JP2005150750A - 電気接点ボタンを有するインタポーザおよび方法 - Google Patents

電気接点ボタンを有するインタポーザおよび方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005150750A
JP2005150750A JP2004332214A JP2004332214A JP2005150750A JP 2005150750 A JP2005150750 A JP 2005150750A JP 2004332214 A JP2004332214 A JP 2004332214A JP 2004332214 A JP2004332214 A JP 2004332214A JP 2005150750 A JP2005150750 A JP 2005150750A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interposer
carrier
electrical contact
sacrificial
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004332214A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4074614B2 (ja
Inventor
Gareth G Hougham
ガレス・ジー・ホーハム
Keith E Fogel
キース・イー・フォーゲル
Joanna Rosner
ジョアンナ・ロスナー
Paul A Lauro
ポール・エイ・ローロ
Sherif Goma
シェリフ・ゴマ
Joseph Zinter Jr
ジョゼフ・ジンター・ジュニア
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JP2005150750A publication Critical patent/JP2005150750A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4074614B2 publication Critical patent/JP4074614B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1053Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
    • H05K7/1061Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting
    • H05K7/1069Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting with spring contact pieces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49827Via connections through the substrates, e.g. pins going through the substrate, coaxial cables
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/50Fixed connections
    • H01R12/51Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
    • H01R12/52Fixed connections for rigid printed circuits or like structures connecting to other rigid printed circuits or like structures
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4092Integral conductive tabs, i.e. conductive parts partly detached from the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/095Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
    • H01L2924/097Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
    • H01L2924/09701Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10227Other objects, e.g. metallic pieces
    • H05K2201/10378Interposers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/30Details of processes not otherwise provided for in H05K2203/01 - H05K2203/17
    • H05K2203/308Sacrificial means, e.g. for temporarily filling a space for making a via or a cavity or for making rigid-flexible PCBs
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/325Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by abutting or pinching, i.e. without alloying process; mechanical auxiliary parts therefor
    • H05K3/326Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by abutting or pinching, i.e. without alloying process; mechanical auxiliary parts therefor the printed circuit having integral resilient or deformable parts, e.g. tabs or parts of flexible circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/42Plated through-holes or plated via connections
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49147Assembling terminal to base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49147Assembling terminal to base
    • Y10T29/49151Assembling terminal to base by deforming or shaping
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49155Manufacturing circuit on or in base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49155Manufacturing circuit on or in base
    • Y10T29/49156Manufacturing circuit on or in base with selective destruction of conductive paths
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49204Contact or terminal manufacturing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49204Contact or terminal manufacturing
    • Y10T29/49208Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts
    • Y10T29/49222Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts forming array of contacts or terminals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Manufacture Of Switches (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

【課題】担体の中に配置された1つまたは複数の中空の電気接点ボタンを有するインタポーザを提供すること。
【解決手段】このインタポーザ102は、担体のバイアの中に犠牲柱を配置することによって形成される。電気接点ボタン120は、マスクを使用して所望のパターンに金属被覆する金属被覆プロセスによって犠牲柱の表面に形成される。犠牲柱は、担体124または電気接点ボタン120が変化しない程度の熱で熱分解する材料から作られる。
【選択図】図1

Description

本発明は、電気接点ボタン(electrical contact button)を有するインタポーザ、ならびに電気接点ボタンおよびインタポーザの製造方法に関する。
ランド・グリッド・アレイ(LGA)インタポーザ(interposer)は、チップ・モジュール、例えばマルチチップ・モジュール(MCM)とプリント配線板(PWB)との間の相互接続アレイを提供する。LGAインタポーザは、例えばボール・グリッド・アレイやカラム・グリッド・アレイの場合とは違い、はんだ付けを必要としない逆戻りできる方法での接続を可能にする。大面積では、熱膨張係数によって駆動されて発生する横方向の応力がボール・グリッド・アレイの強度を上回るため、大面積のボール・グリッド・アレイは信頼できない。カラム・グリッド・アレイはこの応力にもかかわらず一体性を維持するが、はんだ付けを要する方法であり、したがってチップ・モジュールのフィールド・リプレーサビリティ(fieldreplaceability)を許さない。フィールド・リプレーサビリティによって、LGAが一般に使用されるハイエンド・コンピュータのメンテナンスおよびアップグレードにかかる顧客費用はかなり節減されるので、フィールド・リプレーサビリティは重要である。
現在、少なくとも2つのタイプのLGAが商業的に利用可能である。これらはどちらも深刻な課題を抱えている。1つのタイプのLGAは、パーコレーションしきい濃度(percolation threshold concentration)を超える濃度で混合すると電気を伝導するシロキサン・エラストマーと銀粒子の複合材を導電媒体として利用する。この複合材は、1回の射出成形操作でLGA全体のボタンの形状に射出成形され、したがってLGAを経済的に製造するという観点からはよい方法である。他の利点は、1接点あたり30ないし80グラム程度の低い接触力で動作することができる点である。現在のLGAは一般に、1インタポーザあたり数千個の接点を有する。欠点は、エラストマーと銀粒子の複合材はそれ自体が不良なエラストマーである点である。言い換えると、この複合材は一般的な動作条件でかなりの塑性変形を受け、ついには破損する。
別のタイプのLGAインタポーザは、それぞれがランダム・スパゲッティ・コイルばね(randomspaghetti coil spring)でできたボタン接点のエリア・アレイ(area array)からなる。これらのばねは、金でコーティングされた1本のモリブデン線を高速で型に注入することによって一度に1つずつ形成される。このインタポーザは高い信頼性で機能する。しかし、ボタンを1つずつ製造する製造法のためボタンの製造に費用がかかるという欠点がある。さらに、MCMとPWBの間でボタンを非常に大きな接触力で押しつぶす必要がある。一般に、ボタン1つあたり100ないし120グラム程度の力が必要である。このような大きな力がインタポーザ上の多数のボタンの数だけ掛け合わさると、MCMおよびPWBの変形を引き起こす可能性があり、この力によってMCM上に取り付けられたチップにひびが入ることが知られている。さらに、このタイプのインタポーザは、より高い入出力(I/O)要件を有するより大型のMCMに合わせて高い信頼性でスケールアップすることができない。さらに、このインタポーザは有機パッケージングの導入と両立しない。有機パッケージは、高価なセラミックMCMにとって代わり、より良好な電気性能を提供しようとするものである。有機パッケージははるかに軟かくかつもろく、したがって100ないし200グラム/ボタンよりもずっと小さいLGA力にしか耐えられない。
本発明の目的は、電気接点ボタン(electrical contact button)を有するインタポーザ、ならびに電気接点ボタンおよびインタポーザの製造方法を提供することである。
本発明のインタポーザ実施形態は、電気絶縁担体の中に配置された導電材料の中空体を含む。
インタポーザによってモジュールをプリント配線板に接続する本発明の第2のインタポーザ実施形態では、インタポーザが、少なくとも1つの導電性バイアを有する担体であって、バイアの位置と、モジュールのコネクタおよびプリント配線板のコネクタの位置とが重なり合うように配置された担体を含む。このバイアの中には、モジュールのコネクタおよびプリント配線板のコネクタと電気接触する少なくとも1つの中空の電気接点ボタンが配置されている。
上記インタポーザ実施形態の一変形形態では、中空体が空隙を含まない。第2の変形形態では、中空体が1つまたは複数の空隙を含む。第3の変形形態では、中空体が、担体の両面に配置され互いに位置が重なった少なくとも2つの空隙を含む。
本発明の方法実施形態は、犠牲柱(sacrificial post)を形成し、犠牲柱の表面に導電材料のパターンを形成し、犠牲柱を除去し、これによって電気接点ボタンを得ることによって、電気接点ボタンを製造する。
導電材料は、銅、ニッケル、金、クロム、チタン、鉛、スズ、ビスマス、アンチモン、タングステン、モリブデンおよびこれらの合金からなるグループから選択されることが好ましい。
この方法の代替実施形態では、導電材料のパターンが、物理マスキングとフォトレジストとからなるグループから選択されたプロセスによって犠牲柱に形成される。物理マスキング・プロセスは、真空付着と無電解めっきとからなるグループから選択することができる。
フォトレジスト・プロセスは、金属アディティブ法と金属サブトラクティブ法とからなるグループから選択することができる。このフォトレジスト・プロセスでは、真空付着、スパッタリング、無電解めっき、積層箔または予め成形された金属薄板によって犠牲柱の表面に金属を配置することができる。
犠牲柱は熱によって分解し蒸発する材料から形成されることが好ましい。犠牲柱の材料は、ポリメタクリル酸メチル、ポリα−メチルスチレン、ポリエチレンオキシド、ポリフェニレンオキシドまたはポリスチレン、および燃え尽き、蒸発し、解重合し、または他の方法で元あった位置を空にすることが知られているその他の材料からなるグループから選択することができる。
犠牲柱は熱分解によって除去することが好ましい。
導電パターンは、ある実施形態では連続パターンであり、別の実施形態では不連続パターンである。例えば、不連続パターンは1つまたは複数の空隙を含む。
本発明の方法の第2の実施形態では、犠牲柱が担体の中に形成される。担体は電気絶縁材料から形成されたものであることが好ましい。電気絶縁材料は、ポリイミド、ポリエステル、セラミック、石英、ガラス、ポリマーでコーティングされた金属、ポリテトラフルオロエチレンおよび酸化物からなるグループから選択することができる。
