JP2005142426A - マルチチップパッケージ構造 - Google Patents
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Abstract
【課題】 同一パッケージ内に複数個の半導体素子を搭載したマルチチップパッケージモジュール構造に対し、半導体素子の全ての辺にボンディングパッドを設けることを可能にしながらも、パッドとリードフレームとの間のワイヤボンディング配線を複雑にすることなく配線密度を低下できるとともに、ワイヤボンディングの長さを短くすること、更には、半導体素子パッドから外部リード端子までの抵抗の上昇を防止し、特性損失等の影響を改善する。
【解決手段】 同一パッケージ内に搭載される2個の半導体素子2,3の搭載形態として、それぞれの端辺同士が対向しないように、各半導体素子2,3を千鳥配列とし、且つワイヤボンディング配線の複雑化を回避するために半導体素子2,3の各辺が外部リード端子の配列方向に平行となるようにする。
【選択図】 図1
【解決手段】 同一パッケージ内に搭載される2個の半導体素子2,3の搭載形態として、それぞれの端辺同士が対向しないように、各半導体素子2,3を千鳥配列とし、且つワイヤボンディング配線の複雑化を回避するために半導体素子2,3の各辺が外部リード端子の配列方向に平行となるようにする。
【選択図】 図1
Description
本発明は、同一パッケージ内に複数個の半導体素子を搭載したマルチチップパッケージモジュールの構造に関する。特に、本発明は、パッケージ内における半導体素子の配置形態の改良に関する。
従来より、半導体集積回路の高密度化、高性能化が進むにつれて、従来のワンチップパッケージ方式では十分に対応できなくなってきており、その対策として、複数個の半導体素子を1つのパッケージに収めたマルチチップパッケージ方式が開発されている。
このようなマルチチップパッケージ方式では、平面視が正方形状の各半導体素子を、その一辺同士が対向するように併設するのが一般的である。そして、この場合、この対向する一辺同士の間の領域でのボンディングワイヤの配置を容易にするために、この半導体素子の間の間隔を大きく設定し、ボンディングワイヤ配置領域を拡大させておく必要がある。しかし、これでは、パッケージの大型化を避けることができない。
この不具合を解決するマルチチップパッケージ構造として、以下の特許文献1〜3が提案されている。特許文献1には、図6に示すように、半導体素子a,aの任意の一辺の延長線と、この一辺と対向するリードフレームb,b,…の延長線とが交点を結ぶように、つまり、半導体素子a,aの任意の辺が、リードフレームb,b,…に対して傾斜するようにした構成が開示されている。
また、特許文献2には、図7(a)(b)に示すように、半導体素子a,aを搭載するチップパッドc,cが、内部リード端子d,d,…の列に対向し且つ外部リード端子e,e,…の整列方向に対して傾斜する辺を有した構造とすることが開示されている。
更に、特許文献3には、図8(a)(b)(c)に示すように、半導体素子a,a同士が対向する辺においてはボンディングパッドを配置せず、半導体素子a,aの周縁部に相当する辺のみにボンディングパッドf,f,…を設けた構成が開示されている。
特開平3−256353号公報
特開平10−41454号公報
特開平6−89962号公報
しかしながら、上述した各特許文献に開示されているマルチチップパッケージ構造では、以下に述べる不具合がある。
先ず、特許文献1の構造では、内部リード端子の形状が複雑になり、この内部リード端子と半導体素子上のボンディングパッドとを接続するためのワイヤボンディングが困難となる。
特許文献2の構造では、内部リードの形状は簡素化できるが、寸法の長い内部リードにインダクタンスが高くなる傾向のある端子のチップパッドが配列されて特性損失等の影響を受けてしまう可能性がある。
特許文献3の構造では、半導体素子同士が対向する辺にはボンディングパッドを設けないため、多数のボンディングパッドが必要な場合には半導体素子のサイズが大きくなる傾向となり、それに伴ってパッケージの大型化を招いてしまうことになる。
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、同一パッケージ内に複数個の半導体素子を搭載したマルチチップパッケージモジュールの構造に対し、半導体素子の全ての辺にボンディングパッドを設けることを可能にしながらも、パッドとリードフレームとの間のワイヤボンディング配線を複雑にすることなく配線密度を低下できるとともに、ワイヤボンディングの長さを短くすること、更には、半導体素子パッドから外部リード端子までの抵抗の上昇を防止し、特性損失等の影響を改善することにある。
−発明の概要−
上記の目的を達成するために講じられた本発明の解決手段は、同一パッケージ内に搭載される複数個の半導体素子の搭載形態として、それぞれの端辺同士が対向しないように、各半導体素子を千鳥配列とし、且つワイヤボンディング配線の複雑化を回避するために半導体素子の各辺が外部リード端子の配列方向に平行となるようにしたものである。
上記の目的を達成するために講じられた本発明の解決手段は、同一パッケージ内に搭載される複数個の半導体素子の搭載形態として、それぞれの端辺同士が対向しないように、各半導体素子を千鳥配列とし、且つワイヤボンディング配線の複雑化を回避するために半導体素子の各辺が外部リード端子の配列方向に平行となるようにしたものである。
−解決手段−
具体的に、本発明は、外周囲に複数の外部リード端子を備えた一つのパッケージ内に複数個の半導体素子を搭載するマルチチップパッケージ構造を前提とする。このマルチチップパッケージ構造に対し、各半導体素子を千鳥配列とし、且つこの半導体素子の全ての辺が、対向する外部リード端子の配列方向に対してそれぞれ略平行に延びるよう設定された構成としている。
具体的に、本発明は、外周囲に複数の外部リード端子を備えた一つのパッケージ内に複数個の半導体素子を搭載するマルチチップパッケージ構造を前提とする。このマルチチップパッケージ構造に対し、各半導体素子を千鳥配列とし、且つこの半導体素子の全ての辺が、対向する外部リード端子の配列方向に対してそれぞれ略平行に延びるよう設定された構成としている。
この特定事項により、各半導体素子の全ての辺は、他の半導体素子の辺に近接して対向することがなくなる。つまり、隣り合う半導体素子同士を近接して配置(例えば平面視が正方形状の半導体素子の角部同士が近接するように配置:図1参照)しながらも、各半導体素子の各辺とリードフレームとの間にワイヤボンディングのための領域を確保することが可能となり、この半導体素子とリードフレームとの接続が容易に行える。このため、半導体素子の全ての辺にボンディングパッドを設けた場合であっても、パッドとリードフレームとの間のワイヤボンディング配線が複雑になることがなく、且つ配線密度を低下できる。また、ワイヤボンディングの長さを適切に得ることができるので、半導体素子パッドから外部リード端子までの抵抗の上昇を防止できて特性損失等の影響を改善することができる。
また、各半導体素子の各辺とリードフレームとの間のワイヤボンディングの形態としては以下のものが掲げられる。つまり、外部リード端子に対向する半導体素子の辺が、その外部リード端子に繋がるリードフレームにリードワイヤによって接続された構成である。つまり、半導体素子の辺に沿って配列されたボンディングパッドとリードフレームの内部端である内部リード端子とをリードワイヤによって接続した構成である。これにより、ワイヤボンディング配線の複雑化を招くことがなく、配線間の密度を低下することができ、ワイヤボンディングによる接続が容易に行える。
また、互いに対向しない外部リード端子と半導体素子上のパッドとを接続するための構成としては以下のものが掲げられる。つまり、外部リード端子から延びるリードフレームが、半導体素子の各辺のうち、その外部リード端子に対向しない辺に近接する位置まで延び、そのリードフレームの内部端の配列方向を、その辺の延長方向に対して略平行に設定した構成である。これによれば、互いに対向しない外部リード端子と半導体素子上のパッドとを接続する場合であっても、リードフレームの内部端(内部リード端子)と半導体素子上のパッドとの間隔を小さくでき、この両者を接続するためのワイヤボンディングの長さを短くすることができる。
リードフレームの具体的な形状として以下のものが掲げられる。つまり、各外部リード端子から延びるリードフレームのうち、一部のリードフレームの幅寸法を、他のリードフレームの幅寸法よりも大きく設定している。このとき、幅寸法が大きく設定されたリードフレームは、電源、GND等の大電流が流れる信号、及びリードフレームで生じる特性損失等の影響がある信号に使用するパッド及び外部リード端子に接続される。これによれば、外部リード端子までの電気抵抗の上昇を抑制することが可能となり、特性損失等に対する改善を期待することができる。
更に、この幅寸法が大きく設定されたリードフレームを、半導体素子の各辺のうち、そのリードフレームが繋がる外部リード端子に対向する辺に近接する位置まで延ばした場合には、この幅寸法が大きく設定されたリードフレームの長さを極力短くすることが可能となり、外部リード端子までの電気抵抗の上昇を更に抑制することが可能となる。
本発明では、同一パッケージ内に搭載される複数個の半導体素子の搭載形態として、それぞれの端辺同士が対向しないように、各半導体素子を千鳥配列とし、且つワイヤボンディング配線の複雑化を回避するために半導体素子の各辺が外部リード端子の配列方向に平行となるようにしている。このため、半導体素子の全ての辺にボンディングパッドを設けた場合であっても、パッドとリードフレームとの間のワイヤボンディング配線が複雑になることがなく、且つ配線密度を低下できる。また、ワイヤボンディングの長さを適切に得ることができるので、半導体素子パッドから外部リード端子までの抵抗の上昇を防止できて特性損失等の影響を改善することができる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。本発明は、パッケージ内に2個の半導体素子が搭載されて構成される半導体装置に本発明を適用した場合について説明する。
(第1実施形態)
先ず、図1を用いて第1実施形態について説明する。図1は、本形態に係る半導体装置の内部構成を示す平面図である。この図に示すように、本半導体装置は、モールド樹脂で成る図示しないパッケージの中央部にチップ台1が設けられ、このチップ台1上に第1及び第2の2個の半導体素子2,3(半導体ICチップ)が搭載されて構成されている。
先ず、図1を用いて第1実施形態について説明する。図1は、本形態に係る半導体装置の内部構成を示す平面図である。この図に示すように、本半導体装置は、モールド樹脂で成る図示しないパッケージの中央部にチップ台1が設けられ、このチップ台1上に第1及び第2の2個の半導体素子2,3(半導体ICチップ)が搭載されて構成されている。
また、パッケージの外縁部には、その全周囲に亘ってリードフレーム41,42,43,44が配設されている。具体的には、パッケージは平面視が略正方形状であって、その四辺それぞれにおいて、その延長方向に沿って多数のリードフレーム41,42,43,44が配列されている。つまり、図1におけるパッケージの上縁及び下縁それぞれには、図中左右方向に沿って多数のリードフレーム41,41,…、42,42,…が配列されている一方、図1におけるパッケージの左右の各側縁それぞれには、図中上下方向に沿って多数のリードフレーム43,43,…、44,44,…が配列されている。本実施形態では、この上縁に配列されているリードフレームを上縁リードフレーム41,41,…と呼び、下縁に配列されているリードフレームを下縁リードフレーム42,42,…と呼ぶ。また、図中左側縁に配列されているリードフレームを左側縁リードフレーム43,43,…と呼び、右側縁に配列されているリードフレームを右側縁リードフレーム44,44,…と呼ぶ。
また、これらリードフレーム41〜44は、パッケージの外側に位置する外側端部が外部リード端子として構成され、パッケージの内側に位置する内側端部が内部リード端子として構成されている。上記外部リード端子は図示しないプリント基板上の各種信号線に接続される一方、上記内部リード端子は後述するように各半導体素子2,3のボンディングパッド21〜24にリードワイヤ51〜58によって接続されている。
上記チップ台1も平面視が略正方形状であって、各辺の長さ寸法は、第1の半導体素子2の一辺の長さ寸法と第2の半導体素子3の一辺の長さ寸法との和よりも僅かに長く設定されている。
そして、上記チップ台1に搭載されている第1及び第2の2個の半導体素子2,3は平面視が略正方形状である。そして、これら半導体素子2,3の搭載形態としては千鳥配列状であって、第1の半導体素子2はチップ台1の図中右上隅部(上記上縁リードフレーム41及び右側縁リードフレーム44に近接する位置)に、第2の半導体素子3はチップ台1の図中左下隅部(上記下縁リードフレーム42及び左側縁リードフレーム43に近接する位置)にそれぞれ搭載されており、各半導体素子2,3の角部同士が近接するように配置されている。
これら半導体素子2,3の各辺とリードフレーム41〜44の配列方向との関係としては、各半導体素子2,3の図中上側辺の延長方向が上縁リードフレーム41,41,…の配列方向に略平行であり、各半導体素子2,3の図中下側辺の延長方向が下縁リードフレーム42,42,…の配列方向に略平行である。また、各半導体素子2,3の図中左側辺の延長方向が左側縁リードフレーム43,43,…の配列方向に略平行であり、各半導体素子2,3の図中右側辺の延長方向が右側縁リードフレーム44,44,…の配列方向に略平行である。このようにして各半導体素子2,3がチップ台1に搭載されているため、各半導体素子2,3の端辺同士が対向することがない配置形態となっている。
各半導体素子2,3の各辺には多数のボンディングパッド21,22,23,24(第2の半導体素子3上のものは図示を省略している)がその辺の延長方向に沿って配設されている。つまり、半導体素子2の図中上側辺に沿って配設された上辺ボンディングパッド21,21,…、図中下側辺に沿って配設された下辺ボンディングパッド22,22,…、図中左側辺に沿って配設された左側辺ボンディングパッド23,23,…、図中右側辺に沿って配設された右側辺ボンディングパッド24,24,…がそれぞれ設けられている。
そして、各ボンディングパッド21〜24と所定のリードフレーム41〜44(各リードフレームの内部リード端子)とはリードワイヤ51〜58によって接続されている。具体的に、第1の半導体素子2の上辺ボンディングパッド21,21,…は上縁リードフレーム41,41,…に、右側辺ボンディングパッド24,24,…は右側縁リードフレーム44,44,…にそれぞれリードワイヤ51,51,…、52,52,…によって接続されている。また、第1の半導体素子2の下辺ボンディングパッド22,22,…の一部は右側縁リードフレーム44,44,…に、それ以外は下縁リードフレーム42,42,…にリードワイヤ53,53,…によってそれぞれ接続されている。更に、第1の半導体素子2の左側辺ボンディングパッド23,23,…の一部は上縁リードフレーム41,41,…に、それ以外は左側縁リードフレーム43,43,…にリードワイヤ54,54,…によってそれぞれ接続されている。
同様に、第2の半導体素子3の図中上辺のボンディングパッド及び図中左側辺のボンディングパッドは左側縁リードフレーム43,43,…に、図中下辺のボンディングパッド及び図中右側辺のボンディングパッドは下縁リードフレーム44,44,…に、それぞれリードワイヤ55〜58によって接続されている。
以上説明したように、第1及び第2の2個の半導体素子2,3は、チップ台1上で千鳥配列状で搭載されている。このため、各半導体素子2,3同士では、全ての辺が互いに近接して対向することがない。つまり、隣り合う半導体素子2,3同士を近接して配置しながらも、各半導体素子2,3の各辺とリードフレーム41〜44との間にワイヤボンディングのための領域を確保することが可能となり、この半導体素子2,3とリードフレーム41〜44との接続を容易に行うことができる。
(第2実施形態)
次に、図2を用いて第2実施形態について説明する。本形態では、互いに対向しない外部リード端子と半導体素子2,3上のボンディングパッドとを接続するための構成が上述した第1実施形態のものと異なっている。従って、本形態では、第1実施形態との相違点についてのみ説明する。
次に、図2を用いて第2実施形態について説明する。本形態では、互いに対向しない外部リード端子と半導体素子2,3上のボンディングパッドとを接続するための構成が上述した第1実施形態のものと異なっている。従って、本形態では、第1実施形態との相違点についてのみ説明する。
図2(パッケージPを破線で示している)は、本形態に係る半導体装置の内部構成を示す平面図である。この図に示すように、本半導体装置は、外部リード端子から延びるリードフレームのうちの一部のリードフレーム45a,45b,45c,45dが、半導体素子2,3の各辺のうち、その外部リード端子に対向しない辺に近接する位置まで延び、そのリードフレーム45a,45b,45c,45dの内部端である内部リード端子の配列方向を、その辺の延長方向に対して略平行に設定した構成となっている。
具体的には、リードフレーム45a,45a,…は、上縁リードフレームが第1の半導体素子2の左側辺ボンディングパッド23,23,…に向かって湾曲形状とされたものであり、これらリードフレーム45a,45a,…の内部リード端子の配列方向(図中上下方向)が第1の半導体素子2の左側辺の延長方向に対して略平行に設定されている。また、リードフレーム45b,45bは、下縁リードフレームが第2の半導体素子3の右側辺ボンディングパッド34,34に向かって湾曲形状とされたものであり、これらリードフレーム45b,45bの内部リード端子の配列方向(図中上下方向)が第2の半導体素子3の右側辺の延長方向に対して略平行に設定されている。更に、リードフレーム45c,45c,…は、左側縁リードフレームが第2の半導体素子3の上辺ボンディングパッド31,31,…に向かって湾曲形状とされたものであり、これらリードフレーム45c,45c,…の内部リード端子の配列方向(図中左右方向)が第2の半導体素子3の上辺の延長方向に対して略平行に設定されている。加えて、リードフレーム45d,45d,…は、右側縁リードフレームが第1の半導体素子2の下辺ボンディングパッド22,22,…に向かって湾曲形状とされたものであり、これらリードフレーム45d,45d,…の内部リード端子の配列方向(図中左右方向)が第1の半導体素子2の下辺の延長方向に対して略平行に設定されている。
このため、互いに対向しない外部リード端子と半導体素子上のボンディングパッドとを接続する場合であっても、リードフレームの内部端(内部リード端子)と半導体素子上のパッドとの間隔を小さくでき、この両者を接続するためのワイヤボンディング(リードワイヤ)の長さを短くすることができる。
(第3実施形態)
次に、図3を用いて第3実施形態について説明する。本形態では、一部のリードフレームの幅寸法が上述した第2実施形態のものと異なっている。従って、本形態では、第1実施形態及び第2実施形態との相違点についてのみ説明する。
次に、図3を用いて第3実施形態について説明する。本形態では、一部のリードフレームの幅寸法が上述した第2実施形態のものと異なっている。従って、本形態では、第1実施形態及び第2実施形態との相違点についてのみ説明する。
図3は、本形態に係る半導体装置の内部構成を示す平面図である。この図に示すように、本半導体装置は、各外部リード端子から延びるリードフレームのうち、一部のリードフレーム46a〜46eの幅寸法を、他のリードフレーム41〜44、45a〜45dの幅寸法よりも大きく設定している。
具体的には、第1の半導体素子2における上辺ボンディングパッド21’、左側辺ボンディングパッド23’、右側辺ボンディングパッド24’のそれぞれ一つずつに対応したリードフレーム46a,46b,46cの幅寸法が、この第1の半導体素子2に接続する他のリードフレームの幅寸法よりも大きく設定されている。同様に、第2の半導体素子3における上辺ボンディングパッド31’、左側辺ボンディングパッド33’のそれぞれ一つずつに対応したリードフレーム46d,46eの幅寸法が、この第2の半導体素子3に接続する他のリードフレームの幅寸法よりも大きく設定されている。
このとき、幅寸法が大きく設定されたリードフレーム46a〜46eは、電源、GND等の大電流が流れる信号、及びリードフレームで生じる特性損失等の影響がある信号に使用するパッド及び外部リード端子に接続される。これによれば、外部リード端子までの電気抵抗の上昇を抑制することが可能となり、特性損失等に対する改善を期待することができる。
(第4実施形態)
次に、図4を用いて第4実施形態について説明する。本形態では、一部のリードフレームの幅寸法が上述した第3実施形態のものと異なっている。従って、本形態では、第3実施形態との相違点についてのみ説明する。
次に、図4を用いて第4実施形態について説明する。本形態では、一部のリードフレームの幅寸法が上述した第3実施形態のものと異なっている。従って、本形態では、第3実施形態との相違点についてのみ説明する。
図4は、本形態に係る半導体装置の内部構成を示す平面図である。この図に示すように、本半導体装置は、幅寸法が大きく設定されたリードフレーム46a,46c,46eを、半導体素子2,3の各辺のうち、そのリードフレーム46a,46c,46eが繋がる外部リード端子に対向する辺に近接する位置まで延ばした構成としている。
具体的には、第1の半導体素子2における二つの上辺ボンディングパッド21’,21’に繋がる上縁リードフレーム46a,46a、第1の半導体素子2における一つの右側辺ボンディングパッド24’に繋がる右側縁リードフレーム46c、第2の半導体素子3における二つの左側ボンディングパッド33’,33’に繋がる左側縁リードフレーム46e,46eが他のリードフレームの幅寸法よりも大きく設定されている。
これにより、この幅寸法が大きく設定されたリードフレーム46a,46c,46eの長さを極力短くすることが可能となり、外部リード端子までの電気抵抗の上昇を更に抑制することが可能となる。
−その他の実施例−
以上説明した各実施例は、パッケージ内に2個の半導体素子が搭載されて構成される半導体装置に本発明を適用した場合について説明した。本発明はこれに限らず、パッケージ内に3個以上の半導体素子が搭載されて構成される半導体装置に適用してもよい。図5(a)はパッケージ内に3個の半導体素子を搭載した場合における半導体素子A1,A2,A3の搭載位置を示しており、図5(b)はパッケージ内に4個の半導体素子A1,A2,A3,A4を搭載した場合における半導体素子の搭載位置を示している。
以上説明した各実施例は、パッケージ内に2個の半導体素子が搭載されて構成される半導体装置に本発明を適用した場合について説明した。本発明はこれに限らず、パッケージ内に3個以上の半導体素子が搭載されて構成される半導体装置に適用してもよい。図5(a)はパッケージ内に3個の半導体素子を搭載した場合における半導体素子A1,A2,A3の搭載位置を示しており、図5(b)はパッケージ内に4個の半導体素子A1,A2,A3,A4を搭載した場合における半導体素子の搭載位置を示している。
2 第1の半導体素子
3 第2の半導体素子
41 上縁リードフレーム
42 下縁リードフレーム
43 左側縁リードフレーム
44 右側縁リードフレーム
51〜58 リードワイヤ
P パッケージ
A1〜A4 半導体素子
3 第2の半導体素子
41 上縁リードフレーム
42 下縁リードフレーム
43 左側縁リードフレーム
44 右側縁リードフレーム
51〜58 リードワイヤ
P パッケージ
A1〜A4 半導体素子
Claims (6)
- 外周囲に複数の外部リード端子を備えた一つのパッケージ内に複数個の半導体素子を搭載するマルチチップパッケージ構造であって、
各半導体素子を千鳥配列とし、且つこの半導体素子の全ての辺が、対向する外部リード端子の配列方向に対してそれぞれ略平行に延びるよう設定されていることを特徴とするマルチチップパッケージ構造。 - 請求項1記載のマルチチップパッケージ構造において、
外部リード端子に対向する半導体素子の辺が、その外部リード端子に繋がるリードフレームにリードワイヤによって接続されていることを特徴とするマルチチップパッケージ構造。 - 請求項1または2記載のマルチチップパッケージ構造において、
外部リード端子から延びるリードフレームが、半導体素子の各辺のうち、その外部リード端子に対向しない辺に近接する位置まで延び、そのリードフレームの内部端の配列方向がその辺の延長方向に対して略平行に設定されていることを特徴とするマルチチップパッケージ構造。 - 請求項1、2または3記載のマルチチップパッケージ構造において、
各外部リード端子から延びるリードフレームのうち、一部のリードフレームの幅寸法は、他のリードフレームの幅寸法よりも大きく設定されていることを特徴とするマルチチップパッケージ構造。 - 請求項4記載のマルチチップパッケージ構造において、
幅寸法が大きく設定されたリードフレームは、半導体素子の各辺のうち、そのリードフレームが繋がる外部リード端子に対向する辺に近接する位置まで延びていることを特徴とするマルチチップパッケージ構造。 - 請求項4または5記載のマルチチップパッケージ構造において、
幅寸法が大きく設定されたリードフレームは、大電流が流れる信号、及びリードフレームで生じる特性損失等の影響がある信号に使用するパッド及び外部リード端子に接続することを特徴としたマルチチップパッケージ構造。
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Cited By (1)
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JP2007035853A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
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- 2003-11-07 JP JP2003378473A patent/JP2005142426A/ja active Pending
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JP2007035853A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Renesas Technology Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP4679991B2 (ja) * | 2005-07-26 | 2011-05-11 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
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