JP3523308B2 - ディスプレイの解像度測定装置 - Google Patents
ディスプレイの解像度測定装置Info
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- JP3523308B2 JP3523308B2 JP31384793A JP31384793A JP3523308B2 JP 3523308 B2 JP3523308 B2 JP 3523308B2 JP 31384793 A JP31384793 A JP 31384793A JP 31384793 A JP31384793 A JP 31384793A JP 3523308 B2 JP3523308 B2 JP 3523308B2
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- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディスプレイの解像度
測定装置に関する。
測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ディスプレイの解像度を測定する
方法として、図1および図2の方法が用いられている
(以下、方法1,方法2と呼ぶ)。
方法として、図1および図2の方法が用いられている
(以下、方法1,方法2と呼ぶ)。
【0003】(1)方法1(図1)
画像表示のための信号処理回路等を具えたディスプレイ
1に信号発生器2から正弦波を入力したときに、ディス
プレイ1の画面上に再現された正弦波による画像出力の
検出値(正弦波の振幅)が、周波数によりどのように変
化するのかを測定するものである。ディスプレイ画面か
らの光を検出するため、光電変換器に微小な値を持つス
リットを組み合わせた検出器3を使用し、ディスプレイ
上の微小部分の出力だけを検出する。その検出出力は、
信号処理部4に入力する。このように、この方法は画面
上の1点のみに注目して測定を行うものである。信号発
生器2はグレー信号に正弦波を多重した信号を出力す
る。正弦波の位相を変化させることにより、信号処理部
4は検出器3の出力の最大−最小値を測定し、周波数特
性を得る。
1に信号発生器2から正弦波を入力したときに、ディス
プレイ1の画面上に再現された正弦波による画像出力の
検出値(正弦波の振幅)が、周波数によりどのように変
化するのかを測定するものである。ディスプレイ画面か
らの光を検出するため、光電変換器に微小な値を持つス
リットを組み合わせた検出器3を使用し、ディスプレイ
上の微小部分の出力だけを検出する。その検出出力は、
信号処理部4に入力する。このように、この方法は画面
上の1点のみに注目して測定を行うものである。信号発
生器2はグレー信号に正弦波を多重した信号を出力す
る。正弦波の位相を変化させることにより、信号処理部
4は検出器3の出力の最大−最小値を測定し、周波数特
性を得る。
【0004】(2)方法2(図2)
ディスプレイ1に信号発生器2からインパルスを入力し
たときに、ディスプレイ1の画面上に再現された光出力
を検出器5で検出し、それを信号処理部4でフーリエ変
換することにより周波数特性を求めるものである。画面
上のインパルスの形状を検出するため、1次元のライン
センサを検出器5として用いている。信号発生器2はイ
ンパルス信号を出力し、信号処理部4は検出器5の出力
をフーリエ変換する。
たときに、ディスプレイ1の画面上に再現された光出力
を検出器5で検出し、それを信号処理部4でフーリエ変
換することにより周波数特性を求めるものである。画面
上のインパルスの形状を検出するため、1次元のライン
センサを検出器5として用いている。信号発生器2はイ
ンパルス信号を出力し、信号処理部4は検出器5の出力
をフーリエ変換する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ディスプレイ画面上に
はCRTではシャドウマスク、液晶などでは画素の構造
がある。方法1は画面上の微小部分だけを測定するた
め、この構造の影響を測定することができない。
はCRTではシャドウマスク、液晶などでは画素の構造
がある。方法1は画面上の微小部分だけを測定するた
め、この構造の影響を測定することができない。
【0006】方法2は、インパルスによる測定である。
この方法2ではディスプレイのガンマ特性のため、電気
回路も含めた総合特性、例えばアパチャー補正の効果な
ど、を十分には測定できない。そこでインパルスの代り
に正弦波を用いることも考えられるが、以下の問題が残
る。
この方法2ではディスプレイのガンマ特性のため、電気
回路も含めた総合特性、例えばアパチャー補正の効果な
ど、を十分には測定できない。そこでインパルスの代り
に正弦波を用いることも考えられるが、以下の問題が残
る。
【0007】(1)振幅の検出
ディスプレイに正弦波信号を入力したときの検出器出力
を図3に示す。図3の(a)はディスプレイへの正弦波
信号を示す。ディスプレイの画素構造のため、検出器出
力は図3の(b)となるが、これから振幅p1,p2,
…を求めるには工夫が必要である。ここで、もし画素に
欠陥などがあった場合は、検波器出力は例えば図3の
(c)に示すように点線部分aが欠けてしまうので、正
弦波の振幅とは異なるものを測定してしまう。さらに、
ディスプレイや検出器でのシェーディングにより、検出
器の端部においては中央部よりも振幅が小さくなってい
るおそれもある。
を図3に示す。図3の(a)はディスプレイへの正弦波
信号を示す。ディスプレイの画素構造のため、検出器出
力は図3の(b)となるが、これから振幅p1,p2,
…を求めるには工夫が必要である。ここで、もし画素に
欠陥などがあった場合は、検波器出力は例えば図3の
(c)に示すように点線部分aが欠けてしまうので、正
弦波の振幅とは異なるものを測定してしまう。さらに、
ディスプレイや検出器でのシェーディングにより、検出
器の端部においては中央部よりも振幅が小さくなってい
るおそれもある。
【0008】(2)信号とディスプレイ画素構造の位相
入力の正弦波とディスプレイの画素構造の位相関係によ
り、検出される振幅が異なるため、通常は様々な位相に
対する振幅値の最大値、最小値、平均値を用いて解像度
を表す。多くの位相関係に対して振幅を測定するために
は、対策が必要である。
り、検出される振幅が異なるため、通常は様々な位相に
対する振幅値の最大値、最小値、平均値を用いて解像度
を表す。多くの位相関係に対して振幅を測定するために
は、対策が必要である。
【0009】本発明の目的は以上のような問題を解消し
たディスプレイの解像度測定装置を提供することにあ
る。
たディスプレイの解像度測定装置を提供することにあ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明はディスプレイの画面上の光出力を検出する検出
手段と、該検出手段からの、グレー信号入力に基づく前
記ディスプレイの画面上の光出力検出結果とグレー信号
に正弦波信号を重畳した入力に基づく前記ディスプレイ
の画面上の光出力検出結果との差を計算する第1の計算
手段と、前記正弦波の位相を変化させた際の前記第1の
計算手段から得られる複数の計算結果に基づいて前記正
弦波の周波数における振幅応答特性を求める第2の計算
手段とを具えたことを特徴とする。
本発明はディスプレイの画面上の光出力を検出する検出
手段と、該検出手段からの、グレー信号入力に基づく前
記ディスプレイの画面上の光出力検出結果とグレー信号
に正弦波信号を重畳した入力に基づく前記ディスプレイ
の画面上の光出力検出結果との差を計算する第1の計算
手段と、前記正弦波の位相を変化させた際の前記第1の
計算手段から得られる複数の計算結果に基づいて前記正
弦波の周波数における振幅応答特性を求める第2の計算
手段とを具えたことを特徴とする。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
【0012】図4は本発明の実施例を示す。図4に示す
ように、5は1次元ラインセンサからなる検出器であっ
て、ディスプレイ1の画面上に測定面を接触させて光出
力を検出する。検出器5からの出力信号(アナログ信
号)は、A/D変換器6によってデジタルデータに変換
され、RAM(ランダムアクセスメモリ)8に記憶させ
る。7はCPU(中央処理装置)であって、ROM(リ
ードオンリメモリ)9内のプログラムに従って後述のよ
うな測定手順を実行する。RAM8は、CPU7のワー
クエリアも有する。10はプリンタ、11はCRTであ
って、CPU7による測定結果および測定に必要な情報
等を記録(プリントアウト)、表示する。信号発生器2
はグレー信号および正弦波信号を出力する。測定手順を
以下に示す。
ように、5は1次元ラインセンサからなる検出器であっ
て、ディスプレイ1の画面上に測定面を接触させて光出
力を検出する。検出器5からの出力信号(アナログ信
号)は、A/D変換器6によってデジタルデータに変換
され、RAM(ランダムアクセスメモリ)8に記憶させ
る。7はCPU(中央処理装置)であって、ROM(リ
ードオンリメモリ)9内のプログラムに従って後述のよ
うな測定手順を実行する。RAM8は、CPU7のワー
クエリアも有する。10はプリンタ、11はCRTであ
って、CPU7による測定結果および測定に必要な情報
等を記録(プリントアウト)、表示する。信号発生器2
はグレー信号および正弦波信号を出力する。測定手順を
以下に示す。
【0013】(1):図5の(a)のグレー信号をディ
スプレイに表示する。検出器5の出力は同図(b)のよ
うになり、横軸はラインセンサのライン方向の位置を示
す。また、これ(各検出データ)の高周波成分を除去し
た出力(図6の(d))を計算しておく。
スプレイに表示する。検出器5の出力は同図(b)のよ
うになり、横軸はラインセンサのライン方向の位置を示
す。また、これ(各検出データ)の高周波成分を除去し
た出力(図6の(d))を計算しておく。
【0014】(2):グレー信号に正弦波信号を多重
し、ディスプレイに図3の(a)の正弦波を表示する。
検出器出力は図3の(b)である。
し、ディスプレイに図3の(a)の正弦波を表示する。
検出器出力は図3の(b)である。
【0015】(3):(1)と(2)の差を計算する。
結果は図5の(c)のようになる。
結果は図5の(c)のようになる。
【0016】(4):図5の(c)から正弦波の各周期
の各検出データの中で最大値Max.と最小値Min.
を計算する(正弦波の周波数や検出器の画素数による
が、検出器は一度に数〜数十周期の正弦波を検出するの
で、その分の最大値、最小値を計算する)。
の各検出データの中で最大値Max.と最小値Min.
を計算する(正弦波の周波数や検出器の画素数による
が、検出器は一度に数〜数十周期の正弦波を検出するの
で、その分の最大値、最小値を計算する)。
【0017】(5):図5の(c)で求めたMax.,
Min.を図6の(d)で割算し、図6の(e)を求め
る。これはディスプレイや検出器に生じるシェーディン
グを補正することを意味する。このようにして求めた正
弦波の各周期における最大値、最小値から振幅p(隣接
する最大値と最小値との差)を計算する。
Min.を図6の(d)で割算し、図6の(e)を求め
る。これはディスプレイや検出器に生じるシェーディン
グを補正することを意味する。このようにして求めた正
弦波の各周期における最大値、最小値から振幅p(隣接
する最大値と最小値との差)を計算する。
【0018】(6):正弦波の位相を変化させ(例えば
45度おきで8回)、(2)〜(5)の処理を繰り返
し、これから検出データの振幅の平均、最大値、最小値
を計算する。
45度おきで8回)、(2)〜(5)の処理を繰り返
し、これから検出データの振幅の平均、最大値、最小値
を計算する。
【0019】(7):正弦波の周波数を変化させ(例え
ば1MHz〜30MHzまで1MHzおき)、(2)〜
(6)を繰り返すことにより周波数特性を求め例えばプ
リンタによってプリントアウトする。
ば1MHz〜30MHzまで1MHzおき)、(2)〜
(6)を繰り返すことにより周波数特性を求め例えばプ
リンタによってプリントアウトする。
【0020】本方式では、画素欠陥があっても図7のよ
うにグレー信号と正弦波信号の差をとることにより、画
素欠陥の場所をピークとして検出することがない。すな
わち、図7の(a)はグレー信号表示時の検出データで
あって、画素欠陥部分の振幅が小さい。同図の(b)は
正弦波表示時の検出データであって、(a)と同様画素
欠陥部分の振幅が小さい。同図の(c)は(a)と
(b)の差の計算結果であって、画素欠陥部分のデータ
をピークとして検出することがないことわかる。
うにグレー信号と正弦波信号の差をとることにより、画
素欠陥の場所をピークとして検出することがない。すな
わち、図7の(a)はグレー信号表示時の検出データで
あって、画素欠陥部分の振幅が小さい。同図の(b)は
正弦波表示時の検出データであって、(a)と同様画素
欠陥部分の振幅が小さい。同図の(c)は(a)と
(b)の差の計算結果であって、画素欠陥部分のデータ
をピークとして検出することがないことわかる。
【0021】なお、検出器として、1次元ラインカメラ
のかわりにテレビカメラを用いることもできる。カメラ
出力を水平または垂直方向に加算することにより、図3
の(b)、図5の(b)が得られるので、前記と同じ方
法で周波数特性を測定することができる。
のかわりにテレビカメラを用いることもできる。カメラ
出力を水平または垂直方向に加算することにより、図3
の(b)、図5の(b)が得られるので、前記と同じ方
法で周波数特性を測定することができる。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、デ
ィスプレイの解像度を正確に求めることができる。
ィスプレイの解像度を正確に求めることができる。
【図1】従来の測定装置の一例を示す図である。
【図2】従来の測定装置の他の一例を示す図である。
【図3】正弦波入力時の検出器出力例を示す図である。
【図4】本発明の実施例のブロック図である。
【図5】同実施例による検出に伴う信号(データ)例を
示す図である。
示す図である。
【図6】同実施例による検出に伴う信号(データ)例の
他の例を示す図である。
他の例を示す図である。
【図7】同実施例による検出に伴う信号(データ)例の
さらに他の例を示す図である。
さらに他の例を示す図である。
1 ディスプレイ
2 信号発生器
5 検出器
6 A/D変換器
7 CPU
8 RAM
9 ROM
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
H04N 17/04
G09G 5/00
Claims (2)
- 【請求項1】 ディスプレイの画面上の光出力を検出す
る検出手段と、該検出手段からの、グレー信号入力に基
づく前記ディスプレイの画面上の光出力検出結果とグレ
ー信号に正弦波信号を重畳した入力に基づく前記ディス
プレイの画面上の光出力検出結果との差を計算する第1
の計算手段と、前記正弦波の位相を変化させた際の前記
第1の計算手段から得られる複数の計算結果に基づいて
前記正弦波の周波数における振幅応答特性を求める第2
の計算手段とを具えたことを特徴とするディスプレイの
解像度測定装置。 - 【請求項2】 請求項1において、前記第2の計算手段
は、前記正弦波の周波数を変化させることによって前記
ディスプレイの周波数特性を求めることを特徴とするデ
ィスプレイの解像度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31384793A JP3523308B2 (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | ディスプレイの解像度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31384793A JP3523308B2 (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | ディスプレイの解像度測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07168543A JPH07168543A (ja) | 1995-07-04 |
JP3523308B2 true JP3523308B2 (ja) | 2004-04-26 |
Family
ID=18046231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31384793A Expired - Fee Related JP3523308B2 (ja) | 1993-12-14 | 1993-12-14 | ディスプレイの解像度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3523308B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002042727A1 (fr) * | 2000-11-24 | 2002-05-30 | Nippon Chemi-Con Corporation | Systeme d'affichage d'une valeur mesuree mtf de moniteur crt et son procede |
-
1993
- 1993-12-14 JP JP31384793A patent/JP3523308B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07168543A (ja) | 1995-07-04 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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