本発明の方法の第3の実施形態では、担体が、その中に複数の犠牲柱が形成される複数の穿孔を含み、それぞれの犠牲柱の表面に導電材料のパターンが形成され、犠牲柱が除去されてこれによって複数の電気接点ボタンが形成される。
犠牲柱を形成する前の少なくとも1つの穿孔に導電材料のコーティングを形成して、接点の上面と下面の間の電気接続を完成させることが好ましい。
犠牲柱は、射出成形によって穿孔の中に形成することが好ましい。
担体は電気絶縁材料から形成さたものであることが好ましい。電気絶縁材料は、ポリイミド、ポリエステル、セラミック、石英、ガラス、ポリマーでコーティングされた金属、ポリテトラフルオロエチレンおよび酸化物からなるグループから選択することができる。
導電材料は、銅、ニッケル、金、クロム、チタン、鉛、スズ、ビスマス、アンチモン、タングステン、モリブデンおよびこれらの合金からなるグループから選択されることが好ましい。
第3の実施形態の変形形態では、導電材料のパターンが、物理マスキングとフォトレジストとからなるグループから選択されたプロセスによって犠牲柱に形成される。フォトレジスト・プロセスは、金属アディティブ法または金属サブトラクティブ法とすることができる。物理マスキング・プロセスまたはフォトレジスト・プロセスは、真空付着または無電解めっきを使用することができる。
犠牲柱は熱分解によって除去されることが好ましく、熱によって分解し蒸発する材料から形成されることが好ましい。犠牲柱の材料は、ポリメタクリル酸メチル、ポリα−メチルスチレン、ポリエチレンオキシド、ポリフェニレンオキシドまたはポリスチレン、および燃え尽き、蒸発し、解重合し、または他の方法で元あった位置を空にすることが知られているその他の材料からなるグループから選択することができる。
導電パターンは、ある実施形態では連続パターンであり、別の実施形態では不連続パターンである。すなわち、不連続パターンは1つまたは複数の空隙を含む。
本発明の他の追加の目的、利点および特徴は、以下の明細書を添付図面と一緒に参照することによって理解されよう。図面中、同じ参照符号は同じ構成要素を示す。
図1を参照する。アセンブリ100は、PWB104とMCMモジュール106の間に配置されたLGAインタポーザ102、ヒート・シンク108、ばね110および柱112を含む。ばね110によって供給され、ヒート・シンク108に取り付けられた柱112によって伝えられる力で、PWB104、MCMモジュール106およびヒート・シンク108は互いに一体に保持されている。柱112は金属製であることが好ましい。
MCMモジュール106は1つまたは複数の電気接点114を含み、PWB104は、接点114と位置を合わせて接点114から間隔をあけて配置された1つまたは複数の電気接点116を含む。詳細図118に分解図として示されているLGAインタポーザ102は、接点114および116と位置を合わせて配置された1つまたは複数の電気接点ボタン120を含む。
調節機構122によってばね110を調節すると、PWB104、LGAインタポーザ102およびMCMモジュール106は互いに押しつけられ、その結果、MCMモジュール106の接点114およびPWB104の接点116は、LGAインタポーザ102の対応する接点120と物理的かつ電気的に強制的に接触する。
LGAインタポーザ102は、その中に接点ボタン120が配置された1つまたは複数のスルー・ホールまたはバイアを有する担体124を含む。担体124は物理的下降止め(physical downstop)126の間に配置されており、物理的下降止め126はLGAフレーム128に取り付けられている。LGAフレーム128は、接点114、接点116および接点ボタン120を物理的かつ電気的に接触させる際にばね110が発揮することができる圧縮量の上限を提供する。
2つの接点114、2つの接点116および2つの接点ボタン120が示されているが、これよりも多くの接点および接点ボタン、またはこれよりも少ない数の接点および接点ボタンを提供することができることは当業者には明白であろう。MCMモジュール106およびPWBを例として示したが、アセンブリ100は、接続する必要がある接点を有する任意の2つのデバイス間に配置されたLGAインタポーザ102を含むことができることも当業者には明白であろう。
接点ボタン120は本発明の方法に従って製造されることが好ましく、接点ボタン120はさまざまな金属被覆パターン、例えば図26に示したさまざまな金属被覆パターンのうちのいずれかを有することができる。
本発明の方法によれば、LGAインタポーザ102の製造は、図5および7に示すような穴のあいた担体140から出発する。担体140は、Kaptonプラスチック・シートの所望の接点位置に穴(バイア)をあけることによって製造される。
担体140は、柔軟なシート状またはより堅いプレート状の電気絶縁材料であることが好ましい。この電気絶縁材料は例えば、ポリイミド、ポリエステル、セラミック、石英、ガラス、ポリマーでコーティングされた金属、ポリテトラフルオロエチレン、酸化物などである。使用できる他のタイプの担体は、その表面全体およびバイアの中に絶縁層を有する低膨張性金属または金属合金である。このタイプの担体の一例は、ピロメリト酸二無水物−フェニレンジアミン(PMDA−PDA)ポリイミドなどの低膨張性ポリマーの薄いコーティングを有する膨張係数の小さいモリブデンである。続くインタポーザの構築は本明細書の説明にしたがって進行する。
穴の両側に金属パッドを製作し、穴を通して電気的に連続するようにこれらのパッドを互いに接続しなければならない。そのための2つの主要な方法は、金属を配置したくない領域を物理マスクを使用して覆い隠す直接金属被覆法と、金属の範囲を画定するサブトラクティブ法である。サブトラクティブ法では、まず初めに(めっき、プラズマ溶射などを含む任意の手段によって)平面基板の両面およびバイアの中に金属を付着させた、続いてフォトレジストの塗布、露光、現像、およびエッチングによる不要な金属の除去を実施する。
図2を参照する。直接金属被覆法では、ステップ2Aおよび2Bで、物理マスク144の1つまたは複数の開口146が担体140の1つまたは複数の穴148の上にくるよう位置を合わせて物理マスク144を配置し、これらを互いに接触させる。開口146は適当な任意の形状、例えば円形、星形、十字形などの形状を有することができる。ステップ2Cでは、担体140の上面のなにもない領域および穴またはバイア148の側壁に金属コーティング154が形成される方法によって、担体140の上に金属を付着させる。ステップ2Dで物理マスク144を除去する。次いで担体140を裏返し、残りの面を同様の方法で金属被覆し(例えばステップ2A、2Bおよび2Cを繰り返す)、これによって担体140の上面から穴148の側面を経て担体140の反対側まで続く、ステップ2Eならびに図8および9に示すような連続した金属経路を作り出す。
