JP2005139018A - 不透明シリカガラス成形体及びその製造方法 - Google Patents

不透明シリカガラス成形体及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005139018A
JP2005139018A JP2003375511A JP2003375511A JP2005139018A JP 2005139018 A JP2005139018 A JP 2005139018A JP 2003375511 A JP2003375511 A JP 2003375511A JP 2003375511 A JP2003375511 A JP 2003375511A JP 2005139018 A JP2005139018 A JP 2005139018A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silica glass
opaque
molded body
transparent
molding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003375511A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4452059B2 (ja
Inventor
Hironari Osada
裕也 長田
Masayuki Kudo
正行 工藤
Toru Tsuyoshi
徹 津吉
Shigeo Kimura
木村  茂雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tosoh Quartz Corp
Tosoh Corp
Original Assignee
Tosoh Quartz Corp
Tosoh Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tosoh Quartz Corp, Tosoh Corp filed Critical Tosoh Quartz Corp
Priority to JP2003375511A priority Critical patent/JP4452059B2/ja
Publication of JP2005139018A publication Critical patent/JP2005139018A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4452059B2 publication Critical patent/JP4452059B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/06Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/06Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction
    • C03B19/066Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction for the production of quartz or fused silica articles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B20/00Processes specially adapted for the production of quartz or fused silica articles, not otherwise provided for

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)
  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)

Abstract

【課題】 不透明シリカガラス成形体の全表面が透明シリカガラスで覆われた、表面平滑性・遮光性に優れた不透明シリカガラス成形体を提供する。
【解決手段】全表面を透明なシリカガラス層で覆われた不透明シリカガラス成形体であって、不透明部はシリカガラスとその90%以上が最大径20μm未満の気孔とからなり、見掛密度は2.00〜2.20g/cm、成形体肉厚の最薄部における透明層厚さが不透明部厚さの1〜400/1000、少なくとも1面の表面粗さRaが0.05〜0.5μmである成形体であって、この成形体は、最大径と最小径が0.01〜20μmの範囲にある球状粒子で、0.2μm以下の粒子が5〜70重量%であるシリカガラスとバインダーとの混練物を射出成形後、加熱脱脂し、ついで1100〜1400℃で真空焼結して得られる。
【選択図】 選択図なし

Description

本発明は、例えば光学機器の部品等に用いられる複雑形状でかつ寸法精度が要求される遮光性の不透明シリカガラス成形体及びその製造方法に関し、詳しくは表面平滑性に優れた透明表面層を有し、後加工として研磨加工が不要、もしくは必要であっても加工時間が極めて短いため研磨加工の負担が軽微な、比較的小型の不透明シリカガラス成形体及びその製造方法に関するものである。
近年、光産業を始めとして、低熱膨張・高耐熱性であるシリカガラス成形体を各種の装置、機器の部品として使用したいというニーズが高まっている。その一例としてプロジェクタ用光源ランプのリフレクタ基材が挙げられる。しかしながら、透明なシリカガラスによるリフレクタ基材では、ランプの光は、リフレクタ(リフレクタ基材に反射膜を蒸着して得る)によって全反射されることはなく、数%の漏洩光がある。この漏洩光は、人間の肉眼に対して有害であること、またプロジェクタ内部の電子部品に悪影響を及ぼすことが指摘されている。これを解消しうるリフレクタ基材の材料として、透明シリカガラス中に50μm程度の直径の気泡を分散することにより遮光性を付与した不透明シリカガラスが挙げられるが、従来の不透明シリカガラスによる場合では気泡に起因する表面荒れが大きいため、リフレクタ表面での乱反射が顕著となり、反射効率の良いリフレクタは得られない。
上述したプロジェクタ用ランプのリフレクタ基材に限らず、各種装置、機器の部品として表面が滑らかな不透明シリカガラス成形体は広く求められており、加えてその形状も小型化、複雑化、精密化してきている。従って、このような不透明シリカガラス成形体、及びそれを生産性良くかつ安価に製造できる技術が待望されている。
従来、小型、複雑、精密な形状の透明シリカガラス成形体や不透明シリカガラス成形体の製造方法として、透明シリカガラス、不透明シリカガラスのインゴットに対して、切り出し、研削、研磨といった非常に煩雑な機械加工がなされている。またそれにより多大な材料ロスも生じている。これは、シリカガラスの軟化する温度が非常に高いため、例えばホウ珪酸ガラスで行われているような熱間塑性変形を利用したプレス成形が、シリカガラスに対しては装置の耐熱性の問題から実施不可能であるからである。したがって、シリカガラス成形体は、極めて生産性の低い、高コストな製造技術に頼らざるを得ず、シリカガラス成形体を幅広く装置、機器の部品として利用していく上での重大な障害となっている。
このような課題を解決する手段として、透明シリカガラス成形体に関しては、シリカガラス粉末を水に分散してスラリー化し、それを所望の製品形状を有する石膏型あるいは樹脂型といった気孔型に鋳込み、鋳込成形体を取り出し、乾燥後、結晶質シリカであるクリストバライトの融点(1713℃)以下で焼結して、透明なシリカガラス成形体を得る手法が提案されている(特許文献1参照)。しかし、本手法により、製品形状に近いシリカガラス成形体が得られるが、鋳込成形において気孔型を用いるため、その表面寸法精度は低く、表面の粗いものしか得られず、非常に長時間の研磨加工が必要である。
一方、表面が滑らかな不透明シリカガラス成形体として、表面に透明シリカガラス層を有した不透明シリカガラス成形体及びその製造方法が提案されている。
所望の製品形状の空間をもつ容器に、透明表面層としたい箇所に水晶粉末を、不透明部には水晶粉末と窒化珪素の混合粉末を充填し、それを真空下でクリストバライトの融点(1713℃)以上の温度にて加熱溶融し、冷却して得る手法がある(特許文献2参照)。しかしながら、本手法では各々の粉末を精度良く充填することが困難であり、形状によっては特定の箇所にしか透明層を形成できないため、使い勝手が良く汎用性の高い、全表面に透明層を有する不透明シリカガラス成形体は得られない。また高温で原料粉末を溶融するため、原料粉末と容器との反応は避けられず、透明層の表面が荒れたり、顕著な場合には容器と付着してシリカガラス成形体が容器から取り出せないことがある。
他の手法としては、70μm未満のシリカガラス粉末粒子をスラリー化し、それを、所望の形状を有する気孔型に流し込む、いわゆる鋳込み成形法にて粉末成形体を得、それを1350〜1450℃の温度範囲で焼結し、得られた不透明シリカガラス成形体の表面を、例えば酸水素炎のバーナーを用いて溶融して透明表面層を得る手法がある(特許文献3参照)。本手法では、所望の表面を透明化でき、全表面を透明化することが可能であるが、バーナーで溶融するために、シリカガラス成形体自体が軟化変形してしまい、所望の形状や寸法精度を得ることは困難である。また鋳込み成形法では気孔型を用いるため、粉末成形体の表面は荒れていることから、得られる不透明シリカガラス成形体の表面も荒れてしまい、それはバーナーで溶融しても解消されないという課題もある。
特開平11−189427号公報(特許請求の範囲)
特開平11−116265号公報(特許請求の範囲) 特表平9−506324号公報(特許請求の範囲)
以上説明したように、従来の透明シリカガラスの表面層を有する不透明シリカガラス成形体では、全表面を透明シリカガラスで覆うことができなかったり、表面粗さの大きいものや寸法精度の低いものしか得られていなかった。従って、シリカガラス成形体を得た後も、最終製品とするためには、かなりの研削量を要する研削加工、さらには研磨といった煩雑な機械加工を施す必要があった。それ故、対象となる製品は、加工しろを多めにとれる、半導体製造用装置に用いられるような大きなサイズの部材、例えば、シリコンウエハー熱処理工程に用いられる熱処理炉の断熱部材(例えば、直径300mm以上、厚み20mm以上)に限定されていた。
従って、例えば、全体積が200cm以下である小型の製品については、軽微な後加工で済む、全表面を透明シリカガラスで覆われた不透明シリカガラス成形体は得られておらず、またそれを解決しうる新規な製造方法も提案されていない。
