KR101166409B1 - 고해상도 테블릿 피씨 디스플레이 모듈 테스트를 위한 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치 - Google Patents

고해상도 테블릿 피씨 디스플레이 모듈 테스트를 위한 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치에 관한 것으로, 검사대상 디스플레이 모듈이 체결되며, 상기 디스플레이 모듈로 특정 인터페이스 신호가 출력되도록 변환하는 채널 보드; 상기 채널 보드로 고해상도 검사패턴 신호를 출력하고 특정 인터페이스 신호로 변환되도록 채널 보드를 제어하는 허브 보드; 및 상기 허브 보드와 채널 보드에 설치된 커넥터와 그 상응하는 위치에 커넥터가 설치된 채널 베이스 보드;를 포함하고, 상기 채널 보드는 상기 채널 베이스 보드에 착탈식으로 체결되어 일체형으로 구성되는 것을 특징으로 한다.

Description

고해상도 테블릿 피씨 디스플레이 모듈 테스트를 위한 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치{High Resolution Multi-Channel Display Meter for High Resolution Tablet-PC Display Module Test}
본 발명은 각종 노이즈 등을 포함하는 외란(disturbance)의 영향을 차단시켜 검사의 신뢰성을 향상시키고, 다양한 인터페이스 방식으로 디스플레이 모듈의 검사가 가능하도록 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치에 관한 것이다.
종래의 핸드폰이나 PDA 등의 모바일 기기를 생산하는 생산라인에는 해당 모바일 기기의 디스플레이부에 해당하는 중소형 모바일 디스플레이 모듈, 예를 들면 액정디스플레이(TFT-LCD)나 유기발광다이오드(OLED) 모듈을 검사하는 검사기가 구비되어 있다. 상기 검사기는 생산라인에 결합되어 설치되며 그 크기도 대형이고 가격 또한 고가로서 생산라인에서 100% 출하 검사시에만 적합할 뿐, 생산라인 이외에샘플링에 의한 표본검사 또는 영업 활동이나 연구 개발 등에서 사용하기에는 적합하지 않아 이에 적합한 검사기의 필요성이 요구되었다.
상기 필요성에 의해 휴대가 가능한 디스플레이 모듈 검사기가 개발되었지만, 두개 이하의 디스플레이 모듈을 지그(Jig)에 장착하여 검사기에 연결하여 검사하는 방식이 대부분이며, 상기 검사기와 지그간에는 케이블로 연결되는데 EMI 잡음 등의 노이즈(noise)등을 포함한 외란(disturbance)의 영향에 노출되어 디스플레이 모듈 검사시에 오류를 증가시켜 검사의 신뢰성을 떨어뜨리는 문제점이 발생한다.
본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 모바일 디스플레이 모듈 검사장치를 허브 보드, 채널 보드, 채널 베이스 보드로 구성하고, 상기 채널 보드가 채널 베이스 보드에 착탈식으로 체결되어 일체화되도록 구현하여 각종 노이즈 등을 포함하는 외란(disturbance)에 영향받지 않도록 함으로써 검사의 신뢰성이 향상된 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 다양한 인터페이스 방식으로 디스플레이 모듈의 검사가 가능하고 고해상도로 화질 검사가 가능한 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위해, 검사대상 디스플레이 모듈이 체결되며, 상기 디스플레이 모듈로 특정 인터페이스 신호가 출력되도록 변환하는 채널 보드; 상기 채널 보드로 고해상도 검사패턴 신호를 출력하여 특정 인터페이스 신호로 변환되도록 채널 보드를 제어하는 허브 보드; 및 상기 허브 보드와 채널 보드에 설치된 커넥터와 그 상응하는 위치에 커넥터가 설치된 채널 베이스 보드;를 포함하고, 상기 채널 보드는 상기 채널 베이스 보드에 착탈식으로 체결되어 일체형으로 구성되도록 한다.
