이장치의 휘도, 계조별 평균휘도, 계조별 색좌표, 색위상, 색농도, 색좌표 및 휘도의 산포 중 적어도 하나의 항목을 통해 상기 디스플레이장치의 광학특성을 분석할 수 있다.
그리고, 사용자입력부를 더 포함하고; 상기 제어부는 상기 사용자입력부를 통해 설정된 패턴을 생성하여 출력하도록 상기 패턴생성부를 제어할 수 있다.
또한, 상기 제어부는 복수의 디스플레이장치로부터 측정한 항목을 각 항목별로 비교 분석할 수 있다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
본 발명에 따른 디스플레이장치(300)의 광학특성을 분석하기 위한 계측시스템(100)은 도 1에 도시된 바와 같이, 인터페이스부(110), 사용자입력부(130) 및 이를 제어하는 제어부(120)로 구성된다.
인터페이스부(110)는 디스플레이장치(300)에 복수의 항목을 측정하기 위한 소정의 패턴을 발생하여 출력하는 패턴생성부(210)와, 패턴생성부(210)로부터 입력된 패턴에 따른 항목값을 측정하는 측정부(220)와 통신한다.
본 발명에 따른 인터페이스부(110)는 후술할 제어부(120)에 의해 제어되며 RS-232C, USB, IEEE1394 등의 통신규격을 포함할 수 있다.
패턴생성부(210)는 후술할 제어부(120)의 제어에 따라 규격화된 패턴을 생성하여 디스플레이장치(300)에 출력한다. 이때, 패턴생성부(210)가 생성하는 패턴은 윈도우 패치 크기와 색상을 가변할 수 있는 윈도우 패치 신호(Window patch signal)을 생성할 수 있는 패턴 생성기로 예를 들어, VG-828D(Astro), MSPG-925(Master), K-7256(MIK)로 구현될 수 있다.
측정부(220)는 후술할 제어부(120)의 제어에 따라 측정하고자 하는 디스플레이장치(300)의 출력신호를 측정한다. 이때, 측정부(220)는 패턴을 입력받은 디스플레이장치(300)가 표시하는 화면을 검출하여 소정의 항목값을 측정할 수 있다. 예를 들어, 측정부(220)는 휘도 및 컬러를 분석할 수 있는 장치로 구현될 수 있으며, LCD/PDP/DLP를 측정하기 위한 CA-210, CRT/PJT를 측정하기 위한 CA-100, 프로젝터를 측정하기 위한 CA-120, CS-100 등의 계측기를 포함할 수 있다.
제어부(120)는 기설정된 프로그램에 따라 패턴생성부(210)와 측정부(220)를 제어하는 계측 제어부(미도시)와 제작된 분석 툴(tool)을 이용하여 자동으로 측정된 데이터를 분석, 그래프처리, 결과 정리하는 분석 프로그램부(미도시)를 포함하는 PC로 구현될 수 있다.
제어부(120)는 사용자입력부(130)를 통해 사용자로부터 자동 측정 또는 수동 측정 항목을 선택받으면, 선택받은 항목에 관해 규격화된 패턴을 생성하여 출력하도록 패턴생성부(210) 및 그에 따른 항목값을 측정하도록 측정부(220)를 인터페이스부(110)를 통해 제어할 수 있다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 계측시스템(100)의 계측 프로그램 및 계측 모니터링 화면을 도시한 도면이다.
본 발명의 일 실시예에 따라, 사용자는 도 2a에 도시된 바와 같은 제어 프로그램 인터페이스 화면상에서 자동 또는 수동으로 패턴 및 측정 경향을 선택할 수 있다.
도 2a의 자동측정항목(n)이 선택되면, 제어부(120)는 프로그램 상에서 테스트할 디스플레이장치의 모델에 따라 정해진 양식대로 패턴을 생성하여 디스플레이장치(300)로 송출하도록 패턴생성부(210)를 제어한다.
여기서, 제어부(120)는 입력신호와 자동측정항목(n)에 따른 패턴을 생성하도록 패턴생성부(210)를 제어할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 자동측정항목(n)은 전색상(Full color) 분석(R, G, B 및 C, M, Y, K), 윈도우 크기, 백색 분석, Y/C 경로추적, 저계조 레벨 측정 등을 포함할 수 있다.
