JP5332426B2 - 情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法 - Google Patents

Description

本発明は、情報処理装置の電圧マージン試験の効率化を図ることができる情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法に関する。

従来の一つの筐体が複数コンポーネントから構成される情報処理装置の構成図を図１６に示す。情報処理装置３００の筐体内は、単体でＯＳを起動することができるハードウェアコンポーネントであるＳＢ３０３Ａ、ＳＢ３０３Ｂ、ＳＢ３０３Ｃ、ＳＢ３０３Ｄ（ＳＢ：Ｓｙｓｔｅｍ Ｂｏａｒｄ）を備え（以下、総称する場合はＳＢ３０３とする）、ＳＢ３０３の電源等の制御を担う電源制御部３０２および常駐電源部３０１を備える。

電源制御部３０２は、ＳＢ３０３に対し供給電圧を可変する電圧マージン制御を行う機能を有する。電圧マージン試験の実施者は、電源制御部３０２に接続された外部端末４００を使用することで、ＳＢ３０３に対して供給電圧を可変する試験である電圧マージン試験を行う。尚、電圧マージンとは、規定の電圧値に対してどの程度の電圧変動値を許容できるかの範囲であり、電圧マージン試験とは、対象となる装置が規定の電圧値に対してどの程度の電圧変動値を許容できるかを測定する試験である。

ここで、情報処理装置３００内の各コンポーネントについて説明する。

ＳＢ３０３内の各ＳＢは、それぞれＣＰＵ（Central Processing Unit）、メモリ、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）およびＰＣＩカード（ＰＣＩ：Peripheral Component Interconnect）等より構成される。ＳＢ３０３の各ＳＢは、ひとつの計算機としてＯＳが起動可能なハードウェアコンポーネントである。

電源制御部３０２は、常駐電源部３０１からの電源供給で動作し、情報処理装置３００内のハードウェアの電源を管理するための機構である。電源制御部３０２は、ＳＢ３０３とは独立した独自のＣＰＵ、メモリ、外部インタフェイス、およびファームウェアを格納するためのＲＯＭ（Read Only Memory）等より構成される。また、電源制御部３０２は、ＳＢ３０３内のＳＢそれぞれ個別に電源を投入／切断する制御等の機能を有し、シリアルインタフェースやＬＡＮ等の機能を提供する。電源制御部３０２の機能は、主にＲＯＭに格納されたファームウェアとＣＰＵ、メモリ等のハードウェア資源とが協働することで実現される。以下、必要に応じ電源制御部３０２のファームウェアを電源制御ファームウェアと呼ぶ。

常駐電源部３０１は、情報処理装置３００内のハードウェアへ電力を供給する。常駐電源部３０１は、電源制御部３０２へは常に電力を供給するが、ＳＢ３０３への電力供給は電源制御部３０２の制御に基づき行われる。

外部端末４００は、電源制御部３０２とシリアルインタフェースやＬＡＮ等のインターフェイスで接続され、オペレータからの電源制御指示を受け付ける端末である。また、情報処理装置３００は、外部端末４００配下で動作するシリアル接続ターミナルソフト等を介して電源の起動および停止等の指示を受ける。

電圧マージン試験の対象であるＳＢ３０３の電力供給に関するハードウェアコンポーネントの構成を図１７に示す。尚、図１７においては一例としてＳＢ３０３Ａを電圧マージン試験の対象としたが、他のＳＢに対しても同様の構成である。

ＳＢ３０３Ａには、ハードウェアコンポーネント内のＣＰＵ、メモリ、ＬＳＩ等の各部位に必要な電圧を制御するＤＤＣ（DC/DC Converter：直流電圧変換器）が存在する。本ＤＤＣは、ＴＲＩＭ入力により出力電圧値を変化させることを可能とする。また、電源制御ファームウェアが、各ＤＤＣやＤＡＣ（Digital-to-Analog Converter）を制御する。

ここで、従来の電源制御部３０２内の電源制御ファームウェアの構成を図１８に示す。

電源制御ファームウェア３２０は、情報処理装置３００内のハードウェアとのインタフェースを司るハードウェアインターフェイス部３２３、ハードウェアインターフェイス部３２３の個々の機能を一連の機能となるように統括制御する制御部３２２、および制御部３２２の機能をユーザへ提供するシリアル／ＣＬＩ部３２１を備える。

ハードウェアインターフェイス部３２３は、電圧マージン値をハードウェアに設定する処理を実施する機能部である。また、ハードウェアインターフェイス部３２３は、電圧マージン値の設定、電圧マージン値の制御の為にＤＤＣに対してハードウェア設定値をＷｒｉｔｅおよびＲｅａｄする機能を、電源制御ファームウェア内の他の部位へ提供する。

制御部３２２は、電源制御のための一連の処理をハードウェアインターフェイス部３２３における関数演算処理を使用し実現する。制御部３２２は、電源投入の指示があると、ＳＢ３０３の各ＤＤＣの電源オン、各ハードウェアの初期化、ＣＰＵの起動などの電源投入シーケンスと呼ばれる一連の制御処理を実施する。また、制御部３２２は、電源投入シーケンスの中で、電圧マージンの設定を指示されたＤＤＣについては、ハードウェアインターフェイス部３２３へ所定の関数演算処理（図１８の例ではSet＿Voltage＿margin関数）を実行し電圧マージンを設定する。この場合、制御部３２２は各ＤＤＣの電源オンの制御とあわせて電圧マージン制御を電源投入シーケンス時に行う。

シリアル／ＣＬＩ部３２１は、制御部３２２の電源投入／切断機能等を、シリアルインタフェイスおよび制御端末４００内のターミナルソフトを介して、ＣＬＩ（Command Line Interface：コマンド入力インタフェース）としてオペレータに提供する。

ここで、特定のシステムボードに対するＣＬＩ上の指示例を示す。まず、特定のシステムボードに対し電源投入／切断の指定例は、
・Power＿On／Power＿Off [SB名]
となる。

また、シリアル／ＣＬＩ部３２１は、制御部３２２が電源投入シーケンスの中で実施する電圧マージン制御機能を、電圧マージン試験のオペレータへＣＬＩとして提供する。ここで、電源投入時に指定されたＳＢ上の全てのＤＤＣに電圧マージンを増加設定する指定例は、
・Set＿Voltage＿margin [SB名] ＿all ＋[マージン（％）]
となり、また、電源投入時に指定されたＳＢの全てのＤＤＣに電圧マージンを減少設定する指定例は、
・Set＿Voltage＿margin [SB名] ＿all −[マージン（％）]
となる。さらに、電源投入時に指定されたＳＢの指定されたＤＤＣへ指定されたマージン（％）を増加設定する例は、
・Set＿Voltage＿margin [SB名] ＿[DDC名] ＋[マージン（％）]
となり、減少設定する指定例は、
・Set＿Voltage＿margin [SB名] ＿[DDC名] −[マージン（％）]
となる。