本発明は、比較的小型の、全表面を透明シリカガラスで覆われた不透明シリカガラス成形体で、表面平滑性、遮光性に優れ、また用途によって研磨加工が必要であっても研磨加工時間を大幅に短縮できる、不透明シリカガラス成形体及びその製造方法を提供することにある。
本発明者等は、上記問題点に関して鋭意検討を行った結果、特定の範囲の粒度を有する球状粒子であり、その粒度分布において0.2μm以下の粒子の含有率がある特定の範囲内に入るシリカガラス粉末を原料として用いた射出成形と、真空焼結法を組み合わせることにより、表面平滑性が高く、遮光性に優れ、変形、空洞のような欠陥のない、全表面を透明シリカガラスで覆われた不透明シリカガラス成形体が得られることを見出し、本発明を完成するに至ったものである。
以下、本発明の不透明シリカガラス成形体を詳細に説明する。
本発明の不透明シリカガラス成形体はその全表面において透明シリカガラスからなる表面層を有している。
本発明の不透明シリカガラス成形体においては、表面層以外の不透明部は、シリカガラスと気孔とからなっており、不透明部の見掛密度は2.00〜2.20g/cm、特に好ましくは2.05〜2.18g/cmである。見掛密度が2.20g/cmを超えると、シリカガラスは不透明から透明に変化し、遮光性のあるシリカガラス成形体は得られない。一方、2.00g/cm未満では機械的な強度が低下するため、実用性のあるシリカガラス成形体は得られない。本発明でいう見掛密度は、本発明のシリカガラス成形体から切断機を用いて不透明部を切り出し、それを一般的なアルキメデス法によって測定することができる。
本発明のシリカガラス成形体の不透明部は、シリカガラス粉末成形体の粉末粒子充填構造における間隙である気孔によって達成される。この不透明部における気孔は、その90%以上が最大径20μm未満である。なお、気孔の最大径は、不透明部の任意の断面を走査型電子顕微鏡にて1000倍の倍率で撮影した100μm×100μmの視野の写真において、各気孔における最長寸法をもって定義する。最大径の分布は上記サイズの異なる10視野を選択し、その合計をもって求めることができる。気孔のサイズが上記範囲を逸脱すると、気孔が破壊源となって機械的強度に乏しいシリカガラス成形体しか得られない。
本発明のシリカガラス成形体の全表面を覆う透明シリカガラス層の厚みは、シリカガラス成形体において最も薄い肉厚の箇所で規定され、その厚みは、不透明部の厚みに対して1/1000〜400/1000、好ましくは4/1000〜250/1000である。厚みが1/1000未満の場合、必要に応じてシリカガラス成形体に対して研磨加工を施す場合には、研磨後、不透明部が露出するため、気孔に起因する表面荒れが生じてしまい好ましくない。一方、400/1000を超える場合、遮光性のシリカガラス成形体が得られない。
なお、本発明において「遮光性のあるシリカガラス成形体」とは、本発明の不透明シリカガラス成形体において肉厚が1mm以上の箇所における光の直線透過率が300〜900nmの波長域で40%以下である場合を示す。
透明シリカガラス層と不透明部との境界は透明シリカガラス層の厚みに依るものの肉眼で判別可能ではあるが、透明シリカガラス層及び不透明部の厚みは、正確にはシリカガラス成形体の任意の断面を走査型電子顕微鏡で観察して求める。透明シリカガラス層と不透明部とでは気孔量が明確に異なる様を確認できるので、シリカガラス成形体表面から透明シリカガラス層と不透明部との界面までの距離を走査型電子顕微鏡の画面上で測定することによって透明シリカガラス層の厚みを求めることができる。一方、不透明部の厚みは、それを挟む両端の透明/不透明界面の距離を測定することによって求めることができる。
透明シリカガラス層の任意の断面を、走査型電子顕微鏡にて1000倍の倍率で撮影した100μm×100μmの視野において観測したとき、1μm以上の最大径をもつ気孔の数は5個以下である。
本発明のシリカガラス成形体は、少なくとも1つの面の表面粗さRaが0.05〜0.5μmであり、特に0.05〜0.3μmであることが好ましい。表面粗さが0.5μmを超えると、シリカガラス成形体に研磨加工を施す場合、研磨加工に時間がかかり、当該研磨工程で欠陥、割れ、歪み、応力等が発生し、得られる研磨加工製品が短寿命となる。一方、研磨加工なしに表面粗さRaが0.05μm未満のものを得ることは困難である。成形体製品の表面粗さは、一般的な触針式の表面粗さ計で測定することができる。本発明のシリカガラス成形体は、少なくとも1つの面の表面粗さRaが0.05〜0.5μmに入っていれば良く、全ての面がこの表面粗さであることを限定するものではない。シリカガラス成形体は、その使用目的に応じて平滑性を必要とする部分が異なり、平滑性が必要とされない部分は従来から研磨加工しないで用いられているからである。
次に本発明のシリカガラス成形体の製造方法について説明する。
本発明のシリカガラス成形体は、例えば、シリカガラス粉末を、バインダーと混練し、当該混練物を射出成形した後、脱脂、焼結する方法を用いることができる。本発明は、この場合に用いるシリカガラス粉末の物性と成形方法、脱脂、焼結方法に特徴を有するものである。
本発明で用いるシリカガラス粉末は、最大径および最小径が0.01〜20μmの範囲にある球状粒子からなる粉末であり、好ましい範囲としては0.05〜5μmである。最大径が20μmを超えるものを用いると、焼結時に非晶質でなく結晶質であるクリストバライトに転移し易くなる。また、最大径が20μmを超える大きな粒子を含む原料では、射出成形に使用する射出成形機や金型の表面を摩耗し、金属の削りカスが異物となって射出成形体に混入し易い。その様な異物は、単なる不純物としてだけでなく、脱脂体の焼成において結晶化の起点となるため好ましくない。一方、最小径が0.01μm未満の原料粉末を用いると、焼結活性が高すぎるため、ひずみ、内部応力の高いガラスとなり、研磨加工において割れが生じやすくなる。さらにその様な微粒子ではバインダーとの混練が困難であり、実質的に射出成形できる混練物は得られない。
また本発明で用いるシリカガラス粉末の粒子の形状は球状である。一般的なシリカガラスの原料には例えばガラスインゴットを破砕して得られる粉末等があるが、その様な原料粉末は角張った粒子からなっている。このような形状の粉末を用いると、射出成形時に射出成形機内の加熱シリンダー、スクリューといった直接混練物が接触する金属製部品の表面を削ってしまい、それらが異物として射出成形体に取り込まれてしまう。その様な異物も焼結時に結晶化の起点となるため好ましくない。
本発明における球状粒子としては、具体的には角張った形状でなければ良く、必ずしも完全な真球状であることを制限するものではない。例えば、丸みを帯びた饅頭型、へちま型等の変形したものが含まれていても構わない。
このようなシリカガラスの球状粒子の調製方法としては、結晶質である石英粉末を酸水素火炎中に噴霧する、或いは金属シリコン粉末を酸素気流中で燃焼させる方法が例示できる。
また、本発明で用いるシリカガラス粉末は、0.2μm以下の粒子が全体の5〜70重量%、好ましくは10〜50重量%である。0.2μm以下の粒子が5重量%未満の場合には、焼結時に緻密化が進行しにくい上に、結晶質であるクリストバライトに転移しやすく、非晶質のシリカガラス成形体が得られない。一方、70重量%を超える場合には、焼結活性が高すぎるため、歪み、内部応力の高いガラスとなり易く、研磨加工において割れが生じやすくなる。さらにその様な粉末ではバインダーとの混練が困難であり、実質的に射出成形できる混練物は得られない。
本発明のシリカガラス粉末の純度は特に限定しないが、高純度であることが好ましい。特に焼結中の結晶化を回避するために、結晶化の起点となるアルカリ金属、アルカリ土類金属、鉄の含有率が50ppm以下であることが望ましい。
このようなシリカガラス粉末を原料に用いることにより、本発明の範囲の透明表面層が得られる理由は以下のように考えられる。本発明の範囲に入るシリカガラス粉末を用いた射出成形体では、0.2μmを境に、大径側の粒子群が形成する粉末成形体の隙間に、小径側の粒子群が充填された緻密充填構造が形成されるため、焼結して得られるシリカガラス成形体表面には凹凸がなく平滑な面が得られる。さらにこのような射出成形体における粒子の充填構造は、内部に比べ、表面側ほど緻密な構造であるため、内部は気孔が多い状態である不透明シリカガラスであるにも関わらず、表面は気孔のない透明シリカガラスに焼結することが可能となる。またこのような粉末成形体では、焼結する際に内部応力、歪みが発生しにくく、また焼結工程で緻密化が進行しやすく、結晶化が起こりにくい。
本発明では、上述のシリカガラス粉末を用い、射出成形によって所望の形状、寸法精度のシリカガラス成形体を得る。
射出成形する際、シリカガラス粉末とバインダーとを混練して射出成形用の混練物を得るが、当該混練物の調製方法に特に制限はない。混練物の調製方法としては、例えばシリカガラス粉末の含有量が60〜90重量%となるように調製する。シリカガラス粉末の比率が60重量%未満の場合、射出成形体を脱脂する際に脱脂体の強度が低くなり、脱脂体のハンドリングの際に壊れやすい場合がある。一方、シリカガラス粉末が90重量%を超えると、混練すること自体できず、射出成形可能な混練物を得ることができない場合が多い。
用いるバインダーは特に限定なく、慣用のものを用いることができる。例えば、ポリメチルメタクリレート、ポリブチルメタクリレート等のアクリル系樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン・酢酸ビニル共重合体、エチレン・エチルアクリレート共重合体等のオレフィン系樹脂、パラフィンワックス、マイクロクリスタリンワックス、蜜ロウ等のワックス類など広範囲の熱可塑性樹脂を使用することができる。また、シリカガラス粉末の有機バインダー中での分散性を上げると伴に、混練物の流動性を向上させるためにステアリン酸などの脂肪酸、ステアリルアルコール等の高級アルコール類等を添加して用いても良い。
シリカガラス粉末とバインダーの混練法も特に限定はなく、例えば汎用の加熱ニーダーを用いることができる。
混練して得られた混練物はフレーク状あるいはペレット状の粒状とした後、射出成形機にて成形する。用いる射出成形機は特に限定されず、通常のプラスチック等の射出成形に用いられるもの、例えばインラインスクリュー方式の射出成形機を用いることができる。
射出成形機において、混練物と直接接触する箇所の材質は、射出成形体への金属異物混入を抑制するために、窒化鋼など耐摩耗仕様であることが望ましい。さらに射出成形に用いる金型表面は仕上げ磨きをし、表面平滑性を高めたものを用いることが特に好ましい。
次に射出成形で得られた射出成形体は脱脂、例えば、加熱や薬剤によって含有するバインダーを分解、揮発除去する。脱脂は、例えば、汎用の加熱脱脂炉を用いることができる。
加熱による脱脂の条件は用いるバインダーの種類によっても異なるが、400〜1000℃、好ましくは400〜600℃で1〜10時間保持すると良い。脱脂中における射出成形体の割れを回避するために、昇温速度は2〜50℃/hとすることが好ましい。加熱中の雰囲気は大気、もしくは窒素等の不活性雰囲気とすればよい。また脱脂効率を高めるために、加熱中の炉内雰囲気は換気しながら脱脂することが好ましい。
脱脂体に鉄やアルカリ金属等の異物の混入がある場合、そのまま焼結するとそれらの異物が起点となって結晶化が進行しやすい。このような異物がある場合には、脱脂体を塩素気流中にて加熱してそれらの異物を除去純化処理することが好ましい。除去純化処理の加熱処理条件は温度500〜1000℃で0.5〜5時間保持すればよい。
次に脱脂体を焼結し、本発明の目的とする不透明シリカガラス成形体を得るが、本発明では焼結を真空雰囲気下で1100〜1400℃にて焼結する。大気中で焼成すると、脱脂体の緻密化よりも結晶化の方が進行しやすい。
本発明の真空焼結の圧力は減圧状態であれば特に限定されないが、特に0.1torr以下であることが好ましい。減圧状態とすることにより、不透明シリカガラス成形体の表面の残留気孔を効率的に除去でき、表面のみを選択的に透明化することが可能となり、同時に結晶化を抑制することが可能となる。
本発明の焼結温度及び保持時間は、シリカガラス成形体内部の不透明部及び表面透明層形成のために極めて重要であり、1100〜1400℃、好ましくは
1200〜1300℃の範囲である。1100℃未満では、シリカガラス粒子は十分に焼結せず表面透明層は形成されない。一方、1400℃を超えると内部まで透明化が進行しまう。また同時に表面から結晶化が始まり、本発明の平滑な表面をもつシリカガラス成形体は得られない。
焼結の保持時間は5分〜5時間であることが好ましい。保持時間が5分未満の場合、緻密化が十分でなく、表面透明層は得られない場合があり、5時間を超える場合には、内部まで透明化が進行してしまったり、さらには表面から結晶化してしまい、本発明の平滑な表面をもつシリカガラス成形体は得られない場合が多い。
また本発明では、温度1100〜1400℃で真空焼結する前に、温度800〜1000℃の酸化雰囲気中で予備焼結することが好ましい。予備焼結することにより、真空焼結でのハンドリングが容易になるだけでなく、脱脂体の中に微量に残存するバインダーが除去され、最終的な成形体製品の結晶化の抑制がさらに完全なものとなる。この場合の雰囲気圧力は特に限定されないが、常圧から若干の加圧で行うことが好ましい。
上述したような本発明の範囲の焼結条件にて、脱脂した射出成形体を焼結することにより、表面透明層の厚みを不透明部の厚みに対して1/1000〜400/1000とすることができ、かつ、内部には見掛密度が2.00〜2.20g/cmで、気孔の90%以上が最大径20μm未満である不透明部を得ることができる。
上述のようにして得られた不透明性シリカガラス成形体は、プロジェクタ用光源ランプ部品、光ファイバー用コネクタ部品、光ファイバー保持部品や光学分析用セル等に好適に用いることができる。
本発明の不透明シリカガラス成形体及びその製造方法は以下の効果を有する。
1)不透明シリカガラス成形体:全表面において表面粗さの小さい透明シリカガラス層が形成されているので、気孔による高い遮光性を示すにも関わらず、気孔に起因する凹凸がない表面を有する。また用途によって研磨加工を実施する場合でも、表面粗さが小さいため、研磨加工時間が短く、高歩留まりで、長寿命の研磨製品が得られる。また全体積が200cm以下であり、光産業を始めとする各種装置、機器の部品への応用が可能となる。特に、プロジェクタ用光源ランプのリフレクタ基材として有用である。
2)製造方法:内部及び表面を各々、気孔を含む不透明シリカガラス、気孔の少ない透明シリカガラスとすることができ、焼結条件を選択することにより、表面透明シリカガラス層の厚み、内部の不透明シリカガラスの密度を制御することが可能である。また射出成形を用いるため、極めて生産性の高い製造技術となる。
以下、本発明を、実施例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例のみに限定されるものではない。
実施例1
最大径が8μm、最小径が0.05μmであり、0.2μm以下の粒子の含有率が30重量%の粒度分布からなる球状シリカガラス粉末(アルカリ金属、アルカリ土類金属、鉄の含有率はICP分析でいずれも50ppm以下)に市販のアクリル樹脂系バインダーを加え、シリカガラス粉末重量の比率が77重量%となるように混合し、加熱ニーダーを用いて140℃で1時間混練した。シリカガラス粉末の粒径は、レーザー回折散乱法マイクロトラックHRA Model No.9320−X100(日機装社製)で測定した。得られた塊状の混練物をシート化し、粉砕してフレーク状とした。この混練物を射出成形機で縦40mm×横70mm×厚み5mmのプレート状に射出成形した。このようにして得られた成形体を大気中にて500℃まで10℃/hで昇温し、500℃に2時間保持して脱脂した。ついで得られた脱脂体を、真空雰囲気にて1300℃まで200℃/hで昇温し、1300℃に2時間保持して、反り等の変形がなく表面光沢がある、プレート状の全表面に透明層を有する不透明シリカガラス成形体(縦32mm×横56mm×厚み4mm、体積7.2cm)を得た。
このようにして得られたシリカガラス成形体から、不透明部を切り出した。不透明部の見掛密度はアルキメデス法による測定で2.18g/cmであった。また不透明部における気孔を前述の手法により観察したところ、気孔の95%が最大径20μm未満であった。また表面透明層の厚みを前述の手法により測定したところ、不透明部に対して26/1000(0.10mm)であった。さらに表面透明層に含まれる最大径1μm以上の気孔数を前述の手法により調べたところ、100μm×100μmの視野において2個であった。また、不透明部及びシリカガラス成形体表面をX線回折で評価した結果、結晶質を含まないガラス状態であった。さらにシリカガラス成形体の表面粗さを触針式の表面粗さ計(東京精密社製、型式:ハンディサーフ E−35A)で測定したところ、Ra値は、0.1μmであった。
実施例2
射出成形体の形状を外直径60mm、厚み5mmの半球ドーム状とした以外は、実施例1と同様の操作を行い、くぼみ等の変形がなく、表面光沢のある、全表面に透明層を有する半球状の不透明シリカガラス成形体(外直径45mm×厚み4mm、体積10.6cm)を得た。
不透明部の見掛密度はアルキメデス法による測定で2.18g/cmであった。また不透明部における気孔を前述の手法により観察したところ、気孔の98%が最大径20μm未満であった。また表面透明層の厚みを前述の手法により測定したところ、不透明部に対して55/1000(0.20mm)であった。さらに表面透明層に含まれる最大径1μm以上の気孔数を前述の手法により調べたところ、100μm×100μmの視野において4個であった。また、不透明部及びシリカガラス成形体表面をX線回折で評価した結果、結晶質を含まないガラス状態であった。さらにシリカガラス成形体の表面粗さを触針式の表面粗さ計(東京精密社製、型式:ハンディサーフ E−35A)で測定したところ、Ra値は、0.2μmであった。
実施例3
射出成形体の形状を、外直径60mm×高さ40mm×厚み5mmの底付きの円筒状とした以外は、実施例1と同様の操作を行い、くぼみ等の変形がなく、表面光沢のある、全表面に透明層を有する底付き円筒状の不透明シリカガラス成形体(外直径48mm×高さ32mm×厚み4mm、体積22.7cm)を得た。
不透明部の見掛密度はアルキメデス法による測定で2.18g/cmであった。また不透明部における気孔を前述の手法により観察したところ、気孔の98%がその最大径20μm未満であった。また表面透明層の厚みを前述の手法により測定したところ、不透明部に対して60/1000(0.27mm)であった。さらに表面透明層に含まれる最大径1μm以上の気孔数を前述の手法により調べたところ、100μm×100μmの視野において3個であった。また、不透明部及びシリカガラス成形体表面の表面をX線回折で評価した結果、結晶質を含まないガラス状態であった。さらにシリカガラス成形体の表面粗さを触針式の表面粗さ計(東京精密社製、型式:ハンディサーフ E−35A)で測定したところ、Ra値は、0.2μmであった。
実施例4
脱脂体を真空雰囲気にて1200℃まで200℃/hで昇温し、1200℃に2時間保持する以外は実施例1と同様の操作を行い、反り等の変形がなく表面光沢がある、プレート状の全表面に透明層を有する不透明シリカガラス成形体(縦32mm×横56mm×厚み4mm、体積7.2cm)を得た。
不透明部の見掛密度はアルキメデス法による測定で2.10g/cmであった。また不透明部における気孔を前述の手法により観察したところ、気孔の93%が最大径20μmであった。また表面透明層の厚みを前述の手法により測定したところ、不透明部に対して13/1000(0.05mm)であった。さらに表面透明層に含まれる最大径1μm以上の気孔数を前述の手法により調べたところ、100μm×100μmの視野において4個であった。また、不透明部及びシリカガラス成形体表面をX線回折で評価した結果、結晶質を含まないガラス状態であった。さらにシリカガラス成形体の表面粗さを触針式の表面粗さ計(東京精密社製、型式:ハンディサーフ E−35A)で測定したところ、Ra値は、0.2μmであった。
比較例1
最大径が10μm、最小径が0.05μmであり、0.2μm以下の粒子の含有率が1重量%の粒度分布からなる球状シリカガラス粉末(アルカリ金属、アルカリ土類金属、鉄の含有率はICP分析でいずれも50ppm以下)を用いて、
実施例1と同様の操作により混練物を作製し、同サイズのプレート状に射出成形した。このようにして得られた成形体を大気中にて500℃まで10℃/hで昇温し、500℃に2時間保持して脱脂した。ついで得られた脱脂体を、真空雰囲気にて1400℃まで200℃/hで昇温し、1400℃に2時間保持して焼結した。得られたプレート状の焼結体は、反りが発生し、表面光沢がなく、白色化していた。
このようにして得られた焼結体において、断面を走査型電子顕微鏡で観察したところ、表面付近では気孔量が少ない傾向が見られたが、内部から表面まで気孔量はほぼ均一であった。内部の見掛密度は1.95g/cmであった。また内部及び焼結体表面をX線回折で評価した結果、内部は結晶質を含まないガラス状態であったが、焼結体表面ではクリストバライトに起因する回折ピークが確認された。また焼結体表面の表面粗さRa値は、5.0μmであった。
比較例2
焼結温度を1500℃とした以外は、実施例1と同様の操作を行った。得られたプレート状の焼結体は、反りが発生し、表面光沢がなく、白色化していた。
このようにして得られた焼結体において断面を目視観察したところ、内部に不透明部はなく透明化しており、見掛密度は2.21g/cmであった。白色化した表面層は容易に剥離した。透明化した内部及び焼結体表面をX線回折で評価した結果、内部は結晶質を含まないガラス状態であったが、焼結体表面ではクリストバライトに起因する回折ピークが確認された。また焼結体表面の表面粗さRa値は、5.5μmであった。
比較例3
焼結温度を1000℃とした以外は、実施例1と同様の操作を行った。得られたプレート状の焼結体には、反りはなかったが、表面光沢がなく、白色化していた。
このようにして得られた焼結体において断面を目視観察したところ、表面、内部とも白色化しており、また走査型電子顕微鏡で観察したところ、表面付近では気孔量が少ない傾向が見られたが、内部から表面まで気孔量はほぼ均一であった。また内部の見掛密度は1.90g/cmであった。内部及び焼結体表面をX線回折で評価した結果、いずれもX線回折で結晶質を含まないガラス状態であった。また焼結体表面の表面粗さRaは8.5μmであった。

Claims (2)

  1. 全表面を実質的に透明なシリカガラス層で覆われた不透明シリカガラス成形体であって、不透明部はシリカガラスと気孔からなっており、その見掛密度は2.00〜2.20g/cm、気孔の90%以上が最大径20μm未満であり、上記成形体において最も肉厚の薄い箇所における透明層の厚みが該不透明部の厚みに対して1/1000〜400/1000の範囲であり、少なくとも1つの面の表面粗さRaが0.05〜0.5μmである不透明シリカガラス成形体。
  2. 最大径と最小径が0.01〜20μmの範囲にある球状粒子からなり、かつ0.2μm以下の粒子が全体の5〜70重量%であるシリカガラス粉末を、バインダーと混練し、当該混練物を射出成形した後、脱脂し、次いで温度1100〜1400℃で真空焼結することを特徴とする請求項1に記載の不透明シリカガラス成形体の製造方法。
JP2003375511A 2003-11-05 2003-11-05 不透明シリカガラス成形体の製造方法 Expired - Fee Related JP4452059B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003375511A JP4452059B2 (ja) 2003-11-05 2003-11-05 不透明シリカガラス成形体の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003375511A JP4452059B2 (ja) 2003-11-05 2003-11-05 不透明シリカガラス成形体の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005139018A true JP2005139018A (ja) 2005-06-02
JP4452059B2 JP4452059B2 (ja) 2010-04-21

Family

ID=34686863

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003375511A Expired - Fee Related JP4452059B2 (ja) 2003-11-05 2003-11-05 不透明シリカガラス成形体の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4452059B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006085591A1 (ja) * 2005-02-14 2006-08-17 Shin-Etsu Quartz Products Co., Ltd. シリカガラス製品の製造方法
JP2007132704A (ja) * 2005-11-08 2007-05-31 Tosoh Quartz Corp ガラス製マイクロチップベースプレート、ガラス製マイクロチップベースプレートの製造方法及びマイクロチップ
JP2007331962A (ja) * 2006-06-13 2007-12-27 Tosoh Quartz Corp ガラス製マイクロプレート用部材、ガラス製マイクロプレートの製造方法及びマイクロプレート
JP2009242129A (ja) * 2008-03-28 2009-10-22 Tosoh Quartz Corp ガラス部品の製造方法及びガラス部品
JP2014055072A (ja) * 2012-09-11 2014-03-27 Nippon Aerosil Co Ltd 非晶質酸化珪素焼結体の製造方法及びこの方法により製造された非晶質酸化珪素焼結体
WO2015122517A1 (ja) * 2014-02-17 2015-08-20 東ソー株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法
JP2015151320A (ja) * 2014-02-17 2015-08-24 東ソー株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法
JP2015166292A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 東ソー株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法
JP2015209372A (ja) * 2014-04-30 2015-11-24 東ソー株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014015389A (ja) * 2005-02-14 2014-01-30 Shinetsu Quartz Prod Co Ltd 透明シリカガラス製品の製造方法
US7790078B2 (en) * 2005-02-14 2010-09-07 Shin-Etsu Quartz Products Co., Ltd. Process for producing silica glass product
EP1857421A1 (en) * 2005-02-14 2007-11-21 Shin-Etsu Quartz Products Co., Ltd. Process for producing silica glass product
JP5512084B2 (ja) * 2005-02-14 2014-06-04 信越石英株式会社 不透明シリカガラス製品の製造方法
WO2006085591A1 (ja) * 2005-02-14 2006-08-17 Shin-Etsu Quartz Products Co., Ltd. シリカガラス製品の製造方法
KR100888766B1 (ko) * 2005-02-14 2009-03-17 신에쯔 세끼에이 가부시키가이샤 실리카 유리 제품의 제조방법
EP1857421A4 (en) * 2005-02-14 2012-11-14 Shinetsu Quartz Prod PROCESS FOR PRODUCING A SILICA GLASS PRODUCT
JP2007132704A (ja) * 2005-11-08 2007-05-31 Tosoh Quartz Corp ガラス製マイクロチップベースプレート、ガラス製マイクロチップベースプレートの製造方法及びマイクロチップ
JP2007331962A (ja) * 2006-06-13 2007-12-27 Tosoh Quartz Corp ガラス製マイクロプレート用部材、ガラス製マイクロプレートの製造方法及びマイクロプレート
JP2009242129A (ja) * 2008-03-28 2009-10-22 Tosoh Quartz Corp ガラス部品の製造方法及びガラス部品
JP2014055072A (ja) * 2012-09-11 2014-03-27 Nippon Aerosil Co Ltd 非晶質酸化珪素焼結体の製造方法及びこの方法により製造された非晶質酸化珪素焼結体
WO2015122517A1 (ja) * 2014-02-17 2015-08-20 東ソー株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法
JP2015151320A (ja) * 2014-02-17 2015-08-24 東ソー株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法
US10005693B2 (en) 2014-02-17 2018-06-26 Tosoh Corporation Opaque quartz glass and method for its production
JP2015166292A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 東ソー株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法
JP2015209372A (ja) * 2014-04-30 2015-11-24 東ソー株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4452059B2 (ja) 2010-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105198449B (zh) 一种光固化成型的高致密陶瓷的制备方法
CN105330266B (zh) 一种齿状异形陶瓷的制备方法
EP0647600B1 (en) High-purity, opaque quartz glass, method for producing same and use thereof
JP4452059B2 (ja) 不透明シリカガラス成形体の製造方法
JPWO2008069194A1 (ja) 合成不透明石英ガラス及びその製造方法
TWI224085B (en) A method of molding ceramics
CN113966316B (zh) 不透明石英玻璃及其制造方法
JP2018168002A (ja) 焼結シリカ部品の製造方法
JP2004203639A (ja) シリカガラス成形ブランク製品及びその研磨加工製品並びにそれらの製造方法
JP4395114B2 (ja) 球状金属酸化物粉末の製造方法
JP2018090440A (ja) 鋭角部を有する光学部品の製造方法
JP4966527B2 (ja) 透明シリカ焼結体とその製造方法
JP2006232582A (ja) 透明シリカガラス製品の製造方法
JP4452062B2 (ja) 黒色シリカガラス成形体の製造方法
JP5185213B2 (ja) 耐プラズマ性フッ化物焼結体の製造方法
JP2007132704A (ja) ガラス製マイクロチップベースプレート、ガラス製マイクロチップベースプレートの製造方法及びマイクロチップ
JP2008150224A (ja) セラミックスの製造方法
TW201734226A (zh) 粉末,製造該粉末之製程,及由該粉末製作之製品
JP2013163623A (ja) 透明石英焼結体及びその製造方法
JP2007331962A (ja) ガラス製マイクロプレート用部材、ガラス製マイクロプレートの製造方法及びマイクロプレート
JP2018177584A (ja) 光学部材
JP2005145766A (ja) シリカガラス成形体の製造方法
JP5963345B2 (ja) 焼結体の製造方法
JP2004224580A (ja) 石英ガラス成形用型およびその製造方法
JP2018002526A (ja) シリカ焼結体

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060620

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090702

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090929

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091130

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100105

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100129

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4452059

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130205

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140205

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees