JP2005277362A - 複合素子 - Google Patents

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由浩 樋口
Koji Yotsumoto
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Abstract

【課題】1チップ化することにより全体を小型化して実装面積を小さくするとともに、抵抗体を選択したり、トリマーを付加することなく特性のリニア化を図る。
【解決手段】チップ状のサーミスタ素体2の長手方向の一方の端面に第1の端子電極3を直接に設け、他方の端面に第3の端子電極5を直接に設け、上面側に絶縁層10を介して第2の端子電極4を設け、第2の端子電極4の隣りに抵抗体層6を設け、第2の端子電極4と抵抗体層6とを電気的に接続し、抵抗体層6と第1の端子電極3とを電気的に接続する。第1の端子電極3を出力端子電極、第2の端子電極4を入力端子電極、第3の端子電極5をアース端子電極として使用し、入力端子電極4とアース端子電極5との間に電圧を印加し、出力端子電極3とアース端子電極5との間の電圧を測定して、出力電圧を温度に換算することにより、温度変化を検出することができる。
【選択図】 図2

Description

本発明は、サーミスタと抵抗とを接続してなる複合素子に関し、特に、温度計測、温度制御回路、過熱保護回路、バッテリーパック、LCD、HDD、DVD(OPU)、マザーボード、冷却ファン、FET、IBGT、ECU等に有効な複合素子に関するものである。
従来、サーミスタを利用した温度検出回路の一例として、図19に等価回路で示すように、入力端子電極24、抵抗26、出力端子電極23、サーミスタ22、及びアース端子電極25をそれらの順に直列に接続したものが知られている。
このような構成の温度検出回路は、入力端子電極24とアース端子電極25との間に電圧を印加し、出力端子電極23とアース端子電極25との間の電圧を計測することにより、出力電圧を温度に換算して温度変化を検出することができるものである。
ところで、上記のような構成の温度検出回路にあっては、小型化を図る場合に、回路基板上に抵抗、サーミスタ等の構成部品を実装する方法が採られている。
しかしながら、上記のような方法によって小型化を図った場合、製造に手間がかかるため、製造コストが高くついてしまう。また、回路基板上における実装面積が大きくなってしまうため、期待した程の小型化は望めない。
一方、小型化、1チップ化を図るために、チップ状のサーミスタ素体と、サーミスタ素体の両端面に形成される端子電極と、サーミスタ素体の側面に形成される抵抗体層とを備え、一方の端子電極、抵抗体層、サーミスタ素体、及び他方の端子電極をこれらの順で直列に接続した複合素子が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
このような構成の複合素子にあっては、サーミスタ素体、端子電極、抵抗体層等の構成部品を1チップ化することができるので、全体を小型化することができ、回路基板上における実装面積を小さくすることができ、回路基板全体を小型化することができるものである。
しかし、このような構成の複合素子にあっては、サーミスタ素体の特性のリニア化を図るために、別途抵抗が必要になり、また、サーミスタ素体と内部の抵抗体との整合をとるために、抵抗体を選択したり、トリマーを付加したりすることが必要になるため、製造コストが高くついてしまう。
特開平10−294207号公報
本発明は、上記のような従来の問題に鑑みなされたものであって、容易に小型化を図ることができて、製造を安価にすることができるとともに、回路基板上における実装面積を大きくすることなく全体を小型化することができ、さらに、小型化1チップ化を図る場合に、サーミスタ素体の特性のリニア化を図るために別途抵抗が必要になることがなく、また、サーミスタ素体と内部の抵抗体との整合をとるために、抵抗体を選択したり、トリマーを付加したりすることがなく、製造コストを安く抑えることができる、複合素子を提供することを目的とするものである。
本発明は、上記のような課題を解決するために、以下のような手段を採用している。
すなわち、請求項1に係る発明は、チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、第2の端子電極と、絶縁層を介在させた第3の端子電極と、絶縁層を介在させた抵抗体層とが設けられ、前記抵抗体層に前記第1の端子電極及び前記第3の端子電極が接続されていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、第1の電極を出力端子電極、第2の端子電極をアース端子電極、第3の端子電極を入力端子電極として使用し、入力端子電極とアース端子電極との間に電圧を印加し、出力端子電極とアース端子電極との間の電圧を測定することにより、温度検出用回路、温度補償用回路等として有効に使用することができ、回路全体の小型化が可能となる。
請求項2に係る発明は、チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、第2の端子電極と、第3の端子電極と、絶縁層を介在させた抵抗体層とが設けられ、前記抵抗体層に前記第1の端子電極及び前記第3の端子電極が接続されていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、第1の電極を出力端子電極、第2の端子電極をアース端子電極、第3の端子電極を入力端子電極として使用し、入力端子電極とアース端子電極との間に電圧を印加し、出力端子電極とアース端子電極との間の電圧を測定することにより、温度検出用回路、温度補償用回路等として有効に使用することができ、回路全体の小型化が可能となる。
請求項3に係る発明は、請求項1又は2に記載の複合素子であって、第1の端子電極、第2の端子電極、第3の端子電極の何れかがサーミスタ素体の抵抗値を調整する内部電極を兼ねていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、第1の端子電極、第2の端子電極、第3の端子電極の何れかによってサーミスタ素体の抵抗値が調整されることになる。
請求項4に係る発明は、請求項1又は2に記載の複合素子であって、第1の端子電極、第2の端子電極、第3の端子電極、抵抗体層の何れか又はこれらの2以上のものの間にサーミスタ素体の抵抗値を調整する内部電極が接続されていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、第1の端子電極、第2の端子電極、第3の端子電極、抵抗体層の何れか又はこれらの2以上のものの間に設けられている内部電極によってサーミスタ素体の抵抗値が調整されることになる。
請求項5に係る発明は、チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、第2の端子電極と、絶縁層を介在させた第3の端子電極と、絶縁層を介在させた第1の抵抗体層と第2の抵抗体層とが設けられ、前記第1の抵抗体層に前記第1の端子電極及び前記第3の端子電極が接続され、前記第2の抵抗体層が前記サーミスタ素体に並列に接続された状態で、第2の抵抗体層の一端が前記1の端子電極に接続され、他端が前記前記第2の端子電極に接続されていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、第1の電極を出力端子電極、第2の端子電極をアース端子電極、第3の端子電極を入力端子電極として使用し、入力端子電極とアース端子電極との間に電圧を印加し、出力端子電極とアース端子電極との間の電圧を測定することにより、温度検出用回路、温度補償用回路等として有効に使用することができ、回路全体の小型化が可能となる。
請求項6に係る発明は、チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、絶縁層を介在させた第2の端子電極と第3の端子電極と、絶縁層を介在させた第1の抵抗体層と第2の抵抗体層と第3の抵抗体層とが設けられ、前記第1の抵抗体層に前記第1の端子電極及び前記第3の端子電極が接続され、前記第2の抵抗体層が前記サーミスタ素体に並列に接続された状態で、第1の抵抗体層の一端が前記第1の端子電極に接続され、前記第2の抵抗体層の他端と前記第2の端子電極との間に前記第3の抵抗体層が接続されていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、第1の電極を出力端子電極、第2の端子電極をアース端子電極、第3の端子電極を入力端子電極として使用し、入力端子電極とアース端子電極との間に電圧を印加し、出力端子電極とアース端子電極との間の電圧を測定することにより、温度検出用回路、温度補償用回路等として有効に使用することができ、回路全体の小型化が可能となる。
請求項7に係る発明は、チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、第2の端子電極と、絶縁層を介在させた第3の端子電極と、絶縁層を介在させた第1の抵抗体層と第2の抵抗体層とが設けられ、前記第1の抵抗体層の一端が前記第3の端子電極に接続され、他端が内部電極を介して前記サーミスタ素体に接続され、前記第2の抵抗体層が前記サーミスタ素体に並列に接続された状態で、第2の抵抗体層の一端が前記内部電極を介して前記第1の抵抗体層に接続され、他端が前記第1の端子電極に接続されていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、第1の電極を出力端子電極、第2の端子電極をアース端子電極、第3の端子電極を入力端子電極として使用し、入力端子電極とアース端子電極との間に電圧を印加し、出力端子電極とアース端子電極との間の電圧を測定することにより、温度検出用回路、温度補償用回路等として有効に使用することができ、回路全体の小型化が可能となる。
請求項8に記載の発明は、前記第1〜3の端子電極を除く素子本体部の表面には絶縁層が設けられ、前記第1〜3の端子電極のうち、素子本体部側面に形成される端子電極は、複合素子の本体部の少なくとも一側面以上に備えられていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、複合素子の本体部の表面に絶縁層が設けられているので、厳しい環境下での信頼性劣化の原因となる複合素子の表面層を保護することができ、耐熱性、耐寒性、耐湿性等の信頼性レベルの向上を図ることが可能となる。また、複合素子の本体部の側面に形成される端子電極は、複合素子の本体部の少なくとも一側面以上に備えられているため、はんだ接合の際に実装基板(ランド部)と複合素子の端子電極との間に良好なはんだ接合部(フィレット)が形成され、信頼性の高い実装が可能となる。
請求項9に記載の発明は、前記第1〜3の端子電極以外に、複合素子を固定するために用いられる、前記第1〜3の端子電極とは電気的に絶縁されている第4の接合用端子を更に有し、前記第4の端子電極は、複合素子の本体部の少なくとも一側面以上に備えられていることを特徴とする。
本発明による複合素子によれば、チップ状のサーミスタ素体の表面に複合素子を固定するために用いられる接合用端子を更に設けているので、複合素子を実装する電子機器の基板等に対して、より確実に固定することができる。よって、複合素子の基板に対する実装強度を向上させることができる。
以上、説明したように、本発明の複合素子によれば、第1の電極を出力端子電極、第2の端子電極をアース端子電極、第3の端子電極を入力端子電極として使用し、入力端子電極とアース端子電極との間に電圧を印加し、出力端子電極とアース端子電極との間の電圧を測定することにより、温度検出用回路等として有効に使用することができ、回路全体の小型化、1チップ化が可能となる。従って、温度検出回路用等とした場合に、回路基板上における実装面積を小さくすることができるので、回路基板の小型化を図ることができる。
さらに、サーミスタ素体の特性のリニア化を図るために、別途抵抗を必要とすることがなく、また、サーミスタ素体と内部の抵抗体層との整合を図るために、抵抗体層を選択したり、抵抗体層にトリマーを付加したりする必要がないので、製造コストを大幅に低減させることができる。
以下、図面に示す本発明の実施の形態について説明する。
図1〜図3には、本発明による複合素子の第1の実施の形態が示されていて、図1は複合素子の全体を示す斜視図、図2は図1の断面図、図3は図1及び図2に示す複合素子の等価回路図である。
すなわち、この複合素子1は、チップ状のサーミスタ素体2と、サーミスタ素体2の表面に直接に設けられる第1の端子電極3と第2の端子電極5と、サーミスタ素体2の表面に絶縁層10を介して設けられる第3の端子電極4と、サーミスタ素体2の表面に絶縁層10を介して設けられる抵抗体層6とを備えている。
なお、本実施の形態、後述する各実施の形態の説明においては、サーミスタ素体の表面に付いている電極のうち、入力を与える電極又は出力を取り出す電極を「端子電極」といい、それ以外の電極をサーミスタ素体の抵抗値を調整する「内部電極」というものとする。
サーミスタ素体2としては、NTC型、PTC型、CTR型等が挙げられ、この実施の形態においては、NTC型を用いている。サーミスタ素体2を構成する材料としては、Mn−Co−Cu系材料、Mn−Co−Fe系材料等が挙げられる。サーミスタ素体2の形状は特に限定されるものではなく、この実施の形態においては直方体形状としている。
サーミスタ素体2の長手方向の一方の端面には、第1の端子電極である出力端子電極3が一体に設けられ、長手方向の他方の端面には、第2の端子電極であるアース端子電極5が一体に設けられ、上面には後述する絶縁層10を介して第3の端子電極である入力端子電極4が一体に設けられている。
出力端子電極3及びアース端子電極5は、例えば、サーミスタ素体2の長手方向の一方の端面及び他方の端面に導電性電極ペーストをスクリーン印刷等により印刷し、乾燥後に焼き付けることにより、長手方向の一方の端面及び他方の端面に一体に設けられる。入力端子電極4は、絶縁層10の表面に、例えば、導電性電極ペーストをスクリーン印刷等により印刷し、乾燥後に焼き付けることにより、サーミスタ素体2の上面に絶縁層10を介して所定の厚みで一体に設けられる。
サーミスタ素体2の上面及び下面にはそれぞれ絶縁層10が設けられている。絶縁層10は、例えば、サーミスタ素体2の上面及び下面にガラスペーストをスクリーン印刷等により印刷し、乾燥後に焼き付けることにより、サーミスタ素体2の上面及び下面に一体に設けられる。
サーミスタ素体2の上面側の絶縁層10の表面には、中央部に前述した入力端子電極4が一体に設けられ、入力端子電極4の図中左側の部分に抵抗体層6が一体に設けられ、抵抗体層6の図中左側の部分に内部電極11が一体に設けられている。この場合、抵抗体層6と入力端子電極4との間は電気的に接続されている。なお、前述した入力端子電極4の焼付けと絶縁層10の焼付けとを一緒に行なっても良い。
抵抗体層6は、例えば、絶縁層10の表面にRuO2系等の抵抗体ペーストをスクリーン印刷等によって印刷し、乾燥後に焼き付けることにより、絶縁層10の表面に一体に設けられる。なお、抵抗体層6の焼付けと絶縁層10の焼付けとを一緒に行なっても良い。
内部電極11は、入力端子電極4と同様に、絶縁層10の表面に、例えば、導電性電極ペーストをスクリーン印刷等により印刷し、乾燥後に焼き付けることにより、絶縁層10の表面に一体に設けられる。この場合、内部電極11と抵抗体層6との間、及び内部電極11と出力端子電極3との間は、それぞれ電気的に接続されている。なお、入力端子電極4と同様に、内部電極11の焼付けと絶縁層10の焼付けとを一緒に行なっても良い。
そして、上記のように、サーミスタ素体2の表面に、出力端子電極3及びアース端子電極5を直接に設け、入力端子電極4を絶縁層10を介して設け、抵抗体層6を絶縁層10を介して設け、抵抗体層6と入力端子電極4との間を電気的に接続し、抵抗体層6と出力端子電極3との間を内部電極11を介して電気的に接続することにより、図3に等価回路で示すように、入力端子電極4と抵抗体層6と内部電極11と出力端子電極3とサーミスタ素体2とアース端子電極5とをそれらの順に直列に接続した複合素子1が得られることになる。
そして、上記のように構成した複合素子1を回路基板(図示せず)の表面に実装し、入力端子電極4とアース端子電極5との間に電圧を印加して、出力端子電極3とアース端子電極5との間の電圧を測定することにより、出力電圧を温度に換算して検出することができるものである。
上記のように構成したこの実施の形態による複合素子1にあっては、サーミスタ素体2の表面に、出力端子電極3及びアース端子電極5を直接に設け、入力端子電極4を絶縁層10を介して設け、抵抗体層6を絶縁層10を介して設け、抵抗体層6と入力端子電極4とを電気的に接続し、抵抗体層6と出力端子電極3とを内部電極11を介して電気的に接続して1チップ化したので、全体を小型化することができる。従って、温度検出回路用等とした場合に、回路基板上における実装面積を小さくすることができるので、回路基板の小型化を図ることができる。
さらに、サーミスタ素体2の特性のリニア化を図るために、別途抵抗を必要とすることがなく、また、サーミスタ素体2と内部の抵抗体層6との整合を図るために、抵抗体層6を選択したり、抵抗体層6にトリマーを付加したりする必要がないので、製造コストを大幅に低減させることができる。
図4及び図5には、本発明による複合素子の第2の実施の形態が示されていて、この複合素子1は、サーミスタ素体2の長手方向の一方の端面に絶縁層10を介して入力端子電極4を設け、他方の端面にアース端子電極5を直接に設け、サーミスタ素体2の上面側の中央部に出力端子電極3を直接に設け、サーミスタ素体2の上面側の出力端子電極3の図中左側の部分に絶縁層10を介して抵抗体層6を設け、抵抗体層6の図中左側の部分に内部電極11を設け、抵抗体層6と出力端子電極3との間を電気的に接続し、抵抗体層6と入力端子電極4との間を内部電極11を介して電気的に接続したものであって、その他の構成は前記第1の実施の形態に示すものと同様である。なお、図中20は、サーミスタ素体2の抵抗値を調整する内部電極である。
この場合、図5に等価回路で示すように、入力端子電極4と内部電極11と抵抗体層6と出力端子電極3とサーミスタ素体2とアース端子電極5とをそれらの順に直列に接続した回路からなる複合素子1が得られることになる。
そして、この実施の形態に示す複合素子1にあっても、サーミスタ素体2の表面に、出力端子電極3及びアース端子電極5を直接に設け、入力端子電極4を絶縁層10を介して設け、抵抗体層6を絶縁層10を介して設け、抵抗体層6と出力端子電極3とを電気的に接続し、抵抗体層6と入力端子電極4とを内部電極11を介して電気的に接続して1チップ化したので、全体を小型化することができる。従って、温度検出回路用等とした場合に、回路基板上における実装面積を小さくすることができるので、回路基板の小型化を図ることができる。
さらに、サーミスタ素体2の特性のリニア化を図るために、別途抵抗を必要とすることがなく、また、サーミスタ素体2と内部の抵抗体層6との整合を図るために、抵抗体層6を選択したり、抵抗体層6にトリマーを付加したりする必要がないので、製造コストを大幅に低減させることができる。
図6及び図7には、本発明による複合素子の第3の実施の形態が示されていて、この複合素子1は、サーミスタ素体2の長手方向の一方の端面に入力端子電極4を直接に設け、他方の端面にアース端子電極5を直接に設け、上面側の中央部に出力端子電極3を直接に設け、上面側の出力端子電極3の図中左側の部分に絶縁層10を介して抵抗体層6を設け、抵抗体6層の図中左側の部分に内部電極11を設け、抵抗体層6を出力端子電極3に電気的に接続し、抵抗体層6と入力端子電極4との間を内部電極11を介して電気的に接続したものであって、その他の構成は前記第1の実施の形態に示すものと同様である。なお、図中20は、サーミスタ素体2の抵抗値を調整する内部電極である。
この場合、図7に等価回路で示すように、入力端子電極4と内部電極11と抵抗体層6と出力端子電極3とサーミスタ素体2とアース端子電極5とをそれらの順に直列に接続し、入力端子電極4と出力端子電極3との間に抵抗体層6に並列にサーミスタ素体2を接続した回路からなる複合素子1が得られることになる。
そして、この実施の形態に示す複合素子1にあっても、サーミスタ素体2の表面に、入力端子電極4、出力端子電極3及びアース端子電極5を直接に設け、抵抗体層6を絶縁層10を介して設け、抵抗体層6と出力端子電極3とを電気的に接続し、抵抗体層6と入力端子電極4とを内部電極11を介して電気的に接続して1チップ化したので、全体を小型化することができる。従って、温度検出回路用等とした場合に、回路基板上における実装面積を小さくすることができるので、回路基板の小型化を図ることができる。
さらに、サーミスタ素体2の特性のリニア化を図るために、別途抵抗を必要とすることがなく、また、サーミスタ素体2と内部の抵抗体層6との整合を図るために、抵抗体層6を選択したり、抵抗体層6にトリマーを付加したりする必要がないので、製造コストを大幅に低減させることができる。
さらに、2つのサーミスタ素体2、2を擬似的に使用する回路を構成しているので、出力電圧と温度との関係をよりリニア化することができ、温度検出の高精度化を図ることができる。
図8及び図9には、本発明による複合素子の第4の実施の形態が示されていて、この複合素子1は、サーミスタ素体2の長手方向の一方の端面に絶縁層10を介して入力端子電極4を設け、他方の端面にアース端子電極5を直接に設け、上面側の中央部に出力端子電極3を直接に設け、出力端子電極3の図中左側の部分に絶縁層10を介して第1の抵抗体層7を設け、出力端子電極3の図中右側の部分に絶縁層10を介して第2の抵抗体層8を設け、第1の抵抗体層7の図中左側の部分に第1の内部電極12を設け、第2の抵抗体層8の図中左側の部分に第2の内部電極13、右側の部分に第3の内部電極14をそれぞれ設け、第1の抵抗体層7と出力端子電極3との間を電気的に接続し、第1の抵抗体層7と入力端子電極4との間を第1の内部電極12を介して電気的に接続し、第2の抵抗体層8と出力端子電極3との間を第2の内部電極13を介して電気的に接続し、第2の抵抗体層8とアース端子電極5との間を第3の内部電極14を介して電気的に接続したものであって、その他の構成は前記第1の実施の形態に示すものと同様である。なお、図中20は、サーミスタ素体2の抵抗値を調整する内部電
この場合、図9に等価回路で示すように、入力端子電極4と第1の内部電極12と第1の抵抗体層7と出力端子電極3とサーミスタ素体2とアース端子電極5とを直列に接続し、出力端子電極3とアース端子電極5との間に、サーミスタ素体2に並列に第2の内部電極13及び第3の内部電極14を介して第2の抵抗体層8を接続した回路からなる複合素子1が得られることになる。
そして、この実施の形態に示す複合素子1にあっても、サーミスタ素体2の表面に、入力端子電極4を絶縁層10を介して設け、出力端子電極3及びアース端子電極5を直接に設け、第1の抵抗体層7及び第2の抵抗体層8をそれぞれ絶縁層10を介して設け、第1の抵抗体層7と出力端子電極3とを電気的に接続し、第1の抵抗体層7と入力端子電極4との間を第1の内部端子電極12を介して電気的に接続し、第2の抵抗体層8と出力端子電極3との間を第2の内部電極13を介して電気的に接続し、第2の抵抗体層8とアース端子電極5との間を第3の内部電極14を介して電気的に接続して1チップ化したので、全体を小型化することができる。従って、温度検出回路用等とした場合に、回路基板上における実装面積を小さくすることができるので、回路基板の小型化を図ることができる。
さらに、サーミスタ素体2の特性のリニア化を図るために、別途抵抗を必要とすることがなく、また、サーミスタ素体2と内部の抵抗体層7、8との整合を図るために、抵抗体層7、8を選択したり、抵抗体層7、8にトリマーを付加したりする必要がないので、製造コストを大幅に低減させることができる。
図10及び図11には、本発明による複合素子の第5の実施の形態が示されていて、この複合素子1は、サーミスタ素体2の長手方向の一方の端面に絶縁層10を介して入力端子電極4を設け、他方の端面に絶縁層10を介してアース端子電極5を設け、上面側の中央部に出力端子電極3を直接に設け、出力端子電極3の図中左側の部分に絶縁層10を介して第1の抵抗体層7を設け、出力端子電極3の図中右側の部分に絶縁層10を介して第2の抵抗体層8を設け、第2の抵抗体層8の図中右側の部分にサーミスタ素体2の抵抗値を調整する内部電極20を介して第3の抵抗体9層を設け、第1の抵抗体層7と出力端子電極3との間を電気的に接続し、第1の抵抗体層7と入力端子電極4との間を第1の内部電極12を介して電気的に接続し、第2の抵抗体層8と出力端子電極3との間を第2の内部電極13を介して電気的に接続し、第2の抵抗体層8とアース端子電極5との間を第3の内部電極14を介して電気的に接続したものであって、その他の構成は前記第1の実施の形態に示すものと同様である。
この場合、図11に等価回路で示すように、入力端子電極4と第1の内部電極12と第1の抵抗体層7と出力端子電極3とサーミスタ素体2と内部電極20と第3の抵抗体層9と第3の内部電極14とアース端子電極5とを直列に接続し、出力端子電極3とアース端子電極5との間に、サーミスタ素体2に並列に第2の抵抗体層8を第2の内部電極13及び第3の内部電極14を介して接続した回路からなる複合素子1が得られることになる。
そして、この実施の形態に示す複合素子1にあっても、サーミスタ素体2の表面に、入力端子電極4及びアース端子電極5を絶縁層10を介して設け、出力端子電極3を直接に設け、第1の抵抗体層7及び第2の抵抗体層8を絶縁層10を介して設け、第3の抵抗体層9を内部電極20を介して設け、第1の抵抗体層7と出力端子電極3とを電気的に接続し、第1の抵抗体層7と入力端子電極4とを第1の内部電極12を介して電気的に接続し、第2の抵抗体層8と出力端子電極3との間を第2の内部電極13を介して電気的に接続し、第2の抵抗体層8とアース端子電極8との間を第3の内部電極14を介して電気的に接続して1チップ化したので、全体を小型化することができる。従って、温度検出回路用等とした場合に、回路基板上における実装面積を小さくすることができるので、回路基板の小型化を図ることができる。
さらに、サーミスタ素体2の特性のリニア化を図るために、別途抵抗を必要とすることがなく、また、サーミスタ素体2と内部の抵抗体層7、8との整合を図るために、抵抗体層7、8を選択したり、抵抗体層7、8にトリマーを付加したりする必要がないので、製造コストを大幅に低減させることができる。
図12及び図13には、本発明による複合素子の第6の実施の形態が示されていて、この複合素子1は、サーミスタ素体2の長手方向の一方の端面に絶縁層10を介して入力端子電極4を設け、他方の端面にアース端子電極5を直接に設け、上面側の中央部に出力端子電極3を直接に設け、出力端子電極3の図中左側の部分に絶縁層10を介して第1の抵抗体層7及び第2の抵抗体層8を設け、第1の抵抗体層7と入力端子電極4との間を第1の内部電極12を介して接続し、第1の抵抗体層7と第2の抵抗体層8との間を第2の内部電極13を介して接続するとともに、第2の内部電極13をサーミスタ素体2に接続し、第2の抵抗体層8を第3の内部電極14を介して出力端子電極3に接続したものであって、その他の構成は前記第1の実施の形態に示すものと同様である。
この場合、図13に等価回路で示すように、入力端子電極4と第1の内部電極12と第1の抵抗体層7と第2の内部電極13とサーミスタ素体2と出力端子電極3とサーミスタ素体2とアース端子電極5とを直接に接続し、入力端子電極4と出力端子電極3との間に、サーミスタ素体2に並列に第2の内部電極13及び第3の内部電極14を介して第2の抵抗体層8を接続した回路からなる複合素子1が得られることになる。
そして、この実施の形態に示す複合素子1にあっても、サーミスタ素体2の表面に、入力端子電極4を絶縁層10を介して設け、出力端子電極3及びアース端子電極5を直接に設け、第1の抵抗体層7及び第2の抵抗体層8を絶縁層10を介して設け、第1の抵抗体層7と入力端子電極4との間を第1の内部電極12を介して接続し、第1の抵抗体層7と第2の抵抗体層8との間を第2の内部電極13を介して接続するとともに、第2の内部電極13をサーミスタ素体2に接続し、第2の抵抗体層8を第3の内部電極14を介して出力端子電極3に接続して1チップ化したので、全体を小型化することができる。従って、温度検出回路用等とした場合に、回路基板上における実装面積を小さくすることができるので、回路基板の小型化を図ることができる。
さらに、サーミスタ素体2の特性のリニア化を図るために、別途抵抗を必要とすることがなく、また、サーミスタ素体2と内部の抵抗体層7、8との整合を図るために、抵抗体層7、8を選択したり、抵抗体層7、8にトリマーを付加したりする必要がないので、製造コストを大幅に低減させることができる。
さらに、2つのサーミスタ素体2、2を擬似的に使用する回路を構成しているので、出力電圧と温度との関係をよりリニア化することができ、温度検出の高精度化を図ることができる。
図14に、本発明による第1の実施の形態の複合素子と第6の実施の形態の複合素子との特性を示す。この図から第6の実施の形態の複合素子の方がより直線的な特性が得られることが分かる。
図15(A)は、本発明の第7の実施形態による複合素子1を示す断面図である。
複合素子1は、チップ状のサーミスタ素体2と、サーミスタ素体2の両端に形成される第1の端子電極3及び第2の端子電極5とを有する。
本実施形態では、第1の端子電極3及び第2の端子電極5として、樹脂電極にNiめっき及びSnめっきを施したものを用いた。この他にも、第1の端子電極3及び第2の端子電極5として、サーミスタ素体2の両端に絶縁性の樹脂を介して樹脂電極を形成する方法や、焼付電極により形成する方法を用いることもできる。
第1の端子電極3及び第2の端子電極5と、サーミスタ素体2の上面の一部領域上には、第1の端子電極3及び第2の端子電極5とサーミスタ素体2の間の電気的な接続を良好にするための表面電極30a及び30bが形成されている。サーミスタ素体2の上面及び表面電極30(30a、30b)の一部領域上には、サーミスタ素体2を保護するための絶縁層31aが形成されている。また、サーミスタ素体2の下面にもサーミスタ素体2を保護するための絶縁層31bが形成されている。
なお、本実施形態では、絶縁層31(31a、31b)としてガラスコートを用いて複合素子1を形成した。絶縁層31をガラスコートではなく、樹脂コートにより形成することもできる。
絶縁層31aの上面の一部領域上には、第3の端子電極4及び抵抗下地電極32が形成される。抵抗下地電極32は、第1の端子電極3及び表面電極30bに電気的に接続される。抵抗下地電極30bと第3の端子電極4を電気的に接続するようにして抵抗体層33の厚膜が形成される。その後、複合素子1の上面を保護するために、絶縁層31a、第3の端子電極4、抵抗下地電極32、抵抗体層33の一部領域上を覆って、絶縁層34(34a、34b)が形成される。最後に、複合素子1の本体部の三側面に、第1の端子電極3、第2の端子電極5、第3の端子電極4がそれぞれ形成される。
なお、本実施形態では、絶縁層34として樹脂コートを用いて複合素子1を形成した。絶縁層34を樹脂コートではなく、ガラスコートにより形成することもできる。
また、本実施形態では、複合素子1の上面にのみ絶縁層34(34a、34b)を形成する場合について説明したが、複合素子1を保護するために、サーミスタ素子2の下面にも絶縁層31bを介して絶縁層34を形成しても構わない。
図15(B)は、図15(A)に示した複合素子1の等価回路図である。第2の端子電極5は、サーミスタ素体2の一方の端子に接続されている。また、サーミスタ素体2の他方の端子は、第1の端子電極3に接続されるとともに、抵抗体層33の一方の端子に接続される。また、抵抗体層33の他方の端子は、第3の端子電極4に接続される。
図16は、本実施形態による複合素子1を用いた場合の特性を示すグラフである。図15(A)の複合素子1において、第3の端子電極4に電源電圧Vinを印加し、第2の端子電極5を接地した場合、サーミスタ素体2の検知する温度Tに応じて、第1の端子電極3から出力される電圧Voutが変化する。図16のグラフは、横軸に温度T(度)を取り、縦軸にVout/Vinを取って、TとVout/Vinの関係をプロットしたものである。温度Tの上昇とともに、Vout/Vinの値がほぼ直線的に減少している。
以上説明した第1から第7の実施形態による複合素子1によれば、1チップで、電圧出力モードの3端子(有効端子)構成とし、出力電圧/温度特性においてリニア特性を実現することができる。また、サーミスタ部と抵抗部の特性の整合を行うことにより、温度検知精度の向上を実現した複合素子1を提供することができる。更に、複合素子1自体の小型化を容易に図ることができ、製造を安価に行うことができるとともに、回路基板上における実装面積を大きくすることなく、全体の小型化に寄与できる複合素子1を提供することができる。
なお、第1から第7の実施形態による複合素子1は、図1に示すように、第1の端子電極3、第2の端子電極5、第3の端子電極4の合計3端子で構成されていた。しかし、図1のように複合素子1を形成すると、複合素子1の中央部の一方の側面にしか電極(図2の第3の端子電極4)が形成されていないため、電子機器等の基板上に複合素子1を装着する場合、複合素子1が基板に対して十分に固定されない可能性がある。
よって、図17(A)に示すように、複合素子1の中央部に形成する電極(第3の端子電極4)を、サーミス素体2を環状に覆うように形成するようにしてもよい。このようにすれば、第1の端子電極3と第2の端子電極5以外に、サーミスタ素体2の周囲に環状に形成した第3の端子電極4を用いて、サーミスタ素体2の両側の側面から複合素子1を固定することができる。よって、電子機器等の基板などに対する複合素子1の実装強度を向上させることができる。
また、図17(B)に示すように、複合素子1の第3の端子電極4が形成されているサーミスタ素体2の側面とは反対側の側面に、第3の端子電極4とは電気的に絶縁された接合用端子35を設けるようにしてもよい。このようにすれば、第1の端子電極3、第2の端子電極5、第3の端子電極4、接合用端子35の合計4端子により、複合素子1を電子機器等の基板上に固定できるため、複合素子1の実装強度をより向上させることができる。
また、図18に示すように、複合素子1に第1の端子電極3、第2の端子電極5、第3の端子電極4、接合用端子35を設けるようにしてもよい。図18に示す複合素子1では、複合素子1の一方の側面に第1の端子電極3と第3の端子電極4を形成するとともに、複合素子1の他方の側面に第2の端子電極5と接合用端子35を形成している。なお、複合素子1の一方の側面及び他方の側面に形成する4端子の組み合わせは図18に示した構成に限定されるものではなく、任意の組み合わを用いることが可能である。
このように、複合素子1に4端子(第1の端子電極3、第2の端子電極5、第3の端子電極4、接合用端子35)を設けることにより、複合素子1の両側面を基板等により強固に固定することができる。よって、複合素子1の実装強度を更に向上させることができる。
以上、実施形態に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。
本発明による複合素子の第1の形態の全体を示した斜視図である。 図1の断面図である。 図1及び図2に示す複合素子の等価回路図である。 本発明による複合素子の第2の実施の形態を示した断面図である。 図4に示す複合素子の等価回路図である。 本発明による複合素子の第3の実施の形態を示した断面図である。 図6に示す複合素子の等価回路図である。 本発明による複合素子の第4の実施の形態を示した断面図である。 図8に示す複合素子の等価回路図である。 本発明による複合素子の第5の実施の形態を示した断面図である。 図10に示す複合素子の等価回路図である。 本発明による複合素子の第6の実施の形態を示した断面図である。 図12に示す複合素子の等価回路図である。 本発明による複合素子の特性を示したグラフである。 本発明による複合素子の第7の実施の形態を説明するための図である。 本実施形態による複合素子の特性を示したグラフである。 本発明の実施形態による複合素子の形状を示す斜視図である。 本発明の実施形態による複合素子の他の形状を示す斜視図である。 従来の温度検出回路の一例を示した説明図である。
符号の説明
1 複合素子
2 サーミスタ素体
3 第1の端子電極
4 第3の端子電極
5 第2の端子電極
6、7、8、33 抵抗体層
10、31a、31b、34a、34b 絶縁層
30a、30b 表面電極
35 接合用端子(第4の端子電極)

Claims (9)

  1. チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、第2の端子電極と、絶縁層を介在させた第3の端子電極と、絶縁層を介在させた抵抗体層とが設けられ、前記抵抗体層に前記第1の端子電極及び前記第3の端子電極が接続されていることを特徴とする複合素子。
  2. チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、第2の端子電極と、第3の端子電極と、絶縁層を介在させた抵抗体層とが設けられ、前記抵抗体層に前記第1の端子電極及び前記第3の端子電極が接続されていることを特徴とする複合素子。
  3. 第1の端子電極、第2の端子電極、第3の端子電極の何れかがサーミスタ素体の抵抗値を調整する内部電極を兼ねていることを特徴とする請求項1又は2に記載の複合素子。
  4. 第1の端子電極、第2の端子電極、第3の端子電極、抵抗体層の何れか又はこれらの2以上のものの間にサーミスタ素体の抵抗値を調整する内部電極が接続されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の複合素子。
  5. チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、第2の端子電極と、絶縁層を介在させた第3の端子電極と、絶縁層を介在させた第1の抵抗体層と第2の抵抗体層とが設けられ、前記第1の抵抗体層に前記第1の端子電極及び前記第3の端子電極が接続され、前記第2の抵抗体層が前記サーミスタ素体に並列に接続された状態で、第2の抵抗体層の一端が前記第1の端子電極に接続され、他端が前記第2の端子電極に接続されていることを特徴とする複合素子。
  6. チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、絶縁層を介在させた第2の端子電極と第3の端子電極と、絶縁層を介在させた第1の抵抗体層と第2の抵抗体層と第3の抵抗体層とが設けられ、前記第1の抵抗体層に前記第1の端子電極及び前記第3の端子電極が接続され、前記第2の抵抗体層が前記サーミスタ素体に並列に接続された状態で、第1の抵抗体層の一端が前記第1の端子電極に接続され、前記第2の抵抗体層の他端と前記第2の端子電極との間に前記第3の抵抗体層が接続されていることを特徴とする複合素子。
  7. チップ状のサーミスタ素体の表面に第1の端子電極と、第2の端子電極と、絶縁層を介在させた第3の端子電極と、絶縁層を介在させた第1の抵抗体層と第2の抵抗体層とが設けられ、前記第1の抵抗体層の一端が前記第3の端子電極に接続され、他端が内部電極を介して前記サーミスタ素体に接続され、前記第2の抵抗体層が前記サーミスタ素体に並列に接続された状態で、第2の抵抗体層の一端が前記内部電極を介して前記第1の抵抗体層に接続され、他端が前記第1の端子電極に接続されていることを特徴とする複合素子。
  8. 前記第1〜3の端子電極を除く素子本体部の表面には絶縁層が設けられ、
    前記第1〜3の端子電極のうち、素子本体部側面に形成される端子電極は、複合素子の本体部の少なくとも一側面以上に備えられている
    ことを特徴とする請求項1〜7のいずれかの項に記載の複合素子。
  9. 前記第1〜3の端子電極以外に、複合素子を固定するために用いられる、前記第1〜3の端子電極とは電気的に絶縁されている第4の接合用端子を更に有し、
    前記第4の端子電極は、複合素子の本体部の少なくとも一側面以上に備えられている
    ことを特徴とする請求項8に記載の複合素子。
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