JP2005223206A - 3C−SiC結晶の成長方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 Si結晶基板の(110)面上に3C−SiC結晶の(111)面を略平行にエピタキシャル気相成長させる3C−SiC結晶の成長方法である。ここで、Si結晶基板を成長室内に設置する工程と、成長室内にCを含むガスを流してSi結晶基板の(110)面上に炭化バッファ結晶膜を形成する工程と、成長室内にSiとCとを含むガスを流して炭化バッファ結晶膜上に3C−SiC結晶を成長させる工程とを含むことが好ましい。
【選択図】 図1
Description
図4に示す成長装置を用いて、Si結晶基板6の(110)面上に3C−SiC結晶の(111)面を略平行にエピタキシャル気相成長させた。
わかった。
Si結晶基板6の(110)面から[001]方向に3°のオフ角を導入し、炭化バッファ結晶膜の形成を2分間にしたこと以外は実施例1と同様にして、Si結晶基板6の(110)面に厚さ約2nmの炭化バッファ結晶膜を形成した(成膜速度:約1nm/分)。
炭化バッファ結晶膜の形成時におけるC3H8ガスの流量を1.2sccmとしたこと以外は実施例1と同様にして、Si結晶基板の(110)面上に3C−SiC結晶をエピタキシャル気相成長させた。
炭化バッファ結晶膜の形成時におけるC3H8ガスの流量を1.2sccmとし、Si結晶基板の(111)面上に3C−SiC結晶の(111)面を平行にエピタキシャル気相成長させたこと以外は実施例2と同様にして、3C−SiC結晶を成長させた。3C−SiC結晶の成長後の試料を成長装置から取り出して機械研磨した。そして、この試料をイオンミリングにより薄片化した後に、高分解能透過型電子顕微鏡(HRTEM)を用いて観察し、また、この試料の電子回折像による評価を行なった。図8に比較例2の試料のHRTEM像を示す。
Claims (20)
- Si結晶基板の(110)面上に3C−SiC結晶の(111)面を略平行にエピタキシャル気相成長させることを特徴とする、3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記Si結晶基板を成長室内に設置する工程と、前記成長室内にCを含むガスを流して前記Si結晶基板の(110)面に炭化バッファ結晶膜を形成する工程と、前記成長室内にSiとCとを含むガスを流して前記炭化バッファ結晶膜上に前記3C−SiC結晶を成長させる工程と、を含むことを特徴とする、請求項1に記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記Si結晶基板を前記成長室内に設置した後に、前記成長室内にガスを流して前記Si結晶基板の(110)面上に自然発生している酸化膜を除去する工程を含むことを特徴とする、請求項2に記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記Si結晶基板の(110)面に形成する前記炭化バッファ結晶膜の面方位が、前記Si結晶基板の(110)面に略平行な3C−SiC結晶の(111)面であることを特徴とする、請求項2または3に記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記Cを含むガスの流量が1sccm以下であることを特徴とする、請求項2から4のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記Cを含むガスを1分以上200分以下流すことを特徴とする、請求項2から5のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記3C−SiC結晶の成長時における前記成長室内の圧力が1×103Pa以上1.02×105Pa以下であることを特徴とする、請求項2から6のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記炭化バッファ結晶膜の形成時における前記Si結晶基板の(110)面の温度が1000℃以上1414℃以下であることを特徴とする、請求項2から7のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記炭化バッファ結晶膜の成膜速度が0.1nm/分以上2nm/分以下であることを特徴とする、請求項2から8のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記SiとCとを含むガスの流量が0.1sccm以上10sccm以下であることを特徴とする、請求項2から9のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記SiとCとを含むガス中におけるSiとCとのモル比であるSi/Cが0.9以上1.1以下であることを特徴とする、請求項2から10のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記SiとCとを含むガスを1分以上200時間以下流すことを特徴とする、請求項2から11のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記3C−SiC結晶の気相成長時における前記成長室内の圧力が1×103Pa以上1.02×105Pa以下であることを特徴とする、請求項2から12のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記3C−SiC結晶の気相成長時における前記炭化バッファ結晶膜の温度が1000℃以上1414℃以下であることを特徴とする、請求項2から13のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記3C−SiC結晶の成長速度が10nm/分以上1000nm/分以下であることを特徴とする、請求項2から14のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記炭化バッファ結晶膜の形成および前記3C−SiC結晶の気相成長は、熱CVD法によって行なわれることを特徴とする、請求項2から15のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記Si結晶基板の(110)面から<001>方向にオフ角を導入したことを特徴とする、請求項2から16のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記Si結晶基板の(110)面から<001>方向に−10°以上−1°以下または1°以上10°以下のオフ角を導入したことを特徴とする、請求項2から17のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記Si結晶基板の(110)面にオフ角を導入し、<001>方向へのオフ角度成分が−10°以上−1°以下または1°以上10°以下であることを特徴とする、請求項2から18のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
- 前記3C−SiC結晶が単結晶であることを特徴とする、請求項2から19のいずれかに記載の3C−SiC結晶の成長方法。
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