JP2005296771A - 塗布装置及び塗布方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 ウェハ上を移動するレジスト液吐出ノズルから吐出されるレジスト液の吐出量を安定させる。
【解決手段】 X方向に往復移動可能なレジスト液吐出ノズル23に,ポンプ23を直接取り付ける。ポンプ22には,レジスト液吐出ノズル23の吐出口23bに連通するレジスト液貯留室26と,レジスト液貯留室26内で往復移動するピストン24が設けられ,ピストン24がレジスト液貯留室26内のレジスト液を押圧することによって吐出口23bからレジスト液を吐出できる。塗布装置1内には,レジスト液を貯留できかつレジスト液吐出ノズル23を収容できるレジスト液補充用容器60を設け,レジスト液吐出ノズル23の吐出口23bをレジスト液補充用容器60内のレジスト液中に浸漬し,その状態でピストン24を引いてレジスト液を吸引することによって,ポンプ22にレジスト液を補充する。
【選択図】 図4

Description

本発明は,基板に塗布液を塗布する塗布装置及び塗布方法に関する。
例えば半導体デバイスの製造プロセスにおいては,ウェハ上に,レジスト膜を形成するためのレジスト液やSOD(Spin on Dielectric)膜を形成するSOD溶液等を塗布する塗布処理が行われている。
上記塗布処理は,通常塗布装置において行われ,当該塗布装置には,例えばウェハ上をウェハの表面に沿って移動しながら,レジスト液を吐出するレジスト液吐出ノズルを備えたものがある(例えば,特許文献1参照。)。そして,この塗布装置では,例えばレジスト液吐出ノズルがウェハ上を高速で移動し,ウェハの全面にレジスト液を吐出することによって,ウェハ上にレジスト液を塗布していた。
ところで,上述の塗布装置のレジスト液吐出ノズルには,当該レジスト液吐出ノズルにレジスト液を供給するためのチューブの一端部が接続されており,当該チューブの他端部は,レジスト液を圧送するポンプに接続されていた。そして,ポンプによりレジスト液を一定の圧力で圧送することによって,チューブを通じてレジスト液吐出ノズルにレジスト液が供給され,当該レジスト液吐出ノズルからレジスト液が吐出されていた。
しかしながら,上述の塗布装置の場合,吐出時にレジスト液吐出ノズルが高速で移動するので,それに伴いチューブが伸縮したり,振動したりしていた。これにより,チューブ内を流れ,レジスト液吐出ノズルから吐出されるレジスト液が脈動することがあった。このため,たとえポンプの供給圧力が一定に維持されていても,レジスト液吐出ノズルから吐出されるレジスト液の吐出量は変動し,安定したレジスト液の吐出ができていなかった。この結果,ウェハ上には,レジスト液の塗布斑が生じ,レジスト液がウェハ面内において均一に塗布されていなかった。レジスト液がウェハ面内において均一に塗布されないと,例えばその後の露光処理,現像処理などにおいてウェハ面内における処理がばらつき,歩留まりの低下を招く。
特開2000−77326号公報
本発明は,かかる点に鑑みてなされたものであり,ウェハなどの基板上を移動しながらレジスト液などの塗布液を塗布する塗布液吐出ノズルを備えた塗布装置において,塗布液吐出ノズルから吐出される塗布液の吐出量を安定させる塗布装置と,その塗布装置を用いた塗布方法を提供することをその目的とする。
上記目的を達成するために,本発明は,基板に塗布液を塗布する塗布装置であって,基板上を基板の表面に沿って移動しながら,当該基板に対して塗布液を吐出する塗布液吐出ノズルと,前記塗布液吐出ノズルに対して塗布液を圧送する塗布液圧送部と,を備え,前記塗布液圧送部は,前記塗布液吐出ノズルに取り付けられ,前記塗布液吐出ノズルと一体となって移動できることを特徴とする。
本発明によれば,塗布液圧送部が塗布液吐出ノズルに取り付けられ,塗布液吐出ノズルと一体となって移動するので,従来のように塗布液吐出ノズルの移動に伴ってチューブが振動して塗布液の吐出量が変動することはない。したがって,塗布液吐出ノズルから吐出される塗布液の吐出量を安定させることができる。
前記塗布液圧送部は,内部に前記塗布液吐出ノズルの吐出口に通じる塗布液貯留室と,当該塗布液貯留室内で往復移動するピストンを有し,前記ピストンが前記塗布液貯留室内の塗布液を押圧することによって前記吐出口から塗布液を吐出できてもよい。かかる場合,塗布液貯留室内においてピストンが押圧した分だけ塗布液が吐出されるので,塗布液の吐出量を厳格に制御できる。この結果,基板上に常に同じ膜厚の塗布膜を形成できる。
前記塗布装置は,前記塗布液圧送部に塗布液を補充するための塗布液補充用容器をさらに備え,前記塗布液補充用容器は,前記塗布液吐出ノズルを収容可能で,かつ前記塗布液を貯留可能に構成されていてもよい。かかる場合,例えばピストンが塗布液貯留部内の塗布液を押圧することによって,塗布液吐出ノズルから基板に塗布液が吐出された後,当該塗布液吐出ノズルを,塗布液補充用容器に貯留された塗布液内に浸漬し,その状態で前記ピストンを引くことによって,前記塗布液補充用容器内の塗布液を前記吐出口から吸引して前記塗布液貯留部内に補充できる。かかる場合,塗布液圧送部への塗布液の補充を,ピストンの往復移動を利用して行うことができる。
前記塗布装置は,前記塗布液圧送部に塗布液を補充するための塗布液補充用容器をさらに備え,前記塗布液補充用容器は,前記塗布液吐出ノズルを収容可能に構成され,前記塗布液補充用容器内には,塗布液を供給する供給管が挿入されており,前記供給管の先端部と前記塗布液吐出ノズルの吐出口は,前記塗布液補充用容器内で互いに嵌合し,前記供給管の先端部から前記塗布液吐出ノズルの吐出口に直接塗布液を流入できるように構成されていてもよい。
前記塗布液補充用容器は,収容した前記塗布液吐出ノズルに対し洗浄液を供給する洗浄液供給部を備えていてもよい。かかる場合,塗布液補充用容器において塗布液吐出ノズルの洗浄も行うことができる。例えば前記吐出口から塗布液を補充する前に,塗布液吐出ノズルを洗浄することによって,吐出口から汚染物が流入することを防止できる。また,吐出停止時に塗布液吐出ノズルを待機させておく待機部として,塗布液補充用容器を用いることができる。
前記塗布液補充用容器の底面は,傾斜しており,当該底面の最下部には,前記塗布液補充用容器内の液体を排出する排液管が接続されていてもよい。かかる場合,塗布液補充用容器内の液体の排出を迅速かつ適正に行うことができる。
前記塗布液吐出ノズル又は塗布液圧送部には,前記塗布液圧送部に塗布液を補充するための塗布液補充管が接続され,前記塗布液補充管には,塗布液補充管内の開放,閉鎖を行う開閉弁が設けられていてもよい。かかる場合,例えばピストンが前記塗布液貯留室内の塗布液を押圧することによって前記塗布液吐出ノズルから基板に対して塗布液を吐出した後,前記開閉弁を開いて塗布液補充管から前記塗布液貯留室内に塗布液を補充することができる。そして,塗布液貯留室が充填された後,開閉弁を閉じて塗布液の逆流を防止できる。かかる場合,塗布液圧送部に対する塗布液の補充を好適に行うことができる。
前記塗布液補充管には,前記開閉弁に代えて,前記塗布液吐出ノズル側へ向かう流れのみを許容する逆止弁が設けられていてもよい。かかる場合,前記開閉弁のように逐次開閉しなくても,塗布液貯留室内の塗布液が塗布液補充管側に逆流することがないので,塗布液圧送部への補充を適切に行うことができる。また,ピストンが塗布液を押圧する際にも,塗布液が塗布液補充管側に流れ込むことを防止し,塗布液吐出ノズルからの塗布液の吐出を安定して行うことができる。
本発明は,塗布液吐出ノズルを基板の表面に沿って移動させながら,前記塗布液吐出ノズルから前記基板に対して塗布液を吐出することによって,基板に塗布液を塗布する塗布方法であって,前記塗布液吐出ノズルに塗布液を圧送する塗布液圧送部は,塗布液吐出ノズルに取り付けられて前記塗布液吐出ノズルと一体となって移動でき,かつ内部に前記塗布液吐出ノズルの吐出口に通じる塗布液貯留室と,当該塗布液貯留室内で往復移動するピストンとを有しており,前記ピストンが前記塗布液貯留室内の塗布液を押圧することによって前記塗布液吐出ノズルから基板に対して塗布液を吐出した後,前記塗布液吐出ノズルを,塗布液補充用容器内に貯留された塗布液内に浸積し,前記ピストンを引き戻すことによって前記塗布液補充用容器内の塗布液を前記吐出口から吸引して前記塗布液貯留室内に補充することを特徴とする。
この発明によれば,塗布液圧送部と一体となって移動する塗布液吐出ノズルから塗布液が吐出されるので,従来のように塗布液吐出ノズルと塗布液圧送部とを接続するチューブが振動して塗布液の吐出量が変動することはなく,塗布液の吐出を安定して行うことができる。また,ピストンを引き戻すことよって塗布液圧送部に塗布液が補充されるので,ピストンの往復移動を利用して簡単に塗布液の補充を行うことができる。
本発明は,塗布液吐出ノズルを基板の表面に沿って移動させながら,前記塗布液吐出ノズルから前記基板に対して塗布液を吐出することによって,基板に塗布液を塗布する塗布方法であって,前記塗布液吐出ノズルに塗布液を圧送する塗布液圧送部は,塗布液吐出ノズルに取り付けられて前記塗布液吐出ノズルと一体となって移動でき,かつ内部に前記塗布液吐出ノズルの吐出口に通じる塗布液貯留室と,当該塗布液貯留室内で往復移動するピストンとを有し,前記塗布液吐出ノズル又は前記塗布液圧送部には,前記塗布液圧送部に塗布液を補充するための塗布液補充管が接続されており,前記ピストンが前記塗布液貯留室内の塗布液を押圧することによって前記塗布液吐出ノズルから基板に対して塗布液を吐出した後,前記ピストンを引き戻すことによって,前記塗布液補充管を通じて塗布液を吸引して前記塗布液貯留室内に塗布液を補充することを特徴とする。
