JP2005203129A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 イオン源1で発生させた各種イオンを周回軌道Pに乗せ、周回させる過程で目的イオンとそれ以外のイオンとの差を拡大させ、不要なイオンを偏向電極2により軌道P外に廃棄する。それによって高い質量分解能で以て目的イオンのみを軌道P上に残し、実質的にイオントラップと同様の機能で且つより一層高い性能を実現する。こうして蓄積した純度の高い目的イオンを軌道Pから離脱させ、開裂領域4で開裂させた後に第2飛行空間6に導入し、反射器7により質量数に応じた位置で折り返して検出器8で検出する。
【選択図】 図1
Description
a)イオン源から出発した各種イオンを略同一の周回軌道に沿って1乃至複数回繰り返し飛行させるための飛行空間と、
b)前記周回軌道に沿って飛行しているイオンに対し、特定の時間範囲内に通過しようとするイオンのみにその軌道上の飛行を許可することでイオンを選別するイオン選別手段と、
c)該イオン選別手段により選別されて周回軌道上に残ったイオンが該周回軌道から離脱した後に該イオンの質量数を分析するための質量分析手段と、
を備えることを特徴としている。
2…偏向電極
3…第1飛行空間
E1〜E6…円筒電場
11〜16…円筒電極
4…開裂領域
5…レーザ光源
6…第2飛行空間
7…反射器
8…イオン検出器
21…周回飛行用電圧発生部
22…偏向電圧発生部
23…反射器電圧発生部
24…制御部
P…周回軌道
Claims (3)
- a)イオン源から出発した各種イオンを略同一の周回軌道に沿って1乃至複数回繰り返し飛行させるための飛行空間と、
b)前記周回軌道に沿って飛行しているイオンに対し、特定の時間範囲内に通過しようとするイオンのみにその軌道上の飛行を許可することでイオンを選別するイオン選別手段と、
c)該イオン選別手段により選別されて周回軌道上に残ったイオンが該周回軌道から離脱した後に該イオンの質量数を分析するための質量分析手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 前記質量分析手段の手前に、前記周回軌道上で選別されたイオンを開裂させる開裂手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記開裂手段により周回軌道上にあるイオンを開裂させ、その開裂によって生じたイオンをさらに周回軌道に沿って飛行させることを特徴とする請求項2に記載の質量分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004005504A JP4033133B2 (ja) | 2004-01-13 | 2004-01-13 | 質量分析装置 |
US11/032,002 US7211792B2 (en) | 2004-01-13 | 2005-01-11 | Mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004005504A JP4033133B2 (ja) | 2004-01-13 | 2004-01-13 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005203129A true JP2005203129A (ja) | 2005-07-28 |
JP4033133B2 JP4033133B2 (ja) | 2008-01-16 |
Family
ID=34737236
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004005504A Expired - Fee Related JP4033133B2 (ja) | 2004-01-13 | 2004-01-13 | 質量分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7211792B2 (ja) |
JP (1) | JP4033133B2 (ja) |
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Also Published As
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JP4033133B2 (ja) | 2008-01-16 |
US7211792B2 (en) | 2007-05-01 |
US20050151076A1 (en) | 2005-07-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060510 |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070925 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102 Year of fee payment: 5 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102 Year of fee payment: 5 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |