TWI390188B - 照光平面上分佈式複數點照度檢測系統 - Google Patents

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Min Chuan Lin
Guo Ruey Tsai
Ruey Lue Wang
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Univ Kun Shan
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  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

照光平面上分佈式複數點照度檢測系統
本發明係有關於一種應用於照明燈具光射在一照光平面上時之分散式複數點照度檢測裝置,尤指一種可以自由設定照度測試點之經濟型生產線快速自動照度量測裝置,具備物料條碼掃描功能,可以與照度測試資料整合在同一出貨檢驗資料庫中,可以單一個人電腦來連接多個主控制器來達到多條生產線出貨檢驗集中監測與控制系統。
請參閱第一圖,其係為習知之照度檢測裝置示意圖。圖中,傳統照明燈具本體101包含至少一發光體102以發出一光源,照明燈具本體101之照度量測與分析皆透過市售照度計105來量測。典型的日規多測試頭照度檢測裝置係以市售主照度計105配接多個微測試頭103再與電腦串接介面連結控制,藉以測試照明燈具本體101之目標照明區域104。一般照度計製造廠之測試與分析軟體皆不提供原始程式碼給客戶,客戶若希望藉修改程式來增加附加照度測試與分析功能則不可得,若委託製造廠處理則不僅價格昂貴又有洩漏商業機密之可能。
此外,對於生產線快速出貨檢驗之要求,一般係需要將該貨品之物料條碼併入照度測試資料表中,由於照度計105製造廠無法提供原始程式碼,因此無法自動併入該貨品之物料條碼,以及建立更符合公司需求之出貨報告書。一般照明燈具本體101單價不高,每一條生產線都需配置一套照度檢測裝 置,生產成本太高,因而降低產品之價格競爭力。不同生產線之測試資料係分散放置,必須分別攜帶至同一部個人電腦來整合。因此難以連結同生產線個人電腦以構成一個集中與整合之出廠測試資料庫。
本發明係提供一種可配接任意數目照度檢測模組之多測試頭照度檢測裝置。所有模組之照度檢測資料同時匯接至主控制器,因而可監控照光平面上複數點位置之瞬時照度變化。
本發明提供條碼掃描器可讀取待測照明燈具之物料條碼,透過介面連接線傳送至主控制器,並與該筆照度資料合併而後透過該電腦介面傳送至個人電腦併入資料庫中,不需人工擷取與輸入物料條碼可避免人工擷取與輸入之錯誤,且係自動併入該照明燈具之物料條碼,可建立更符合公司需求之出貨報告書。
一部個人電腦中之訊號分析與顯示資料庫軟體可透過該電腦介面來控制多部主控制器,因此並不需要在每一條生產線都配置一台個人電腦,可降低品管成本,且可構成一個集中與整合之出廠測試資料庫,使出貨品管作業更形正確與快速。
101‧‧‧照明燈具本體
102‧‧‧發光體
103‧‧‧微測試頭
104‧‧‧目標照明區域
105‧‧‧照度計
201‧‧‧照明燈具本體
202‧‧‧待測發光模組
203‧‧‧待測發光模組測試嵌入溝槽
204‧‧‧測試黑箱
205‧‧‧目標照明區域
206‧‧‧照度檢測模組
207‧‧‧訊號匯接線路或電纜
208‧‧‧主控制器
209‧‧‧電腦介面
210‧‧‧物料條碼
211‧‧‧條碼掃描器
212‧‧‧介面連接線
213‧‧‧個人電腦
第一圖係習知之照度檢測裝置示意圖;第二圖係本發明之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統之實施裝置設計圖;以及第三圖係本發明之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統之個人電腦監控畫面。
請參閱第二圖,本發明係提供一種應用於照明燈具光射在一照光平面上時 之分散式複數點照度檢測裝置,其包括測試黑箱204、分散獨立式之照度檢測模組206、訊號匯接線路或電纜207、主控制器208、電腦介面209,條碼掃描器211、介面連接線212、以及內建訊號分析與顯示資料庫軟體之個人電腦213等組件所組成。測試黑箱204包含待測發光模組測試嵌入溝槽203,其用以放置一待測發光模組202。
此複數組分散獨立式之照度檢測模組206,可以電路整合在同一印刷電路板(PCB)上,也可以個別檢測電路獨立模組,分別固定或滑軌移動、再以個別訊號匯接線路或電纜207或印刷電路板連接至主控制器208。分散獨立式之照度檢測模組206選擇性配置位置與方位。每一個該些分散獨立式之照度檢測模組206更可內建一調節裝置以配合主控制器208之標準照度校正演算。
條碼掃描器211用以讀取待測照明燈具之物料條碼210,並透過一介面連接線212傳送至該主控制器208,並與照度資料合併,而後透過電腦介面209傳送至個人電腦213併入資料庫中。
一部個人電腦中213之訊號分析與顯示資料庫軟體可透電腦介面209來控制多部主控制器208。主控制器208可供使用者定期輸入標準照度計測試所得之照度測試資料,並據以校正並演算來自複數組分散獨立式之照度檢測模組206即時測得之照度電壓訊號,主控制器208具有兩個以上之電腦介面209,以及控制與顯示面板,藉以提供使用者命令分散獨立式之照度檢測模組206擷取待測發光模組之照度,並可依順序顯示各照度檢測模組206所測得之照度值、複數點平均值與均勻度。此外,條碼掃描器211可讀取待測照明燈具之物料條碼210,透過介面連接線212傳送至該主控制器,並與該筆照度資料合併而後透過該電腦介面209傳送至個人電腦213之資料庫中。
請續參閱第三圖,其係本發明之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統之個人電腦監控畫面。訊號分析與顯示資料庫軟體可以將13點之即時照度值 依個別位置顯示出。並同時顯示最大照度、平均照度、最低照度、中心照度、最大最小照度比、產品序號、測試點數;亦可顯示預先設立之中心照度下限、平均照度下限、最小照度下限、最大對比上限以及執行/錯誤(GO/NG)狀態。訊號分析與顯示資料庫軟體亦可以由一標準值輸入鍵來將畫面在照度校正輸入與照度顯示之間作切換。畫面上的控制鍵又可包括條碼掃描觸發鍵、強制停止測試鍵、定時測試鍵以及定時測試時間上下調整鍵。條碼掃描器讀取待測發光模組之物料條碼動作可由該主控制器下令執行,或由訊號分析與顯示資料庫軟體下令執行。
畫面上的控制鍵又可包括條碼掃描觸發鍵、強制停止測試鍵、定時測試鍵以及定時測試時間上下調整鍵。該訊號分析與顯示資料庫軟體亦可以主動下指令讀取該主控制器內部之照度資料。訊號分析與顯示資料庫軟體用以收集並以圖表顯示該些分散獨立式之照度檢測模組所測得之照度值之演進趨勢。
201‧‧‧照明燈具本體
202‧‧‧待測發光模組
203‧‧‧待測發光模組測試嵌入溝槽
204‧‧‧測試黑箱
205‧‧‧目標照明區域
206‧‧‧照度檢測模組
207‧‧‧訊號匯接線路或電纜
208‧‧‧主控制器
209‧‧‧電腦介面
210‧‧‧物料條碼
211‧‧‧條碼掃描器
212‧‧‧介面連接線
213‧‧‧個人電腦

