JP2005196512A - 特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム - Google Patents

特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム Download PDF

Info

Publication number
JP2005196512A
JP2005196512A JP2004002589A JP2004002589A JP2005196512A JP 2005196512 A JP2005196512 A JP 2005196512A JP 2004002589 A JP2004002589 A JP 2004002589A JP 2004002589 A JP2004002589 A JP 2004002589A JP 2005196512 A JP2005196512 A JP 2005196512A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
product
characteristic
items
editing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004002589A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiji Ishikawa
誠二 石川
Keita Hattori
啓太 服部
Yoshinori Sunaga
義則 須永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP2004002589A priority Critical patent/JP2005196512A/ja
Publication of JP2005196512A publication Critical patent/JP2005196512A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Abstract

【課題】
試験仕様が変更される場合でも部品の特性と製品の特性の相関解析が容易になり、直行率の向上を実現できるようにした特性相関解析方法及びそのシステムを提供することにある。
【解決手段】
本発明は、入力された変更した製品の試験仕様に基づいて複数の試験項目及び該試験項目を試験順に並べた試験フローを編集する試験仕様編集過程と、該試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに連動して試験作業指示書を作成する指示書作成過程と、前記試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに連動して試験実績データベースにおける試験実績データフォーマットを生成するフォーマット生成過程とを有することを特徴とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、顧客の要求等によって発生する試験仕様の変更に柔軟に対応しながら、例えば電子部品を基板に実装して構成される等の製品の製造直行率を向上するための部品特性と製品試験結果から得られる製品特性との特性相関解析方法及びそのシステム並びに製品の特性を試験する試験仕様を管理する試験仕様管理方法及びそのシステムに関する。
例えば電子部品を基板に組み付け、製品として出荷する製造ラインにおいては、製品自体に要求される仕様が厳しいため、製品出荷前の試験の仕様を厳しくしており、不良品の発生率が高くなっている。不良品に対しては、例えば電子部品の一部を付け替え、再度試験を行うといった再生作業を行っている。投入から出荷まで製品が再生されずに生産される割合を直行率と一般に称しているが、直行率の低下は、作業工数がかさむばかりでなく、期間あたりの生産個数が正確に把握できなくなったり、顧客に対する納期が守れなくなったりするなど、大きな問題を引き起こす可能性がある。
また、試験の仕様を編集するシステムの一例が、特開2001−243086号公報に開示されている。
特開2001−243096号公報
ところで、直行率を向上させるためには、例えば電子部品の特性を把握し、製品試験で得られた特性との相関を把握することで、良品を与える例えば電子部品の特性の範囲(規格)を決定するといったことが行われる。しかし、通常、電子部品の規格自体は製品設計の段階で決定している。しかしながら、設計段階では試作製品の数が限られるため、製品を構成する例えば電子部品の規格を正確に決定できなかったり、量産開始後、納品される例えば電子部品に設計時に予期しえなかった項目の特性変動などが発生するなどして、設計時に設定した例えば電子部品の規格では、製品として組み立てた際、十分な直行率が得られないことが多くなってきている。
本発明の目的は、上記課題を解決すべく、例えば電子部品を基板に実装して完成される製品の仕様が変更または更新された設計試作段階から量産立ち上げ段階にかけて直行率を効率良く向上させることのできる部品特性と製品特性との特性相関解析方法及びそのシステム並びに製品の特性を試験する試験仕様を管理できるようにした試験仕様管理方法及びそのシステムを提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、製品仕様が更新された設計試作段階から量産立ち上げ段階にかけて、部品(例えば電子部品)の特性と製品試験で得られた製品(例えば基板に電子部品を実装することによって得られる製品)の特性との特性相関解析を実製造ラインで製造(生産)される製品を対象に行って、良品の製品が得られる部品の規格(特性の範囲)を決定することにある。
この特性相関解析を実製造ラインで生産される製品を対象に行うには、まず、第1に、個々の部品の特性と、個々の製品の特性を1対1で対応付けることである。これは、不良となって再生された場合は、その再生履歴も併せて記録することが必要である。第2に、顧客の要求等に合わせて製品の試験仕様を柔軟に変更し、その変更に連動して試験結果を試験実績データベースとして収集することである。
上記第1については、個々の部品(例えば電子部品)に付された部品管理番号と、個々の製品(例えば基板)に付された製品管理番号との対応付けで行うことで実現する。
上記第2については,製品の試験仕様の編集に連動して、その変更内容を例えば作業指示書により現場に指示し、試験結果(試験実績)を試験実績データベースとして収集する項目を変更させることにある。
即ち、本発明は、顧客の要求等に柔軟に対応できるように製品の試験仕様の編集を行い、製品の試験仕様の変更に連動して、作業指示書を発行すると共に試験実績を収集する試験実績データベースの構造の変更を行い、部品特性を含めて、試験内容の管理と試験実績データの収集を行うことになる。その結果、部品の特性と製品試験で得られた製品の特性との相関解析を実製造ラインで製造(生産)される製品を対象に行って、良品の製品が得られる部品の規格(特性の範囲)を決定することが可能となる。
また、本発明は、製品の試験仕様が変更される際、該変更した製品の試験仕様を入力する入力過程と、該入力過程で入力された変更した製品の試験仕様に基づいて複数の試験項目及び該試験項目を試験順に並べた試験フローを編集する試験仕様編集過程と、該試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験作業指示書を作成する指示書作成過程と、前記試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験実績データフォーマットを生成するフォーマット生成過程と、前記指示書作成過程で作成された試験作業指示書に基づいて試験装置を用いて前記製品を試験して製品試験実績として得られる製品特性を前記フォーマット生成過程で生成された試験実績データフォーマットで試験実績データベースに格納する製品特性格納過程と、前記部品を組み付けて前記製品を製造する前記部品特性を前記製品に対応させて前記試験実績データベースに格納する部品特性格納過程と、前記製品特性格納過程及び部品特性格納過程で試験実績データベースに格納された製品特性と部品特性との相関解析をすることによって良品の製品が得られる部品の規格を決定する特性相関解析過程とを有することを特徴とする特性相関解析方法及びそのシステムである。
また、本発明は、製品の試験仕様が変更される際、入力された変更した製品の試験仕様に基づいて複数の試験項目及び該試験項目を試験順に並べた試験フローを編集する試験仕様編集部と、該試験仕様編集部で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験作業指示書を作成する指示書作成部と、前記試験仕様編集部で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験実績データベースにおける試験実績データフォーマットを生成するフォーマット生成部とを備えたことを特徴とする試験仕様管理システム及びその方法である。
本発明によれば、部品の特性と製品の特性の特性相関解析が容易になり、直行率の向上を実現するための部品規格の見直し、適正化が容易に行える効果を奏する。
本発明に係る部品の特性と製品の特性の特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステムの実施の形態について図面を用いて説明する。
図1は、本発明に係る部品の特性と製品の特性の特性相関解析システム並びに試験仕様管理システムの概略構成を示す図である。製品を受注する際に、メーカから顧客に提案した仕様がそのまま受け入れられることもあるが、顧客ごとに独自の試験項目が追加されたり、試験基準が変更されたりすることがしばしば発生する。本発明はそうした顧客毎の仕様に対して、試験項目を柔軟に対応させるとともに、試験結果を用いて、製品製造の直行率の向上を図るものである。
尚、以下の記述で試験仕様が異なる場合は品名(製品名)も変え、品名と試験仕様は一意に対応するようにしている。
パソコン等で構成される試験仕様編集部101では、受注情報6である受注された顧客毎の製品仕様に基いて、すでに規定した製品の試験フローを用いて、その一部を削除したり、追加したり、試験条件の変更を図ったりして試験仕様の編集を行う。この試験仕様の編集は既に規定した製品の試験フローを画面上に表示し、該画面上で行ってもよい。この際に用いる試験フローは、試験仕様DB102において製品毎に管理されているものとする。このほか試験仕様DB102では、個々の試験項目における試験条件なども管理する。
試験仕様編集部101では、ユーザが試験の仕様つまり試験の手順(フロー)や試験装置や試験を行う基板(製品)等に設定する値などを編集する。この編集作業は品名ごとに行うのが一般的である。さらに、編集を終えた試験仕様から試験の実績として集めるべき項目、例えば試験の試験項目(測定項目)や合否判定項目などを抽出し、それにロット番号、製品管理番号(基板管理番号)等の項目を付加して、試験実績として収集するデータフォーマット情報に変換する。この変換はそれぞれの品名に対応して試験仕様を編集するたびに行うのが好適である。即ち、試験仕様編集部101では、編集を終えた試験仕様に基づき、図4に示すような、品名(製品)毎に収集する試験結果の一覧を作成し、それに試験日付や、ロット番号、製品管理番号等の項目を付加して、試験実績として収集する項目の一覧(データフォーマット情報)を生成する。そしてこの一覧(データフォーマット情報)に基づき、試験実績DB104では、試験結果を管理する。
一方で、試験仕様編集部101は、編集を終えた試験仕様に基づき、品名(製品)毎に試験作業を行う際の作業指示書103を生成する。試験工程12の作業者は、この作業指示書103に基づき作業を行うことで、顧客の要求仕様に連動した適切な試験が容易に遂行できるようになる。尚、この試験が自動機によって行われる場合は、特開2001−243087号公報に記載された技術等を用いれば、自動的に試験プログラムを生成できるのでなおさら好適である。
以上説明したように、試験仕様編集部101では、顧客の要求等に柔軟に対応できるように製品の試験仕様の編集を行い、該編集の結果得られる製品の試験仕様の変更に連動して、作業指示書103を発行すると共に試験実績を収集する試験実績データベース104の構造(収集項目)の変更を行って登録する。即ち、編集の結果得られる製品の試験仕様の変更に連動して、作業指示書103の試験項目と試験実績を収集する収集項目とを一致させることにある。その結果、試験工程12において作業指示書103に基いて試験された製品の特性結果が試験実績データベース104に記憶されることになる。
部品(例えば電子部品)2の特性は、部品メーカから部品と一緒に納品させるか、所謂受け入れ検査の際にその特性を測定することで得られる。その特性データは、例えば、試験仕様編集部101に入力手段(図示せず)を用いて入力されて、図2に示すように部品データ表として纏められ、部品名称、部品一つずつを識別する部品管理番号、納品業者、納品ロット番号、納品日及び必要な特性1、特性2、特性3、・・・等を記録して例えば試験実績データベース104に記憶される。なお、部品2の特性データは、必ずしも、試験仕様編集部101に入力されなくても、例えば試験実績データベース104に入力手段を用いて記憶されればよい。
製造工程11においては、配膳部10において配膳された例えば基板1に部品(例えば電子部品)2を組み付る(実装する)ことによって製品3が完成するものとする。
即ち、製造工程11において、配膳された基板1に部品2を組み付ける際には、部品管理番号と当該部品2を組み付けた基板管理番号(製品管理番号)が入力されて部品組み付け履歴4に記録される(図3)。基板管理番号(製品管理番号)は個々の基板1(製品3)を一つずつ識別する番号である。組み付け履歴4には、組み付け日時などを記録し、さらに組み付け後の試験において不合格となった場合に部品を組み付け直した再生回数等を記載する。つまり部品の組み付けなおしが発生した場合は、同一の基板管理番号(製品管理番号)に対して、異なる部品管理番号が対応する組み付け来歴が上記組み付け履歴4に記録されることになる。このように、組み付け履歴4には、図3に示すように、個々の部品(例えば電子部品)に付された部品管理番号と、個々の製品(例えば基板)に付された製品管理番号との対応付けがなされることになる。
試験工程12においては、試験仕様編集部102において編集された作業指示書103に記載されている試験フローや設定内容に基づいて試験を進める。それぞれの試験に対して結果が得られたならば、基板管理番号(製品管理番号)一つずつに対して対応する試験結果を試験実績データ表5に記録する(図4)。試験実績データ表5にも、図4に示すように、個々の部品に付された部品管理番号と、個々の製品に付された製品管理番号との対応付けをするために、部品管理番号も記録する。部品の組み付け終了後、試験前、試験中、試験後を通して部品番号の確認が容易ではない場合は、組み付け来歴表4を用いて、当該管理番号に対応してもっとも最近に組み付けた部品管理番号を検索し、該検索された部品番号を試験実績データ表5に記録すればよい。
図1において、組み付け履歴4として基板(a−1)に部品(b−1)を組み付けたところ、プローブテスタ等の試験装置を用いた試験工程12における試験結果として製品特性がNGであるため、新たな部品(b−2)に組み付け直した結果製品特性がOKになったことを示している。このように試験実績データ表5においても部品管理番号と、製品管理番号との対応付けがなされることになる。なお、試験結果において、製品特性がOKなものが梱包出荷13となる。
さらに、試験仕様編集部101において編集を終えた製品の試験仕様に基づき、作業指示書103と試験実績DB104の試験項目が一致するように付与されるのであるから、作業指示書103に基づいて行われる試験される項目は、当然、試験実績DB104と一致することになる。無論、自動試験機に対する試験プログラムが自動的に生成されている場合も、当然、試験される項目と試験実績DBで管理する項目は一致している。
このようにして顧客の要求仕様に応じて、柔軟に製品の試験仕様を変更することが出来、さらにその製品の試験結果を収集することが可能となる。
以下、特に図1を用いて概説した項目に関して、詳しい説明を加える。以下で説明するデータの構造は、本発明を実現しうるデータ構造の一例に過ぎず、所謂正規化などの手続きを経て情報の重複を省いたり、あるいは全く別の構造化を行ったとしても、本発明の趣旨から外れるものではない。
図4は、試験実績DB104で管理するデータの構造を模式的に表現したものである。試験実績は基板1枚(製品)毎に管理するのが好適である。ここでは、基板管理番号(製品管理番号)、ロット番号、部品番号及び試験項目数と試験項目毎に試験項目名称、試験条件、試験結果の試験単位、使用する試験装置、試験日時、試験結果などを記録する。試験項目名称、試験条件、試験結果の試験単位、使用する試験装置、試験日時、試験結果などは試験項目の数だけ記録される。このように、試験実績DB104においても、製品の仕様変更に伴なって、作業指示書103と同じ試験項目(収集項目)に変更することが可能となる。
図5は、試験仕様DB102の概略を示している。
試験仕様DB102は、試験仕様ライブラリ501と品名別試験フローDB502からなる。試験仕様ライブラリ501は、試験項目503と試験条件504を有する。試験項目503は、様々な試験の内容を記述する。試験項目503は、例えば図7に示すように、試験名称毎に、試験の目的、試験装置及び特記事項といった内容の情報を有している。
試験条件504は、各試験における設定条件を記述する。試験条件504は、例えば図8に示しているように対象とする試験名称、条件セット名、定義する条件数、及び定義すべき条件数分の条件項目、条件の設定値、設定値の単位といった内容の情報を有している。この試験仕様ライブラリ501内では、同一の試験項目に複数の条件セットが対応することがありうる。この場合、試験仕様編集部101において、後述する機能によってユーザが適切な試験項目と条件セットの組を選択することになる。
品名別試験フローDB502では、試験フロー505を有している。試験フロー505は、図6に示すように、品名(製品)毎に実施する試験項目を実施順に記述している。そして、試験フロー505は、品名、試験フローの適用開始日時、適用終了日時、適用ロット名等の情報を有し、これらの情報によって試験フローを一時的または恒久的に変更する場合の変更対象を明確化させるものである。さらに、試験フロー505は、試験の順序毎に、試験項目名、条件セット名が記述されている。この試験項目名と条件セット名は試験仕様ライブラリ内でそれぞれ試験項目名からその試験項目の内容が、条件セット名からその設定した条件の内容が把握できる。このようにして品名毎に試験の内容を記述することが出来る。
次に、試験仕様編集部101と試験仕様DB102及び試験実績DB104とのやり取りや試験仕様編集部101の構成を図9を用いて説明する。試験仕様編集部101は図中破線部で囲まれた部分となり、これは、ライブラリ編集部901、試験フロー編集部902、指示書作成部903及び試験実績データフォーマット生成部904からなる。ライブラリ編集部901は試験仕様DB102の試験仕様ライブラリ501を編集する。つまり個別の試験の仕様を定義するものである。本発明の前提としている試験仕様の定義業務は、顧客の要求によって追加されたり、変更されたりした試験仕様を変更するものである。従って、概略、既存の製品と同じ試験仕様に対して、要求項目に対応する箇所を編集する機能があると好適であると考えた。つまり、既存の試験仕様をライブラリの形に分解し、個々のライブラリを用いて再構成したり、特定のライブラリのみ変更を加えて全体の試験仕様を構成する方法を考案した。
ここでは、全体の試験仕様は、試験の手順(試験フロー505)で記述でき、試験フロー505は、個別の試験項目を順次実行するかたちで記述する。また試験項目503は、試験の目的に対応して試験装置や試験項目を指定することで特定され、試験の際に設定する試験条件504は、試験項目に対して1対多の形で定義できる条件セットとして管理する。このライブラリの編集機能は、ライブラリ編集部901において、図10に示した試験ライブラリ編集機能のユーザインターフェイス画面例に示すように、すでに定義してあるライブラリとして試験項目1001と条件セット1002を呼び出す。それぞれプルダウンメニューのような形で選択できるものとし、試験項目を選択するとそれに対応する条件セットが絞り込まれると好適である。試験項目1001が選択されると左側の試験項目、試験の目的、試験装置、測定項目、特記事項等が表示され、それらの編集が可能になる。編集後は試験項目登録ボタン1003をクリックすることによって、編集内容が登録される。尚、試験項目の項は、システム全体を通して唯一特定できる名称を選択すると、事後の運用に対して好適である。また、図10においては、製品の試験項目として温度特性試験の場合を示す。製品の試験項目としては、その他、湿度特性試験、衝撃特性試験、電気的特性試験等が考えられる。
次に、条件セット1002が選択されると、条件セット名、定義条件数が編集可能になる。さらに個別の条件の条件項目名、設定値、単位等を登録する。既存の登録済み条件の一覧(1004)を表示し、それらの登録内容を参照できるようにしながら、修正点の変更を行う機能を持たせる。修正が終わったならば条件セット登録ボタン1005をクリックし、編集した内容を登録する。ライブラリの呼び出し、登録は試験仕様ライブラリ501との間で行われる。
図9において、ライブラリ編集作業が終わったならば、次に、試験フローの編集を試験フロー編集部902にて行う。試験フロー編集部902において、図11に示した試験フロー編集機能のユーザインターフェイス画面例に示すように、ベース品名1101としてすでに試験フローを定義してある品名を指定し、当該品名の試験フロ−を呼び出し編集可能とする。試験フローは試験項目と条件セットを対応付けながら試験実施順に並べることで編集する。この編集では、試験項目や条件セットの入れ替え、追加、削除を行うものとする。また仕様を展開した品名を展開品名1102に記入する。さらに登録ボタン1103をクリックすることで、これらの編集内容を登録する。試験フローの参照・編集は品名別試験フローDB502との間で行う。
こうして作成した試験フローは、指示書作成部903及び試験実績データフォーマット生成部904に送付される。指示書作成部903では、試験フローを記述した作業指示書(図12)が生成される。ここには適用する品名、適用開始日時、適用終了日時、適用ロット名等のほかに、試験項目とその測定条件セット名、測定項目、単位等を記載すると分かりやすい。条件セット中の定義条件数が数が少なければ条件セット名の代わりに、条件項目名、設定値、設定単位を記載しても良い。適用開始日時、適用終了日時、適用ロット名等は、特に指定する必要がなければ、記入しなくとも良い。この指示書は、適切な承認者によって承認された後、現場に送付される。この承認は所謂電子承認によって行われることが望ましい。この電子承認のプロセスで、作成者、承認者の承認されたしるしがそれぞれ作成者欄、承認者欄に記される。
この指示書が承認されたならば、試験実績データベースフォーマット生成部904において、収集するデータベースのフォーマットを生成する。生成するデータベースの構造は図4で示したとおりであって、ここで必要な、品名、試験項目名称、試験条件、試験装置、試験単位は、図10、図11で示した試験ライブラリの編集及び試験フローの編集によって与えることが出来る。試験項目数は試験項目名称を数え上げれば容易に与えることが出来る。そのほか基板管理番号(製品管理番号)、ロット番号、試験日時、試験結果は、それら実績を集めて記録すればよい。
このようにして、ライブラリ編集部901及び試験フロー編集部902における当初目的とした試験仕様の編集と、指示書作成部903へのその編集内容の指示及び試験実績データフォーマット生成部904への試験実績データベースの変更が連動することになる。また、この方式によって、試験仕様は現場任せにならず、仕様の変更の現場指示自体も容易になる。
次に、パソコン等で構成される特性相関解析部105において、このように構築された試験実績データベース104に基づいて行う部品特性と製品特性との特性相関解析について説明する。なお、特性相関解析部105は試験仕様編集部101と同じパソコンで処理することも可能である。即ち、特性相関解析部105は、試験実績データベース104に構築された試験実績データ表(図4)と部品特性データ表(図2)とを対応させて、部品特性と製品特性の特性相関解析等を実施する。すでに説明した様に試験実績データ表に、組み付けた部品番号が記載されていれば、実施は容易であるが、記載されていない場合、図3に示した部品組み付け履歴を利用する。その手順の概略を図13に示す。所望の製品管理番号とその試験結果を選び出し(ステップ1301)、その製品管理番号に対応する部品管理番号を部品組み付け来歴から選び出し(ステップ1302)、その部品管理番号に対応する部品特性から必要なものを部品特性データ表から選び出す(ステップ1303)。これを必要な製品(基板)に対して繰り返し行う(ステップ1304)。そして、例えば、図1に示すように縦軸に製品の特性をとり、横軸に製品に組み付けられる(実装される)部品の特性をとることによって特性相関の解析を行うことが可能となる。例えば製品特性において製品規格を満足する良品の部品特性の範囲を抽出し、該抽出された部品特性の範囲を部品特性に対して規格として決定することが可能となる。即ち、特性相関解析部105において、部品の特性と製品試験で得られた製品の特性との相関解析を実製造ラインで製造(生産)される製品を対象に行って、良品の製品が得られる部品の規格(特性の範囲)を決定することが可能となる。
このようにして、試験仕様がしばしば変更される製品においても、なんら問題がなく、製品とそれに供した部品の間の相関解析が実現でき、これによって部品の特性マージンの適正化等を容易に行うことが出来るようになり、直行率の向上を迅速に行うことが可能となる。
図1に概略示した実施例に基づいて、直行率の向上を図る解析の一実施例を説明する。ユーザは対象とする品名に対し、試験仕様編集部101では、試験フローや試験を行う項目等を編集する。この編集された情報は、まず,作業指示書103に変換され、その作業指示書103を作業者が参照することで、正しい手順に従って試験を実施することができる。一方、試験仕様編集部101で編集された情報は、収集すべきデータのフォーマット情報に変換されて、試験実績DB104は、当該フォーマット情報により試験実績情報を管理する。ここで、このようにして試験仕様編集部101にて編集された情報に基づき、実際に試験されるフロー、項目と、試験実績DB104のデータフォーマットの連携が取れているため、ユーザが試験仕様を変更しても、その変更に対応した試験実績を集めることができる。
この仕組みを用いて直行率の向上を図るには、例えば製品(基板)の管理番号と、当該組み付けて製品を完成させるための部品の管理番号との対応を記録する組み付け履歴4を収集する。ここで、同一の基板に関して、部品を組み付けたあと、製品試験で不良(NG)となった場合、部品を組み付け直すことがあるが、そうした場合は同一の基板管理番号(製品管理番号)に関して、はじめと組みなおした後との部品管理番号の両方を対応付けると良い。一方、製品の管理番号毎に製品の特性や合否を試験実績DB104に収集する。
収集された部品特性、組み付け履歴、製品試験実績を用いれば部品特性と製品特性の相関図を作成することができる。相関図中のプロットは一つの製品に相当し、横軸の値は組み付けた部品の特性値、縦軸の値は製品の試験結果(特性値)である。この相関図中に製品の規格を当てはめれば、製品不良となってしまう部品の特性値を把握することができる。これに基づいて、部品規格の見直しを行い、部品配膳を行う。この一連のフローにより、より良い部品規格に基づいた製品製造を行うことができるので,所期の目的である,直行率の向上が実現できる。
本発明に係る部品の特性と製品の特性の特性相関解析システム並びに試験仕様管理システムの概略構成を示す図である。 本発明に係る部品特性データ表の一実施例を示す図である。 本発明に係る部品組み付け履歴表の一実施例を示す図である。 本発明に係る試験実績データ表の一実施例を示す図である。 本発明に係る試験仕様データベース(DB)の一実施例の構成を示す図である。 本発明に係る試験フローの一実施例を示す図である。 本発明に係る試験項目の一実施例を示す図である。 本発明に係る試験条件の一実施例を示す図である。 本発明に係る試験仕様編集部の一実施例の構成を示す図である。 本発明に係る試験ライブラリ編集機能のユーザインターフェイス画面の一実施例を示す図である。 本発明に係る試験フロー編集機能のユーザインターフェイス画面の一実施例を示す図である。 本発明に係る作業指示書の一実施例を示す図である。 本発明に係る試験実績データと部品特性データの対応関係を選び出す処理フローの一実施例を示す図である。
符号の説明
1…基板、2…部品(半導体デバイス等の電子部品)、3…製品、4…部品組み付け履歴、5…試験実績データ表、6…受注情報、10…配膳、11…製造工程(組み付け工程)、12…試験工程(試験装置を用いた)、13…梱包出荷、
101…試験仕様編集機能(試験仕様編集部)、102…試験仕様DB、103…作業指示書、104…試験実績DB、105…特性相関解析部、
501…試験仕様ライブラリ、502…品名別試験フローDB、
901…ライブラリ編集部、902…試験フロー編集部。

Claims (8)

  1. 製品の試験仕様が変更される際、該変更した製品の試験仕様を入力する入力過程と、
    該入力過程で入力された変更した製品の試験仕様に基づいて複数の試験項目及び該試験項目を試験順に並べた試験フローを編集する試験仕様編集過程と、
    該試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験作業指示書を作成する指示書作成過程と、
    前記試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験実績データフォーマットを生成するフォーマット生成過程と、
    前記指示書作成過程で作成された試験作業指示書に基づいて試験装置を用いて前記製品を試験して製品試験実績として得られる製品特性を前記フォーマット生成過程で生成された試験実績データフォーマットで試験実績データベースに格納する製品特性格納過程と、
    前記部品を組み付けて前記製品を製造する前記部品特性を前記製品に対応させて前記試験実績データベースに格納する部品特性格納過程と、
    前記製品特性格納過程及び部品特性格納過程で試験実績データベースに格納された製品特性と部品特性との相関解析をすることによって良品の製品が得られる部品の規格を決定する特性相関解析過程とを有することを特徴とする特性相関解析方法。
  2. 前記製品特性格納過程において、前記試験実績データベースに部品組み付け来歴も格納することを特徴とする請求項1記載の特性相関解析方法。
  3. 製品の試験仕様が変更される際、入力された変更した製品の試験仕様に基づいて複数の試験項目及び該試験項目を試験順に並べた試験フローを編集する試験仕様編集部と、
    該試験仕様編集部で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験作業指示書を作成する指示書作成部と、
    前記試験仕様編集部で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験実績データフォーマットを生成するフォーマット生成部と、
    前記指示書作成部で作成された試験作業指示書に基づいて試験装置を用いて前記製品を試験して製品試験実績として得られる製品特性を前記フォーマット生成部で生成された試験実績データフォーマットで試験実績データベースに格納する格納手段と、
    前記部品を組み付けて前記製品を製造する前記部品特性を入力して前記製品に対応させて前記試験実績データベースに格納する入力手段と、
    前記格納手段及び前記入力手段で試験実績データベースに格納された製品特性と部品特性との相関解析をすることによって良品の製品が得られる部品の規格を決定する特性相関解析部とを備えたことを特徴とする特性相関解析システム。
  4. 前記格納手段は、前記試験実績データベースに部品組み付け来歴も格納するように構成したことを特徴とする請求項3記載の特性相関解析システム。
  5. 前記試験仕様編集部には、試験項目及び試験条件からなる試験仕様ライブラリと製品別試験フローデータベースとを有する試験仕様データベースを備えたことを特徴とする請求項3記載の特性相関解析システム。
  6. 前記試験仕様編集部には、試験項目及び試験条件を編集して登録できる画面を表示する表示手段を有することを特徴とする請求項3又は4記載の特性相関解析システム。
  7. 製品の試験仕様が変更される際、該変更した製品の試験仕様を入力する入力過程と、
    該入力過程で入力された変更した製品の試験仕様に基づいて複数の試験項目及び該試験項目を試験順に並べた試験フローを編集する試験仕様編集過程と、
    該試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験作業指示書を作成する指示書作成過程と、
    前記試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験実績データフォーマットを生成するフォーマット生成過程と、
    前記指示書作成過程で作成された試験作業指示書に基づいて試験装置を用いて前記製品を試験して製品試験実績として得られる製品特性を前記フォーマット生成過程で生成された試験実績データフォーマットで試験実績データベースに格納する製品特性格納過程とを有することを特徴とする試験仕様管理方法。
  8. 製品の試験仕様が変更される際、入力された変更した製品の試験仕様に基づいて複数の試験項目及び該試験項目を試験順に並べた試験フローを編集する試験仕様編集部と、
    該試験仕様編集部で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験作業指示書を作成する指示書作成部と、
    前記試験仕様編集部で編集された複数の試験項目及び試験フローに基づいて試験実績データベースにおける試験実績データフォーマットを生成するフォーマット生成部とを備えたことを特徴とする試験仕様管理システム。
JP2004002589A 2004-01-08 2004-01-08 特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム Pending JP2005196512A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004002589A JP2005196512A (ja) 2004-01-08 2004-01-08 特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004002589A JP2005196512A (ja) 2004-01-08 2004-01-08 特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005196512A true JP2005196512A (ja) 2005-07-21

Family

ID=34817739

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004002589A Pending JP2005196512A (ja) 2004-01-08 2004-01-08 特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005196512A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020173581A (ja) * 2019-04-10 2020-10-22 株式会社豊田中央研究所 データ分析方法、データ分析装置、およびコンピュータプログラム

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05157592A (ja) * 1991-12-06 1993-06-22 Toshiba Corp 電子機器の性能試験装置
JPH10217048A (ja) * 1997-02-04 1998-08-18 Nec Corp 品質改善システム
JP2003162314A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Mitsubishi Electric Corp 生産管理方法、生産管理システム、および半導体ic
JP2003233652A (ja) * 2002-02-12 2003-08-22 Sharp Corp 品質管理システム、品質管理方法、品質管理プログラム及び品質管理プログラムを記録した記録媒体

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05157592A (ja) * 1991-12-06 1993-06-22 Toshiba Corp 電子機器の性能試験装置
JPH10217048A (ja) * 1997-02-04 1998-08-18 Nec Corp 品質改善システム
JP2003162314A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Mitsubishi Electric Corp 生産管理方法、生産管理システム、および半導体ic
JP2003233652A (ja) * 2002-02-12 2003-08-22 Sharp Corp 品質管理システム、品質管理方法、品質管理プログラム及び品質管理プログラムを記録した記録媒体

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020173581A (ja) * 2019-04-10 2020-10-22 株式会社豊田中央研究所 データ分析方法、データ分析装置、およびコンピュータプログラム
JP7230654B2 (ja) 2019-04-10 2023-03-01 株式会社豊田中央研究所 データ分析方法、データ分析装置、およびコンピュータプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7673179B2 (en) Online testing unification system with remote test automation technology
JP2002041131A (ja) 保全情報管理システム及び保全計画の提供方法
JPH08297699A (ja) 製造不良解析支援システム、製造システム、および製造不良解析支援方法
US7353230B2 (en) Dynamic distributed customer issue analysis
US20070092857A1 (en) Method and apparatus for supporting training, and computer product
JP2003505854A (ja) 印刷回路基板用原始部品リストの標準部品リストへの変換方法
JP3565839B2 (ja) 部品カタログ作成装置
JP2007304660A (ja) コマンド実行結果記録システム及びコマンド実行結果記録方法
JP3766232B2 (ja) 機器カルテ管理評価装置および同装置を用いた機器カルテ管理評価方法
JP4646248B2 (ja) プログラム検査項目生成システムと方法およびプログラムテストシステムと方法ならびにプログラム
JP2005196512A (ja) 特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム
JP2003122420A (ja) 生産管理システムおよびコンピュータが実行するためのプログラム
JPH08287154A (ja) 製造不良解析システム、方法およびこれに関連したデータベースの生成方法
JPH10275168A (ja) 設計支援方法および設計支援システム
JP2003022287A (ja) 設計レビュー支援装置、設計レビュー支援方法、設計レビュー支援プログラム及び設計レビュー支援プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2003016226A (ja) 製品市場品質情報解析支援装置、製品市場品質情報解析支援システム及び製品市場品質情報解析支援用プログラム
CN113609698A (zh) 一种基于工艺故障数据库的工艺可靠性分析方法及系统
JP2007316733A (ja) 修理支援システム、修理支援方法、修理支援プログラムおよび記録媒体
JP2007115038A (ja) プリント基板品質情報管理システム
JP5663860B2 (ja) 製造履歴情報管理装置および方法
JP5503363B2 (ja) インシデント管理レポート出力システムと方法およびプログラム
Dostaler Trying to Resolve Manufacturing Performance Trade‐Offs: The Case of British Contract Electronics Assemblers
JP7387406B2 (ja) 情報提供装置、情報提供方法、及びプログラム
JP2000222030A (ja) 入出力点リスト編集処理装置及びプラント情報監視装置
JPH08222887A (ja) 製品製造変更履歴・不良履歴管理システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061027

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20061027

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090309

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100119

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100319

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100713