JP2005252063A - 半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワーク - Google Patents

半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワーク Download PDF

Info

Publication number
JP2005252063A
JP2005252063A JP2004062057A JP2004062057A JP2005252063A JP 2005252063 A JP2005252063 A JP 2005252063A JP 2004062057 A JP2004062057 A JP 2004062057A JP 2004062057 A JP2004062057 A JP 2004062057A JP 2005252063 A JP2005252063 A JP 2005252063A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor wafer
sheet
adhesive sheet
warpage
amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004062057A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4549078B2 (ja
Inventor
Masayuki Yamamoto
雅之 山本
Hide Izumida
秀 和泉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Priority to JP2004062057A priority Critical patent/JP4549078B2/ja
Publication of JP2005252063A publication Critical patent/JP2005252063A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4549078B2 publication Critical patent/JP4549078B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

【課題】 実際に半導体ウエハに薄型化加工を施すことなく、薄型化された半導体ウエハに発生するであろう反り量を間接的に測定する。
【解決手段】 ダミー基板W1にウエハ形状と同形状のシート状物Dを剥離可能に仮固定した粘着シート貼付け装置調整用ワークのシート状物Dの上に粘着シートTを貼付けローラ30を介して貼り付け、粘着シートTの貼り付けられたシート状物Dをダミー基板W1から剥離し、その反り量を測定する。この測定結果から粘着シートを貼り付けて薄型化加工された半導体ウエハの反り量を測定する。
【選択図】 図8

Description

本発明は、表面保護用の粘着シートが貼り付けられた半導体ウエハの反り量を測定する方法、および、粘着シート貼付け装置を利用して半導体ウエハに粘着シートを貼り付ける際に、半導体ウエハの反り量に基づいて貼付けローラの押圧力など種々の貼り付け条件を調整するのに用いる粘着シート貼付け装置調整用ワークに関する。
半導体ウエハ(以下、単に「ウエハ」という)を薄型化加工する手段として、研削や研磨などの機械的方法、またはエッチングを利用した化学的方法などを利用してウエハの裏面を加工してその厚みを薄くしている。また、これらの方法を利用してウエハを加工する際、配線パターンの形成されたウエハ表面を保護するために、その表面に保護シートが貼り付けられる。
つまり、バックグラインド工程に移載されたウエハは、その表面(パターン面)をチャックテーブルで吸着保持され、その裏面が砥石で研削される。このとき、ウエハの表面には研削によるストレスが加わりパターンが破損したり、汚れたりする恐れがあるので、その表面に保護シートを貼り付けている。この保護シートは、ロール巻きされた帯状の粘着シートをウエハ表面に供給するとともに、貼付けローラをウエハ表面に沿って転動移動させることで、粘着シートをウエハ表面にその一端から順次に貼り付けてゆき、その後、ウエハ周縁に沿って粘着シートが切断される(例えば、特許文献1参照)。
特開平8−217320号公報
上記のように貼付けローラを転動移動させて、ウエハの表面に粘着シートを貼り付けると、貼付けローラによる押圧力によって粘着シートは僅かに伸ばされながらウエハ表面に貼り付けられることになり、粘着シートには収縮する応力が蓄積された状態になる。この場合、バックグラインド処理される前の厚いウエハは粘着シートの収縮方向への応力に対抗し得る剛性を備えているが、バックグラインド処理により薄型化されて剛性が低下すると、粘着シートの収縮方向への応力に抗しきれなくなって反りや歪みが発生する。
そこで、この反り量を許容範囲内に収めるために、実際のウエハに粘着シートを貼り付けてバックグラインド処理を行った後のウエハの反り量を測定し、この測定結果から得られた情報に基づいて貼付けローラの押圧力、転動移動速度、およびチャックテーブルのウエハ載置面周りに配備した外枠の高さなどについて、粘着シート貼付け装置の各種機構部分を調整している。
したがって、実物のウエハを利用して粘着シートの貼り付けからウエハ裏面の研削までの一連の処理工程を経た後でなければウエハの反り量を求めることができないので、粘着シート貼付け装置調整用の情報収集をするために多大な手数と時間を要するとともに、調整のために多くのウエハを消費することが問題となっている。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、実際にウエハに薄型化加工を施すことなく、薄型化されたウエハに発生するであろう反り量を測定することができる半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワークを提供することを主たる目的としている。
第1の発明は、薄型化加工後の半導体ウエハの反り量を測定する半導体ウエハの反り量測定方法であって、
半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板にシート状物を剥離可能に仮固定する過程と、
前記シート状物の他方の面上に粘着シートを貼付けローラを介して貼り付ける過程と、
前記粘着シートが貼り付けられたシート状物を前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板から剥離する過程と、
前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板から剥離した前記粘着シートが貼り付けられたシート状物の反り量を測定する過程と、を有し、
前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板から剥離した前記粘着シートが貼り付けられたシート状物の反り量から、薄型化加工後の半導体ウエハの反り量を測定することを特徴とする。
(作用・効果) この方法によると、半導体ウエハまたはダミー基板に仮固定されたシート状物の他方の面上に粘着シートが貼り付けられた後に、シート状物は半導体ウエハまたはダミー基板から粘着シートと一体にして剥離され、薄いシート状物はその表面に貼り付けられた粘着シートの収縮変形によって反り変形する。このシート状物の反り量から薄型化加工されたウエハの反り量を予測することができる。
したがって、実物の半導体ウエハを使用して粘着シートの貼り付けからバックグラインド処理までの一連の処理を経る必要がないので、多大な手数と時間の浪費、および半導体ウエハの消費を解消することができる。
第2の発明は、第1の発明において、薄型化加工後の半導体ウエハの反り量の測定は、前記粘着シートを半導体ウエハに貼り付けて薄型化加工した後に測定した半導体ウエハの反り量の基準値と、前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板から剥離した前記粘着シートが貼り付けられたシート状物の反り量の実測値との比較から予め求めた相関関係に基づいて、前記粘着シートを貼り付けたシート状物の反り量から薄型化加工後の半導体ウエハの反り量を測定することを特徴とする。
(作用・効果) この方法によると、薄型化加工した後に測定した半導体ウエハの反り量の基準値と、半導体ウエハまたはダミー基板から剥離した粘着シートが貼り付けられたシート状物の反り量の実測値との比較から相関関係を予め求め、この相関関係に基づいてシート状物の反り量を測定することで、精度の高い反り量計測が可能となる。すなわち、第1の発明方法を好適に実施することができる。
なお、シート状物としては、半導体ウエハと同形状であって薄型化加工された半導体ウエハの厚さと同じ厚さである樹脂シートまたは金属シートであることが好ましい。これらシート状物は、薄型化加工後の半導体ウエハの反り量を既存の粘着シート貼付け装置に利用することができ、費用削減に有効となる。
第4の発明は、半導体ウエハに粘着シートを貼り付ける粘着シート貼付け装置における粘着シート貼付け条件を調整・設定するのに用いる粘着シート貼付け装置調整用ワークであって、
半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板と、前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板に剥離可能に仮固定した半導体ウエハと同形状であるシート状物とで構成されていることを特徴とする。
(作用・効果) この発明によると、半導体ウエハまたはダミー基板に粘着シート貼り付け後のシート状物の剥離が容易になるとともに、その剥離に伴うシート状物の変形を防止することができ、粘着シートの収縮のみに起因する反りだけを正確に測定することができる。
なお、シート状物としては、半導体ウエハと同形状であって薄型化加工後の半導体ウエハの厚さと同じ厚さである樹脂シートまたは金属シートであることが好ましい。これらシート状物は、薄型化加工された半導体ウエハの反り量を既存の粘着シート貼付け装置に利用することができ、費用削減に有効となる。
この発明に係る半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワークによれば、半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板に仮固定したシート状物の他方の面上に粘着シートを貼り付けた後に、この粘着シートと一体となったシート状物を半導体ウエハなどから剥離し、剥離後に粘着シートの収縮変形によって反り変形するシート状物の反り量を測定することにより、粘着シートを貼り付けて薄型化加工した後の半導体ウエハの反り量を予測することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
図1は粘着シート貼付け装置の全体構成を示す斜視図である。
本実施例の粘着シート貼付け装置は、半導体ウエハW(以下、単に「ウエハ」という)を収納したカセットC1,C2が装填されるウエハ供給/回収部1、ロボットアーム2を備えたウエハ搬送機構3、アライメントステージ4、ウエハWを載置して吸着保持するチャックテーブル5、ウエハWに向けて表面保護用の粘着シートTを供給するシート供給部6、シート供給部6から供給されたセパレータ付きの粘着シートTからセパレータsを剥離回収するセパレータ回収部7、チャックテーブル5に載置されて吸着保持されたウエハWに粘着シートTを貼り付ける貼付けユニット8、ウエハWに貼り付けられた粘着シートTをウエハWの外形に沿って切り抜き切断するシート切断機構9、ウエハWに貼り付けて切断処理した後の不要シートT’を剥離する剥離ユニット10、および、剥離ユニット10で剥離された不要シートT’を巻き取り回収するシート回収部11などが備えられている。
以下、各機構について具体的に説明する。
ウエハ供給/回収部1には2台のカセットC1,C2を並列して装填可能であり、各カセットC1,C2には、配線パターン面を上向きにした多数枚のウエハWが多段に水平姿勢で差込み収納されている。
ウエハ搬送機構3に備えられたロボットアーム2は、水平に進退移動可能に構成されるとともに、全体が駆動旋回および昇降可能となっている。そして、ロボットアーム2の先端には、馬蹄形をした真空吸着式のウエハ保持部2aが備えられており、カセットC1に多段に収納されたウエハW同士の間隙にウエハ保持部2aを差し入れてウエハWを裏面から吸着保持し、吸着保持したウエハWをカセットC1から引き出して、アライメントステージ4、チャックテーブル5、および、ウエハ供給/回収部1の順に搬送するようになっている。
アライメントステージ4は、ウエハ搬送機構3によって搬入載置されたウエハWを、その外周に形成されたオリエンテーションフラットやノッチなどに基づいて位置合わせを行うようになっている。
図2に示すように、チャックテーブル5は、ウエハ搬送機構3から移載されたウエハWを所定の位置合わせ姿勢でウエハ載置面Sに載置して真空吸着によって保持するようになっている。また、このチャックテーブル5の上面には、後述するシート切断機構9のカッタ刃14をウエハWの外形に沿って旋回移動させて粘着シートを切断するためにカッタ走行溝15が形成されるとともに、テーブル中心にはウエハWの搬入搬出時にウエハWをテーブル上面から浮上させて支持する吸着パッド16が昇降自在に配備されている。
図1に戻り、シート供給部6は、ボビン26から繰り出されたセパレータ付きの粘着シートTをガイドローラ27群に巻回案内し、セパレータsを剥離した粘着シートTを貼付けユニット8に導くように構成されており、ボビン26に適度の回転抵抗を与えて過剰なシート繰り出しが行われないように構成されている。
セパレータ回収部7は、粘着シートTから剥離されたセパレータsを巻き取る回収ボビン28が巻き取り方向に回転駆動されるようになっている。
図3に示すように、貼付けユニット8にはエアーシリンダ29で昇降される貼付けローラ30が水平片持ち状に備えられており、ユニット全体が案内レール31に沿って水平移動可能に案内支持されるとともに、モータ32で正逆転駆動されるネジ軸33によって左右水平に往復ネジ送り駆動されるようになっている。
剥離ユニット10には剥離ローラ34が水平片持ち状に備えられており、ユニット全体が案内レール31に沿って水平移動可能に案内支持されるとともに、モータ35で正逆転駆動されるネジ軸36によって左右水平に往復ネジ送り駆動されるようになっている。
図1に戻って、シート回収部11は、不要シートT’を巻き取る回収ボビン37が巻き取り方向に回転駆動されるようになっている。
シート切断機構9は、駆動昇降可能な可動台38に、チャックテーブル5の中心上に位置する縦軸心X周りに駆動回転可能な支持アーム39が備えられるとともに、この支持アーム39の遊端側に備えたカッタユニット40に、刃先を下向きにしたカッタ刃14が装着された構造となっている。
次に、上記実施例装置を用いて表面保護用の粘着シートTをウエハWの表面に貼り付けるための一連の基本動作について図4〜図7を参照しながら説明する。
貼り付け指令が出されると、先ず、ウエハ搬送機構3におけるロボットアーム2がカセット台に載置装填されたカセットC1に向けて移動され、ウエハ保持部2aがカセットC1に収容されているウエハ同士の隙間に挿入され、ウエハ保持部2aでウエハWを裏面(下面)から吸着保持して搬出し、取り出したウエハWをアライメントステージ4に移載する。
アライメントステージ4に載置されたウエハWは、オリエンテーションフラットやノッチを利用して位置合わせされ、位置合わせのすんだウエハWは再びロボットアーム2によって搬出されてチャックテーブル5上に突出している吸着パッド16に移載され、その後、吸着パッド16が下降することでウエハWがチャックテーブル5のウエハ載置面に載置される。この場合、下限まで下降した吸着パッド16の上面がウエハ載置面Sと面一となっているのでウエハWは吸着パッド16の上面にも載置支持されることになる。
チャックテーブル5に載置されたウエハWは、その中心がチャックテーブル5の中心上にあるように位置合わせされた状態で吸着保持される。この時、図4に示すように、貼付けユニット8と剥離ユニット10は左側の初期位置に、また、シート切断機構9のカッタ刃14は上方の初期位置でそれぞれ待機している。
次に、図4中の仮想線で示すように、貼付けユニット8の貼付けローラ30が下降されるとともに、この貼付けローラ30で粘着シートTを下方に押圧しながらウエハW上をシート走行方向と逆方向(図では左から右方向)に転動し、これによって図5に示すように、粘着シートTがウエハWの表面全体に貼り付けられる。
次に、貼付けユニット8が終端位置に達すると、図6に示すように、上方に待機していたカッタ刃14が下降されて、チャックテーブル5のカッタ走行溝15において粘着シートTに突き刺さり貫通される。
カッタ刃14が所定の切断高さ位置まで下降されて停止すると、支持アーム39が所定の方向に回転され、これに伴ってカッタ刃14が縦軸心X周りに旋回移動して、粘着シートTがウエハ外形に沿って切断される。
ウエハWの外形に沿ったシート切断が終了すると、図7に示すように、カッタ刃14は元の待機位置まで上昇され、次いで、剥離ユニット10がウエハWをシート走行方向と逆方向へ移動しながらウエハW上で切り抜き切断されて残った不要シートT’を巻き上げ剥離する。
剥離ユニット10が剥離作業の終了位置に達すると、剥離ユニット10と貼付けユニット8とがシート走行方向に移動して初期位置に復帰する。この時、不要シートT’が回収ボビン37に巻き取られるとともに、一定量の粘着シートTがシート供給部6から繰り出される。
シート貼り付け作動が終了するとチャックテーブル5における吸着が解除されるとともに吸着パッド16が上昇作動して処理済みのウエハWはテーブル上方に浮上された後、ロボットアーム2のウエハ保持部2aに移載されてウエハ供給/回収部1のカセットC2に差込み回収される。
以上で1回のシート貼り付け作動が完了し、以後、上記作動を順次繰返してゆく。
以上のように粘着シートの貼り付けによって表面が保護されたウエハWはカセットC2に収容されてバックグラインド工程に移される。この場合、バックグラインド加工によって薄くなったウエハWは加工前に比べて剛性が低下することになり、粘着シートTの僅かな収縮変形によってウエハWに反りや歪みが発生する。
この反り量を許容範囲内に収めるためには貼付けローラ30の押圧力や転動移動速度などを調整することになる。ここで、貼り付け調整を行うための情報として、薄型化加工された後のウエハWの反り量を入手する必要があり、本発明においては、ウエハWに薄型化加工を施すことなく、薄型化加工されたウエハWの反り量に匹敵する情報を以下のようにして得ることができる。
反り量測定に際しては、先ず上記の粘着シート貼付け装置を利用した粘着シート貼り付けが行われる。この場合、カセットC1にはウエハWに代えて粘着シート貼付け装置調整用ワーク(以下、単に「調整用ワーク」という)DWが収容されている。
この調整用ワークDWは、図8(a)に示すように、薄型化加工されていないウエハWと同形状のダミー基板W1とし、このダミー基板W1の上面に、ポリエステルなどの樹脂材からなるシート状物Dが水分によって貼り付け仮固定されたものである。シート状物Dは、例えば、ウエハ形状に形成されるとともに、薄型化加工されたウエハWの厚さと同等の厚さのものが使用される。なお、シート状物Dは、フィルム状態のものを含む。
ダミー基板Wは、その上面にシート状物Dを貼り付けたときの厚さが、薄型化加工前の厚さに相当する厚さのものが使用される。ダミー基板W1は、ウエハWを加工したものであってもよいし、アルミニウムなどの金属であってもよい。
上記調整用ワークDWは貼り付け処理を受けるウエハWと同様に取り扱われ、上記した手順で調整用ワークDWの上面に粘着シートTが貼り付けローラ30を介して貼り付けられるとともに、図8(b)に示すように、調整用ワークDWの外形に沿って粘着シートTが切断され、これがカセットC2に回収される。
このようにして粘着シートTが貼り付けられた調整用ワークDWをカセットC2から取り出して、粘着シートの貼り付けられたシート状物Dをダミー基板W1から剥離する。剥離方法としては、例えば、低温で水分を乾燥除去して行う。粘着シートTの貼り付けられたシート状物Dは、図8(c)に示すように、粘着シートTの僅かな収縮変形によって上向きに反り変形することになり、この反り量を、現在の貼り付け調整状態での貼り付け作動によってウエハWに発生するであろう反り量とみなすのである。
シート状物Dの反り量を測定する手段の一例を以下に示す。
図9に反り量測定装置の斜視図が、図10にその平面図が、また、図11にその正面図がそれぞれ示されている。
この反り量測定装置は、平坦な基台41の上に、粘着シートTの貼り付けられたシート状物Dを載置する測定テーブル42、この測定テーブル42の左右の対角位置に対向して配置された投光器43と受光器44、アンプユニット45、および電源ユニット46などを搭載して構成されている。なお、測定テーブル42は軸受けユニット47に縦軸支P周りに旋回可能に軸支され、テーブル上面に突設したノブ48を持って手回しで自由に旋回操作できるようになっている。
投光器43は、縦向きの投光口43aから所定の上下幅(例えば30mm)で所定の横方向幅(例えば2mm)の平行光(例えばレーザー光などL)を水平に投光するように構成されている。
受光器44は、図10に示すように、投光器43からの平行光Lを縦向きの受光口44aで受けるように構成されている。受光器44としては、投光器43からの平行光Lを受光したときに、その変化量を検知できるものであればよい。例えば、CCDラインセンサを用いて受光幅の変化を画素単位で検出するようにしてもよいし、太陽電池などのような光導電セルを用いて受光量に応じて変化する起電力を検出するようにしてもよい。
アンプユニット45は、図11に示すように、投光器43からの投光幅h1と受光器44で検知された受光幅h2とを用いて差分演算処理を行ない、ウエハWの反り量の最大値δを求めるようになっている。
具体的には、先ず測定対象となる粘着シートTの貼り付けられたシート状物Dを測定テーブル42の中心上に載置し、測定テーブル2を旋回させながら投光器43から投光する平行光Lを受光器44で逐次に検出する。このとき、シート状物Dに反りが発生していると、図12に示すように、シート状物Dが1回転する間に受光位置に応じて受光幅が変化する。
この受光幅の変化量は、図13のブロック図に示すアンプユニット45に逐次に入力され、この入力された複数のデータを比較処理し、受光幅のMIN値(最小値)45aを検出する。つまり、シート状物Dの反り量が最大値となる箇所の受光幅を検出する。
検出されたMIN値45aは、減算器45cに入力される。減算器45cでは、さらに予め設定された投光器43からの投光幅である基準値45bが入力され、この基準値45bとMIN値45aとの差分演算を行ない、シート状物Dの反り量の最大値δを出力する。
この反り量の最大値δを、例えば図示しないモニターなどの表示装置に数値表示してもよい。また、ウエハWに粘着シートTを貼り付けて薄型化加工した後の反り量の基準値と、シート状物Dに粘着シートTを貼り付けた後のシート状物Dの反り量の実測値とから予め求めた相関関係を利用し、シート状物Dの反り量から薄型化加工された後のウエハWの反り量を演算などにより算出するようにしてもよい。
なお、光導電セルを用いるときは、シート状物Dの反りによって変化する受光量に対応した起電力を予め実験などにより求め、この求めた値と実測により検出された実測値とを比較処理し、両値が一致したときのシート状物Dの反り量を出力するようにすればよい。この場合、起電力の最小値がシート状物Dの反り量の最大値となる。
以上のように、シート状物Dを挟んで配置した投光器43から投光した平行光を受光器44で検出し、投光幅の基準値と受光幅の差分をアンプユニット45で算出することにより、非接触の状態で、定量的かつ正確にシート状物Dの反り量を測定することができ、ひいては、ウエハWの反り量を正確に予測することができる。
本発明は上述した実施例のものに限らず、次のように変形実施することもできる。
(1)調整用ワークとしてのウエハWの上面にシート状物Dを貼り付け仮固定する手段としては、上記のように水分で貼り付け固定する他に、シート状物Dの下面に接着力の弱い粘着剤を塗布してもよい。
(2)シート状物Dは、薄型化加工されたウエハWの剛性に近い剛性を備えているものが望ましく、その材質および厚さは適宜選択することができる。
(3)ダミー基板W1は、ウエハW、またはウエハWと同形状に形成したガラス基板や金属板を利用することもできる。
粘着シート貼付け装置の全体を示す斜視図である。 チャックテーブルの平面図である。 貼付けユニットおよび剥離ユニットの駆動構造を示す正面図である。 シート貼り付け作動を示す概略正面図である。 シート貼り付け作動を示す概略正面図である。 シート貼り付け作動を示す概略正面図である。 シート貼り付け作動を示す概略正面図である。 (a)粘着シート貼付け装置調整用ワークの側面図、(b)粘着シートが貼り付け処理された粘着シート貼付け装置調整用ワークの側面図、(c)ダミー基板から剥離されたシート状物の側面図である。 反り量測定装置の斜視図である。 反り量測定装置の平面図である。 反り量測定装置の正面図である。 シート状物の反り量を示すである。 アンプユニットの構成を示すブロック図である。
符号の説明
30 … 貼付けローラ
W … 半導体ウエハ
W1… ダミー基板
T … 粘着シート
DW … 粘着シート貼付け装置調整用ワーク
D … シート状物

Claims (5)

  1. 薄型化加工後の半導体ウエハの反り量を測定する半導体ウエハの反り量測定方法であって、
    半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板にシート状物を剥離可能に仮固定する過程と、
    前記シート状物の他方の面上に粘着シートを貼付けローラを介して貼り付ける過程と、
    前記粘着シートが貼り付けられたシート状物を前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板から剥離する過程と、
    前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板から剥離した前記粘着シートが貼り付けられたシート状物の反り量を測定する過程と、を有し、
    前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板から剥離した前記粘着シートが貼り付けられたシート状物の反り量から、薄型化加工後の半導体ウエハの反り量を測定することを特徴とする半導体ウエハの反り量測定方法。
  2. 請求項1に記載の半導体ウエハの反り量測定方法において、
    薄型化加工後の半導体ウエハの反り量の測定は、前記粘着シートを半導体ウエハに貼り付けて薄型化加工した後に測定した半導体ウエハの反り量の基準値と、前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板から剥離した前記粘着シートが貼り付けられたシート状物の反り量の実測値との比較から予め求めた相関関係に基づいて、前記粘着シートを貼り付けたシート状物の反り量から薄型化加工後の半導体ウエハの反り量を測定することを特徴とする半導体ウエハの反り量測定方法。
  3. 請求項1または請求項2に記載の半導体ウエハの反り量測定方法において、
    前記シート状物は、前記半導体ウエハと同形状であって、かつ、薄型化加工後の半導体ウエハの厚さと同じ厚さである樹脂シートまたは金属シートであることを特徴とする半導体ウエハの反り量測定方法。
  4. 半導体ウエハに粘着シートを貼り付ける粘着シート貼付け装置における粘着シート貼付け条件を調整・設定するのに用いる粘着シート貼付け装置調整用ワークであって、
    半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板と、前記半導体ウエハまたは半導体ウエハと同形状のダミー基板に剥離可能に仮固定した半導体ウエハと同形状であるシート状物とで構成されていることを特徴とする粘着シート貼付け装置調整用ワーク。
  5. 請求項4に記載の粘着シート貼付け装置調整用ワークにおいて、
    前記シート状物は、薄型化加工後の半導体ウエハの厚さと同じ厚さである樹脂シートまたは金属シートであることを特徴とする粘着シート貼付け装置調整用ワーク。
JP2004062057A 2004-03-05 2004-03-05 半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワーク Expired - Fee Related JP4549078B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004062057A JP4549078B2 (ja) 2004-03-05 2004-03-05 半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワーク

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004062057A JP4549078B2 (ja) 2004-03-05 2004-03-05 半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワーク

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005252063A true JP2005252063A (ja) 2005-09-15
JP4549078B2 JP4549078B2 (ja) 2010-09-22

Family

ID=35032248

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004062057A Expired - Fee Related JP4549078B2 (ja) 2004-03-05 2004-03-05 半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワーク

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4549078B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007061388A1 (en) * 2005-11-28 2007-05-31 Rokko Systems Pte Ltd Detection of warp in an ic substrate
JP2007301794A (ja) * 2006-05-10 2007-11-22 General Technology Kk 熱転写リボン

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08217320A (ja) * 1995-02-07 1996-08-27 Nitto Denko Corp 粘着テープ貼付装置
JP2003261842A (ja) * 2002-03-12 2003-09-19 Lintec Corp 半導体ウエハ加工用粘着シートおよびその使用方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08217320A (ja) * 1995-02-07 1996-08-27 Nitto Denko Corp 粘着テープ貼付装置
JP2003261842A (ja) * 2002-03-12 2003-09-19 Lintec Corp 半導体ウエハ加工用粘着シートおよびその使用方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007061388A1 (en) * 2005-11-28 2007-05-31 Rokko Systems Pte Ltd Detection of warp in an ic substrate
JP2007301794A (ja) * 2006-05-10 2007-11-22 General Technology Kk 熱転写リボン

Also Published As

Publication number Publication date
JP4549078B2 (ja) 2010-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI451502B (zh) 半導體晶圓之保護帶貼附方法及其裝置
JP2009070837A (ja) 保護テープ剥離方法および保護テープ剥離装置
JP5261522B2 (ja) 貼付装置及び貼付方法
JP2008034708A (ja) 半導体ウエハマウント装置
US8807187B2 (en) Sheet sticking apparatus and sticking method
US7900677B2 (en) Sheet sticking apparatus
JP4407933B2 (ja) 粘着テープ貼付方法およびこれを用いた装置
KR101258711B1 (ko) 반도체 웨이퍼의 점착 테이프 부착 방법 및 이를 이용한장치
KR20100126207A (ko) 보호 테이프 부착 방법 및 보호 테이프 부착 장치
CN102403196B (zh) 薄片粘贴装置及粘贴方法
CN109103126B (zh) 贴片装置及粘贴方法
JP2008227224A (ja) シート貼付装置及び貼付方法
JP4535907B2 (ja) 判別機能付き位置決め装置
JP2017059582A (ja) シート貼付装置およびシート貼付方法
JP2010157543A (ja) 保護テープ剥離装置
JP5501062B2 (ja) シート貼付装置および貼付方法
JP4549078B2 (ja) 半導体ウエハの反り量測定方法および粘着シート貼付け装置調整用ワーク
JP4326363B2 (ja) 粘着シート貼付け方法およびこれを用いた装置
JP2016039298A (ja) 保護テープ貼付け方法および保護テープ貼付け装置
JP2005019841A (ja) 紫外線硬化型粘着テープの貼付け方法およびその装置並びにそれを用いて形成した物品
JP4334420B2 (ja) 保護テープ貼付け方法および保護テープ貼付け装置
JP5501049B2 (ja) シート貼付装置および貼付方法
JP2005123595A (ja) 粘着テープの貼付方法及び貼付装置
JP4350018B2 (ja) 粘着テープ貼着装置
JP5554100B2 (ja) シート切断方法およびシート切断装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061106

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090528

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20100202

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20100317

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20100506

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100621

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Effective date: 20100706

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20100706

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130716

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees