JP2005315635A - ファイバブラッググレーティング物理量計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】予めファイバブラッググレーティングセンサ4の接続位置から決まるパルス光の反射時間情報を記憶し、その情報をもとに前記ファイバブラッググレーティングセンサ4の反射光パルス列信号をA/D変換するためのタイミング信号を送出する信号処理制御装置10と、前記信号処理制御装置10のタイミング信号により前記ファイバブラッググレーティングセンサ4の反射光パルス列信号の中から1つ以上のパルス信号毎にデジタル化するA/D変換装置12と、複数回の入射パルス光に対する前記A/D変換装置12の出力データを処理し、反射光パルス列信号データを用いて物理量を算出する信号演算処理装置9とを設ける。
【選択図】図1
Description
FBG素子は光センシングに共通の多くの利点を持つとともに、従来の光ファイバ分布センシングの課題であった測定・応答の遅さ、感度不足といったデメリットを克服できる技術として期待されている。
ここで問題となるのが、測定時間と測定精度である。
測定精度に関しては、FBGセンサで温度以外の物理量を測定する場合、温度による反射波長の変化と測定対象とする物理量の影響を識別/分離するための各種手法が検討されている。
また、振動測定時の温度補償についても具体的で、有効的な改良はなされていない。
まず、本発明の第1の実施の形態を図1乃至図4を参照して説明する。本実施の形態によるFBG物理量計測装置は、FBGセンサを照射する光を発生させる広帯域光源1、広帯域光源1から放出された光の波長をある特定の帯域に制限する波長可変フィルタ2、その波長帯域が制限された連続光をパルス光に変換する光パルス化装置3、図示しない物理量計測対象に設けられ、パルス化された光をFBGセンサ4に導く光ファイバ5、異なる位置に配置されたFBGセンサ4にパルス光を分岐させる光分岐器6、FBGセンサ4にパルス光の到達する時間を調整する遅延装置7、FBGセンサ4から戻ってくる反射パルス光を検出処理する光検出処理部8、検出した信号を処理する信号演算処理部9、各装置および処理部の制御を行う信号処理制御部10とから構成されている。
枝状に分岐した分岐光ファイバ5A、5BにはそれぞれFBGセンサ4が直列に接続されており、送り出されたパルス光は、光パルスの波長帯とFBGセンサ4の反射波長帯が合致する場合には反射される。
各分岐光ファイバ5A、5Bに接続されたFBGセンサ4で反射されたパルス光は、各分岐光ファイバに遅延装置7が挿入されているため、光検出処理部8に到達する時間がそれぞれ異なる。
このようにして得られたデータは信号演算処理部9で演算処理され、所定の物理量情報が得られる。
図2は第1の実施の形態における反射されたパルス光の処理装置の構成を示す図であり、図3は受信データの処理の概要を示したものである。
そのため、光パルス化装置3へのトリガ信号(図3(d))を時間起点として各パルス光の反射時間に応じたゲート信号(図3(e))を容易に作成することができ、個々にパルス信号をA/D変換することができる。
反射光パルス列はFBGセンサ4の接続条件によって決まるので、常に同じ時間間隔でパルス列が得られる。
また、波高値の複数の入射パルスに対する平均化処理も、上記演算を繰返し行うことにより容易に行うことができる。
また、物理量算出に必要なパルスの波高値をベースラインの変動に影響されることなく測定することができるので、測定時間の短縮と物理量測定精度が向上する。
図5は本実施の形態における信号処理の流れを示したものであり、図3に示す第1の実施の形態における信号処理工程と同一の工程には同一の符号を付している。
この反射光パルス列は光検出器11で検出され電気信号に変換される(図5(c))。
これにより基の信号から時間遅延された信号を差し引いて(図5(i))、遅延時間をうまく調節すると図5に示すように差し引きした信号がゼロとなる時間ができる。
この信号はピーク値検出回路を通すことにより容易にピーク値を求めることができる。
また、比較回路などにより積分信号の立下りを検知し、これをトリガとしてピーク値をA/D変換することができる(図5(f))。
以上のように本実施の形態によれば、反射光パルスを捨てることなく処理し、かつA/D変換するデータ数を削減することができるので、測定時間の短縮を図ることができる。
なお、以下の実施の形態の説明において図1、図2に示す第1の実施の形態と同一部分には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
反射光パルスは1つの光検出器11で検出され、光信号から電気信号に変換される。
さらに、積分器16aと積分器16bとで積算された信号は1つのA/D変換器12に送られ、順次デジタルデータに変換される。
光パルス化装置3では、ある一定の周期で広帯域光源1から放出された連続光をパルス光に変換しているが、その周期は枝上に分岐した分岐光ファイバ5A、5B上に配置されたFBGセンサ4の反射光パルス全てが戻ってくる時間よりも長くなるように設定されている。
反射光パルス列は光検出器11で電気信号に変換・増幅される(図7(c))。
また、2つの積分器16aと16bで積算された信号は、信号処理制御部10からのA/D変換タイミング信号(図示せず)に従って、電気信号をA/D変換する(図7(f))。
以上のように本実施の形態によれば、送出するパルス光に対して反射して戻ってくる反射光パルス列の信号を捨て去ることなく全て処理し、物理量算出に使用することができるので、測定時間の短縮化を図ることができる。
図9は波長の検出処理に関する装置の構成を示す図で、赤外線領域の波長を持つFBGセンサ4からの反射光は分光装置17で分光された後に、波長変換装置18で光検出器アレイ19の感度の高い波長帯に反射光の波長帯域を変換する。
ここで、波長変換装置18はFBGセンサの使用波長帯域(例えば、CバンドおよびLバンド)の光を可視光の帯域に変換する蛍光体を用いる。
FBGセンサの反射光波長は、反射光波形の重心位置から中心波長を求める方法などが用いられているが、波長により変換効率が異なると反射光波形が歪むため、中心波長を正しく演算することができなくなってしまう恐れがある。
図10に示すように、本実施の形態では、FBGセンサ4を複数の分岐光ファイバ5A、5Bに接続する。このとき同じ分岐光ファイバに接続されたFBGセンサ4の反射波長はそれぞれ異なる値を持つようにする。
光源は複数のFBGセンサ4の反射光波長をカバーするように広帯域光源1を用いる。
反射光パルス列はその波長に応じて分光されるため異なる波長をもった光は検出器アレイ19の異なる素子に到達する。
以上のように本実施の形態によれば、パルス化した光と検出器アレイ19を用いることにより多数のFBGセンサ4を用いて物理量を短時間で測定することができる。
公知技術で示されているように、本願のタイプのFBG物理量計測装置は、温度や歪みのような静的な物理量だけでなく、振動といった動的な物理量も測定できる。
FBGセンサ4の時間的変動を測定する場合、図13(a)に示すように波長可変フィルタ2の波長を予めFBGセンサ4の反射波長が波長可変フィルタ2のスロープ部分にかかるような位置Lに設定しておく。
この透過光量を光検出器11で変換した電気信号についてFFT等の周波数解析を行えば、FBGセンサ4の振動状態を測定することができる。
さらに、FBGセンサの温度と波長の関係を予め信号演算処理部9に記憶しておけば、振幅中心値の変化から振動センサの温度を知ることもできる。
前記実施の形態においては、FBGセンサの出力をソフト的に補正したが、FBGセンサから得られた検出器信号の中心値を使って、波長可変フィルタの波長を変更するようにしても良い。
波長可変フィルタ2の波長を上記のように再設定して測定を行えば、測定精度を向上させることができる。
また、再設定が必要なFBGセンサが複数ある場合には、波長可変フィルタ2の再設定する必要のある波長値が昇順あるいは降順の一方向の調整で可能となるように行うものとする。
以上のように本実施の形態によれば、FBGセンサの温度が変化した場合にも、その影響を補正する補正装置を設けたので、振動といった動的な物理量の測定においても精度の良い測定が行える。
Claims (11)
- 波長帯域に広がりのある光を発生する広帯域光源と、前記広帯域光源から所定の波長帯の帯域光を選択的に抽出する波長可変フィルタと、前記帯域光から光パルスを生成する光パルス化装置と、物理量計測対象に設けられた光ファイバを介して前記光パルス化装置に接続されたファイバブラッググレーティングセンサとを備え、時分割多重方式で多数点の物理量を計測するファイバブラッググレーティング物理量計測装置において、予め前記ファイバブラッググレーティングセンサの接続位置から決まるパルス光の反射時間情報を記憶し、その情報をもとに前記ファイバブラッググレーティングセンサの反射光パルス列信号をA/D変換するためのタイミング信号を送出する信号処理制御装置と、前記信号処理制御装置の前記タイミング信号により前記ファイバブラッググレーティングセンサの前記反射光パルス列信号の中から1つ以上のパルス信号毎にデジタル化するA/D変換装置と、複数回の入射パルス光に対する前記A/D変換装置の出力データを処理し、前記反射光パルス列信号データを用いて物理量を算出する信号演算処理装置とからなることを特徴とするファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 前記信号処理制御装置に記憶された前記反射光パルスのある時間帯と、ない時間帯との情報を用いて、前記A/D変換装置で得られた個々の前記反射光パルスに対するデジタルデータ列の中から、前記反射光パルスのある区間のデジタルデータの平均値から前記反射光パルスのない区間のデジタルデータの平均値を減算したものを前記反射光パルスの波高値として採用し、前記ファイバブラッググレーティングセンサの前記反射光パルスの中心波長を演算する演算装置を有することを特徴とする請求項1記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 前記ファイバブラッググレーティングセンサからの前記反射光パルスを測定して得られた信号と、前記反射光パルスを測定して得られた信号を時間遅延させた信号とを減算処理し、さらに減算処理された前記信号を積分処理した信号のピーク値から前記反射光パルスの波高値を求めることにより前記反射光パルスの中心波長を算出し、物理量を求めることを特徴とする請求項1記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 複数の分岐光ファイバからの前記反射光パルスをそれぞれ積分する複数の積分器を設け、予め前記ファイバブラッググレーティングセンサの接続位置から決まる光パルスの反射時間情報を記憶し、その情報をもとに前記反射光パルスを全て処理するように前記積分器を切り替える信号を送出する信号処理制御装置とを設けたことを特徴とする請求項1記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 前記信号処理制御装置が前記反射光パルス列中の各々の光パルスとそれを処理する前記積分器が同じ組み合わせとなるように制御する機能を有することを特徴とする請求項4記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 前記反射光パルスを分光する装置と、分光された前記反射光パルスを検出する光検出器アレイと、前記ファイバブラッググレーティングセンサの接続位置から決まる反射時間情報を記憶し、その情報をもとに前記光検出器アレイの信号取得タイミングを制御する信号を送出する信号処理制御装置と、前記検出器アレイの信号を用いて物理量を算出する演算装置とからなることを特徴とする請求項1記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 赤外線領域の反射光波長を持つ前記ファイバブラッググレーティングセンサからの前記反射光パルスを分光する分光装置と、前記分光装置により分光された前記反射光パルスを可視光に変換する変換装置と、前記可視光を検出する検出器アレイと、前記変換装置の変換特性に応じて前記検出器アレイ出力を補正する補正装置とを有することを特徴とする請求項6記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 予め記憶しておいた波長可変フィルタに対する前記ファイバブラッググレーティングセンサの振動中心波長における前記光検出器出力の関係と、測定された前記ファイバブラッググレーティングセンサの前記振動中心波長の関係から、前記ファイバブラッググレーティングセンサの出力を補正する補正装置を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 予め記憶しておいた前記波長可変フィルタに対する前記ファイバブラッググレーティングセンサの前記振動中心波長における前記光検出器出力の関係と、測定された前記ファイバブラッググレーティングセンサの振動中心波長の関係を用いて、前記波長可変フィルタの波長を設定しなおす補正装置を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 予め記憶しておいた前記波長可変フィルタに対する前記ファイバブラッググレーティングセンサの前記振動中心波長における前記光検出器出力の関係と、測定された前記ファイバブラッググレーティングセンサの前記振動中心波長の関係が、あるしきい値を超えた場合に、前記波長可変フィルタの波長の再設定を行う補正装置を有することを特徴とする請求項9記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
- 前記波長可変フィルタの波長を再設定する場合に、波長を昇順あるいは降順のどちらかとなるように前記波長可変フィルタを動作させる機能を備えたことを特徴とする請求項9および請求項10のいずれかに記載のファイバブラッググレーティング物理量計測装置。
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Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007139482A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | Technical Research & Development Institute Ministry Of Defence | 光ファイバセンサ装置 |
JP2008096150A (ja) * | 2006-10-06 | 2008-04-24 | Anritsu Corp | Fbgセンサシステム |
JP2008173396A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Olympus Corp | 内視鏡システム |
JP2009279344A (ja) * | 2008-05-26 | 2009-12-03 | Toshiba Corp | 画像診断装置および画像表示装置 |
JP2010038880A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Toshiba Corp | レーザ超音波検査装置およびレーザ超音波検査方法 |
JP2012063150A (ja) * | 2010-09-14 | 2012-03-29 | Tokyo Electron Ltd | 物理状態測定装置及び物理状態測定方法 |
KR101268115B1 (ko) * | 2011-03-21 | 2013-05-29 | (주)파이버프로 | 광 스펙트로미터 기반 다채널 고속 물리량 측정 시스템 |
JP2013113830A (ja) * | 2011-12-01 | 2013-06-10 | Hitachi Ltd | Fbgセンサの多点計測方法および多点計測装置 |
