JP2005214743A - 距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラム - Google Patents

距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2005214743A
JP2005214743A JP2004020414A JP2004020414A JP2005214743A JP 2005214743 A JP2005214743 A JP 2005214743A JP 2004020414 A JP2004020414 A JP 2004020414A JP 2004020414 A JP2004020414 A JP 2004020414A JP 2005214743 A JP2005214743 A JP 2005214743A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image data
distance
light
exposure
pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004020414A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4161910B2 (ja
Inventor
Yosuke Suzuki
陽介 鈴木
Hitoshi Yamada
仁 山田
Ryoichi Sugawara
菅原  良一
Naoki Sano
直樹 佐野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2004020414A priority Critical patent/JP4161910B2/ja
Priority to US11/007,258 priority patent/US7230685B2/en
Priority to DE102005004113.2A priority patent/DE102005004113B4/de
Publication of JP2005214743A publication Critical patent/JP2005214743A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4161910B2 publication Critical patent/JP4161910B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/02Details
    • G01C3/06Use of electric means to obtain final indication
    • G01C3/08Use of electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88Lidar systems specially adapted for specific applications
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G01S17/89Lidar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
    • G01S17/8943D imaging with simultaneous measurement of time-of-flight at a 2D array of receiver pixels, e.g. time-of-flight cameras or flash lidar
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483Details of pulse systems
    • G01S7/486Receivers
    • G01S7/487Extracting wanted echo signals, e.g. pulse detection
    • G01S7/4876Extracting wanted echo signals, e.g. pulse detection by removing unwanted signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/04Systems determining the presence of a target
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483Details of pulse systems
    • G01S7/486Receivers
    • G01S7/4861Circuits for detection, sampling, integration or read-out
    • G01S7/4863Detector arrays, e.g. charge-transfer gates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】 測定範囲が広く、距離精度の高い距離画像データを得ることが可能な距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラムを提供する。
【解決手段】 露光のみを行うことで背景光の強度に応じた画素値V1を有する第1画像データを取得し、照射パルス光の平坦部に対応する部分の反射光あるいは散乱光(以下「反射光等」)が、露光の全期間に渡って受光されるよう発光及び露光を制御することで、反射光等の強度に応じた画素値V2を有する第2画像データを取得し、照射パルス光の平坦部に対応する部分の反射光等が、パルス光を反射あるいは散乱した被測定物までの距離に応じた長さで受光されるよう発光及び露光を制御することで、その距離に応じた画素値V3を有する第3画像データを取得する。画素値V2,V3から画素値V1をそれぞれ減じることで背景光の影響を除去し、両減算結果の比をとることで反射光等の強度を変動させる各種要因の影響を相殺する。
【選択図】 図6

Description

本発明は、パルス光を用いて距離画像データを生成する距離画像データ生成装置及び生成方法、プログラムに関する。
従来より、パルス光を照射し、予め設定された測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光を複数の画素を有する光電センサにより受光し、光電センサの出力から距離画像を生成する装置が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
なお、距離画像とは、撮像された被測定物までの距離を、画像の濃淡(画素値)にて表したものであり、距離画像を用いることで、広い範囲に位置する複数の被測定物までの距離を一度に測定することが可能となる。
そして、この特許文献1に記載された装置では、図14(a)に示すように、パルス光のパルス幅をΔL、光電センサの露光期間の長さ(露光時間)をΔA(≦ΔL)に設定し、パルス光の照射と光電センサの露光とを同時に開始することにより、光電センサの各画素に、被測定物までの距離Dに応じた電荷が蓄積されるように構成されている。
即ち、パルス光を反射あるいは散乱した被測定物からの反射光あるいは散乱光は、照射したパルス光より、被測定物までの距離Rに応じた時間τ(=2D/VC:但し、VCは光速)だけ遅延して受光される。このため、露光期間の間に、光電センサの各画素が反射光あるいは散乱光を受光する期間(電荷の蓄積時間)はΔA−τとなる。つまり、光電センサの各画素の蓄積電荷Qは、被測定物までの距離Rに応じた大きさ(距離Rが大きいほど蓄積電荷Qは少)となる。
但し、蓄積電荷Qは、蓄積時間が同じであっても、反射光あるいは散乱光の強度が強いほど大きくなり、また、反射光あるいは散乱光の強度は、被測定物までの距離が同じであっても、被測定物の表面における光の反射係数あるいは散乱係数等によって様々に変化する。このため、各画素の蓄積電荷Qから、被測定物までの距離を正しく表した距離画像の画素値を得るためには、蓄積電荷Qを正規化する必要がある。
この正規化を行うために、特許文献1に記載された装置では、反射光あるいは散乱光の全体を確実に受光できるように光電センサの露光時間ΔBを設定し、被測定物からの反射光あるいは散乱光による単位時間(ここではパルス幅ΔL)当たりの電荷Qcを、上述の距離Rに応じた蓄積電荷Qとは別に測定するように構成されている。
そして、この単位時間当たりの蓄積電荷Qcと先の測定で得られた距離Rに応じた蓄積電荷Qとの比(=Q/Qc)を取ることにより、反射光あるいは散乱光の強度によらず、被測定物までの距離Rのみに応じた大きさを有するように正規化された画素値を得るようにされている。
特表2002−500367号公報
ところで、測定範囲内に向けて照射されたパルス光は、飛行中に拡散されるだけでなく、被測定物の表面にて吸収,散乱される。このため、光電センサが受光する反射光あるいは散乱光の強度、ひいては光電センサから得られる出力は、非常に小さなものとなる。従って、装置から離れた場所に位置し、しかも、反射係数の低い物体(例えば黒色の物体)の検出を可能とするためには、パルス光の発光強度を高める必要がある。
しかし、パルス光の光源として用いられる発光ダイオードやレーザーダイオード等の発光素子は、寄生素子の影響や、発光素子を駆動するためのパワーMOSFETの電流能力等の制約により、高速性を犠牲にすることなく出力パワーを増大させることは困難である。実際に、数W程度の発光を行う発光素子では、パルス光の立ち上がり時間が数百nsecのオーダとなる。特に、パルス光を照射する発光素子のドライバが、CMOSインバータを用いて構成されている場合、PMOSFETはNMOSFETと比較して電流駆動能力が低いため、PMOSFETを介して電荷が供給されるパルス光の立ち上がり時間は更に長くなる。
そして、被測定物が比較的近距離、例えば10m以内にある場合、照射したパルス光に対する反射光あるいは散乱光の遅延時間(光の飛行時間)τは、67ns以下となり、パルス光の立ち上がり時間より短いことがわかる。つまり、上述の従来装置では、図12(b)に示すように、光の強度が一定しない立ち上がり期間を用いて測定が行われることになるため、精度の良い測定を行うことができないという問題があった。
また、上述の従来装置では、単位時間当たりの蓄積電荷Qcを得る際に、露光時間ΔBがパルス光のパルス幅ΔLより長く設定されるため、露光期間内でノイズとなる背景光のみを受光する期間が長く、蓄積電荷QcのSN比を必要以上に低下させ、その結果、更に測定精度を劣化させているという問題もあった。
更に、上述の従来装置では、距離Dに応じた蓄積電荷Qを得る際における電荷の蓄積時間が、受光強度が強い近距離からの反射光あるいは散乱光を受光する時ほど長くなるため、光電センサの出力(蓄積電荷)の飽和が起こりやすく、この飽和が起こらないように発光強度を抑えると、測定範囲(被測定物を検出可能な最大距離)が制限されてしまうという問題もあった。
本発明は、上記問題点を解決するために、測定範囲が広く、距離精度の高い距離画像データを得ることが可能な距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するためになされた本発明の距離画像データ生成装置は、予め設定された測定範囲内にパルス光を照射する発光手段と、二次元的に配列された複数の電荷積分型の光電変換素子からなる光電センサを有し、この光電センサに対する露光の調整が可能な撮像手段とを備える。
そして、画像データ取得手段が、前記発光手段での発光及び前記撮像手段での露光の期間あるいは開始タイミングを制御して、光電センサを構成する各光電変換素子の出力を各画素の画素値とする画像データを取得し、その取得した画像データに基づいて、距離画像データ生成手段が、各画素が撮像手段にて撮像された被測定物までの距離に応じた画素値を有する距離画像データを生成する。
なお、画像データ取得手段では、第1画像データ取得手段が、発光手段にパルス光の照射を行わせることなく撮像手段に露光を行わせることで、撮像手段から第1画像データを取得する。また、第2画像データ取得手段が、予め設定された測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光のうち、発光手段が発光するパルス光の立ち上がり期間と立下り期間を除いた平坦部に対応する部分が、露光期間の全期間に渡って受光されるように、発光及び露光の期間あるいは開始タイミングを設定することで、撮像手段から第2画像データを取得する。更に、第3画像データ取得手段が、測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光のうち、発光手段が発光するパルス光の立ち上がり期間を除いた期間に対応する部分が、被測定物までの往復時間に応じた長さで受光されるように発光及び露光の期間あるいは開始タイミングを設定することで、撮像手段から第3画像データを取得する。
即ち、第1画像データを構成する各画素の画素値は、反射光あるいは散乱光以外の入射光(背景光)の受光レベルと各画素の動作によるノイズから成る、いわゆるオフセットレベルを示し、第2画像データを構成する各画素の画素値は、被測定物からの反射光あるいは散乱光の基準レベルを示し、第3画像データを構成する各画素の画素値は、被測定物までの距離に応じた強度を示したものとなる。
しかも、第2画像データはパルス光の平坦部のみを受光し、第3画像データはパルス光の平坦部及び立ち下がり期間のみを受光することで得られ、第1〜第3画像データのいずれも、パルス光の立ち上がり期間の影響を受けることがないようにされている。
そして、距離画像データ生成手段では、第1演算手段が、第2画像データから第1画像データを減じることで基準画像データを求め、第2演算手段が、第3画像データから第1画像データを減じることで強度画像データを求め、更に、第3演算手段が、基準画像データと強度画像データとの比を取ることで距離画像データを求める。
このように本発明の距離画像データ生成装置においては、パルス光の強度が安定しない立ち上がり期間を用いることなく、第1〜第3画像データを得るようにされていると共に、第2画像データを取得する際には、露光を行った全期間に渡って反射光あるいは散乱光を受光し、ノイズとなる背景光のみを受光する期間がないようにすることで、第2画像データのSN比を必要以上に劣化させてしまうことがないようにされている。
しかも、基準画像データ及び強度画像データを求めることで、オフセット成分が除去され、更に、その基準画像データと強度画像データとの比を取ることで、その時々の状況によって反射光あるいは散乱光の受光レベルを変動させる各種要因(パルス光を反射光あるいは散乱した被測定物表面の反射係数や、光電変換素子の暗電流、露光のための動作に伴う動作雑音、各素子の熱雑音など)の影響が相殺されるようにされている。
従って、本発明の距離画像データ生成装置によれば、被測定物までの距離のみに応じた画素値を有する精度の高い距離画像データを得ることができる。
ところで、第2画像データ取得手段は、具体的には、例えば図4(b)に示すように、露光期間(露光信号SHのパルス幅Tsh2 )を、任意の長さに設定すると共に、発光期間(発光信号FLのパルス幅Tf2)を、パルス光の立ち上がり期間の長さ(Tup)と、パルス光が測定範囲の境界までの距離を往復するのに要する上限往復時間(Tmax )と、露光期間の長さ(Tsh2 )とを加算した長さに設定し、更に、露光開始より、少なくとも立ち上がり期間の長さに上限往復時間を加算した時間(Tup+Tmax )以上前に発光が開始されるように構成すればよい。
また、第3画像データ取得手段は、具体的には、例えば図4(c)に示すように、発光期間(発光信号FLのパルス幅Tf3)を、平坦部(Tc)の長さが上限往復時間(Tmax )に等しくなるように設定すると共に、露光期間(露光信号SHのパルス幅Tsh3 )を、平坦部(Tc=Tmax )以上の長さに設定し、更に、露光開始より、立ち上がり期間の長さに上限往復時間を加算した時間(Tup+Tmax )だけ前に発光が開始されるように構成すればよい。
この場合、被測定物までの距離(0〜Tmax )が近いほど、露光期間(Tsh3 )内で反射光あるいは散乱光を受光する期間が短くなるため、比較的大きな受光レベルが得られる近い距離に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光を受光する場合でも、光電変換素子の出力が飽和し難く、光電変換素子の能力を最大限に活用することができる。
また、被測定物までの距離が遠いほど、露光期間内で反射光あるいは散乱光を受光する期間が長くなるため、小さな受光レベルしか得られない遠い距離に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光を受光する場合でも、光電変換素子からは、従来装置と比較して大きな出力を得ることができる。その結果、本発明の距離画像データ生成装置によれば、パルス光の発光強度が同じであれば、同じ距離にある被測定物からの反射光あるいは散乱光を受光した場合に、従来装置と比較してより大きな出力(画素値)を得ることができ、測定能力を向上(測定範囲を拡張)させることができる。
なお、本発明において、第1〜第3画像データ取得手段にて設定される露光期間は、いずれも同じ長さであることが望ましい。
但し、第1及び第2画像データ取得手段のうち少なくとも一方にて、露光期間が第3画像データ取得手段とは異なる長さに設定されている場合、第1及び第2演算手段では、第1〜第3画像データの各画素値を、予め設定された単位時間当たりの値に規格化して、基準画像データ及び強度画像データを求めるようにすればよい。
つまり、露光期間をいずれも同じ長さに設定した場合には、第1及び第2演算手段において、第1〜第3画像データの各画素値を、単位時間当たりの値に規格化する演算を省略することができる。
また、本発明において、第1〜第3画像データ取得手段にて設定される露光期間のうち少なくとも一つは、複数に分割されていてもよい。このように露光期間を複数に分割した場合、突発的に発生する外部光(ノイズ)が光電変換手段に入射された場合に、その影響を小さく抑えることができる。
更に、本発明において、第1及び第2演算手段を、基準画像データ及び強度画像データの各画素毎に画素値を累積するように構成し、第3演算手段を、累積された画素値を有する基準画像データ及び強度画像データに基づいて距離画像データを生成するように構成してもよい。
この場合も、突発的に発生する外部光(ノイズ)の影響を小さく抑えることができる。
また、本発明の距離画像データ生成装置は、第3演算手段が生成する距離画像データに基づいて、被測定物までの絶対距離を求める距離算出手段を備えていてもよい。
この場合、距離算出手段は、例えば、距離画像データの各画素の画素値に、予め設定された定数を乗じることにより被測定物までの絶対距離を求めるように構成してもよい。
また、例えば、画素値と絶対距離との対応を示す換算テーブルを予め用意しておき、距離算出手段は、この換算テーブルを用いて被測定物までの絶対距離を求めるように構成してもよい。
また、本発明の距離画像データ生成装置では、光電センサを構成する光電変換素子のうち、少なくとも一つの画素を基準画素とし、該基準画素では該基準画素との距離が既知である物体からの反射光あるいは散乱光を受光するように設定し、距離算出手段は、基準画素について得られた絶対距離の算出値に基づいて、各画素毎の被測定物までの絶対距離を補正するように構成してもよい。
このように構成された本発明の距離画像データ生成装置によれば、当該装置が経年変化などにより特性が変化した場合でも、基準画素での測定値に基づいて、その変化を補正することができ、長期間に渡って精度の高い距離画像データを得ることができる。
また、本発明の距離画像データ生成装置では、飽和時間測定手段が、発光手段に発光、撮像手段に露光を行わせて、光電変換素子の出力(各画素の画素値)が飽和するまでに要する飽和時間を測定し、第2画像データ生成手段は、飽和時間を上限として露光期間の長さを設定するように構成してもよい。
このように構成された本発明の距離画像データ生成装置によれば、光電センサを構成する光電変換素子の能力を最大限に有効利用することができる。
ところで、測定に用いる光は、近赤外(例えば波長850nm)など、人間の目で感知できない波長であることが望ましい。
このような波長の光を使用する場合、製造コストや感度の点で、光電変換素子としては、P型領域とN型領域の間に不純物濃度の低いI層を挟んだPIN構造を持つフォトダイオードを使用することが望ましい。
PIN構造のフォトダイオードは、一般的なCMOSプロセスで製造でき、安価であるというメリットがある他、受光領域に当たるI層が厚いため感度が高いという点で好適である。
また、一般的なイメージセンサでは、フォトダイオードの接合容量を利用して電荷を蓄積するが、接合容量は電圧によって変化してしまうため、電荷蓄積量と出力電圧がリニアな特性にならず、誤差が生じてしまう。
そこで、光電変換素子が発生させた電荷を蓄積するためのコンデンサを、光電変換素子とは別に設けることが望ましい。つまり、電圧依存性を持たないコンデンサに電荷を蓄積することで、電荷蓄積量と出力電圧との関係をリニアな特性に近づけることができ、この特性が非線形であることに基づく誤差を抑えることができる。
次に、第二の発明は、二次元的に配列された複数の電荷積分型の光電変換素子からなる光電センサの出力を、各画素の画素値とする画像データに基づいて距離画像データを生成する距離画像データ生成方法であって、パルス光の照射を行うことなく前記光電センサを露光することで、該光電センサから第1画像データを取得する第1のステップと、パルス光を照射し、予め設定された測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光のうち、パルス光の立ち上がり期間と立ち下がり期間とを除いた平坦部に対応する部分が前記光電センサにて受光されるように該光電センサを露光することで、該光電センサから第2画像データを取得する第2のステップと、パルス光を照射し、前記測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光のうち、パルス光の立ち上がり期間の除いた期間に対応する部分が、前記被測定物までの往復時間に応じた長さで前記光電センサにて受光されるように該光電センサを露光することで、該光電センサから第3画像データを取得する第3のステップと、前記第2画像データから前記第1画像データを減じることで基準画像データを求める第4のステップと、前記第3画像データから前記第1画像データを減じることで強度画像データを求める第5のステップと、前記基準画像データと前記強度画像データとの比を取ることで前記距離画像データを求める第6のステップとを備えることを特徴とする。
この距離画像データ生成方法は、上記距離画像データ生成装置にて実行される生成方法であり、当該方法を実行することで、上記距離画像データ生成装置と同様の効果を得ることができる。
ところで、上記距離画像データ生成方法を構成する各ステップは、コンピュータを機能させるためのプログラムにより実現してもよい。
この場合、そのプログラムを、コンピュータが読み取り可能な記録媒体に記憶させ、その記憶させたプログラムを必要に応じてコンピュータシステムにロードして起動することにより用いることができる。なお、記録媒体は、持ち運び可能なものであってもよいし、コンピュータシステムに組み込まれたものであってもよい。また、プログラムは、ネットワークを介してコンピュータシステムにロードするものであってもよい。
以下に本発明の実施形態を図面と共に説明する。
[第1実施形態]
図1は、第1実施形態の距離画像データ生成装置1の全体構成を示すブロック図である。
図1に示すように、距離画像データ生成装置1は、発光信号FLに従ってパルス光を発生させる発光部2と、露光信号SHに従って予め設定された測定エリア内を撮像する撮像部3と、発光信号FL及び露光信号SHを生成する制御信号生成部4、制御信号生成部4を制御することで、撮像部3から得られる画像データに基づいて距離画像データを生成する演算部5とを備えている。
このうち、発光部2は、近赤外光を発生させる発光ダイオード(LED)又はレーザダイオード(LD)からなり、発光信号FLに従って駆動される発光素子6と、発光素子6の放射光を拡散して測定エリア全体に照射する拡散レンズ7とを備えている。なお、発光素子6を駆動する駆動回路の出力段にCMOSインバータ回路が用いられており、PMOSで駆動される立ち上がり期間より、NMOSで駆動される立ち下がり期間の方が、短くなるようにされている。
また、撮像部3は、入射された光を電気信号に変換する光電センサ8と、測定エリア内から到来する光を集光して光電センサ8に入射する集光レンズ9とを備えている。
そして、光電センサ8は、図2に示すように、後述する光電変換素子81の受光面がアレイ状に配置されるように設けられた複数の単位回路80と、各単位回路80の出力を順番に読み出して、演算部5に供給する読出制御回路86とからなる。なお、各単位回路80に露光信号SH等の制御信号を供給する信号線の配線パターンは、制御信号の伝送遅延が均等となるように等長配線(ここではツリー状の配線)されている。
ここで、図3は、単位回路80の構成を示す回路図である。図3に示すように、単位回路80は、受光強度に応じた電荷を発生させる光電変換素子81と、光電変換素子81が発生させた電荷(以下「発生電荷」と称する。)を蓄積するためのコンデンサ84と、コンデンサ84の両端電圧を増幅して読出制御回路86に供給する増幅回路85と、発生電荷をコンデンサ84に供給する経路に設けられたNMOS電界効果トランジスタからなるシャッタスイッチ83と、光電変換素子81を接地する経路に設けられたNMOS電界効果トランジスタからなる電荷リセットスイッチ82とを備えている。
このうち、光電変換素子81は、PIN構造のフォトダイオード(ここでは、I層が30μm程度のものを用いる)からなる。このようなPIN構造のフォトダイオードは、ウエル−拡散層で構成される通常のフォトダイオードと比較して、受光領域に当たるI層が厚いため感度が高く、特にI層に深く侵入する近赤外光の受光に好適である。また、I層が広く単位面積当たりの容量が小さい(通常のフォトダイオードの15〜20分の1)ため、応答性に優れている。
また、コンデンサ84は、光電変換素子81が持つ接合容量とは別に形成されるものであり、半導体材料または金属材料を用いて半導体基板上に形成された平行平板からなる。つまり、光電変換素子(フォトダイオード)81で発生した電荷は、その接合容量だけでなく、コンデンサ84にも蓄積されるように構成されている。しかも、コンデンサ84の容量は、電圧依存性を有する光電変換素子81の接合容量より十分に大きな値、即ち、コンデンサ84及び接合容量に蓄積される蓄積電荷と、単位回路80の出力電圧(画素値)とがリニアな特性を有すると見なせる程度に大きな値に設定されている。
また、増幅回路85は、構造が単純で入力インピーダンスが高いソースフォロア回路が用いられている。
このように構成された単位回路80では、露光信号SHが非アクティブレベル(露光禁止期間)の時には、シャッタスイッチ83がオフ、電荷リセットスイッチ82がオンされる。これにより、光電変換素子81にて発生した電荷は、コンデンサ84に蓄積されることなく、そのまま放電される。一方、露光信号SHがアクティブレベル(露光期間)の時には、シャッタスイッチ83がオン、電荷リセットスイッチ82がオフされる。これにより、光電変換素子81にて発生した電荷がコンデンサ84に蓄積されることになる。
但し、露光(コンデンサ84への電荷の蓄積)を開始する前には、コンデンサ84の蓄積電荷が全て放電されるように、電荷リセットスイッチ82及びシャッタスイッチ83がいずれもオンされる。
つまり、露光期間の終了時には、コンデンサ84に、露光期間中の受光量に応じた電荷が蓄積されることになる。そして、その蓄積電荷に応じたコンデンサ84の両端電圧を増幅回路85にて増幅したものが、読出制御回路86により読み出され、画素値として演算部5に供給されることになる。
次に、制御信号生成部4は、演算部5から受ける第1〜第3指令に従って、次のような発光信号FL,露光信号SHを生成する。なお、以下では、発光部2が発生させるパルス光の立ち上がり時間(立ち上がり期間の長さ)をTup、立ち下がり時間(立ち下がり期間の長さ)をTdw、信号レベルが一定強度となる時間(平坦部の長さ)をTcとする。また、当該装置1にて測定可能な最大距離をLmax 、光の速度をVC、最大距離Lmax を光が往復するのに要する時間を上限往復時間Tmax (=2×Lmax /VC)とする。
まず、第1指令を受けた制御信号生成部4は、図4(a)に示すように、一定のパルス幅(露光時間)Tsh1 を有する露光信号SHのみを発生させる。
また、第2指令を受けた制御信号生成部4は、図4(b)に示すように、一定パルス幅(発光時間)Tf2を有する発光信号FLを発生させた後、立ち上がり時間Tupと上限往復時間Tmax とを加算した時間だけ遅延させたタイミングで、一定パルス幅Tsh2 を有する露光信号SHを発生させる。
また、第3指令を受けた制御信号生成部4は、図4(c)に示すように、一定パルス幅Tf3を有する発光信号FLを発生させた後、立ち上がり時間Tupと上限往復時間Tmax とを加算した時間だけ遅延させたタイミングで、一定パルス幅Tsh3 を有する露光信号SHを発生させる。
なお、露光信号SHのパルス幅Tsh1 ,Tsh2 は、任意の長さ設定することができ、また、パルス幅Tsh3 は、上限往復時間Tmax 以上の長さに設定すればよい。但し、本実施形態では、いずれのパルス幅Tsh1〜Tsh3も、パルス幅Tsh3 での必要最小限の長さ(即ち上限往復時間Tmax )と等しくなるように設定(Tsh1=Tsh2=Tsh3=Tmax)されている。
一方、発光信号FLのパルス幅Tf2は、一定強度時間Tcが上限往復時間Tmax と露光時間Tsh2 とを加算した時間以上となるような長さ(Tf2=Tup+Tmax+Tsh2)に設定されている。つまり、測定エリア内の物体からの反射光あるいは散乱光であれば、露光期間中は、常に、平坦部に対応する部分の光が受光されるように設定されている。
また、発光信号FLのパルス幅Tf3は、一定強度時間Tcが上限往復時間Tmax に等しくなるような長さ(Tf3=Tup+Tmax )に設定されている。つまり、測定エリア内の物体からの反射光あるいは散乱光であれば、露光期間中に、平坦部に対応する部分の光が、物体までの距離に比例した長さで(距離が遠いほど長く)受光されるように設定されている。
次に、演算部5は、CPU,ROM,RAMからなる周知のマイクロコンピュータを衷心に構成され、以下で説明する距離画像データ生成処理を実行する。
ここで、図5は、距離画像データ生成処理の内容を示すフローチャート、図6は、発光部2から照射されるパルス光(照射光)、撮像部3にて受光されるパルス光(反射光あるいは散乱光)、各画素の画素値(各単位回路80の出力)の関係を示すタイミング図である。
図5に示すように、距離画像データ生成処理が起動すると、まず、制御信号生成部4に対して第1指令を出力することで撮像部3に露光を行わせ、露光終了後に撮像部3から画像データ(以下「第1画像データ」と称する。)を取得する(S110)。このとき、発光部2によるパルス光の照射は行われないため、第1画像データを構成する各画素の画素値(各単位回路80の出力)V1は、背景光の強度に応じた大きさとなる(図6中の第1のステップの部分を参照)。
続けて、制御信号生成部4に対して第2指令を出力することで、発光部2に発光、撮像部3に露光を行わせ、発光及び露光の終了後に撮像部3から画像データ(以下「第2画像データ」と称する。)を取得する(S120)。このとき、上述したように、照射したパルス光の平坦部に対応する部分の反射光あるいは散乱光が、露光期間の全期間に渡って受光される。従って、第2画像データを構成する各画素の画素値V2は、反射光あるいは散乱光の強度に応じた大きさとなる(図6中の第2のステップの部分を参照)。
更に、制御信号生成部4に対して第3指令を出力することで、発光部2に発光、撮像部3に露光を行わせ、発光及び露光の終了後に撮像部3から画像データ(以下「第3画像データ」と称する。)を取得する(S130)。このとき、上述したように、照射したパルス光の平坦部に対応する部分の反射光あるいは散乱光が、パルス光を反射光あるいは散乱した物体(被測定物)までの距離に応じた長さで受光される。従って、第3画像データを構成する各画素の画素値V3は、被測定物までの距離に応じた大きさとなる(図6中の第3のステップの部分を参照)。
次に、S120にて得られた第2画像データの画素値V2からS110にて得られた第1画像データの画素値V1を減算することで、基準画像データの画素値V4(=V2−V1)を算出し(S140)、同様に、S130にて得られた第3画像データの画素値V3からS110にて得られた第1画像データの画素値V1を減算することで、強度画像データの画素値V5(=V3−V1)を算出する(S150)。
これにより、基準画像データの画素値V4は、露光時間当たりの被測定物からの反射光あるいは散乱光の強度に応じた大きさとなり、強度画像データの画素値V5は、その強度の反射光あるいは散乱光を、パルス光が被測定物までの距離を往復するのに要する時間の間だけ蓄積した大きさとなる。
最後に、S140にて得られた画素値V4と、S150にて得られた画素値V5との比を取ることで、距離画像データの画素値V6(=V5/V4)を算出して(S160)、本処理を終了する。
つまり、光電変換素子81での受光強度をPr[W]、光電変換素子の変換効率をKp[A/W]、光電変換素子81の出力電流Ipd[A]は、(1)式で表すことができる。
Ipd=Kp・Pr (1)
露光時間をTsh[sec]とすると、露光期間中に出力電流Ipdによってコンデンサ84に蓄積される電荷量Qint [C](但し、1[A]=1[C/sec])は、(2)式で表すことができる。
Qint =Ipd・Tsh (2)
蓄積電荷Qint により、容量がCint [F]であるコンデンサ84の両端に現れる電圧(画素値)Vint [V]は、(3)式で表すことができる。
Vint =Qint /Cint (3)
なお、光電変換素子81にて受光される光は、主に太陽光や周囲の照明の光からなる背景光と、発光部2から照射されたパルス光の反射光あるいは散乱光とを含む。この背景光の受光強度をPback、反射光あるいは散乱光の受光強度をPsignal、被測定物までの距離Lt(0≦Lt≦Lmax )を光が往復する時間をTsignal(=2×Lt/VC)とすると、第1〜第3画像データの画素値V1〜V3は、それぞれ、次の(4)〜(5)式にて表すことができる。但し、Tdw≒0であるとする。
V1=Kp・Pback・Tsh1 /Cint (4)
V2=Kp・(Psignal+Pback)・Tsh2 /Cint (5)
V3=Kp・(Psignal・Tsignal+Pback・Tsh3 )/Cint (6)
そして、上述したように、Tsh1=Tsh2=Tsh3=Tmaxであることを考慮すれば、基準画像データの画素値V4、及び強度画像データの画素値V5は、それぞれ、次の(6)(7)式にて表すことができる。
V4=V2−V1=Kp・Psignal・Tmax /Cint (7)
V5=V3−V1=Kp・Psignal・Tsignal/Cint (8)
更に、距離画像データの画素値V6は、次の(9)式にて表すことができる。
V6=V5/V4=Tsignal/Tmax =Lt/Lmax (9)
つまり、S110〜S130にて得られる第1〜第3画像データに対して、S140〜S160の処理を施すことにより、背景光や反射光あるいは散乱光の強度に依存せず、被測定物までの距離Ltのみに依存して変化する画素値V6を有した距離画像データが得られることになる。更に、(9)式から明らかなように、この距離画像データの画素値V6に、測定可能な最大距離Lmax を乗じるだけで、被測定物までの距離Ltが得られることになる。
なお、背景光の強度Pbackや反射光あるいは散乱光の強度Psignalは、周囲の環境や被測定物の種類や状態によって様々に変動し、第1〜第3画像データの取得は、異なるタイミングで行われるため、(4)〜(5)式におけるPback,Psignalは、厳密には一致しない。しかし、露光期間や露光期間同士の間隔が十分に短ければ、その間のPback,Psignalを一定の値と見なすことが可能であるため、(7)〜(9)式が成立するのである。
以上説明したように、本実施形態の距離画像データ生成装置1においては、パルス光の強度が安定しない立ち上がり期間(即ち、時間当たりの電荷蓄積量が一定とはならない期間)を用いることなく、第1〜第3画像データ(画素値V1〜V3)を得るようにされていると共に、第2画像データを取得する際には、露光時間の全期間に渡って反射光あるいは散乱光を受光し、ノイズとなる背景光のみを受光する期間がないようにすることで、第2画像データのSN比が必要以上に劣化することがないようにされている。
しかも、第2及び第3画像データ(画素値V2,V3)から第1画像データ(画素値V1)をそれぞれ減算して基準画像データ(画素値V4)及び強度画像データ(画素値V5)を求めることにより、背景光の影響を除去し、更に、求めた両画像データの比を距離画像データの画素値V6とすることで、反射光あるいは散乱光の強度Psignalを変動させる各種要因の影響を除去するようにされている。
従って、本実施形態の距離画像データ生成装置1によれば、被測定物までの距離のみに依存した画素値を有する精度の高い距離画像データを得ることができる。
また、本実施形態の距離画像データ生成装置1では、第3画像データを取得する際に、被測定物までの距離が近く、大きな受光強度が得られる可能性が高いときほど、露光期間内で反射光あるいは散乱光を受光する時間Tsignalが短くなる。このため、従来装置と比較して、光電変換素子81の出力が飽和し難く、その結果、光電変換素子81の能力を最大限に有効利用することができる。また、被測定物までの距離が遠く、小さな受光強度しか得られないときほど、露光期間内で反射光あるいは散乱光を受光する時間Tsignalが長くなる。このため、遠い位置にある被測定物からの反射光あるいは散乱光を受光した時には、従来装置と比較して、より大きな出力(画素値)を得ることができるため、測定範囲をより遠くまで広げることが可能となる。
更に、本実施形態では、各単位回路80に、制御信号を供給する信号線の配線パターンが等長配線とされているため、各画素での露光タイミングのばらつきを抑えることができ、全画素において均一な感度を保証することができる。
即ち、当該装置1において、近距離(例えば数m)にある被測定物からの反射光あるいは散乱光を受光した場合の受光時間Tsignalは、十〜数十[ns]程度であり、これに対して、チップ面積の大きい高解像度の光電変換素子等を用いると、配線パターンでの伝送遅延が、数〜10[ns]程度に達する場合がある。従って、例えば、露光信号SHを供給する信号線の配線長にばらつきがあると、単位回路80毎に露光期間の開始タイミングがばらつくことになり、正確な出力(画素値)を得ることができないのである。
ところで、本実施形態の距離画像データ生成装置1は、例えば、車両の運転支援システムに適用することができる。
この場合、図7に示すように、距離画像データ生成装置1は、車両の前方を撮影可能な位置に配置されると共に、車内LAN又は専用の信号線を介して(或いは無線通信により)、距離画像データを処理する処理装置101に接続される。
そして、処理装置101は、距離画像データ生成装置1から供給される距離画像データに基づいて運転支援にて認識すべきオブジェクト(障害物,先行車,歩行者等)を抽出するオブジェクト抽出処理を実行する。
このオブジェクト抽出処理では、距離画像データの画素値V6、或いは画素値V6から求めた距離(以下ではこれらを「距離情報」と総称する。)Dを用いて、距離画像の切り分け(グループ化)を行い、そのグループ化された領域の形状や大きさ等から、オブジェクトの種類を特定する。
このように、本実施形態の距離画像データ生成装置1を適用した運転支援システムによれば、個々のオブジェクト(被測定物)の抽出を、距離画像データから得られる距離情報を用いて行っている。このため、同じような色をしたオブジェクトが重なり合って存在しているような場合でも、確実に個々のオブジェクトを抽出することができる。
また、本実施形態の距離画像データ生成装置1は、例えば、車載用侵入検知システムに適用してもよい。
この場合、図8に示すように、距離画像データ生成装置1は、車室内の天井位置に取り付けられ、乗員及び車室内が撮影可能となるよう調整されると共に、車内LAN又は専用の信号線を介して(或いは無線通信により)、距離画像データを処理する処理装置102に接続される。
そして、処理装置102は、距離画像データに基づいて車両外部からの侵入者や侵入物体を検知する侵入検知処理を実行する。
この侵入検知処理では、まず、距離画像データ生成装置1から供給される距離画像データを、予め設定された基準距離画像データと比較する。比較の結果、両画像データに差異があれば、差異のあった部分を抽出し、その抽出された部分についての情報(形状,大きさ、当該装置1との距離等)から、その抽出された部分が車両外部からの侵入者や侵入物体を示すものであるか否かの判別を行う。そして、判別の結果、車両外部からの侵入者や侵入物体を示すものであれば、図示しないスピーカー,照明,通信装置等を用いて、警報や通報等を行う。
なお、基準距離画像データとしては、例えば、エンジン停止状態で外部からロックが行われた状態(即ち、乗員なしと推定される状態)の時に取得した距離画像データ、或いは直前に取得した距離画像データを用いればよい。また、距離画像データ生成装置1側で、車両外部からの侵入を判別する処理までを実行し、処理装置102側では、警報や通報等の処理のみを実行するように構成してもよい。
このように、本実施形態の距離画像データ生成装置1を適用した侵入検知システムによれば、車両外部から投影された影や、ガラス越し見える物体を、侵入者や侵入物体として誤検出してしまうことを確実に防止でき、検出の信頼性を向上させることができる。
即ち、一般に用いられている画素の色や画素の濃淡値をベースとした画像処理手法では、その物体までの距離を特定できないため、抽出されたオブジェクトが、車室外から投影された影であるか車室内に存在する実体であるかを判別したり、ガラス越しに見える物体の位置が車室内に存在するか車室外に存在するかを判別することが困難であったが、距離画像データに基づく距離情報を用いることで、車室内/車室外の判別を容易かつ確実に行うことができるのである。
また、本実施形態の距離画像データ生成装置1は、例えば、エアバッグの展開制御に用いる情報を収集するために用いてもよい。この場合、上述した侵入検知システムの場合と同様のシステム(図8参照)を用いることができる。
そして、処理装置102では、距離画像データ生成装置1からが生成する距離画像データに基づいて、乗員の有無、頭部位置及び形状、姿勢等の情報を検出し、その検出結果に基づいて、エアバッグを展開させる部位や、エアバッグの展開速度等を制御する。
即ち、距離画像データに基づく距離情報を用いて画像処理を行うことにより、画素の色やがその濃淡値を用いて画像処理を行う手法と比較して、画像中のオブジェクトの切り分けを高速かつ確実に行うことができるため、高い信頼性と高い応答性とが必要とされるエアバッグの展開制御への適用が可能となるのである。
なお、本実施形態の距離画像データ生成装置1は、上述の応用例に限らず、オブジェクト(被測定物)の3次元的な位置情報を利用するシステムであれば、どのようなシステムに適用してもよい。
[第2実施形態]
次に、第2実施形態について説明する。
本実施形態では、制御信号生成部4の動作、及び演算部5が実行する処理の一部が、第1実施形態とは異なるだけであるため、この相違する部分を中心に説明する。
本実施形態において、制御信号生成部4は、演算部5から第1指令を受けた場合に、一定のパルス幅(露光時間)Tsh1 =Tmax ×N(N>1の整数)を有する露光信号SHを発生させる(図9中の第1のステップの部分を参照)。また、第2,第3指令を受けた場合には、第1実施形態の場合と全く同様に動作する(図9中の第2及び第3のステップの部分を参照)。但し、Tsh1=Tsh2=Tsh3=Tmaxである。また、図9は、発光部2から照射されるパルス光(照射光)、撮像部3にて受光されるパルス光(反射光あるいは散乱光)、各画素の画素値(各単位回路80の出力)の関係を示すタイミング図である。
そして、距離画像データ生成処理のS140では、S110にて得られる第1画像データの画素値V1をNで割ることにより単位時間Tmax 当たりの大きさに規格化し、この規格化された画素値V1/Nを、S120にて得られた第2画像データの画素値V2から減算することで、基準画像データの画素値V4(=V2−V1/N)を算出する。同様に、S150では、規格化された画素値V1/Nを、S130にて得られた第3画像データの画素値V3から減算することで、強度画像データの画素値V5(=V3−V1/N)を算出する。なお、これらS140,S150以外の処理は第1実施形態の場合と全く同様である。
このように構成された本実施形態の距離画像データ生成装置1によれば、第1実施形態の場合と同様に、精度の高い距離画像データを得ることができると共に、第1画像データ取得時の露光時間の合計を十分に確保すれば、この第1画像データを通常の画像データして扱うことができる。つまり、本実施形態の距離画像データ生成装置1を備えていれば、別途、新たな装置を設けることなく、通常の画像データも取得することが可能となる。
また、このように露光時間を長く設定することにより、露光時間に比例した大きさの信号が得られるため、反射光あるいは散乱光の強度がより微弱な場合でも、その検出が可能となる。その結果、発光部2での発光パワーが同じであれば、感度向上による検知範囲の拡大を図ることができ、検知範囲が同じにするのであれば、発光パワーを低減できるため、発光素子の長寿命化、発光部2で生じるノイズの低減を図ることができる。
さらに、露光時間を長く設定することにより、背景光の平均化が行われるため、平均化の効果により露光タイミングのジッタ等の影響が低減し、距離の分解能の向上を図ることができる。
なお、本実施形態では、第1画像データを取得する際の露光信号SHのパルス幅がTsh1 =Tmax ×Nとなるように制御信号生成部4を構成したが、図10に示すように、パルス幅がTmax の露光信号SHを、断続的にN回発生させ、第1画像データを取得する際の合計露光時間がTsh1 =Tmax ×Nとなるように制御信号生成部4を構成する(図10中の第1のステップの部分を参照)と共に、距離画像データ生成処理のS110では、N回の露光の終了後に、撮像部3から画像データ(第1画像データ)を取得するように構成してもよい。この場合、第1画像データを取得する際に、N回の多重露光が行われる以外は、上述した距離画像データ生成装置1と全く同様の作用効果を得ることができる。
また、本実施形態では、第1画像データを取得する際の露光について、露光時間Tsh1 を他の露光時間Tsh2,Tsh3とは異なる長さに設定したり、多重露光を行うように構成したが、第2又は第3画像データを取得する際の露光について、同様の手法を適用してもよい。
[第3実施形態]
次に、第3実施形態について説明する。
本実施形態では、距離画像データ生成処理の一部が、第1実施形態とは異なるだけであるため、この相違する部分を中心に説明する。
即ち、本実施形態における距離画像データ生成処理では、S110〜S150をm回繰り返す毎に、S160を実行する。但し、S160では、S140にて逐次算出される基準画像データの画素値V4のm回分の累積値をVR4、S150にて逐次算出される強度画像データの画素値V5のm回分の累積値をVR5とし、これら累積値の比を取ることで距離画像データの画素値VR(=VR5/VR4)を求める。
このように構成された本実施形態の距離画像データ生成装置1によれば、背景光及びセンサ動作に伴う雑音成分V1を除去して累積を行うため、感度の向上と共に、雑音成分V1による出力値の飽和を起こり難くすることが可能となる。
[第4実施形態]
次に、第4実施形態について説明する。
本実施形態では、演算部5に、距離画像データの画素値を補正するための補正値Hを求める補正値算出処理が追加されると共に、距離画像データ生成処理の一部が第1実施形態とは異なるだけであるため、これらの点を中心に説明する。
まず、本実施形態における距離画像データ生成処理のS160では、後述する補正値算出処理にて算出される補正値Hを用い、次の(10)式により距離画像データの画素値V6を算出する。なお、このS160以外の処理は第1実施形態の場合と全く同様である。
V6=V5/V4−H (10)
次に、補正値算出処理を、図10に示すフローチャートに沿って説明する。
但し、距離画像データ生成装置1が撮像する距離画像の中に、当該装置1との距離が既知である物体(例えば、車室内を撮影する場合にはセンターピラー等)が必ず存在するものとし、その物体とその物体が撮像された画素(以下「基準画素」と称する。)の画素値Vとの距離(既知距離)をDfとする。
まず、距離画像データ生成処理のS160にて算出された距離画像データの中から、基準画素の画素値V6fを取得し(S210)、その画素値V6fに測定可能な最大距離Lmax を乗じることで距離に換算する(S220)。その換算距離Dkと既知距離Dfとが等しいか否かを判断し(S230)、等しければそのまま本処理を終了し、等しくなければ、次の(11)式により、補正値Hを算出して(S240)、本処理を終了する。
H=V6f−Df/Lmax (11)
このように構成された本実施形態の距離画像データ生成装置1によれば、電源電圧、温度等の環境条件が変化することにより当該装置1の特性が変化したとしても、距離画像データに基づいて、精度の高い距離情報を常に得ることができる。
なお、本実施形態では、距離画像データの画素値V6を算出する際に、補正を実行するように構成したが、距離画像データの画素値V6から距離を算出する際に、補正を実行するように構成してもよい。
この場合、(12)式により距離補正値Hdを求め、(13)式により距離Dを求めるようにすればよい。
Hd=V6f・Lmax −Df (12)
D=V6・Lmax −Hd (13)
[他の実施形態]
上記実施形態では、露光時間Tsh1〜Tsh3や発光時間Tf1〜Tf3が固定値とされているが、その時々の場合に応じて可変設定してもよい。
具体的には、図4(b)の場合で、露光時間Tsh2を十分に長く設定し、撮像部10の出力(画素値)が飽和するまでに要する時間を測定する。そして、その測定結果である飽和時間に基づき、露光時間Tsh2,3を、飽和時間未満で可能な限り長い時間に設定する。
このような設定を行うことにより、光電センサ8の持つ電荷蓄積能力を最大限に利用することができる。
また、上記実施形態では、シャッタスイッチ83、電荷リセットスイッチ82として、NMOS電界効果トランジスタを用いたが、PMOS電界効果トランジスタや、NMOS,PMOS両トランジスタを組み合わせたアナログスイッチ等を用いてもよい。また、ここでは、単位回路80を、光電変換素子81からの光電流でコンデンサ84に電荷を蓄積するように構成したが、コンデンサ84をプリチャージしておき、光電変換素子81の光電流でディスチャージするように構成してもよい。
また、上記実施形態では、撮像部3の出力を、デジタル値に変換して演算部5に取り込み、演算により、距離画像データを求めるように構成されているが、撮像部3の出力を、アナログ値のまま処理するように構成してもよい。
また、上記実施形態では、S110〜S130にて、第1画像データ、第2画像データ、第3画像データの順に、各画像データを取得するようにされているが、これら第1〜第3画像データを取得する順番は任意に変更してもよい。また、第1画像データの取得(S110)は、距離画像データ生成処理を起動する毎に実行するのではなく、装置の起動時に一度だけ実行したり、距離画像データ生成処理の起動周期より長い周期で実行したり、外部から指令が入力された時に実行したりするように構成してもよい。
また、上記実施形態では、距離画像データを構成する画素値V6から絶対距離Dへの換算を、画素値V6に測定可能な最大距離Lmax を乗じる演算を実行することで実現しているが、予め画素値V6と絶対距離Dとの関係を示した換算テーブルを用意しておき、この換算テーブルを用いて絶対距離Dへの換算を実現するように構成してもよい。
この最大距離Lmax を乗じることによる換算は、画素値V6と絶対距離Dとの関係が線形性を有することを前提としたものであるが、実際には、第3画像データの画素値V6がパルス光の立ち下がり部分の影響を受けるため、その影響が大きいと両者の関係が非線形になる。つまり、この非線形性に基づく誤差が無視できない場合には、この換算テーブルを用いた換算方法が極めて有効である。
なお、換算テーブルを用いた場合、換算テーブルに記録されていない画素値V6を絶対距離Dに換算する際には、周知の補間計算を利用することが望ましい。また、換算テーブルは、例えば、システムの出荷時に、画素値V6と絶対距離Dとの関係を測定し、その測定結果を演算部5の持つメモリ(たとえばEPROM等)に書き込むことで用意すればよい。
第1実施形態の距離画像データ生成装置の構成を示すブロック図である。 センサ部の概略構成を示す説明図である。 単位回路の構成を示す回路図である。 制御信号生成部の動作等を示すタイミング図である。 演算部が実行する距離画像データ生成処理の内容を示すフローチャートである。 距離画像データ生成処理実行時の各部の動作を示すタイミング図である。 距離画像データ生成装置を適用した運転支援システムの概略構成を示す説明図である。 距離画像データ生成装置を適用した車両用侵入検知システムの概略構成を示す説明図である。 第2実施形態において、距離画像データ生成処理実行時の各部の動作を示すタイミング図である。 第2実施形態の変形例において、距離画像データ生成処理実行時の各部の動作を示すタイミング図である。 第4実施形態において、演算部が実行する補正値算出処理の内容を示すフローチャートである。 従来装置の動作、及び問題点を示すための説明図である。
符号の説明
1…距離画像データ生成装置、2…発光部、3…撮像部、4…制御信号生成部、5…演算部、6…発光素子、7…拡散レンズ、8…光電センサ、9…集光レンズ、10…撮像部、80…単位回路、81…光電変換素子、82…電荷リセットスイッチ、83…シャッタスイッチ、84…コンデンサ、85…増幅回路、86…読出制御回路、101…処理装置、102…処理装置。

Claims (16)

  1. 予め設定された測定範囲内にパルス光を照射する発光手段と、
    二次元的に配列された複数の電荷積分型の光電変換素子からなる光電センサを有し、該光電センサに対する露光の調整が可能な撮像手段と、
    前記発光手段での発光及び前記撮像手段での露光の期間あるいは開始タイミングを制御して、前記光電センサを構成する各光電変換素子の出力を各画素の画素値とした画像データを取得する画像データ取得手段と、
    該画像データ取得手段が取得した画像データに基づいて、各画素が前記撮像手段にて撮像された被測定物までの距離に応じた画素値を有する距離画像データを生成する距離画像データ生成手段と、
    を備えた距離画像データ生成装置において、
    前記画像データ取得手段は、
    前記発光手段にパルス光の照射を行わせることなく前記撮像手段に露光を行わせることで、該撮像手段から第1画像データを取得する第1画像データ取得手段と、
    前記測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光のうち、前記発光手段が発光するパルス光の立ち上がり期間と立下り期間を除いた平坦部が、前記露光期間の全期間に渡って受光されるように発光及び露光の期間あるいは開始タイミングを設定することで、前記撮像手段から第2画像データを取得する第2画像データ取得手段と、
    前記測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光のうち、前記発光手段が発光するパルス光の前記平坦部が、前記被測定物までの往復時間に応じた長さで受光されるように発光及び露光の期間あるいは開始タイミングを設定することで、前記撮像手段から第3画像データを取得する第3画像データ取得手段と、
    を備え、
    前記距離画像データ生成手段は、
    前記第2画像データから前記第1画像データを減じることで基準画像データを求める第1演算手段と、
    前記第3画像データから前記第1画像データを減じることで強度画像データを求める第2演算手段と、
    前記基準画像データと前記強度画像データとの比を取ることで前記距離画像データを求める第3演算手段と、
    を備えることを特徴とする距離画像データ生成装置。
  2. 前記第2画像データ取得手段では、
    前記露光期間を、任意の長さに設定すると共に、
    前記発光期間を、パルス光の立ち上がり期間の長さと、パルス光が測定範囲の境界までの距離を往復するのに要する上限往復時間と、前記露光期間の長さとを加算した長さ以上の時間に設定し、
    露光開始より、少なくとも前記立ち上がり期間の長さに前記上限往復時間を加算した時間以上前に発光が開始されることを特徴とする請求項1に記載の距離画像データ生成装置。
  3. 前記第3画像データ取得手段では、
    前記発光期間を、前記平坦部の長さが前記上限往復時間に等しくなるように設定すると共に、
    前記露光期間を、前記平坦部以上の長さに設定し、
    露光開始より、前記立ち上がり期間の長さに前記上限往復時間を加算した時間だけ前に発光が開始されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の距離画像データ生成装置。
  4. 前記第1〜第3画像データ取得手段にて設定される前記露光期間が、いずれも同じ長さであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  5. 前記第1及び第2画像データ取得手段のうち少なくとも一方は、前記露光期間を前記第3画像データ取得手段とは異なる長さに設定し、
    前記第1及び第2演算手段は、前記第1〜第3画像データの各画素値を、予め設定された単位時間当たりの値に規格化して、前記基準画像データ及び前記強度画像データを求めること
    を特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  6. 前記第1〜第3画像データ取得手段にて設定される前記露光期間のうち少なくとも一つは、複数に分割されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  7. 前記第1及び第2演算手段は、前記基準画像データ及び前記強度画像データの各画素毎に画素値を累積し、
    前記第3演算手段は、累積された画素値を有する前記基準画像データ及び前記強度画像データに基づいて前記距離画像データを生成すること
    を特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  8. 前記第3演算手段が生成する距離画像データに基づいて、被測定物までの絶対距離を求める距離算出手段を備えることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  9. 前記距離算出手段は、前記距離画像データの各画素の画素値に、予め設定された定数を乗じることにより被測定物までの絶対距離を求めることを特徴とする請求項8に記載の距離画像データ生成装置。
  10. 前記距離算出手段は、画素値と絶対距離との対応を示す換算テーブルを用いて、被測定物までの絶対距離を求めることを特徴とする請求項8に記載の距離画像データ生成装置。
  11. 前記光電センサを構成する光電変換素子のうち、少なくとも一つの画素を基準画素とし、該基準画素では該基準画素との距離が既知である物体からの反射光あるいは散乱光を受光するように設定し、
    前記距離算出手段は、前記基準画素について得られた絶対距離の算出値に基づいて、各画素毎の被測定物までの絶対距離を補正することを特徴とする請求項1〜10のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  12. 前記発光手段に発光、前記撮像手段に露光を行わせ、前記光電変換素子の出力が飽和するまでに要する飽和時間を測定する飽和時間測定手段を備え、
    前記第2画像データ生成手段は、前記飽和時間を上限として前記露光期間の長さを設定する
    ことを特徴とする請求項1〜11のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  13. 前記光電変換素子として、P型領域とN型領域の間に不純物濃度の低いI層を挟んだPIN型構造を持つフォトダイオードを使用することを特徴とする請求項1〜12のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  14. 前記光電変換素子が発生させた電荷を、該光電変化素子とは別途形成されたコンデンサに蓄積することを特徴とする請求項1〜13のいずれかに記載の距離画像データ生成装置。
  15. 二次元的に配列された複数の電荷積分型の光電変換素子からなる光電センサの出力を、各画素の画素値とする画像データに基づいて距離画像データを生成する距離画像データ生成方法であって、
    被測定物に対するパルス光の照射を行うことなく前記光電センサを露光することで、該光電センサから第1画像データを取得する第1のステップと、
    パルス光を照射し、予め設定された測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光のうち、パルス光の立ち上がり期間と立ち下がり期間とを除いた平坦部に対応する部分が受光されるように該光電センサを露光することで、該光電センサから第2画像データを取得する第2のステップと、
    パルス光を照射し、前記測定範囲内に存在する被測定物からの反射光あるいは散乱光のうち、パルス光の立ち上がり期間を除いた期間に対応する部分が、前記被測定物までの往復時間に応じた長さで受光されるように該光電センサを露光することで、該光電センサから第3画像データを取得する第3のステップと、
    前記第2画像データから前記第1画像データを減じることで基準画像データを求める第4のステップと、
    前記第3画像データから前記第1画像データを減じることで強度画像データを求める第5のステップと、
    前記基準画像データと前記強度画像データとの比を取ることで前記距離画像データを求める第6のステップと、
    を備えることを特徴とする距離画像データ生成方法。
  16. 請求項15に記載の各ステップを、コンピュータに実行させるためのプログラム。
JP2004020414A 2004-01-28 2004-01-28 距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラム Expired - Fee Related JP4161910B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004020414A JP4161910B2 (ja) 2004-01-28 2004-01-28 距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラム
US11/007,258 US7230685B2 (en) 2004-01-28 2004-12-09 Apparatus, method, and program for generating range-image-data
DE102005004113.2A DE102005004113B4 (de) 2004-01-28 2005-01-28 Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen von Bereichsabbildungsdaten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004020414A JP4161910B2 (ja) 2004-01-28 2004-01-28 距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005214743A true JP2005214743A (ja) 2005-08-11
JP4161910B2 JP4161910B2 (ja) 2008-10-08

Family

ID=34747382

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004020414A Expired - Fee Related JP4161910B2 (ja) 2004-01-28 2004-01-28 距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7230685B2 (ja)
JP (1) JP4161910B2 (ja)
DE (1) DE102005004113B4 (ja)

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007170856A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Denso Corp 距離データ生成方法、距離画像生成装置、光電センサ
JP2008064747A (ja) * 2006-08-08 2008-03-21 Watanabe Seisakusho:Kk ファイバセンシングシステム
JP2010151680A (ja) * 2008-12-25 2010-07-08 Toyota Motor Corp センサ校正装置、及び、センサ校正方法
JP2011133320A (ja) * 2009-12-24 2011-07-07 Nippon Signal Co Ltd:The 距離画像処理システム
JP2011209214A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Hamamatsu Photonics Kk 時間計測装置および距離計測装置
JP2012501435A (ja) * 2008-08-27 2012-01-19 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド 深さ映像獲得装置および方法
US8305562B2 (en) 2007-11-13 2012-11-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Depth image generating method and apparatus
JP2013174446A (ja) * 2012-02-23 2013-09-05 Toshiba Corp 3次元情報検出装置および3次元情報検出方法
WO2014208018A1 (ja) * 2013-06-26 2014-12-31 パナソニックIpマネジメント株式会社 測距システム
US9123164B2 (en) 2012-02-07 2015-09-01 Samsung Electronics Co., Ltd. 3D image acquisition apparatus and method of extracting depth information in 3D image acquisition apparatus
JP2015172551A (ja) * 2014-03-12 2015-10-01 スタンレー電気株式会社 距離画像生成装置および距離画像生成方法
JP2016088325A (ja) * 2014-11-06 2016-05-23 三菱重工業株式会社 進行方向監視装置、進行方向監視方法およびプログラム
JPWO2014097539A1 (ja) * 2012-12-20 2017-01-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 3次元測定装置および3次元測定方法
WO2017018399A1 (ja) * 2015-07-30 2017-02-02 株式会社デンソー 光飛行型測距装置
JPWO2015190015A1 (ja) * 2014-06-09 2017-04-20 パナソニックIpマネジメント株式会社 測距装置、およびそれに用いられる固体撮像素子
WO2018043941A1 (ko) * 2016-09-05 2018-03-08 한국표준과학연구원 거리 측정 장치 및 거리 측정 장치의 동작 방법
JP2019023658A (ja) * 2012-03-09 2019-02-14 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
WO2020130440A1 (ko) * 2018-12-20 2020-06-25 ㈜미래컴퍼니 3차원 거리측정 카메라
US10794695B2 (en) 2015-06-24 2020-10-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Range sensor
JP2021032794A (ja) * 2019-08-28 2021-03-01 パイオニア株式会社 計測装置、制御方法、プログラム及び記憶媒体
WO2021117608A1 (ja) * 2019-12-13 2021-06-17 株式会社デンソー 物体検出装置および物体検出装置の制御方法
WO2023042637A1 (ja) * 2021-09-14 2023-03-23 株式会社デンソー 制御装置、制御方法、制御プログラム

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1667874B1 (en) * 2003-10-03 2008-08-27 Automotive Systems Laboratory Inc. Occupant detection system
US8594370B2 (en) 2004-07-26 2013-11-26 Automotive Systems Laboratory, Inc. Vulnerable road user protection system
US7984995B2 (en) * 2006-05-24 2011-07-26 Smart Technologies Ulc Method and apparatus for inhibiting a subject's eyes from being exposed to projected light
JP4315175B2 (ja) * 2006-08-10 2009-08-19 日産自動車株式会社 光検出方法および光検出装置
JP2008052029A (ja) * 2006-08-24 2008-03-06 Takata Corp 撮像システム、車両乗員検出システム、作動装置制御システム、車両
JP5073273B2 (ja) * 2006-11-21 2012-11-14 スタンレー電気株式会社 遠近判定方法およびその装置
US7940377B1 (en) * 2008-12-05 2011-05-10 Sandia Corporation Passive background correction method for spatially resolved detection
TWI421961B (zh) * 2009-03-04 2014-01-01 Macronix Int Co Ltd 晶圓的檢測方法
US8964028B2 (en) * 2009-12-21 2015-02-24 Mesa Imaging Ag Stray light compensation method and system for time of flight camera systems
NZ600821A (en) * 2009-12-21 2014-04-30 Mesa Imaging Ag Stray light compensation method and system for time of flight camera systems
KR101675112B1 (ko) * 2010-01-21 2016-11-22 삼성전자주식회사 거리 정보 추출 방법 및 상기 방법을 채용한 광학 장치
US8817173B2 (en) * 2010-02-01 2014-08-26 Olympus Imaging Corp. Photographing apparatus capable of flash emission
TWI425182B (zh) * 2010-06-15 2014-02-01 Pixart Imaging Inc 距離測量系統及其方法
US8513585B2 (en) * 2010-07-19 2013-08-20 National Chiao Tung University Optical three-dimensional coordinate sensor system and method thereof
JP5671890B2 (ja) * 2010-08-31 2015-02-18 株式会社ニコン 撮像装置
KR101753312B1 (ko) 2010-09-17 2017-07-03 삼성전자주식회사 뎁스 영상 생성 장치 및 방법
KR101722641B1 (ko) 2010-12-23 2017-04-04 삼성전자주식회사 3차원 영상 획득 장치 및 상기 3차원 영상 획득 장치에서 깊이 정보를 추출하는 방법
KR101854188B1 (ko) 2011-10-25 2018-05-08 삼성전자주식회사 3차원 영상 획득 장치 및 3차원 영상 획득 장치에서 깊이 정보 산출 방법
US9020202B2 (en) * 2012-12-08 2015-04-28 Masco Canada Limited Method for finding distance information from a linear sensor array
KR102007275B1 (ko) 2012-12-27 2019-08-05 삼성전자주식회사 3차원 이미지 센서의 거리 픽셀 및 이를 포함하는 3차원 이미지 센서
KR102040152B1 (ko) 2013-04-08 2019-12-05 삼성전자주식회사 3차원 영상 획득 장치 및 3차원 영상 획득 장치에서의 깊이 영상 생성 방법
KR102056904B1 (ko) 2013-05-22 2019-12-18 삼성전자주식회사 3차원 영상 획득 장치 및 그 구동 방법
AU2014270405B2 (en) * 2013-05-23 2018-10-04 bioMérieux Method, system and computer program product for producing a raised relief map from images of an object
SG11201509788QA (en) * 2013-06-06 2015-12-30 Heptagon Micro Optics Pte Ltd Sensor system with active illumination
JP6296401B2 (ja) * 2013-06-27 2018-03-20 パナソニックIpマネジメント株式会社 距離測定装置および固体撮像素子
KR102194237B1 (ko) 2014-08-29 2020-12-22 삼성전자주식회사 깊이 영상 촬영 장치 및 깊이 정보 획득 방법
EP3195299A1 (de) 2014-09-19 2017-07-26 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zum betreiben eines bidirektionalen displays
JP6464410B2 (ja) * 2014-09-26 2019-02-06 シャープ株式会社 障害物判定装置および障害物判定方法
DE102014117705B3 (de) * 2014-12-02 2016-02-18 Odos Imaging Ltd. Abstandsmessvorrichtung und Verfahren zum Bestimmen eines Abstands
US9897698B2 (en) * 2015-02-23 2018-02-20 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Intensity-based depth sensing system and method
KR102610830B1 (ko) 2015-12-24 2023-12-06 삼성전자주식회사 거리 정보를 획득하는 방법 및 디바이스
CN108885263B (zh) * 2016-03-21 2024-02-23 威力登激光雷达有限公司 具有可变脉冲重复的基于lidar的3d成像
WO2018030318A1 (ja) * 2016-08-10 2018-02-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 投光撮像装置および投光撮像方法
KR20180021509A (ko) 2016-08-22 2018-03-05 삼성전자주식회사 거리 정보를 획득하는 방법 및 디바이스
KR102561099B1 (ko) 2016-09-23 2023-07-28 삼성전자주식회사 ToF(time of flight) 촬영 장치 및 다중 반사에 의한 깊이 왜곡 저감 방법
US10582178B2 (en) * 2016-11-02 2020-03-03 Omnivision Technologies, Inc. Systems and methods for active depth imager with background subtract
JP6981997B2 (ja) * 2016-11-29 2021-12-17 ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 距離測定装置
JP2018137569A (ja) * 2017-02-21 2018-08-30 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置、および測距方法
US10627492B2 (en) * 2017-08-01 2020-04-21 Waymo Llc Use of extended detection periods for range aliasing detection and mitigation in a light detection and ranging (LIDAR) system
DE102018131584A1 (de) 2017-12-15 2019-06-19 pmdtechnologies ag Verfahren zur Entfernungsmessung mittels eines Lichtlaufzeit-Entfernungsmesssystems und entsprechendes Lichtlaufzeit-Entfernungsmesssystem
CN108828607A (zh) * 2018-06-12 2018-11-16 中国科学院半导体研究所 波长跳变抗干扰激光雷达系统
CN112714858B (zh) * 2018-07-13 2024-07-09 拉布拉多系统公司 能够在不同环境照明条件下操作的移动设备的视觉导航
US10708514B2 (en) 2018-08-30 2020-07-07 Analog Devices, Inc. Blending depth images obtained with multiple exposures
DE102019104566B4 (de) * 2019-02-22 2021-06-24 pmdtechnologies ag Verfahren zur Entfernungsmessung mittels eines LichtlaufzeitEntfernungsmesssystems und entsprechendes LichtlaufzeitEntfernungsmesssystem
CN110308458B (zh) * 2019-06-27 2021-03-23 Oppo广东移动通信有限公司 调节方法、调节装置、终端及计算机可读存储介质
US11380004B2 (en) 2019-12-13 2022-07-05 Sony Semiconductor Solutions Corporation Imaging devices and decoding methods thereof for determining distances to objects
CN116583959A (zh) * 2020-11-27 2023-08-11 趣眼有限公司 用于红外感测的方法和系统
EP4244650A4 (en) * 2020-12-26 2024-01-24 Trieye Ltd. SYSTEMS, METHODS, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCTS FOR GENERATING DEPTH IMAGES BASED ON SHORT-WAVE INFRARED SENSING INFORMATION
CN113075672A (zh) * 2021-03-03 2021-07-06 深圳市灵明光子科技有限公司 测距方法及系统、计算机可读存储介质

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE59809883D1 (de) * 1997-12-23 2003-11-13 Siemens Ag Verfahren und vorrichtung zur aufnahme eines dreidimensionalen abstandsbildes
JP2000146523A (ja) * 1998-09-02 2000-05-26 Sony Corp 距離測定装置および方法

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007170856A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Denso Corp 距離データ生成方法、距離画像生成装置、光電センサ
JP2008064747A (ja) * 2006-08-08 2008-03-21 Watanabe Seisakusho:Kk ファイバセンシングシステム
US8305562B2 (en) 2007-11-13 2012-11-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Depth image generating method and apparatus
KR101483462B1 (ko) * 2008-08-27 2015-01-16 삼성전자주식회사 깊이 영상 획득 장치 및 방법
JP2012501435A (ja) * 2008-08-27 2012-01-19 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド 深さ映像獲得装置および方法
JP2010151680A (ja) * 2008-12-25 2010-07-08 Toyota Motor Corp センサ校正装置、及び、センサ校正方法
US8527141B2 (en) 2008-12-25 2013-09-03 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Sensor calibration device, and sensor calibration method
JP2011133320A (ja) * 2009-12-24 2011-07-07 Nippon Signal Co Ltd:The 距離画像処理システム
JP2011209214A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Hamamatsu Photonics Kk 時間計測装置および距離計測装置
US9123164B2 (en) 2012-02-07 2015-09-01 Samsung Electronics Co., Ltd. 3D image acquisition apparatus and method of extracting depth information in 3D image acquisition apparatus
JP2013174446A (ja) * 2012-02-23 2013-09-05 Toshiba Corp 3次元情報検出装置および3次元情報検出方法
JP2019023658A (ja) * 2012-03-09 2019-02-14 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JPWO2014097539A1 (ja) * 2012-12-20 2017-01-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 3次元測定装置および3次元測定方法
WO2014208018A1 (ja) * 2013-06-26 2014-12-31 パナソニックIpマネジメント株式会社 測距システム
US10048356B2 (en) 2013-06-26 2018-08-14 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Distance measuring system and imaging sensor
JPWO2014208018A1 (ja) * 2013-06-26 2017-02-23 パナソニックIpマネジメント株式会社 測距システム、及び撮像センサ
JP2015172551A (ja) * 2014-03-12 2015-10-01 スタンレー電気株式会社 距離画像生成装置および距離画像生成方法
JPWO2015190015A1 (ja) * 2014-06-09 2017-04-20 パナソニックIpマネジメント株式会社 測距装置、およびそれに用いられる固体撮像素子
JP2016088325A (ja) * 2014-11-06 2016-05-23 三菱重工業株式会社 進行方向監視装置、進行方向監視方法およびプログラム
US10794695B2 (en) 2015-06-24 2020-10-06 Murata Manufacturing Co., Ltd. Range sensor
JP2017032342A (ja) * 2015-07-30 2017-02-09 株式会社デンソー 光飛行型測距装置
WO2017018399A1 (ja) * 2015-07-30 2017-02-02 株式会社デンソー 光飛行型測距装置
WO2018043941A1 (ko) * 2016-09-05 2018-03-08 한국표준과학연구원 거리 측정 장치 및 거리 측정 장치의 동작 방법
US11378665B2 (en) 2016-09-05 2022-07-05 Korea Research Institute Of Standards And Science Distance measuring apparatus and method of operating the same
WO2020130440A1 (ko) * 2018-12-20 2020-06-25 ㈜미래컴퍼니 3차원 거리측정 카메라
KR20200077208A (ko) * 2018-12-20 2020-06-30 (주)미래컴퍼니 3차원 거리측정 카메라
KR102165091B1 (ko) * 2018-12-20 2020-10-13 (주)미래컴퍼니 3차원 거리측정 카메라
JP2021032794A (ja) * 2019-08-28 2021-03-01 パイオニア株式会社 計測装置、制御方法、プログラム及び記憶媒体
WO2021117608A1 (ja) * 2019-12-13 2021-06-17 株式会社デンソー 物体検出装置および物体検出装置の制御方法
JP2021096070A (ja) * 2019-12-13 2021-06-24 株式会社デンソー 物体検出装置および物体検出装置の制御方法
JP7487470B2 (ja) 2019-12-13 2024-05-21 株式会社デンソー 物体検出装置および物体検出装置の制御方法
WO2023042637A1 (ja) * 2021-09-14 2023-03-23 株式会社デンソー 制御装置、制御方法、制御プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US7230685B2 (en) 2007-06-12
US20050162638A1 (en) 2005-07-28
DE102005004113A1 (de) 2005-08-11
JP4161910B2 (ja) 2008-10-08
DE102005004113B4 (de) 2014-07-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4161910B2 (ja) 距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラム
JP7145201B2 (ja) フォトセンサーにおける高強度光を検出すること
JP6596029B2 (ja) ハイダイナミックレンジ画素およびそれを動作させるための方法
EP3789792B1 (en) Method for subtracting background light from an exposure value of a pixel in an imaging array, and pixel for use in same
JP5206297B2 (ja) 光学式測距装置及び方法
JP6709335B2 (ja) 光センサ、電子機器、演算装置、及び光センサと検知対象物との距離を測定する方法
JP4321540B2 (ja) 物体検出装置
CN108344984B (zh) 光检测和测距系统
JP2002500367A (ja) 3次元距離画像を撮影するための方法及び装置
JP2007170856A (ja) 距離データ生成方法、距離画像生成装置、光電センサ
US11754717B2 (en) Distance measurement device having external light illuminance measurement function and external light illuminance measurement method
JP2018169162A (ja) 固体撮像装置
KR20220069001A (ko) 광 검출 장치 및 시스템
WO2018030318A1 (ja) 投光撮像装置および投光撮像方法
ATE414900T1 (de) Objektsensor und seine anwendung in einer scheibenwischersteuerungsschaltung
WO2019050024A1 (ja) 距離測定方法および距離測定装置
US20230194666A1 (en) Object Reflectivity Estimation in a LIDAR System
US20220053119A1 (en) Image capture method adapted to sparkling light sources and image sensor
CN114846355A (zh) 测距装置
WO2020193161A1 (en) Time-of-flight apparatus and method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060320

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080625

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080701

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080714

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110801

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120801

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130801

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees