JP2005261596A - 画像処理装置及び方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】純粋な被検査体領域を高精度にかつ安定して取得可能とする。
【解決手段】Ｘ線撮影画像から非Ｘ線照射領域と素抜け領域を除去して略被検査体領域を取得する（Ｓ２０１〜Ｓ２０３）。そして、この略被検査体領域を解析することにより、該略被検査体領域中に初期領域を決定し、この領域を成長させることにより被検査体領域を取得する（Ｓ２０４）。ここで、領域の成長においては、領域内外を判定すべき対象画素と、該対象画素に隣接する領域内の画素との画素値の差に基づいて、該対象画素の領域内外を判定することにより、初期領域を拡大していく。そして、領域成長によって得られた被検査体領域に対応する部分をＸ線撮影画像より取得して被検査体領域画像を得る。
【選択図】 図２

Description

本発明は、Ｘ線画像からより精密かつ正確に被検査体領域を取得するための画像処理技術に関する。
近年、画像情報のデジタル処理の発達により医療用のＸ線画像においてもデジタル処理を施すことが一般的となってきた。特に、従来のフィルムを用いたＸ線撮影に代わり、デジタルにてＸ線画像データを出力可能なセンサも開発されており、そのようなセンサを用いたＸ線撮像装置において医療用Ｘ線画像のデジタル処理は不可欠となっている。センサやカメラ等で撮影された画像のデジタル処理としては種々のものが適用され得るが、撮影されたデータに対して階調変換を施すことにより取得データを観察しやすい濃度値の画像に変換する階調変換処理は重要な画像処理の一つとなっている。
例えば、図１１（ａ）、（ｂ）は膝関節部のＸ線撮影画像であり、１２０１は画像全体を示し、１２０２は例えば被検査体領域である膝関節部およびその周辺部の領域が抽出された状態を示す。上述したように、センサやカメラ等何らかの撮影装置で撮影されたデータを、モニター画面やＸ線診断用フィルム等に表示する場合、撮影されたデータに対して階調変換を施すことにより、撮影データを観察しやすい濃度値に変換するのが一般的である。例えば膝関節部等の撮影データをＸ線診断用フィルムに表示する場合には、撮影データから階調変換のための特徴量（例えば平均濃度値）を抽出し、抽出した特徴量が所定値（例えば一定濃度値）になる様に変換することが行われる。
上述の様な階調変換を行うための一般的な方法について、図１１（ａ）、（ｂ）を参照して説明すると次のようである。まず、画像１２０１中のＸ線照射領域から素抜け領域を除去することにより被検査体の存在する画像領域（被検査体領域）１２０２を取得する。そして、取得した被検査体領域１２０２内の画素値について統計的調査を行って特徴量等を算出する。例えば画素値のヒストグラムを作成し、作成したヒストグラムを解析して特徴量を計算したり、また例えば取得した被検査体領域１２０２内の平均画素値等の統計量を計算する。そして、その特徴量や統計量に基づいて階調変換を行う。
ところが、このような方法では被検査体領域内の画素値分布が通常でない場合、例えば図１１（ｃ）、（ｄ）に示すようにビスや人工関節などの金属に代表されるＸ線遮蔽物体が被検査体領域内に存在する場合は、その画像が上記特徴量や統計量に影響を及ぼすことになる。この結果、階調変換後の画像が不安定になるといったような問題が生じる。よって、階調変換を行うためには、Ｘ線遮蔽物体などを除去した純粋な被検査体領域を取得することが行われている。
純粋な被検査体領域を取得する方法としては、例えば経験に基づいて設定された閾値を用いて２値化処理を行う方法や、図１２の（ａ）に示すように被検査体領域１２０４のヒストグラム１３０１を作成し、ヒストグラム解析によって、例えばピーク間の谷間部分の画素値を検出し、この画素値を境にしてＸ線遮蔽物体の画像と被検査体の画像とを分離する方法が知られている（図１２の（ｂ））（非特許文献１参照）。
「画像処理工学・基礎編」谷口慶治編集、共立出版株式会社(1996) 第５章(p.79-97) 画像の領域分割
しかしながら、経験に基づくある閾値を用いた２値化処理では、Ｘ線検査の撮影条件が変化した場合に閾値が不適切となる可能性があり、Ｘ線遮蔽物体と被検査体を正しく分離できなくなるという課題がある。また、図１２に示すようなヒストグラム解析を行う方法では、ある程度適切に閾値を設定することができるが、例えばＸ線遮蔽物体と被検査体の画素値が近似したり一部逆転しているような症例に対しては、適切にＸ線遮蔽物体と被検査体を分離できなくなるという課題がある。
本発明は上述の様な課題を解決するためになされたものであり、純粋な被検査体領域を高精度にかつ安定して取得可能とすることを目的とする。
上記の目的を達成するための本発明の一態様による画像処理装置は以下の構成を備える。すなわち、
Ｘ線撮影画像から非Ｘ線照射領域と素抜け領域を除去して第１領域を取得する取得手段と、
前記第１領域の画像を解析することにより、該第１領域中に初期領域を決定する決定手段と、
領域内外を判定すべき対象画素と、該対象画素に隣接する領域内の画素との画素値の差に基づいて、該対象画素の領域内外を判定することにより、前記初期領域を拡大して第２領域を得る領域成長手段と、
前記領域成長手段によって得られた前記第２領域に対応するＸ線撮影画像により第２領域画像を生成する生成手段とを備える。
また、本発明他の態様による画像処理方法は、
Ｘ線撮影画像から非Ｘ線照射領域と素抜け領域を除去して第１領域を取得する取得工程と、
前記第１領域の画像を解析することにより、該第１領域中に初期領域を決定する決定工程と、
領域内外を判定すべき対象画素と、該対象画素に隣接する領域内の画素との画素値の差に基づいて、該対象画素の領域内外を判定することにより、前記初期領域を拡大して第２領域を得る領域成長工程と、
前記領域成長工程によって得られた前記第２領域に対応するＸ線撮影画像により第２領域画像を生成する生成工程とを備える。
本発明によれば、純粋な被検査体領域を高精度にかつ安定して取得することが可能になる。また、例えば、このようにして得られた被検査体領域を用いて階調変換を行うようにすれば、金属等による影響を排除した階調変換が可能であり、良好な階調変換結果が得られる。
以下、添付の図面を参照して本発明の好適な実施形態について説明する。
＜第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態によるＸ線撮影装置１００の構成を示すブロック図である。図１において、Ｘ線撮影装置１００は、画像処理機能を有するＸ線の撮影装置であり、データ収集回路１０５、前処理回路１０６、ＣＰＵ１０８、メインメモリ１０９、操作パネル１１０、画像処理回路１１１を備えており、ＣＰＵバス１０７を介して互いにデータ授受されるように構成されている。また、Ｘ線撮影装置１００は、データ収集回路１０５に接続された２次元Ｘ線センサ１０４及びＸ線発生回路１０１を有する。
上述の様な構成のＸ線撮影装置１００において、まず、メインメモリ１０９は、ＣＰＵ１０８での処理に必要な各種のデータなどが記憶されるものであると共に、ＣＰＵ１０８の作業用としてのワークメモリを含む。ＣＰＵ１０８は、メインメモリ１０９を用いて、操作パネル１１０からの操作にしたがった装置全体の各種動作制御等を行う。これによりＸ線撮影装置１００は、以下のように動作する。
先ず、Ｘ線発生回路１０１は、被検査体１０３に対してＸ線ビーム１０２を放射する。Ｘ線発生回路１０１から放射されたＸ線ビーム１０２は、被検査体１０３を減衰しながら透過して、２次元Ｘ線センサ１０４に到達し、２次元Ｘ線センサ１０４によりＸ線画像として出力される。ここでは、２次元Ｘ線センサ１０４から出力されるＸ線画像を、例えば膝等の人体の部分の画像（人体部画像）とする。
データ収集回路１０５は、２次元Ｘ線センサ１０４から出力されたＸ線画像を電気信号に変換して前処理回路１０６に供給する。前処理回路１０６は、データ収集回路１０５からの信号（Ｘ線画像信号）に対して、オフセット補正処理やゲイン補正処理等の前処理を行う。この前処理回路１０６で前処理が行われたＸ線画像信号は原画像として、ＣＰＵ１０８の制御により、ＣＰＵバス１０７を介して、メインメモリ１０９や画像処理回路１１１に転送される。
画像処理回路１１１は、Ｘ線照射領域を取得するＸ線照射領域取得回路１１３、Ｘ線照射領域から素抜け領域を取得する素抜け領域取得回路１１４、Ｘ線照射領域と素抜け領域から略被検査体領域を取得する略被検査体領域取得回路１１５、略被検査体領域から被検査体領域を取得する被検査体領域取得回路１１６、被検査体領域から階調変換のための特徴量を算出する特徴抽出回路１１７、特徴抽出回路１１７で算出した特徴量に基づき画像の階調変換を行う階調変換回路１１８とを備える。なお、画像処理回路１１１は、ハードウエアで実現されてもよいし、その一部或いはすべてをソフトウエアで実現する二様に構成してもよい。
図２は第１実施形態による階調変換処理を説明するフローチャートである。また、図３は被検査体領域取得回路１１６の処理を説明するフローチャートである。また、図４は第１実施形態による被検査体領域取得処理の対象とする画像の一例であり、以下詳細に説明するが、４０１は原画像、４０２はＸ線照射領域取得後の画像（Ｘ線照射領域画像という）、４０３はＸ線照射領域から素抜け領域を削除して得られた画像（略被検査体領域画像という）、４０４は領域成長に用いる初期領域を示す画像、４０５は処理結果である被検査体領域を示す画像（被検査体領域画像という）である。また、図５は略被検査体領域を示す画像４０３から作成したヒストグラムである。図５のグラフの横軸は画素値を表し、縦軸はその頻度を示している。以下、本実施形態による階調変換処理について、これらの図を参照して詳細に説明する。
まず、ＣＰＵ１０８の制御により、前処理回路１０６で処理された原画像（例えば股関節画像）４０１はＣＰＵバス１０７を介して画像処理回路１１１へ供給される。原画像４０１を受信した画像処理回路１１１は、Ｘ線照射領域取得回路１１３により原画像４０１のＸ線照射領域を取得し、Ｘ線照射領域画像４０２を生成する（ステップＳ２０１）。次に素抜け領域取得回路１１４によりＸ線照射領域画像４０２の素抜け領域を取得し（ステップＳ２０２）、略被検査体領域取得回路１１５によりＸ線照射領域画像４０２から取得された素抜け領域を削除することにより略被検査体領域画像４０３を生成する（ステップＳ２０３）。
次に被検査体領域取得回路１１６により略被検査体領域画像４０３から被検査体領域画像４０５を生成する（ステップＳ２０４）。以下、ステップＳ２０４の処理について、図３〜図５を参照して詳しく説明する。
まず、略被検査体領域画像４０３のヒストグラムを作成する（ステップＳ３０１、図５）。次に作成されたヒストグラムから最大頻度画素値Ｖfを抽出する（ステップＳ３０２）。次に略被検査体領域画像４０３の最大画素値Ｖmを算出する（ステップＳ３０３）。続いて、被検査体領域の初期領域を設定する（ステップＳ３０４）。本例では、ＶfとＶmの中間値 (Ｖf＋Ｖm)／２ 以上の画素値をもつ画素の集合を初期領域４０４として設定する（ステップＳ３０４）。次に初期領域４０４を所定の条件に従って領域成長させる（ステップＳ３０５）。本例では、領域内外で隣接する画素の画素値ＶiおよびＶoが次式、
Ｖi−Ｖo ＜ Ｔh
を満たす場合に領域成長するものと定める。
ここでＴhはＶmとＶoにより定まる閾値（Ｔh＝ｆ(Ｖm,Ｖo)）であり、例えば図１０の（ｃ）のように与えられる。なお、上記において領域内の画素値とそれに隣接する領域外の画素値との差分をとるが、４近傍の領域成長法の場合には隣接する領域外の画素は最大４つ（上下左右）存在する。よって、それぞれについて差分をとり領域内か領域外かの判定をする。また、８近傍の領域成長法の場合には、斜めの４方向が加わり、最大８つの隣接画素が存在することになる。
以上の領域成長処理は領域が変化する限り繰り返し実行され、領域が変化しなくなったら処理を終了する（ステップＳ３０６）。こうして図３の処理を終了した時点で領域成長処理によって得られた領域に対応する原画像４０１の画像部分を被検査体領域画像４０５として出力する。図４に示されているように、被検査体領域画像４０５からはＸ線遮蔽物４０６の領域が除外されており、純粋な被検査体領域の画像が得られていることがわかる。
図２に戻り、以上のステップＳ２０４で取得された被検査体領域画像４０５を用いて特徴抽出処理を行い、抽出された特徴量に基づいて階調変換が行われる。即ち、まず、特徴抽出回路１１７は被検査体領域取得回路１１６で取得した被検査体領域画像４０５から特徴量を算出する（ステップＳ２０５）。この特徴量としては中間値や平均値などを用いることができる。そして、階調変換回路１１８において、特徴抽出回路１１７で算出した特徴量にもとづき、原画像４０１の階調変換を行う（ステップＳ２０６）。例えば、特徴量（中間値もしくは平均値）が所定の濃度になるように原画像４０１を階調変換する。
以上の様に、第１実施形態によれば、Ｘ線照射領域と素抜け領域に基づいて抽出された領域に対して領域成長法を適用することで、純粋な被検査体領域が取得される。即ち、領域成長法を基本としたアルゴリズムにより、撮影された画像内のビス、人工関節、プロテクタなどに代表されるＸ線遮蔽物体を除去した純粋な被検査体領域を取得できる効果がある。したがって、撮影された画像内にＸ線遮蔽物体が存在する場合に関しても、それらＸ線遮蔽物の影響を受けずに、安定して精度の高い階調変換を行うことができるとうい効果がある。
＜第２実施形態＞
第２実施形態では撮影部毎に初期領域の設定や領域成長の条件を切り替える攻勢を説明する。図６は、第２実施形態によるＸ線撮影装置７００の構成を示すブロック図である。図６において第１実施形態（図１）と同様の構成には同一の参照番号を付してある。第２実施形態のＸ線撮影装置７００と、第１実施形態によるＸ線撮影装置１００との相違は、画像処理回路７１１に部位情報取得回路７１２が追加された点と、被検査体領域取得回路１１６において部位情報取得回路７１２で取得された部位情報に基づいて初期領域の作成処理及び領域成長において用いる閾値を変更する点である。したがって、以下では部位情報取得回路７１２の追加により変更となる被検査体領域取得回路７１６の処理内容について詳細に説明する。
図７は第２実施形態による階調変換処理を示すフローチャートである。また、図８は第２実施形態による被検査体領域取得回路７１６の処理を説明するフローチャートである。以下、第１は実施形態と同様に図４の例を用いて各処理を説明する。なお、図９は後述する領域成長に用いる初期領域の設定方法、図１０は後述する領域成長に用いる閾値を示すグラフであり、それぞれ対象部位に応じて設定されている。
まず、ＣＰＵ１０８の制御により、前処理回路１０６で処理された原画像（例えば股関節画像）４０１が画像処理回路７１１に受信される。原画像４０１を受信した画像処理回路７１１は、部位情報取得回路７１２により原画像４０１の部位情報を取得しメインメモリ１０９に格納する（ステップＳ８０１）。なお、部位情報取得回路７１２の具体的な処理としては、パターンマッチングなどの手法により原画像４０１から自動的に撮影部位を検出する方法や、操作パネル７１０を利用してオペレータに部位を選択・指定させる方法などが考えられる。いずれの方法を用いてもよいかまわない。
続いてＸ線照射領域取得回路１１３、素抜け領域取得回路１１４、略被検査体領域取得回路１１５によって略被検査体領域画像４０３を取得する（ステップＳ８０２〜Ｓ８０４）が、これらの処理は第１実施形態（図２）におけるステップＳ２０１〜Ｓ２０３と同様であるので説明は省略する。
次に被検査体領域取得回路７１６により略被検査体領域画像４０３から被検査体領域画像４０５を生成する（ステップＳ８０５）。その処理の流れを図８に従い説明する。なお、ステップＳ９０１〜Ｓ９０３については、第１実施形態（図３）におけるステップＳ３０１〜Ｓ３０３と同様である。
ステップＳ９０４において、被検査体領域の初期領域を設定するが、ここでは上記ステップＳ８０１において部位情報取得回路７１２がメインメモリ７０９に格納した部位情報を用いて、各部位毎に設定した初期領域の形成ルールを選択し、選択したルールに従って初期領域４０４を設定する（ステップＳ９０４）。図９は第２実施形態による初期領域の形成ルールの保持例を示す図である。図９に示すように、撮影対象部位（胸部、頭部、四肢…）毎に、初期領域として選択すべき画素値の範囲（初期領域形成ルール）が設定されている。したがって、例えば、図４の例示のごとく撮影部位が「四肢」であれば、「最大頻度の画素値と最大頻度の中間値以上を初期領域とする」というルールが選択され（図９）、これにしたがって初期領域４０４が形成される。なお、図９に示した初期領域の条件は、各部位の撮影画像の特徴に応じて設定された条件の一例を示すものであり、これに限定されるものではない。
次に、初期領域４０４をある条件に従い領域成長させる（ステップＳ９０５）が、第１実施形態と同様に、領域内外で隣接する画素の画素値ＶiおよびＶoが次式、
Ｖi−Ｖo ＜ Ｔh(Vm,Vo,部位情報)
を満たす場合に領域成長すると定める。
ここでＴhはＶmとＶoと部位情報により定まる閾値（Ｔh＝ｆ(Ｖm,Ｖo,部位)）であり、例えば図１０のように与えられる。即ち、ステップＳ９０５では、ステップＳ８０１において部位情報取得回路７１２がメインメモリ７０９に格納した部位情報を用いて、領域成長のルールを変更、選択し、選択されたルールで領域成長を実行することになる。なお、図１０に示される閾値の関数は、Ｘ線遮蔽物体の存在しにくい画素値の比較的高い領域は閾値が低く（領域成長しやすく）、Ｘ線遮蔽物体の存在しやすい画素値の比較的低い領域では閾値が高く（領域成長しにくく）なっている。また、Thがマイナス無限大とは絶対に領域成長しない条件であり、この条件が撮影部位により異なるのは、統計的に求めた部位の特徴を反映しているからである。また、上記のように、最大画素値との差分値を用いて閾値を決定することにより、比較的画素値の高い領域や低い領域における閾値の適切な設定を実現している。なお、図１０に示した閾値の関数は、各部位の撮影画像の特徴に応じて設定された関数の一例を示すものであり、これに限定されるものではない。
以上の領域成長処理は領域が変化する限り繰り返し実行され、領域が変化しなくなったら処理を終了する（ステップＳ９０６）。こうして図８の処理を終了した時点で領域成長処理によって得られた領域に対応する原画像４０１の画像部分を被検査体領域画像４０５として出力する。図４に示されているように、被検査体領域画像４０５からはＸ線遮蔽物４０６の領域が除外されており、純粋な被検査体領域の画像が得られていることがわかる。
以上の様に第２実施形態によれば、第１実施形態の効果に加え、撮影部位に適した初期領域や成長条件を設定して領域成長法を基本としたアルゴリズムを適用できる効果がある。また、これにより撮影された画像内のビス、人工関節、プロテクタなどに代表されるＸ線遮蔽物体を高精度に除去でき、純粋な被検査体領域を安定して取得できる効果がある。したがって、撮影された画像内にＸ線遮蔽物体が存在する場合に関しても、それらの影響を受けずに、安定で精度の高い階調変換を行うことができる効果がある。
＜他の実施形態＞
本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。
この場合、記憶媒体から読出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フレキシブルディスク，ハードディスク，光ディスク，光磁気ディスク，ＣＤ−ＲＯＭ，ＣＤ−Ｒ，磁気テープ，不揮発性のメモリカード，ＲＯＭなどを用いることができる。
また、コンピュータが読出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
さらに、記憶媒体から読出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
以上のように上記実施形態によれば、Ｘ線の照射された領域および素抜け領域に基づいて取得した略被検査体領域から、純粋な被検査体領域を取得することが可能となる。また、特に、略被検査体領域の画素値分布に基づいて初期領域を設定し、設定した初期領域を領域内外の画素値に基づいて領域成長させるので、安定して精度の高い被検査体領域取得が可能である。特に、領域内外の画素値に基づいて領域内外の判定を行うにおいて、略被検査体領域の画素値分布に基づいて設定した初期領域を、領域内外の画素値および画素値分布に基づいて領域成長させることにより、より安定して精度の高い被検査体領域取得が可能である。
また、上記の初期領域の設定や、領域成長において、その処理内容をＸ線撮影画像の撮影部位に応じて変化させるさせることにより、さらに安定して精度の高い被検査体領域取得が可能となる。
第１実施形態によるＸ線撮影装置の構成を示すブロック図である。 第１実施形態による階調変換処理を説明するフローチャートである。 第１実施形態による被検査体領域取得処理を説明するフローチャートである。 股関節画像を示す図である。 股関節画像の略被検査体領域から生成したヒストグラムを示す図である。 第２実施形態によるＸ線撮影装置の構成を示すブロック図である。 第２実施形態による階調変換処理を説明するフローチャートである。 第２実施形態による被検査体領域取得処理を説明するフローチャートである。 第２実施形態の領域成長に用いる、撮影部位毎に設定された初期領域の形成ルールを示す図である。 領域成長処理に用いる閾値を説明する図である。 膝関節画像を示す図である。 膝関節画像の略被検査体領域のヒストグラムによる解析方法を説明する図である。

Claims (11)

  1. Ｘ線撮影画像から非Ｘ線照射領域と素抜け領域を除去して第１領域を取得する取得手段と、
    前記第１領域の画像を解析することにより、該第１領域中に初期領域を決定する決定手段と、
    領域内外を判定すべき対象画素と、該対象画素に隣接する領域内の画素との画素値の差に基づいて、該対象画素の領域内外を判定することにより、前記初期領域を拡大して第２領域を得る領域成長手段と、
    前記領域成長手段によって得られた前記第２領域に対応するＸ線撮影画像により第２領域画像を生成する生成手段とを備えることを特徴とする画像処理装置。
  2. 前記第２領域画像から特徴量を算出し、該特徴量に基づいて前記Ｘ線撮影画像もしくは前記第１領域画像の階調変換を実行する変換手段を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
  3. 前記決定手段は、前記第１領域画像における最大頻度の画素値と、最大の画素値とに基づいて前記初期領域に属すべき画素値を設定することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
  4. 前記決定手段は、前記Ｘ線撮影画像における撮影部位に応じて前記初期領域に属すべき画素値の設定方法を変更することを特徴とする請求項３に記載の画像処理装置。
  5. 前記領域成長手段は、前記対象画素の画素値とこれに隣接する領域内画素の画素値との差を閾値と比較することにより領域内外判定を行い、該閾値が前記対象画素の画素値の関数であることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
  6. 前記領域成長手段において、前記閾値は、前記第１領域画像の最大画素値と前記対象画素の画素値との差の関数であることを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置。
  7. 前記領域成長手段は、前記Ｘ線撮影画像における撮影部位に応じて前記閾値の関数を変化させることを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
  8. 前記Ｘ撮影画像から前記撮影部位を自動的に検出する検出手段手段を更に備えることを特徴とする請求項４または７に記載の画像処理装置。
  9. Ｘ線撮影画像から非Ｘ線照射領域と素抜け領域を除去して第１領域を取得する取得工程と、
    前記第１領域の画像を解析することにより、該第１領域中に初期領域を決定する決定工程と、
    領域内外を判定すべき対象画素と、該対象画素に隣接する領域内の画素との画素値の差に基づいて、該対象画素の領域内外を判定することにより、前記初期領域を拡大して第２領域を得る領域成長工程と、
    前記領域成長工程によって得られた前記第２領域に対応するＸ線撮影画像により第２領域画像を生成する生成工程とを備えることを特徴とする画像処理方法。
  10. 請求項９に記載の画像処理方法をコンピュータに実行させるための制御プログラム。
  11. 請求項９に記載の画像処理方法をコンピュータに実行させるための制御プログラムを格納した記憶媒体。
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