JP2005136055A - 半導体集積回路装置およびデルタ・シグマad変換装置 - Google Patents

半導体集積回路装置およびデルタ・シグマad変換装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 スイッチトキャパシタ回路のキャパシタの容量比の変動を低減することができる半導体集積回路装置を提供する。
【解決手段】 演算増幅器群4とスイッチ群2とスイッチ群2を駆動するタイミング信号線1とキャパシタ群3Aとを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含んでいる。キャパシタ群3Aを構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島5Aに比精度が要求される全てのキャパシタを配置している。また、単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを島5A内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置する。
【選択図】 図1

Description

本発明はスイッチトキャパシタ回路を含む半導体集積回路装置およびその一例としてのデルタ・シグマAD変換装置に関するものである。とりわけ、本発明は、半導体集積回路装置の基板上におけるキャパシタのレイアウトに関するものである。
図4は従来のスイッチトキャパシタ回路の配置の一例を示す模式図である。図4では、タイミング信号線(クロック信号線)群1とスイッチ群2とキャパシタ群3と演算増幅器群4とで構成されるスイッチトキャパシタ回路の構成例が示されている。
キャパシタ群3を構成する各キャパシタは、整列配置した複数の単位キャパシタで構成されている。また、単位キャパシタは、各キャパシタ毎に他の領域から分離された島5に配置されている。本構成例はたとえば、非特許文献1に示されている。
図5にスイッチトキャパシタ回路を構成するためのキャパシタのレイアウトの一例の概略図を示す。
スイッチトキャパシタ回路を含む半導体集積回路装置では、デジタル回路とアナログ回路(スイッチトキャパシタ回路)が混在しているため、デジタルノイズのアナログ回路への混入は大きな問題となる。デジタルノイズは、例えば、電源ラインやGNDラインから混入したり、基板から混入したりするので、デジタル回路とアナログ回路をできるだけ分離するようにしている。
また、スイッチトキャパシタ回路の特性は、例えば複数のキャパシタの容量比率で決まる。そのため、キャパシタとしては、一般に複数個の単位キャパシタを並べて配置したものを使用し、キャパシタの容量比率の誤差が少なくなるようにようにしている。単位キャパシタ1個の容量の相対比がσ%である場合、n個の単位キャパシタの容量の相対比は統計学上σ/√nとなることが知られているため、しばしば複数個の単位キャパシタの相対比となるように、例えばサンプリングキャパシタと積分キャパシタとが配置される。
その場合、各キャパシタは演算増幅器の近傍に配置される。そのため、使用されるキャパシタを演算増幅器ごとに集め、それぞれに分離された島の中に配置される。したがって、各演算増幅器毎のキャパシタ間の距離は長くなる。また、単位キャパシタの周辺レイアウトを、配線を含めて対称にすることは難しい。
しかしながら、スイッチトキャパシタ回路は、複数のキャパシタの容量比、例えば積分回路の場合にはサンプリングキャパシタと積分キャパシタの容量比で特性が決められるため、容量の比率の誤差は、スイッチトキャパシタ回路の特性の悪化をもたらす。とりわけ、AD(アナログ・デジタル)変換器、DA(デジタル・アナログ)変換器にスイッチトキャパシタ回路が使われる場合は、特性の悪化が大きく影響し、変換精度が低くなる。このことに関しては、非特許文献2に記載例がある。
Roubik Gregorian and Gabor C Temes 著「Analog MOS Integrated Circuits for Signal Processing」pp524:John Wiley & Sons Inc: SBN: 471097977:1986/04/10 ISSC(International Solid States Circuits VOL、SC−16、NO.6 DECEMBER1981) JAMES L. McCREARY,「Matching Properties, and Voltage and Temperature Dependence of MOS Capacitors」
スイッチトキャパシタ回路は、複数のキャパシタの容量比が特性に大きく影響を与えることは周知である。キャパシタはディメンジョン(寸法)の変動や、酸化膜厚のチップ内の変動がある。そのため、各キャパシタは、一般に複数個の単位キャパシタをマトリクス状に並べて構成し、各キャパシタの容量比を設定する際に、単位キャパシタの個数について整数比をとり、容量の比率の誤差が少なくなるようにようにしている。
