JP2005274325A - 金属帯の光学式欠陥検査方法 - Google Patents

金属帯の光学式欠陥検査方法 Download PDF

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Abstract

【課題】2次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。
【解決手段】長手方向に搬送される鋼板Sから、2次元CCDカメラにより検査画像を入力し、該画像に基づいて表面欠陥を検査する際、前記2次元CCDカメラを、受光部10Aにおける画素列の走査方向が、前記鋼板Sの幅方向に実質的に一致するように、該金鋼板Sに対向配置すると共に、経時的に異なる2以上の時刻t〜tにおいて前記金属帯上の特定位置m’を走査して得た画像を合成して、前記金属帯上の特定位置m’の検査画像を作成する。
【選択図】図3

Description

本発明は、金属帯表面にハロゲンランプ等の光源から照明光を照射し、その照射面をCCD(Charged Coupled Device)カメラ等の2次元撮像手段により撮像して表面欠陥を検出する光学式表面欠陥検査方法に係り、特に薄板鋼板、めっき鋼板等の金属帯を、搬送設備の途中又は出側でリアルタイムに表面欠陥を検出して、該金属帯の品質を保証する際に適用して好適な、金属帯の光学式欠陥検査方法に関する。
一般に、薄板鋼板やめっき鋼板等の金属帯を製造する場合、搬送設備の出側に設置されているコイラにより、順次搬送される金属帯を巻き取ることが行なわれている。
このように巻き取った金属帯を、例えば製品として出荷する場合には、その品質を保証する必要がある。そのため、金属帯をコイラに巻き取る前に、搬送設備(製造設備を含む)の途中又は出側において、その表面を光学的に検査することが行なわれている。
金属帯の表面欠陥を、光学的に検出する方法としては、例えば特許文献1に1次元撮像器を使用する技術が開示されている。この1次元撮像器としては、例えば1次元CCD(Charge Coupled Device)カメラがある。
1次元CCDカメラを用いて金属帯の表面欠陥を検査する場合、通常、該金属帯の表面を蛍光灯等の線状又は棒状の光源で照明し、その照明位置に対して、1次元CCDカメラの光軸を所定の関係に設定した状態で、該カメラを走査することにより、1次元画像を入力する。そして、このような1次元画像の入力を、金属帯の搬送に同期させることにより、長手方向全体に亘る2次元の検査画像を取得することができ、該検査画像に基づいて表面欠陥の検査を行なうことができる。
ところで、1次元CCDカメラで画像入力する場合、通常は、同一条件で検査するために検出角度、即ち該カメラの光軸を金属帯の表面に対して一定角度に固定して画像入力が行なわれる。
ところが、欠陥の種類によっては、1つの検出角度で画像入力しただけでは、検出できないこともある。そのため、複数の検出角度で画像入力することが必要になる。
図4には、2台の1次元CCDカメラを使用して検査している様子を示す。この図には、矢印で示す搬送設備の出側に向かって搬送される鋼板(金属帯)Sの表面を、線光源100によりその幅方向に沿って照明した線状照明位置を、正反射位置の明視野で撮像する1次元CCDカメラ102と、正反射位置からずれた暗視野で撮像する1次元CCDカメラ104とにより撮像し、各カメラから入力される画像信号を、画像処理部106で処理することにより、2つの検査条件で表面欠陥を検出している例が示されている。
又、表面欠陥の光学的な検査には、2次元の撮像手段を使用する方式もある。この方式は、検査対象のエリアを均一に照明できる面光源を用いて、1回の走査で2次元画像を入力できるため、1次元CCDカメラが弱点とする、検査対象物の搬送場所の変動や、金属帯の幅の変化に対しても優位である。
図5には、2次元CCDカメラ方式の例を示す。この図には、便宜上、2台のカメラにより、明視野と暗視野でそれぞれ画像入力する場合が示してある。即ち、明視野側では、面光源110による照明エリアを2次元CCDカメラ112で撮像し、暗視野側では別な面光源111による照明エリアを2次元CCDカメラ114で撮像し、各カメラから入力される2次元の画像信号を画像処理部116で処理することにより、同様に2つの検査条件で表面欠陥を検出している。
特開平9−159622号公報
しかしながら、前記2次元CCDカメラ等の2次元撮像手段により欠陥検出を行なう場合には、撮像される範囲の検査対象エリアでは、原理上、同じエリア内でも場所によって検出角度が異なるために、撮像される検査画像では、同一角度の検査条件を得ることができず、結果的に欠陥の検出精度が、エリア上の場所によって異なるという問題がある。
又、前記1次元CCDカメラ等の1次元撮像手段により欠陥検出を行なう場合には、複数の検出角度で検査するためには、検出角度の数だけ撮像手段を用意することが必要になり、結果としてコストがかかり過ぎるという問題がある。
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、複数の撮像手段を使用することなく、複数の検出角度で金属帯の表面欠陥を検出することができる金属帯の光学式欠陥検査方法を提供することを課題とする。
本発明は、長手方向に搬送される金属帯から、2次元撮像手段により検査画像を入力し、該画像に基づいて表面欠陥を検査する金属帯の光学式欠陥検査方法において、前記2次元撮像手段を、画素列の走査方向が、前記金属帯の幅方向に実質的に一致するように、該金属帯に対向配置すると共に、経時的に異なる2以上の時刻において前記金属帯上の特定位置を走査して得た画像を合成して、前記金属帯上の特定位置の検査画像を作成することにより、前記課題を解決したものである。
本発明によれば、複数の撮像手段を使用することなく、複数の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査することができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1には、本発明に係る一実施形態の金属帯の光学式欠陥検査方法により、金属帯の長手方向である矢印方向に連続的に搬送される鋼板を検査している様子を模式的に示す。但し、実際の撮像条件については後述する。
本実施形態では、鋼板(金属帯)Sが搬送される搬送設備(製造設備を含む)又はその出側、即ち搬送ラインの所定位置に設置されている2次元CCDカメラ(撮像手段)10により、面光源12により均一に照明されている鋼板Sの検査対象エリアを撮像可能になっていると共に、撮像入力された画像データを、画像処理部14により処理して検査画像を作成することが可能になっている。
上記2次元CCDカメラ10は、図示は省略するが、多数のCCD素子で構成された画素がn(任意の複数)画素配列された受光部を有し、該受光部のn本の画素列が、走査方向を鋼板Sの幅方向に一致するように対向配置されている。
従って、上記カメラ10では、1回の撮像動作(画素列の走査)により、図2に鋼板Sと撮像範囲との関係を模式的に示すように、鋼板Sの幅方向に沿って、n本の画素列に対応する全(1〜n)走査線分の画像が入力されることになる。
このように入力される画像は、上記2次元CCDカメラ10が鋼板Sの搬送ラインの所定位置に固定されているため、ある時刻tには、2次元CCDカメラ10のm列目の画素列に鋼板Sの特定部分(位置)m’の画像が入力される。
鋼板Sの部分m’は鋼板Sの搬送に伴ない移動するので、部分m’が入力される画素列も1からnに向かって変化する。時刻tがtからtに向かって変化する間の様子を概念的に示したのが図3である。このとき、検出角度βもβからβに向かって変化するので、時刻tがtからtに向かって変化する間に、金属帯上の特定位置である部分m’を異なる2以上の時刻で走査すれば、各時刻で異なる検出角度で部分m’の画像を得ることができる。
前記したように、表面欠陥は検出角度により検出の容易さは変化するのであるが、これら異なる検出角度で得た複数の画像には、表面欠陥を検出し得る画像を含む確率が高い。従って、これら複数の画像を既知の画像処理方法で適切に合成すれば、部分m’の検査画像は表面欠陥を検出し得る確率が高いのである。
ところで、検査画像を合成するためには、各画像の搬送方向の位置を特定する必要がある。換言すれば、各時刻における画像に搬送方向の位置データを付与する必要があるが、例えばパルスジェネレータから出力される単位時間当たりのパルス数から得られる鋼板Sの搬送速度と、走査時刻の間隔とを同期させることにより容易に実施できる。
このように、鋼板Sの特定部分について異なる検出角度で入力される各単位画像から合成画像を作成するようにしたので、1台の2次元CCDカメラ10により、複数の検査角度で鋼板Sの表面欠陥を検査することが可能となる。
従って、本実施形態によれば、カメラの数を増やすことなく検出角度の異なる検査条件を構築することができるので、安価にしかも容易に検査条件の変更(角度の変更)が可能となる。即ち、走査線の数nだけ異なる単位画像から合成画像を作成できるため、結果としてn通りの検出角度で検査することができる。
又、前記実施形態では、鋼板Sの特定部分(位置)として1つの画素列に対応している例を示したが、これらに限定されず、実質的に同一の検出角度と見なせる範囲であれば隣接した2以上の画素列を単位としてもよい。この場合は、合成回数を減らすことができる。
以上説明したとおり、本発明によれば、複数の撮像手段を使用することなく、複数の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査することができる。
本発明に係る一実施形態の金属帯の光学式欠陥検査方法に適用される検査装置を模式的に示す側面図と斜視図 鋼板と2次元CCDカメラの走査方向の関係を示す説明図 本実施形態の特徴を模式的に示す側面図 従来の1次元CCDカメラによる検査方法のイメージを示す斜視図 従来の2次元CCDカメラによる検査方法のイメージを示す斜視図
符号の説明
10…2次元CCDカメラ
10A…受光部
12…面光源
14…画像処理部

Claims (1)

  1. 長手方向に搬送される金属帯から、2次元撮像手段により検査画像を入力し、該画像に基づいて表面欠陥を検査する金属帯の光学式欠陥検査方法において、
    前記2次元撮像手段を、画素列の走査方向が、前記金属帯の幅方向に実質的に一致するように、該金属帯に対向配置すると共に、
    経時的に異なる2以上の時刻において前記金属帯上の特定位置を走査して得た画像を合成して、前記金属帯上の特定位置の検査画像を作成することを特徴とする金属帯の光学式欠陥検査方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008286646A (ja) * 2007-05-17 2008-11-27 Nippon Steel Corp 表面疵検査装置
JP2009092476A (ja) * 2007-10-05 2009-04-30 Cosmograph Inc 透明搬送物検査装置及び検査方法
JP2010025652A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Nippon Steel Corp 表面疵検査装置
JP2010117322A (ja) * 2008-11-14 2010-05-27 Nippon Steel Corp 表面疵検査装置、表面疵検査方法及びプログラム
CN109454009A (zh) * 2018-12-27 2019-03-12 东莞市奕东电子有限公司 一种用于检测注塑五金件的检测设备及其工作方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008286646A (ja) * 2007-05-17 2008-11-27 Nippon Steel Corp 表面疵検査装置
JP2009092476A (ja) * 2007-10-05 2009-04-30 Cosmograph Inc 透明搬送物検査装置及び検査方法
JP2010025652A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Nippon Steel Corp 表面疵検査装置
JP2010117322A (ja) * 2008-11-14 2010-05-27 Nippon Steel Corp 表面疵検査装置、表面疵検査方法及びプログラム
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