JP2005172571A - 走査形プローブ顕微鏡 - Google Patents

走査形プローブ顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP2005172571A
JP2005172571A JP2003411805A JP2003411805A JP2005172571A JP 2005172571 A JP2005172571 A JP 2005172571A JP 2003411805 A JP2003411805 A JP 2003411805A JP 2003411805 A JP2003411805 A JP 2003411805A JP 2005172571 A JP2005172571 A JP 2005172571A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
cantilever
sample
output
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003411805A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4181491B2 (ja
Inventor
Katsuhiro Tanaka
勝広 田中
Yoshihiro Imashige
善宏 今重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2003411805A priority Critical patent/JP4181491B2/ja
Publication of JP2005172571A publication Critical patent/JP2005172571A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4181491B2 publication Critical patent/JP4181491B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

【課題】カンチレバが試料に接触しても出来るだけ短い時間で、再び試料像を観察できる状態に早く復帰させる原子間力顕微鏡を提供すること。
【解決手段】 カンチレバの振幅が所定の閾値を下回ったことを検出する振幅低下検出手段と、前記カンチレバを始動させる始動信号を発生する始動信号発生手段と、試料と探針との間の距離を大きくする離間信号を発生する離間信号発生手段と、前記振幅低下検出手段により前記信号変換手段の出力が所定の閾値を下回ったことが検出された際は、振幅低下検出手段からの出力信号により前記離間信号発生手段からの離間信号を移動手段に供給して試料と探針との間の距離を大きくすると共に、前記始動信号発生手段からの始動信号を前記加振手段に送るように切り換え制御する切換制御手段とを設けた。
【選択図】 図1

Description

本発明は、原子間力顕微鏡などの走査形プローブ顕微鏡に関する。
原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)では、走査型トンネル顕微鏡(STM)で必要な試料の導電性や磁気力顕微鏡(MFM)で必要な試料の磁性といった特定の試料特性を必要とせず、絶縁物や有機分子(例えばプラスチック等)の表面をnmスケールで観察できるため広い用途に用いられている。
この原子間力顕微鏡として、探針を取り付けたカンチレバの振動周波数を検出するFM検出方式を採用するものがある。このFM検出方式による原子間力顕微鏡においては、カンチレバを発振させる正帰還の自励発振ループが形成されており、試料とカンチレバ間に原子間力が働いていない状態では、カンチレバはその固有振動周波数foで振動を続ける。
そして、試料とカンチレバ間に原子間力が働く領域まで試料とカンチレバを近づけると、カンチレバの振動周波数はその固有振動周波数foから低い周波数にシフトする。FM検出方式を用いた原子間力顕微鏡においては、試料表面をカンチレバにより二次元的に走査すると共に、走査中常に前記シフト量が一定になるように試料とカンチレバ(探針)との間の距離が制御されており、この制御結果から試料表面の情報が得られている。
特開2002−162334号公報
上記のような従来の原子間力顕微鏡では、試料の凹凸が激しい場合、走査速度が速いと距離の制御が追いつかずカンチレバが試料表面に接触することがあり、そうすると、カンチレバの振動振幅が減衰し、極端な場合には振動が停止してしまうこともある。その結果、良好な試料像が得られなくなる。正常な試料像が正常に得られるには、カンチレバが再び自己発振し定常振動状態に復帰するまでしばらく待たねばならない。
本発明は、このような点に鑑みて成されたもので、その目的は、凹凸の激しい試料の像観察において、カンチレバが試料に接触して振動が停止し試料像が得られなくなった場合でも、短時間で再び試料像を観察できる状態に復帰させることの可能な走査形プローブ顕微鏡を提供することである。
この目的を達成するため、本発明は、一端が支持されたカンチレバと、そのカンチレバの他端に試料へ向けて固定された探針と、前記カンチレバの振動を検出し所定の波形信号に変換する信号変換手段と、その信号変換手段の出力に基づき前記カンチレバを振動させる加振手段と、前記信号変換手段の出力に基づき前記カンチレバの振動数を検出するFM検出回路と、前記カンチレバの振動数を所定の値に設定するための設定基準信号を発生する基準信号発生手段と、その設定基準信号と前記FM検出回路の出力信号との差を検出する制御アンプと、その制御アンプの出力に基づき試料と探針との間の相対的な距離を変化させる移動手段とを備え、カンチレバの振動を検出した前記信号変換手段の出力に基づいてカンチレバを振動させる加振手段を駆動することによりカンチレバをその固有振動数にて継続的に振動させる正帰還自励発振ループを形成すると共に、前記制御手段と移動手段によりカンチレバと試料との相互作用によるカンチレバの固有振動数のシフトが一定になるように制御される走査形プローブ顕微鏡において、前記信号変換手段の出力が所定の閾値を下回ったことを検出する振幅低下検出手段と、前記カンチレバを始動させる始動信号を発生する始動信号発生手段と、試料と探針との間の距離を大きくする離間信号を発生する離間信号発生手段と、前記振幅低下検出手段により前記信号変換手段の出力が所定の閾値を下回ったことが検出された際は、振幅低下検出手段からの出力信号により前記離間信号発生手段からの離間信号を前記移動手段に供給して試料と探針との間の距離を大きくすると共に、前記始動信号発生手段からの始動信号を前記加振手段に送るように切り換え制御する切換制御手段とを設けたことを特徴としている。
本発明によれば、凹凸の激しい試料の像観察において、カンチレバが試料に接触して試料像が得られなくなった場合でも、短時間で再び試料像を観察できる状態に復帰させることの可能な走査形プローブ顕微鏡が提供される。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は、本発明の走査形プローブ顕微鏡の一例を示したものであり、本発明が適用された原子間力顕微鏡を示したものである。
図1において、試料1は、試料を上下方向(Z方向)に変位させるZスキャナ(移動手段)2の上に載置され、Zスキャナ2は更に試料をZ方向に直交するXY平面で移動させるXYスキャナ3の上に載置されている。Zスキャナ2およびXYスキャナ3は、例えばピエゾ素子によりZ,X,Y方向に駆動される。Zスキャナ2はZ駆動回路22から駆動信号が供給され、また、XYスキャナ3にはXY走査駆動装置4から走査信号が供給される。
5は、試料1の上に距離を隔てて配置され一端が支持された弾性体からなるカンチレバであり、その先端には探針6が試料1へ向けて取り付けられていると共に、支持端付近に加振用のピエゾ素子(振動手段)7が取り付けられている。カンチレバ5の上面は反射面とされており、この面にレーザ光Lがレーザ光源8から照射される。カンチレバ5で反射された反射光L’は光検出器(変位検出手段)9に到達して検出される。光検出器9は例えば4分割フォトダイオードから成り、カンチレバ5の振動に基づく反射光L’の位置変化を検出する。
光検出器9よりのカンチレバ5の固有振動周波数foで変調された正弦波信号は検出増幅器10を介して、カンチレバ5の固有振動周波数fo付近の信号のみを通過させるバンドパスフィルタ(信号変換手段)11へ送られる。バンドパスフィルタ11の出力信号は、RMS/リレー制御回路12と位相調整回路14へそれぞれ入力される。
このRMS/リレー制御回路12を追加した事が本発明の特徴であり、このRMS/リレー制御回路12は、バンドパスフイルタ(信号変換手段)11の出力信号の絶対値を求めることにより振幅を求めてある所定の閾値と比較し、その結果に基づいてリレー制御信号をリレー回路16,17に送る。なお、図1に示すリレー回路16,17は、原子間力顕微鏡として正常に作動している時のリレー接点の状態で、a接点は短絡,b接点は開放である。
位相調整回路14の出力信号は、周波数変位を測定するFM検出回路(FM Demodulator)15へ送られると共に、リレー回路16のa接点を通じて自動利得制御(AGC)回路18へそれぞれ入力される。AGC回路18の出力は、アッテネータ19を介してピエゾ素子7へ送られる。
FM検出回路15は、DDS(Direct Digital Synthesizer)15aを用いたPLL(Phase Locked Loop)回路を備え、位相調整回路14から送られた固有振動周波数fo付近の信号についてFM復調出力Vsを得ることができ、併せて、DDSから周波数fo付近の強制駆動信号Vdを取り出すことが出来る。FM検出回路15の出力信号Vsは、リレー回路17のa接点、制御アンプ20、フイルタ21を通じてZピエゾ駆動回路22に送られる。23はフイルタ21の出力信号に基づいて凹凸像(Topo像)を記録する画像記録回路である。また、FM検出回路15からの強制駆動信号Vdは、前記リレー回路16のb接点を介して前記AGC回路18へ送られる。24は、探針が試料に接触した際に探針と試料を離すための離間信号Vtを発生する可変電源であり、離間信号Vtはリレー回路17のb接点を介して制御アンプ20へ送られる。25は、正常動作時の探針と試料との距離を指定する距離設定信号Voを発生する可変電源であり、Voは制御アンプ20に供給される。
このような構成の動作を以下に説明する。まず、振動によりカンチレバ5の先端が上下動すると、光検出器9に入射する反射光L’の位置が変化し、その位置変化に対応した検出信号(正弦波信号)が光検出器9から得られる。このようにして得られた光検出器9からの正弦波信号は、検出増幅器10を介して増幅され、バンドパスフイルタ11によりカンチレバ5の固有振動周波数fo付近の周波数のみが取り出され、位相調整回路14、リレー回路16のa接点,AGC回路18,およびアッテネータ19を通じて、カンチレバ5の駆動信号としてピエゾ素子(振動手段)7へ供給される。この信号の流れにより図1に示すように、正帰還の自励発振ループが形成される。その結果、カンチレバ5はその固有振動周波数fo付近の周波数で振動を続ける。なお、前記位相調整回路14においては、この発振系が最大の正帰還で動作するように信号の位相が調整され、また、アッテネータ19においてはカンチレバ5の振動振幅が所定の振幅になるようにピエゾ素子7へ供給される駆動信号の振幅が調整される。
このようにしてカンチレバ5が一定振幅で振動を続けている状態で、試料1と探針6間に原子間力が働く距離まで試料1を探針側に近付けると共に、XYスキャナ4により試料をXY方向に2次元走査すると、カンチレバ5の振動周波数は試料1との距離に応じて探針6に作用する原子間力の勾配の影響を受けて見かけ上低下する。すなわち、カンチレバ5の振動周波数は、図2に示すように、試料1と探針6との距離が小さくなり原子間力の作用が強くなるに従って固有振動周波数foより低い振動周波数へ移行し、距離が大きくなると固有振動周波数foに近づき、原子間力の作用が無視できる距離ではカンチレバ5の固有振動周波数foにほぼ一致する。
このカンチレバ振動周波数の情報を持つ位相調整回路14の出力信号が供給されるFM検出回路15からは、固有振動周波数foとの差の周波数△fに応じた直流電圧Vsが出力され、リレー回路17のa接点を介して制御アンプ20に入力される。制御アンプ20は、この直流電圧Vsと設定基準信号Voとの差信号(Vo−Vs)を求め、信号ノイズを除去するフイルタ21を介してZスキャナ駆動回路22へ供給する。
Zスキャナ駆動回路22は、この差信号に基づいて探針6と試料1の距離が制御されるようにZスキャナ(移動手段)2を制御する。この信号の流れにより、図1に示すように、帰還制御ループが形成される。この帰還制御により、探針6と試料1の距離(平均距離)は設定基準信号Voで決まる所定の値に維持され、その結果、探針6と試料1の間にある一定の原子間力が作用する状態が維持される。
例えば、試料1の表面に凸部があり、XYスキャナ4による2次元走査に伴って探針6と試料1との距離が小さくなってカンチレバ5の振動周波数が低い方向へ変化すると、FM検出回路15では、固有振動周波数foとの差の周波数△fが大きくなり、それに応じた出力直流電圧Vsが大きくなり、Voとの差信号(Vo−Vs)が負に増加し、直ちにZスキャナ(移動手段)2が試料1を下げて探針6との距離が大きくなるように帰還制御されるため、探針6と試料1との距離は、設定基準信号Voで決まる所定の原子間力の一定値に維持される。なお、Voを変えることにより、探針6と試料1の間に作用する一定の原子間力の値を任意に可変設定できる。換言すれば、探針6と試料1の距離を適宜設定することが出来る。
このような帰還制御ループの動作が継続的に行われつつ、XYスキャナ4により探針6が試料1に対して相対的に走査されると、Zスキャナ駆動回路22へ供給される帰還信号(差信号)は、試料表面の凹凸に対応したものとなる。そこで、フイルタ21の出力の帰還信号を像記録回路23にXYスキャナ4による2次元走査の同期信号Bと関連させて凹凸信号として取り込み記憶し、記憶した凹凸信号に基づいて画像表示を行えば、原子間力に基づく試料表面の凹凸像を表示することができる。
先に述べたように、このような原子間力顕微鏡では、探針6が試料1との距離を原子間力に基づく一定の距離に制御する帰還制御ループの応答速度に限界があり、試料の凹凸が非常に激しい場合や、走査速度が非常に速い場合、探針6が試料1に急速に接近した時、Zスキャナ2により試料との距離を離そうとする制御が追いつかず探針6が試料1に接触することが発生する。接触が激しい場合には、カンチレバ5の振動が停止することもある。振動が停止すると、当然ながら正帰還の自励発振ループおよび帰還制御ループが正常動作領域から外れてしまい、試料表面の正確な凹凸情報としての試料像が得られなくなる。
このような場合、既に述べたように、従来は、カンチレバが再び自己発振し定常振動状態に復帰し試料像が再び正常に得られるまでしばらく待たねばならない。
本発明では、図1に示すように、RMS/リレー制御回路12とリレー回路16,17を設け、探針6と試料1とが接触すると、直ちに探針6と試料1との距離を強制的に離すと共に、振動が停止したカンチレバ5を強制的に振動させることにより、正帰還の自励発振ループおよび帰還制御ループが所定の原子間力で動作する正常領域に出来るだけ短い時間で復帰させるようにしている。この動作を次に説明する。
まず、探針6が試料1に接触し、カンチレバ5の振動振幅が減衰して停止すると、これに伴い、光検出器9,検出増幅器10,バンドパスフイルタ(信号変換手段)11の振動信号は急激に減衰する。振動信号の振幅を閾値と比較しているRMS/リレー制御回路12からは、振幅がある所定の閾値未満になった時にリレー回路16,17のa接点を開放し、b接点を短絡するリレー制御信号Aをリレー回路16,17に送り、各リレー接点を切り換える。
リレー回路17のb接点が短絡側に切り替わることにより、制御アンプ20の入力は、FM検出回路15の出力(直流電圧Vs)から離間信号Vtへ瞬間的に切り替わる。離間信号Vtは距離設定信号Voより十分に大きな値に選定されていため、制御アンプ20の出力(Vo−Vt)は負に大きく増加する。その出力がフイルタ21を介してZスキャナ駆動回路22へ供給されるため、Zスキャナ(移動手段)2は、試料1を下げて探針6と試料1の接触を離す方向に移動させ、これにより探針6と試料1の接触状態は解消される。
一方、同時にリレー回路16のb接点が短絡側に切り替わることにより、AGC回路18には、位相調整回路14の出力信号ではなくFM検出回路15からの強制駆動信号Vdが供給されるようになる。この強制駆動信号Vdの周波数は、例えば固有振動周波数foに選定されている。この強制駆動信号VdがAGC回路18及びアッテネータ19を介してピエゾ素子7(振動手段)に供給されるため、ピエゾ素子7は試料1との接触状態が解消されたカンチレバ5を強制的に振動させる。なお、強制駆動信号Vdの振幅は、カンチレバ5の振動が速やかに再開されるよう、正常な振動状態でのピエゾ素子に供給される駆動信号の振幅より十分大きくなるような振幅に選定されている。
このようにしてカンチレバ5が強制的に振動され始めると、光検出器9から信号が発生し、その出力信号は検出増幅器10,バンドパスフイルタ11を通じて増幅されRMS/リレー制御回路12へ供給される。RMS/リレー制御回路12では、信号の振幅が上昇し、ある所定の閾値を超えたことを検出して、リレー制御信号Aをリレー回路16,17へ送り、各リレー回路のa接点を短絡し、b接点を開放するようにリレーを切り替える。その結果、強制駆動信号の供給はうち切られ、正帰還の自励発振ループおよび帰還制御ループは正常の回路状態に短い時間で復帰する。
すなわち、帰還制御ループでは、制御アンプ20のFM検出回路15からの出力電圧VsがVoと等しくなるまで、Zスキャナ(移動手段)2が試料1を移動し、試料1と探針6との距離が所定の原子間力が働く距離に収束する方向に制御が行われる。このようにして試料1と探針6との距離が原子間力が働く距離に収束するようになると、自励発振ループの働きで、カンチレバ5の振動周波数fcは強制的に駆動されていた固有振動周波数foから低い方向に移行し、やがて一定値に落ち着く。
このような制御が行われるので、探針5が試料1に接触した場合、従来では、正帰還の自励発振ループと帰還制御ループの回路の異常動作から所定の原子間力で正常動作に戻る間で長時間待つ必要があったのに対し、本発明では、正帰還の自励発振ループと帰還制御ループの帰還ループを解除して、探針5と試料1の接触を強制的に解除するように動作させると共に、カンチレバ5を強制的に駆動した後、正帰還の自励発振ループと帰還制御ループの帰還ループが正常な動作に戻ることにより、短い復帰時間で良好な試料像を得ることができる。
以上、本発明の実施例の形態を説明したが、本発明は上記の形態に限定されるものではない。上記実施例では強制駆動信号Vdの周波数を一定としたが、例えば固有振動周波数foから始めて周波数が低下するように時間と共に変化させるようにしても良い。また、強制駆動信号をAGC回路18から加えたが、例えば、正帰還自励発振ループ内のバンドパスフイルタ11の出力からピエゾ素子(振動手段)7の間であればどこに挿入してもよい。また、試料1と探針6との間の相対的な距離を離す復帰信号は制御アンプ20の入力を切り換えて加えたが、例えば、帰還制御ループ内のバンドパスフイルタ(信号変換手段)11の出力からZスキャナ2(移動手段)の入力間であればどこに加えるようにしてもよい。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、カンチレバの振幅を常に監視し、試料が探針に接触してカンチレバの振幅が閾値以下になると、強制的に試料と探針を引き離す機能と、カンチレバを強制的に振動させる機能を設けることにより、探針が試料に接触して試料像が得られなくなってから正常な状態へ短い時間で復帰させることができる。
本発明の原子間力顕微鏡の一例を示した構成図である。 試料と探針間の原子間力とカンチレバの振動周波数との関係を示す図である。
符号の説明
1…試料、2…Zスキャナ、3…XYスキャナ、4…XY走査駆動装置、5…カンチレバ、6…探針、7…ピエゾ素子、8…レーザ光源、9…光検出器、10…検出増幅器、11…バンドパスフイルタ、12…RMS/リレー制御回路、14…位相調整回路、15…FM検出回路、16,17…リレー回路、18…AGC回路、19…アッテネータ、20…制御アンプ、21…フイルタ、22…ピエゾ駆動回路、23…画像記録回路

Claims (3)

  1. 一端が支持されたカンチレバと、そのカンチレバの他端に試料へ向けて固定された探針と、前記カンチレバの振動を検出し所定の波形信号に変換する信号変換手段と、その信号変換手段の出力に基づき前記カンチレバを振動させる加振手段と、前記信号変換手段の出力に基づき前記カンチレバの振動数を検出するFM検出回路と、前記カンチレバの振動数を所定の値に設定するための設定基準信号を発生する基準信号発生手段と、その設定基準信号と前記FM検出回路の出力信号との差を検出する制御アンプと、その制御アンプの出力に基づき試料と探針との間の相対的な距離を変化させる移動手段とを備え、カンチレバの振動を検出した前記信号変換手段の出力に基づいてカンチレバを振動させる加振手段を駆動することによりカンチレバをその固有振動数にて継続的に振動させる正帰還自励発振ループを形成すると共に、前記制御手段と移動手段によりカンチレバと試料との相互作用によるカンチレバの固有振動数のシフトが一定になるように制御される走査形プローブ顕微鏡において、前記信号変換手段の出力が所定の閾値を下回ったことを検出する振幅低下検出手段と、前記カンチレバを始動させる始動信号を発生する始動信号発生手段と、試料と探針との間の距離を大きくする離間信号を発生する離間信号発生手段と、前記振幅低下検出手段により前記信号変換手段の出力が所定の閾値を下回ったことが検出された際は、振幅低下検出手段からの出力信号により前記離間信号発生手段からの離間信号を前記移動手段に供給して試料と探針との間の距離を大きくすると共に、前記始動信号発生手段からの始動信号を前記加振手段に送るように切り換え制御する切換制御手段とを設けたことを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。
  2. 前記始動信号発振手段は、始動信号の周波数が経時的に低下するように変化させることを特徴とする請求項1の走査形プローブ顕微鏡。
  3. 前記始動信号発振手段は、一定周波数の始動信号を発生させることを特徴とする請求項1の走査形プローブ顕微鏡。
JP2003411805A 2003-12-10 2003-12-10 走査形プローブ顕微鏡 Expired - Fee Related JP4181491B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003411805A JP4181491B2 (ja) 2003-12-10 2003-12-10 走査形プローブ顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003411805A JP4181491B2 (ja) 2003-12-10 2003-12-10 走査形プローブ顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005172571A true JP2005172571A (ja) 2005-06-30
JP4181491B2 JP4181491B2 (ja) 2008-11-12

Family

ID=34732442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003411805A Expired - Fee Related JP4181491B2 (ja) 2003-12-10 2003-12-10 走査形プローブ顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4181491B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108663010A (zh) * 2017-03-28 2018-10-16 日本株式会社日立高新技术科学 扫描型探针显微镜及其扫描方法
JP2019533813A (ja) * 2016-10-28 2019-11-21 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 走査プローブ顕微鏡及び走査プローブ顕微鏡の走査速度をステップイン走査モードで増大させる方法
WO2021145578A1 (ko) * 2020-01-14 2021-07-22 파크시스템스 주식회사 기울어진 팁을 이용하여 측정 대상의 표면의 특성을 얻는 방법, 이 방법이 수행되기 위한 원자 현미경 및 이 방법이 수행되기 위해 저장 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019533813A (ja) * 2016-10-28 2019-11-21 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 走査プローブ顕微鏡及び走査プローブ顕微鏡の走査速度をステップイン走査モードで増大させる方法
US11054439B2 (en) 2016-10-28 2021-07-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Scanning probe microscope and method for increasing a scan speed of a scanning probe microscope in the step-in scan mode
CN108663010A (zh) * 2017-03-28 2018-10-16 日本株式会社日立高新技术科学 扫描型探针显微镜及其扫描方法
CN113155080A (zh) * 2017-03-28 2021-07-23 日本株式会社日立高新技术科学 扫描型探针显微镜及其探针扫描方法
CN108663010B (zh) * 2017-03-28 2021-10-26 日本株式会社日立高新技术科学 扫描型探针显微镜及其扫描方法
WO2021145578A1 (ko) * 2020-01-14 2021-07-22 파크시스템스 주식회사 기울어진 팁을 이용하여 측정 대상의 표면의 특성을 얻는 방법, 이 방법이 수행되기 위한 원자 현미경 및 이 방법이 수행되기 위해 저장 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램
JP7448168B2 (ja) 2020-01-14 2024-03-12 パーク システムズ コーポレーション 傾いたチップを利用して測定対象の表面の特性を得る方法、この方法が遂行されるための原子顕微鏡及びこの方法が遂行されるために格納媒体に格納されたコンピュータプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP4181491B2 (ja) 2008-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3925991B2 (ja) 走査プローブ顕微鏡
JP2002107285A (ja) 磁気力顕微鏡
JP3229914B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
US20090070904A1 (en) Oscillating scanning probe microscope
JP4496350B2 (ja) 原子間力顕微鏡
JP4851375B2 (ja) 位相フィードバックafmの制御方法及び位相フィードバックafm
JPH11160333A (ja) 走査プローブ顕微鏡
JP4816414B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JP4474556B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JP2002310882A (ja) 走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法
JP4181491B2 (ja) 走査形プローブ顕微鏡
US8151368B2 (en) Dynamic mode AFM apparatus
JP4721973B2 (ja) 非接触原子間力顕微鏡及び非接触原子間力顕微鏡の動作プログラム
JP4027809B2 (ja) 試料の表面形状観察装置
JP4111867B2 (ja) 走査形プローブ顕微鏡
JP4146251B2 (ja) 試料表面観察装置
JP2003194699A (ja) 信号検出装置、及び信号検出装置を用いた非接触型原子間力顕微鏡
JP2000039390A (ja) 非接触型原子間力顕微鏡
JP3216093B2 (ja) 走査形プローブ顕微鏡
JPH05296761A (ja) 走査型力顕微鏡
JP2002162334A (ja) 走査形プローブ顕微鏡
JP2003185555A (ja) 周波数検出方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡
JP2009092499A (ja) 原子間力顕微鏡のアプローチ制御方法及び装置
JPH09304407A (ja) 原子間力顕微鏡
KR102204809B1 (ko) 주사 탐침 현미경 및 스텝인 주사 모드에서의 주사 탐침 현미경의 주사 속도를 증가시키기 위한 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060721

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080819

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080829

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130905

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130905

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees