JP2005311198A5 - - Google Patents
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- 原版を保持して移動する原版ステージと、基板を保持して移動する基板ステージと、前記原版のパターンを前記基板に投影する投影光学系とを有する露光装置であって、
前記原版は反射型原版であり、
前記露光装置は、
前記基板ステージ又は前記基板に形成され、第1マークを有する第1基準部材を、前記原版ステージ又は前記反射型原版に形成され、反射面を有する第2基準部材を介して照明し、前記第1マークからの光を受光器によって受光する手段と、
前記第1マークからの光を受光した結果に基づいて、前記投影光学系の合焦位置を検出する手段と、を備え、
前記受光器によって前記第1マークからの光を受光する際に、前記反射面に入射する光の光軸に沿って前記原版ステージが移動するとともに、前記反射面で反射されて前記投影光学系を介して前記第1マークに入射する光の光軸とほぼ垂直な方向に沿って前記基板ステージが移動することを特徴とする露光装置。 - 前記投影光学系の合焦位置は、前記第1マークからの受光を複数回行なった結果に基づいて、検出されることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記投影光学系の合焦位置は、前記第1マークからの光を受光した結果に基づいて前記第1マークの像のコントラストが算出されて、そのコントラストに基づいて検出されることを特徴とする請求項1または2に記載の露光装置。
- 前記受光器は、前記第1マークで反射された光を受光することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の露光装置。
- 前記受光器は、前記第1マークを通過した光を受光することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の露光装置。
- 原版を保持して移動する原版ステージと、基板を保持して移動する基板ステージと、前記原版のパターンを前記基板に投影する投影光学系とを有する露光装置であって、
前記原版は反射型原版であり、
前記露光装置は、
前記基板ステージ又は前記基板に形成され、第1マークを有する第1基準部材を、前記原版ステージ又は前記反射型原版に形成され、第2マークを有する第2基準部材を介して照明し、前記第1マークからの光の光量を受光器によって計測する手段と、
前記第1マークからの光の光量を計測した結果に基づいて、前記投影光学系の合焦位置を検出する手段と、を備え、
前記受光器によって前記第1マークからの光の光量を計測する際に、前記第2マークに入射する光の光軸に沿って前記原版ステージが移動するとともに、前記第2マークで反射されて前記投影光学系を介して前記第1マークに入射する光の光軸とほぼ垂直な方向に沿って前記基板ステージが移動することを特徴とする露光装置。 - 前記投影光学系の合焦位置は、前記第1マークからの光の光量の計測を複数回行なった結果に基づいて、検出されることを特徴とする請求項6に記載の露光装置。
- 前記受光器は、前記第1マークで反射された光の光量を計測することを特徴とする請求項6または7に記載の露光装置。
- 前記受光器は、前記第1マークを通過した光の光量を計測することを特徴とする請求項6または7に記載の露光装置。
- 露光光にEUV光を用いることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1つに記載の露光装置。
- 原版を保持して移動する原版ステージと、基板を保持して移動する基板ステージと、前記原版のパターンを前記基板に投影する投影光学系とを有する露光装置において前記投影光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出方法であって、
前記原版は反射型原版であり、
前記露光装置は、
前記基板ステージ又は前記基板に形成され、第1マークを有する第1基準部材を、前記原版ステージ又は前記反射型原版に形成され、反射面を有する第2基準部材を介して照明し、前記第1マークからの光を受光器によって受光する手段を備え、
前記合焦位置検出方法は、
前記反射面に入射する光の光軸に沿って前記原版ステージを移動させるとともに、前記反射面で反射されて前記投影光学系を介して前記第1マークに入射する光の光軸とほぼ垂直な方向に沿って前記基板ステージを移動させて、前記受光器によって前記第1マークからの光を受光する工程と、
前記受光器によって前記第1マークからの光を受光した結果に基づいて、前記投影光学系の合焦位置を検出する工程と、
を含むことを特徴とする合焦位置検出方法。 - 原版を保持して移動する原版ステージと、基板を保持して移動する基板ステージと、前記原版のパターンを前記基板に投影する投影光学系とを有する露光装置において前記投影光学系の合焦位置を検出する合焦位置検出方法であって、
前記原版は反射型原版であり、
前記露光装置は、
前記基板ステージ又は前記基板に形成され、第1マークを有する第1基準部材を、前記原版ステージ又は前記反射型原版に形成され、第2マークを有する第2基準部材を介して照明し、前記第1マークからの光の光量を受光器によって計測する手段を備え、
前記合焦位置検出方法は、
前記第2マークに入射する光の光軸に沿って前記原版ステージを移動させるとともに、前記第2マークで反射されて前記投影光学系を介して前記第1マークに入射する光の光軸とほぼ垂直な方向に沿って前記基板ステージを移動させて、前記受光器によって前記第1マークからの光の光量を計測する工程と、
前記受光器によって前記第1マークからの光の光量を計測した結果に基づいて、前記投影光学系の合焦位置を検出する工程と、
を含むことを特徴とする合焦位置検出方法。 - 感光剤が塗布された基板に請求項1〜10のいずれか1つに記載の露光装置を使って原版のパターンを転写する工程と、
前記基板を現像する工程と、を含むことを特徴とするデバイス製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004128802A JP4603814B2 (ja) | 2004-04-23 | 2004-04-23 | 露光装置、合焦位置検出装置及びそれらの方法、並びにデバイス製造方法 |
