JPH10178660A - フォーカス測定方法 - Google Patents
フォーカス測定方法Info
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- JPH10178660A JPH10178660A JP33985596A JP33985596A JPH10178660A JP H10178660 A JPH10178660 A JP H10178660A JP 33985596 A JP33985596 A JP 33985596A JP 33985596 A JP33985596 A JP 33985596A JP H10178660 A JPH10178660 A JP H10178660A
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- Japan
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- signal
- focus
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- Pending
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- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
- Video Image Reproduction Devices For Color Tv Systems (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Details Of Television Scanning (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 所定の周波数成分を抽出して、定量的にフォ
ーカスの測定を行う。 【解決手段】 ＣＣＤラインセンサー１からは、測定対
象の陰極線管に表示される映像を検出した信号がクロッ
ク発生器２からの駆動クロック信号に従って取り出され
る。このラインセンサー１から取り出された信号が、ア
ンプ３を通じてバンドパスフィルタ４に供給されて、測
定に必要な周波数成分が抽出される。さらにこの抽出さ
れた信号が検波回路５に供給され、検波された信号がＡ
／Ｄ変換回路６に供給される。さらにこのＡ／Ｄ変換回
路６でデジタル値に変換された信号がパーソナルコンピ
ュータ７に供給される。そしてこのコンピュータ７の演
算処理装置８で所定の演算処理が行われ、この演算処理
装置８での演算処理によって得られた結果の値がコンピ
ュータ７の表示装置９に供給されて、フォーカス測定値
の表示が行われる。
ーカスの測定を行う。 【解決手段】 ＣＣＤラインセンサー１からは、測定対
象の陰極線管に表示される映像を検出した信号がクロッ
ク発生器２からの駆動クロック信号に従って取り出され
る。このラインセンサー１から取り出された信号が、ア
ンプ３を通じてバンドパスフィルタ４に供給されて、測
定に必要な周波数成分が抽出される。さらにこの抽出さ
れた信号が検波回路５に供給され、検波された信号がＡ
／Ｄ変換回路６に供給される。さらにこのＡ／Ｄ変換回
路６でデジタル値に変換された信号がパーソナルコンピ
ュータ７に供給される。そしてこのコンピュータ７の演
算処理装置８で所定の演算処理が行われ、この演算処理
装置８での演算処理によって得られた結果の値がコンピ
ュータ７の表示装置９に供給されて、フォーカス測定値
の表示が行われる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばカラー陰極
線管のフォーカス調整を行う際に使用して好適なフォー
カス測定方法に関するものである。
線管のフォーカス調整を行う際に使用して好適なフォー
カス測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えばカラー陰極線管のフォーカス調整
においては、従来から例えば表示画素の１画素分を点
灯、２画素分を消灯（１オン２オフ）したパターンを繰
り返し設けた表示を行い、この表示パターンを作業者が
観察して調整を行う方法が実施されている。しかしなが
らこのような方法では、作業者の個人差によって調整に
ばらつきが生じ易く、特に高精細の陰極線管の調整には
不適当である。
においては、従来から例えば表示画素の１画素分を点
灯、２画素分を消灯（１オン２オフ）したパターンを繰
り返し設けた表示を行い、この表示パターンを作業者が
観察して調整を行う方法が実施されている。しかしなが
らこのような方法では、作業者の個人差によって調整に
ばらつきが生じ易く、特に高精細の陰極線管の調整には
不適当である。
【０００３】これに対して、表示される１本のビームの
幅を、エリアまたはラインセンサーを用いて測定し、こ
のビームの幅が最小となるように調整を行う方法が提案
された。しかしこの方法では、センサー自体の暗電流等
による雑音や、表示面の雑音（ラスターの揺らぎやジッ
ター等）によって測定値が不安定となり、特に高精細の
陰極線管の調整には採用できないものであった。
幅を、エリアまたはラインセンサーを用いて測定し、こ
のビームの幅が最小となるように調整を行う方法が提案
された。しかしこの方法では、センサー自体の暗電流等
による雑音や、表示面の雑音（ラスターの揺らぎやジッ
ター等）によって測定値が不安定となり、特に高精細の
陰極線管の調整には採用できないものであった。
【０００４】また上述のセンサーを用いる測定では、例
えば色選別手段としていわゆるアパーチャグリルを用い
る陰極線管の場合に、このアパーチャグリルによって欠
落する部分の測定ができない。このため同期信号のシフ
ト等によって表示をシフトして測定を行う必要があり、
測定に時間が掛かってしまう。従ってこのような測定方
法は、特に製造ライン等における流れ作業での調整には
不向きであった。
えば色選別手段としていわゆるアパーチャグリルを用い
る陰極線管の場合に、このアパーチャグリルによって欠
落する部分の測定ができない。このため同期信号のシフ
ト等によって表示をシフトして測定を行う必要があり、
測定に時間が掛かってしまう。従ってこのような測定方
法は、特に製造ライン等における流れ作業での調整には
不向きであった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】この出願はこのような
点に鑑みて成されたものであって、解決しようとする問
題点は、従来の方法では、作業者の個人差によって調整
にばらつきが生じ易く、またセンサーを用いる測定は、
例えばアパーチャグリルを用いる陰極線管の測定では表
示をシフトするなどのために測定に時間が掛かり、製造
ライン等での調整に採用できなかったというものであ
る。
点に鑑みて成されたものであって、解決しようとする問
題点は、従来の方法では、作業者の個人差によって調整
にばらつきが生じ易く、またセンサーを用いる測定は、
例えばアパーチャグリルを用いる陰極線管の測定では表
示をシフトするなどのために測定に時間が掛かり、製造
ライン等での調整に採用できなかったというものであ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このため本発明において
は、任意の画素を単位としたパターンをセンサーで検出
すると共に、このパターンに応じた所定の周波数成分を
抽出して測定を行うようにしたものであって、これによ
れば、アパーチャグリル等の影響を受けることもなく、
定量的にフォーカスの測定を行うことができ、この測定
値を見ながら安定且つ良好なフォーカス調整を行うこと
ができる。
は、任意の画素を単位としたパターンをセンサーで検出
すると共に、このパターンに応じた所定の周波数成分を
抽出して測定を行うようにしたものであって、これによ
れば、アパーチャグリル等の影響を受けることもなく、
定量的にフォーカスの測定を行うことができ、この測定
値を見ながら安定且つ良好なフォーカス調整を行うこと
ができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】すなわち本発明においては、任意
の画素を単位としたパターンを表示し、この表示パター
ンをエリアまたはラインセンサーで検出し、この検出信
号の表示パターンに応じた所定の周波数成分を抽出して
フォーカスの測定を行うものである。以下、図面を参照
して本発明を説明するに、図１は本発明によるフォーカ
ス測定方法を適用した測定装置の一例の構成を示すブロ
ック図である。
の画素を単位としたパターンを表示し、この表示パター
ンをエリアまたはラインセンサーで検出し、この検出信
号の表示パターンに応じた所定の周波数成分を抽出して
フォーカスの測定を行うものである。以下、図面を参照
して本発明を説明するに、図１は本発明によるフォーカ
ス測定方法を適用した測定装置の一例の構成を示すブロ
ック図である。
【０００８】この図１において、例えばＣＣＤラインセ
ンサー１が設けられ、このラインセンサー１では、例え
ば測定対象の陰極線管（図示せず）に表示される映像が
検出される。さらにこのラインセンサー１に、クロック
発生源２からの任意の駆動クロック信号が供給される。
これによってラインセンサー１からは、上述の映像を検
出した信号が、上述の駆動クロック信号に従って取り出
される。
ンサー１が設けられ、このラインセンサー１では、例え
ば測定対象の陰極線管（図示せず）に表示される映像が
検出される。さらにこのラインセンサー１に、クロック
発生源２からの任意の駆動クロック信号が供給される。
これによってラインセンサー１からは、上述の映像を検
出した信号が、上述の駆動クロック信号に従って取り出
される。
【０００９】このラインセンサー１から取り出された信
号が、アンプ３を通じてバンドパスフィルタ４に供給さ
れて測定に必要な周波数成分が抽出される。さらにこの
抽出された信号が検波回路５に供給され、検波された信
号がＡ／Ｄ変換回路６に供給される。なお、クロック発
生源２からの駆動クロック信号は、Ａ／Ｄ変換回路６に
も供給されている。
号が、アンプ３を通じてバンドパスフィルタ４に供給さ
れて測定に必要な周波数成分が抽出される。さらにこの
抽出された信号が検波回路５に供給され、検波された信
号がＡ／Ｄ変換回路６に供給される。なお、クロック発
生源２からの駆動クロック信号は、Ａ／Ｄ変換回路６に
も供給されている。
【００１０】さらに、このＡ／Ｄ変換回路６でデジタル
値に変換された信号がパーソナルコンピュータ７に供給
されて、このコンピュータ７の演算処理装置８で所定の
演算処理が行われる。そしてこの演算処理装置８での演
算処理によって得られた結果の値が、コンピュータ７の
表示装置９に供給されて測定値の表示が行われる。
値に変換された信号がパーソナルコンピュータ７に供給
されて、このコンピュータ７の演算処理装置８で所定の
演算処理が行われる。そしてこの演算処理装置８での演
算処理によって得られた結果の値が、コンピュータ７の
表示装置９に供給されて測定値の表示が行われる。
【００１１】一方、この装置において、上述の陰極線管
（図示せず）には、例えば図２に示すような映像が表示
される。すなわちこの映像は、例えば表示画素または水
平走査線ごとに１点点灯、２点消灯（１オン２オフ）と
した縦横のパターンを、所定幅ずつ交互に設けたもので
ある。なおこの映像のパターンは、例えば従来の作業者
が調整を行う場合に用いられるものと同等のものであ
る。
（図示せず）には、例えば図２に示すような映像が表示
される。すなわちこの映像は、例えば表示画素または水
平走査線ごとに１点点灯、２点消灯（１オン２オフ）と
した縦横のパターンを、所定幅ずつ交互に設けたもので
ある。なおこの映像のパターンは、例えば従来の作業者
が調整を行う場合に用いられるものと同等のものであ
る。
【００１２】そしてこの陰極線管に表示された映像に対
して、例えば図中に黒線Ｘで示すようにラインセンサー
１が設けられる。これによってラインセンサー１から
は、例えば図中のａ及び図３のＡに示すような信号が取
り出される。さらにこの信号がアンプ３を通じてバンド
パスフィルタ４に供給される。これによって、このバン
ドパスフィルタ４からは例えば図３のＢに示すような信
号が取り出される。
して、例えば図中に黒線Ｘで示すようにラインセンサー
１が設けられる。これによってラインセンサー１から
は、例えば図中のａ及び図３のＡに示すような信号が取
り出される。さらにこの信号がアンプ３を通じてバンド
パスフィルタ４に供給される。これによって、このバン
ドパスフィルタ４からは例えば図３のＢに示すような信
号が取り出される。
【００１３】すなわちラインセンサー１からは、陰極線
管に表示された映像を検出した信号が、例えば図４のＡ
に示すように時系列で取り出される。ここでこの信号を
フーリエ変換によって周波数軸で表すと、例えば図４の
Ｂに示すようになる。この図で、のピークは上述の映
像のパターンによって生じる成分、のピークはアパー
チャグリルによって生じる成分、他のピークはその高調
波成分などである。
管に表示された映像を検出した信号が、例えば図４のＡ
に示すように時系列で取り出される。ここでこの信号を
フーリエ変換によって周波数軸で表すと、例えば図４の
Ｂに示すようになる。この図で、のピークは上述の映
像のパターンによって生じる成分、のピークはアパー
チャグリルによって生じる成分、他のピークはその高調
波成分などである。
【００１４】そこで上述の装置において、こののピー
クの周波数成分を取り出す目的でバンドパスフィルタ４
が設けられる。そしてこのバンドパスフィルタ４からの
信号が検波回路５に供給されることによって、この検波
回路５からは例えば図３のＣに示すような、バンドパス
フィルタ４で抽出された陰極線管に表示された映像のパ
ターンによって生じる信号成分のレベルが取り出され
る。
クの周波数成分を取り出す目的でバンドパスフィルタ４
が設けられる。そしてこのバンドパスフィルタ４からの
信号が検波回路５に供給されることによって、この検波
回路５からは例えば図３のＣに示すような、バンドパス
フィルタ４で抽出された陰極線管に表示された映像のパ
ターンによって生じる信号成分のレベルが取り出され
る。
【００１５】すなわちこの場合に、陰極線管のフォーカ
スが正常である場合には、表示される映像のパターンは
鮮明であり、バンドパスフィルタ４で取り出される信号
成分のレベルは大きくなる。これに対して陰極線管のフ
ォーカスがずれてくると、表示される映像のパターンが
不鮮明になり、バンドパスフィルタ４で取り出される信
号成分のレベルが小さくなる。
スが正常である場合には、表示される映像のパターンは
鮮明であり、バンドパスフィルタ４で取り出される信号
成分のレベルは大きくなる。これに対して陰極線管のフ
ォーカスがずれてくると、表示される映像のパターンが
不鮮明になり、バンドパスフィルタ４で取り出される信
号成分のレベルが小さくなる。
【００１６】そしてこの検波回路５から取り出される信
号成分のレベルを判別することによって、陰極線管のフ
ォーカスの状態を測定することができる。すなわちこの
検波回路５から取り出される信号成分のレベルをＡ／Ｄ
変換回路６でデジタル値に変換し、この値をコンピュー
タ７の表示装置９で表示することによって、陰極線管の
フォーカスの状態を定量的に測定、表示することができ
るものである。
号成分のレベルを判別することによって、陰極線管のフ
ォーカスの状態を測定することができる。すなわちこの
検波回路５から取り出される信号成分のレベルをＡ／Ｄ
変換回路６でデジタル値に変換し、この値をコンピュー
タ７の表示装置９で表示することによって、陰極線管の
フォーカスの状態を定量的に測定、表示することができ
るものである。
【００１７】なお実際に測定を行う場合には、例えば図
５に示すように、陰極線管１０の表示面の中央及び上
下、左右の９箇所に相当する位置に、それぞれ例えば４
５度の角度でＣＣＤラインセンサー１ａ〜１ｉの設けら
れた治具板１１が用いられる。ここでこの治具板１１
は、例えば測定される陰極線管１０の表示面の大きさ及
び形状（アスペクト比）等に応じて各種が用意されるも
のである。
５に示すように、陰極線管１０の表示面の中央及び上
下、左右の９箇所に相当する位置に、それぞれ例えば４
５度の角度でＣＣＤラインセンサー１ａ〜１ｉの設けら
れた治具板１１が用いられる。ここでこの治具板１１
は、例えば測定される陰極線管１０の表示面の大きさ及
び形状（アスペクト比）等に応じて各種が用意されるも
のである。
【００１８】そしてこの治具板１１が、上述の測定され
る陰極線管１０の表示面に装着されると共に、この陰極
線管１０に、例えば信号発生器１２からの上述の図２に
示めしたようなパターンを表示する映像信号が供給され
る。これによってＣＣＤラインセンサー１ａ〜１ｉで
は、陰極線管１０の表示面の各部分の上述の表示の映像
が検出される。
る陰極線管１０の表示面に装着されると共に、この陰極
線管１０に、例えば信号発生器１２からの上述の図２に
示めしたようなパターンを表示する映像信号が供給され
る。これによってＣＣＤラインセンサー１ａ〜１ｉで
は、陰極線管１０の表示面の各部分の上述の表示の映像
が検出される。
【００１９】さらにこれらのラインセンサー１ａ〜１ｉ
で検出された信号がマルチプレクサ１３で時分割的に選
択され、選択された信号がバンドパスフィルタ４〜Ａ／
Ｄ変換回路６を含むＩ／Ｏボード１４を通じてパーソナ
ルコンピュータ７に供給される。このようにして、ライ
ンセンサー１ａ〜１ｉで検出された各部のフォーカスの
測定値が、パーソナルコンピュータ７の表示装置９に表
示される。
で検出された信号がマルチプレクサ１３で時分割的に選
択され、選択された信号がバンドパスフィルタ４〜Ａ／
Ｄ変換回路６を含むＩ／Ｏボード１４を通じてパーソナ
ルコンピュータ７に供給される。このようにして、ライ
ンセンサー１ａ〜１ｉで検出された各部のフォーカスの
測定値が、パーソナルコンピュータ７の表示装置９に表
示される。
【００２０】従ってこの装置において、任意の画素を単
位としたパターンをセンサーで検出すると共に、このパ
ターンに応じた所定の周波数成分を抽出して測定を行う
ことによって、アパーチャグリル等の影響を受けること
もなく、定量的にフォーカスの測定を行うすることがで
き、この測定値を見ながら安定且つ良好なフォーカス調
整を行うことができる。
位としたパターンをセンサーで検出すると共に、このパ
ターンに応じた所定の周波数成分を抽出して測定を行う
ことによって、アパーチャグリル等の影響を受けること
もなく、定量的にフォーカスの測定を行うすることがで
き、この測定値を見ながら安定且つ良好なフォーカス調
整を行うことができる。
【００２１】これによって、従来の方法では、作業者の
個人差によって調整にばらつきが生じたり、またセンサ
ーを用いる測定は、例えばアパーチャグリルを用いる陰
極線管の測定では表示をシフトするなどのために測定に
時間が掛かるなどの問題点があったものを、本発明によ
ればこれらの問題点が解消され、特に製造ラインでの調
整等においてもこの方法を容易に採用することができる
ものである。
個人差によって調整にばらつきが生じたり、またセンサ
ーを用いる測定は、例えばアパーチャグリルを用いる陰
極線管の測定では表示をシフトするなどのために測定に
時間が掛かるなどの問題点があったものを、本発明によ
ればこれらの問題点が解消され、特に製造ラインでの調
整等においてもこの方法を容易に採用することができる
ものである。
【００２２】なお、上述の装置において、バンドパスフ
ィルタ４で取り出される信号成分の周波数は、例えば以
下のようにして求めることができる。すなわち周波数を
求めるには、検出されるデータのサンプル数ｎと、そこ
に含まれる求めたい信号の波の数ｗが必要になる。ここ
で求めたい信号の波の数ｗは、例えば次の数式によって
求められる。
ィルタ４で取り出される信号成分の周波数は、例えば以
下のようにして求めることができる。すなわち周波数を
求めるには、検出されるデータのサンプル数ｎと、そこ
に含まれる求めたい信号の波の数ｗが必要になる。ここ
で求めたい信号の波の数ｗは、例えば次の数式によって
求められる。
【００２３】
【数１】 但し、θはセンサーの設置角度である。また信号パター
ンドット数は、例えば上述の１オン２オフのパターンで
は１＋２＝３である。
ンドット数は、例えば上述の１オン２オフのパターンで
は１＋２＝３である。
【００２４】従って上述の装置において、例えばサンプ
ル数ｎをクロック信号によって１秒間にラインセンサー
１から取り出される検出信号の数（周波数（Ｈｚ））と
することにより、求められる波の数ｗは、１秒間の波の
数＝周波数（Ｈｚ）を求めることができる。すなわちこ
の周波数の通過されるバンドパスフィルタ４を設けるこ
とによって、上述ののピークの信号成分を取り出すこ
とができる。
ル数ｎをクロック信号によって１秒間にラインセンサー
１から取り出される検出信号の数（周波数（Ｈｚ））と
することにより、求められる波の数ｗは、１秒間の波の
数＝周波数（Ｈｚ）を求めることができる。すなわちこ
の周波数の通過されるバンドパスフィルタ４を設けるこ
とによって、上述ののピークの信号成分を取り出すこ
とができる。
【００２５】こうして上述のフォーカス測定方法によれ
ば、任意の画素を単位としたパターンを表示し、この表
示パターンをエリアまたはラインセンサーで検出し、こ
の検出信号の表示パターンに応じた所定の周波数成分を
抽出してフォーカスの測定を行うことにより、アパーチ
ャグリル等の影響を受けることもなく、定量的にフォー
カスの測定を行うすることができるものである。
ば、任意の画素を単位としたパターンを表示し、この表
示パターンをエリアまたはラインセンサーで検出し、こ
の検出信号の表示パターンに応じた所定の周波数成分を
抽出してフォーカスの測定を行うことにより、アパーチ
ャグリル等の影響を受けることもなく、定量的にフォー
カスの測定を行うすることができるものである。
【００２６】なお、上述の実施例ではバンドパスフィル
タ４をハードウェアで設けた場合を示したが、例えばバ
ンドパスフィルタをソフトウェアにしてパーソナルコン
ピュータ７に設けることもできる。すなわち図６はその
場合の構成の一例を示す。この図６において、アンプ３
からの信号はＡ／Ｄ変換回路６を通じてパーソナルコン
ピュータ７に供給される。
タ４をハードウェアで設けた場合を示したが、例えばバ
ンドパスフィルタをソフトウェアにしてパーソナルコン
ピュータ７に設けることもできる。すなわち図６はその
場合の構成の一例を示す。この図６において、アンプ３
からの信号はＡ／Ｄ変換回路６を通じてパーソナルコン
ピュータ７に供給される。
【００２７】さらにこのパーソナルコンピュータ７で
は、例えばＡ／Ｄ変換回路６から供給されたデジタル値
のデータが一旦メモリ２０に記憶される。そしてこのメ
モリ２０に記憶されたデータが、例えば演算処理装置８
によって読み出されて、例えばソフトウェアによるバン
ドパスフィルタの演算処理が行われる。このようにして
も上述の実施例と同様の処理を行うことができるもので
ある。
は、例えばＡ／Ｄ変換回路６から供給されたデジタル値
のデータが一旦メモリ２０に記憶される。そしてこのメ
モリ２０に記憶されたデータが、例えば演算処理装置８
によって読み出されて、例えばソフトウェアによるバン
ドパスフィルタの演算処理が行われる。このようにして
も上述の実施例と同様の処理を行うことができるもので
ある。
【００２８】
【発明の効果】この発明によれば、任意の画素を単位と
したパターンをセンサーで検出すると共に、このパター
ンに応じた所定の周波数成分を抽出して測定を行うこと
によって、アパーチャグリル等の影響を受けることもな
く、定量的にフォーカスの測定を行うすることができ、
この測定値を見ながら安定且つ良好なフォーカス調整を
行うことができるようになった。
したパターンをセンサーで検出すると共に、このパター
ンに応じた所定の周波数成分を抽出して測定を行うこと
によって、アパーチャグリル等の影響を受けることもな
く、定量的にフォーカスの測定を行うすることができ、
この測定値を見ながら安定且つ良好なフォーカス調整を
行うことができるようになった。
【００２９】これによって、従来の方法では、作業者の
個人差によって調整にばらつきが生じたり、またセンサ
ーを用いる測定は、例えばアパーチャグリルを用いる陰
極線管の測定では表示をシフトするなどのために測定に
時間が掛かるなどの問題点があったものを、本発明によ
ればこれらの問題点が解消され、特に製造ラインでの調
整等においてもこの方法を容易に採用することができる
ものである。
個人差によって調整にばらつきが生じたり、またセンサ
ーを用いる測定は、例えばアパーチャグリルを用いる陰
極線管の測定では表示をシフトするなどのために測定に
時間が掛かるなどの問題点があったものを、本発明によ
ればこれらの問題点が解消され、特に製造ラインでの調
整等においてもこの方法を容易に採用することができる
ものである。
【図１】本発明のフォーカス測定方法が適用された装置
の一例の構成図である。
の一例の構成図である。
【図２】その動作の説明のための図である。
【図３】その説明のための図である。
【図４】その説明のための図である。
【図５】本発明のフォーカス測定方法が適用された装置
の全体の構成図である。
の全体の構成図である。
【図６】本発明のフォーカス測定方法が適用された装置
の他の例の構成図である。
の他の例の構成図である。
１ ＣＣＤラインセンサー、２ クロック発生源、３
アンプ、４ バンドパスフィルタ５、 Ａ／Ｄ変換回
路、７ パーソナルコンピュータ、８ 演算処理装置、
９ 表示装置
アンプ、４ バンドパスフィルタ５、 Ａ／Ｄ変換回
路、７ パーソナルコンピュータ、８ 演算処理装置、
９ 表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０４Ｎ 9/28 Ｈ０４Ｎ 9/28 Ａ
Claims (4)
- 【請求項１】 任意の画素を単位としたパターンを表示
し、 この表示パターンをエリアまたはラインセンサーで検出
し、 この検出信号の上記表示パターンに応じた所定の周波数
成分を抽出してフォーカスの測定を行うことを特徴とす
るフォーカス測定方法。 - 【請求項２】 請求項１記載のフォーカス測定方法にお
いて、 上記表示パターンには水平及び垂直の所定のパターンが
所定幅ずつ交互に設けられると共に、 上記エリアまたはラインセンサーを上記水平及び垂直に
対して所定の角度で設けて測定を行うことを特徴とする
フォーカス測定方法。 - 【請求項３】 請求項１記載のフォーカス測定方法にお
いて、 上記抽出される周波数成分は少なくとも上記パターンの
表示される陰極線管の大きさに応じて変更されることを
特徴とするフォーカス測定方法。 - 【請求項４】 請求項１記載のフォーカス測定方法にお
いて、 上記周波数成分の抽出は任意の帯域通過フィルタ手段を
用いて行うことを特徴とするフォーカス測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33985596A JPH10178660A (ja) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | フォーカス測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33985596A JPH10178660A (ja) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | フォーカス測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10178660A true JPH10178660A (ja) | 1998-06-30 |
Family
ID=18331469
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33985596A Pending JPH10178660A (ja) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | フォーカス測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10178660A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111726585A (zh) * | 2020-06-28 | 2020-09-29 | 许昌学院 | 一种大数据信息管理系统 |
-
1996
- 1996-12-19 JP JP33985596A patent/JPH10178660A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111726585A (zh) * | 2020-06-28 | 2020-09-29 | 许昌学院 | 一种大数据信息管理系统 |
| CN111726585B (zh) * | 2020-06-28 | 2021-08-13 | 许昌学院 | 一种大数据信息管理系统 |
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