한편, 사용자는 자동측정항목(n)에서 패턴 및 양식을 선택할 수 있다. 예를 들어, 컬러 분석과 윈도우 크기 및 저계조 레벨의 측정 레벨등의 값을 선택적으로 입력할 수 있다.
또한, 사용자는 수동측정항목(m)에서 측정 경향을 선택할 수 있다. 제어부(120)는 사용자가 설정한 유지시간, 측정간격, 측정시간에 따라 디스플레이장치(300)를 측정하도록 측정부(220)를 제어할 수 있다. 수동측정항목(m)에서는 시간에 따른 변화와 균일도 등의 항목을 설정할 수 있다.
한편, 도 2b에 도시된 바와 같이 제어부(120)는 측정 항목에 대한 실시간 모니터링 화면을 표시할 수 있다. 예를 들어, 데이터표시부(o)를 통해 현재 측정되는 색상의 좌표값 및 휘도를 수치로 실시간 모니터링 할 수 있다. 그리고 그래프 표시부(p)를 통해 측정되는 색상의 좌표를 255계조 값을 나타내는 x와 휘도값을 나타내는 y의 2차원 그래프로 실시간으로 모니터링 할 수 있다.
또한, CIE-xy 색좌표(q)를 통해 표시부 좌표와 색 온도로 CIE-xy 색좌표에 매핑하여 모니터링 할 수 있다.
제어부(120)는 이와 같이 측정한 데이터를 인터페이스부(110)를 통해 수신받아 내장된 분석 프로그램을 통해 분석한다.
예를 들어, 측정 데이터가 분석프로그램에 입력되면 분석프로그램은 데이터를 자동으로 레이더차트, 도표, 테이블로 분석할 수 있다.
여기서, 제어부(120)는 각 디스플레이장치(300)별로 측정된 데이터를 저장하고 이를 동시에 비교분석하여 표시할 수 있다. 특히, 디스플레이 제품 산포 검증 시에는 일정한 기준점을 대상으로 제품간의 차이를 2차원 분포 그래프로 분석할 수 있다.
이때, 제어부(120)의 분석프로그램은 측정된 항목별로 기설정된 기준에 따라 데이터를 분석하고 분석된 결과를 정해진 양식으로 저장할 수 있다. 예를 들어, 분석프로그램을 통해 측정 디스플레이장치에 대한 윈도우크기, 색상, 휘도, 명도, 화이트 밸런스, 색상 선형도 등을 각종 그래프와 데이터 테이블로 비교 분석이 가능한다.
도 3은 본 발명에 따른 계측시스템(100)의 동작을 도시한 도면이다.
먼저, 측정할 디스플레이장치(300) 및 입력신호에 따라 자동항목 또는 수동항목이 선택되면, 제어부(120)는 선택된 항목에 대응하여 정량화된 패턴을 생성하도록 인터페이스부(110)를 통해 패턴생성부(210)를 제어하고(S1), 패턴생성부(210)는 생성한 패턴을 디스플레이장치(300)에 송출한다(S3).
여기서, 정량화된 패턴은 디스플레이장치(300)의 전색상(Full color) 분석(R, G, B 및 C, M, Y, K), 윈도우 크기, 백색 분석, Y/C 경로추적, 저계조 레벨 측정 등의 항목을 측정하기 위한 패치 시그널로 구현될 수 있다.
한편, 제어부(120)는 패치 시그널을 입력받은 디스플레이장치(300)의 항목을 측정하도록 인터페이스부(110)를 통해 측정부(220)를 제어한다(S5).
그리고, 제어부(120)는 측정부(220)가 측정한 데이터값을 입력받고 분석프로그램을 통하여 측정한 항목별 데이터값을 분석한다(S7). 여기서, 분석 프로그램은 설정에 따라 각종 그래프와 도표를 이용하여 측정 데이터를 분석할 수 있다.
한편, 분석프로그램을 통하여 복수의 디스플레이장치(300)에 대하여 동일한 항목의 데이터를 비교할 수 있다.
비록 본 발명의 몇몇 실시예들이 도시되고 설명되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 발명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 계측 및 기록, 분석 시간을 단축하여 업무의 효율성을 높이고, 계측자와 상관없이 규격화 및 정량화된 패턴을 송출하고 표준화된 분석 프로그램으로 데이터를 분석함으로서 신뢰성있는 결과를 얻을 수 있는 계측 시스템이 제공된다.

