JP2005114539A - 分光分析光度計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】二次光L3及び参照光L2を受光して分光分析する光度計本体と、その光度計本体に前記二次光L3又は参照光L2のいずれか一方を自動的に選択導入可能な選択機構24とを備えてなり、前記二次光L3と参照光L2とを分離測定できるように構成した。
【選択図】図3
Description
24…シャッタ
241…励起光シャッタ
242…参照光シャッタ
3…光度計本体
34…演算制御部
4…試料
L1…励起光
L2…参照光
L3…二次光
1A…エネルギ線源
1B…参照光源
Claims (7)
- 試料に励起用エネルギ線を照射して生じる二次光を分光分析するにあたり、既知のスペクトル分布を有する参照光による波長校正が行われるようにした分光分析光度計であって、前記二次光及び参照光を受光して分光分析する光度計本体と、その光度計本体に前記二次光又は参照光のいずれか一方を自動的に選択導入可能な選択機構とを備えてなり、前記二次光と参照光とを分離測定できるように構成していることを特徴とする分光分析光度計。
- 前記励起用エネルギ線がレーザ光線であり、前記二次光がラマン散乱光である請求項1記載の分光分析光度計。
- 前記選択機構が、前記参照光の前記光度計本体に至る光路上に設けられた参照光シャッタと、前記エネルギ線の前記光度計本体に至る線路上に設けられたエネルギ線シャッタとを備えており、外部からのシャッタ制御信号で前記各シャッタを開閉駆動し、前記光路又は線路を選択的に遮断できるように構成している請求項1又は2記載の分光分析光度計。
- 参照光及び二次光の測定時間、測定回数、測定順序等を示す測定条件をオペレータの入力等によって受け付け、その受け付けた測定条件に応じて前記選択機構を自動制御する演算制御部をさらに備えている請求項1、2又は3記載分光分析光度計。
- 前記励起用エネルギ線が、励起用の波長を有する励起光と、その励起用波長とは異なる第2の波長の光とを含んだレーザ光線であって、前記第2の波長の光を前記参照光としている請求項1、2、3又は4記載の分光分析光度計。
- 前記励起用エネルギ線を射出するエネルギ線源と、前記参照光を射出する参照光源とを別体で備えている1、2、3又は4記載の分光分析光度計。
- 前記二次光のスペクトルシフト量を測定するとともに、そのスペクトルシフト量に前記参照光のスペクトルシフトによる波長校正を加えて前記試料の温度、構造、欠陥又は応力等の試料状態を算出するものである請求項1、2、3、4、5又は6記載の分光分析光度計。
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