JP2013130467A (ja) * | 2011-12-21 | 2013-07-04 | Anritsu Corp | Fbgセンサシステム |
JP2014153094A (ja) * | 2013-02-05 | 2014-08-25 | Fuji Heavy Ind Ltd | 変位計測装置及び変位計測方法 |
KR101452931B1 (ko) | 2012-04-09 | 2014-10-21 | (주)파이버프로 | 비 접촉식 물리량 측정 시스템 |
JP2015031594A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | アンリツ株式会社 | 多チャンネルfbgセンサモニタシステム及び多チャンネルfbgセンサモニタ方法 |
JP2017207458A (ja) * | 2016-05-21 | 2017-11-24 | 日鐵住金溶接工業株式会社 | Fbgを用いる物理量測定装置 |
CN110595376A (zh) * | 2019-09-23 | 2019-12-20 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 一种大尺度复合材料应变空间高密度监测方法及系统 |
CN113959602A (zh) * | 2021-11-02 | 2022-01-21 | 武汉雷施尔光电信息工程有限公司 | 一种光纤光栅高温传感器超量程使用的系数快速修正方法 |
CN117179748A (zh) * | 2023-08-25 | 2023-12-08 | 嘉兴学院G60科创走廊产业与创新研究院 | 一种光纤光栅生命体征监测装置和方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08145736A (ja) * | 1994-11-22 | 1996-06-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバセンサ |
JPH08313600A (ja) * | 1995-05-17 | 1996-11-29 | Advantest Corp | 光化学ホールバーニング測定装置及び光偏波ホールバーニング測定装置 |
JPH1131968A (ja) * | 1997-07-10 | 1999-02-02 | Rohm Co Ltd | Ad変換器 |
JP2001511895A (ja) * | 1997-02-14 | 2001-08-14 | オプトプラン・アクティーゼルスカブ | 光波長測定装置 |
JP3276306B2 (ja) * | 1997-06-06 | 2002-04-22 | アンリツ株式会社 | 光測定器 |
JP2002131022A (ja) * | 2000-10-23 | 2002-05-09 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光ファイバセンサシステムおよびレーザ光の波長測定方法 |
JP2002352369A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-06 | Toshiba Corp | 光ファイバ多点物理量計測システム |
JP2003254835A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Hitachi Cable Ltd | 波長計測方法及びその装置 |
JP2003254834A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Toshiba Corp | ファイバブラッググレーティング素子反射光波長計測処理装置 |
-
2004
- 2004-04-27 JP JP2004131528A patent/JP4660113B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08145736A (ja) * | 1994-11-22 | 1996-06-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバセンサ |
JPH08313600A (ja) * | 1995-05-17 | 1996-11-29 | Advantest Corp | 光化学ホールバーニング測定装置及び光偏波ホールバーニング測定装置 |
JP2001511895A (ja) * | 1997-02-14 | 2001-08-14 | オプトプラン・アクティーゼルスカブ | 光波長測定装置 |
JP3276306B2 (ja) * | 1997-06-06 | 2002-04-22 | アンリツ株式会社 | 光測定器 |
JPH1131968A (ja) * | 1997-07-10 | 1999-02-02 | Rohm Co Ltd | Ad変換器 |
JP2002131022A (ja) * | 2000-10-23 | 2002-05-09 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光ファイバセンサシステムおよびレーザ光の波長測定方法 |
JP2002352369A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-06 | Toshiba Corp | 光ファイバ多点物理量計測システム |
JP2003254834A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Toshiba Corp | ファイバブラッググレーティング素子反射光波長計測処理装置 |
JP2003254835A (ja) * | 2002-03-04 | 2003-09-10 | Hitachi Cable Ltd | 波長計測方法及びその装置 |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4671842B2 (ja) * | 2005-11-16 | 2011-04-20 | 防衛省技術研究本部長 | 光ファイバセンサ装置 |
JP2007139482A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | Technical Research & Development Institute Ministry Of Defence | 光ファイバセンサ装置 |
JP2008096150A (ja) * | 2006-10-06 | 2008-04-24 | Anritsu Corp | Fbgセンサシステム |
JP4486951B2 (ja) * | 2006-10-06 | 2010-06-23 | アンリツ株式会社 | Fbgセンサシステム |
JP2008173396A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Olympus Corp | 内視鏡システム |
JP2009279344A (ja) * | 2008-05-26 | 2009-12-03 | Toshiba Corp | 画像診断装置および画像表示装置 |
JP2010038880A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Toshiba Corp | レーザ超音波検査装置およびレーザ超音波検査方法 |
JP2012063150A (ja) * | 2010-09-14 | 2012-03-29 | Tokyo Electron Ltd | 物理状態測定装置及び物理状態測定方法 |
KR101268115B1 (ko) * | 2011-03-21 | 2013-05-29 | (주)파이버프로 | 광 스펙트로미터 기반 다채널 고속 물리량 측정 시스템 |
US9062965B2 (en) | 2011-12-01 | 2015-06-23 | Hitachi, Ltd. | Multi-point measuring apparatus and method of FBG sensor having multiple delaying fibers |
JP2013113830A (ja) * | 2011-12-01 | 2013-06-10 | Hitachi Ltd | Fbgセンサの多点計測方法および多点計測装置 |
JP2013130467A (ja) * | 2011-12-21 | 2013-07-04 | Anritsu Corp | Fbgセンサシステム |
KR101452931B1 (ko) | 2012-04-09 | 2014-10-21 | (주)파이버프로 | 비 접촉식 물리량 측정 시스템 |
JP2014153094A (ja) * | 2013-02-05 | 2014-08-25 | Fuji Heavy Ind Ltd | 変位計測装置及び変位計測方法 |
JP2015031594A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | アンリツ株式会社 | 多チャンネルfbgセンサモニタシステム及び多チャンネルfbgセンサモニタ方法 |
JP2017207458A (ja) * | 2016-05-21 | 2017-11-24 | 日鐵住金溶接工業株式会社 | Fbgを用いる物理量測定装置 |
CN110595376A (zh) * | 2019-09-23 | 2019-12-20 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 一种大尺度复合材料应变空间高密度监测方法及系统 |
CN113959602A (zh) * | 2021-11-02 | 2022-01-21 | 武汉雷施尔光电信息工程有限公司 | 一种光纤光栅高温传感器超量程使用的系数快速修正方法 |
CN113959602B (zh) * | 2021-11-02 | 2024-04-26 | 武汉雷施尔光电信息工程有限公司 | 一种光纤光栅高温传感器超量程使用的系数快速修正方法 |
CN117179748A (zh) * | 2023-08-25 | 2023-12-08 | 嘉兴学院G60科创走廊产业与创新研究院 | 一种光纤光栅生命体征监测装置和方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4660113B2 (ja) | 2011-03-30 |
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