JP2005254314A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005254314A
JP2005254314A JP2004072256A JP2004072256A JP2005254314A JP 2005254314 A JP2005254314 A JP 2005254314A JP 2004072256 A JP2004072256 A JP 2004072256A JP 2004072256 A JP2004072256 A JP 2004072256A JP 2005254314 A JP2005254314 A JP 2005254314A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
processing
laser
machining
detected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004072256A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4453407B2 (ja
Inventor
Takaaki Iwata
高明 岩田
Tetsuya Otsuki
哲也 大槻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2004072256A priority Critical patent/JP4453407B2/ja
Priority to US10/901,192 priority patent/US7173227B2/en
Publication of JP2005254314A publication Critical patent/JP2005254314A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4453407B2 publication Critical patent/JP4453407B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/03Observing, e.g. monitoring, the workpiece
    • B23K26/032Observing, e.g. monitoring, the workpiece using optical means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/14Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring using a fluid stream, e.g. a jet of gas, in conjunction with the laser beam; Nozzles therefor
    • B23K26/1462Nozzles; Features related to nozzles
    • B23K26/1494Maintenance of nozzles

Abstract

【課題】 加工状況をモニタリングできるレーザ加工装置において、加工条件による受光量の変動の影響を抑制する。
【解決手段】 加工対象を加工するためのレーザ光線を発振するレーザ発振器と、このレーザ発振器から出力されたレーザ光線を加工対象にフォーカスするフォーカスヘッドと、上記レーザ光線の照射によって加工対象から生じた光と基準光発生手段から発生した基準光とを上記フォーカスヘッドに装着したノズルを介して検出する光検出手段と、該光検出手段で検出した基準光の値から、実加工時の光の検出量と加工対象の加工状態との相関を調整する相関調整手段と、該相関調整手段により調整された実加工時の光の検出量から加工対象の加工状況をモニタリングすることにより上記レーザ発振器を制御する制御装置とを備えた。
【選択図】 図1

Description

本発明はレーザ加工機に関し、より詳しくは、被加工物の加工状況を監視できるように構成したレーザ加工機に関する。
従来、レーザ加工装置としてレーザ光線を発振するレーザ発振器と、このレーザ発振器から発振されたレーザ光線を加工対象にむけて照射するフォーカスヘッドと、上記レーザ光線の照射によって加工対象の溶融部分から生じた光を検出する検出手段と、上記レーザ発振器を制御するとともに、上記検出手段によって検出した光量によって被加工物の加工状況をモニタリングできるように構成したものが知られている(例えば、特許文献1参照)。また、上記構成のレーザ加工装置において、基準光発生手段と検出機能判定部を設け、検出光量が予め設定した光量よりも小さい場合に光検出手段の不良を判定できることを特徴としたものもある(例えば、特許文献2参照)。
特開平4−81286号公報(第2頁、第1図)
特許第2705485号公報(第1頁、第1図)
このような加工状況をモニタリングできるレーザ加工装置は、検出手段自身の機能の良否を検知する手段がないため、光を検出する機能が低下した場合などにおいては被加工物の加工状況を誤って把握する結果を招くものか、あるいは、検出手段自身の機能の良否を検知する手段はあっても、モニタリングの精度に影響する他の要因、例えばノズルの特性など検出手段以外の影響を抑制する手段については何も記載されていないものであった。
すなわち、一般的には、上記検出手段で検出される受光量は、レーザ光線の出力、焦点位置、加工速度などにより変化し、これらの要素は加工面の品質を決定する。通常は、反射光の受光量が少なくなるほど加工面の品質がよくなる。ただし、この受光量が変動する要因として、上記の被加工物の加工状況、検出手段自身の機能の良否以外に、ノズルに付着するスパッタ、加工方向などが挙げられる。このように色々な要因で検出される受光量が変化してしまうと結果的に良好な加工は望めない。従って、加工状況の正確なモニタリングをする必要があり、このためには、これら加工品質とは関係のない受光量変動の要因を排除する必要がある。
本発明は、このような事情に鑑み、受光量を変化させる要因の影響を抑制して、被加工物をより高精度に加工できるレーザ加工機を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、この発明に係るレーザ加工装置においては、加工対象を加工するためのレーザ光線を発振するレーザ発振器と、このレーザ発振器から出力されたレーザ光線を加工対象にフォーカスするフォーカスヘッドと、上記レーザ光線の照射によって加工対象から生じた光と基準光発生手段から発生した基準光とを上記フォーカスヘッドに装着したノズルを介して検出する光検出手段と、該光検出手段で検出した基準光の値から、実加工時の光の検出量と加工対象の加工状態との相関を調整する相関調整手段と、該相関調整手段により調整された実加工時の光の検出量から加工対象の加工状況をモニタリングすることにより上記レーザ発振器を制御する制御装置とを備えた。
本発明の構成によれば、光検出手段の較正をせずに光検出手段の特性のばらつきを考慮することなく、またノズルの特性(ノズルの径や新品度など)にかかわりなく、精度よく加工状態をモニタリングすることができるため、被加工物をより高精度に加工することができる。
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1によるレーザ加工装置の模式図である。レーザ加工装置はレーザ光線6を発振するレーザ発振器10と、このレーザ発振器10から発振されたレーザ光線6を集光する集光レンズ4を収納したフォーカスヘッド3とを備えており、上記レーザ発振器10は制御装置1によって発振のタイミング、デューティー比、繰り返し周波数などが制御されるようになっている。上記フォーカスヘッド3は図示しない昇降機構によって昇降されるようになっており、またフォーカスヘッド3と加工対象7を載せた図示しない加工テーブルとをボールネジやリニアモータなどの駆動機構によって水平面内で相互に直交する方向に相対移動させることにより、上記加工対象7に所望のレーザ加工を施すことができるようになっている。フォーカスヘッド3の先端部はノズル5を着脱可能な構造となっており、ノズルの径を変えることによりフォーカスヘッド内を流れる図示しない加工ガス流量を調整できるようになっている。
上記フォーカスヘッド3にはフォトダイオード等の光センサ(望ましくは3個以上)がとりつけてあり、検出された信号はセンサアンプで増幅され制御装置1に入力するようにしている。光センサを3個以上使用するのは、加工方向による光の偏りを考慮したためである。光検出手段2は光センサおよびセンサアンプによって構成されている。上記制御装置1によって発振制御されたレーザ発振器10からのレーザ光線6はフォーカスヘッド3の集光レンズ4で集光されて加工対象7に照射されるようになっている。光検出手段2を構成する光センサは、レーザ光線6の照射によって生じた光をノズル5の孔を介してセンシングする。光検出手段2で検出された検出光量は制御装置1のモニタリング部12によって加工状態を判断できるようになっている。モニタリング部は検出した検出光量をもとにレーザ発振器10を制御し、これによって加工条件を変化させることにより、良質な加工結果を得ることができる。なお、図中斜め矢印はパラメータ調整していることを示す。以下の図においても同様である。
また、レーザ加工装置には基準光発生手段8が備えられており、基準光発生手段はLEDなどの発光素子と定電流電源などのLED電源部及び該発光素子を覆うように設けられガイド9で構成されている。このガイド9はノズル5と嵌め合う形状となっている。基準光を計測するとき、レーザ加工装置は、昇降機構と駆動機構によってノズル5の位置をガイド9とが嵌め合う位置に合わせる。ガイド9により光検出手段2は外部からの光を受けることなく、一定の距離で基準光発生手段8の光を計測できる。なお、ガイド9とノズル5の接触する部分はゴムなどで被覆しノズルを傷つけないようになっている。
次に、本発明の加工手順のフローについて説明する。図2は全体の加工手順のフローを示したフローチャートである。加工手順は、大別して事前作業部、基準光による検査作業部、および、本加工部の大きくわけて3部分からなる。工場出荷前等の事前作業部では基準ノズルNAを用いて光検出手段2で検出した溶融部分の反射光の検出光量とそのときの加工品質を測定し(S1)、反射光の検出量と加工品質の相関をマッピングする(S2)。基準光による検査作業部は、実際の本加工の前に使用するノズルNBに対して行う。したがって、ロット毎や一定時間毎の作業となる(S3、S4)。本加工部は実際の加工対象に対してビームを照射し加工することをさす(S5)。
事前作業部のフローの内容について、図3に示す事前作業部の模式図を用いて追加説明する。本発明の加工装置は、工場出荷される前にあらかじめ各種の加工対象に対して加工を実施しており、ユーザが簡単に加工条件を選定できるよう、標準加工条件が用意されている。この工場出荷前の加工においては基準ノズルを使用する。なお、基準ノズルは加工対象の材質や板厚などに応じて、ある程度別々に用意してもかまわない。後述する実施の形態3における円形状の曲線や放射状の直線の加工もこの事前作業にて行う。
一般的に、加工品質がよくなるように加工すると、溶融部分の反射光は少なくなる。したがって、あらかじめ最も加工品質がよくなる条件で加工を行い、溶融部分の反射光を光検出手段2で測定しておけば、後に最適な条件で加工できているかどうかが反射光の検出レベルでわかる。反対に、加工条件を悪くしていくと、溶融部分からの反射光量は多くなってくる。さらに加工条件が悪くなると、もはや正常加工ができなくなり、バーニングやガウジングが起きてしまう。ここでは、バーニングとは切断溝幅が広がる過燃焼、ガウジングとは溶融物が上に吹き上がる現象と定義する。ステンレス材を加工する場合も、加工品質がよくなる条件では反射光が少なく、加工条件が悪いとプラズマ発生にいたる。これらの検出された反射光量と加工品質の相関をマッピングした様子を図4に示す。この相関を使うことにより、本加工時の反射光量から加工状態をモニタリングできる(図5)。また、本加工時に最適加工条件での光量よりあきらかに少ない光量を検出した場合、ノズルにスパッタが付着したものと判断することができる。
次に実際の加工を始める前の、基準光による検査部のフローについて説明する。ここではノズルを介して基準光を測定する。基準光の測定は、図1に示すようにフォーカスヘッドをノズル5がガイド9に嵌め合うように移動させた位置で行う。測定結果の例を図6に示す。本加工で使用するノズルNBと基準ノズルNAとの特性から相関調整手段11は受光検出量を調整する。そのフローの様子を図7に示す。図中の破線の枠部分は事前作業部を示す。
最後に本加工部のフローについて説明する。本加工では、溶融部分の反射光を光検出手段2を用いオンラインで測定する。反射光レベルが大きくなった場合、最適な加工条件で加工できるよう、制御装置1は加工速度、レーザパワーなどのパラメータを操作する。
以下で、さらに具体的に説明する。
本発明の加工装置は光検出手段2で検出した基準光の検出光量により制御装置1の相関調整手段11によって調整された実加工時の光の検出量から加工対象の加工状況をモニタリングできるようになっている。例えば、ノズル5の径が変わればその孔の面積に応じてフォーカスヘッド3内に入ってくる光量は比例的に変わってくるので、その分の調整が必要である。その調整原理について説明する。本発明の加工装置は、工場出荷される前にあらかじめ各種の加工対象に対して加工を実施しており、ユーザが簡単に加工条件を選定できるよう、標準加工条件が用意されている。この工場出荷前の加工においては基準ノズルを使用する。なお、基準ノズルは加工対象の材質や板厚などに応じて別々に用意してもかまわない。
本発明の加工装置では、この基準ノズルを使用してあらかじめ基準光が測定されている。基準光の測定は、図1に示すようにフォーカスヘッドをノズル5がガイド9に嵌め合うように移動させた位置で行う。また、基準光−受光センサの入出力特性を考慮して、基準光は2つ以上の発光レベルで発光させて計測を行う。図6は2つの発光レベルa、bで基準光を発光させたときの測定結果例を示している。基準ノズルでの測定結果例は図6のNAで示した。発光レベルa−b間の入出力特性は基準光に使用しているLEDの特性と受光センサの特性により決定されるが、使い勝手を考慮してなるべく線形となるものを選択する。そのことにより、a−b間の特性は図6のように直線近似できる。ユーザは本加工を行う前に、本加工で使用するノズルNBを装着させ同様の方法で基準光を計測する。
本発明の加工装置は、この計測を自動で行えるよう基準光発生手段8が定められた位置に設けてあり、フォーカスヘッド3をノズル5がガイド9に密着する位置に移動させ、基準光をいくつかの発光レベルで発光させ、光検出手段によってその光量を計測するアルゴリズムが用意されている。その測定結果例は図6のNBで示した。ノズルNBを使用した場合でも入出力特性は基本的には基準光に使用されているLEDの特性と受光センサの特性により決定されるので、NAと似た特性曲線となる。本実施例では入出力特性が直線となるようなLEDおよび受光センサを選択しているのでNBのa−b間特性も同様に直線で近似できる。開口径の大きなノズルを使用すれば、ノズルに入る光量が多くなるので、NBの傾きは大きくなる。また、同じ径のノズルでも、使用時間が長いノズルはノズル内の表面が酸化され光の反射率が小さくなるのでNBの傾きはやや小さくなる。ノズルNBを使用する場合、相関調整手段11はノズルNBの特性がノズルNAの特性と一致するよう、本加工時の光検出信号の調整、例えばゲインとオフセット調整など、を行うことができるようになっている。このように調整することで、実際に加工をする条件で基準光を検出でき、ノズルの状態や受光センサのばらつき、取り付け位置の違いなどの影響を排除して基準光測定作業を自動で行うことができる。
次に制御装置1のモニタリング部12について説明する。モニタリング部は加工時において加工対象の加工状態をモニタリングすることを目的とする。一般的に、よりよい加工条件で加工されているときほど加工対象の溶融部からの反射光は少ない。したがって、最適加工条件で加工したときの光量を記憶しておけば、光検出手段2からの光検出信号レベルから加工状態を判断することができる。
本発明の加工装置においては、あらかじめ標準的な各種加工材料に対し最適加工条件での光量が測定され記憶されている。したがって、相関調整手段11によって調整された本加工時の光検出信号が最適加工条件の光量よりも大きい場合、加工状態が最適でないことがわかり、これをユーザに知らせることができる。またその場合、加工条件を変化させ、よりよい加工条件で加工できるようにすることができる。
また、本発明では光検出手段2で検出した基準光の検出光量は制御装置1の相関調整手段11によってモニタリング部を調整できるようになっている。したがって、例えばノズル5の径が変わればその孔の面積に応じてフォーカスヘッド3内に入ってくる光量が変わってくるが、相関調整手段11によりその影響を排除できる。また、ノズルはよく銅など金属製のものを使用するが、その新品度、すなわち酸化度合いや表面の汚れによって光の反射率が異なってくる。この影響についても本発明では基準光発生手段8と相関調整手段11を設けることにより排除している。つまり本発明によれば、ノズルの状態(径、新品度)によらず高精度に加工状態をモニタリングすることができる。
さらに、一般的に受光センサの特性にはばらつきがあり、従来、特に厚板の切断加工などの加工状況を精度よくモニタリングしたい場合には、受光センサごとに較正作業を行う必要があった。ここでは、基準光発生手段8と相関調整手段11を設けることにより受光センサごとの較正作業を不要とした。
さらに、光検出手段自体がきちんと較正されていても、光センサ取り付け位置などによっても検出される光量は異なってくることが知られている。特にガウジングで溶融物が吹き上がりノズルにスパッタが付着した場合などにおいては、その影響が大きくなる。従来はノズルにスパッタが付着した際、オペレータがその都度、加工装置をとめてノズルをとりはずし目視により確認する必要があった。本発明では光検出手段2で検出した基準光の検出光量は制御装置1の相関調整手段11によってモニタリング部を調整できるようになっているので、ノズルへのスパッタ付着によるノズル5の径の変化、つまり、ノズル孔の面積変化によるフォーカスヘッド3内への入射光量の変化の影響を相関調整手段11により排除できる。
また、上述のようなノズルへのスパッタ付着によるノズル5の径の変化以外にも、加工対象との接触によりノズルの孔が変形してしまうことがある。本発明では、基準光を計測したときに検出光量が所定の値よりも小さい場合、相関調整手段11が異常と判断し、この状況を警告するメッセージを表示し、不良加工を未然に防ぐことができる。