본 발명은 채널 보드가 채널 베이스 보드에 착탈식으로 체결되어 일체형으로 검사장치를 구성할 수 있어 종래의 케이블 연결을 통한 검사장치에서 발생하는 각종 노이즈 등을 포함하는 외란(disturbance)의 영향을 차단하여 검사의 신뢰성을 향상시키는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 도트 클럭(dot clock) 135MHz, QXGA(2048×1536) 및 그 이상의 고해상도 화질검사를 지원하며, RGB 출력, MCU 출력, LVDS 출력, MIPI 출력, eDP 출력을 포함하는 다양한 인터페이스 방식으로 디스플레이 모듈의 검사가 가능하도록 하는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 적어도 하나 이상의 동일 크기 디스플레이 모듈을 동시에 검사할 수 있어, 검사 시간을 줄이고 검사 효율을 향상시키는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 채널 보드의 착탈을 통해 사용자에게 검사장치의 휴대 및 이동의 편리성을 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 채널 보드의 설계 변경만으로 다양한 종류 및 크기의 디스플레이 모듈을 검사할 수 있어 설계 변경에 따른 비용을 줄이면서 디스플레이 모듈을 검사할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 전압/전류 측정 동글(Dongle)을 통해 검사장치 단독 구동시에 디스플레이 모듈의 구동 전압과 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 측정하고, 외부장치의 사용자 UI를 통해서도 디스플레이 모듈의 구동 전압과 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 측정하여 실시간으로 모니터링 할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치의 구성을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 허브 보드를 나타내는 상세 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 채널 보드를 나타내는 상세 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 채널 베이스 보드를 나타내는 상세 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 사용자 UI를 나타내는 도면이다.
본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치의 구성을 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 모바일 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 전원 공급부(110), 외부 입/출력부(120), 전압/전류 검출부(130), 전압/전류 측정 동글(Dongle)(131), 메모리(140), 검사패턴 생성부(150), 검사패턴 처리수단(160), 사용자 입력부(170), 제어부(180)를 포함하는 허브(Hub) 보드(100)와; 디스플레이 모듈(210), CTSP(Capacitive Touch Screen Panel) 제어수단(220), 신호 브릿지부(230)를 포함하는 채널(Channel) 보드(200)와; 상기 허브 보드(100)가 포함되고 상기 채널 보드(200)와 착탈식으로 체결되는 채널 베이스 보드(300)를; 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 허브 보드(100)와 채널 보드(200)에는 각각 복수의 커넥터가 설치되고 그 상응하는 위치에 설치된 채널 베이스 보드(300)의 커넥터와 체결되어 전원 공급 및 검사장치(10)의 동작을 위한 각종 신호가 전송되며, 상기 허브 보드(100)는 채널 베이스 보드(300)에 고정되거나 착탈식으로 체결될 수도 있다.
먼저, 상기 허브 보드(100)에 대해 설명하면, 상기 전원 공급부(110)는 외부 전원을 입력받아 검사장치(10)를 구성하는 각 부분들에 전원을 공급한다.
상기 외부 입/출력부(120)는 검사장치(10)와 외부장치를 연결하는 중계역할을 하며, 상기 외부장치는 컴퓨터 및 노트북 등이 될 수 있다.
구체적으로, 상기 검사장치(10)와 외부장치간에는 이더넷 통신을 통해 각종 검사 정보가 포함된 신호가 고속으로 전송되도록 LAN 포트 등을 통해 연결될 수 있으며, 또한, 공유기 등을 이용하여 적어도 하나 이상의 검사장치와 연결될 수 있으며, IP 설정을 통해 적어도 하나 이상의 검사장치를 제어하거나 특정 검사장치를 제어할 수 있다.
상기 연결된 외부장치를 통해 검사 패턴 이미지, 검사 구동 전압, 검사 구동 시간 등을 포함하는 각종 검사 조건을 셋팅하여 디스플레이 모듈이 동작하는 스펙과 동일한 조건으로 검사가 수행되도록 하는 등 다양한 종류의 디스플레이 모듈의 성능을 검사할 수 있도록 검사장치(10)를 조작할 수 있으며, 검사중인 디스플레이 모듈의 검사 상태 정보를 모니터링 할 수 있다.
여기서, 상기 검사 상태 정보는 디스플레이 모듈의 구동 전압 정보, 구동 전류 정보, 화질 검사 정보, 터치 검사 정보, 에이징 검사 정보 등을 포함하며 이에 한정되지 않는다.
또한, 사용자 UI를 제공하여 외부장치에서 검사 조건을 셋팅하고 수정할 수 있으며, 검사 상태 정보를 그래프화된 정보 등으로 모니터링 할 수 있다.
상기 전압/전류 검출부(130)는 검사 대상 디스플레이 모듈(210)의 구동 전압과 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 검출한다. 여기서, 상기 검출된 전압, 전류를 모니터링하여 검사중인 디스플레이 모듈(210)의 신뢰성 검사를 할 수 있다. 상기 검출된 전압, 전류는 실시간으로 모니터링 가능하다.
구제척으로, 검사중인 디스플레이 모듈(210)의 오차범위내에서 작동여부를 모니터링하여 신뢰성 검사를 수행할 수 있다.
예를 들면, 일정시간 간격으로 검사 대상 디스플레이 모듈(210)의 전압, 전류를 검출하여 외부 장치를 통해 모니터링할 수 있으며, 상기 검출된 데이터는 로그파일(log file)로 메모리(140)에 저장될 수 있다. 상기 시간에 따른 변화율을 검토함으로써 디스플레이 모듈(210)의 신뢰성을 판단할 수 있으며 비정상적인 전압, 전류가 검출된 때에는 미리 설정된 임계치와 비교하여 신뢰성 합격여부를 판단할 수 있다.
여기서, 상기 전압/전류 검출부(130)에 연결되어 전압,전류를 측정할 수 있는 전압/전류 측정 동글(Dongle)(131)이 더 포함될 수 있으며, 외부장치와 연결없이 검사장치 단독 구동시에도 디스플레이 모듈의 구동 전압과 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 측정하여 검사자가 실시간으로 모니터링하게 할 수 있다.
예를 들면, 상기 전류 측정 동글(131)에 사용자 버튼을 설치하여 버튼을 누룰 때마다 채널 보드 번호와 그 채널 보드에 체결된 디스플레이 모듈의 전압, 전류 중 적어도 어느 하나 이상이 순차적으로 표시되도록 할 수 있다.
또한, 상기 검사장치(10)에 온도 센서, 습도 센서 등을 더 추가하여 일정시간 간격에 따른 온도, 습도 중 적어도 어느 하나 이상을 검출하게 할 수도 있다.
또한, 상기 검사장치(10)에 상태 확인 디스플레이부를 더 추가하여, 구동 전압, 전류 등을 포함하는 검사 상태 정보를 표시하여 외부장치의 연결없이 검사장치(10) 자체에서 검사 상태 정보를 확인하게 할 수도 있다.
또한, 본 발명의 검사장치(10)는 일정수준의 온도 및 항온항습 조건에 견딜 수 있도록 설계되어 있기에 검사대상 디스플레이 모듈이 체결되어 구동되는 상태로 검사장치(10)를 직접 챔버 등에 집어넣고 검사가 가능하다.
상기 메모리(140)에는 디스플레이 모듈(210) 검사에 필요한 적어도 하나 이상의 검사 패턴 이미지 및 셋팅된 각종 검사조건 등이 저장된다.
여기서, 상기 각종 검사조건 등은 외부장치의 사용자 UI를 통해 변경가능하고 변경된 검사조건을 메모리(140)에 저장할 수 있다.
또한, 상기 메모리(140)에는 디스플레이 모듈(210) 검사시에 발생하는 각종 검사 상태 정보가 저장되며, 검사장치(10)의 전반적인 동작 제어를 위한 정보가 저장된다.
또한, 상기 메모리(140)에 저장된 각종 검사조건을 이용하여 사용자 입력부(170)의 조작만으로 검사장치 단독으로 검사를 수행하도록 할 수 있다.
상기 검사패턴 생성부(150)는 외부장치로부터 전송되는 검사 패턴 이미지 또는 메모리(140)에 저장된 검사 패턴 이미지를 참조하여 디스플레이 모듈(210)의 화질 검사를 위한 검사패턴 신호를 출력한다. 여기서, 상기 검사패턴 생성부(150)는 FPGA 칩(Field Programmable Gate Array Chip)이 될 수 있다.
또한, 고해상도 일수록 높은 주파수로 인해 화면 노이즈가 발생하게 되고 이는 검사를 불안정하게 할 수 있는데, 본 발명은 이를 위해 고해상도 검사패턴 신호를 출력하기 위해 검사패턴 생성부(150)를 보조하는 검사패턴 처리수단(160)을 포함하여 높은 주파수로 인한 화면 노이즈를 제거하도록 한다.
상기 검사패턴 처리수단(160)은 LVDS 트랜스미터(Low Voltage Differential Signaling Transmitter)가 될 수 있으며, 135MHz의 처리 속도로 해상도 2048×1536 및 그 이상의 고해상도로 검사패턴 신호를 출력하도록 검사패턴 생성부(150)를 보조한다.
따라서, 본 발명은 상기 검사패턴 생성부(150)와 검사패턴 처리수단(160)을 통해 도트 클럭(dot clock) 135MHz의 QXGA(2048×1536)급 및 그 이상의 고해상도까지 디스플레이 모듈(210)의 화질검사를 지원할 수 있는 특징이 있으며, 그 이하 해상도의 화질검사도 지원 가능하다.
상기 사용자 입력부(170)는 검사장치(10)의 전원을 온(On)/오프(Off)하는 전원 스위치와 검사장치(10)를 조작할 수 있는 검사 조작 버튼을 포함한다.
