JP2003162314A - 生産管理方法、生産管理システム、および半導体ic - Google Patents

生産管理方法、生産管理システム、および半導体ic

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JP2003162314A
JP2003162314A JP2001360509A JP2001360509A JP2003162314A JP 2003162314 A JP2003162314 A JP 2003162314A JP 2001360509 A JP2001360509 A JP 2001360509A JP 2001360509 A JP2001360509 A JP 2001360509A JP 2003162314 A JP2003162314 A JP 2003162314A
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JP2001360509A
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English (en)
Inventor
Akiyoshi Yamamoto
明美 山元
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

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  • General Factory Administration (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 生産管理情報の内容を変更する場合に伴う作
業者の負荷を軽減することができる生産管理方法および
システムを提供する。 【解決手段】 各製品ごとに生産管理項目を決めるのに
必要な基準情報がマスタ情報Mとして格納されたマスタ
情報ファイル10と、各々の工場ごとに基準情報をベー
スとしてこれに工場独自の生産管理項目を追加してなる
工場別基準情報がサブマスタ情報Sとして格納された複
数のサブマスタ情報ファイル12とを予め準備しておく
とともに、マスタ情報Mに対してはマスタ情報履歴管理
用のマスタ副番Xmを、サブマスタ情報Sには前記マス
タ副番Xmに関連付けられたマスタ副番Xsおよびサブ
マスタ情報履歴管理用のサブマスタ副番Yをそれぞれ設
定しておき、マスタ情報Mが改定された場合には、これ
に応じてマスタ情報Mとサブマスタ情報Sにそれぞれ設
定されているマスタ副番Xm,Xsの関係に基づいて改
定対象となるサブマスタ情報Sを特定し、その特定した
サブマスタ情報Sに対してマスタ情報Xの改定事項のみ
を自動反映させるようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータ制御
によって製品の生産管理を行う生産管理方法、生産管理
システムおよび半導体ICに関し、特には、生産管理の
ための情報をファイル管理するための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】各種の半導体ICなどの製品を製造する
上では、各製品ごとにその製造工程、製造設備、製造条
件などといった管理項目を設定する必要がある。また、
製造工程の途中あるいは製品出荷前には、各種テストを
行うが、その場合にも、各々の製品ごとにそのテストフ
ロー(工程)、テスト機器、テスト条件などといった管
理項目を設定する必要がある。このような各管理項目に
基づいて適切な生産管理を行うためには、各管理項目を
決める情報を共有化して一元管理することが好ましい。
そのため、従来技術の生産管理システムでは、上記の各
種の生産管理項目を決めるのに必要な標準的な基準情報
を予め設定し、この基準情報をデータベース化してファ
イルに格納している。
【0003】また、各工場においては、上記の基準情報
を遵守しつつも、各工場によって設備等が互いに異なる
ことから、工場独自の管理項目を追加することが必要に
なることがある。さらに、基準情報の破損、消滅等の不
測の事態に対処できるようにしておく必要もある。この
ようなことから、各々の工場に対応させて基準情報をベ
ースとして、この基準情報に工場独自の生産管理項目を
追加してなる工場別基準情報を別途作成してファイルに
格納している。以下、基準情報をマスタ情報、工場別基
準情報をサブマスタ情報、マスタ情報を格納したファイ
ルをマスタ情報ファイル、サブマスタ情報を格納したフ
ァイルをサブマスタ情報ファイルと称する。
【0004】ここで、各工場に対応したサブマスタ情報
ファイルを作成する場合、従来は、マスタ情報ファイル
に格納されているマスタ情報を一旦サブマスタ情報ファ
イルにそのままコピーした後、手作業によって各工場独
自の管理項目の情報を追加することにより作成してい
る。
【0005】ところで、マスタ情報ファイルに格納され
ているマスタ情報は、標準的な生産管理項目を設定する
ものであるが、このマスタ情報は不変的なものではな
く、技術向上や製品の要求品質の変化等によってしばし
ば改定されることがある。たとえば、各製品のテストに
おいても、テスト精度を高めるためにテスト項目を追加
したり、あるいは、テストの稼働効率を高めるために不
要なテスト項目を削除することがある。そして、このよ
うに、マスタ情報が改定されるときには、これに併せて
サブマスタ情報も改定する必要が生じる。
【0006】そのため、改定後のマスタ情報をサブマス
タ情報ファイルに単にコピーすると、サブマスタ情報フ
ァイルに先に登録されていた工場独自の情報が上書きさ
れて失われてしまう。そのため、従来技術では、改定後
のマスタ情報をサブマスタ情報ファイルにコピーした後
は、工場独自の情報を別途、手作業で追加して新たなサ
ブマスタ情報を作成している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来技術
では、マスタ情報が改定されるたびに、その都度、この
改定後のマスタ情報をサブマスタ情報ファイルにコピー
した後、工場独自の情報を追加する作業を人手で行わね
ばならなかった。このため、情報の追加作業に過大な手
間と時間を要するとともに、全て手作業で行うので情報
の入力ミスが生じ易かった。また、手作業による情報入
力のために、極端な場合には、サブマスタ情報ファイル
側においてマスタ情報が改変されて各工場で遵守すべき
最低限の管理項目が徹底されなくなるなどの不都合を生
じていた。
【0008】その対策として、マスタ情報が改定される
たびに、改定されたマスタ情報をサブマスタ情報ファイ
ルへコピーするといったことをせずに、たとえば、各々
のサブマスタ情報について、マスタ情報で改定されたの
と同じ事項を改定するといったことが考えられる。しか
しながら、この場合においても、各工場に対応して設け
られているサブマスタ情報を逐一手作業で改定するの
は、依然として過大な手間と時間を要するとともに、入
力ミスを起こし易い点は否めない。
【0009】本発明は、上記の課題を解決するためにな
されたもので、マスタ情報が改定されたときには、これ
に応じて改定が必要なサブマスタ情報を特定できるよう
にするとともに、マスタ情報の内の改定事項の情報のみ
がその特定されたサブマスタ情報に自動的に反映される
ようにし、これによって、生産管理情報の内容を変更す
る場合に伴う作業者の負荷を軽減することができる生産
管理方法および生産管理システムを提供することを目的
とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するために、次のようにしている。
【0011】すなわち、請求項1記載の発明に係る生産
管理方法は、各製品ごとに生産管理項目を決めるのに必
要な基準情報がマスタ情報として格納されたマスタ情報
ファイルと、各々の工場ごとに基準情報をベースとして
これに工場独自の生産管理項目を追加してなる工場別基
準情報がサブマスタ情報として格納された複数のサブマ
スタ情報ファイルとを予め準備しておくとともに、前記
マスタ情報に対してはマスタ情報履歴管理用のマスタ副
番を、前記サブマスタ情報には前記マスタ副番に関連付
けられたマスタ副番およびサブマスタ情報履歴管理用の
サブマスタ副番をそれぞれ設定しておき、前記マスタ情
報が改定された場合には、これに応じてマスタ情報とサ
ブマスタ情報にそれぞれ設定されているマスタ副番の関
係に基づいて改定対象となるサブマスタ情報を特定し、
その特定したサブマスタ情報に対して前記マスタ情報の
改定事項のみを自動反映させることを特徴としている。
【0012】請求項2記載の発明に係る生産管理方法
は、請求項1記載の発明において、前記マスタ情報とサ
ブマスタ情報は、製品情報に関連付けられた標準のテス
トフローおよびテスト条件を規定する情報を含むもので
あって、前記サブマスタ情報に含まれるテストフローの
キーとなるテストフローNo.には工場独自のテスト工
程を追加したときの各テストフローの種類を識別するた
めのサブマスタ連番を予め付加しておき、マスタ側のテ
ストフロー情報を改定するときには、サブマスタ側のテ
ストフロー情報の内から前記サブマスタ連番が異なって
いても同じテストフローNo.をもつテストフロー情報
を一括して改定対象として特定し、その特定したテスト
フロー情報に対してマスタ側のテストフロー情報の改定
事項を自動反映させることを特徴としている。
【0013】請求項3記載の発明に係る生産管理方法
は、請求項1または請求項2に記載の発明において、前
記マスタ情報とサブマスタ情報は、製品情報に関連付け
られた標準のテストフローおよびテスト条件を規定する
情報を含むものであって、前記テスト条件情報は、マス
タ情報ファイルとサブマスタ情報ファイルにおいて共に
同じ格納形式で予め登録しておき、マスタ側のテスト条
件情報を改定するときには、マスタ側のテスト条件情報
の格納箇所に対応するサブマスタ情報ファイルの同じ格
納箇所を改定対象として特定し、その特定した箇所にマ
スタ側のテスト条件情報の改定事項を自動反映させるこ
とを特徴としている。
【0014】請求項4記載の発明に係る生産管理方法
は、請求項3記載の発明において、サブマスタ情報ファ
イルのテスト条件情報に関して、改定対象として特定し
た箇所に工場独自に追加した情報が既に存在する場合に
は、その追加した情報を他の箇所に移動させた後に、マ
スタ側のテスト条件情報の改定事項を自動反映させるこ
とを特徴としている。
【0015】請求項5記載の発明に係る生産管理システ
ムは、各製品ごとに生産管理項目を決めるのに必要な基
準情報がマスタ情報として格納されたマスタ情報ファイ
ルと、各々の工場ごとに基準情報をベースとしてこれに
工場独自の生産管理項目を追加してなる工場別基準情報
がサブマスタ情報として格納された複数のサブマスタ情
報ファイルとが設けられるとともに、前記マスタ情報に
対してはマスタ情報履歴管理用のマスタ副番が、前記サ
ブマスタ情報には前記マスタ副番に関連付けられたマス
タ副番およびサブマスタ情報履歴管理用のサブマスタ副
番がそれぞれ設定される一方、前記マスタ情報が改定さ
れた場合には、これに応じてマスタ情報とサブマスタ情
報にそれぞれ設定されているマスタ副番の関係に基づい
て改定対象となるサブマスタ情報を特定し、その特定し
たサブマスタ情報に対して前記マスタ情報の改定事項の
みを自動反映させるバージョンアップ手段を備えること
を特徴としている。
【0016】請求項6記載の発明に係る生産管理システ
ムは、請求項5記載の発明において、前記マスタ情報と
サブマスタ情報は、製品情報に関連付けられた標準のテ
ストフローおよびテスト条件を規定する情報を含み、か
つ、前記サブマスタ情報に含まれるテストフローのキー
となるテストフローNo.には工場独自のテスト工程を
追加したときの各テストフローの種類を識別するための
サブマスタ連番が付加されており、前記バージョンアッ
プ手段は、前記サブマスタ情報の内から前記サブマスタ
連番が異なっていても同じテストフローNo.をもつテ
ストフロー情報を一括して改定対象として特定し、その
特定したテストフロー情報に対してマスタ側のテストフ
ロー情報の改定事項を自動反映させるものであることを
特徴としている。
【0017】請求項7記載の発明に係る生産管理システ
ムは、請求項5または請求項6に記載の発明において、
前記マスタ情報とサブマスタ情報は、製品情報に関連付
けられた標準のテストフローおよびテスト条件を規定す
る情報を含み、かつ、前記テスト条件情報は、マスタ情
報ファイルとサブマスタ情報ファイルにおいて共に同じ
格納形式で登録されており、前記バージョンアップ手段
は、マスタ情報ファイルの格納箇所に対応するサブマス
タ情報ファイルの同じ格納箇所を改定対象として特定
し、その特定した箇所にマスタ側のテスト条件情報の改
定事項を自動反映させるものであることを特徴としてい
る。
【0018】請求項8記載の発明に係る生産管理システ
ムは、請求項7記載の発明において、前記バージョンア
ップ手段は、サブマスタ情報ファイルのテスト条件情報
に関して、改定対象として特定した箇所に工場独自に追
加した情報が既に存在する場合には、その追加した情報
を他の箇所に移動させた後に、マスタ側のテスト条件情
報の改定事項を自動反映させるものであることを特徴と
している。
【0019】請求項9記載の発明における半導体IC
は、請求項1ないし請求項8のいずれかの生産管理方法
または生産管理システムにより製造されたものである。
【0020】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は本発明の実
施の形態1に係る生産管理システムの全体構成を示すブ
ロック図である。
【0021】この実施の形態1の生産管理システムは、
パーソナルコンピュータやワークステーション等の情報
処理装置を使用して実現されるものである。この場合の
情報処理装置のハードウェア構成としては、ホストコン
ピュータ1、このホストコンピュータに付属する外部記
憶装置2および端末装置3、各工場ごとに設置された生
産ライン制御装置4などを備えており、これらの要素が
通信回線5を介して互いに接続されている。
【0022】上記のホストコンピュータ1は、端末装置
3や生産ライン製造装置4が備える図示しないキーボー
ドや表示器等を介して外部記憶装置2に格納されている
情報の入出力が行うとともに、特許請求の範囲における
バージョンアップ手段としての機能を果たすものであ
る。
【0023】外部記憶装置2は、生産管理に必要な情報
を格納したデータベースを構成するもので、このデータ
ベースには、製品(たとえば半導体ICの品名)ごとに
生産管理項目を決めるのに必要なマスタ情報が格納され
たマスタ情報ファイル10と、マスタ情報をベースとし
てこれに工場独自の生産管理項目を追加してなるサブマ
スタ情報が格納されたサブマスタ情報ファイル12とが
設けられている。したがって、サブマスタ情報ファイル
12は各工場に個別に対応した数だけ設けられている。
【0024】生産ライン制御装置4は、各工場に設置さ
れていて、ホストコンピュータ1から実行ファイルを受
信して格納し、生産ラインでの作業指示や実績収集を行
い、実績をホストコンピュータ1に送信する機能を有し
ている。
【0025】図2は、マスタ情報ファイル10に格納さ
れているマスタ情報が製品テストのための情報である場
合の一例を示している。
【0026】この実施の形態1におけるマスタ情報M
は、製品情報M1に関連付けられた標準のテストフロー
およびテスト条件を規定する情報M2,M3を含む。す
なわち、製品情報M1は、個々の製品名に対応付けてテ
ストフローのキーとなるテストフローNo.およびテス
ト条件のキーとなるテスト条件No.を規定している。
また、テストフロー情報M2は、テストフローNo.に
対応付けてテストフローの実行手順(たとえば、STA
RT→TEST1→TEST2→…等)を規定してい
る。テスト条件情報M3は、テスト条件No.に対応付
けて各テストフローの実行手順ごとに具体的なテスト条
件(たとえば、テスト装置名、温度、時間等)を規定し
ている。さらに、上記のテスト条件情報M3は、所定の
格納形式、ここでは図7(a)に示すようなテーブル形
式でもってマスタ情報ファイル10に登録されている。
【0027】そして、この実施の形態1の特徴として、
マスタ情報Mを構成する製品情報M1、テストフロー情
報M2、およびテスト条件情報M3のそれぞれに対し
て、マスタ情報履歴管理用のマスタ副番Xmが設定され
ている。
【0028】図3はサブマスタ情報ファイル12に格納
されているサブマスタ情報の一例を示している。
【0029】サブマスタ情報Sは、図2に示したマスタ
情報Mをベースとしてこれに工場独自の製品テスト項目
を追加してなるものであり、したがって、このサブマス
タ情報Sは、マスタ情報Mと同様に、製品情報S1に関
連付けられた標準のテストフローおよびテスト条件を規
定する情報S2,S3を含む。つまり、マスタ情報Mの
場合と同様に、製品情報S1にはテストフローNo.お
よびテスト条件No.が規定され、また、テストフロー
情報S2には、テストフローNo.に対応付けてテスト
フローの実行手順が規定され、さらに、テスト条件情報
S3には、テスト条件No.に対応付けてテストフロー
の実行手順ごとに具体的な処理条件を規定している。た
だし、テストフロー情報S2あるいはテスト条件情報S
3には、部分的に工場独自にテストフローやテストフロ
ー条件が追加されている。また、テスト条件情報S3
は、図7(b)に示すように、マスタ情報ファイル10
に登録されているのと同じテーブル形式でもってサブマ
スタ情報ファイル12に登録されている。
【0030】そして、この実施の形態1の特徴として、
このサブマスタ側の製品情報S1、テストフロー情報S
2、およびテスト条件情報S3のそれぞれに対して、マ
スタ側のマスタ副番Xmに関連付けられたマスタ情報履
歴管理用のマスタ副番Xs、およびサブマスタ情報履歴
管理用のサブマスタ副番Yがそれぞれ設定されている。
さらに、サブマスタ側の製品情報S1ならびにテストフ
ロー情報S2に含まれるテストフローNo.には、工場
独自のテスト工程を追加した際の各テストフローの種類
を識別するためのサブマスタ連番Zが付加されている。
【0031】上記構成において、いま、マスタ情報ファ
イル10にマスタ情報Mを新規に登録した場合、各々の
サブマスタ情報ファイル12には、新規登録されたマス
タ情報Mをそのままコピーした情報がサブマスタ情報S
として登録される。したがって、マスタ情報Mの製品情
報M1、テストフロー情報M2、およびテスト条件情報
M3の内容と、サブマスタ情報Sの製品情報S1、テス
トフロー情報S2、およびテスト条件情報S3の内容と
はこの時点では同じになっている。
【0032】その際、図2および図4に示すように、マ
スタ情報Mとサブマスタ情報Sに付されたマスタ副番X
m,Xsは共に同じ初期番号(たとえば、AA)に設定
され、また、サブマスタ情報Sに付されたサブマスタ副
番Yも初期番号(たとえばAA)に設定される。
【0033】さらに、図2および図6(a)に示すよう
に、マスタ情報Mを構成する製品情報M1およびテスト
フロー情報M2にそれぞれ含まれるテストフローNo.
(この例ではF2−01)には連番は付されていない
が、図3および図6(b)に示すように、サブマスタ情
報Sを構成する製品情報S1およびテストフロー情報S
2にそれぞれ含まれるテストフローNo.(この例はF
2−01)に付されたサブマスタ連番Zは初期番号(こ
の例では“000”)に設定される。
【0034】ここで、サブマスタ情報ファイル12にサ
ブマスタ情報Sが登録された後、サブマスタ側のテスト
フロー情報S2に対して、工場独自のテスト工程を追加
したときには、マスタ副番Xm,Xsおよびサブマスタ
副番Yはいずれも変更されず、サブマスタ連番Zのみが
変更される。
【0035】たとえば、図6(b)に示すサブマスタ側
のテストフロー情報S2(このときのサブマスタ連番Z
は“000”)に対して、図6(c)に示すように、あ
る工場における独自のテスト工程(この例では“作業
1”)が追加された場合には、サブマスタ連番Zが“0
01”に変更される。また、図6(d)に示すように、
さらに別のテスト工程(この例では“作業2”)が追加
された場合には、サブマスタ連番が“002”に変更さ
れる。
【0036】また、サブマスタ情報Sにおいて、テスト
工程ごとに設定する制御フラグ、たとえばテスト結果を
収集する/しない、あるいは品質チェックを自動でする
/しないなどの事項が改定されたような場合には、図4
に示すように、マスタ副番Xsは変更されず、サブマス
タ副番Yのみが変更される。たとえば、サブマスタ副番
Yの初期番号が“AA”としたとき、サブマスタ情報S
の上述したような事項が改定されたときには、サブマス
タ副番Yが一つ繰り上がって“AB”となる。
【0037】次に、マスタ情報Mが改定される場合にお
いて、その改定事項をサブマスタ情報Sに自動反映する
場合の処理動作について図5に示すフローチャートを参
照して説明する。
【0038】ホストコンピュータ1は、マスタ情報Mが
改定された場合、図2に示すように、マスタ情報Mに付
されているマスタ副番Xmを、初期番号“AA”から一
つ繰り上げて“AB”とする(ステップ1)。一方、サ
ブマスタ情報Sに対しては、マスタ情報Mを改定する前
に付されていたマスタ側のマスタ副番Xm=“AA”と
同一のマスタ副番Xs“AA”をもつサブマスタ情報S
を検索し、しかも、このマスタ副番Xs“AA”をもつ
サブマスタ情報Sの内で最新のサブマスタ副番Y=“A
C”をもつものを検索する(ステップ2)。
【0039】この検索の結果、該当するサブマスタ情報
Sが存在するときには、これらのサブマスタ情報Sを改
定対象として特定し、その特定したサブマスタ情報Sに
対してマスタ情報Mの改定事項のみを自動反映させる
(ステップ3)。この自動反映の具体的な処理内容につい
ては、後で詳述する。その際、各工場ごとに存在するサ
ブマスタ情報ファイル12において、マスタ側のマスタ
副番Xmと同一のマスタ副番Xsをもつサブマスタ情報
Sが存在する場合には、これらの全てのサブマスタ情報
Sに対して同様にマスタ情報Mの改定事項のみを自動反
映させる。
【0040】そして、自動反映した後のサブマスタ情報
Sについては、そのマスタ副番Xsは改定後のマスタ情
報Mのマスタ副番Xmと同一になるように一つ繰り上げ
る。たとえば、上記の例では、図4に示すように、サブ
マスタ情報Sに付されているマスタ副番Xsが“AA”
から“AB”に変更される。また、マスタ情報Mが改定
されたことにより、その改定版に対してサブマスタ情報
Sは最新のものになるので、サブマスタ副番Yは“A
C”から初期番号“AA”に変更される(ステップ4)。
【0041】次に、マスタ情報Mに含まれるテストフロ
ー情報M2が改定された場合において、この改定事項を
サブマスタ情報Sに自動反映する場合の具体的な処理内
容について説明する。
【0042】前述のごとく、サブマスタ側のテストフロ
ー情報S2に対して工場独自のテスト工程を追加したと
きには、サブマスタ連番Zが変更される(図6(c)、
図6(d)参照)が、これらのサブマスタ側の各テスト
フロー情報S2は、元々、マスタ側のテストフロー情報
M2に基づいて作成されたものである。したがって、ホ
ストコンピュータ1は、マスタ側のテストフロー情報M
2が改定された場合、サブマスタ側の複数のテストフロ
ー情報S2の内からマスタ側と同じテストフローNo.
をもつテストフロー情報S2を一括して改定対象として
特定し、その特定したテストフロー情報S2に対してマ
スタ側におけるテストフロー情報M2の改定事項のみを
自動反映させる。なお、その場合も、各工場に対応して
設けられたサブマスタ情報ファイル12において、同一
のテストフローNo.をもつテストフロー情報S2が存
在する場合には、これらの全てのテストフロー情報S2
に対して同様にマスタ側のテストフロー情報M2の改定
事項のみが自動反映される。
【0043】たとえば、図6に示すように、マスタ側の
テストフロー情報M2の内、“TEST2”の工程を示
す情報を削除する改定が行われた場合、各工場ごとのサ
ブマスタ情報ファイル12の内から特定されたサブマス
タ情報S2について、サブマスタ連番Zが“000”、
“001”、“002”というように異なっていても同
じテストフローNo.“F2−01”をもつ全てのテス
トフロー情報S2に関して、“TEST2”の工程を示
す情報が削除される。この場合、マスタ情報Mの“TE
ST2”はコード化されているので、サブマスタ情報S
についてもマスタ情報Mと同じコードを検索して“TE
ST2”の情報が削除されることになる。
【0044】次に、マスタ側のテスト条件情報M3が改
定され場合において、この改定事項をサブマスタ情報S
に自動反映する場合の具体的な内容について説明する。
【0045】ホストコンピュータ1は、マスタ側のテス
ト条件情報M3が改定された場合、マスタ側のテストフ
ロー情報M3が改定された箇所に対応するサブマスタ側
のテスト条件情報S3の格納箇所を改定対象として特定
し、その特定した箇所にマスタ側のテスト条件情報M3
の改定事項を自動反映させる。
【0046】すなわち、マスタ側もサブマスタ側もテス
ト条件情報M3,S3は、共に図7に示すようなテーブ
ル形式で格納されているので、たとえば図7(a)に示
すように、マスタ側におけるセット1の装置名が“FF
FFF”から“AAAAA”に改定された場合には、サ
ブマスタ側では、図7(b)に示すように、マスタ側の
テーブルの行と列とで決まる番地に対応した箇所にある
装置名を“FFFFF”から“AAAAA”に改定す
る。
【0047】また、ホストコンピュータ1は、サブマス
タ側のテスト条件情報S3について、改定対象として特
定した箇所に工場独自に追加した情報が既に存在する場
合には、その追加した情報を他の箇所に移動させた後
に、マスタ側のテスト条件情報M3の改定事項を自動反
映させる。この自動反映処理を、図8に示す場合を例に
とって、図9に示すフローチャートを参照してさらに具
体的に説明する。
【0048】マスタ情報ファイル10に格納されている
テスト条件情報M3のセット2に新たなテスト条件を書
き込む改定を行った結果(ステップ11)、テスト条件情
報M3が図8(b)に示すような状態になったとする。
【0049】この状態で、次に、改定前のマスタ副番X
mをもつテスト条件情報M3について、セット2に情報
が書き込まれている否かを判断する(ステップ12)。こ
のとき、セット2に情報が書き込まれている場合には、
改定前のマスタ情報Mに付されたマスタ副番Xmと同じ
マスタ副番Xsをもつサブマスタ側のテスト条件情報S
3について、マスタ側の改定後のテスト条件情報M3の
セット2に格納されている事項を無条件で上書きする
(ステップ13)。
【0050】これに対して、改定前のマスタ副番Xmを
もつテスト条件情報M3について、図8(a)に示した
ようにセット2に情報が書き込まれていない場合には、
引き続いて、改定前のマスタ情報Mに付されたマスタ副
番Xmと同じマスタ副番Xsをもつサブマスタ側のテス
ト条件情報S3について、セット2に情報が格納されて
いるか否かを判断する(ステップ14)。
【0051】このとき、改定前のサブマスタ側のテスト
条件情報S3において、セット2に情報が格納されてい
なければ、このセット2にマスタ側のテスト条件情報M
3に対するを改定事項と同じ改定事項の情報を格納する
(ステップ15)。これに対して、図8(c)に示すよう
に、改定前のサブマスタ側のテスト条件情報S3におい
て、そのセット2に情報が既に格納されている場合に
は、工場独自の情報がセット2に追加されていることに
なる。そこで、その追加された情報が上書きされて消失
するのを防止するために、まず、図8(d)に示すよう
に、サブマスタ側のテスト条件情報S3のセット2に既
に存在する情報を末尾のセット4に移行させた後(ステ
ップ16)、ブランクになったセット2にマスタ側のテ
スト条件情報M3における改定事項と同じ改定事項を格
納する(ステップ17)。
【0052】なお、上記の実施の形態では、各製品テス
トのための情報をマスタ情報Mおよびサブマスタ情報S
として各ファイル10,12に格納されている場合につ
いて説明したが、本発明は、これに限定されるものでは
なく、たとえば、各製品ごとにその製造工程、製造設
備、製造条件などといった生産管理項目を設定した情報
をマスタ情報Mやサブマスタ情報Sとする場合について
も本発明を適用することができるのは勿論である。
【0053】
【発明の効果】請求項1記載の発明に係る生産管理方法
および請求項5記載の生産管理システムによれば、マス
タ情報にはマスタ副番を、サブマスタ情報にはマスタ副
番とサブマスタ副番とを設定することにより、情報の改
定に伴うマスタ情報とサブマスタ情報の履歴をそれぞれ
把握することができる。このため、マスタ情報が改定さ
れたときには、これに応じて改定が必要となるサブマス
タ情報を特定することが可能となる。したがって、サブ
マスタ情報が工場ごとに複数存在する場合でも、マスタ
情報の内の改定事項の情報のみをその特定されたサブマ
スタ情報に自動的に一括して反映することができる。そ
の結果、生産管理情報の内容を変更する場合に伴う作業
者の負荷を軽減することができるだけでなく、改定に伴
う入力ミス等を確実に防ぐことができる。
【0054】請求項2記載の発明に係る生産管理方法お
よび請求項6記載の生産管理システムによれば、請求項
1,5記載の発明の効果に加えて、工場独自のテストフ
ロー情報が追加される場合にはテストフローNo.にサ
ブマスタ連番を付して、マスタ情報とサブマスタ情報と
を関連付けるため、マスタ側のテストフロー情報が改定
されたときには、それと同じテストフローNo.をもつ
サブマスタ情報に対して改定事項を一括して自動反映す
ることができる。
【0055】請求項3記載の発明に係る生産管理方法お
よび請求項7記載の生産管理システムによれば、請求項
1,2,5,6記載の発明の効果に加えて、マスタ情報
ファイルとサブマスタ情報ファイルにおいて情報を同じ
格納形式で予め登録することによりマスタ情報とサブマ
スタ情報とを関連付けているため、マスタ側のテストフ
ロー情報が改定されたときには、それに対応した箇所に
格納されているサブマスタ情報に対して改定事項を一括
して自動反映することができる。
【0056】請求項4記載の発明に係る生産管理方法お
よび請求項8記載の生産管理システムによれば、サブマ
スタ情報に対して工場側で独自に追加 した情報は保護
しつつ、マスタ側で改定した事項を確実にサブマスタ側
に反映することができる。
【0057】請求項9記載の発明の半導体ICは、基本
的にマスタ情報を遵守しつつ工場独自に追加された管理
項目に基づいて生産されるので、品質の優れたものが得
られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1に係る生産管理システ
ムの全体構成を示すブロック図である。
【図2】 各製品テストのための情報をマスタ情報とし
てマスタ情報ファイルに格納されている状態の一例を示
す説明図である。
【図3】 各製品テストのための情報をサブマスタ情報
としてサブマスタ情報ファイルに格納されている状態の
一例を示す説明図である。
【図4】 マスタ情報とサブマスタ情報が改定されるの
に伴ってマスタ副番とサブマスタ副番とが変更される場
合の説明図である。
【図5】 マスタ情報が改定される場合において、その
改定事項をサブマスタ情報に自動反映する場合の処理を
示すフローチャートである。
【図6】 サブマスタ情報に含まれるテストフロー情報
が改定される場合のサブマスタ連番の変更、およびマス
タ情報に含まれるテストフロー情報の改定事項をサブマ
スタ情報に自動反映する場合の説明図である。
【図7】 マスタ情報に含まれるテスト条件情報の改定
事項をサブマスタ情報に自動反映する場合の具体的な処
理を示す説明図である。
【図8】 マスタ情報に含まれるテスト条件情報の改定
事項をサブマスタ情報に自動反映する場合に、工場独自
に追加したテスト条件情報に対して上書きされて消失す
るのを回避するための具体的な処理を示す説明図であ
る。
【図9】 図8に示した処理手順を説明するフローチャ
ートである。
【符号の説明】
1 ホストコンピュータ(バージョンアップ手段)、2
外部記憶装置、4生産ライン制御装置、10 マスタ
情報ファイル、12 サブマスタ情報ファイル、M マ
スタ情報、M1 製品情報、M2 テストフロー情報、
M3 テスト条件情報、S サブマスタ情報、S1 製
品情報、S2 テストフロー情報、S3 テスト条件情
報、Xm,Xs マスタ副番、Y サブマスタ副番、Z
サブマスタ連番。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 各製品ごとに生産管理項目を決めるのに
    必要な基準情報がマスタ情報として格納されたマスタ情
    報ファイルと、各々の工場ごとに基準情報をベースとし
    てこれに工場独自の生産管理項目を追加してなる工場別
    基準情報がサブマスタ情報として格納された複数のサブ
    マスタ情報ファイルとを予め準備しておくとともに、前
    記マスタ情報に対してはマスタ情報履歴管理用のマスタ
    副番を、前記サブマスタ情報には前記マスタ副番に関連
    付けられたマスタ副番およびサブマスタ情報履歴管理用
    のサブマスタ副番をそれぞれ設定しておき、前記マスタ
    情報が改定された場合には、これに応じてマスタ情報と
    サブマスタ情報にそれぞれ設定されているマスタ副番の
    関係に基づいて改定対象となるサブマスタ情報を特定
    し、その特定したサブマスタ情報に対して前記マスタ情
    報の改定事項のみを自動反映させることを特徴とする生
    産管理方法。
  2. 【請求項2】 前記マスタ情報とサブマスタ情報は、製
    品情報に関連付けられた標準のテストフローおよびテス
    ト条件を規定する情報を含むものであって、前記サブマ
    スタ情報に含まれるテストフローのキーとなるテストフ
    ローNo.には工場独自のテスト工程を追加したときの
    各テストフローの種類を識別するためのサブマスタ連番
    を予め付加しておき、マスタ側のテストフロー情報を改
    定するときには、サブマスタ側のテストフロー情報の内
    から前記サブマスタ連番が異なっていても同じテストフ
    ローNo.をもつテストフロー情報を一括して改定対象
    として特定し、その特定したテストフロー情報に対して
    マスタ側のテストフロー情報の改定事項を自動反映させ
    ることを特徴とする請求項1記載の生産管理方法。
  3. 【請求項3】 前記マスタ情報とサブマスタ情報は、製
    品情報に関連付けられた標準のテストフローおよびテス
    ト条件を規定する情報を含むものであって、前記テスト
    条件情報は、マスタ情報ファイルとサブマスタ情報ファ
    イルにおいて共に同じ格納形式で予め登録しておき、マ
    スタ側のテスト条件情報を改定するときには、マスタ側
    のテスト条件情報の格納箇所に対応するサブマスタ情報
    ファイルの同じ格納箇所を改定対象として特定し、その
    特定した箇所にマスタ側のテスト条件情報の改定事項を
    自動反映させることを特徴とする請求項1または請求項
    2に記載の生産管理方法。
  4. 【請求項4】 サブマスタ情報ファイルのテスト条件情
    報に関して、改定対象として特定した箇所に工場独自に
    追加した情報が既に存在する場合には、その追加した情
    報を他の箇所に移動させた後に、マスタ側のテスト条件
    情報の改定事項を自動反映させることを特徴とする請求
    項3記載の生産管理方法。
  5. 【請求項5】 各製品ごとに生産管理項目を決めるのに
    必要な基準情報がマスタ情報として格納されたマスタ情
    報ファイルと、各々の工場ごとに基準情報をベースとし
    てこれに工場独自の生産管理項目を追加してなる工場別
    基準情報がサブマスタ情報として格納された複数のサブ
    マスタ情報ファイルとが設けられるとともに、前記マス
    タ情報に対してはマスタ情報履歴管理用のマスタ副番
    が、前記サブマスタ情報には前記マスタ副番に関連付け
    られたマスタ副番およびサブマスタ情報履歴管理用のサ
    ブマスタ副番がそれぞれ設定される一方、前記マスタ情
    報が改定された場合には、これに応じてマスタ情報とサ
    ブマスタ情報にそれぞれ設定されているマスタ副番の関
    係に基づいて改定対象となるサブマスタ情報を特定し、
    その特定したサブマスタ情報に対して前記マスタ情報の
    改定事項のみを自動反映させるバージョンアップ手段を
    備えることを特徴とする生産管理システム。
  6. 【請求項6】 前記マスタ情報とサブマスタ情報は、製
    品情報に関連付けられた標準のテストフローおよびテス
    ト条件を規定する情報を含み、かつ、前記サブマスタ情
    報に含まれるテストフローのキーとなるテストフローN
    o.には工場独自のテスト工程を追加したときの各テス
    トフローの種類を識別するためのサブマスタ連番が付加
    されており、前記バージョンアップ手段は、前記サブマ
    スタ情報の内から前記サブマスタ連番が異なっていても
    同じテストフローNo.をもつテストフロー情報を一括
    して改定対象として特定し、その特定したテストフロー
    情報に対してマスタ側のテストフロー情報の改定事項を
    自動反映させるものであることを特徴とする請求項5記
    載の生産管理システム。
  7. 【請求項7】 前記マスタ情報とサブマスタ情報は、製
    品情報に関連付けられた標準のテストフローおよびテス
    ト条件を規定する情報を含み、かつ、前記テスト条件情
    報は、マスタ情報ファイルとサブマスタ情報ファイルに
    おいて共に同じ格納形式で登録されており、前記バージ
    ョンアップ手段は、マスタ情報ファイルの格納箇所に対
    応するサブマスタ情報ファイルの同じ格納箇所を改定対
    象として特定し、その特定した箇所にマスタ側のテスト
    条件情報の改定事項を自動反映させるものであることを
    特徴とする請求項5または請求項6に記載の生産管理シ
    ステム。
  8. 【請求項8】 前記バージョンアップ手段は、サブマス
    タ情報ファイルのテスト条件情報に関して、改定対象と
    して特定した箇所に工場独自に追加した情報が既に存在
    する場合には、その追加した情報を他の箇所に移動させ
    た後に、マスタ側のテスト条件情報の改定事項を自動反
    映させるものであることを特徴とする請求項7記載の生
    産管理システム。
  9. 【請求項9】 請求項1ないし請求項8のいずれかの生
    産管理方法または生産管理システムにより製造された半
    導体IC。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005196512A (ja) * 2004-01-08 2005-07-21 Hitachi Ltd 特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム
JP2007294773A (ja) * 2006-04-27 2007-11-08 Tokyo Electron Ltd 群管理システム、プロセス情報管理装置、制御装置、およびプログラム

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