以上のように、本発明では相関調整手段11を設けているので、上記以外にも、ピアッシング加工においては、より正確にピアッシング終了検知を行うことができること、光検出信号からプラズマを検知する場合には、より正確にプラズマ検知を行うことができること、及び、光検出信号からバーニングやガウジングを検知する場合には、より正確にバーニングやガウジングの検知を行うことができることなどの利点がある。
実施の形態2.
図8は本発明の実施の形態2によるレーザ加工装置の模式図である。実施の形態2は基本的には実施の形態1と同じ構成要素を有している。ただし、図8に示したとおり、基準光発生手段8は持ち運び可能としてある。基準光発生手段8はノズル5の先端部に着脱可能なガイド9を有している。実施の形態1のときとは違って、基準光を計測するときはユーザが手動で基準光をノズル5に装着する。基準光発生手段を持ち運び可能とすることで、加工テーブル上に基準光発生手段8のためのスペースを確保する必要がない利点がある。
実施の形態3.
レーザ加工においては、加工対象の溶融部の発光やプラズマの発生は広範囲でおきる。また、一般的に受光センサには指向性があり、センサの取付け方向と加工方向には密接な関係があり、加工状態のモニタリングにおいて加工方向の影響を受ける。従って、通常、光検出手段には複数個の受光センサが使われるが、厚板の切断時など、高品質な加工面を実現する上で加工条件を細かく設定しなければならず、複数個の受光センサを用いるだけでは不十分である。よって、このような場合には、より精度よく加工状態をモニタリングする必要があり、加工方向の影響を排除できる機能も併せて必要となる。本発明の実施の形態3によるレーザ加工装置は、この加工方向の影響を排除できる機能を持つレーザ加工機の一例を示すものである(図9)。
図9は本発明の実施の形態3によるレーザ加工装置の模式図である。図9に示したレーザ加工装置においては、ユーザが加工したいと思う加工形状データを記憶するデータ記憶部13を備えている。レーザ加工装置はデータ記憶部13からの形状データに基づき制御装置1よりレーザ発振器10、フォーカスヘッド3を上下する昇降機構、水平面内駆動機構を制御し所望のレーザ加工を施す。
レーザ加工が施されると光検出手段2はノズル5の孔を介し加工対象7の溶融部分の光を受光する。光検出手段2で検出された検出光量により制御装置1のモニタリング部は加工状態を判断する。レーザ加工装置は加工方向(2次元)によって検出される検出光量信号を補正できるようになっている。
ここで、もう少し詳しくこの補正原理について説明する。本発明の加工装置は、工場出荷される前にあらかじめ各種の加工対象に対して加工を実施しており、ユーザが簡単に加工条件を選定できるよう、標準加工条件が用意されている。この工場出荷前の加工においては例えば円形状の曲線や放射状の直線を同一加工条件で加工してある。同一の加工条件にかかわらず、加工対象の融解部からの発光パターンと光検出手段2の受光センサの取り付け方向との関係によって光検出信号レベルは加工方向によって異なってくる。例えば、放射状の直線を等角度間隔で実施し、その1周分の光検出信号レベルの平均値を求める。図10はその測定結果例である。相関調整手段11では、たとえば以下のように補正係数を求め、相関調整を行う。補正係数は、各々の方向に加工した場合の光検出信号レベルを1周分の光検出信号レベルの平均値で割ることにより加工方向毎に求める。測定点を十分多くとれば、実施した角度以外での加工にも対応できる。この場合、隣接した2つの角度の補正係数から、線型を仮定して求めることができる。
制御装置1の相関調整手段11は、加工方向によりモニタリング部を調整できるようになっている。具体的には、加工方向により相関調整手段11は事前に記憶させてある補正係数により検出光量のゲイン調整を行う。これにより、本発明のレーザ加工装置では加工方向によらず高精度な加工状態モニタリングが可能となり、レーザ発振器10を制御して良質な加工結果を得ることができる。
本発明の実施の形態1によるレーザ加工装置の模式図である。 本発明の実施の形態1によるレーザ加工装置の加工手順全体のフローを示したフローチャートである。 本発明の実施の形態1によるレーザ加工装置の加工手順中の事前作業部の模式図である。 検出された反射光量と加工品質の相関マッピングの模式図である。 加工状態予測図である。 2つの発光レベルa、bで基準光を発光させたときの測定結果例である。 受光検出量を調整するフロー図である。 本発明の実施の形態2によるレーザ加工装置の模式図である。 本発明の実施の形態3によるレーザ加工装置の模式図である。 ノズルの加工方向による特性の測定結果例である。
符号の説明
1 制御装置、2 光検出手段、3 フォーカスヘッド、4 集光レンズ、5 ノズル、6 レーザ光線、7 加工対象、8 基準光発生手段、9 ガイド、10 レーザ発振器、11 相関調整手段、12 モニタリング部、13 データ記憶部


Claims (6)

  1. 加工対象を加工するためのレーザ光線を発振するレーザ発振器と、このレーザ発振器から出力されたレーザ光線を加工対象にフォーカスするフォーカスヘッドと、上記レーザ光線の照射によって加工対象から生じた光と基準光発生手段から発生した基準光とを上記フォーカスヘッドに装着したノズルを介して検出する光検出手段と、該光検出手段で検出した基準光の値から、実加工時の光の検出量と加工対象の加工状態との相関を調整する相関調整手段と、該相関調整手段により調整された実加工時の光の検出量から加工対象の加工状況をモニタリングすることにより上記レーザ発振器を制御する制御装置とを備えたレーザ加工装置。
  2. 基準光発生手段は、上記いずれのノズルとも嵌め合う形状のガイドを有することを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工装置。
  3. 基準光発生手段は、少なくとも2つの発光レベルで発光が可能なことを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工装置。
  4. 2つの発光レベル間における基準光と光検出手段との入出力特性が線形であることを特徴とする請求項3に記載のレーザ加工装置。
  5. 光検出手段は、少なくとも3個のセンサを有することを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工装置。
  6. 光検出手段で検出した検出光量を加工方向によって補正することを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工装置。


JP2004072256A 2004-03-15 2004-03-15 レーザ加工装置 Expired - Fee Related JP4453407B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004072256A JP4453407B2 (ja) 2004-03-15 2004-03-15 レーザ加工装置
US10/901,192 US7173227B2 (en) 2004-03-15 2004-07-29 Laser beam processing apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004072256A JP4453407B2 (ja) 2004-03-15 2004-03-15 レーザ加工装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005254314A true JP2005254314A (ja) 2005-09-22
JP4453407B2 JP4453407B2 (ja) 2010-04-21

Family

ID=34918607

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004072256A Expired - Fee Related JP4453407B2 (ja) 2004-03-15 2004-03-15 レーザ加工装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7173227B2 (ja)
JP (1) JP4453407B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009136886A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工機
JP2011115806A (ja) * 2009-12-01 2011-06-16 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置
JP2011206806A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置
JP2013086115A (ja) * 2011-10-17 2013-05-13 Amada Co Ltd 加工モニタリング装置及びその方法
WO2021205789A1 (ja) * 2020-04-07 2021-10-14 株式会社アマダウエルドテック レーザ加工モニタ装置、レーザ加工モニタ方法、およびレーザ加工装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7244906B2 (en) * 2005-08-30 2007-07-17 Electro Scientific Industries, Inc. Energy monitoring or control of individual vias formed during laser micromachining
JP5100833B2 (ja) * 2008-06-04 2012-12-19 三菱電機株式会社 レーザ加工装置およびレーザ加工方法
WO2016181359A1 (de) 2015-05-13 2016-11-17 Bystronic Laser Ag Laserbearbeitungsvorrichtung
JP6342949B2 (ja) * 2016-05-17 2018-06-13 ファナック株式会社 反射光を抑制しながらレーザ加工を行うレーザ加工装置及びレーザ加工方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0481286A (ja) 1990-07-21 1992-03-13 Kitagawa Iron Works Co Ltd レーザ加工装置
US5463430A (en) * 1992-07-31 1995-10-31 Nidek Co., Ltd. Examination apparatus for examining an object having a spheroidal reflective surface
JP2705485B2 (ja) 1992-09-10 1998-01-28 澁谷工業株式会社 レーザ加工機
FR2774319B1 (fr) * 1998-02-05 2000-02-25 Lorraine Laminage Procede de reglage de la position d'une camera de controle thermographique d'une soudure
CA2251243C (en) * 1998-10-21 2006-12-19 Robert Dworkowski Distance tracking control system for single pass topographical mapping
JP4659300B2 (ja) * 2000-09-13 2011-03-30 浜松ホトニクス株式会社 レーザ加工方法及び半導体チップの製造方法
EP1238749B1 (de) 2001-03-08 2005-12-07 Trumpf Werkzeugmaschinen GmbH + Co. KG Verfahren und Vorrichtung zum Brennschneiden von Werkstücken
US6462827B1 (en) * 2001-04-30 2002-10-08 Chromaplex, Inc. Phase-based wavelength measurement apparatus
US20020180967A1 (en) * 2001-06-04 2002-12-05 Koji Shio Light wavelength measuring instrument, light wavelength measuring method and laser apparatus
JP3753657B2 (ja) * 2001-12-27 2006-03-08 本田技研工業株式会社 ツインスポットパルスレーザ溶接方法および装置
JP2004085529A (ja) * 2002-06-25 2004-03-18 Matsushita Electric Works Ltd レーザー測距装置及び方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009136886A (ja) * 2007-12-04 2009-06-25 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工機
JP2011115806A (ja) * 2009-12-01 2011-06-16 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置
JP2011206806A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置
JP2013086115A (ja) * 2011-10-17 2013-05-13 Amada Co Ltd 加工モニタリング装置及びその方法
WO2021205789A1 (ja) * 2020-04-07 2021-10-14 株式会社アマダウエルドテック レーザ加工モニタ装置、レーザ加工モニタ方法、およびレーザ加工装置
JP7308355B2 (ja) 2020-04-07 2023-07-13 株式会社アマダウエルドテック レーザ加工モニタ装置、レーザ加工モニタ方法、およびレーザ加工装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20050199780A1 (en) 2005-09-15
US7173227B2 (en) 2007-02-06
JP4453407B2 (ja) 2010-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6399915B1 (en) Method and apparatus for determining quality of welding at weld between working material pieces
WO2013014994A1 (ja) レーザ加工装置およびレーザ加工制御装置
WO2002045899A1 (fr) Procede de commande de soudage a l'arc et soudeur a l'arc
JPH06252485A (ja) レーザ加工機
JP4171728B2 (ja) 3次元形状測定装置
JP4453407B2 (ja) レーザ加工装置
JP2008087053A5 (ja)
US8461470B2 (en) Method of measuring degradation condition of output mirror in laser oscillator and laser machining apparatus
JP6717790B2 (ja) レーザ加工中に光学系の汚染レベルに応じて焦点シフトを調整するレーザ加工装置
WO2015118829A1 (ja) レーザ加工装置
US20180264597A1 (en) Laser processing apparatus and laser processing method
JP5642235B2 (ja) レーザ加工装置
JP5328708B2 (ja) レーザ加工装置
JP2002346783A (ja) レーザ溶接制御方法及びその装置
JP2011115806A (ja) レーザ加工装置
KR20160073785A (ko) 레이저 가공 시스템 및 이를 이용한 레이저 가공 방법
US20210370438A1 (en) Laser processing device
JP7308355B2 (ja) レーザ加工モニタ装置、レーザ加工モニタ方法、およびレーザ加工装置
JPH1147970A (ja) 自動焦点調節機構付きレーザ溶接装置
JP6861918B1 (ja) レーザ加工装置
JP2009276491A (ja) ガルバノスキャナシステムの調整方法
JP2022083168A (ja) レーザ加工システム及び治具
JP2016221545A (ja) レーザ加工装置、及び、レーザ加工装置の集光角設定方法
JPH08215869A (ja) レーザ溶接方法およびその装置
JP4680871B2 (ja) ビームプロファイル測定装置及びレーザ加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061110

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090107

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090526

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090724

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100112

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100125

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130212

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130212

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees