JP2005331929A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005331929A5 JP2005331929A5 JP2005116438A JP2005116438A JP2005331929A5 JP 2005331929 A5 JP2005331929 A5 JP 2005331929A5 JP 2005116438 A JP2005116438 A JP 2005116438A JP 2005116438 A JP2005116438 A JP 2005116438A JP 2005331929 A5 JP2005331929 A5 JP 2005331929A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- pixel
- display
- panel
- obtaining
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 31
- 238000003703 image analysis method Methods 0.000 claims 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims 8
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims 2
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 claims 2
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 claims 2
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 claims 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims 1
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005116438A JP2005331929A (ja) | 2004-04-19 | 2005-04-14 | 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004122618 | 2004-04-19 | ||
| JP2005116438A JP2005331929A (ja) | 2004-04-19 | 2005-04-14 | 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005331929A JP2005331929A (ja) | 2005-12-02 |
| JP2005331929A5 true JP2005331929A5 (enExample) | 2008-03-21 |
Family
ID=35486595
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005116438A Withdrawn JP2005331929A (ja) | 2004-04-19 | 2005-04-14 | 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2005331929A (enExample) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100769193B1 (ko) * | 2006-02-06 | 2007-10-23 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 평판표시장치와 그 화질제어 방법 및 장치 |
| KR101182327B1 (ko) | 2006-06-29 | 2012-09-24 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시장치와 그 화질제어 방법 |
| JP2008096302A (ja) * | 2006-10-12 | 2008-04-24 | Yokogawa Electric Corp | 欠陥検査装置 |
| JP5326788B2 (ja) * | 2009-05-12 | 2013-10-30 | カシオ計算機株式会社 | 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法 |
| JP2012215425A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Sony Corp | 輝度ムラ検出装置、輝度ムラ検出方法及び表示装置 |
| WO2013118304A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 検査装置、検査方法、および記録媒体 |
| CN104137171B (zh) * | 2012-03-01 | 2017-03-29 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 显示设备的显示不均匀检测方法及其装置 |
| CN104160439B (zh) * | 2012-03-01 | 2017-03-01 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 显示设备的显示不均匀检测方法以及其装置 |
| JP6043178B2 (ja) * | 2012-12-18 | 2016-12-14 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法 |
| JP6208426B2 (ja) * | 2012-12-18 | 2017-10-04 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置および自動ムラ検出方法 |
| KR102090706B1 (ko) * | 2012-12-28 | 2020-03-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치, 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법 |
| JP6278706B2 (ja) * | 2013-02-19 | 2018-02-14 | 株式会社イクス | パターン位置検出方法、パターン位置検出システム及びこれらを用いた画質調整技術 |
| JP5603964B2 (ja) * | 2013-03-22 | 2014-10-08 | 株式会社東芝 | 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム |
| US10755133B2 (en) * | 2018-02-22 | 2020-08-25 | Samsung Display Co., Ltd. | System and method for line Mura detection with preprocessing |
| KR102880769B1 (ko) * | 2019-07-31 | 2025-11-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 얼룩 검출 장치, 얼룩 검출 방법 및 표시 장치 |
| GB2614400B (en) * | 2021-12-09 | 2024-02-14 | Lg Display Co Ltd | Method of compensating display device |
| CN120198787B (zh) * | 2025-05-26 | 2025-07-29 | 中国人民解放军海军航空大学 | 面向边缘结构清晰度的sar图像质量评价方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3343444B2 (ja) * | 1994-07-14 | 2002-11-11 | 株式会社アドバンテスト | Lcdパネル画質検査装置及びlcd画像プリサンプリング方法 |
| JPH08327497A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-13 | Sanyo Electric Co Ltd | カラー液晶表示パネルの検査方法 |
| JP2000105167A (ja) * | 1998-09-30 | 2000-04-11 | Advantest Corp | 画質検査装置のアドレス・キャリブレーション方法 |
| JP3794298B2 (ja) * | 2001-08-02 | 2006-07-05 | セイコーエプソン株式会社 | 検査装置 |
-
2005
- 2005-04-14 JP JP2005116438A patent/JP2005331929A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2005331929A5 (enExample) | ||
| US9595087B2 (en) | Image processing method for detail enhancement and noise reduction | |
| CN103098456B (zh) | 图像处理单元及图像处理方法 | |
| CN107024485B (zh) | 曲面显示屏的缺陷检测方法和装置 | |
| CN109100363B (zh) | 一种贴合异物缺陷与灰尘的区分方法及系统 | |
| CN108922463A (zh) | 显示面板的残像等级检测方法和残像等级检测装置 | |
| KR101773887B1 (ko) | 적외선 해상도 및 융합에 따른 대비 강화 | |
| JP2002257679A (ja) | 輝度情報取得方法、画質評価方法、表示装置の輝度情報取得装置および表示装置の画質評価装置 | |
| CN104867123A (zh) | 利用融合的红外线分辨率与对比度增强 | |
| TWI751869B (zh) | 運算裝置及用於近眼顯示裝置之缺陷偵測方法 | |
| CN104412089A (zh) | 液晶显示面板的检查方法和液晶显示面板的检查装置 | |
| CN116912233B (zh) | 基于液晶显示屏的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 | |
| JP2005331929A (ja) | 画像解析方法、画像解析プログラム、及びそれらを有する画素評価システム | |
| JP2009229197A (ja) | 線状欠陥検出方法および線状欠陥検出装置 | |
| JPWO2014013792A1 (ja) | ノイズ評価方法、画像処理装置、撮像装置およびプログラム | |
| CN111369513A (zh) | 一种异常检测方法、装置、终端设备及存储介质 | |
| US20120249837A1 (en) | Methods and Systems for Real-Time Image-Capture Feedback | |
| WO2008007729A1 (fr) | Procédé d'analyse d'image, appareil d'analyse d'image, appareil d'inspection, programme d'analyse d'image et support d'enregistrement apte à être lu par ordinateur | |
| JP2005283197A (ja) | 画面のスジ欠陥検出方法及び装置 | |
| CN116129787A (zh) | 画面补偿方法及装置 | |
| CN116051373A (zh) | 一种图像拼接方法、图像拼接装置及终端设备 | |
| JP5633733B2 (ja) | 暗領域ノイズ補正装置 | |
| JP4520880B2 (ja) | しみ検査方法及びしみ検査装置 | |
| CN119479513A (zh) | 一种亮暗线定位方法、电子设备及计算机可读存储介质 | |
| JP2004219176A (ja) | 画素ムラ欠陥の検出方法及び装置 |