この発明によれば,塗布液圧送部と一体的に移動する塗布液吐出ノズルから塗布液が吐出されるので,従来のように塗布液吐出ノズルと塗布液圧送部とを接続するチューブが振動して塗布液の吐出量が変動することはなく,塗布液の吐出を安定して行うことができる。また,ピストンの往復移動を利用して簡単に塗布液を補充することができる。
本発明によれば,塗布液吐出ノズルから吐出される塗布液の吐出量を安定させることができるので,基板上に均一な塗布膜が形成でき,その結果,歩留まりを向上できる。
以下,本発明の好ましい実施の形態について説明する。図1は,本実施の形態にかかる塗布装置1の構成の概略を示す縦断面の説明図であり,図2は,塗布装置1の平面図である。
塗布装置1は,例えば図1に示すように上面が開口した筐体2を有する。筐体2の中央部には,ウェハWを保持する保持部材としてのチャック3が設けられている。例えばチャック3の上面は,水平に形成されており,この上面には,例えばウェハWを吸着するための図示しない吸引口が設けられている。これの吸引口からの吸引より,チャック3上にウェハWを吸着保持できる。チャック3には,ウェハWを上下動するための昇降機構(図示せず)や,ウェハWの位置合わせを行うための回転機構(図示せず)が設けられている。
チャック3は,例えばX―Yステージ4に取り付けられており,X方向(図2の左右方向),Y方向(図2の上下方向)に移動できる。X―Yステージ4は,例えばX方向に沿って形成された第1のレール5と,Y方向に沿って形成された第2のレール6を備え,例えば図1に示すステージ駆動部7によってチャック3を第1のレール5及び第2のレール6に沿って移動させることができる。これにより,チャック3は,例えば筐体2のX方向負方向(図2の左方向)側に設けられたウェハの搬入出口8からウェハWを受け取り,当該ウェハWを筐体2の中央部まで移動させることができる。また,チャック3は,ウェハWをY方向に沿って筐体2の一端部付近から他端部付近まで移動させることができる。なお,ステージ駆動部7の動作は,例えばチャック制御部9で制御されており,チャック制御部9は,予め設定されている移動位置,移動速度,移動タイミングに従ってチャック3を例えば間欠的に所定距離ずつ移動させることができる。
筐体2には,筐体2の上面を覆う天板20が設けられている。天板20の中央部付近には,X方向に沿って長いスリット21が形成されている。このスリット21内には,塗布液圧送部としてのポンプ22と一体になった塗布液吐出ノズルとしてのレジスト液吐出ノズル23が配置されている。
例えば図3に示すように,レジスト液吐出ノズル23の上部には,ピストン形のポンプ22が接続されている。レジスト液吐出ノズル23は,例えば先細形状を有し,内部には,先端に近づくにつれて次第に径が小さくなるテーパ形状の流路23aが形成されている。レジスト液吐出ノズル23の下端部,つまり流路23aの先端部には,吐出口23bが形成されている。
ポンプ22の本体22aは,例えば略円柱状に形成されている。ポンプ22の本体22a内には,例えば下面に開口する有底孔22bが形成されている。有底孔22bの上部には,ピストン24とそのピストン24を上下方向に往復移動させる例えばモータで駆動するピストン駆動部25が設けられている。例えば有底孔22bの下面の開口部とレジスト液吐出ノズル23の流路23aの上面の開口部は,合致しており,有底孔22b内のピストン24の下側には,レジスト液が貯留できるレジスト液貯留室26が形成されている。このレジスト液貯留室26に所定量のレジスト液が充填され,当該レジスト液をピストン24が上方から押圧することによって,レジスト液吐出ノズル23の吐出口23bからレジスト液を吐出できる。なお,ピストン駆動部25の駆動は,ポンプ制御部27によって制御されており,ポンプ制御部27は,ピストン駆動部25を駆動しピストン24を所定の速度,所定のタイミングで上下動させることによって,レジスト液を吐出口23bから定圧で吐出させることができる。
レジスト液吐出ノズル23と一体化したポンプ22は,例えば図1に示すようにスライダ40に取り付けられ,スライダ40は,駆動ベルト41に固定されている。駆動ベルト41は,例えばX方向に沿って延伸し,筐体2のX方向の両側壁付近に設けられた駆動プーリ42と従動プーリ43との間に掛けられている。駆動ベルト41は,駆動プーリ42の駆動源44によって駆動できる。この駆動ベルト41の駆動により,レジスト液吐出ノズル23とポンプ22は,一体となってX方向のスリット21内を往復移動できる。したがって,レジスト液吐出ノズル23は,X−Yステージ4によってスリット21の下方をY方向に間欠的に移動するウェハWに対し,X方向に往復移動しながらレジスト液を吐出することができる。なお,レジスト液吐出ノズル23の移動速度等の動作は,駆動源44に動作命令を出力する図示しない制御装置によって制御されている。
図1に示すように,チャック3に保持されたウェハWと天板20との間であって,スリット21に対向する位置には,レジスト液吐出ノズル23からウェハWのX方向の端部付近に吐出されるレジスト液を受け止める一対のマスク部材50,51が配置されている。マスク部材50,51は,例えば平板状に形成され,その表面には,受け止めたレジスト液を排出する図示しないドレイン管が接続されている。例えばマスク部材50は,筐体2のX方向正方向側の側壁に取り付けられた支持部材52によって支持され,例えばシリンダやモータ等のマスク駆動部53によってX方向に進退できる。マスク部材51は,筐体2のX方向負方向側の側壁に取り付けられた支持部材54によって支持され,マスク駆動部55によってX方向に進退できる。かかる構成から,ウェハWがスリット21の下方をY方向に通過する際に,両マスク部材50,51間の距離を調節して,マスク部材50,51を,常にウェハWの両端部上に位置させることができる。そして,レジスト液吐出ノズル23から吐出されるレジスト液がウェハWの外縁部に塗布されて例えば当該レジスト液がウェハWの裏面に回り込んだり,ウェハWから垂れ落ちることを防止できる。
レジスト液吐出ノズル23の往復移動の範囲内であって,平面から見て例えばスリット21のX方向正方向側の端部付近には,ポンプ22にレジスト液を補充するためのレジスト液補充用容器60が設けられている。レジスト液補充用容器60は,例えば図4に示すように上面に開口部60aを有する凹状に形成され,液体を貯留できる。レジスト液補充用容器60の開口部60aは,レジスト液吐出ノズル23を上方から収容できる大きさに形成されている。レジスト液補充用容器60には,例えば筐体2の外部に設置されたレジスト液供給源61に連通する供給管62が接続されている。この供給管62を通じてレジスト液補充用容器60内にレジスト液を供給できる。レジスト液補充用容器60内に貯留されたレジスト液にレジスト液吐出ノズル23を浸漬し,ポンプ22のピストン24を上昇させることによって,レジスト液補充用容器60内のレジスト液を吐出口23bから吸引して,レジスト液貯留室26内にレジスト液を補充することができる。
レジスト液補充用容器60には,例えば筐体2の外部に設置された洗浄液供給源63に連通する洗浄液供給管64が接続されている。洗浄液供給管64の先端で洗浄液が吐出される洗浄液供給口65は,例えば収容されたレジスト液吐出ノズル23に向けられており,レジスト液吐出ノズル23に洗浄液を直接供給してレジスト液吐出ノズル23を洗浄できる。なお,本実施の形態において,洗浄液には,レジスト液の溶剤が用いられる。
例えばレジスト液補充用容器60の下面には,例えば吸引装置66に通じる排出管67が接続されている。排出管67には,開閉バルブ68が設けられており,所定のタイミングでレジスト液補充用容器60内のレジスト液や洗浄液を排出することができる。
レジスト液補充用容器60は,例えば図5に示すように支持部材70によって支持されている。支持部材70は,例えば筐体2の内側壁に上下方向に向けて形成されたレール71に取り付けられている。支持部材70は,駆動部72によってレール71上を移動でき,これにより,レジスト液補充用容器60は,上下方向に移動自在である。かかる構成により,例えばレジスト液補充用容器60の上方に移動したレジスト液吐出ノズル23に対して,レジスト液補充用容器60が上昇し下方から接近して,レジスト液吐出ノズル23をレジスト液補充用容器60内に収容することができる。
次に,以上のように構成された塗布装置1で行われる塗布処理について説明する。先ず,ウェハWは,塗布装置1内に搬入出口8を通じて搬入され,チャック3に吸着保持される。続いてチャック3がX方向正方向側に移動して,図2に示すようにウェハWが筐体2の中央部まで移動される。
次に,チャック3がY方向正方向側に移動し,例えばウェハWのY方向正方向側の端部がスリット21の下方に位置される。そして,例えばレジスト液補充用容器60で待機していたレジスト液吐出ノズル23が,ポンプ22と共にX方向に沿って往復移動を開始し,レジスト液吐出ノズル23の吐出口23bからレジスト液が吐出され始める。このとき,ポンプ22内のピストン24はレジスト液貯留室26内に充填されているレジスト液を上方から押圧し,当該押圧されたレジスト液が,レジスト液吐出ノズル23の吐出口23bから線状に吐出される。
レジスト液吐出ノズル23の往復移動とレジスト液の吐出が開始されると,例えば図6に示すようにウェハWは,Y方向正方向側に間欠的に所定距離ずつ移動(ステップ移動)していく。つまり,例えばレジスト液吐出ノズル23がウェハWのX方向負方向側の端部の外方からウェハW上を通ってウェハWのX方向正方向側の端部の外方まで移動し,ウェハWの表面上にレジスト液が直線状に供給されると,ウェハWがY方向正方向側に所定距離移動され,レジスト液の塗布位置がずらされる。そして,レジスト液吐出ノズル23は,先程と逆のX方向負方向側に向かって移動し,ウェハWの表面上にレジスト液が直線状に供給される。そして,レジスト液吐出ノズル23が,再びウェハWのX方向負方向側の外方に到達すると,ウェハWがまたY方向正方向側に所定距離移動され,レジスト液の塗布位置がずらされる。この動作を繰り返すことによって,レジスト液がウェハWの表面に平行線状に塗られていき,最終的にはウェハWの表面の全面にレジスト液が塗布される。
ウェハWにレジスト液が塗布されている間,マスク部材50,51は,常にウェハWのX方向の両端部上に位置するように適宜移動される。これにより,ウェハWの外方からレジスト液が落下することが防止される。
ウェハWがレジスト液吐出ノズル23の下方を通過し,ウェハWの表面の全面にレジスト液が塗布されたとき,ポンプ22のピストン24は,例えばレジスト液貯留室26の下端部まで移動している。そして,レジスト液の塗布終了後,レジスト液吐出ノズル23は,X方向正方向側のレジスト液補充用容器60の上方まで移動する。レジスト液吐出ノズル23がレジスト液補充用容器60の上方まで移動すると,レジスト液補充用容器60が上昇し,レジスト液吐出ノズル23が図4に示したようにレジスト液補充用容器60内に収容される。その後,例えば洗浄液供給口65からレジスト液吐出ノズル23に対してレジスト液の溶剤が吐出され,レジスト液吐出ノズル23が洗浄される。このとき,レジスト液吐出ノズル23に供給された溶剤は,排出管67から排出される。
レジスト液吐出ノズル23が所定時間洗浄された後,溶剤の供給が停止され,次に供給管62からレジスト液補充用容器60内にレジスト液が供給され,レジスト液補充用容器60内にレジスト液が貯留される。このとき,レジスト液吐出ノズル23の吐出口23bがレジスト液内に浸漬される。その後,ポンプ22のピストン24が上昇し,レジスト液貯留室26内を負圧にして,レジスト液補充用容器60内のレジスト液を吐出口23bから吸引する。こうして,ポンプ22のレジスト液貯留室26内にレジスト液が補充される。
ポンプ22内にレジスト液が補充されると,例えばレジスト液補充用容器60内の残りのレジスト液が排出管67から排出される。その後レジスト液吐出ノズル23は,次の塗布時までレジスト液補充用容器60内で待機している。そして,塗布装置1内に新しいウェハWが搬入されると,再びレジスト液吐出ノズル23の往復移動が開始され,ウェハWにレジスト液が吐出される。
以上の実施の形態によれば,レジスト液吐出ノズル23にポンプ22を直接取り付けて,レジスト液吐出ノズル23とポンプ22が一体となって移動できるようにしたので,従来のようにレジスト液吐出ノズル23の移動に伴いレジスト液の供給チューブが振動しレジスト液の吐出量が変動することがない。それ故,ウェハWに対するレジスト液の吐出量が安定し,レジスト液がウェハ面内において均一に塗布される。
上記実施の形態では,レジスト液貯留室26とピストン24を内部に備えたポンプ22を用いて,レジスト液吐出ノズル23にレジスト液が圧送されるので,例えばピストン24が移動した分だけの所定量のレジスト液をレジスト液吐出ノズル23から吐出できる。したがって,ウェハWに対し常に一定量のレジスト液を供給することができ,ウェハW上に所望の膜厚のレジスト膜を形成できる。
レジスト液吐出ノズル23の移動範囲内に,レジスト液吐出ノズル23を収容可能で,かつレジスト液を貯留可能なレジスト液補充用容器60を設けたので,レジスト液吐出ノズル23をレジスト液補充用容器60のレジスト液内に浸漬し,ピストン24を引くことによって,レジスト液補充用容器60内のレジスト液を吐出口23bからレジスト液貯留室26内に補充することができる。かかる場合,ピストン24の往復移動を利用して簡単にレジスト液を補充できる。また,ポンプ22やレジスト液吐出ノズル23に接続されるチューブが不要であり,ポンプ22などの移動体の周辺機構を簡素化できる。
レジスト液補充用容器60に,洗浄液供給管64が接続されたので,レジスト液補充用容器60においてレジスト液吐出ノズル23の洗浄を行うことができる。それ故,レジスト液吐出ノズル23を洗浄した後にポンプ23にレジスト液を補充できるので,レジスト液吐出ノズル23に付着した汚染物が,レジスト液の補充時に過って吐出口23bからポンプ22内に入ることがない。
以上の実施の形態では,レジスト液補充用容器60内に貯留されたレジスト液をレジスト液吐出ノズル23が吸引することによってレジスト液の補充を行っていたが,レジスト液の供給管62内のレジスト液をレジスト液吐出ノズル23が直接吸引してレジスト液を補充してもよい。図7は,かかる一例を示すものであり,供給管62は,例えばレジスト液補充用容器60の底部60bの中央部に接続され,当該底部60bからレジスト液補充容器60の内部にまで延びている。供給管62の先端部62aは,上方に向けられ,レジスト液吐出ノズル23の先細の先端部に嵌合するように縦断面が略V字状のテーパ形状に形成されている。また,レジスト液補充用容器60の底面60cは傾斜しており,当該底面60cの傾斜の最下部に排出管67が接続されている。
そして,レジスト液吐出ノズル23にレジスト液を補充する際には,例えばレジスト液補充用容器60を上昇させて,レジスト液吐出ノズル23の吐出口23bのある先端部と供給管62の先端部62aとを嵌合させる(図7に点線で示す)。次に,例えば供給管62から微圧でレジスト液を供給すると共に,ポンプ22のピストン24を上昇させて,供給管62内のレジスト液が吐出口23bから直接吸引される。こうして,レジスト液貯留室26内にレジスト液が補充される。また,レジスト液吐出ノズル23を洗浄する際には,例えば供給管62と合致した状態のレジスト液吐出ノズル23に対し洗浄液供給口65から洗浄液が吐出され,その洗浄液は,レジスト液吐出ノズル23を洗浄した後,底面60cを伝って排出管67から排出される。
この例によれば,レジスト液が供給管62からレジスト液吐出ノズル23内に直接補充されるので,レジスト液吐出ノズル23を汚さずにレジスト液の補充を行うことができる。また,上記実施の形態と同様にポンプ22やレジスト液吐出ノズル23に接続されるチューブが不要であり,ポンプ22などの移動体の周辺機構を簡素化できる。
なお,上記実施の形態では,供給管62の先端部62aをテーパ形状にしてレジスト液吐出ノズル23の先端部に合致させていたが,図8に示すようにレジスト液吐出ノズル23の先端部23cを,供給管62内に挿入できるような径の等しい円筒状に形成して,供給管62とレジスト液吐出ノズル23を合致させるようにしてもよい。
以上の実施の形態では,レジスト液補充用容器60を用いてポンプ22にレジスト液を補充していたが,レジスト液吐出ノズル23又はポンプ22に接続されたレジスト液補充管を用いてポンプ22にレジスト液を補充してもよい。図9は,かかる一例を示すものであり,例えばレジスト液吐出ノズル23には,レジスト液供給源80に連通するレジスト液補充管81が接続されている。レジスト液供給源80は,例えば所定の圧力でレジスト液を圧送する機能を有する。レジスト液補充管81には,例えば開閉弁82が設けられている。
そして,ポンプ22にレジスト液を補充する際には,例えば図9に示すようにピストン24を上方に引き戻した状態で,開閉弁82が開放され,レジスト液供給源80のレジスト液がレジスト液補充管81を通じて所定圧力でレジスト液貯留室26内に供給される。レジスト液貯留室26内がレジスト液で充填されると,開閉弁82が閉鎖され,レジスト液の供給が停止されると共にレジスト液貯留室26からレジスト液補充管81への逆流が防止される。かかる例においても,レジスト液の補充が好適に行われる。また,ピストン24の押圧によりレジスト液が吐出される際に,レジスト液補充管81内にレジスト液が逆流することがないので,吐出口23bからのレジスト液の吐出が安定して行われる。
上記実施の形態において,開閉弁82に代えて,レジスト液吐出ノズル23側への流れのみを許容する逆止弁を用いてもよい。かかる場合,開閉弁82のように所定のタイミングでレジスト液補充管81内の流れを動停止しなくても,レジスト液吐出ノズル23側からレジスト液補充管81側へのレジスト液の逆流を防止できる。
また,上記実施の形態では,レジスト液の補充時に,レジスト液供給源80から積極的にレジスト液を圧送していたが,必ずしも圧力を掛ける必要はない。ポンプ22のピストン24を上方に引くことによって,レジスト液貯留室26内が負圧になる。これを利用して,例えばピストン24が上方に引かれるときに,開閉弁82を開放することによって,レジスト液供給源80のレジスト液がレジスト液貯留室26内に吸引される。レジスト液貯留室26内にレジスト液が充填された後は,開閉弁82は閉鎖される。かかる場合,レジスト液供給源80に圧送機能を設ける必要がなく,レジスト液の補充をより簡単な機構で行うことができる。
以上の実施の形態は,本発明の一例を示すものであり,本発明はこの例に限らず種々の態様を採りうるものである。上記実施の形態は,レジスト液吐出ノズル23がウェハWに対して一定方向に往復移動するものであったが,本発明は,レジスト液吐出ノズル23がウェハWに対して他の経路を通って移動するものにも適用できる。例えばレジスト液吐出ノズル23がウェハWの表面に対して渦巻き状に移動するものにも適用できる。また,本発明は,ウェハWに対しレジスト液以外の他の塗布液,例えばSOD,SOG(Spin on Glass)膜等を形成するための塗布液を塗布する塗布装置にも適用できる。また,以上の実施の形態は,ウェハWに対して塗布液を塗布する塗布装置であったが,本発明は,ウェハ以外の例えばLCD,フォトマスク用のマスクレチクルなどの他の基板に塗布液を塗布する塗布装置にも適用できる。
本発明は,基板上を移動しながら基板に塗布液を吐出する塗布液吐出ノズルを備えた塗布装置において,塗布液の吐出量を安定させる際に有用である。
塗布装置の構成の概略を示す縦断面の説明図である。 塗布装置の構成の概略を示す平面図である。 レジスト液吐出ノズルとポンプの構成の概略を示す縦断面の説明図である。 レジスト液補充用容器の構成の概略を示す縦断面の説明図である。 レジスト液補充用容器の昇降機構を示す説明図である。 レジスト液吐出ノズルがウェハにレジスト液を吐出している状態を示す説明図である。 レジスト液補充用容器の他の構成例を示す縦断面の説明図である。 レジスト吐出ノズルの先端部を供給管内に挿入した状態を示す縦断面の説明図である。 レジスト液補充管が接続されたレジスト液吐出ノズルとポンプの構成を示す縦断面の説明図である。
符号の説明
1 塗布装置
22 ポンプ
23 レジスト液吐出ノズル
23b 吐出口
24 ピストン
26 レジスト液貯留室
60 レジスト液補充用容器
W ウェハ

Claims (10)

  1. 基板に塗布液を塗布する塗布装置であって,
    基板上を基板の表面に沿って移動しながら,当該基板に対して塗布液を吐出する塗布液吐出ノズルと,
    前記塗布液吐出ノズルに対して塗布液を圧送する塗布液圧送部と,を備え,
    前記塗布液圧送部は,前記塗布液吐出ノズルに取り付けられ,前記塗布液吐出ノズルと一体となって移動できることを特徴とする,塗布装置。
  2. 前記塗布液圧送部は,内部に前記塗布液吐出ノズルの吐出口に通じる塗布液貯留室と,当該塗布液貯留室内で往復移動するピストンを有し,前記ピストンが前記塗布液貯留室内の塗布液を押圧することによって前記吐出口から塗布液を吐出できることを特徴とする,請求項1に記載の塗布装置。
  3. 前記塗布液圧送部に塗布液を補充するための塗布液補充用容器をさらに備え,
    前記塗布液補充用容器は,前記塗布液吐出ノズルを収容可能で,かつ前記塗布液を貯留可能に構成されていることを特徴とする,請求項2に記載の塗布装置。
  4. 前記塗布液圧送部に塗布液を補充するための塗布液補充用容器をさらに備え,
    前記塗布液補充用容器は,前記塗布液吐出ノズルを収容可能に構成され,
    前記塗布液補充用容器内には,塗布液を供給する供給管が挿入されており,
    前記供給管の先端部と前記塗布液吐出ノズルの吐出口は,前記塗布液補充用容器内で互いに嵌合し,前記供給管の先端部から前記塗布液吐出ノズルの吐出口に直接塗布液を流入できるように構成されていることを特徴とする,請求項2に記載の塗布装置。
  5. 前記塗布液補充用容器は,収容した前記塗布液吐出ノズルに対し洗浄液を供給する洗浄液供給部を備えたことを特徴とする,請求項3又は4のいずれかに記載の塗布装置。
  6. 前記塗布液補充用容器の底面は,傾斜しており,当該底面の最下部には,前記塗布液補充用容器内の液体を排出する排液管が接続されていることを特徴とする,請求項3,4又は5のいずれかに記載の塗布装置。
  7. 前記塗布液吐出ノズル又は前記塗布液圧送部には,前記塗布液圧送部に塗布液を補充するための塗布液補充管が接続され,
    前記塗布液補充管には,塗布液補充管内の開放,閉鎖を行う開閉弁が設けられていることを特徴とする,請求項2に記載の塗布装置。
  8. 前記塗布液補充管には,前記開閉弁に代えて,前記塗布液吐出ノズル側へ向かう塗布液の流れのみを許容する逆止弁が設けられていることを特徴とする,請求項7に記載の塗布装置。
  9. 塗布液吐出ノズルを基板の表面に沿って移動させながら,前記塗布液吐出ノズルから前記基板に対して塗布液を吐出することによって,基板に塗布液を塗布する塗布方法であって,
    前記塗布液吐出ノズルに塗布液を圧送する塗布液圧送部は,塗布液吐出ノズルに取り付けられて前記塗布液吐出ノズルと一体となって移動でき,かつ内部に前記塗布液吐出ノズルの吐出口に通じる塗布液貯留室と,当該塗布液貯留室内で往復移動するピストンとを有しており,
    前記ピストンが前記塗布液貯留室内の塗布液を押圧することによって前記塗布液吐出ノズルから基板に対して塗布液を吐出した後,前記塗布液吐出ノズルを,塗布液補充用容器内に貯留された塗布液内に浸積し,前記ピストンを引き戻すことによって前記塗布液補充用容器内の塗布液を前記吐出口から吸引して前記塗布液貯留室内に補充することを特徴とする,塗布方法。
  10. 塗布液吐出ノズルを基板の表面に沿って移動させながら,前記塗布液吐出ノズルから前記基板に対して塗布液を吐出することによって,基板に塗布液を塗布する塗布方法であって,
    前記塗布液吐出ノズルに塗布液を圧送する塗布液圧送部は,塗布液吐出ノズルに取り付けられて前記塗布液吐出ノズルと一体となって移動でき,かつ内部に前記塗布液吐出ノズルの吐出口に通じる塗布液貯留室と,当該塗布液貯留室内で往復移動するピストンとを有し,
    前記塗布液吐出ノズル又は前記塗布液圧送部には,前記塗布液圧送部に塗布液を補充するための塗布液補充管が接続されており,
    前記ピストンが前記塗布液貯留室内の塗布液を押圧することによって前記塗布液吐出ノズルから基板に対して塗布液を吐出した後,前記ピストンを引き戻すことによって,前記塗布液補充管を通じて塗布液を吸引して前記塗布液貯留室内に塗布液を補充することを特徴とする,塗布方法。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012043836A (ja) * 2010-08-12 2012-03-01 Tokyo Electron Ltd 液処理装置、液処理方法及び記憶媒体
JP2012235132A (ja) * 2012-06-19 2012-11-29 Tokyo Electron Ltd 液処理におけるノズル洗浄、処理液乾燥防止方法及びその装置
JP2012232298A (ja) * 2012-06-19 2012-11-29 Tokyo Electron Ltd 液処理におけるノズル洗浄方法及びその装置
JP2013046886A (ja) * 2011-08-29 2013-03-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd パターン形成装置
JP2013187394A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Asahi Sunac Corp ノズルの洗浄装置
WO2015080081A1 (ja) * 2013-11-29 2015-06-04 リソテックジャパン株式会社 薬液供給機構及び小型製造装置
JP2015115486A (ja) * 2013-12-12 2015-06-22 東京エレクトロン株式会社 液供給装置
JP2017076670A (ja) * 2015-10-13 2017-04-20 東京エレクトロン株式会社 処理液供給装置
US11004702B2 (en) * 2015-11-10 2021-05-11 SCREEN Holdings Co., Ltd. Film processing unit and substrate processing apparatus
CN112897891A (zh) * 2021-03-05 2021-06-04 尚昊 一种手持式挡风玻璃镀膜装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7073691B2 (ja) * 2017-11-30 2022-05-24 東京エレクトロン株式会社 液処理装置及び液処理方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012043836A (ja) * 2010-08-12 2012-03-01 Tokyo Electron Ltd 液処理装置、液処理方法及び記憶媒体
JP2013046886A (ja) * 2011-08-29 2013-03-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd パターン形成装置
JP2013187394A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Asahi Sunac Corp ノズルの洗浄装置
JP2012235132A (ja) * 2012-06-19 2012-11-29 Tokyo Electron Ltd 液処理におけるノズル洗浄、処理液乾燥防止方法及びその装置
JP2012232298A (ja) * 2012-06-19 2012-11-29 Tokyo Electron Ltd 液処理におけるノズル洗浄方法及びその装置
WO2015080081A1 (ja) * 2013-11-29 2015-06-04 リソテックジャパン株式会社 薬液供給機構及び小型製造装置
JP2015115486A (ja) * 2013-12-12 2015-06-22 東京エレクトロン株式会社 液供給装置
JP2017076670A (ja) * 2015-10-13 2017-04-20 東京エレクトロン株式会社 処理液供給装置
US11004702B2 (en) * 2015-11-10 2021-05-11 SCREEN Holdings Co., Ltd. Film processing unit and substrate processing apparatus
CN112897891A (zh) * 2021-03-05 2021-06-04 尚昊 一种手持式挡风玻璃镀膜装置

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