US11/110,735 US7315348B2 (en) | 2004-04-23 | 2005-04-21 | Exposure apparatus, focal point detecting method, exposure method and device manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004128802A JP4603814B2 (ja) | 2004-04-23 | 2004-04-23 | 露光装置、合焦位置検出装置及びそれらの方法、並びにデバイス製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005311198A JP2005311198A (ja) | 2005-11-04 |
JP2005311198A5 true JP2005311198A5 (ja) | 2007-04-26 |
JP4603814B2 JP4603814B2 (ja) | 2010-12-22 |
Family
ID=35136051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004128802A Expired - Fee Related JP4603814B2 (ja) | 2004-04-23 | 2004-04-23 | 露光装置、合焦位置検出装置及びそれらの方法、並びにデバイス製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7315348B2 (ja) |
JP (1) | JP4603814B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4603814B2 (ja) | 2004-04-23 | 2010-12-22 | キヤノン株式会社 | 露光装置、合焦位置検出装置及びそれらの方法、並びにデバイス製造方法 |
JP3962736B2 (ja) * | 2004-10-08 | 2007-08-22 | キヤノン株式会社 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
JP2007250947A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Canon Inc | 露光装置および像面検出方法 |
JP5181451B2 (ja) * | 2006-09-20 | 2013-04-10 | 株式会社ニコン | マスク、露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
JP5104107B2 (ja) * | 2007-08-02 | 2012-12-19 | ウシオ電機株式会社 | 帯状ワークの露光装置及び帯状ワークの露光装置におけるフォーカス調整方法 |
JP5361322B2 (ja) | 2008-10-14 | 2013-12-04 | キヤノン株式会社 | 露光装置及びデバイスの製造方法 |
US9411223B2 (en) * | 2012-09-10 | 2016-08-09 | Globalfoundries Inc. | On-product focus offset metrology for use in semiconductor chip manufacturing |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07335524A (ja) * | 1994-06-06 | 1995-12-22 | Canon Inc | 位置合わせ方法 |
JP3634487B2 (ja) * | 1996-02-09 | 2005-03-30 | キヤノン株式会社 | 位置合せ方法、位置合せ装置、および露光装置 |
JPH11238666A (ja) * | 1998-02-19 | 1999-08-31 | Nikon Corp | X線投影露光装置 |
JP3595707B2 (ja) * | 1998-10-23 | 2004-12-02 | キヤノン株式会社 | 露光装置および露光方法 |
JP4046884B2 (ja) * | 1999-03-26 | 2008-02-13 | キヤノン株式会社 | 位置計測方法および該位置計測法を用いた半導体露光装置 |
JP4666747B2 (ja) * | 2000-11-06 | 2011-04-06 | キヤノン株式会社 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
US6586160B2 (en) * | 2001-03-26 | 2003-07-01 | Motorola, Inc. | Method for patterning resist |
JP2002353099A (ja) * | 2001-05-22 | 2002-12-06 | Canon Inc | 位置検出方法及び装置及び露光装置及びデバイス製造方法 |
JP4803901B2 (ja) * | 2001-05-22 | 2011-10-26 | キヤノン株式会社 | 位置合わせ方法、露光装置、および半導体デバイス製造方法 |
KR100548713B1 (ko) * | 2001-06-20 | 2006-02-02 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 디바이스제조방법, 이것에 의하여 제조된 디바이스 및상기 방법에 사용하기 위한 마스크 |
US6784975B2 (en) * | 2001-08-30 | 2004-08-31 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for irradiating a microlithographic substrate |
JP5002100B2 (ja) * | 2001-09-13 | 2012-08-15 | キヤノン株式会社 | 焦点位置検出方法及び焦点位置検出装置 |
JP4227402B2 (ja) * | 2002-12-06 | 2009-02-18 | キヤノン株式会社 | 走査型露光装置 |
JP4603814B2 (ja) | 2004-04-23 | 2010-12-22 | キヤノン株式会社 | 露光装置、合焦位置検出装置及びそれらの方法、並びにデバイス製造方法 |
-
2004
- 2004-04-23 JP JP2004128802A patent/JP4603814B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-04-21 US US11/110,735 patent/US7315348B2/en not_active Expired - Fee Related
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