Claims (9)

  1. 一種照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,包括:一測試黑箱,具有一待測發光模組測試嵌入溝槽,其放置一待測發光模組,該測試黑箱係隔絕該待測發光模組外之光線進入目標照明區域;複數組分散獨立式之照度檢測模組,其即時將該待測發光模組之照度轉換成電壓並產生複數個電壓訊號,透過一訊號匯接線路或電纜以集合並傳輸該些電壓訊號;一主控制器,其接收該些電壓訊號,並對該些電壓訊號進行校準處理與照度演算以產生至少一照度資料,並透過一電腦介面送回該些照度資料;一個人電腦,其內建一訊號分析與顯示資料庫軟體,該個人電腦接收該些照度資料,並透過該訊號分析與顯示資料庫軟體將複數點照度之分佈值、複數點照度之平均值與複數點照度之均勻度進行計算、統計並儲存於該個人電腦之一資料庫中,將結果顯示於該個人電腦之電腦螢幕上;一條碼掃描器,其用以讀取待測照明燈具之物料條碼、透過一介面連接線傳送至該主控制器,並與該些照度資料合併,而後透過該電腦介面傳送至該個人電腦併入該資料庫中;其中,該訊號分析與顯示資料庫軟體能主動下指令以讀取該主控制器內部之照度資料,該訊號分析與顯示資料庫軟體經由該電腦介面來控制多部該主控制器。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,其中該些分散獨立式之照度檢測模組選擇性配置位置與方位,每一個該分散獨立式之照度檢測模組具有一調節裝置以配合該主控制器之標準照度 校正演算。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,其中該些分散獨立式之照度檢測模組經由電路整合以設置於一印刷電路板(PCB)上,並連接至該主控制器。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,其中該些分散獨立式之照度檢測模組可分別固定或透過滑軌移動,再使用個別之該訊號匯接電纜連接至該主控制器。
  5. 如申請專利範圍第2項所述之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,其中該些分散獨立式之照度檢測模組可分別透過無線傳輸方式之訊號匯接線路連接至該主控制器。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,其中該主控制器供使用者定期輸入標準照度計測試所得之照度測試資料,並據以校正並演算來自該複數組分散獨立式之照度檢測模組即時測得之照度電壓訊號,該主控制器具有兩個以上之該電腦介面,以及控制與顯示面板,藉以提供使用者命令該些分散獨立式之照度檢測模組擷取該待測發光模組之照度,並可依順序顯示各照度檢測模組所測得之照度值、複數點平均值與均勻度。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,其中該訊號分析與顯示資料庫軟體用以收集並以圖表顯示該些分散獨立式之照度檢測模組所測得之照度值之演進趨勢。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,其中該個人電腦將即時照度值依個別位置顯示出,並同時顯示該待測發光模組之於測量時所產生之最大照度、平均照度、最低照度、中心照度、最大最小照度比、產品序號、測試點數;亦可顯示預先設立之中心照度下限、平均照度下限、最小照度下限、最大對比上限以及執行/錯誤 (GO/NG)狀態;以及亦可以由一標準值輸入鍵來將畫面在照度校正輸入與照度顯示之間作切換。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之照光平面上分佈式複數點照度檢測系統,其中該條碼掃描器讀取待測照明燈具之物料條碼動作可由該主控制器下令執行,或由該訊號分析與顯示資料庫軟體下令執行。
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