Claims (4)

  1. 디스플레이장치의 광학특성을 분석하는 계측시스템에 있어서,
    패턴생성부 및 상기 디스플레이장치의 복수의 항목을 측정하는 측정부와 통신하는 인터페이스부와;
    소정의 패턴을 생성하여 상기 디스플레이장치에 출력하고 상기 패턴에 따라 출력되는 상기 디스플레이장치의 항목을 측정하도록 상기 인터페이스부를 통해 상기 패턴생성부 및 상기 측정부를 제어하고, 상기 측정된 항목을 통해 상기 디스플레이장치의 광학특성을 분석하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 계측시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 디스플레이장치의 휘도, 계조별 평균휘도, 계조별 색좌표, 색위상, 색농도, 색좌표 및 휘도의 산포 중 적어도 하나의 항목을 통해 상기 디스플레이장치의 광학특성을 분석하는 것을 특징으로 하는 계측시스템.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    사용자입력부를 더 포함하고;
    상기 제어부는 상기 사용자입력부를 통해 설정된 패턴을 생성하여 출력하도록 상기 패턴생성부를 제어하는 것을 특징으로 하는 계측시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는 복수의 디스플레이장치로부터 측정한 항목을 각 항목별로 비교 분석하는 것을 특징으로 하는 계측시스템.
KR1020070030834A 2007-03-29 2007-03-29 계측시스템 KR100823291B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070030834A KR100823291B1 (ko) 2007-03-29 2007-03-29 계측시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070030834A KR100823291B1 (ko) 2007-03-29 2007-03-29 계측시스템

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100823291B1 true KR100823291B1 (ko) 2008-04-21

Family

ID=39571886

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070030834A KR100823291B1 (ko) 2007-03-29 2007-03-29 계측시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100823291B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101449603B1 (ko) * 2013-01-16 2014-10-13 전광섭 조명 검사 장치

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07270278A (ja) * 1994-03-31 1995-10-20 Kawasaki Steel Corp 表示装置の検査方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07270278A (ja) * 1994-03-31 1995-10-20 Kawasaki Steel Corp 表示装置の検査方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101449603B1 (ko) * 2013-01-16 2014-10-13 전광섭 조명 검사 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102930850B (zh) Gamma曲线调试方法和系统
US20110157409A1 (en) Image quality adjusting device, image quality adjusting method, and image quality adjusting program
TWI507971B (zh) 顯示參數調整方法及系統
KR101587018B1 (ko) 산점도에 기반하는 데이터 품질 측정 방법
US20080079746A1 (en) Method and device of obtaining a color temperature point
CN104316192A (zh) 图像显示质量的测试方法、测试平台和系统
CN105447878A (zh) 一种图像质量测试分析方法及系统
KR100823291B1 (ko) 계측시스템
CN209312421U (zh) 一种显示器校正装置及显示器
KR100859937B1 (ko) 디스플레이의 그레이 레벨 대 휘도 곡선을 신속히 생성하는방법 및 장치
CN111381055A (zh) 一种校准数据显示方法和样本分析装置
US7668676B2 (en) Method for calibration, controlled by means of measurement technology, of at least one device unit of a device system, particularly a standard light device in color management workflow
US11480597B2 (en) Method and apparatus for analyzing a relationship between tone frequencies and spurious frequencies
CN201673247U (zh) 电源老化测试设备
CN102032944A (zh) 照光平面上分布式复数点照度检测系统
CN101692713B (zh) 一种自动白平衡调试系统及方法
TWI390188B (zh) 照光平面上分佈式複數點照度檢測系統
US20230139880A1 (en) System to display gamut excursion
TWI829908B (zh) 提高生產效率之支援系統、方法及電腦程式
KR100725506B1 (ko) 디스플레이장치의 화이트밸런스 보정방법
KR101366131B1 (ko) 위성 단말의 통합 시험 시스템 및 방법
JP2014026120A (ja) 表示装置の配置位置決定方法
CN111722895B (zh) 一种SPC图表在Power BI组件中的渲染方法
Kirchner et al. Quantifying Visual Differences Between Color Visualizations on Different Displays
Baribeau et al. Estimation of hue discrimination thresholds using a computer interactive method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20110330

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee