JP2005183751A - 配線板の表面処理方法及び電気装置の製造方法 - Google Patents

配線板の表面処理方法及び電気装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005183751A
JP2005183751A JP2003424027A JP2003424027A JP2005183751A JP 2005183751 A JP2005183751 A JP 2005183751A JP 2003424027 A JP2003424027 A JP 2003424027A JP 2003424027 A JP2003424027 A JP 2003424027A JP 2005183751 A JP2005183751 A JP 2005183751A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
metal wiring
wiring layer
layer
plasma
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003424027A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaru Ugajin
勝 宇賀神
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dexerials Corp
Original Assignee
Sony Chemicals Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Chemicals Corp filed Critical Sony Chemicals Corp
Priority to JP2003424027A priority Critical patent/JP2005183751A/ja
Priority to TW093139272A priority patent/TWI295313B/zh
Priority to KR1020057012667A priority patent/KR100988541B1/ko
Priority to PCT/JP2004/018898 priority patent/WO2005062686A1/ja
Priority to CN2004800091039A priority patent/CN1768558B/zh
Publication of JP2005183751A publication Critical patent/JP2005183751A/ja
Priority to HK06111516.6A priority patent/HK1091086A1/xx
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/26Cleaning or polishing of the conductive pattern
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/07Electric details
    • H05K2201/0753Insulation
    • H05K2201/0761Insulation resistance, e.g. of the surface of the PCB between the conductors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/09Treatments involving charged particles
    • H05K2203/095Plasma, e.g. for treating a substrate to improve adhesion with a conductor or for cleaning holes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

【課題】金属配線層を劣化させずに表面処理を行う。
【解決手段】本発明の表面処理方法は、パターニングされた金属配線層15を保護層18で覆った状態で配線板10をプラズマ28に晒すので、積層膜13間に露出する基材11の表面はプラズマ処理されるが、金属配線層15がプラズマ28に晒されることがない。従って、金属配線層15が銅で構成されている場合、プラズマを発生させる空間に大気が浸入したとしても、金属配線層15の表面に硝酸銅が形成されることがなく、金属配線層15が劣化しないので、表面処理後の配線板10に電気部品を接続すれば、信頼性の高い電気装置が得られる。
【選択図】図1

Description

本発明は配線板に電気部品を搭載する技術に関し、特に配線板の表面処理の技術に関するものである。
従来より、フレキシブル配線板のような配線板に接着剤を介して半導体素子を搭載する前に、配線板と接着剤との親和性を高めるための表面処理が行われている。
従来の表面処理としては、配線板を真空槽内に配置し、該真空槽内に真空雰囲気を形成した状態でグロー放電によりプラズマを発生させ、該プラズマにより表面処理を行う方法が用いられている。しかしながら従来のグロー放電法では、処理装置の製造コストが高い上に、処理室内の真空排気が必要な分、作業時間が長くかかってしまう。
プラズマによる表面処理方法としては、大気に接続された処理室内でプラズマを発生させ、該プラズマに処理対象物を晒す方法があり、この方法によれば、プラズマ発生時に真空雰囲気を形成する必要がないため、処理装置の製造コストが安い上、作業時間も短くてすむ(例えば、特許文献1)。
しかしながら、処理室が大気に接続された状態でプラズマを発生させると、金属配線が腐食されることがある。特に、金属配線が銅で構成された場合には、大気中の窒素ガスと銅とが反応し、金属配線の表面に硝酸銅が形成される。特に、金属配線の幅狭の部分で構成される配線部に硝酸銅が形成されると、該配線部が断線することがある。
特開平10−154598号公報
本発明は上記従来技術の不都合を解決するために創作されたものであり、その目的は、金属配線を腐食させずに配線板の表面処理を行う技術を提供するものである。
上記課題を解決するために請求項1記載の発明は、基材と、所定の平面形状にパターニングされ、前記基材上に配置された金属配線層とを有し、前記金属配線層の少なくとも一部表面上に、前記金属配線層と略等しい平面形状にパターニングされた保護層が配置され、前記保護層と前記配線板とで積層膜が形成され、前記積層膜の間に前記基材表面が露出する配線板の、前記積層膜が形成された側の表面をプラズマに晒した後、前記保護層を前記金属配線層上から除去する配線板の表面処理方法である。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の配線板の表面処理方法であって、前記保護層を除去した後、前記保護層が除去された金属配線層の表面と、前記金属配線層の間に位置する前記基材表面に、接着剤を配置する表面処理方法である。
請求項3記載の発明は、請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の配線板の表面処理方法であって、前記金属配線層のパターニングは、前記基材上にパターニング前の金属配線層を配置した後、前記金属配線層上にパターニングされた保護層を位置させ、前記保護層間に露出する前記金属配線層をエッチング除去する表面処理方法である。
請求項4記載の発明は、基材と、所定のパターン成形され、前記基材上に配置された金属配線層とを有し、前記金属配線層が配置された側の面にカバーフィルムが配置され、前記カバーフィルムの一部が除去され、前記配線板の一部が露出し、他の部分が前記カバーフィルムで覆われた配線板の、前記カバーフィルムが配置された側の表面をプラズマに晒す配線板の表面処理方法である。
請求項5記載の発明は、請求項4記載の配線板の表面処理方法であって、前記配線板をプラズマに晒した後、前記カバーフィルムが除去された部分の前記金属配線層表面と、前記金属配線層間に露出する前記基材表面に接着剤を配置する表面処理方法である。
請求項6記載の発明は、請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の配線板の表面処理方法であって、前記基材を樹脂フィルムで構成する配線板の表面処理方法である。
請求項7記載の発明は、請求項1乃至請求項6のいずれか1項記載の配線板の表面処理方法であって、前記配線板を、内部に電極ノズルを有する処理室の第一、第二の開口間にわたって位置させ、前記電極ノズルから、処理ガスを前記配線板に向けて吹き付け、前記電極ノズルに電圧を印加し、前記配線板の表面近傍にプラズマを形成する配線板の表面処理方法である。
請求項8記載の発明は、請求項7記載の配線板の表面処理方法であって、前記処理ガスと共に、水分ガスを前記配線板に吹き付けながら前記プラズマを形成する配線板の表面処理方法である。
請求項9記載の発明は、請求項2又は請求項5のいずれか1項記載の表面処理方法により表面処理を行った後、前記配線板の接着剤が配置された面に電気部品を配置し、前記接着剤を介して前記電気部品と前記配線板とを接続する電気装置の製造方法である。
本発明は上記のように構成されており、金属配線層の表面に保護層が形成されている場合には、配線板の表面をプラズマに晒した場合に金属配線層が保護層で保護されているので、金属配線層がプラズマで劣化することがない。
また、本発明の表面処理方法によれば、プラズマ処理を行う際に全ての金属配線層上に保護層が形成されている必要がない。例えば、接着剤を塗布する必要がなく、プラズマ処理を行わない部分は、金属配線層を露出させておいてもよい。
一般に、基材の表面に油分等の汚染物質が付着していると、基材と接着剤との接着性が悪くなる。本発明の表面処理方法によれば、配線板の製造工程で基材表面に汚染物質が付着したとしても、積層膜間に露出する基材表面がプラズマに晒されることで、汚染物質が分解、除去されるので、プラズマ処理後の配線板は接着剤との接着性が高くなる。
本発明の表面処理方法によれば、樹脂フィルムの表面がプラズマ処理される際に、金属配線層が樹脂層によって保護されているので、金属配線層が腐食されることがない。また、金属配線層のうち、接続に用いられる幅広の部分だけをカバーフィルムから露出させておき、金属配線層の幅狭の部分をカバーフィルムで覆った状態でプラズマ処理を行えば、幅狭の部分がプラズマによって腐食されることがないので、幅狭の部分で構成される金属配線層の配線部が断線することがない。従って、本発明によれば、金属配線層が劣化することがなく、表面処理を行えるので、表面処理後の配線板に電気部品を接続すれば、接続信頼性の高い電気装置を得ることができる。
以下で図面を参照し、本発明の実施形態について説明する。図1(a)の符号11は長尺状の樹脂フィルムからなる基材を示しており、この基材11の表面には金属の薄膜からなる金属配線層14が形成されている。
先ず配線板を作製するためには、金属配線層14の表面に感光性樹脂を含有するレジスト用塗工液を塗布し、加熱して樹脂からなる保護層を形成した後、マスクを用いて露光し、現像して保護層を所定の平面形状にパターニングする。
基材11はマスクよりも長いので一回の露光で露光される領域は限られており、マスクによる露光と、現像を繰り返し行うと、保護層が全て露光現像され、金属配線層14上に所定領域ごとに同じパターンを有する保護層が形成される。
図1(b)の符号18は所定の平面形状にパターニングされた保護層を示しており、パターニングされた保護層18間には、金属配線層14の表面が露出している。
次いで、エッチング工程によって、保護層18を残しながら、保護層18間に露出する金属配線層14を、基材11の表面が露出するまでエッチング除去すると、金属配線層14が保護層18と同じ平面形状にパターニングされる。
図1(c)の符号15はパターニングされた金属配線層を示しており、パターニングされた金属配線層15と、基材11とで配線板10が構成される。金属配線層15上には保護層18が残留しており、パターニングされた金属配線層15と、該金属配線層15上に残留した保護層18とで積層膜13が構成されるとすると、該積層膜13の間には基材11の表面が露出している。
図3の符号1は配線板10に後述するプラズマ処理を行う処理装置を示しており、処理装置1は処理室31を有している。処理室31の側壁には第一、第二の開口32、33が形成されており、第一、第二の開口32、33によって処理室31の内部空間は、処理室31外部の大気雰囲気に接続されている。
処理室31内部には電極ノズル36と下部電極37とが配置されており、上述した配線板10をロール状に巻いて処理装置1に装着し、配線板10の外周端部を配線板10のロールから引き出して第一の開口32を挿通させ、積層膜13が形成された面を電極ノズル36に向けた状態で、電極ノズル36と下部電極37との間を通し、第二の開口33を挿通させて、処理室31外部で巻き取ると、配線板10が第一、第二の開口32、33間に渡って配置された状態になる。
処理室31外部には、処理ガスボンベ41と、添加ガスボンベ42と、バブラー45とが配置されており、処理ガスボンベ41の処理ガスの一部は電極ノズル36に直接送られ、他の部分はバブラー45を介して電極ノズル36に送られ、添加ガスボンベの添加ガスは電極ノズル36に直接送られており、電極ノズル36には処理ガスと、添加ガスと、バブラー45で処理ガスに添加された水分ガスとが供給された状態になっている。
電極ノズル36に供給された処理ガスと添加ガスと水分ガスとの混合ガスは、電極ノズル36に設けられた噴出口から配線板10に向かって噴出されており、配線板10と電極ノズル36との間から、大気が該混合ガスによって押し出される。
配線板10と電極ノズル36との間から押し出された大気は処理室31内部に残留する大気と一緒に混合ガスの流れに乗って処理室31外部へ押し出されるので、処理室31内部の大気濃度は低くなる。
また、噴出された混合ガスの流れによって配線板10と電極ノズル36間の空間に大気の浸入が防止されるので、配線板10と電極ノズル36の間の空間の大気濃度は非常に低くなる。
その状態で、ロールを巻き取り、配線板10を長手方向に走行させ、配線板10の処理すべき領域が電極ノズル36と下部電極37との間に位置したところで配線板10を静止させる。
第一、第二の開口32、33は配線板10が走行するときに閉じられておらず、処理室31内部が、外部の大気雰囲気と接続されているので、配線板10の走行に伴い、処理室31内に大気が巻き込まれるが、配線板10の走行の際も電極ノズル36から混合ガスが噴出されているので、処理室31内部に浸入した大気は処理室31外部に排出される。
配線板10を静止させた状態で、電極ノズル36から混合ガスを噴出させながら、電極ノズル36と下部電極37との間に電圧を印加すると、配線板10と電極ノズル36との間で混合ガスのプラズマが発生する。
図1(d)の符号28は混合ガスのプラズマを示しており、上述したように、積層膜13の間には基材11の表面が露出しているので、基材11の表面に付着した油分等の汚染物質がプラズマで分解されると共に、基材11を構成する樹脂がプラズマと反応し、基材11表面に官能基が形成される(プラズマ処理)。
プラズマ処理の際には、金属配線層15の表面は保護層18で覆われているため、金属配線層15の表面は保護層18によって保護される。従って、金属配線層15が銅で構成されている場合に、処理室31内部に大気が浸入したとしても、プラズマによって金属配線層15の表面に硝酸銅のような大気成分との反応物が形成され難く、金属配線層15が腐食され難い。
配線板10が所定時間プラズマ処理されたところで、電極ノズル36への電圧印加を停止し、プラズマ処理を終了させる。次いで、配線板10を走行させ、配線板10の未処理の領域が電極ノズル36と下部電極37との間に配置されたところで配線板10を静止させ、上述したプラズマ処理を行う。このように、プラズマ処理を繰り返し行うことで、長尺状の配線板10の必要な領域全てにプラズマ処理を行うことができる。
尚、下部電極37上には固体誘電体膜38が配置されており、固体誘電体膜38は下部電極37の電極ノズル36と対向する面を全て覆っているので、プラズマ処理の際に下部電極37と電極ノズル36との間にアーク放電が発生せず、アーク放電で配線板10が損傷することがない。
保護層18はプラズマ処理工程でプラズマに晒されることで、金属配線層15との接着力が弱くなっており、後述する除去方法によって容易に金属配線層15表面から除去される。図1(e)は保護層18が除去された状態を示しており、金属配線層15の表面と、該金属配線層15間に位置する基材11の表面が露出している。
保護層18の除去方法としては、アルカリエッチング液を用いたウェットエッチング法等従来広く用いられている種々の方法を用いることができるが、金属配線層15の間に位置する基材11表面のプラズマ処理されたプラズマ処理面への影響が少ない方法とることが好ましい。
具体的には、
保護層18と間の接着力が、保護層18と金属配線層15との間の接着力よりも大きい粘着テープを用意し、該粘着テープを保護層18の表面に貼付した後、剥離し、保護層18を粘着テープに転着させ、金属配線層15から剥離する方法。
アルカリ系エッチング液のように化学的活性の高いエッチング液の代わりに、水系エッチング液のように化学的活性の低いエッチング液を保護層18に接触させ、保護層18を除去する方法。
等がある。
図1(f)の符号19は接着剤がフィルム状に成形された接着フィルムを示しており、図1(g)に示すようにこの接着フィルム19を配線板10の金属配線層15が配置された側の面に載せる。
次に、この配線板10に電気部品を接続する工程について説明する。図2(a)の符号20は電気部品である半導体素子を示している。この半導体素子20は素子本体21と、素子本体21の一面に配置されたバンプ状の接続端子25とを有しており、半導体素子20の接続端子25が配置された面を配線板10上の接着フィルム19に向けて配置し、接続端子25が金属配線層15の所定位置と対向するように位置合わせを行った後、半導体素子20を接着フィルム19上に載せる。
その状態で、半導体素子20を押圧しながら加熱すると、接着フィルム19が加熱によって軟化し、軟化した接着フィルム19が押圧によって押しのけられ、接続端子25の先端が金属配線層15の表面に当接されると共に、軟化した接着フィルム19が金属配線層15の表面と、金属配線層15間に位置する基材11表面に密着する。
接着フィルム19を構成する接着剤はエポキシ樹脂のような熱硬化性樹脂を含有しており、接続端子25が金属配線層15に当接された状態で更に加熱を続けると、接着フィルム19が金属配線層15の表面と、金属配線層15間に位置する基材11の表面に密着した状態で硬化する。
金属配線層15の間に位置する基材11の表面は、上述したプラズマ処理によって汚染物質が除去されているだけではなく、表面に官能基が形成されている。例えば、基材11がポリイミド樹脂で構成されている場合には、基材11が混合ガスのプラズマに晒された際、基材11の表面でポリイミド樹脂が混合ガス中の水分ガスと反応し、水酸基(−OH)や、カルボキシル基(−COOH)や、カルボニル基(O=CH)等の官能基が形成される。
このような官能基は接着フィルム19を構成する接着剤と親和性が高いので、基材11は接着フィルム19との接着性が高く、結果として配線板10に半導体素子20が強固に貼り合わされる。
図2(b)の符号2は配線板10に半導体素子20が貼り合わされた状態の電気装置を示しており、この電気装置2は配線板10が剥離され難く、また上述したように配線板10の金属配線層15がプラズマ処理の際に腐食されないので、電気的信頼性も高い。
以上は、パターニング前の金属配線層15上に保護層18を配置し、金属配線層18のパターニングを行う場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えばパターニングされた金属配線層を基材11上に位置させた後、該金属配線層上に、金属配線層と略等しい形状にパターニングされた保護層18を配置してもよい。
また、保護層18は樹脂からなる場合に限定されるものではなく、プラズマ処理後に金属配線層上から除去されるものであれば、セラミックや金属等種々の材料で保護層18を構成することができる。
以上は、保護層18で金属配線層15を覆った状態でプラズマ処理を行う場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。図4の符号50は本発明の他の表面処理方法に用いられる配線板を示している。この配線板50は、樹脂フィルムからなる基材51と、基材51の表面に配置された金属配線層55とを有しており、基材51の金属配線層55が配置された側の面には樹脂からなるカバーフィルム52が貼付されている。
金属配線層55はパターニングされ、幅狭の部分56と、幅広の部分57とが形成されており、幅広の部分57には幅狭の部分56の一端が接続されている。カバーフィルム52は配線板50の金属配線層55が配置された側の面に貼付された後、各幅広の部分57の少なくとも一部が露出するように切り取られ、開口59が形成されており(ハーフカット)、開口59内には幅広の部分57の表面と、幅広の部分57の周囲に位置する基材51の表面が露出しているが、金属配線層55の幅狭の部分56はカバーフィルム52で覆われた状態になっている。
この配線板50を表面処理するには、該配線板50を上述した処理装置1の第一、第二の開口32、33間に渡って配置させ、処理室31内部を大気雰囲気に接続した状態で、電極ノズル36から処理ガスと水分ガスと添加ガスとの混合ガスを配線板50に向かって噴出しながら、混合ガスのプラズマを発生させると、開口59底面に露出する基材51の表面から汚染物質が除去されると共に、基材51を構成する樹脂がプラズマと反応し、基材51表面に官能基が形成される。
このとき、金属配線層55の幅狭の部分56はカバーフィルム52に覆われている。従って、金属配線層55が銅で構成されている場合に、処理室31内部に大気が浸入したとしても、幅狭の部分56の表面に、硝酸銅のような大気成分との反応物が形成されることがなく、幅狭の部分56が断線することがない。
プラズマ処理後、配線板10の開口59が形成された部分に接着剤を配置すれば、上述したように、半導体素子20のような電気部品を配線板50に接続することができる。この場合も、開口59が位置する部分の基材51はプラズマ処理によって汚染物質が除去されているだけではなく、基材51の表面に官能基が形成されているので、接着剤と基材51との接着性が高く、半導体素子20が配線板20に強固に固定される。また、上述したように幅狭の部分56がプラズマ処理で断線することがないので、接続信頼性の高い電気装置が得られる。
以上は、配線板50にカバーフィルム52を貼付した後、カバーフィルム52の一部を除去し、開口59を形成する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、予めカバーフィルムに開口を形成しておき、該カバーフィルムを、該開口底面に幅広の部分が露出するように、配線板の金属配線層が配置された側の面に貼付してもよい。
以上は、固体誘電体膜38は下部電極37側にだけ設ける場合について説明したが、例えば固体誘電体膜は、電極ノズル36側、又は下部電極37側と電極ノズル36側の両方に設けてもよい。処理ガスとしては、アルゴンガスやヘリウムガスやキセノンガスのような種々の希ガスを用いることができる。
例えば、添加ガスとして酸素ガスを用いると、プラズマを形成するときの放電安定性が向上する。添加ガスは酸素ガスに限定されるものではなく、電極ノズルに電圧を印加したときに、重合はしないが基材11の表面で化学反応を起こすガスであれば、水素ガス、窒素ガスなど種々の反応性ガスを用いることができる。
また、添加ガスを用いず処理ガスと水分ガスの混合ガスを電極ノズル36から配線板に噴出しながらプラズマ処理を行うことも可能である。
以上は、接着剤がフィルム状に成形された接着フィルム19を用いて電気装置2を製造する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、ペースト状の接着剤を、配線板10と半導体素子20のいずれか一方又は両方に塗布し、該接着剤を介して配線板10と半導体素子20とを貼り合わせ、電気装置2を製造することもできる。
基材11を構成する樹脂はポリイミド樹脂に限定されるものではなく、ポリエステル樹脂等種々の樹脂で基材11を構成することができる。基材11は樹脂フィルムに限定されるものではなく、ガラス基板等種々の材質のものを用いることができる。基材11が可撓性を有する樹脂フィルムで構成され、かつ、金属配線層の膜厚が基材11の可撓性を損なわない程度に薄い場合には、配線板10全体が可撓性を有し、いわゆるフレキシブル配線板となる。
配線板10に貼り合わせる電気部品は半導体素子20に限定されず、例えば他のフレキシブル配線板や、リジッド基板等種々の電気部品を貼り合わせて電気装置2を構成することができる。
本発明の電気装置の製造方法に用いる接着剤は特に限定されるものではないが、電気装置2の接続信頼性を考慮すると、接着剤中に導電性粒子が分散された異方導電性接着剤を用いることが好ましい。
接着剤に用いられる熱硬化性樹脂はエポキシ樹脂に限定されず、メラミン樹脂、フェノール樹脂等種々のものを用いることができる。また、接着剤に熱可塑性樹脂等の熱硬化性樹脂以外の樹脂や、老化防止剤、着色剤等の添加剤を添加することもできる。また、接着剤としては熱硬化性樹脂を含有するもの以外にも、アクリル樹脂のような光重合性樹脂を含有するものを用いることができる。
以上は、金属配線層15が銅で構成された場合について説明したが、本発明はこれに限定されず、金属配線層15をアルミニウムや、合金等種々の導電性材料で構成することができる。
金属配線層は、例えば基材11の表面に蒸着法等の成膜方法により形成された金属薄膜で構成される。また、金属箔で金属配線層を構成し、該金属箔の表面に樹脂組成物を塗布、焼成し、樹脂フィルムからなる基材11を構成することもできる。
以上は配線板10の走行の際も電極ノズル36から混合ガスを噴出する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、混合ガスの消費量を節約し、製造コストを下げるために、配線板10の走行の際には混合ガスの噴出を停止し、配線板10の走行が停止したところで混合ガスの噴出を再開してもよい。
また、本発明に用いる処理室31に排気系を接続し、該排気系によって処理室31内部を排気しながら混合ガスを噴出し、混合ガスが処理室31内部から排出される排出量を調整してもよい。
(a)〜(g):本発明により配線板を表面処理する工程を説明する断面図 (a)、(b):電気装置を製造する工程を説明する断面図 本発明の表面処理方法に用いられる処理装置の一例を説明する断面図 本発明の他の例の表面処理方法に用いられる配線板を説明する平面図
符号の説明
1……処理装置 2……電気装置 10……配線板 11……樹脂フィルム 28……プラズマ 15……金属配線層 20……電気部品(半導体素子) 21……素子本体 25……接続端子 31……処理室 32……第一の開口 33……第二の開口 36……電極ノズル

Claims (9)

  1. 基材と、所定の平面形状にパターニングされ、前記基材上に配置された金属配線層とを有し、前記金属配線層の少なくとも一部表面上に、前記金属配線層と略等しい平面形状にパターニングされた保護層が配置され、前記保護層と前記配線板とで積層膜が形成され、前記積層膜の間に前記基材表面が露出する配線板の、前記積層膜が形成された側の表面をプラズマに晒した後、
    前記保護層を前記金属配線層上から除去する配線板の表面処理方法。
  2. 前記保護層を除去した後、前記保護層が除去された金属配線層の表面と、前記金属配線層の間に位置する前記基材表面に、接着剤を配置する請求項1記載の配線板の表面処理方法。
  3. 前記金属配線層のパターニングは、前記基材上にパターニング前の金属配線層を配置した後、前記金属配線層上にパターニングされた保護層を位置させ、前記保護層間に露出する前記金属配線層をエッチング除去する請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の配線板の表面処理方法。
  4. 基材と、所定のパターン成形され、前記基材上に配置された金属配線層とを有し、前記金属配線層が配置された側の面にカバーフィルムが配置され、前記カバーフィルムの一部が除去され、前記配線板の一部が露出し、他の部分が前記カバーフィルムで覆われた配線板の、
    前記カバーフィルムが配置された側の表面をプラズマに晒す配線板の表面処理方法。
  5. 前記配線板をプラズマに晒した後、前記カバーフィルムが除去された部分の前記金属配線層表面と、前記金属配線層間に露出する前記基材表面に接着剤を配置する請求項4記載の配線板の表面処理方法。
  6. 前記基材を樹脂フィルムで構成する請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の配線板の表面処理方法。
  7. 前記配線板を、内部に電極ノズルを有する処理室の第一、第二の開口間にわたって位置させ、
    前記電極ノズルから、処理ガスを前記配線板に向けて吹き付け、前記電極ノズルに電圧を印加し、前記配線板の表面近傍にプラズマを形成する請求項1乃至請求項6のいずれか1項記載の配線板の表面処理方法。
  8. 前記処理ガスと共に、水分ガスを前記配線板に吹き付けながら前記プラズマを形成する請求項7記載の配線板の表面処理方法。
  9. 請求項2又は請求項5のいずれか1項記載の表面処理方法により表面処理を行った後、前記配線板の接着剤が配置された面に電気部品を配置し、前記接着剤を介して前記電気部品と前記配線板とを接続する電気装置の製造方法。
JP2003424027A 2003-12-22 2003-12-22 配線板の表面処理方法及び電気装置の製造方法 Pending JP2005183751A (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003424027A JP2005183751A (ja) 2003-12-22 2003-12-22 配線板の表面処理方法及び電気装置の製造方法
TW093139272A TWI295313B (en) 2003-12-22 2004-12-17 Surface treatment method of wiring board and manufacturing method for electric device
KR1020057012667A KR100988541B1 (ko) 2003-12-22 2004-12-17 배선판의 표면처리방법 및 전기장치의 제조방법
PCT/JP2004/018898 WO2005062686A1 (ja) 2003-12-22 2004-12-17 配線板の表面処理方法及び電気装置の製造方法
CN2004800091039A CN1768558B (zh) 2003-12-22 2004-12-17 电路板的表面处理方法及电气装置的制造方法
HK06111516.6A HK1091086A1 (en) 2003-12-22 2006-10-19 Surface treating method for wiring board and method for manufacturing electrical device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003424027A JP2005183751A (ja) 2003-12-22 2003-12-22 配線板の表面処理方法及び電気装置の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005183751A true JP2005183751A (ja) 2005-07-07

Family

ID=34708773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003424027A Pending JP2005183751A (ja) 2003-12-22 2003-12-22 配線板の表面処理方法及び電気装置の製造方法

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JP2005183751A (ja)
KR (1) KR100988541B1 (ja)
CN (1) CN1768558B (ja)
HK (1) HK1091086A1 (ja)
TW (1) TWI295313B (ja)
WO (1) WO2005062686A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006216468A (ja) * 2005-02-04 2006-08-17 Toyohashi Univ Of Technology プラズマ表面処理方法、プラズマ生成装置及びプラズマ表面処理装置
WO2022056160A1 (en) * 2020-09-10 2022-03-17 Lam Research Corporation Temporary capping material for oxide prevention in low temperature direct metal-metal bonding
US11862473B2 (en) 2020-05-12 2024-01-02 Lam Research Corporation Controlled degradation of a stimuli-responsive polymer film

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113382551A (zh) * 2015-05-06 2021-09-10 哈钦森技术股份有限公司 用于硬盘驱动器的挠曲部的等离子体处理
CN111770634B (zh) * 2020-06-08 2022-04-29 上达电子(深圳)股份有限公司 一种fpc的制作方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2681851B2 (ja) * 1991-07-26 1997-11-26 東京応化工業株式会社 多層プリント配線板の製造方法
JPH11214838A (ja) * 1998-01-27 1999-08-06 Matsushita Electric Works Ltd 回路板の製造方法
CN1174461C (zh) * 2000-09-18 2004-11-03 友达光电股份有限公司 等离子体显示器
JP4089198B2 (ja) 2001-10-05 2008-05-28 凸版印刷株式会社 半導体装置用基板の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006216468A (ja) * 2005-02-04 2006-08-17 Toyohashi Univ Of Technology プラズマ表面処理方法、プラズマ生成装置及びプラズマ表面処理装置
US11862473B2 (en) 2020-05-12 2024-01-02 Lam Research Corporation Controlled degradation of a stimuli-responsive polymer film
WO2022056160A1 (en) * 2020-09-10 2022-03-17 Lam Research Corporation Temporary capping material for oxide prevention in low temperature direct metal-metal bonding

Also Published As

Publication number Publication date
TW200521204A (en) 2005-07-01
TWI295313B (en) 2008-04-01
CN1768558A (zh) 2006-05-03
HK1091086A1 (en) 2007-01-05
CN1768558B (zh) 2011-08-03
KR20060113843A (ko) 2006-11-03
KR100988541B1 (ko) 2010-10-20
WO2005062686A1 (ja) 2005-07-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107591321A (zh) 元件芯片的制造方法
CA1192480A (en) Adhesion bond-breaking of lift-off regions on semiconductor structures
US6555209B1 (en) Method of manufacturing multilayer wiring board
JP2006237011A (ja) フレキシブル回路構造体の製造方法及び材料品
EP0361752B1 (en) Selective solder formation on printed circuit boards
US4232059A (en) Process of defining film patterns on microelectronic substrates by air abrading
US20070120229A1 (en) Wet etched insulator and electronic circuit component
JP4409134B2 (ja) 実装システム
JP2005183751A (ja) 配線板の表面処理方法及び電気装置の製造方法
WO2007078798A1 (en) Corona etching
KR19990072084A (ko) 인쇄 회로 기판 제조용 솔더 마스크
JP2002028597A (ja) 電気物品の洗浄方法
JP2002185132A (ja) 多層プリント配線板用ドライフィルム、それを用いた多層プリント配線板の製造方法及び多層プリント配線板
JPWO2002035602A1 (ja) バンプ形成方法およびバンプ形成装置
US4172757A (en) Process for making electrode with integral dielectric layer
JP2896296B2 (ja) セラミックス配線基板の製造方法
JP3366679B2 (ja) 有機材料の加工方法
JP4071339B2 (ja) 電気回路及び電気回路の形成方法
JP2008022013A (ja) 導電性構造
JP4571436B2 (ja) 配線板の製造方法
US11715647B2 (en) Method for producing a substrate
JPH0417386A (ja) 基板のプラズマ処理方法
JP3408862B2 (ja) フォトマスクの製造方法
JPH0671895A (ja) インクジェット記録ヘッドの製造方法
JPH07297557A (ja) 厚膜薄膜混成基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061024

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090818

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20091222