JP2005149476A - 集積回路における動作電圧の決定 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 159
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 66
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 30
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 14
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 12
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 7
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 2
- 239000013598 vector Substances 0.000 abstract description 17
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 7
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 7
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 229920001690 polydopamine Polymers 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000000638 stimulation Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
- G01R31/3004—Current or voltage test
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31718—Logistic aspects, e.g. binning, selection, sorting of devices under test, tester/handler interaction networks, Test management software, e.g. software for test statistics or test evaluation, yield analysis
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/32—Means for saving power
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/32—Means for saving power
- G06F1/3203—Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/32—Means for saving power
- G06F1/3203—Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
- G06F1/3234—Power saving characterised by the action undertaken
- G06F1/324—Power saving characterised by the action undertaken by lowering clock frequency
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/32—Means for saving power
- G06F1/3203—Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
- G06F1/3234—Power saving characterised by the action undertaken
- G06F1/3296—Power saving characterised by the action undertaken by lowering the supply or operating voltage
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
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Abstract
【解決手段】個体集積回路2、20、32、44、48における動作電圧の特定は、それらの集積回路2、20、32、44、48を、複数の所要クロック周波数において動作させ、かつ、それらの周波数のそれぞれにおいて、一連の印加されたテスト・ベクトルに対し合格の結果を生じる最小供給電圧Vddminを決定することにより行われる。
【選択図】図9
Description
前記集積回路を所要動作周波数で走らせるステップと、
テスト電圧の集合の少なくとも部分集合のそれぞれにおいて、前記集積回路のクリティカル・パスを働かせるために、前記集積回路においてデータ処理動作のテスト・シーケンスを実行するステップであって、与えられたテスト電圧における前記テスト・シーケンスの実行の成功は、前記集積回路が前記与えられたテスト電圧において前記所要動作周波数を信頼性をもって維持できることを示す、前記ステップと、
前記テスト・シーケンスの実行が成功した前記テスト電圧の部分集合から最低テスト電圧を特定するステップと、
前記最低テスト電圧に依存して前記所要動作周波数における前記個体集積回路の前記動作電圧を決定するステップと、
を含む。
個体集積回路と、
前記個体集積回路における動作電圧および所要動作周波数を記憶する、前記個体集積回路に関連する記憶モジュールとを含み、前記動作電圧は、
前記集積回路を前記所要動作周波数で走らせるステップと、
テスト電圧の集合の少なくとも部分集合のそれぞれにおいて、前記集積回路のクリティカル・パスを働かせるために、前記集積回路においてデータ処理動作のテスト・シーケンスを実行するステップであって、与えられたテスト電圧における前記テスト・シーケンスの実行の成功は、前記集積回路が前記与えられたテスト電圧において前記所要動作周波数を信頼性をもって維持できることを示す、前記ステップと、
前記テスト・シーケンスの実行が成功した前記テスト電圧の部分集合から最低テスト電圧を特定するステップと、
前記最低テスト電圧に依存して前記所要動作周波数における前記個体集積回路の前記動作電圧を決定するステップと、
により決定されたものである。
前記集積回路を所要動作周波数で走らせるよう動作可能である周波数設定コードと、
テスト電圧の集合の少なくとも部分集合のそれぞれにおいて、前記集積回路のクリティカル・パスを働かせるために、前記集積回路においてデータ処理動作のテスト・シーケンスを実行するよう動作可能である実行コードであって、与えられたテスト電圧における前記テスト・シーケンスの実行の成功は、前記集積回路が前記与えられたテスト電圧において前記所要動作周波数を信頼性をもって維持できることを示す、前記実行コードと、
前記テスト・シーケンスの実行が成功した前記テスト電圧の部分集合から最低テスト電圧を特定するよう動作可能である電圧特定コードと、
前記最低テスト電圧に依存して前記所要動作周波数における前記個体集積回路の前記動作電圧を決定するよう動作可能である動作電圧決定コードと、
を含む。
18 電源
20 集積回路
26 電源
32 CPU
42 最終装置(携帯電話)
44 CPU
48 システム・オン・チップ集積回路
Vdd 供給レール電圧
Vbb ボデー・バイアス電圧
Vddmin 最小供給レール電圧
Claims (63)
- 個体集積回路における動作電圧を決定する方法において、該方法は、
前記集積回路を所要動作周波数で走らせるステップと、
テスト電圧の集合の少なくとも部分集合のそれぞれにおいて、前記集積回路のクリティカル・パスを働かせるために、前記集積回路においてデータ処理動作のテスト・シーケンスを実行するステップであって、与えられたテスト電圧における前記テスト・シーケンスの実行の成功は、前記集積回路が前記与えられたテスト電圧において前記所要動作周波数を信頼性をもって維持できることを示す、前記ステップと、
前記テスト・シーケンスの実行が成功した前記テスト電圧の部分集合から最低テスト電圧を特定するステップと、
前記最低テスト電圧に依存して前記所要動作周波数における前記個体集積回路の前記動作電圧を決定するステップと、
を含む前記方法。 - 動作電圧は、複数の所要動作周波数のそれぞれに対し決定される、請求項1記載の方法。
- 前記テスト・シーケンスは、
データ処理命令のシーケンスと、
前記集積回路に印加されるテスト信号のシーケンスと、
の一方である、請求項1記載の方法。 - 前記動作電圧は供給レベル電圧を含む、請求項1記載の方法。
- 前記動作電圧はボデー・バイアス電圧を含む、請求項1記載の方法。
- 前記動作電圧は、前記最低動作電圧より少なくとも所定マージンだけ高いように決定される、請求項1記載の方法。
- テスト電圧の前記部分集合は、まず前記テスト・シーケンスをテスト電圧の前記集合の最高電圧において実行し、前記テスト電圧を次第に減少させて、前記テスト・シーケンスの満足な実行が失敗する、テスト電圧の前記集合のテスト電圧になるまで前記テスト・シーケンスを実行することにより、テスト電圧の前記集合から得られる、請求項1記載の方法。
- 前記動作電圧および前記所要動作周波数は、前記集積回路に関連する記憶モジュール内に記憶される、請求項1記載の方法。
- 前記メモリはプログラム可能読取り専用メモリである、請求項8記載の方法。
- 前記記憶モジュールは、前記個体集積回路のパッケージに貼付されたバーコードである、請求項8記載の方法。
- 前記方法は、前記集積回路を大形回路内に組込む前の前記集積回路の製造時に行われる、請求項1記載の方法。
- 前記方法は、前記集積回路を大形回路内の別の回路素子に結合する時に行われる、請求項1記載の方法。
- 前記方法は、前記集積回路が最終装置内に組込まれている間に行われる、請求項1記載の方法。
- 前記方法は、
前記最終装置の最初の起動と、
前記最終装置のことごとくの起動と、
の少なくとも一方において行われる、請求項13記載の方法。 - 前記方法は、前記最終装置の動作中に周期的に行われる、請求項13記載の方法。
- 前記方法は、前記最終装置の1つまたはそれ以上の所定の動作条件の検出時に行われる、請求項13記載の方法。
- 前記最終装置の状態は前記方法を行う前に保存され、前記状態は前記動作電圧が決定された時に復元される、請求項15記載の方法。
- 前記所定の動作条件は、前記最終装置が幹線電源または電池電源のいずれにより動作しているかを含む、請求項16記載の方法。
- 前記方法は、前記最終装置の所定の温度変化の検出時に行われる、請求項13記載の方法。
- 前記最終装置は、該最終装置に電力を供給する動作が可能な電池を含み、前記最終装置は待機モードに設定することができ、前記方法は、
前記集積回路を待機状態に設定するステップと、
前記電池の現在の充電レベルにおいて最低漏れ電流を生じるテスト・ボデー・バイアス電圧を特定するために、テスト・ボデー・バイアス電圧の集合のそれぞれにおいて前記集積回路をテストするステップと、
前記特定されたテスト・ボデー・バイアス電圧に依存して前記待機モードにおける動作ボデー・バイアス電圧を設定するステップと、
を含む、請求項13記載の方法。 - 前記集積回路は、前記大形回路または前記最終装置のそれぞれの中の複数の異なる電圧領域の与えられた電圧領域に属するとして分類され、前記方法は前記与えられた電圧領域において行われる、請求項12記載の方法。
- 集積回路の動作電圧のビンニング若しくは特定(binning)方法。
- 個体集積回路と、
前記個体集積回路における動作電圧および所要動作周波数を記憶する、前記個体集積回路に関連する記憶モジュールとを含む装置において、前記動作電圧は、
前記集積回路を前記所要動作周波数で走らせるステップと、
テスト電圧の集合の少なくとも部分集合のそれぞれにおいて、前記集積回路のクリティカル・パスを働かせるために、前記集積回路においてデータ処理動作のテスト・シーケンスを実行するステップであって、与えられたテスト電圧における前記テスト・シーケンスの実行の成功は、前記集積回路が前記与えられたテスト電圧において前記所要動作周波数を信頼性をもって維持できることを示す、前記ステップと、
前記テスト・シーケンスの実行が成功した前記テスト電圧の部分集合から最低テスト電圧を特定するステップと、
前記最低テスト電圧に依存して前記所要動作周波数における前記個体集積回路の前記動作電圧を決定するステップと、
により決定されている、前記装置。 - 動作電圧は、複数の所要動作周波数のそれぞれにおいて決定される、請求項23記載の装置。
- 前記テスト・シーケンスは、
データ処理命令のシーケンスと、
前記集積回路に印加されるテスト信号のシーケンスと、
の一方である、請求項23記載の装置。 - 前記動作電圧は供給レベル電圧を含む、請求項23記載の装置。
- 前記動作電圧はボデー・バイアス電圧を含む、請求項23記載の装置。
- 前記動作電圧は、前記最低動作電圧より少なくとも所定マージンだけ高いように決定される、請求項23記載の装置。
- テスト電圧の前記部分集合は、まず前記テスト・シーケンスをテスト電圧の前記集合の最高電圧において実行し、前記テスト電圧を次第に減少させて、前記テスト・シーケンスの満足な実行が失敗する、テスト電圧の前記集合のテスト電圧になるまで前記テスト・シーケンスを実行することにより、テスト電圧の前記集合から得られる、請求項23記載の装置。
- 前記動作電圧および前記所要動作周波数は、前記集積回路に関連する記憶モジュール内に記憶される、請求項23記載の装置。
- 前記記憶モジュールはプログラム可能読取り専用メモリである、請求項30記載の装置。
- 前記記憶モジュールは、前記個体集積回路のパッケージに貼付されたバーコードである、請求項30記載の装置。
- 前記方法は、前記集積回路を大形回路内に組込む前の前記集積回路の製造時に行われる、請求項23記載の装置。
- 前記方法は、前記集積回路を大形回路内の別の回路素子に結合する時に行われる、請求項23記載の装置。
- 前記方法は、前記集積回路が最終装置内に組込まれている間に行われる、請求項23記載の装置。
- 前記方法は、
前記最終装置の最初の起動と、
前記最終装置のことごとくの起動と、
の少なくとも一方において行われる、請求項35記載の装置。 - 前記方法は、前記最終装置の動作中に周期的に行われる、請求項35記載の装置。
- 前記方法は、前記最終装置の1つまたはそれ以上の所定の動作条件の検出時に行われる、請求項35記載の装置。
- 前記最終装置の状態は前記方法を行う前に保存され、前記状態は前記動作電圧が決定された時に復元される、請求項37記載の装置。
- 前記所定の動作条件は、前記最終装置が幹線電源または電池電源のいずれにより動作しているかを含む、請求項38記載の装置。
- 前記方法は、前記最終装置の所定の温度変化の検出時に行われる、請求項37記載の装置。
- 前記最終装置は、該最終装置に電力を供給する動作が可能な電池を含み、前記最終装置は待機モードに設定することができ、前記方法は、
前記集積回路を待機状態に設定するステップと、
前記電池の現在の充電レベルにおいて最低漏れ電流を生じるテスト・ボデー・バイアス電圧を特定するために、テスト・ボデー・バイアス電圧の集合のそれぞれにおいて前記集積回路をテストするステップと、
前記特定されたテスト・ボデー・バイアス電圧に依存して、前記待機モードにおいて動作ボデー・バイアス電圧を設定するステップと、
を含む、請求項37記載の装置。 - 前記集積回路は、前記大形回路または前記最終装置のそれぞれの中の複数の異なる電圧領域の与えられた電圧領域に属するとして分類され、前記方法は前記与えられた電圧領域において行われる、請求項36記載の装置。
- 個体集積回路の動作電圧を決定するためにデータ処理装置を制御するコンピュータ・プログラムを有するコンピュータ・プログラム製品において、前記コンピュータ・プログラムは、
前記集積回路を所要動作周波数で走らせるよう動作可能である周波数設定コードと、
テスト電圧の集合の少なくとも部分集合のそれぞれにおいて、前記集積回路のクリティカル・パスを働かせるために、前記集積回路においてデータ処理動作のテスト・シーケンスを実行するよう動作可能である実行コードであって、与えられたテスト電圧における前記テスト・シーケンスの実行の成功は、前記集積回路が前記与えられたテスト電圧において前記所要動作周波数を信頼性をもって維持できることを示す、前記実行コードと、
前記テスト・シーケンスの実行が成功した前記テスト電圧の部分集合から最低テスト電圧を特定するよう動作可能である電圧特定コードと、
前記最低テスト電圧に依存して前記所要動作周波数における前記個体集積回路の前記動作電圧を決定するよう動作可能である動作電圧決定コードと、
を含む、前記コンピュータ・プログラム製品。 - 前記動作電圧決定コードは、複数の所要動作周波数のそれぞれにおいて動作電圧を決定するよう動作可能である、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記実行コードの前記テスト・シーケンスは、
データ処理命令のシーケンスと、
前記集積回路に印加されるテスト信号のシーケンスと、
の一方である、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。 - 前記動作電圧決定コードにより決定される前記動作電圧は供給レベル電圧を含む、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記動作電圧決定コードにより決定される前記動作電圧はボデー・バイアス電圧を含む、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記動作電圧決定コードは、前記動作電圧を、前記最低動作電圧より少なくともスレショルド・マージンだけ高く決定するよう動作可能である、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- テスト電圧の前記部分集合は、まず前記テスト・シーケンスをテスト電圧の前記集合の最高電圧において実行し、前記テスト電圧を次第に減少させて、前記テスト・シーケンスの満足な実行が失敗する、テスト電圧の前記集合のテスト電圧になるまで前記テスト・シーケンスを実行することにより、テスト電圧の前記集合から得られる、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記動作電圧および前記所要動作周波数を、前記集積回路に関連する記憶モジュール内に記憶するよう動作可能である記憶コードを含む、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記記憶モジュールはプログラム可能読取り専用メモリである、請求項51記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記コンピュータ・プログラムは、前記集積回路を大形回路内に組込む前の前記集積回路の製造時に実行可能である、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記コンピュータ・プログラムは、前記集積回路を大形回路内の別の回路素子に結合する時に実行可能である、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記コンピュータ・プログラムは、前記集積回路が最終装置内に組込まれている間に実行可能である、請求項44記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記コンピュータ・プログラムは、
前記最終装置の最初の起動と、
前記最終装置のことごとくの起動と、
の少なくとも一方において実行される、請求項55記載のコンピュータ・プログラム製品。 - 前記コンピュータ・プログラムは、前記最終装置の動作中に周期的に実行される、請求項55記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記コンピュータ・プログラムの実行は、前記最終装置の1つまたはそれ以上の所定の動作条件の検出時にトリガされる、請求項55記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記最終装置の状態は前記コンピュータ・プログラムを実行する前に保存され、前記状態は、前記動作電圧が前記動作電圧決定コードにより決定された時に復元される、請求項55記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記所定の動作条件は、前記最終装置が幹線電源または電池電源のいずれにより動作しているかを含む、請求項55記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記コンピュータ・プログラムの実行は、前記最終装置の所定の温度変化の検出時にトリガされる、請求項55記載のコンピュータ・プログラム製品。
- 前記最終装置は、該最終装置に電力を供給する動作が可能な電池を含み、前記最終装置は待機モードに設定することができ、前記方法は、
前記集積回路を待機状態に設定するステップと、
前記電池の現在の充電レベルにおいて最低漏れ電流を生じるテスト・ボデー・バイアス電圧を特定するために、テスト・ボデー・バイアス電圧の集合のそれぞれにおいて前記集積回路をテストするステップと、
前記特定されたテスト・ボデー・バイアス電圧に依存して前記待機モードにおける動作ボデー・バイアス電圧を設定するステップと、
を含む、請求項55記載のコンピュータ・プログラム製品。 - 前記集積回路は、前記大形回路または前記最終装置のそれぞれの中の複数の異なる電圧領域の与えられた電圧領域に属するとして分類され、前記コンピュータ・プログラムは、前記与えられた電圧領域内において動作する前記集積回路の前記動作電圧を決定するよう動作可能である、請求項54記載のコンピュータ・プログラム製品。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0326612A GB2408116B (en) | 2003-11-14 | 2003-11-14 | Operating voltage determination for an integrated circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005149476A true JP2005149476A (ja) | 2005-06-09 |
Family
ID=29726584
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004272654A Pending JP2005149476A (ja) | 2003-11-14 | 2004-09-21 | 集積回路における動作電圧の決定 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US7142996B2 (ja) |
JP (1) | JP2005149476A (ja) |
GB (1) | GB2408116B (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009522688A (ja) * | 2006-01-03 | 2009-06-11 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド | 独立周波数及び/又は電圧で集積回路の構成要素を動作させるシステムならびに方法 |
JP2010511247A (ja) * | 2006-11-29 | 2010-04-08 | アギア システムズ インコーポレーテッド | 動的電力制御及び適応的電力制御のためのスピード・ビニング |
JP2010097277A (ja) * | 2008-10-14 | 2010-04-30 | Toshiba Corp | 情報処理装置 |
US7716516B2 (en) | 2006-06-21 | 2010-05-11 | Sony Computer Entertainment Inc. | Method for controlling operation of microprocessor which performs duty cycle correction process |
US8108813B2 (en) | 2007-11-20 | 2012-01-31 | International Business Machines Corporation | Structure for a circuit obtaining desired phase locked loop duty cycle without pre-scaler |
JP2012522293A (ja) * | 2009-03-30 | 2012-09-20 | クアルコム,インコーポレイテッド | 適応電圧スケーラ(avs) |
JP2013031207A (ja) * | 2009-01-28 | 2013-02-07 | Apple Inc | 動的な電圧及び周波数管理 |
US8381143B2 (en) | 2008-05-29 | 2013-02-19 | International Business Machines Corporation | Structure for a duty cycle correction circuit |
JP2013516757A (ja) * | 2009-12-31 | 2013-05-13 | マーベル・イスラエル・(エム・アイ・エス・エル)・リミテッド | 収率を向上させる方法および装置 |
Families Citing this family (57)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7112978B1 (en) * | 2002-04-16 | 2006-09-26 | Transmeta Corporation | Frequency specific closed loop feedback control of integrated circuits |
US7849332B1 (en) | 2002-11-14 | 2010-12-07 | Nvidia Corporation | Processor voltage adjustment system and method |
US7886164B1 (en) | 2002-11-14 | 2011-02-08 | Nvidia Corporation | Processor temperature adjustment system and method |
US7882369B1 (en) | 2002-11-14 | 2011-02-01 | Nvidia Corporation | Processor performance adjustment system and method |
US7949864B1 (en) | 2002-12-31 | 2011-05-24 | Vjekoslav Svilan | Balanced adaptive body bias control |
US7649402B1 (en) | 2003-12-23 | 2010-01-19 | Tien-Min Chen | Feedback-controlled body-bias voltage source |
US20060038622A1 (en) * | 2004-08-17 | 2006-02-23 | Vyungchon Choe | Voltage scaling using material-based reference model |
KR101054946B1 (ko) * | 2005-02-23 | 2011-08-08 | 삼성전자주식회사 | 전압 레벨 조정 기능을 가진 시스템 온 칩 및 전압 레벨 조정 방법 |
US7739531B1 (en) | 2005-03-04 | 2010-06-15 | Nvidia Corporation | Dynamic voltage scaling |
US7652494B2 (en) * | 2005-07-01 | 2010-01-26 | Apple Inc. | Operating an integrated circuit at a minimum supply voltage |
US7685444B2 (en) * | 2006-04-28 | 2010-03-23 | Nokia Corporation | Power saving in circuit functions through multiple power buses |
TW200837767A (en) * | 2007-03-09 | 2008-09-16 | Usbest Technology Inc | Data storing device and method capable of reducing power consumption there of |
US9134782B2 (en) | 2007-05-07 | 2015-09-15 | Nvidia Corporation | Maintaining optimum voltage supply to match performance of an integrated circuit |
US8442697B2 (en) * | 2007-12-18 | 2013-05-14 | Packet Digital | Method and apparatus for on-demand power management |
US8370663B2 (en) | 2008-02-11 | 2013-02-05 | Nvidia Corporation | Power management with dynamic frequency adjustments |
US7877714B2 (en) | 2008-02-27 | 2011-01-25 | International Business Machines Corporation | System and method to optimize semiconductor power by integration of physical design timing and product performance measurements |
US8171323B2 (en) * | 2008-07-01 | 2012-05-01 | Broadcom Corporation | Integrated circuit with modular dynamic power optimization architecture |
JP5332426B2 (ja) * | 2008-09-10 | 2013-11-06 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法 |
US8117469B2 (en) * | 2009-07-10 | 2012-02-14 | Packet Digital | Automatically determining operating parameters of a power management device |
US8885694B2 (en) * | 2009-09-09 | 2014-11-11 | Texas Instruments Incorporated | Changing an operating performance point |
US8781792B2 (en) * | 2009-10-31 | 2014-07-15 | International Business Machines Corporation | Yield computation and optimization for selective voltage binning |
US8250395B2 (en) * | 2009-11-12 | 2012-08-21 | International Business Machines Corporation | Dynamic voltage and frequency scaling (DVFS) control for simultaneous multi-threading (SMT) processors |
US9256265B2 (en) | 2009-12-30 | 2016-02-09 | Nvidia Corporation | Method and system for artificially and dynamically limiting the framerate of a graphics processing unit |
US9830889B2 (en) | 2009-12-31 | 2017-11-28 | Nvidia Corporation | Methods and system for artifically and dynamically limiting the display resolution of an application |
US8676536B2 (en) * | 2010-01-29 | 2014-03-18 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for selecting voltage and frequency levels for use in at-speed testing |
US8630137B1 (en) * | 2010-02-15 | 2014-01-14 | Maxim Integrated Products, Inc. | Dynamic trim method for non-volatile memory products |
CN102213967A (zh) * | 2010-04-12 | 2011-10-12 | 辉达公司 | 具有电压调节功能的gpu芯片及其制作方法 |
CN101839962B (zh) * | 2010-04-23 | 2012-06-27 | 龙芯中科技术有限公司 | 一种处理器芯片频率的筛选方法 |
US20110274150A1 (en) * | 2010-05-05 | 2011-11-10 | Tektronix, Inc | Logical triggering in the frequency domain |
US8839006B2 (en) | 2010-05-28 | 2014-09-16 | Nvidia Corporation | Power consumption reduction systems and methods |
US8489909B2 (en) | 2010-09-24 | 2013-07-16 | International Business Machines Corporation | Displaying the operating efficiency of a processor |
US8595520B2 (en) * | 2011-10-12 | 2013-11-26 | Qualcomm Incorporated | System and method for determining thermal management policy from leakage current measurement |
JP5893336B2 (ja) * | 2011-10-24 | 2016-03-23 | キヤノン株式会社 | 電源制御装置、電源制御装置の制御方法、およびプログラム |
US8421495B1 (en) | 2011-11-03 | 2013-04-16 | International Business Machines Corporation | Speed binning for dynamic and adaptive power control |
US8543966B2 (en) | 2011-11-11 | 2013-09-24 | International Business Machines Corporation | Test path selection and test program generation for performance testing integrated circuit chips |
US10067184B2 (en) * | 2011-11-11 | 2018-09-04 | International Business Machines Corporation | Product performance test binning |
US8490040B2 (en) | 2011-11-11 | 2013-07-16 | International Business Machines Corporation | Disposition of integrated circuits using performance sort ring oscillator and performance path testing |
US9557378B2 (en) | 2012-07-20 | 2017-01-31 | Globalfoundries Inc. | Method and structure for multi-core chip product test and selective voltage binning disposition |
US20140210503A1 (en) * | 2012-08-31 | 2014-07-31 | Apple Inc. | Startup boot cycle testing of a mobile device at diminished power supply current |
US9152168B2 (en) | 2012-09-06 | 2015-10-06 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for system power estimation |
US9772374B2 (en) | 2012-10-04 | 2017-09-26 | International Business Machines Corporation | Selective voltage binning leakage screen |
DE102012112672A1 (de) * | 2012-12-19 | 2014-06-26 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Verfahren zur Stabilisierung der Taktfrequenz eines Microcontrollers |
US8719763B1 (en) | 2013-01-04 | 2014-05-06 | International Business Machines Corporation | Frequency selection with selective voltage binning |
CN104050063A (zh) * | 2013-03-12 | 2014-09-17 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | Cpu电压检测装置和方法 |
US9442559B2 (en) * | 2013-03-14 | 2016-09-13 | Intel Corporation | Exploiting process variation in a multicore processor |
US9368416B2 (en) | 2013-04-23 | 2016-06-14 | Apple Inc. | Continuous voltage product binning |
GB2515618B (en) | 2013-05-30 | 2017-10-11 | Electronics & Telecommunications Res Inst | Method and apparatus for controlling operation voltage of processor core, and processor system including the same |
US9291670B2 (en) | 2014-01-30 | 2016-03-22 | Apple Inc. | Operating surface characterization for integrated circuits |
US9563220B1 (en) | 2014-01-30 | 2017-02-07 | Apple Inc. | Dynamic operating surface for integrated circuits |
US9489482B1 (en) | 2015-06-15 | 2016-11-08 | International Business Machines Corporation | Reliability-optimized selective voltage binning |
GB2545458A (en) * | 2015-12-17 | 2017-06-21 | Minima Processor Oy | A system and a method for controlling operating voltage |
US10073718B2 (en) | 2016-01-15 | 2018-09-11 | Intel Corporation | Systems, methods and devices for determining work placement on processor cores |
US10248186B2 (en) | 2016-06-10 | 2019-04-02 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Processor device voltage characterization |
US10310572B2 (en) | 2016-06-10 | 2019-06-04 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Voltage based thermal control of processing device |
US10338670B2 (en) * | 2016-06-10 | 2019-07-02 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Input voltage reduction for processing devices |
US10209726B2 (en) | 2016-06-10 | 2019-02-19 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Secure input voltage adjustment in processing devices |
US11710726B2 (en) | 2019-06-25 | 2023-07-25 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Through-board power control arrangements for integrated circuit devices |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5734585A (en) * | 1994-11-07 | 1998-03-31 | Norand Corporation | Method and apparatus for sequencing power delivery in mixed supply computer systems |
FR2752312B1 (fr) * | 1996-08-07 | 1998-10-30 | Motorola Semiconducteurs | Procede et circuit permettant d'ajuster dynamiquement la tension d'alimentation et, ou bien, la frequence du signal d'horloge dans un circuit numerique |
US6208542B1 (en) * | 1998-06-30 | 2001-03-27 | Sandisk Corporation | Techniques for storing digital data in an analog or multilevel memory |
US20040025061A1 (en) * | 2001-10-25 | 2004-02-05 | Lawrence Richard H. | Method and system for power reduction |
US6944780B1 (en) * | 2002-01-19 | 2005-09-13 | National Semiconductor Corporation | Adaptive voltage scaling clock generator for use in a digital processing component and method of operating the same |
US6792379B2 (en) * | 2002-04-24 | 2004-09-14 | Yoshiyuki Ando | Data-based control of integrated circuits |
US7577859B2 (en) * | 2004-02-20 | 2009-08-18 | International Business Machines Corporation | System and method of controlling power consumption in an electronic system by applying a uniquely determined minimum operating voltage to an integrated circuit rather than a predetermined nominal voltage selected for a family of integrated circuits |
-
2003
- 2003-11-14 GB GB0326612A patent/GB2408116B/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-08-06 US US10/912,104 patent/US7142996B2/en active Active
- 2004-09-21 JP JP2004272654A patent/JP2005149476A/ja active Pending
-
2005
- 2005-12-06 US US11/294,431 patent/US7363176B2/en active Active
-
2006
- 2006-04-18 US US11/405,432 patent/US7330798B2/en active Active
-
2007
- 2007-07-02 US US11/822,062 patent/US20070255516A1/en not_active Abandoned
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009522688A (ja) * | 2006-01-03 | 2009-06-11 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド | 独立周波数及び/又は電圧で集積回路の構成要素を動作させるシステムならびに方法 |
US7716516B2 (en) | 2006-06-21 | 2010-05-11 | Sony Computer Entertainment Inc. | Method for controlling operation of microprocessor which performs duty cycle correction process |
JP2010511247A (ja) * | 2006-11-29 | 2010-04-08 | アギア システムズ インコーポレーテッド | 動的電力制御及び適応的電力制御のためのスピード・ビニング |
US8108813B2 (en) | 2007-11-20 | 2012-01-31 | International Business Machines Corporation | Structure for a circuit obtaining desired phase locked loop duty cycle without pre-scaler |
US8381143B2 (en) | 2008-05-29 | 2013-02-19 | International Business Machines Corporation | Structure for a duty cycle correction circuit |
JP2010097277A (ja) * | 2008-10-14 | 2010-04-30 | Toshiba Corp | 情報処理装置 |
JP2013031207A (ja) * | 2009-01-28 | 2013-02-07 | Apple Inc | 動的な電圧及び周波数管理 |
JP2012522293A (ja) * | 2009-03-30 | 2012-09-20 | クアルコム,インコーポレイテッド | 適応電圧スケーラ(avs) |
US8797095B2 (en) | 2009-03-30 | 2014-08-05 | Qualcomm Incorporated | Adaptive voltage scalers (AVS), systems, and related methods |
US9092046B2 (en) | 2009-03-30 | 2015-07-28 | Qualcomm Incorporated | Adaptive voltage scalers (AVSs), systems, and related methods |
US9122291B2 (en) | 2009-03-30 | 2015-09-01 | Qualcomm Incorporated | Adaptive voltage scalers (AVSs), systems, and related methods |
JP2013516757A (ja) * | 2009-12-31 | 2013-05-13 | マーベル・イスラエル・(エム・アイ・エス・エル)・リミテッド | 収率を向上させる方法および装置 |
JP2015181021A (ja) * | 2009-12-31 | 2015-10-15 | マーベル・イスラエル・(エム・アイ・エス・エル)・リミテッドMarvell Israel (M.I.S.L.) Ltd. | 収率を向上させる方法および装置 |
USRE47250E1 (en) | 2009-12-31 | 2019-02-19 | Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. | Controllably adjusting voltage for operating an integrated circuit within specified limits |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2408116A (en) | 2005-05-18 |
US20060074576A1 (en) | 2006-04-06 |
US7363176B2 (en) | 2008-04-22 |
GB0326612D0 (en) | 2003-12-17 |
US20060184330A1 (en) | 2006-08-17 |
US20070255516A1 (en) | 2007-11-01 |
GB2408116B (en) | 2006-09-20 |
US7330798B2 (en) | 2008-02-12 |
US7142996B2 (en) | 2006-11-28 |
US20050107967A1 (en) | 2005-05-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061211 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A02 | Decision of refusal |
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