구제척으로, 상기 사용자 입력부(170)의 조작을 통해 검사장치(10)를 단독으로 구동시킬 수 있어 외부장치를 이용한 조작없이도 디스플레이 모듈 검사가 수행되도록 할 수 있다.
상기 제어부(180)는 다양한 인터페이스 방식으로 디스플레이 모듈이 검사되도록 제어하는 등 검사장치(10)의 전반적인 동작을 제어한다. 여기서, 상기 제어부(180)는 MCU(Machine Control unit) 등이 될 수 있으며, 허브 보드(100)에 고정되어 장착되거나 착탈식으로 체결되어 손쉽게 분리되도록 할 수 있다.
예를 들면, 상기 제어부(180)는 전원 공급부(110)를 제어하여 검사장치(10)의 각 부분에 전원이 공급되도록 하며, 셋팅된 검사조건에 따라 디스플레이 모듈(210)이 검사되도록 제어한다.
구체적으로, 외부 입/출력부(120)를 제어하여 외부장치와 검사장치간에 각종 검사신호가 송/수신되도록 함으로써, 외부장치에서 전송되는 신호에 따라 검사장치가 동작되도록 하거나, 검사장치에서 발생하는 각종 검사 상태 정보가 외부장치에 표시될 수 있도록 하며 상기 검사 상태 정보를 메모리(140)에 저장되도록 한다.
또한, 검사패턴 생성부(150), 검사패턴 처리수단(160), 신호 브릿지부(230)를 제어하여 다양한 해상도와 인터페이스로 디스플레이 모듈(210)의 검사가 수행되도록 하며, 전압/전류 검출부(130)를 제어하여 디스플레이 모듈(210)의 구동 전압, 전류가 검출되도록 하고, 사용자 입력부(170)의 조작에 따라 검사장치 단독으로 검사동작이 수행되도록 하는 등 검사장치(10)의 전반적인 동작을 제어한다.
다음으로 채널 보드(200)에 대해 설명하면, 검사대상 디스플레이 모듈(210), CTSP 제어수단(220), 신호 브릿지부(230)를 포함하여 구성되며, 일종의 검사 지그(Jig)가 될 수 있다.
여기서, 상기 디스플레이 모듈(210)은 LCD(Liquid Crystal Display), TFT-LCD(thin film transistor LCD), OLED(Organic Light Emitting Diode), AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diodes), TSP(Touch Screen Panel)등이 될 수 있으며, 상기 채널 보드(200)에 체결되는 디스플레이 모듈(210)의 크기는 변경 가능하다. 즉, 다양한 크기의 디스플레이 모듈(210)이 체결될 수 있다.
상기 CTSP 제어수단(220)은 정전용량 방식의 터치 디스플레이 모듈 검사가 가능하도록 제어하며, 상기 검사를 통한 각종 데이터는 외부 장치에서 모니터링 가능하며, 메모리(140)에 저장될 수 있다.
상기 신호 브릿지부(230)는 RGB, MCU, LVDS(Low Voltage Differential signaling), MIPI(Mobile Industry Processor Interface), eDP(Embedded DisplayPort) 인터페이스 등으로 출력이 가능하도록 검사패턴 신호를 변환하고 상기 인터페이스에 해당하는 제어신호를 디스플레이 모듈(210)로 출력한다. 여기서 상기 신호 브릿지부(230)는 채널 보드상에 고정되어 장착되거나 착탈식으로 체결되어 손쉽게 분리되도록 할 수 있다.
구체적으로, 허브 보드(100)의 제어부(180)는 상기 검사패턴 생성부(150) 또는 검사패턴 처리수단(160)에서 출력되는 검사패턴 신호를 신호 브릿지부(230)로 입력되도록 하며, 상기 제어부(180)는 셋팅된 검사 조건에 따라 신호 브릿지부(230)를 제어하여 RGB 출력, MCU 출력, 싱글 LVDS(Singal LVDS) 출력, 듀얼 LVDS(Dual LVDS) 출력, 미피 1/2/4 레인(MIPI 1/2/4 Lane) 출력, eDP 출력 중 어느 하나의 인터페이스 방식으로 출력되도록 검사패턴 신호를 변환하고 그 인터페이스에 해당하는 제어신호를 디스플레이 모듈(210)로 출력되도록 한다.
따라서, 본 발명은 RGB, MCU, LVDS, MIPI, eDP 등을 포함하는 제품 양산을 위한 다양한 디스플레이 모듈(210)의 조건에 맞는 해상도와 인터페이스로 신뢰성 검사, 고해상도 화질검사, 터치검사, 에이징 검사 등을 포함하는 각종 기능 검사를 수행할 수 있는 특징이 있다. 종래에는 각각의 인터페이스를 지원하는 검사장치로의 교체가 필요했지만, 본 발명은 채널 보드(200)에 신호 브릿지부(230)를 장착함으로써 별도 검사장치로의 교체없이 RGB, MCU, LVDS, MIPI, eDP 등을 포함하는 인터페이스 방식을 지원하여 디스플레이 모듈을 검사할 수 있다.
다음으로 채널 베이스 보드(300)에 대해 설명하면, 상기 채널 베이스 보드(300)에는 허브 보드(100)와 채널 보드(200)의 커넥터와 상응하는 위치에 커넥터가 구성된다.
상기 각 보드(100,200,300)의 커넥터간 체결을 통해 전원 공급 및 검사장치(10) 동작을 위한 각종 신호가 전송되고, 본 발명은 상기 채널 보드(200)가 상기 채널 베이스 보드(300)에 착탈 가능하도록 구성되어 일체화시킴으로써 종래의 케이블 연결을 통한 검사장치에서 발생하는 각종 노이즈 등을 포함하는 외란(disturbance)의 영향을 차단할 수 있는 특징이 있다. 여기서, 상기 허브 보드(100)는 채널 베이스 보드(300)에 고정되거나 착탈식으로 체결될 수 있다.
상기 채널 베이드 보드(300)에는 적어도 하나 이상의 동일 크기의 디스플레이 모듈이 체결된 채널 보드(200)가 검사장치와 일체형으로 체결되어 동시에 검사를 수행할 수 있다. 이를 통해, 검사 시간을 줄이고 다양한 크기의 디스플레이 모듈을 동시에 검사할 수 있어 검사 효율을 향상시키는 효과가 있다
예를 들면, 디스플레이 모듈 4인치를 기준으로 10개의 채널 보드가 동시에 체결될 수 있으며, 5~7인치 기준으로 4개의 채널 보드가 동시에 체결될 수 있으며, 8인치~11인치 기준으로 2개의 채널 보드를 동시에 체결시켜 검사할 수 있으며, 12인치 기준으로 1개의 채널 보드를 체결시켜 검사할 수 있다. 상기 예시는 이해를 돕기 위한 것으로 디스플레이 모듈의 크기는 이에 한정되지 않는다.
또한, 본 발명은 채널 보드의 설계 변경만으로 다양한 종류 및 크기의 디스플레이 모듈을 검사할 수 있어 설계 변경에 따른 비용을 줄이면서 손쉽게 다른 종류 및 크기의 디스플레이 모듈을 검사할 수 있는 효과가 있다. 예를 들면, 검사가 필요한 양산 제품의 디스플레이 모듈의 크기가 변경되어도 채널 보드만을 설계 변경함으로써 유연하게 검사를 수행할 수 있다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 허브 보드를 나타내는 상세 도면으로서, 도 2a는 허브 보드를 나타내는 상세 도면이며, 도 2b는 검사패턴 생성부를 나타내는 상세 도면이며, 도 2c는 제어부를 나타내는 상세 도면이다.
도 2a를 참조하면, 상기 허브 보드(100)는 전원을 공급받는 전원 공급부(110), 외부장치와 연결을 위한 외부 입/출력부(120), 검사패턴 생성부(150)가 체결되는 복수의 제1 허브 커넥터(151), 전원을 온(On)/오프(Off)하는 전원 스위치(171), 제어부(180)가 체결되는 복수의 제2 허브 커넥터(181), 채널 베이스 보드(300)와 연결되는 제3,4 허브 커넥터(101,102)를 포함하여 구성되며, 도시되어 있지 않지만 전압/전류 검출부(130), 검사패턴 처리수단(160), 상태 확인 디스플레이부가 더 포함될 수 있다.
상기 외부 입/출력부(120)는 외부장치와 연결을 위해 LAN 포트, RS232 포트 등을 포함하여 구성되며, USB 포트 등이 더 포함될 수 있다.
도 2b를 참조하면, 상기 허브 보드(100)는 메모리(미도시)와, 검사패턴 생성부(150)와, 검사패턴 처리수단(미도시)을 포함하여 구성되며, 상기 메모리는 DDR SDRAM 메모리, FLASH 메모리 등이 될 수 있다. 상기 검사패턴 생성부(150)의 다른 일측면에는 제5 허브 커넥터가 구성되고 제1 허브 커넥터(151)와 체결된다.
도 2c를 참조하면, 상기 허브 보드(100)는 제어부(180)를 포함하며, 상기 제어부(180)의 일측면에는 검사장치를 조작할 수 있는 검사 조작 버튼(172)과 동작 상태를 표시하는 LED(190)가 구성되며, 다른 일측면에는 제어부(180)를 구성하는 각종 칩과 제6 허브 커넥터가 구성되어 제2 허브 커넥터(181)와 체결된다.
상기 검사 조작 버튼(172)은 검사장치(10) 단독으로 검사를 수행하도록 조작할 수 있으며, 구체적으로 검사 시작 및 종료, 수동/자동 화면 전환 선택, 이전 또는 다음 검사 패턴 이미지로 전환, 상하 또는 좌우로 검사 패턴 이미지의 움직임 전환 등을 선택할 수 있다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 채널 보드를 나타내는 상세 도면으로서, 도 3a는 채널 보드의 사시도이며, 도 3b는 채널 보드의 배면도이다.
도 3a을 참조하면, 채널 보드(200)의 일측면에는 신호 브릿지부(230)와, 채널 베이스 보드(300)와 체결을 위한 제1 채널 커넥터(201)와 제2 채널 커넥터(202)가 구성되며, 도시되어 있지 않지만 CTSP 제어수단(220)이 더 포함될 수 있으며, 도 3b와 같이 채널 보드(200)의 다른 일측면에는 제3 채널 커넥터(203)가 구성되어 검사 대상 디스플레이 모듈(210)이 체결된다.
여기서, 상기 제1 채널 커넥터(201)로는 전원이 공급되어 디스플레이 모듈을 구동시키고, 제2 채널 커넥터(202)로는 검사장치 동작을 위한 각종 신호가 전송될 수 있다. 상기 설명은 일시예일 뿐 한정되지 않으며 전원 및 각종 신호가 제1,2 채널 커넥터(201,202)로 동시에 공급 및 전송되도록 하는 등 설계에 따라 변경 가능하다.
상기 디스플레이 모듈(210)은 LCD(Liquid Crystal Display), TFT-LCD(thin film transistor LCD), OLED(Organic Light Emitting Diode), AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diodes), TSP(Touch Screen Panel)등을 포함하는 디스플레이 모듈(210)이 될 수 있으며, 다양한 크기의 디스플레이 모듈이 채널 보드에 체결될 수 있다.
상기 신호 브릿지부(230)는 검사패턴 생성부(150) 및 검사패턴 처리수단(160)에서 출력되는 검사패턴 신호를 입력받고 RGB 출력, MCU 출력, 싱글 LVDS 출력, 듀얼 LVDS 출력, 미피 1/2/4 레인 출력, eDP 출력 중 어느 하나의 인터페이스 신호로 출력되도록 변환하는 중계역할을 수행하여 다양한 인터페이스 방식으로 디스플레이 모듈의 검사가 가능하도록 한다.
여기서, 상기 디스플레이 모듈 검사는 신뢰성 검사, 고해상도 화질 검사, 터치검사 및 에이징 검사 등을 포함하는 각종 기능 검사를 포함하며, 신호 브릿지부(230)는 상기 채널 보드(200)상에 고정되어 장착되거나 착탈식으로 장착되도록 하여 손쉽게 분리되도록 할 수 있다.
다른 실시 예로서, 상기 신호 브릿지부(230)는 MIPI 인터페이스만을 지원하는 MIPI 브릿지 모듈이 될 수 있다.
예를 들면, RGB 또는 MCU 인터페이스 신호가 MIPI 브릿지 모듈로 입력되면 미피 1/2/4 레인(MIPI 1/2/4 Lane)신호로 변환되어 출력된다. 즉, 상기 RGB 또는 MCU 인터페이스 신호는 MIPI 브릿지 모듈의 중계를 통해 MIPI 인터페이스 신호로 변환되어 디스플레이 모듈로 출력되거나, 상기 MIPI 브릿지 모듈의 중계없이 RGB 또는 MCU 인터페이스 신호가 디스플레이 모듈로 직접 출력될 수도 있다.
따라서, RGB 인터페이스, MCU 인터페이스를 지원하는 검사장치에 MIPI 브릿지 모듈을 체결함으로써 별도로 검사장치의 교체없이 MIPI 인터페이스를 지원하도록 할 수 있다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 채널 베이스 보드를 나타내는 상세 도면이다.
도 4를 참조하면, 상기 채널 베이스 보드(300)는 허브 보드(100)와 체결되는 제1 채널 베이스 커넥터(301), 채널 보드(200)와 연결되는 제2,3 채널 베이스 커넥터(302,303), 디스플레이 모듈(210) 구동을 위한 전원 동작을 표시하는 상태 표시 LED(304)를 포함하여 구성된다.
상기 제1 채널 베이스 커넥터(301)는 허브 보드(100)의 제3 허브 커넥터(101)와 체결되며, 상기 제2,3 채널 베이스 커넥터(302,303)는 각각 채널 보드(200)의 제1,2 채널 커넥터(201,202)와 각각 체결된다.
여기서, 설명의 편의를 위해 도 4에서는 5쌍의 제2,3 채널 베이스 커넥터(302,303)로 이루어진 채널 베이스 보드를 설명하고 있으나 하단에 채널 베이스 보드를 더 포함하여 2개의 채널 베이스 보드가 하나의 검사장치에 포함될 수 있다.
이와 같이, 본 발명은 채널 보드(200)가 채널 베이스 보드(300)에 착탈 가능하게 구성되어 일체로 검사장치를 구현하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 전술한 설명은 일실시 예일뿐 각 보드에 포함되는 구성요소는 추가되거나 그 설치 위치가 변경 가능하며, 예를 들면 채널 보드(200)의 구성요소가 허브 보드(100)에 설치되고 그 반대의 경우도 가능하며, 이때 상기 채널 보드(200)가 채널 베이스 보드(300)에 착탈되는 구성은 변화되지 않고 유지된다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치를 나타내는 도면이다.
도 5a 및 도 5b를 참조하면, 상기 허브 보드(100)가 포함되고 채널 보드(200)는 채널 베이스 보드(300)에 착탈 가능하게 구성되어 일체화되며, 사용자 입력부(170)에 포함되는 전원 스위치(171)와 검사 조작 버튼(172)의 조작을 통해 검사장치(10)를 단독으로 구동시켜 디스플레이 모듈(210)의 검사가 수행되도록 할 수 있다.
또한, 전압/전류 검출부(130)와 전류 측정 동글(Dongle)(131)을 통해 외부장치와 연결없이 검사장치 단독 구동시에도 디스플레이 모듈의 구동 전압과 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 측정하고 실시간으로 모니터링 할 수 있도록 한다.
예를 들면, 상기 전류 측정 동글(131)에 사용자 버튼을 설치하여 버튼을 누룰 때마다 채널 보드 번호와 그 채널 보드에 체결된 디스플레이 모듈의 전압, 전류 중 적어도 어느 하나 이상이 순차적으로 표시되도록 할 수 있다.
도 6은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치를 나타내는 도면이다.
도 6를 참조하면, 상기 외부 입/출력부(120)를 통해 검사장치(10)는 노트북 등을 포함하는 외부장치와 연결되며, 상기 연결은 이더넷 통신이 가능하도록 연결되며, 또한 공유기 등을 이용하여 적어도 하나 이상의 검사장치와 연결될 수 있으며, IP 설정을 통해 적어도 하나 이상의 검사장치를 제어하거나 특정 검사장치를 제어할 수 있다.
예를 들면, 도 7과 같이 사용자 UI(400)를 제공하여 외부장치를 통해 각종 검사 조건을 셋팅하고 디스플레이 모듈이 동작하는 스펙과 동일한 조건으로 검사가 수행되도록 하는 등 검사장치를 원격으로 제어할 수 있으며, 검사중인 디스플레이 모듈의 검사 상태 정보를 실시간으로 모니터링 할 수 있다.
또한, 상기 사용자 UI(400)를 통해 전압/전류 검출부(130)에서 검출된 전압, 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 HUB STATUS 상태창(401)을 통해 표시할 수 있으며, Test Control 상태창의 PREV, NEXT 버튼을 클릭할 때마다 채널 보드 번호와 그 채널 보드에 체결된 디스플레이 모듈의 전압, 전류 중 적어도 어느 하나 이상이 순차적으로 표시될 수 있다. 또한, 도시되어 있지 않지만 채널 보드에 체결된 모든 디스플레이 모듈의 구동 전압, 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 동시에 표시할 수도 있다. 여기서, 상기 사용자 UI(400)는 일실시 예일뿐 이에 한정되지 않는다.
이와 같이, 본 발명은 채널 보드가 채널 베이스 보드에 착탈식으로 체결되어 일체형으로 검사장치를 구성할 수 있어 종래의 케이블 연결을 통한 검사장치에서 발생하는 각종 노이즈 등을 포함하는 외란(disturbance)의 영향을 차단하여 검사의 신뢰성을 향상시키는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 도트 클럭(dot clock) 135MHz, QXGA(2048×1536)급을 포함하여 그 이상의 고해상도 화질검사를 지원하며, RGB 출력, MCU 출력, LVDS 출력, MIPI 출력, eDP 출력을 포함하는 다양한 인터페이스 방식으로 디스플레이 모듈의 검사가 가능하도록 하는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 적어도 하나 이상의 동일 크기 디스플레이 모듈을 검사장치와 일체형으로 체결하여 동시에 검사할 수 있어, 검사 시간을 줄이면서 검사 노이즈를 차단하여 검사 효율을 향상시키는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 채널 보드의 착탈을 통해 사용자에게 검사장치의 휴대 및 이동의 편리성을 제공하는 효과가 있으며, 허브 보드도 착탈식으로 구성할 수 있다.
또한, 본 발명은 채널 보드의 설계 변경만으로 다양한 종류 및 크기의 디스플레이 모듈을 검사할 수 있어 설계 변경에 따른 비용을 줄이면서 손쉽게 디스플레이 모듈을 검사할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 전압/전류 측정 동글(Dongle)을 통해 검사장치 단독 구동시에 디스플레이 모듈의 구동 전압과 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 측정하고, 외부장치의 사용자 UI를 통해서도 디스플레이 모듈의 구동 전압과 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 측정하여 실시간으로 모니터링 할 수 있는 효과가 있다.
이제까지 본 발명에 대하여 그 실시 예를 중심으로 살펴보았으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 본질적 기술 범위 내에서 상기 본 발명의 상세한 설명과 다른 형태의 실시 예들을 구현할 수 있을 것이다. 여기서 본 발명의 본질적 기술범위는 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 허브 보드 110: 전원공급부
120: 외부 입/출력부 130: 전압/전류 검출부
140: 메모리 150: 검사패턴 생성부
160: 검사패턴 처리수단 170: 사용자 입력부
200: 채널 보드 210: 디스플레이 모듈
220: CTSP 제어수단 230: 신호 브릿지부
300: 채널 베이스 보드

Claims (10)

  1. 검사대상 디스플레이 모듈이 체결되며, 상기 디스플레이 모듈로 특정 인터페이스 신호가 출력되도록 변환하고 채널 베이스 보드와 체결 또는 분리가 가능하도록 착탈식으로 체결되는 커넥터를 포함하는 채널 보드;
    상기 채널 보드로 고해상도 검사패턴 신호를 출력하고 특정 인터페이스 신호로 변환되도록 채널 보드를 제어하는 허브 보드; 및
    상기 허브 보드와 채널 보드에 설치된 커넥터와 그 상응하는 위치에 커넥터가 설치된 채널 베이스 보드;를 포함하고, 상기 채널 보드는 상기 채널 베이스 보드에 착탈식으로 체결되어 일체형으로 구성되는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 허브 보드는 도트 클럭 135MHz 및 해상도 2048×1536 이상의 고해상도 검사패턴 신호를 출력하는 검사패턴 생성부; 및
    주파수에 따른 노이즈를 제거하여 고해상도 검사패턴 신호를 출력하도록 상기 검사패턴 생성부를 보조하는 검사패턴 처리수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 허브 보드는 디스플레이 모듈의 구동 전압과 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 검출하는 전압/전류 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 허브 보드는 외부 입/출력부를 포함하며, 상기 외부 입/출력부를 통해외부장치와 연결되어 상기 디스플레이 모듈의 검사 상태 정보를 실시간으로 표시하는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 채널 보드는 RGB, MCU, LVDS, MIPI, eDP를 포함하는 인터페이스 신호 중 어느 하나로 변환하여 출력하는 신호 브릿지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 채널 보드는 MIPI 인터페이스 신호로 변환하여 출력하는 MIPI 브릿지 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 채널 보드에 체결되는 디스플레이 모듈의 크기는 변경 가능한 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 채널 보드는 터치 패널 검사를 제어하는 CTSP(Capacitive Touch screen panel) 제어수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  9. 제 1항에 있어서,
    상기 채널 베이스 보드에는 동일 크기의 디스플레이 모듈이 체결된 채널 보드가 적어도 하나 이상 체결되는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
  10. 검사대상 디스플레이 모듈이 체결되며, 상기 디스플레이 모듈로 특정 인터페이스 신호가 출력되도록 변환하는 채널 보드;
    상기 채널 보드로 고해상도 검사패턴 신호를 출력하고 특정 인터페이스 신호로 변환되도록 채널 보드를 제어하며, 상기 검사대상 디스플레이 모듈의 구동 전압, 전류 중 적어도 어느 하나 이상을 검출하는 허브 보드; 및
    상기 허브 보드와 채널 보드에 설치된 커넥터와 그 상응하는 위치에 커넥터가 설치된 채널 베이스 보드;를 포함하고, 상기 채널 보드는 상기 채널 베이스 보드에 착탈식으로 체결되어 일체형으로 구성되는 것을 특징으로 하는 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치.
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