また、シリアル／ＣＬＩ部３２１は、待機命令を受け付けることもできる。以下の指定例で、指定された待機時間中は何も処理せず待機する。
・wait [待機時間] minute

次に、従来の電圧マージン試験の処理を図１９のフローチャートを参照しつつ説明する。

オペレータは外部端末４００のＣＬＩ等を使用して電圧マージン設定の指示を出し（Ｓ１０１）、試験対象のＳＢの電源を試験電圧値（規定の電圧値に電圧マージン（％）を増加させた（または減少させた）電圧値）で投入する指示を出す（Ｓ１０２）。また、オペレータは、試験電圧値で電源投入された試験対象部（ＳＢ）で動作するＯＳ配下のテストプログラムにより試験を実施する（Ｓ１０３）。

試験電圧値での試験完了後、ＣＬＩ等の指示に基づき試験対象部（ＳＢ）の電源が切断される（Ｓ１０４）。次の試験電圧値がある場合は（Ｓ１０５、Ｙｅｓ）、再度電圧マージン設定指示（Ｓ１０１）、電源投入（Ｓ１０２）、試験実施（Ｓ１０３）および電源切断（Ｓ１０４）という一連の処理が繰り返される。

このように従来の電圧マージン試験実施時は、電圧マージン試験の設定値毎に試験対象部位であるＳＢの電源投入および切断を伴うことが必須である。

また、関連ある従来技術として、パターン設定方法を用いることによって、キー入力回数が少なくなり、入力操作を軽減すると共に入力誤りを少なく、時間的能率をあげるサービスプロセッサが開示されている。また、検査のために要する工数を削減することができ、過度の電圧を供給してデバイスを破損させる可能性を無くす電圧制御方法及び電圧制御回路が開示されている。
特開平５−３０７４９２号公報 特開２００４−１８４１１１号公報

上述のオペレータがマージン設定値を変更する毎に電源投入／切断等の指示を出す電圧マージン試験では、以下の問題点がある。

まず、電源投入シーケンス時に、電圧マージンを設定するため、マージン設定毎に電源投入／切断を行う必要があり試験時間がかかるという問題がある。この問題に対処するため、電源オンの状態で、電圧マージンを変更することを可能とすると、電圧値が急激に変化したことによる予期せぬハードウェアの誤動作を引き起こすという問題がある。

さらに、上述の予期せぬハードウェアの誤動作に対処するため、電源オンの状態で、電圧値の急激な変動を回避し、かつ速やかに目的の電圧値を設定する機能をファームウェアの機能として電源制御部３０２内に盛り込むには開発コスト、工数及び時間がかかるという問題がある。同様に、電源オンの状態で、電圧の急激な変動に耐えうるようにハードウェアを構成するとシステムが高価となる。

本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、試験対象の装置が電源オンの状態のままで電圧マージンの変更を行う場合に、目的の電圧値となる過程における電圧の変動による動作不能を抑え、変更後の電圧設定値による動作不能のみを判定することができる情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法を提供することを目的とする。

情報処理装置は、対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施部と、前記テスト実施部による判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更部と、前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として前記テスト実施部に出力する電圧値設定部と、を備える。

許容電圧試験システムは、情報処理装置であって、該情報処理装置内の対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施部を備えた情報処理装置と、試験装置であって、前記テスト実施部による判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更部と、前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として前記情報処理装置内のテスト実施部に出力する電圧値設定部と、を備えた試験装置と、を備える。

許容電圧試験方法は、対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施ステップと、前記テスト実施ステップによる判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更ステップと、前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として設定し、前記テスト実施ステップを実行する電圧値設定ステップと、を実行する。

電圧許容試験において、対象装置が電源オンの状態のままで電圧の変更を行うことができるとともに、電圧の急激な変動による動作不能を抑えることができる。

（実施の形態１）
図１に、実施の形態１における情報処理装置の構成の一例を示す。

情報処理装置１００は、電圧マージン制御部１、テストプログラム２を備える。電圧マージン制御部１は、さらに、電圧変動指示部１１、電圧変動制御部１２、電圧マージン制御データベース１３を備える。尚、実施の形態１においては、情報処理装置１００内の所定の部位に対し電圧マージン試験を実施するものとして説明する。以下、例えば上述のＳＢ３０３それぞれに備えられた個々のＣＰＵ、メモリ等、電圧マージン試験を実施対象である部位を電圧変動対象（対象装置）と称す。

テストプログラム２は、試験対象の情報処理装置１００内に備えられており、電圧マージン制御に用いるテスト用のプログラムである。テストプログラム２は、電圧変動指示部１１の指示に基づき電圧変動対象が電圧変動後の所定電圧で正常に動作しているか否かテストし、テスト結果を電圧変動制御部１２へ通知する。テスト結果は、正常／警告／異常の３種の状態を持つ。ここで正常状態とは、当該電圧で問題なく動作している状態を示し、警告状態とは、訂正可能エラー等、動作の継続が可能であるが異常に近い状態を示す。また異常状態とは訂正不可能エラー等、動作の継続が不可能であり致命的な状態を示す。

電圧マージン制御データベース１３は、電圧マージン制御部１に備えられ、電圧マージン試験に必要なデータが格納されている。電圧マージン制御データベース１３に格納されたデータを電圧変動指示部１１および電圧変動制御部１２が使用する。電圧マージン制御データベース１３は、主に以下のデータを格納する。尚、これら各データの詳細に関しては後述する。
１．電圧変動対象のテスト順位
２．電圧変動対象毎の変動変数
３．電圧変動対象毎のリトライ変数

電圧変動指示部１１は、電圧マージン制御の呼び出し元となる外部端末４００内の上位プログラム等からの指示を受け、電圧変動対象に対する電圧変動後の電圧の設定値（オペレータが品質上許容できるものとして定めた上限または下限の電圧値）を得る。電圧変動指示部１１は、電圧変動対象が複数ある場合、電圧マージン制御データベース１３内の電圧変動対象のテスト順位に基づき電圧変動対象の変更を行う。尚、電圧変動対象のテスト順位とは、複数の電圧変動対象に対しテストを実施する場合の実施順番である。また、電圧変動指示部１１は、電圧変動対象をテスト対象として、テストプログラム２の起動／停止を行う。さらに、電圧変動指示部１１は、電圧マージン制御データベース１３とデータの送受信を行い、電圧変動対象ならびに目標値を指定して、電圧変動制御部１２の起動／停止を行う。

電圧変動制御部１２は、主にテストプログラム２から取得するテスト結果（正常／警告／異常の状態）に基づき電圧の変動を制御する。

ここで、電圧変動制御部１２の詳細を図２を参照しつつ説明する。電圧変動制御部１２は、主に電圧変動制御およびリトライ制御を実施する処理部１４を備える。電圧変動制御およびリトライ制御について以下に説明する。

まず、電圧変動制御について説明する。処理部１４は、電圧変動対象に対し設定する電圧値である設定値と、現在電圧変動対象が稼動している電圧値である現在値との変位（電圧値差分）（以下、必要に応じ刻みと称す）および変位の時間間隔（時間差分）（以下、必要に応じｗａｉｔ値と称す）を変化させることで、単位時間あたりの電圧の変位（以下、必要に応じ変動割合と称す）を変化させる制御を行う。変動割合は、刻みの値をｗａｉｔ値で除算したものであり、テストプログラム２から取得するテスト結果に応じて変化する。すなわち処理部１４は、正常状態の場合は現在の変動割合を継続し、警告状態の場合は、より緩やかな変動割合とし、目標値への変動を継続する。また、処理部１４は、現在の設定値を一つ前段階の設定値に戻し、より緩やかになるような変動割合となるよう刻みの値、ｗａｉｔ値を変更する。その後、目標値への変動を継続する。

次にリトライ制御について説明する。処理部１４は、テスト結果が異常である場合、より緩やかな変動割合となる刻みの値、ｗａｉｔ値で再試行する。この再施行によって、処理部１４は、異常状態が設定値に起因するものか急激な変動に起因するものかを切り分けることができる。

さらに、電圧変動制御部１２は、電圧変動の開始／停止処理、ｗａｉｔ値の時間中に待機する処理（ｗａｉｔ処理）、および設定値を算出し、算出した設定値を電圧変動対象に設定する指示をテストプログラム２に対して出力する処理（設定処理）を行う。

また、電圧変動制御部１２は、主に以下のデータを使用する。
１．電圧変動指示部１１を通して得られる目標値、および変動制御に使用する刻みの値、ｗａｉｔ値に関するデータ（以下、刻みの値、ｗａｉｔ値を変動変数と称す）。
２．テストプログラム２より得られる、電圧変動対象の現在の電圧値（現在値）、および電圧変動対象の正常／異常／警告の状態。
３．電圧マージン制御データベース１３より得られる、電圧マージン試験を実施した際のリトライした回数を示すリトライ変数およびリトライできる回数の閾値であるリトライ閾値。
４．電圧マージン制御データベース１３より得られる、電圧変動制御を実施時に過去に異常が発生した電圧の設定値である異常発生値。
５．電圧マージン制御データベース１３より得られる、変動回数の閾値である変動閾値。
また、処理部１４は、設定処理にて算出された設定値をテストプログラム２に出力する。

次に、電圧変動制御部１２の処理を図３のフローチャートに示すとともに説明する。

まず、電圧変動制御部１２は、電圧制御に伴う初期パラメータを取得する（Ｓ１）。具体的に記すと、電圧変動制御部１２は、電圧変動指示部１１から目標値、および変動変数の初期値（刻みの初期値、ｗａｉｔ値の初期値、および刻みの最小値）を取得し、電圧マージン制御データベース１３からリトライ変数、異常発生値、リトライ閾値、変動閾値を取得する。

次に、電圧変動制御部１２は、電圧変動対象の現在値をテストプログラム２から取得する（Ｓ２）。

続いて電圧変動制御部１２は、電圧変動対象の現在の電圧値における状態を、テストプログラム２から取得し（Ｓ３）、目標値と現在値とに差があるかを判定する（Ｓ４）。ここで、目標値と現在値とに差がある場合（Ｓ４、Ｙｅｓ）、電圧変動制御部１２は、電圧が変動した回数である変動回数が閾値（変動閾値）を超えているか否かの判定を行う（Ｓ５）。

変動回数が変動閾値を超えていない場合（Ｓ５、Ｎｏ）、電圧変動制御部１２は、変動変数の算出処理を行い（Ｓ６）、リトライ変数の算出処理を行う（Ｓ７）。尚、Ｓ６、Ｓ７の処理の詳細は後述する。

電圧変動制御部１２は、Ｓ７で算出されたリトライ変数が閾値（リトライ閾値）を超えているか否かの判定を行い（Ｓ８）、リトライ変数が閾値を超えていない場合（Ｓ８、Ｎｏ）、電圧変動制御部１２は現在設定されているｗａｉｔ値の期間中待機する（Ｓ９）。

ｗａｉｔ値の期間待機後、電圧変動制御部１２は、Ｓ６で算出した設定値（第２電圧値）を、電圧変動対象が稼動すべき電圧値（第１電圧値）としてテストプログラム２に出力する（Ｓ１０）。電圧変動制御部１２は、テストプログラム２が設定値の値で電圧マージン試験を実施した後に再度Ｓ２からの処理を実施する（Ｓ１０からＳ２へのループ）。

尚、変動回数が変動閾値を超えた場合（Ｓ５、Ｙｅｓ）、またリトライ変数がリトライ閾値を超えた場合（Ｓ８、Ｙｅｓ）、電圧変動制御部１２は、エラー終了の結果を電圧変動指示部１１へ出力し（Ｓ１２）、処理は終了する。

また、目標値と現在値とに差がない場合（Ｓ４、Ｎｏ）、電圧変動制御部１２は、さらにテスト結果が異常状態であるか否かを判定し（Ｓ１１）、異常状態でない場合（Ｓ１１、Ｎｏ）、正常終了の結果を電圧変動指示部１１へ出力する（Ｓ１３）。また、テスト結果が異常状態である場合（Ｓ１１、Ｙｅｓ）、処理はＳ５へ進む。

次に、変動変数の算出処理（上述のＳ６）の詳細を図４のフローチャートに基づき説明する。電圧変動制御部１２は、変動変数の算出処理として、設定値の算出処理、および電圧変動の刻みの値、ｗａｉｔ値の変更処理を行う。

電圧変動制御部１２は、テストプログラム２から取得したテスト結果が異常状態であるか否かを判定する（Ｓ２１）。ここで、異常状態である場合（Ｓ２１、Ｙｅｓ）、電圧変動制御部１２は、異常状態となった電圧値でリトライするために、また変更後の電圧値による異常状態なのか電圧値が急激に変動したことによる異常状態なのかを切り分けるため、設定値を一段階前の値に戻す。よって電圧変動制御部１２は、
設定値 ＝ 現在の設定値 − 刻みの値
として設定値を再度算出する（Ｓ２２）。

次に、電圧変動制御部１２は、急激な変動に起因する異常状態の可能性もあるため、より緩やかな変動割合になるよう刻みの値、ｗａｉｔ値を変更する（Ｓ２３）。尚、Ｓ２３の詳細は後述する。

一方、テストプログラム２から取得したテスト結果が異常状態でない場合（Ｓ２１、Ｎｏ）、電圧変動制御部１２は、テスト結果が警告状態であるかを判定する（Ｓ２４）。ここで、テスト結果が警告状態である場合（Ｓ２４、Ｙｅｓ）、このまま現状の変動割合でテストを継続すると変動に起因する警告もしくは異常が発生する可能性があるため、より緩やかな変動割合となるよう変動割合を変更する（Ｓ２５）。Ｓ２５の詳細は後述する。

電圧変動制御部１２は、設定値を目標値へ刻みの値分進めた値にする（Ｓ２６）。設定値の算出は以下の通りである。
設定値 ＝ 現在値 ＋ 刻みの値
ただし、刻みの値はＳ２５の処理により、変更されている場合もある。

また、Ｓ２４の判定で状態が警告でない場合（Ｓ２４、Ｎｏ）、電圧変動制御部１２はテスト結果が正常状態であるため現状の変動割合で継続してテストを行う。よって、電圧変動制御部１２は、Ｓ２５をスキップし、設定値を目標値へ刻みの値分進めた値とする（Ｓ２６）。

次に、上述のＳ２３、Ｓ２５の処理である刻みの値、ｗａｉｔ値の変更処理（変動割合変更処理）を図５のフローチャートを参照しつつ説明する。

電圧変動制御部１２は、現在の刻みの値は、電圧変動指示部１１から取得した刻みの値についての最小値であるかを判定する（Ｓ３１）。ここで、刻みの値が最小値でない場合（Ｓ３１、Ｎｏ）、電圧変動制御部１２は刻みの値を、より細かく（小さく）なるように刻みの値を変更する（Ｓ３２）。他方、刻みの値が最小値である場合（Ｓ３１、Ｙｅｓ）、電圧変動制御部１２は、ｗａｉｔ値を待機時間が延びるように変更する（Ｓ３３）。

このように、刻みの値が最小値となるまでは、刻みの値を小さくすることで変動割合をより緩やかに（小さく）することができ、また刻みが最小値となった場合は、現在の時間から次の段階までの待機時間であるｗａｉｔ値を大きくすることで、より緩やかな変動割合とすることができる。

図６に変動割合変更のタイムチャートを示す。尚、図６は横軸に時間、縦軸に現在値としている。尚、縦軸の一目盛り分が刻みの最小値であり、また、矢印で示した傾きａからｅが変動割合を示している。

まず、初期の変動割合ａは、刻みの値が４目盛り、ｗａｉｔ値が２目盛りであり、傾きが大きい状態である（以下、ｗａｉｔ値に関しては待機時間が短い／長いと表記する。）。ここで、電圧変動制御部１２が図５で示した変更処理を行い、Ｓ３２の処理が行われることで変動割合はａからｂのようになる。すなわち、刻み幅が半分と小さくなることで傾きが緩やか（小さく）になる。

次に、再度図５で示した変更処理が行われ、Ｓ３２の処理が行われると、変動割合はｃの状態となり、刻み幅がさらに半分となり、傾き（変動割合）がさらに緩やかになる。尚、ここで刻み幅は一目盛り分となり最小値となる。

再度図５で示した変更処理がなされた場合、刻みの値が既に最小なためＳ３３の処理がなされる。電圧変動制御部１２は、Ｓ３３にて待機時間を延ばす（図６の例ではｗａｉｔ値を２倍にする）ことで変動割合はｄの状態となり、傾きが更に緩やかになる。変動割合ｄから変動割合ｅへの傾き変更も同様である。

このように変動割合が変更されることで、急激な電圧変動に起因する異常状態を除去することができる。すなわち、処理がエラー終了として通知された場合は、電圧変更後の電圧値によって生じた異常状態とすることができる。

次に、リトライ変数算出処理（Ｓ７）の詳細を図７のフローチャートを参照しつつ説明する。尚、リトライ変数算出処理は、変動制御を実施時に過去に異常が発生した電圧の設定値である異常発生値を算出し、また異常が発生した際、より緩やかな変動で再試行する試行回数であるリトライ変数を算出する。

電圧変動制御部１２は、テストプログラム２から取得したテスト結果が異常状態であるか否かを判定する（Ｓ４１）。ここで、テスト結果が異常状態である場合（Ｓ４１、Ｙｅｓ）、電圧変動制御部１２は異常発生値へ現在値を格納し（Ｓ４２）、現在のリトライ変数に１加算する（Ｓ４３）。

一方、テスト結果が警告状態または正常状態である場合（Ｓ４１、Ｎｏ）、電圧変動制御部１２は、電圧の現在値が異常発生値と同値であるか否かを判定する（Ｓ４４）。ここで、同値である場合（Ｓ４４、Ｙｅｓ）、電圧変動制御部１２は異常発生値を例えば値を設定しない等、無効なものに変更することにより無効化し（Ｓ４５）、リトライ変数を０に初期化する（Ｓ４６）。

尚、同値でないと判定された場合（Ｓ４４、Ｎｏ）、そのまま次ステップへ進む（Ｓ８へ）。

図８、図９で、上述までの電圧変動制御の処理を実施した際の、時間遷移および各種データ値の遷移の一例を示す。尚、図８は、電圧変動試験が正常終了したケースの例であり、図８（ａ）は、横軸に時間、縦軸に現在値としたタイムチャートである。また図８（ｂ）は図８（ａ）の時間軸に対応した各種データの値を示している。尚、図８（ｂ）において、目標値、現在値、設定値、異常発生値は、当該電圧変動対象の規定の電圧値を０とした場合の差分を示している。

電圧変動制御部１２は、変数の初期値として以下を得ているものとする。また、リトライ変数、変動回数も共に０から開始するものとする。
・目標値：１５
・刻みの初期値：４
・刻みの最小値：１
・ｗａｉｔ値の初期値：１
・リトライ閾値：３
・変動閾値：３０

以下、特徴となる箇所のみを言及して時間遷移、データの遷移について説明する。

変動回数が「０」の場合（変動開始）、指示された目標値「１５」に対して、現在値が「０」であり、差分がある。また、状態は正常であるため次設定値は現在値に刻みを足して「４」となる。さらに、電圧変動制御部１２はｗａｉｔ値「１」の期間待機後、算出した設定値「４」をテストプログラム２に出力する。

変動回数が「２」の場合、状態が警告となったため、電圧変動制御部１２は刻みを半分の「２」とする。次設定値は、現在値に刻み「２」を足して「１０」となり、電圧変動制御部１２はｗａｉｔ値の「１」の期間待機の後、算出した設定値をテストプログラム２に出力する。

変動回数が「４」の場合、状態は警告であり、かつ刻みは最小の「１」である。次設定値は、現在値に刻みの値「１」を足して「１２」となる。ｗａｉｔ値は２倍の「２」となり、電圧変動制御部１２はｗａｉｔ値の期間待機後、算出した設定値をテストプログラム２に出力する。

変動回数が「５」の場合、状態が異常となったため次設定値は現在値から刻みの値分を減算し「１１」となる。リトライ変数はインクリメントされ「１」となり、異常発生値は現在値の「１２」となる。ｗａｉｔ値は２倍の「４」となり、電圧変動制御部１２はｗａｉｔ値の期間待機後、算出した設定値をテストプログラム２に出力する。

変動回数が「６」の場合、状態は正常となったため次設定値は現在値から刻みの値分を加算し「１２」となる。電圧変動制御部１２はｗａｉｔ値の期間待機後、算出した設定値をテストプログラム２に出力する。

変動回数が「７」の場合、状態は正常であるので次設定値は現在値から刻み分を加算し「１３」となる。電圧変動制御部１２は、現在値が異常発生値と等しいので、リトライ回数の初期化および異常発生の無効化を行う。その後、電圧変動制御部１２はｗａｉｔ値の期間待機後、算出した設定値をテストプログラム２に出力する。

変動回数が「１０」の場合、目標値の「１５」に対して、現在値が「１５」と差分が無くなる。状態は「正常」であるので、正常終了の結果が出力される。

次に、電圧変動制御の異常終了のケースについて、図９を参照しつつ説明する。尚、図８と同様に図９（ａ）は、横軸に時間、縦軸に電圧の現在値としたタイムチャートであり、図９（ｂ）は図９（ａ）の時間軸に対応した各種データの値を示している。尚、図９（ｂ）において、目標値、現在値、設定値、異常発生値は、図８（ｂ）同様当該電圧変動対象の規定の電圧値を０とした場合の差分を示している。

変数の初期値は上述の正常終了のケースと同様であるものとして説明する。また、以下の説明においても特徴となる箇所のみを言及して説明する。

変動回数が「７」の場合、状態は異常であるため次設定値は現在値から刻みを減算し「１１」となる。電圧変動制御部１２は、リトライ変数を１インクリメントすることで「２」とし、異常発生値を現在値の「１２」とする。また、電圧変動制御部１２は、ｗａｉｔ値を２倍の「８」とし、ｗａｉｔ値の期間待機後、算出した設定値をテストプログラム２に出力する。

変動回数が「１１」の場合、状態は異常であるため次設定値は現在値から刻みを減算し「１１」となる。電圧変動制御部１２は、リトライ変数を１インクリメントすることで「４」とする。その結果、リトライ回数がリトライ閾値を越えることとなり異常終了となる。

このように、電圧変動制御部１２は、変動の正常／異常終了を判定することができ、急激な変動による不良の発生を抑えることができる。また電圧変動制御部１２は、リトライ制御により、異常が変動に起因するものか変動後の電圧値に起因するものかを切り分けることができる。

続いて、電圧変動指示部１１の処理を図１０のフローチャートを参照しつつ説明する。

電圧変動指示部１１は、まず、電圧マージン試験の対象である電圧変動対象の指定、および電圧変動対象毎の目標値を外部端末４００より取得する（Ｓ５１）。電圧変動指示部１１は、電圧変動対象のテスト順位、電圧変動対象毎の変動変数を電圧マージン制御データベース１３から取得する（Ｓ５２）。

次に電圧変動指示部１１は、全ての電圧変動対象に対し電圧マージン試験が終了したか否かを判定する（Ｓ５３）。全ての電圧変動対象が終了していない場合（Ｓ５３、Ｎｏ）、電圧変動指示部１１は、取得した電圧変動対象のテスト順位に基づき次にテストを実施する電圧変動対象を特定し、当該電圧変動対象に対しテストを実施するようテストプログラム２を起動する（Ｓ５４）。

次に、電圧変動指示部１１は、電圧変動制御部１２に対し電圧変動対象の目標値、変動変数を制御指示と共に出力する（Ｓ５５）。

電圧変動指示部１１は、電圧マージン試験（上述の電圧変動制御部１２の処理）が実施された後、電圧変動対象に対するテスト終了処理を行う（Ｓ５６）。Ｓ５６の処理の詳細を説明すると、電圧変動指示部１１は、その結果（正常終了／エラー終了）を電圧変動制御部１２から取得し、テストプログラム２を終了させ、電圧マージン制御データベース１３へ結果を格納する。また、電圧変動指示部１１は、未だ電圧マージン試験を実施していない電圧変動対象に切り替える（Ｓ５６）。

Ｓ５６の終了処理を行った後、電圧変動指示部１１は、処理をＳ５３へ戻し電圧変動対象の全てに対し電圧マージン試験を実施したかの判定を行う（Ｓ５３）。ここで未だ電圧マージン試験を実施していない電圧変動対象がある場合（Ｓ５３、Ｎｏ）、未実施の電圧変動対象に対し電圧マージン試験を実施する（Ｓ５４へ）。また、全ての変動対象に対し試験を実施した場合（Ｓ５３、Ｙｅｓ）、電圧変動指示部１１は、電圧マージン制御データベース１３に対し例えば正常終了した数／エラー終了した数の集計値等、電圧マージン試験の結果を格納するとともに、呼び出し元である外部端末４００へ正常終了またはエラー終了のいずれかの試験結果を返す（Ｓ５７）。

次に、テストプログラム２の構成を図１１に示す。テストプログラム２は、テスト起動／停止処理２１、テスト処理２２、および状態返信処理２３をコンピュータに実行させる。

テスト起動／停止処理２１は、電圧変動対象に関する情報を電圧変動指示部１１より取得し、電圧変動対象に対応したテスト起動および停止を行う。テスト処理２２は、テスト実施中に随時電圧変動制御部１２から送信される設定値で電圧変動対象が稼動したときの状態（正常／警告／異常）を判定する。具体的には、電圧マージン試験対象のハードウェアコンポーネント内の電圧変動対象毎に状態を採取し、正常／警告／異常の判定を行う。状態返信処理２３は、電圧変動制御部１２からの状態の問い合わせ要求に応答して、当該電圧変動対象の状態、および現在の電圧値（現在値）を電圧変動制御部１２へ返信する。

テスト処理２２の処理について詳説する。テスト処理２２は、例えばＳＢ０(番号０のシステムボード)のハードウェアコンポーネントが電圧マージン試験対象である場合、電圧変動対象のＣＰＵ（ＤＤＣ０等）、ＤＩＭＭ（Dual-Inline Memory Module）（ＤＤＣ１等）、その他のＬＳＩ（ＤＤＣ２等）毎に状態を採取し、状態を判断する。

テスト処理２２は、電圧変動対象毎にテスト内容は異なるが、テスト結果として電圧変動対象の状態を正常状態、警告状態および異常状態のうちどの状態か判定する。テストは、基本的には電圧変動対象に対してテストデータの書き込みを行い、書き込み済となったデータに対し読み出しを行い、読み出したデータと期待値データとを比較することで行われる。ただし、テストデータの書き込みは、電圧マージン試験対象のＳＢ上で動作するＯＳ配下の電圧値のテストプログラム２への影響を考慮する必要がある。

ここで、一例として、電圧変動対象がＣＰＵ、ＤＩＭＭである場合の警告／異常／正常の判断基準について示す。

ＣＰＵ（ＤＤＣ０等）やＤＩＭＭ（ＤＤＣ１等）に関するテストは、ＥＣＣ(Error Connecting Code)を使用する。ＣＰＵならびにＤＩＭＭについては、電圧変動のためのテストデータの書き込みは、ＳＢ上のＯＳならびにＯＳ配下のテストプログラム２の動作に影響を与える可能性がある。よって、テストプログラム２は、データの読み込みおよびデータの読み込み時にＥＣＣを判定することで状態を判断する。

テスト処理２２は、所定の電圧値でＥＣＣのビット誤りの検出が無い場合は、正常状態と判断し、ＥＣＣで１ビット誤りを検出した場合は、警告状態と判断する。ＥＣＣ機能により１ビット誤りは訂正されており、ＯＳならびにＯＳ配下のテストプログラム２は問題無く動作している可能性がある。ただし、電圧変動もしくは電圧値に起因する異常が起こる可能性が正常状態に比べ高くなったと判断できる。

テスト処理２２は、ＥＣＣで２ビット誤り以上の複数ビット誤りの検出があった場合は、異常状態と判断する。２ビット誤り以上の複数ビット誤りについては、ＥＣＣで検出はできるが訂正不可であり、ＯＳおよびＯＳ配下のテストプログラム２に動作異常が出ている場合がある。この異常は、変動に起因するものか変動後の電圧値に因るものか切り分ける必要がある。

尚、他のＬＳＩ等、電圧変動対象の電圧供給先毎にテスト内容およびテスト結果および状態の判定方法は異なるが、テスト処理２２は、電圧変動もしくは電圧値による影響無く動作している状態を正常状態、影響が出始めた、または影響が出る可能性が高まったと判断できる状態を警告状態、影響が出ている状態を異常状態と判断する。

次に、テストプログラム２の処理を図１２のフローチャートに示すとともに説明する。

テスト起動／停止処理２１は、電圧変動対象をテスト開始指示とともに電圧変動指示部１１から取得し、また設定値を電圧変動制御部１２から取得し、当該電圧変動対象に対しテスト処理を開始する（Ｓ６１）。ここで、テスト起動／停止処理２１は、テスト終了指示を電圧変動指示部１１から受けているかの判定を行う（Ｓ６２）。ここで、テスト終了指示を受けていない場合（Ｓ６２、Ｎｏ）、テスト処理２２は、電圧変動対象に対し設定値の電圧でのテストを行い、テスト結果である判断状態（正常／警告／異常）を更新する（Ｓ６３）。

ここで、状態返信処理２３は、テスト結果の問い合わせ要求が電圧変動制御部１２からあった場合（Ｓ６４、Ｙｅｓ）、状態返信処理２３は、テスト処理２２によるテスト結果を電圧変動制御部１２へ返信し（Ｓ６５）、処理はＳ６２へ戻る。

一方、テスト結果の問い合わせ要求が無い場合（Ｓ６４、Ｎｏ）、処理はそのままＳ６２へ戻る。また、Ｓ６２の時点でテスト終了指示を受けた、または既に受けていた場合（Ｓ６２、Ｙｅｓ）、テストプログラム２はテストを終了する（Ｓ６６）。

実施の形態１は、電圧マージンの上限値まで電圧を増加させることができるかを試験するものとして説明したが、電圧マージンの下限値まで電圧を減少させることができるかの試験においても適用できる。すなわち、Ｓ２２で「設定値＝現在値＋刻みの値」として設定値を算出し、またＳ２６で「設定値＝現在値−刻みの値」として設定値を算出する。

（実施の形態２）
上述の実施の形態１では、情報処理装置内にテストプログラム２、電圧マージン制御部１を備え、当該情報処理装置内の電圧変動対象に対し電圧マージン試験を行うものとして説明したが、試験対象の情報処理装置の外部のシステムに電圧マージン制御の機能を持たせる実装も可能である。実施の形態２では、試験対象である情報処理装置および電圧マージン制御を行う外部システムを備えた電圧マージン試験システムについて説明する。

まず、図１３に実施の形態２における電圧マージン試験システムを示す。実施の形態２で示す電圧マージン試験システム２００（許容電圧試験システム）は、電圧マージン制御を電圧マージン試験対象の情報処理装置４とは別の外部システム３（試験装置）で動作するものとして実現した。尚、図１３において上述の実施の形態１で説明した同一番号の部位は、同様であるためここでの説明は割愛する。

試験対象である情報処理装置４は、電源マージン試験用の電源制御ファームウェア４１を備える。電源制御ファームウェア４１は、ＬＡＮ（Local Area Network）５を介して電圧制御指示、テスト結果を通信するインタフェイスであるＬＡＮコマンド受信部４２と、ハードウェアインターフェイス４４と、テストプログラム２を実行する制御部４３とを、ＣＰＵ、メモリ、ＬＡＮ接続装置等のハードウェア資源と協働することで実現する。

ＬＡＮコマンド受信部４２は、ＬＡＮ５を介して情報処理装置４へのアクセス認証や電圧制御指示を受信し、テスト結果を外部システム３へ返信する。

ハードウェアインタフェイス４４は、情報処理装置４内のハードウェアを直接制御する。

一方、外部システム３は電圧マージン制御プログラム３１を備える。電圧マージン制御プログラム３１は、ＨＭＩ部３２（ＨＭＩ：Ｈｕｍａｎ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）、電圧マージン制御部１、ＬＡＮコマンド送信部３３を、後述するハードウェア構成の各部位と協働することで実現する。

ＬＡＮコマンド送信部３３は、ＬＡＮ５を介してアクセス認証や電圧制御指示を情報処理装置４へ送信し、テスト結果を情報処理装置４から受信する。

ＨＭＩ部３２は、電圧マージン試験実施者の入力指示を、後述する入出力装置３７を通して受け、電圧マージン試験の結果を入出力装置３７へ出力する。

電圧マージン制御部１は、ＨＭＩ部３２より電圧値の設定指示を受け、上述の実施の形態１にて説明した電圧変動の制御を実施し、テスト結果をＨＭＩ部３２へ返す。

電圧マージン制御部１は、上述の実施の形態１で説明した電圧変動指示部１１、電圧変動制御部１２におけるテストプログラム２との通信機能以外に対応する。尚、通信機能はＬＡＮコマンド送信部３３が担う。

次に、外部システム３のハードウェア構成を図１４に示す。外部システム３は、ＣＰＵ３４、揮発性な一次記憶装置であるメモリ３５、フラッシュメモリやハードディスク装置等、不揮発性な記憶装置である二次記憶装置３６を備える。また外部システム３は、例えばモニター、プリンタ、キーボード、マウス等の入出力装置３７を備え、ＬＡＮカード等、外部との通信を行う際の通信手段であるＬＡＮ接続装置３８を備える。尚、試験対象である情報処理装置４も図１４と同様のハードウェア構成であってもよいし、また図１６にて示した複数のＳＢを備える構成であってもよい。

次に、電圧マージン試験を実施する場合の各部位の動作の一例を図１５のフローチャートに基づき説明する。

まず、試験対象である情報処理装置４の電源が投入される（Ｓ７１）。

電圧マージン試験のオペレータがＨＭＩ部３２を使用することで、電圧の設定値を外部システム３へ指示する。また、ＨＭＩ部３２は、指示を取得し、電圧マージン制御部１に対して、設定指示を出す。

電圧マージン制御部１は、ＨＭＩ部３２からの指示を受け、テストプログラム２に対し設定指示を出すとともに電圧マージン変動制御開始する（Ｓ７２、Ｓ７３）。電圧マージン制御部１は、電圧マージン変動制御の開始時に、ＬＡＮコマンド送信部３３に以下コマンド発行する。
Set＿Voltage＿Test＿On [電圧変動対象]

テストプログラム２はＬＡＮコマンド受信部４２を介して、コマンドの引数として取得した電圧変動対象に対しテストを開始する。尚、テストプログラム２は、指定された電圧変動対象に対応するハードウェアインターフェイスに電圧制御指示をすることでテストを行う。

Ｓ７２、Ｓ７３について詳説する。電圧マージン制御部１は、電圧マージン変動制御の変動中においてはＬＡＮコマンド送信部３３、およびＬＡＮコマンド受信部４２を介してに以下コマンドをテストプログラム２に発行する。
Get＿Voltage＿Margin [電圧変動対象]
Get＿Voltage＿Test＿Result [電圧変動対象]
Set＿Voltage＿Margin [電圧変動対象,設定値]
尚、Get＿Voltage＿Marginはコマンド引数の電圧変動対象の電圧値を取得するコマンドであり、Get＿Voltage＿Test＿Resultはコマンド引数の電圧変動対象におけるテスト結果（正常／警告／異常）を取得するコマンドである。またSet＿Voltage＿Marginはコマンド引数の電圧変動対象に対し、コマンド引数の設定値の電圧を設定するコマンドである。

コマンドを取得したテストプログラム２は、指定された電圧変動対象のハードウェアインターフェイス４４に対し電圧制御指示を行いながら処理をする。

上述の処理を実行した後、電圧マージン制御部１は、次の電圧マージン試験値の有無を判定する（Ｓ７４）。ここで試験値がある場合はＳ７２に戻る。

試験値がない場合（Ｓ７４、Ｎｏ）、試験対象の電源切断がなされ、処理は終了する（Ｓ７５）。処理終了の際、電圧マージン制御部１は、ＬＡＮコマンド送信部３３、ＬＡＮコマンド受信部４２を介してテストプログラム２に以下コマンド発行する。
Get＿Voltage＿Test＿Result［電圧変動対象］
Set＿Voltage＿Test＿Off [電圧変動対象]
尚、Get＿Voltage＿Test＿Resultは電圧変動対象のテスト結果を取得するコマンドであり、Set＿Voltage＿Test＿Offはテストを終了するコマンドである。

本実施の形態の効果を以下に示す。

本実施の形態によって、電源オン状態のまま、装置の電圧マージンを変動することが可能となるため、電源の投入／切断は必要なくなる。また電圧マージン試験の時間が短縮できる。

本実施の形態によって、電源オン状態のまま電圧マージンを変動することが可能な制御機能を、装置内の電源制御部のファームウェアの機能として実現するより低コストで実現できる。

本実施の形態によって、電源オン状態のまま電圧マージンを変動することが可能なハードウェアで構成するより低コストで実現できる。

本実施の形態によって、装置内の電源制御部の電源投入シーケンス制御内で電圧マージン制御する場合に比べ、電源投入が高速化できる。

本実施の形態によって、電圧マージン試験を専用の冶具／システムの使用や装置の物理的変更無しに実現できるため、試験の自動化およびミスの防止を図れる。

また、電源オン状態のまま電圧マージンを変動することが可能な制御機能は、装置の出荷試験時に使用するための機能であるにもかかわらず、装置内の電源制御ファームウェアの機能として盛り込むと装置電源制御部内のＣＰＵ、メモリおよびファームウェア格納領域の資源を消費するという問題があった。電源オン状態のまま電圧マージンを変化させることが可能な制御機能を、装置の外の機能としているため、該当制御に不具合があった場合も、装置を修正することが無いため、不具合への対処が低コストで実現できる。

尚、テスト実施部は、本実施の形態におけるテストプログラム２が情報処理装置内部に備えられたＣＰＵ、メモリ等のハードウェア資源と協働することで実現される。また、変動割合変更部、電圧値設定部は、本実施の形態における電圧変動制御部１２に対応する。また、指示部は、本実施の形態におけるＨＭＩ部３２に対応する。

以上、本実施の形態によれば、以下の付記で示す技術的思想が開示されている。
（付記１） 対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施部と、
前記テスト実施部による判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更部と、
前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として前記テスト実施部に出力する電圧値設定部と、
を備える情報処理装置。
（付記２） 付記１に記載の情報処理装置において、
前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部による判定結果が正常である場合、電圧値差分、および時間差分を変更しないことを特徴とする情報処理装置。
（付記３） 付記１に記載の情報処理装置において、
前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部による判定結果が異常である場合、前記第１電圧値の一つ前の段階の電圧値に戻した後に、電圧値差分もしくは時間差分を変更することを特徴とする情報処理装置。
（付記４） 付記１に記載の情報処理装置において、
前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部での判定結果が異常である場合、異常となった回数に１加算し、該回数が所定の閾値に達した場合、エラー終了通知をすることを特徴とする情報処理装置。
（付記５） 付記４に記載の情報処理装置において、
前記変動割合変更部は、さらに、前記第１電圧値が目標値に達し、かつ前記テスト実施部による判定結果が異常でない場合、正常終了通知をすることを特徴とする情報処理装置。
（付記６） 付記５に記載の情報処理装置において、
さらに、外部から処理開始の指示を受け付け、前記テスト実施部に前記処理開始の指示を送信し、前記正常終了通知または前記エラー終了通知を取得し前記外部へ送信する電圧変動指示部を備えることを特徴とする情報処理装置。
（付記７） 情報処理装置であって、
該情報処理装置内の対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施部を備えた情報処理装置と、
試験装置であって、
前記テスト実施部による判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更部と、
前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として前記情報処理装置内のテスト実施部に出力する電圧値設定部と、
を備えた試験装置と、
を備える許容電圧試験システム。
（付記８） 付記７に記載の許容電圧試験システムにおいて、
前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部による判定結果が正常である場合、電圧値差分、および時間差分を変更しないことを特徴とする許容電圧試験システム。
（付記９） 付記７に記載の許容電圧試験システムにおいて、
前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部による判定結果が異常である場合、前記第１電圧値の一つ前の段階の電圧値に戻した後に、電圧値差分もしくは時間差分を変更することを特徴とする許容電圧試験システム。
（付記１０） 付記７に記載の許容電圧試験システムにおいて、
前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部での判定結果が異常である場合、異常となった回数に１加算し、該回数が所定の閾値に達した場合、エラー終了通知をすることを特徴とする許容電圧試験システム。
（付記１１） 付記１０に記載の許容電圧試験システムにおいて、
前記変動割合変更部は、さらに、前記第１電圧値が目標値に達し、かつ前記テスト実施部による判定結果が異常でない場合、正常終了通知をすることを特徴とする許容電圧試験システム。
（付記１２） 付記１１に記載の電圧マージン試験システムにおいて、
さらに、ユーザからの処理開始の指示を受け付け、前記テスト実施部に前記処理開始の指示を送信し、前記正常終了通知または前記エラー終了通知を取得しユーザに通知する指示部を備えることを特徴とする許容電圧試験システム。
（付記１３） 対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施ステップと、
前記テスト実施ステップによる判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更ステップと、
前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として設定し、前記テスト実施ステップを実行する電圧値設定ステップと、
を実行する許容電圧試験方法。
（付記１４） 付記１３に記載の許容電圧試験方法において、
前記変動割合変更ステップは、さらに、前記テスト実施ステップによる判定結果が正常である場合、電圧値差分、および時間差分を変更しないことを特徴とする許容電圧試験方法。
（付記１５） 付記１３に記載の許容電圧試験方法において、
前記変動割合変更ステップは、さらに、前記テスト実施ステップによる判定結果が異常である場合、前記第１電圧値の一つ前の段階の電圧値に戻した後に、電圧値差分もしくは時間差分を変更することを特徴とする許容電圧試験方法。
（付記１６） 付記１３に記載の許容電圧試験方法において、
前記変動割合変更ステップは、さらに、前記テスト実施ステップでの判定結果が異常である場合、異常となった回数に１加算し、該回数が所定の閾値に達した場合、エラー終了通知をすることを特徴とする許容電圧試験方法。
（付記１７） 付記１６に記載の許容電圧試験方法において、
前記変動割合変更ステップは、さらに、前記第１電圧値が目標値に達し、かつ前記テスト実施ステップによる判定結果が異常でない場合、正常終了通知をすることを特徴とする許容電圧試験方法。
（付記１８） 付記１７に記載の許容電圧試験方法において、
さらに、外部から処理開始の指示を受け付け、前記テスト実施ステップを実行し、前記正常終了通知または前記エラー終了通知を取得し前記外部へ送信する電圧変動指示ステップを備えることを特徴とする許容電圧試験方法。

実施の形態１に係る情報処理装置の構成の一例を示す図である。 実施の形態１に係る電圧変動制御部の構成の一例を示す図である。 実施の形態１に係る情報処理装置の動作の一例を示すフローチャートである。 実施の形態１に係る変動変数の算出処理の一例を示すフローチャートである。 実施の形態１に係る刻み値、ｗａｉｔ値の変更処理の一例を示すフローチャートである。 実施の形態１に係る変動割合変更のタイムチャートの一例を示す図である。 実施の形態１に係るリトライ変数算出処理の詳細例を示すフローチャートである。 実施の形態１に係る電圧変動制御の処理を行った際の時間遷移および各種値の一例を示す図である（正常終了）。 実施の形態１に係る電圧変動制御の処理を行った際の時間遷移および各種値の一例を示す図である（エラー終了）。 実施の形態１に係る電圧変動指示部の処理の一例を示すフローチャートである。 実施の形態１に係るテストプログラムの構成を示す図である。 実施の形態１に係るテストプログラムの処理の一例を示すフローチャートである。 実施の形態２に係る電圧マージン試験システムの構成を示す図である。 実施の形態２に係る外部システムのハードウェア構成を示す図である。 実施の形態２に係る電圧マージン試験を実施する場合の各部位の動作の一例を示すフローチャートである。 従来の一つの筐体が複数コンポーネントから構成される情報処理装置の構成を示す図である。 ＳＢの電力供給に関するハードウェアコンポーネントの構成を示す図である。 従来の電源制御ファームウェアの構成を示す図である。 従来の電圧マージン試験の処理を示すフローチャートである。

符号の説明

１ 電圧マージン制御部、２ テストプログラム、３ 外部システム、４ 情報処理装置、５ ＬＡＮ、１１ 電圧変動指示部、１２ 電圧変動制御部、１３ 電圧マージン制御データベース、１４ 処理部、３１ 電圧マージン制御プログラム、３２ ＨＭＩ部、３３ ＬＡＮコマンド送信部、３４ ＣＰＵ、３５ メモリ、３６ 二次記憶装置、３７ 入出力装置、３８ ＬＡＮ接続装置、４１ 電源制御ファームウェア、４２ ＬＡＮコマンド受信部、４３ 制御部、４４ ハードウェアインターフェイス、１００ 情報処理装置、２００電圧マージン試験システム、４００ 外部端末。

Claims (7)

1. 対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施部と、
   前記テスト実施部による判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更部と、
   前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として前記テスト実施部に出力する電圧値設定部と、
   を備える情報処理装置。
2. 請求項１に記載の情報処理装置において、
   前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部による判定結果が正常である場合、電圧値差分、および時間差分を変更しないことを特徴とする情報処理装置。
3. 請求項１に記載の情報処理装置において、
   前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部による判定結果が異常である場合、前記第１電圧値の一つ前の段階の電圧値に戻した後に、電圧値差分もしくは時間差分を変更することを特徴とする情報処理装置。
4. 請求項１に記載の情報処理装置において、
   前記変動割合変更部は、さらに、前記テスト実施部での判定結果が異常である場合、異常となった回数に１加算し、該回数が所定の閾値に達した場合、エラー終了通知をすることを特徴とする情報処理装置。
5. 請求項４に記載の情報処理装置において、
   前記変動割合変更部は、さらに、前記第１電圧値が、前記対象装置に対して指定された電圧値である目標値に達し、かつ前記テスト実施部による判定結果が異常でない場合、正常終了通知をすることを特徴とする情報処理装置。
6. 情報処理装置であって、
   該情報処理装置内の対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施部を備えた情報処理装置と、
   試験装置であって、
   前記テスト実施部による判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更部と、
   前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として前記情報処理装置内のテスト実施部に出力する電圧値設定部と、
   を備えた試験装置と、
   を備える許容電圧試験システム。
7. テスト実施部、変動割合変更部及び電圧値設定部として機能するコンピュータの許容電圧試験方法であって、
   前記テスト実施部が、対象装置が稼動する電圧値である第１電圧値を取得し、該第１電圧値の電圧で前記対象装置を稼動させ、該対象装置の稼動状態が正常、警告、異常のいずれであるか判定するテスト実施ステップと、
   前記変動割合変更部が、前記テスト実施ステップによる判定結果が警告または異常である場合、前記対象装置が次段階で稼動する電圧値と前記第１電圧値との差分である電圧値差分、もしくは現在時間から次段階の電圧値で前記対象装置を稼動させるまでの時間である時間差分を、電圧値差分を時間差分で除算した変動割合が小さくなるよう変更する変動割合変更ステップと、
   前記電圧値設定部が、前記現在時間に前記時間差分を加算した時間に達した場合、前記電圧値差分を前記第１電圧値に加算もしくは減算した第２電圧値を第１電圧値として設定し、前記テスト実施ステップを実行する電圧値設定ステップと、
   を有する許容電圧試験方法。

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