その場合、キャパシタは演算増幅器の近傍に配置される。そのため、演算増幅器ごとに使用するキャパシタを集め、それぞれに分離された島の中に配置すると、各演算増幅器ごとのキャパシタ間の距離は遠くなる。そのため、各演算増幅器毎のキャパシタの相対誤差も特性の劣化をもたらす。また、キャパシタの配置位置が離れると、チップ内の酸化膜の膜厚変動やディメンジョンのずれのため、キャパシタの容量比に誤差を発生させる。また、周知のようにスイッチトキャパシタ回路を用いたAD(アナログ・デジタル)変換器、DA(デジタル・アナログ)変換器は、キャパシタの容量比に基づくスイッチトキャパシタ回路の特性が極めて重要なため、キャパシタの容量比率の誤差は特性の悪化をもたらす。とりわけ、スイッチトキャパシタ回路が、デルタ・シグマAD(アナログ・デジタル)変換器、DA(デジタル・アナログ)変換器、カスケードタイプのデルタ・シグマAD変換器に使われる場合は、その影響がきわめて大きい。また、キャパシタも、微少ではあるが、電位依存性や温度変動も存在し、このことが、キャパシタの容量比に影響を与えることもある。また、周辺のレイアウトの違いが、例えば、製造時のエッチングの誤差によって、キャパシタの容量値に相対誤差を与えることがある。また、デジタル・アナログ混在回路では、電源ライン、バイアスライン、基板などから、アナログ回路(スイッチトキャパシタ回路)にデジタルノイズを与えることがある。
したがって、本発明の目的は、スイッチトキャパシタ回路のキャパシタの容量比の変動を低減することができる半導体集積回路装置を提供することである。
上記課題を解決するために、本発明の半導体集積回路装置は、演算増幅器とスイッチとスイッチを駆動するタイミング信号線とキャパシタ群とを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含んでいる。そして、キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に比精度が要求される全てのキャパシタを配置している。また、単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置している。
この際、周辺部の単位キャパシタを使う場合における誤差の発生を少なくするため、単位キャパシタをダミーキャパシタで囲み、全ての単位キャパシタの周辺構造は同じとすることが好ましい。
また、各キャパシタは線対称、もしくは、点対称に配置することが好ましい。その場合に、配線の配置も含めて、線対称、もしくは、点対称に配置することが好ましい。
また、島の電位をフローティングもしくは、固定電位とすることも加えて行うことが好ましい。
また、各単位キャパシタの上部、周辺の配線のレイアウト、電位が同じであれば、キャパシタの容量の相対精度はさらに、向上させることが可能である。
上記の半導体集積回路装置の例としては、デルタ・シグマAD変換装置または、デルタ・シグマ変調器を複数段縦続接続したカスケード接続デルタ・シグマAD変換装置が考えられる。
上記の構成においては、コンデンサを同一の島に入れることにより、各コンデンサは等間隔に配置され、単位コンデンサの周囲環境を同じに保ちやすくなり対称性の配置をしやすくなる。また、線対称や、線対称に配置する場合に、全体の対称性のみならず、部分ごとの線対称、点対称を保つことによって、より、チップ内偏差の影響を受けにくくなる。そのため、配置の対称性の考慮や、大数の法則による平均化作用により、比精度を向上できる。
本発明の半導体集積回路装置およびデルタ・シグマAD変換装置によれば、演算増幅器とスイッチとスイッチを駆動するタイミング信号とキャパシタ群を有するスイッチトキャパシタ回路を含む構成において、キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に比精度が要求される全てのキャパシタを配置し、単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置しているので、スイッチトキャパシタ回路のキャパシタの容量比の変動を可能な限り低減することができる。
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1におけるスイッチトキャパシタ回路のレイアウトを示す模式図であり、以下図をもとに説明する。
図1において、タイミング信号線(クロック信号線、デジタル信号線)群1とスイッチ群2とキャパシタ群3Aと演算増幅器群4と信号線群11で構成されるスイッチトキャパシタ回路の構成例が示されている。上記の信号線群11は、アナログ信号線群のことを意味するが、スイッチトキャパシタなので、時間離散された、オペアンプの入出力信号も含む。また、デジタル信号線は主としてクロック信号のことであるが、アナログ信号がAD変換された信号、その後のデジタル処理される信号も含む。
キャパシタ群3Aを構成する各キャパシタは、複数の単位キャパシタの組み合わせで構成されている。図1では、各キャパシタを区別することなく、マトリクス状の単位キャパシタ群の配列のみ図示している。
キャパシタ群3Aは、各キャパシタが複数の単位キャパシタの組み合わせで構成されるが、全ての演算増幅器に接続される全てのキャパシタが他の領域から分離された島5A内に配置されている。つまり、比精度の必要なキャパシタ群3Aを同一の島5Aに入れることによって、全ての演算増幅器に接続される全ての単位キャパシタの周辺条件、構造を同じにすることが可能となる。
本発明の実施の形態の特徴は、全てのキャパシタが同一の島にあることと、対称配置されていることである。
なお、スイッチトキャパシタ回路を構成するための演算増幅器の個数は、1または複数個であり、スイッチトキャパシタ回路が1個の演算増幅器のみを含む場合には、1個の演算増幅器に接続される全てのキャパシタが島5A内に配置されることになる。複数個の演算増幅器を含む場合には、複数個の演算増幅器に接続される全てのキャパシタが島5A内に配置されることになる。
図2にスイッチトキャパシタ回路を構成するためのキャパシタのレイアウトの一例の概略図を示し、図7にスイッチトキャパシタ回路の一例である積分器の回路図を示す。
図7において、符号6はサンプリングキャパシタ(容量Cs)を示し、符号7は積分キャパシタ(容量Ci)を示す。符号18は電圧Vinを入力する入力端子を示し、符号23は電圧Voを出力する出力端子を示す。符号19,21は図9に示すスイッチタイミングφ1に応じてオンオフするスイッチを示し、符号20,22は図9に示すスイッチタイミングφ2に応じてオンオフするスイッチを示している。符号24は接地端子を示し、符号25は演算増幅器を示す。上記のスイッチタイミングφ1,φ2は、図9に示すように、ノンオーバーラッピングパルスである。
図2において、符号6Aは図7のサンプリング容量6を構成する単位キャパシタを示す。符号7Aは積分容量7を構成する単位キャパシタを示す。符号8Aは単位キャパシタ6A,7Aを全周にわたって囲むように配置されたダミーキャパシタを示す。ダミーキャパシタ8Aのディメンジョンは単位キャパシタと同じである。符号9Aは単位キャパシタ6Aの上側の電極に接続される1層目配線を示し、符号9Bは単位キャパシタ7Aの上側の電極に接続される1層目配線を示し、符号10Aは単位キャパシタ6Aの下側の電極に接続される2層目配線を示し、符号10Bは単位キャパシタ7Aの下側の電極に接続される2層目配線を示す。
サンプリング容量6は例えば36個の単位キャパシタ6Aで構成され、積分容量7も例えば36個の単位キャパシタ7Aで構成されている。そして、図2に示すように、例えば9個の単位キャパシタで構成される矩形領域を単位として、この矩形領域が対角線上に並ぶように各々配置されている。このようにして、それぞれサンプリング容量6、積分容量7はそれぞれ、レイアウトの中心Pに対して点対称に配置されている。また、1層目の配線9A,9Bおよび2層目の配線10A,10Bも、それぞれサンプリング容量6,積分容量7に対して、またレイアウト中心に対して点対称となるよう配置している。
このような構成をとることによって、チップ内の上下方向や左右方向の位置の違いに起因した製造的な偏差が単位キャパシタにあっても、2つのキャパシタの容量比の誤差が補正される。
ここで、図7のスイッチトキャパシタ回路の伝達関数について説明する。図7において、入力信号Vinに対する出力信号Voの伝達関数は、サンプリングキャパシタ6の容量をCs、積分キャパシタ7の容量をCi、とすると、以下の式(1),(2)に示すようになる。
V0/Vin = (Cs/Ci)・(Z-1/(1−Z-1)) ……(1)
ただし、
Z-1=exp(-jωT) ……(2)
ω:角周波数 T=1/fs fs:サンプリング周波数
である。
入力信号Vinに対する出力信号Voの伝達関数は、以上のように表されるため、Cs/Ciの比が変わらなければ、周波数特性は変動しないことが理解される。
図8にスイッチトキャパシタ回路の一例である全差動積分器の回路図を示す。図8において、符号60,61はサンプリングキャパシタ(容量Cs)を示し、符号70,71は積分キャパシタ(容量Ci)を示す。符号18は電圧Vinpを入力する正極性入力端子を示し、符号26は電圧Vinnを入力する負極性入力端子を示す。符号19,21,27,29は図9に示すスイッチタイミングφ1に応じてオンオフするスイッチを示し、符号20,22,28,30は図9に示すスイッチタイミングφ2に応じてオンオフするスイッチを示している。符号24は接地端子を示し、符号33は演算増幅器を示す。符号31は電圧Vopを出力する正極性出力端子を示し、符号32は電圧Vonを出力する負極性出力端子を示している。
この図8のスイッチトキャパシタ回路では、正極性入力電圧Vinpおよび負極性入力電圧Vinnが入力され、正極性出力電圧Vopおよび負極性出力電圧Vonが出力される。このときの入出力電圧間の伝達関数は以下のようになる。
Vop/Vinp=(Cs/Ci)・(Z-1/(1−Z-1)) ……(3)
Von/Vinn=(Cs/Ci)・(Z-1/(1−Z-1)) ……(4)
図3は2個の単位キャパシタの配置例を示す拡大平面図である。図3において、符号101は単位キャパシタを示し、符号102は2個の単位キャパシタの101の周りを囲むように配置されたダミーキャパシタを示している。符号103は単位キャパシタ101に接続される1層目配線を示し、符号104は単位キャパシタ101に接続される2層目配線を示し、105は対称性を得るためのダミーの1層目配線を示している。
単位キャパシタのコーナー部は、エッチングによる誤差が出やすいため、角を削って丸くしている。また、2つの単位キャパシタのそれぞれにおける周辺の他の単位キャパシタまでの距離は、等距離(距離d)とし、各単位キャパシタへの配線も対称としている。このことによって、配線工程でのキャパシタへの影響も2つの単位キャパシタには同じに働き、キャパシタ比率は一定に保たれる。また、配線間の寄生容量や、メタル配線とポリシリコン間の寄生容量も存在するため、それらがたとえあったとしても、それらを同じだけ相対比の必要なキャパシタに付加されるようにしている。
図6は実際の単位キャパシタの構造の一例を示す概略斜視図である。図6において、符号101は基板を示し、符号102は基板101に形成されたPウエルを示し、符号103はPウエル102上に形成されたLOCOS酸化膜を示す。符号104はLOCOS酸化膜103上に形成されたポリシリコン膜を示し、符号105はポリシリコン膜104の上に形成した酸化膜を示し、符号106は酸化膜106の上に形成したポリシリコン膜を示し、これらが単位キャパシタの下部電極、容量膜、上部電極に相当する。符号107,108は保護膜を示し、符号109,110,112は配線を示し、111はコンタクトを示している。
基本の単位キャパシタは、ポリシリコン膜104と酸化膜105とポリシリコン膜106とで構成されるが、そのほかにポリシリコン膜104と酸化膜103とPウエル102とで構成される寄生のMOS容量や、配線109,110間の寄生容量が存在し、さらに他の配線が近傍に存在する場合には、配線109もしくは110と他の配線との間の寄生の容量なども存在する。しかし、上記のように対称な構成とすることで、各種寄生容量が、各単位キャパシタに同じだけ付加されることになる。その結果、容量比は一定に保たれる。
以上説明したように、コンデンサを同一の島に入れることにより、各コンデンサは等間隔に配置され、単位コンデンサの周囲環境を同じに保ちやすくなり対称性の配置をしやすくなる。また、線対称や、線対称に配置する場合に、全体の対称性のみならず、部分ごとの線対称、点対称を保つことによって、より、チップ内偏差の影響を受けにくくなる。そのため、配置の対称性の考慮や、大数の法則による平均化作用により、比精度を向上できる。
本発明にかかるスイッチトキャパシタ回路を含む半導体集積回路装置は、スイッチトキャパシタ回路のキャパシタの容量比の変動を可能な限り低減することができるという効果を有し、デルタ・シグマAD変換装置等として有用である。
本発明の実施の形態1におけるスイッチトキャパシタ回路の一例のレイアウトを示す模式図である。 本発明の実施の形態1におけるスイッチトキャパシタ回路を構成するキャパシタのレイアウトの一例を示す概略図である。 本発明の実施の形態1における単位キャパシタの配置例を示す拡大平面図である。 従来のスイッチトキャパシタ回路の配置の一例のレイアウトを示す模式図である。 従来のスイッチトキャパシタ回路を構成するキャパシタのレイアウトを示す概略図である。 実際の単位キャパシタの構造の一例を概略斜視図である。 積分器の構成の一例を示す回路図である。 全差動積分器の構成の一例を示す回路図である。 図7の積分器の動作を示すタイムチャートである。
符号の説明
1 タイミング信号線群
2 スイッチ群
3,3A キャパシタ群
4 演算増幅器群
5,5A 島
6,60,61 サンプリングキャパシタ
6A 単位キャパシタ
7,70,71 積分キャパシタ
7A 単位キャパシタ
8 ダミーキャパシタ
8A ダミーキャパシタ
9,9A,9B 1層目配線
10,10A,10B 2層目配線
11 信号線
18 入力端子
18A 正極性入力端子
19,20,21,22 スイッチ
23 出力端子
24 接地端子
25 演算増幅器
26 負極性入力端子
27,28,29,30 スイッチ
31 正極性出力端子
32 負極性出力端子
101 基板
102 Pウエル
103 酸化膜
104 ポリシリコン膜
105 酸化膜
106 ポリシリコン膜
107 保護膜
108 保護膜
109 配線
110 配線
111 コンタクト
112 配線

Claims (7)

  1. 演算増幅器とスイッチと前記スイッチを駆動するタイミング信号線とキャパシタ群とを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含む半導体集積回路装置であって、
    前記キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に前記比精度が要求される全てのキャパシタを配置し、
    前記単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ前記比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを前記島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置している半導体集積回路装置。
  2. 演算増幅器とスイッチと前記スイッチを駆動するタイミング信号線とキャパシタ群とを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含む半導体集積回路装置であって、
    前記キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に前記比精度が要求される全てのキャパシタを配置し、
    前記単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ前記単位キャパシタ群に接続される配線も含めて前記比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを前記島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置している半導体集積回路装置。
  3. 演算増幅器群とスイッチ群と前記スイッチ群を駆動するタイミング信号線群とキャパシタ群とを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含む半導体集積回路装置であって、
    前記タイミング信号線群、前記スイッチ群、前記キャパシタ群、前記演算増幅器群は、この順に配置され、
    前記キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に前記比精度が要求される全てのキャパシタを配置し、
    前記単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ前記単位キャパシタ群に接続される配線も含めて前記比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを前記島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置し、かつ信号線の引き出し方向とデジタル信号線の引き出し方向を反対方向としている半導体集積回路装置。
  4. 演算増幅器群とスイッチ群と前記スイッチ群を駆動するタイミング信号線群とキャパシタ群とを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含む半導体集積回路装置であって、
    前記タイミング信号線群、前記スイッチ群、前記キャパシタ群、前記演算増幅器群は、この順に配置され、
    前記キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に前記比精度が要求される全てのキャパシタを配置し、
    前記島の電位をフローティングとするかもしくは前記島に固定電位を与え、
    前記単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ前記単位キャパシタ群に接続される配線も含めて前記比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを前記島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置し、かつ信号線の引き出し方向とデジタル信号線の引き出し方向を反対方向としている半導体集積回路装置。
  5. 演算増幅器群とスイッチ群と前記スイッチ群を駆動するタイミング信号線群とキャパシタ群とを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含む半導体集積回路装置であって、
    前記タイミング信号線群、前記スイッチ群、前記キャパシタ群、前記演算増幅器群は、この順に配置され、
    前記キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に前記比精度が要求される全てのキャパシタを配置し、
    前記比精度が要求される全てのキャパシタを構成する単位キャパシタの周囲にダミーキャパシタを配置することにより、前記単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ前記単位キャパシタ群に接続される配線も含めて前記比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを前記島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置し、かつ信号線の引き出し方向とデジタル信号線の引き出し方向を反対方向としている半導体集積回路装置。
  6. 演算増幅器群とスイッチ群と前記スイッチ群を駆動するタイミング信号線群とキャパシタ群とを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含むデルタ・シグマAD変換装置であって、
    前記タイミング信号線群、前記スイッチ群、前記キャパシタ群、前記演算増幅器群は、この順に配置され、
    前記キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に前記比精度が要求される全てのキャパシタを配置し、
    前記島の電位をフローティングとし、
    前記単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ前記単位キャパシタ群に接続される配線も含めて前記比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを前記島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置し、かつ信号線の引き出し方向とデジタル信号線の引き出し方向を反対方向としているデルタ・シグマAD変換装置。
  7. 演算増幅器群とスイッチ群と前記スイッチ群を駆動するタイミング信号線群とキャパシタ群とを基板上に有するスイッチトキャパシタ回路を含むカスケード接続デルタ・シグマAD変換装置であって、
    前記タイミング信号線群、前記スイッチ群、前記キャパシタ群、前記演算増幅器群は、この順に配置され、
    前記キャパシタ群を構成し比精度が要求される全てのキャパシタを複数個の単位キャパシタの組み合わせで構成し、かつ周囲の領域から分離された同一の島に前記比精度が要求される全てのキャパシタを配置し、
    前記島の電位をフローティングとし、
    前記単位キャパシタ群を構成する各単位キャパシタの周辺構造を同じとし、かつ前記単位キャパシタ群に接続される配線も含めて前記比精度が要求される全てのキャパシタを構成する各単位キャパシタを前記島内で少なくとも線対称もしくは点対称となるように配置し、かつ信号線の引き出し方向とデジタル信号線の引き出し方向を反対方向としているカスケード接続デルタ・シグマAD変換装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008218800A (ja) * 2007-03-06 2008-09-18 Nikon Corp 固定パタ−ンノイズを低減した増幅型固体撮像素子
JP2009116302A (ja) * 2007-10-15 2009-05-28 Seiko Epson Corp 駆動回路、データドライバ、集積回路装置及び電子機器
US7560796B2 (en) 2005-12-17 2009-07-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Capacitor and capacitor array
JP2013021426A (ja) * 2011-07-08 2013-01-31 Seiko Epson Corp スイッチトキャパシター積分回路、フィルター回路、物理量測定装置、及び電子機器
JP2015154093A (ja) * 2014-02-10 2015-08-24 三菱電機株式会社 スイッチトキャパシタ回路
JP2016046323A (ja) * 2014-08-20 2016-04-04 株式会社デンソー 半導体装置
JP2017076829A (ja) * 2017-02-07 2017-04-20 株式会社ソシオネクスト 容量素子、容量アレイおよびa/d変換器
US9892857B2 (en) 2016-06-15 2018-02-13 Seiko Epson Corporation Capacitor circuit, circuit device, physical quantity detecting device, electronic apparatus, and moving object
WO2018123201A1 (ja) * 2016-12-28 2018-07-05 株式会社デンソー 差動出力型d/a変換器及びa/d変換器

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7560796B2 (en) 2005-12-17 2009-07-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Capacitor and capacitor array
JP2008218800A (ja) * 2007-03-06 2008-09-18 Nikon Corp 固定パタ−ンノイズを低減した増幅型固体撮像素子
JP2009116302A (ja) * 2007-10-15 2009-05-28 Seiko Epson Corp 駆動回路、データドライバ、集積回路装置及び電子機器
JP2013021426A (ja) * 2011-07-08 2013-01-31 Seiko Epson Corp スイッチトキャパシター積分回路、フィルター回路、物理量測定装置、及び電子機器
JP2015154093A (ja) * 2014-02-10 2015-08-24 三菱電機株式会社 スイッチトキャパシタ回路
JP2016046323A (ja) * 2014-08-20 2016-04-04 株式会社デンソー 半導体装置
US9892857B2 (en) 2016-06-15 2018-02-13 Seiko Epson Corporation Capacitor circuit, circuit device, physical quantity detecting device, electronic apparatus, and moving object
US10008333B2 (en) 2016-06-15 2018-06-26 Seiko Epson Corporation Capacitor circuit, circuit device, physical quantity detecting device, electronic apparatus, and moving object
WO2018123201A1 (ja) * 2016-12-28 2018-07-05 株式会社デンソー 差動出力型d/a変換器及びa/d変換器
JP2017076829A (ja) * 2017-02-07 2017-04-20 株式会社ソシオネクスト 容量素子、容量アレイおよびa/d変換器

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