JP2005274493A - レーザ走査型観察装置およびピンホール部材 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 極短パルスレーザ光を発するレーザ光源4と、試料Aからの戻り光を検出する撮像手段5とを備える光学ユニット6と、レーザ光源4からの極短パルスレーザ光を試料A上に走査させる光走査部10と、該光走査部10により走査された極短パルスレーザ光を試料A上に結像させる対物光学系2とを備える測定ヘッド3と、これら光学ユニット6と測定ヘッド3とを接続するマルチモードファイバ7と、測定ヘッド3に備えられ、可視光を透過させかつレーザ光を遮断する材質からなるピンホール手段18とを備えるレーザ走査型観察装置1を提供する。
【選択図】 図1
Description
この多光子励起型の測定装置においては、試料から発せられる蛍光を、シングルモードファイバにより接続された外部の光電子増倍管によって検出するように構成されている。
本発明は、極短パルスレーザ光を発するレーザ光源と、試料からの戻り光を検出する撮像手段とを備える光学ユニットと、レーザ光源からの極短パルスレーザ光を試料上に走査させる光走査部と、該光走査部により走査された極短パルスレーザ光を試料上に結像させる対物光学系とを備える測定ヘッドと、これら光学ユニットと測定ヘッドとを接続するマルチモードファイバと、前記測定ヘッドに備えられ、可視光を透過させかつ極短パルスレーザ光を遮断する材質からなるピンホール手段とを備えるレーザ走査型観察装置を提供する。
このように構成することで、マルチモードファイバにより伝播されてきた多モード分散を付与された極短パルスレーザ光から最低次モードの極短パルスレーザ光のみを抽出して試料に照射し、試料から得られた蛍光を遮ることなくマルチモードファイバで撮像手段まで導くことを可能にするピンホール手段を簡易に構成することができる。この場合のピンホールは比較的大きくて済み、製造も容易である。
このように構成することで、部品点数を増加させることなく上記作用を達成することが可能となる。
交換機構を作動させピンホール部材から共焦点ピンホール部材に変更するとともに、レーザ光源から発せられたレーザ光を試料に入射させることで、共焦点観察を行うことが可能となる。この場合に、ピンホール部材と極短パルスレーザ光とを用いて行う多光子励起観察と、共焦点観察とを同一のマルチモードファイバおよび撮像手段を用いて行うことが可能となり、レーザ走査型観察装置を簡易かつコンパクトに構成することができる。
このようにすることで、試料に照射する光量を制限せず、試料からの戻り光も制限することがないので、例えば、試料の表面に対するピント合わせを行う際に、明るい鮮明な画像を得ることができ有利である。
本発明によれば、多数の伝送モードのレーザ光の内から最低次モードのレーザ光のみを一方向に透過させる一方、多方向から入射される蛍光等の可視光を遮断することなく通過させることができる。
本実施形態に係るレーザ走査型観察装置1は、多光子励起型観察装置であって、図1に示されるように、実験小動物を始めとする試料Aに対向配置される対物レンズ2を備える測定ヘッド3と、例えば、パルス幅が100fsec(フェムト秒)程度、波長976nm程度の近赤外極短パルスレーザ光を発生するレーザ光源4と蛍光観察用の光検出器5とを備える装置本体6と、これら装置本体6と測定ヘッド3とを接続するマルチモードファイバ7とを備えている。
集光レンズ8は、マルチモードファイバ7内を伝播してきた極短パルスレーザ光を第1中間像B位置に結像させるようになっている。
コリメートレンズ9は、集光レンズ8により第1の中間像を形成した極短パルスレーザ光を平行光に変換するようになっている。
本実施形態に係るレーザ走査型観察装置1によれば、レーザ光源4から発せられた極短パルスレーザ光は、ダイクロイックミラー20を透過してコリメートレンズ19によりマルチモードファイバ7の端面に入射させられる。そして、マルチモードファイバ7内を伝播して測定ヘッド3内に入り、集光レンズ8によって集光されてフィルタ部材18のピンホール18c近傍にマルチモードファイバ7の出射端と同じ中間像を結像する。
極短パルスレーザ光が焦光される位置において多光子励起現象が生じさせられると、試料Aの内部の比較的深い位置において蛍光を発生させることができる。発生された蛍光は、試料Aの表面から対物レンズ2内に戻り、結像レンズ12、瞳投影レンズ11およびレーザ走査部10を経てフィルタ部材18に通過させられる。
本実施形態のように集光レンズ8とコリメートレンズ9との間の第1中間像B位置にフィルタ部材18を配置する方が、マルチモードファイバ7の端面7aに構成する場合と比較して、部品を大きくすることができる分、製造が容易であるというメリットがある。
本実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係るレーザ走査型観察装置1と構成を共通とする箇所に同一符号を付して説明を簡略化する。
本実施形態においては、装置本体6に、2つのレーザ光源4,31が備えられている。第1のレーザ光源4は、第1の実施形態と同様の極短パルスレーザ光を発する多光子励起観察用の光源である。第2のレーザ光源31は、例えば、波長488nmのレーザ光を発生する共焦点観察用の光源である。第2のレーザ光源31の出射口には、全反射ミラー32とダイクロイックミラー33とが配置され、第1のレーザ光源4からの光路と同一光路にレーザ光を入射させることができるようになっている。
1 レーザ走査型観察装置
2 対物光学系
3 測定ヘッド
4 レーザ光源
5 光電子増倍管(撮像手段)
6 装置本体(光学ユニット)
7 マルチモードファイバ
10 レーザ走査部(光走査部)
18 フィルタ部材(ピンホール手段)
18a ガラス板
18b コーティング
31 第2のレーザ光源
34 ターレット(交換機構)
35 共焦点ピンホール部材
Claims (7)
- 極短パルスレーザ光を発するレーザ光源と、試料からの戻り光を検出する撮像手段とを備える光学ユニットと、
レーザ光源からの極短パルスレーザ光を試料上に走査させる光走査部と、該光走査部により走査された極短パルスレーザ光を試料上に結像させる対物光学系とを備える測定ヘッドと、
これら光学ユニットと測定ヘッドとを接続するマルチモードファイバと、
前記測定ヘッドに備えられ、可視光を透過させかつレーザ光を遮断する材質からなるピンホール手段とを備えるレーザ走査型観察装置。 - 前記ピンホール手段が、ガラス板の表面にコーティングを施してなるピンホール部材により構成されている請求項1に記載のレーザ走査型観察装置。
- 前記ピンホール手段が、前記マルチモードファイバの端面に施されたコーティングにより形成されている請求項1に記載のレーザ走査型観察装置。
- 前記光学ユニットに設けられ、レーザ光を発する第2のレーザ光源と、
前記測定ヘッドに設けられ、レーザ光および可視光を遮断する材質からなる共焦点ピンホール部材と、
前記ピンホール部材と前記共焦点ピンホール部材とを選択的に交換する交換機構とを備える請求項2に記載のレーザ走査型観察装置。 - 口径の異なる複数種類の共焦点ピンホール部材を備える請求項4に記載のレーザ走査型観察装置。
- 前記共焦点ピンホール部材より口径の大きな空穴部材を備え、
前記交換機構が該空穴部材をも選択的に交換する請求項4または請求項5に記載のレーザ走査型観察装置。 - 可視光を透過させかつレーザ光を遮断する材質からなるピンホール部材。
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