図3を参照すると、担体140の表面の金属をパターニングするサブトラクティブ法が示されている。この方法は、ステップ3Aおよび3Bで、担体140の両面および穴148の中に金属コーティング162を付着させることから始まる。ステップ3Cで、金属コーティング162の上にフォトレジストのコーティング165を付着させる。ステップ3Dで、穴148よりも大径の円形パターンを有するマスク168を、担体140のそれぞれの表面に、円形パターンの中心と穴148の中心が整列し円形パターンが穴148を覆うように配置する。次いで担体140の片面を紫外光で露光する。次いでこの面からマスク168を除去する。担体140を裏返す。次いで第2の面を紫外光で露光し、次いで第2の面からマスク168を除去する。両面の露光領域から金属をエッチングで除去する。ステップ3Eで、両面のフォトレジスト・コーティング165を同時に現像し、これによってフォトレジスト・コーティング165を除去して、ステップ3Fに示すめっきスルー・ホール148Pを得る。
穴148の金属被覆には、図2および3に示した以外の現在知られている方法または将来の方法を使用することができることは当業者には明白であろう。
図4を参照する。この図のステップ4Aはステップ3Fに対応する。ステップ4Bで、穴148に犠牲柱180を挿入する。犠牲柱180は、最終的な接点の形状に形成されているが、最終的には、最終金属被覆のテンプレートとして使用された後に除去される。犠牲柱180が取り付けられた担体140が図10〜12に示されている。
犠牲柱180は、適当な方法、例えば2次元(2D)アレイ全体を一度に射出成形する方法によって担体140に形成することができる。別の方法では、犠牲柱180を事前に製作し、次いでこれを穴に挿入する。それにもかかわらず、犠牲柱180は通常、熱によって分解し蒸発する材料から作られる。
犠牲柱180は例えば、ポリメタクリル酸メチル、ポリα−メチルスチレン、ポリエチレンオキシド、ポリフェニレンオキシド、ポリスチレンなどのポリマーを用いて形成することができる。実際、ほとんどのポリマーは適当な温度条件で分解する。
担体140が、この例で使用したプラスチックではなく薄いセラミック材料から作られている場合、犠牲柱の分解に対してより高い温度条件を使用することができ、したがって非常に多様な材料を犠牲柱として使用することができる。犠牲柱の他の選択肢は溶液に溶ける材料の使用である。
次のステップは、犠牲ポリマー接点ボタンの金属被覆である。この金属被覆は多くの方法で実施することができる。図4には6つの異なる方法の概要が示されており、これらは方法1から方法6として示されている。以下ではこれらの方法について詳細に説明する。
犠牲柱180を金属被覆した後の次のステップは、犠牲ポリマー柱180が解重合、蒸発し、または他の方法で犠牲ポリマー柱180が分解、蒸発する温度までアセンブリを適当な条件で加熱するステップである。これによって、時に鳥かごにも似た中空の金属かご構造が残される。この例を図25に示す。
図4および13を参照する。犠牲柱180を金属被覆するための方法1は、ステップ13Aで、担体140上に配置された物理マスク190の上に金属コーティングまたは膜188を(スパッタリング、真空付着または他の適当な付着技法によって)付着させることから始まる。金属コーティング188は、担体140に取り付けられた犠牲柱180も覆う。ステップ13Bで、リフティングなどによって物理マスク190を除去し、これによって、犠牲柱180上に配置され、めっきスルー・ホール148Pと接触した金属コーティング188を残す。ステップ13Cで、犠牲柱180を分解させ、これによって鳥かご形接点196を残す。方法6は、無電解めっきシード化合物を吹き付け、次いで金属を電気めっきすることによって金属コーティングを付着させることを除けば、方法1と全く同じ方法である。
図25および26を参照する。鳥かご形接点196はさまざまな金属被覆パターンを有することができる。犠牲柱の分解前の金属被覆パターン(すなわち犠牲柱上に金属が依然として固定されている未完成の形態)が図25の25Aから25Hに示されており、分解後の金属被覆パターンが図26に示されている。これらのパターンは、さまざまな形状のマスクによって形成される。例えば、図14には、図25の25Gおよび図26の26Gに示した金属被覆パターンを得るための形状を有する物理マスク190の2つの接点位置の断面図が示されている。図15には、図25の25Aおよび図26の26Aに示した金属被覆パターンを得るための形状を有する物理マスク190の2つの接点位置の断面図が示されている。図14および15に示した物理マスクは、方法1と方法6の両方に使用することができる。あるいは、モリブデン・マスクのような純粋な2Dマスクなどのその他のタイプのマスクを使用することもできる。
図16を参照して方法1をさらに示す。犠牲柱が取り付けられた担体140と物理マスク190とを互いに接触させる。物理マスク190は、図25のパターン25Hおよび図26のパターン26Hに対応するマスク・パターンを有する。このパターンは光源からの光が通過する穴を含む。図17および18も、犠牲柱180の分解前の図25の25Hの金属被覆パターンを示している。図19は、犠牲柱180の分解後の図26の26Hの金属被覆パターンを示している。図20は、図26の金属パターン26Eに対応するマスク・パターンを有する物理マスク190を示している。
図4および21を参照する。取り付けられた犠牲柱180を用いて担体140を金属被覆するための方法2は、ステップ21Aおよび21Bで、担体140の両面を真空付着(例えばスパッタリングまたは蒸着)などによって完全に金属被覆することから始まる。次いでこの両面をフォトレジストで覆う。ステップ21Cでこのフォトレジストを、所望の金属被覆パターンを有するフォトマスクを通して紫外光で露光する。ステップ21Dで、露光したフォトレジスト領域を現像し、マスクされた領域をウェット・エッチングして金属を除去し、これによって所望の金属被覆パターンを残す。次いでステップ21Eで犠牲柱180を分解し、これによって所望の鳥かご形接点196を残す。
図22を参照する。方法3は、担体140の両面に無電解めっきによって金属を付着させることを除けば方法2と全く同じ方法である。
他の付着方法を使用すること、例えば卵ケースのような形状の積層箔(laminatingfoil)または予め成形された金属薄板を積層し、ビアと整合して配置することができることは当業者には明白であろう。この実施形態では、犠牲柱を使用してもまたは使用しなくてもよい。
図23を参照する。方法4は金属アディティブ法を使用する。方法4は、ステップ23Aで、担体140の両面をフォトレジストで覆うことから始まる。ステップ23Bで、このフォトレジストを、方法2および3で使用したフォトマスクのパターンのネガ・パターンを有するフォトマスクを通して紫外光露光する。ステップ23Cで、フォトレジストの露光領域を現像する。ステップ23Dで、担体140の両面に金属コーティングを真空付着させる。ステップ23Eで、フォトレジストを担体140から剥離し、犠牲柱180を分解し、これによって鳥かご形接点196を残す。
図24を参照する。方法5は、担体140の両面に無電解めっきによって金属コーティングを付着させることを除けば方法4と全く同じ方法である。
多くの異なる鳥かご形パターンが想像される。図示のパターンは例示のために示したに過ぎない。完全に金属で覆われたものから細いレース構造でしかないものまでさまざまなパターンが可能である。さらに、特殊な機能を果たすために同じインタポーザが、あるパターンを有する柱と別のパターンを有する柱とを同時に有することもできる。
特殊機能パターンの一型は、図26の26Hに示したパターンのように光信号が通過することができる窓を含む。したがって、インタポーザが接触しているチップまたはチップ・モジュールが電気信号と光信号の組合せを使用する場合には、同じタイプの鳥かご形接点によって両方の信号に対応することができる。
犠牲柱の金属被覆には方法1から6以外の方法を使用することもできる。例えば、複数の金属片からなる完全な2Dアレイを前もって製造しておき、これを金属被覆された平面基板に取り付けることもできる。
他の実施形態では、さまざまなタイプの犠牲柱形状を使用することができる。背が低く(柱−柱ピッチに関して)幅の広いタイプと背が高く幅の狭いタイプの2つが一般的であろう。より特殊な形状が望ましい場合もあるかもしれない。例えば、最終的な金属接点の垂直圧縮率が大きいことが望ましい場合には、アコーディオンのような蛇腹を有する3D形状を持った犠牲柱を製造することができる。この蛇腹に金属被覆を施し犠牲柱を焼失させると、蛇腹は、アコーディオンのような圧縮性を提供し、同時に金属疲労を最小化するであろう。
他の実施形態では、円筒軸に沿った圧縮率をあまり低下させることなく曲がりにくくするために、ボタンを、軸に平行なみぞ穴を有する円筒として製造することができる。
さまざまな金属を使用してボタンの最適性能を達成することができる。銅、ニッケル、金、クロム、チタン、鉛、スズ、ビスマス、アンチモンなどマイクロエレクトロニクス製造で使用される一般的な金属、金属疲労に対する耐性を高めるために使用することができるニッケル/鉄合金、ベリリウム銅、ニッケル/チタン合金などそれほど一般的ではない材料、または低熱膨張を小さくするために使用することができるタングステン、モリブデンなど金属が適用可能である。
本発明の好ましい形態を具体的に参照して本発明を説明してきたが、添付の請求項に定義された本発明の趣旨および範囲から逸脱することなく本発明にさまざまな変更および修正を加えることができることは明白である。
本発明のLGAインタポーザをその中で使用することができるアセンブリを示す図である。 インタポーザ担体のスルー・ホールを金属被覆する本発明の方法の物理マスク・プロセスのプロセス・フローを示す図である。 インタポーザ担体のスルー・ホールを金属で被覆する本発明の方法の代替フォトレジスト・プロセスのプロセス・フローを示す図である。 予め金属被覆したLGA担体の中に犠牲柱を成形するプロセスのプロセス・フロー、およびLGAインタポーザ・アレイの製造を完成させる本発明の方法の6つの代替法を示す図である。 スルー・ホールを金属被覆する前の、図4の6つの方法全てに共通する空の担体の透視図である。 図5の線6−6に沿ってとった断面図である。 スルー・ホールを金属被覆する前の、図4の6つの方法に共通する空の担体の透視図である。 金属被覆されたスルー・ホールを有する、図4の6つの方法に共通する担体の透視図である。 図8の線9−9に沿ってとった断面図である。 金属被覆されたスルー・ホールの中に犠牲柱のテンプレートを有する、図4の6つの方法に共通する担体の透視図である。 図10の線11−11に沿ってとった断面図である。 犠牲柱のテンプレートを有する、6つの方法全てに共通する担体の透視図である。 図4の方法1のプロセス・フローを示す図である。 完全に金属被覆されたシェル形ボタンを得るための物理マスクの断面図である。 部分的に金属被覆されたシェル形ボタンを得るための物理マスクの断面図である。 図4の方法1および6のプロセス・フローを示す図である。 犠牲柱を除去する前のインタポーザ担体の透視図である。 図17の線18−18に沿ってとった断面図である。 図18の断面図から犠牲柱を除去した断面図である。 物理マスクの中に収容された金属被覆されていない犠牲柱を有する担体の透視図である。 図4の方法2のプロセス・フローを示す図である。 図4の方法3のプロセス・フローを示す図である。 図4の方法4のプロセス・フローを示す図である。 図4の方法5のプロセス・フローを示す図である。 犠牲柱除去ステップの前の金属被覆された犠牲柱のパターン例を示す図である。 犠牲柱除去ステップ後の図25のパターン例を示す図である。 本発明の例示的な金属被覆ボタン・パターンを有するLGAインタポーザの透視図である。
符号の説明
100 アセンブリ
102 LGAインタポーザ
104 PWB
106 MCMモジュール
108 ヒート・シンク
110 ばね
112 柱
114 電気接点
116 電気接点
120 電気接点ボタン
122 調節機構
124 担体
126 物理的下降止め
128 LGAフレーム
140 担体
144 物理マスク
146 物理マスクの開口
148 担体の穴
148P めっきスルー・ホール
154 金属コーティング
162 金属コーティング
165 フォトレジスト・コーティング
168 マスク
180 犠牲柱
188 金属コーティングまたは膜
190 物理マスク
196 鳥かご形接点

Claims (22)

  1. 電気絶縁担体の中に配置された導電材料の中空体を含むインタポーザ。
  2. 前記中空体が少なくとも1つの空隙を含む、請求項1に記載のインタポーザ。
  3. 前記中空体が複数の空隙を含む、請求項1に記載のインタポーザ。
  4. 前記中空体が、前記担体の両面に配置され互いに位置が重なった少なくとも2つの空隙を含む、請求項1に記載のインタポーザ。
  5. 前記担体が、複数の前記中空体がその中に配置された複数のバイアを含む、請求項1に記載のインタポーザ。
  6. プリント配線板にモジュールを接続するためのインタポーザであって、
    少なくとも1つの導電性バイアを有し、前記バイアの位置と、前記モジュールのコネクタおよび前記プリント配線板のコネクタの位置とが重なり合うように配置された担体と、
    前記バイアの中に配置され、前記モジュールのコネクタおよび前記プリント配線板のコネクタと電気接触する少なくとも1つの中空の電気接点ボタンと
    を備えたインタポーザ。
  7. 前記電気接点ボタンが少なくとも1つの空隙を含む、請求項6に記載のインタポーザ。
  8. 前記電気接点ボタンが複数の空隙を含む、請求項6に記載のインタポーザ。
  9. 前記電気接点ボタンが、前記担体の両面に配置され互いに位置が重なった少なくとも2つの空隙を含む、請求項6に記載のインタポーザ。
  10. 前記担体が、複数の前記電気接点ボタンがその中に配置された複数の前記バイアを含む、請求項6に記載のインタポーザ。
  11. 電気接点ボタンを製造する方法であって、
    犠牲柱を形成するステップと、
    前記犠牲柱の表面に導電材料のパターンを形成するステップと、
    前記犠牲柱を除去し、これによって前記電気接点ボタンを得るステップと
    を含む方法。
  12. 前記導電材料が、銅、ニッケル、金、クロム、チタン、鉛、スズ、ビスマス、アンチモン、タングステン、モリブデンおよびこれらの合金からなるグループから選択された、請求項11に記載の方法。
  13. 前記導電材料の前記パターンが、物理マスキングとフォトレジストとからなるグループから選択されたプロセスによって前記犠牲柱に形成される、請求項11に記載の方法。
  14. 前記物理マスキング・プロセスが、真空付着と無電解めっきとからなるグループから選択された、請求項13に記載の方法。
  15. 前記フォトレジスト・プロセスが、金属アディティブ法と金属サブトラクティブ法とからなるグループから選択された、請求項13に記載の方法。
  16. 前記フォトレジスト・プロセスが、真空付着、スパッタリング、無電解めっき、積層箔および予め成形された金属薄板からなるグループから選択された、請求項13に記載の方法。
  17. 前記犠牲柱が、熱によって分解し蒸発する材料から形成される、請求項11に記載の方法。
  18. 前記犠牲柱の前記材料がポリマーである、請求項17に記載の方法。
  19. 前記犠牲柱の前記材料が、ポリメタクリル酸メチル、ポリα−メチルスチレン、ポリエチレンオキシド、ポリフェニレンオキシドおよびポリスチレンからなるグループから選択された、請求項17に記載の方法。
  20. 前記犠牲柱が熱分解によって除去される、請求項11に記載の方法。
  21. ランド・グリッド・アレイに複数の電気接点を製造する方法であって、
    担体に、予め成形された接点ボタンの金属パターンを、前記担体の複数のバイアの位置と前記接点ボタンの位置とを合わせて積層するステップと、
    前記接点ボタンと接点ボタンの間の前記担体から、積層した金属を除去するステップと
    を含む方法。
  22. 前記パターンの金属が、箔と金属薄板とからなるグループから選択された、請求項21に記載の方法。
JP2004332214A 2003-11-17 2004-11-16 インターポーザ及びこれの製造方法 Expired - Fee Related JP4074614B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/715,288 US7137827B2 (en) 2003-11-17 2003-11-17 Interposer with electrical contact button and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005150750A true JP2005150750A (ja) 2005-06-09
JP4074614B2 JP4074614B2 (ja) 2008-04-09

Family

ID=34574189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004332214A Expired - Fee Related JP4074614B2 (ja) 2003-11-17 2004-11-16 インターポーザ及びこれの製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (4) US7137827B2 (ja)
JP (1) JP4074614B2 (ja)
KR (1) KR100724841B1 (ja)
CN (2) CN1620236A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019035392A1 (ja) * 2017-08-14 2019-02-21 ソニー株式会社 電子部品モジュール、その製造方法、内視鏡装置、および移動体カメラ
US10531572B2 (en) 2018-02-26 2020-01-07 Fujitsu Limited Substrate

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004039135A1 (en) * 2002-10-24 2004-05-06 International Business Machines Corporation Land grid array fabrication using elastomer core and conducting metal shell or mesh
KR100968183B1 (ko) * 2004-12-16 2010-07-05 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션 금속화 엘라스토머 프로브 구조
US7771208B2 (en) 2004-12-16 2010-08-10 International Business Machines Corporation Metalized elastomeric electrical contacts
TWI261350B (en) * 2005-09-02 2006-09-01 Wintek Corp Electronic member with conductive connection structure
US7331796B2 (en) * 2005-09-08 2008-02-19 International Business Machines Corporation Land grid array (LGA) interposer utilizing metal-on-elastomer hemi-torus and other multiple points of contact geometries
TWI271837B (en) * 2005-11-25 2007-01-21 Ind Tech Res Inst Clamping device for a flexible and method for fabricating the same
US7549870B2 (en) * 2007-01-03 2009-06-23 Tyco Electronics Corporation Electrical interconnect device utilizing contact caps
JP4355965B2 (ja) * 2007-04-02 2009-11-04 セイコーエプソン株式会社 配線基板の製造方法
US8832936B2 (en) * 2007-04-30 2014-09-16 International Business Machines Corporation Method of forming metallized elastomeric electrical contacts
US7932179B2 (en) * 2007-07-27 2011-04-26 Micron Technology, Inc. Method for fabricating semiconductor device having backside redistribution layers
KR101058432B1 (ko) 2009-05-22 2011-08-24 주식회사 이엠따블유 양면 도금이 용이한 사출 성형물 및 이를 포함한 내장형 안테나
US8959764B2 (en) * 2009-11-06 2015-02-24 International Business Machines Corporation Metallurgical clamshell methods for micro land grid array fabrication
US8263879B2 (en) 2009-11-06 2012-09-11 International Business Machines Corporation Axiocentric scrubbing land grid array contacts and methods for fabrication
US8109769B1 (en) * 2010-12-17 2012-02-07 Rogue Valley Microdevices Micromachined flex interposers
DE102012105110A1 (de) * 2012-06-13 2013-12-19 Osram Opto Semiconductors Gmbh Montageträger und Verfahren zur Montage eines Montageträgers auf einem Anschlussträger
WO2017024235A1 (en) * 2015-08-06 2017-02-09 L'Air Liquide Société Anonyme Pour L'Étude Et L'Exploitation Des Procedes Georges Claude Method for the production of liquefied natural gas
IT201700073501A1 (it) * 2017-06-30 2018-12-30 St Microelectronics Srl Prodotto a semiconduttore e corrispondente procedimento
CN111118461A (zh) * 2019-11-29 2020-05-08 江苏长电科技股份有限公司 一种lga封装电子产品的磁控溅射方法

Family Cites Families (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3783433A (en) * 1971-01-18 1974-01-01 Litton Systems Inc Solderless electrical connection system
US4070077A (en) * 1976-06-01 1978-01-24 E. I. Du Pont De Nemours And Company Circuit board eyelet
US4029375A (en) * 1976-06-14 1977-06-14 Electronic Engineering Company Of California Miniature electrical connector
CA1078038A (en) * 1976-11-22 1980-05-20 Richard C. Holt Electrical interconnection boards with lead sockets mounted therein and method for making same
US4181385A (en) * 1978-03-30 1980-01-01 Motorola, Inc. Low profile socket for circuit board with gas vents for fixed position soldering
JPS55156395A (en) * 1979-05-24 1980-12-05 Fujitsu Ltd Method of fabricating hollow multilayer printed board
US4528500A (en) * 1980-11-25 1985-07-09 Lightbody James D Apparatus and method for testing circuit boards
US4443756A (en) * 1980-11-25 1984-04-17 Lightbody James D Apparatus and method for testing circuit boards
US4381134A (en) * 1981-03-13 1983-04-26 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Electrical connector for plated-through holes
US4505529A (en) * 1983-11-01 1985-03-19 Amp Incorporated Electrical connector for use between circuit boards
US4724383A (en) * 1985-05-03 1988-02-09 Testsystems, Inc. PC board test fixture
US4657336A (en) * 1985-12-18 1987-04-14 Gte Products Corporation Socket receptacle including overstress protection means for mounting electrical devices on printed circuit boards
US4902606A (en) * 1985-12-20 1990-02-20 Hughes Aircraft Company Compressive pedestal for microminiature connections
US4904935A (en) * 1988-11-14 1990-02-27 Eaton Corporation Electrical circuit board text fixture having movable platens
US4961709A (en) * 1989-02-13 1990-10-09 Burndy Corporation Vertical action contact spring
US5366380A (en) * 1989-06-13 1994-11-22 General Datacomm, Inc. Spring biased tapered contact elements for electrical connectors and integrated circuit packages
US5038467A (en) * 1989-11-09 1991-08-13 Advanced Interconnections Corporation Apparatus and method for installation of multi-pin components on circuit boards
US5174763A (en) * 1990-06-11 1992-12-29 Itt Corporation Contact assembly
JPH06325810A (ja) * 1993-03-08 1994-11-25 Whitaker Corp:The コンタクトモジュール及びそれを使用するピングリッドアレイ
EP0616394A1 (en) * 1993-03-16 1994-09-21 Hewlett-Packard Company Method and system for producing electrically interconnected circuits
US5834339A (en) 1996-03-07 1998-11-10 Tessera, Inc. Methods for providing void-free layers for semiconductor assemblies
US5802699A (en) * 1994-06-07 1998-09-08 Tessera, Inc. Methods of assembling microelectronic assembly with socket for engaging bump leads
US5562462A (en) * 1994-07-19 1996-10-08 Matsuba; Stanley Reduced crosstalk and shielded adapter for mounting an integrated chip package on a circuit board like member
US5590460A (en) * 1994-07-19 1997-01-07 Tessera, Inc. Method of making multilayer circuit
US5971253A (en) * 1995-07-31 1999-10-26 Tessera, Inc. Microelectronic component mounting with deformable shell terminals
US6046597A (en) * 1995-10-04 2000-04-04 Oz Technologies, Inc. Test socket for an IC device
US6007349A (en) * 1996-01-04 1999-12-28 Tessera, Inc. Flexible contact post and post socket and associated methods therefor
US5738531A (en) * 1996-09-09 1998-04-14 International Business Machines Corporation Self-alligning low profile socket for connecting ball grid array devices through a dendritic interposer
US5938452A (en) 1996-12-23 1999-08-17 General Electric Company Flexible interface structures for electronic devices
DE19713661C1 (de) * 1997-04-02 1998-09-24 Siemens Nixdorf Inf Syst Kontaktanordnung
US5924875A (en) * 1997-07-01 1999-07-20 Trw Inc. Cryogenic flex cable connector
US6442039B1 (en) * 1999-12-03 2002-08-27 Delphi Technologies, Inc. Metallic microstructure springs and method of making same
US6264476B1 (en) * 1999-12-09 2001-07-24 High Connection Density, Inc. Wire segment based interposer for high frequency electrical connection
US6492715B1 (en) 2000-09-13 2002-12-10 International Business Machines Corporation Integrated semiconductor package
US7083436B2 (en) * 2001-03-06 2006-08-01 International Business Machines Corporation Particle distribution interposer and method of manufacture thereof
US20030022532A1 (en) * 2001-07-27 2003-01-30 Clements Bradley E. Electrical contact
US6712621B2 (en) * 2002-01-23 2004-03-30 High Connection Density, Inc. Thermally enhanced interposer and method
US6551112B1 (en) * 2002-03-18 2003-04-22 High Connection Density, Inc. Test and burn-in connector
US6790057B2 (en) * 2002-12-10 2004-09-14 Tyco Electronics Corporation Conductive elastomeric contact system with anti-overstress columns
US7114961B2 (en) * 2003-04-11 2006-10-03 Neoconix, Inc. Electrical connector on a flexible carrier
US7056131B1 (en) * 2003-04-11 2006-06-06 Neoconix, Inc. Contact grid array system
US7070419B2 (en) * 2003-06-11 2006-07-04 Neoconix Inc. Land grid array connector including heterogeneous contact elements
US6833520B1 (en) * 2003-06-16 2004-12-21 Agilent Technologies, Inc. Suspended thin-film resistor
US7090503B2 (en) * 2004-03-19 2006-08-15 Neoconix, Inc. Interposer with compliant pins
JP2006012210A (ja) * 2004-06-22 2006-01-12 Canon Inc 光ディスク装置
JP2006294190A (ja) * 2005-04-14 2006-10-26 Canon Inc 光ピックアップおよび光ディスク装置
JP2008021346A (ja) * 2006-07-11 2008-01-31 Canon Inc 光ピックアップ及び光ディスク装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019035392A1 (ja) * 2017-08-14 2019-02-21 ソニー株式会社 電子部品モジュール、その製造方法、内視鏡装置、および移動体カメラ
CN110999550A (zh) * 2017-08-14 2020-04-10 索尼公司 电子组件模块、其制造方法、内窥镜装置和移动相机
US11444049B2 (en) 2017-08-14 2022-09-13 Sony Corporation Electronic component module, method for producing the same, endoscopic apparatus, and mobile camera
US10531572B2 (en) 2018-02-26 2020-01-07 Fujitsu Limited Substrate
US10736220B2 (en) 2018-02-26 2020-08-04 Fujitsu Limited Substrate

Also Published As

Publication number Publication date
US20090044405A1 (en) 2009-02-19
CN1941240A (zh) 2007-04-04
US7648369B2 (en) 2010-01-19
US20070087588A1 (en) 2007-04-19
US7823278B2 (en) 2010-11-02
US7137827B2 (en) 2006-11-21
CN1620236A (zh) 2005-05-25
US20060009050A1 (en) 2006-01-12
KR20050047466A (ko) 2005-05-20
KR100724841B1 (ko) 2007-06-04
US20050106902A1 (en) 2005-05-19
JP4074614B2 (ja) 2008-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4074614B2 (ja) インターポーザ及びこれの製造方法
US4813129A (en) Interconnect structure for PC boards and integrated circuits
KR100591216B1 (ko) 집적 장치를 갖는 마이크로 전자 기판
US8877565B2 (en) Method of forming a multilayer substrate core structure using sequential microvia laser drilling and substrate core structure formed according to the method
JP5258716B2 (ja) プリント基板及びその製造方法
KR101297915B1 (ko) 회로 기판, 회로 기판을 포함하는 조립품 및 회로 기판의 형성 방법
US9824977B2 (en) Semiconductor packages and methods of forming the same
TWI644598B (zh) 電路板結構及其形成方法
US6009620A (en) Method of making a printed circuit board having filled holes
US5568682A (en) Orthogonal grid circuit interconnect method
JP2000216289A (ja) 半導体装置用パッケ―ジ
CN112820713B (zh) 一种金属框架封装基板及其制造方法
TWI683603B (zh) 印刷電路板及其製造方法
CN114361040B (zh) 一种双面互联嵌入式芯片封装结构及其制造方法
US9653322B2 (en) Method for fabricating a semiconductor package
KR20230087367A (ko) 다중 소자 분층 임베디드 패키지 구조 및 이의 제조 방법
KR101448110B1 (ko) 반도체 소자 내장형 인쇄회로기판의 제조 방법
JPH05198901A (ja) プリント回路基板およびその製造方法
CN116249259A (zh) 电路板结构及其制造方法
JP2023167062A (ja) プリント配線板およびその製造方法
JP2001094224A (ja) プリント配線板およびプリント配線板の製造方法
JP2004103750A (ja) 導電突起付き基板及びその製造方法、半導体装置及びその製造方法
JPH03270294A (ja) 多層回路基板

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071030

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071219

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080122

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080125

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110201

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120201

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130201

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130201

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140201

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees