JP2005249408A - 電源ノイズ測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 電源ラインからの信号をHPF103に通し、それに分圧電圧を加算した第1の信号を生成する。一方、識別電圧に分圧信号を加算した第2の信号を生成する。比較器106は、第1の信号の電圧と第2の信号の電圧との比較結果を出力し、カウンタ107は、第1の信号の電圧が第2の信号の電圧以上である場合にカウントアップする。サンプルホルド回路108は、カウンタ107のリセット直前のカウント値をサンプルホルドする。
【選択図】 図13
Description
図4は、実施形態1による電源ノイズ測定装置の構成を示すブロック図である。
クロック乗換回路109を挿入することにより、カウント値データを、システムクロック信号に同期して動作する回路(カウント値分析回路等)で利用することが可能となる。
図12(a)は、実施形態1における分圧回路102、高域通過フィルタ103及び第1の加算器104のみを抜粋したものである。実施形態2においては、これらの部分を図12(b)に示すような回路で実現する。図12(b)に示すような回路では、分圧回路102、高域通過フィルタ103及び第1の加算器104を一体化している。
実施形態1では、分周回路111は、システムクロック信号を分周比指示データに基づいて分周していた。これでは、サンプリングクロック信号の周波数を変えてもカウント値データの更新周期を分周比指示データのみで決定することができるという利点を有する。しかし、サンプリングクロック信号の周波数と分周信号の周波数が別々に定められる。従って、ノイズ信号の電圧が識別電圧を超えた時間の割合を知るためには、カウント値データの他に、サンプリングクロック信号の周波数及び分周信号の周波数が必要となる。そして、分周信号の周波数を知るためには、システムクロック信号の周波数と分周比指示データが必要となる。
実施形態1では、第1のデジタル/アナログ変換器105が出力する参照信号の電圧が、分圧信号の電圧VOFFSETに識別電圧VNTHになるように参照電圧指示データの値を定めていた。
実施形態4の第1のデジタル/アナログ変換回路105は、外部又は内部で生成したマイナス電源信号を必要とする。これに対し、実施形態5は、第1のデジタル/アナログ変換回路105のためのマイナス電源信号を必要としないものである。
LSI内部にRAMを設け、このRAMに参照電圧指示データ(又は識別電圧指示データ)、サンプリングクロック周波数指示データ、分周比指示データ、カウント値データの組を複数記憶させてもよい。例えば、参照電圧指示データ(又は識別電圧指示データ)、サンプリングクロック周波数指示データ又は分周比指示データが変化する度に、このような組をRAMに記憶させる。そして、これらをまとめてLSI外部から読み出せるようにするための回路、配線及びピン等を設ける。
102 分圧回路
103 高域通過フィルタ
104 第1の加算器
105 第1のデジタル/アナログ変換器
106 比較器
107 カウンタ
108 サンプルホルド回路
109 クロック乗換回路
110 サンプリングクロック生成部
110−1 第2のデジタル/アナログ変換器
110−2 電圧制御発振器
111 分周器
112 波形整形部
Claims (15)
- 電源信号を電源ラインから入力し、入力した信号から所定の周波数以下の成分を除去することにより得られる信号を出力する高域通過フィルタと、
前記高域通過フィルタの出力信号に第1の直流信号を加算する第1の加算器と、
前記第1の加算器の出力信号の電圧を参照電圧と比較する比較器と、
前記比較器の比較結果に応じて、カウント動作が制御され、所定周期でリセットされるカウンタと、
リセット直前の前記カウンタのカウント値をサンプルホルドするサンプルホルド回路と、
を備えることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項1に記載の電源ノイズ測定装置において、
識別電圧指示データに対応する識別電圧を有する信号を生成するデジタル/アナログ変換器と、
前記識別電圧を有する信号に前記第1の直流信号を加算することにより前記参照電圧を有する信号を生成する第2の加算器と、
を更に備えることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項1に記載の電源ノイズ測定装置において、
参照電圧指示データに従って前記参照電圧を有する信号を生成するデジタル/アナログ変換器を更に備えることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項1に記載の電源ノイズ測定装置において、
サンプリングクロック周波数指示データに対応する周波数のサンプリングクロック信号を生成するサンプリングクロック信号生成部を更に備え、
前記比較器及び前記カウンタは、前記サンプリングクロック信号に同期して動作することを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項4に記載の電源ノイズ測定装置において、
前記サンプリングクロック信号を分周して、前記所定周期を有する信号を生成する分周回路を更に備え、
前記カウンタは、前記所定周期を有する信号によりリセットされ、
前記サンプルホルド回路は、前記所定周期を有する信号により前記カウント値のサンプリングを行うことを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項4に記載の電源ノイズ測定装置において、
システムクロック信号を分周して、前記所定周期を有する信号を生成する分周回路を更に備え、
前記カウンタは、前記所定周期を有する信号によりリセットされ、
前記サンプルホルド回路は、前記所定周期を有する信号により前記カウント値のサンプリングを行うことを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項1に記載の電源ノイズ測定装置において、
前記カウンタは、前記比較器の比較結果に応じて、カウントが許可され、又は、カウントが禁止されることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項1に記載の電源ノイズ測定装置において、
前記カウンタは、前記比較器の比較結果に応じて、カウントアップ又はカウントダウンすることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項1に記載の電源ノイズ測定装置において、
安定化電源信号を出力する電源信号生成回路を更に備え、
前記第1の加算器が前記安定化電源信号を用いることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項2に記載の電源ノイズ測定装置において、
安定化電源信号を出力する電源信号生成回路を更に備え、
前記第1の加算器、前記デジタル/アナログ変換器及び前記第2の加算器が前記安定化電源信号を用いることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項3に記載の電源ノイズ測定装置において、
安定化電源信号を出力する電源信号生成回路を更に備え、
前記第1の加算器及び前記デジタル/アナログ変換器が前記安定化電源信号を用いることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項4に記載の電源ノイズ測定装置において、
安定化電源信号を出力する電源信号生成回路を更に備え、
前記サンプリングクロック信号生成部が前記安定化電源信号を用いることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項1又は4に記載の電源ノイズ測定装置において、
安定化電源信号を出力する電源信号生成回路を更に備え、
前記第1の加算器の内部で、前記安定化電源信号の電圧を分圧することにより前記第1の直流信号を生成することを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項2に記載の電源ノイズ測定装置において、
安定化電源信号を出力する電源信号生成回路と、
前記安定化電源信号の電圧を分圧することにより前記第1の直流信号を生成する直流信号生成回路と、
を更に備えることを特徴とする電源ノイズ測定装置。 - 請求項9乃至14の何れか1項に記載の電源ノイズ測定装置において、
前記電源信号生成回路は、前記ノイズ信号が加算された前記電源信号を前記電源ラインから入力し、前記ノイズ信号のうちの少なくとも前記所定周波数以上の成分を除去することにより前記安定化電源信号を得ることを特徴とする電源ノイズ測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004056253A JP3902185B2 (ja) | 2004-03-01 | 2004-03-01 | 電源ノイズ測定装置 |
US11/067,574 US7116114B2 (en) | 2004-03-01 | 2005-02-25 | Power supply noise measuring device |
CA002498545A CA2498545A1 (en) | 2004-03-01 | 2005-02-25 | Power supply noise measuring device |
EP05004362A EP1571455A3 (en) | 2004-03-01 | 2005-02-28 | Power supply noise measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004056253A JP3902185B2 (ja) | 2004-03-01 | 2004-03-01 | 電源ノイズ測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005249408A true JP2005249408A (ja) | 2005-09-15 |
JP3902185B2 JP3902185B2 (ja) | 2007-04-04 |
Family
ID=34747600
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004056253A Expired - Fee Related JP3902185B2 (ja) | 2004-03-01 | 2004-03-01 | 電源ノイズ測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7116114B2 (ja) |
EP (1) | EP1571455A3 (ja) |
JP (1) | JP3902185B2 (ja) |
CA (1) | CA2498545A1 (ja) |
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US7116114B2 (en) | 2006-10-03 |
EP1571455A3 (en) | 2006-07-26 |
CA2498545A1 (en) | 2005-09-01 |
EP1571455A2 (en) | 2005-09-07 |
US20050212528A1 (en) | 2005-09-29 |
JP3902185B2 (ja) | 2007-04-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061130 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20061214 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20061227 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110112 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110112 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120112 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130112 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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