JP2005114441A - ひずみ量測定機能付きボルト - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電磁結合、電磁誘導、マイクロ波給電、光結合のいずれかで供給された電力を用いて電気回路を駆動する。またシリコン基板中に形成した不純物拡散層によりホイートストンブリッジを構成し、該シリコン基板をボルトに埋め込む。
結線しない電源供給方式により簡便で長寿命となる。またダミー抵抗を埋め込み、ボルト内部でホイートストンブリッジを構成したため温度が変化した場合にも高精度測定が可能となる。
【選択図】 図1
Description
また、上記ではひずみセンサを<110>方向、ダミー抵抗を<100>方向に形成すると記述したが、これは理想状態であって、製造上、角度のズレが生じた場合でも効果は十分に有する。すなわち、ひずみセンサは<100>方向よりも<110>方向に近くなるように配し、ダミー抵抗は<110>方向よりも<100>方向に近くなるように配すれば効果を有する。
また、ダミー抵抗を、図26に示すようなひずみセンサの拡散層の長手方向とダミー抵抗の拡散層の長手方向がほぼ直角になるように形成しても良い。すなわち、ひずみセンサの拡散層の長手方向がボルト12の軸線方向となるように配置し、またダミー抵抗5の拡散層の長手方向がボルト12の半径方向と一致するように配する。この場合には、ボルトの半径方向にもある程度のひずみが発生するので完全なダミーとはならないが、値に大きな差が生じるために十分実用の範囲内となる。また、図26ではn型の不純物拡散層を用いた場合について一例として示したが、p型の不純物拡散層を用いた場合でも、さらにn型不純物拡散層とp型不純物拡散層の両方の組み合わせで構成しても良い。
2…シリコン基板
3…ひずみセンサ
4…ひずみセンサアンプ群
5…ダミー抵抗
6…アナログ/デジタルコンバータ
7…整流・検波・変復調回路部
8…通信制御部
10…アンテナ
12…ボルト
13…孔
14…ひずみゲージ
15…チップ
16…ホイートストンブリッジ回路
17…リーダ
19…温度センサ
20…ID記憶部
21…蓄電池
22…レジスタ
23…不揮発性メモリ
24…タイマー
25…自己発電部
Claims (14)
- ボルトに、ひずみセンサおよびダミー抵抗からなるホイートストンブリッジ回路と、該ホイートストンブリッジ回路からの信号を増幅してデジタル信号に変換する変換回路と、前記デジタル信号をボルトの外部に送信するための送信回路と、ボルトの外部から受けた電磁波エネルギを少なくとも前記何れかの回路の電源として供給する電源回路と、を設けたことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- ボルトに穿設した穴に、ひずみセンサおよびダミー抵抗からなるホイートストンブリッジ回路と、該ホイートストンブリッジ回路からの信号を増幅してデジタル信号に変換する変換回路と、前記デジタル信号をボルトの外部に送信するための送信回路と、ボルトの外部から受けた電磁波エネルギを少なくとも前記何れかの回路の電源として供給する電源回路、を設け、前記変換回路と、送信回路と、前記電源回路が共通する半導体チップの上に形成され、前記半導体チップの電源グランドと前記ボルトが電気的に結合されていることを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- ボルトの長軸線方向に穿設した穴に、ひずみセンサおよびダミー抵抗を備えたホイートストンブリッジ回路と、該ホイートストンブリッジ回路からの信号を増幅してデジタル信号に変換する変換回路と、前記デジタル信号をボルトの外部に送信する送信回路と、ボルトの外部から受けた電磁波エネルギを前記いずれかの回路の電源とする電源回路と、を設置し、前記ホイートストンブリッジ回路と前記電源回路と共通する単結晶半導体チップに形成されたことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- ボルトに、ひずみセンサおよびダミー抵抗からなるホイートストンブリッジ回路と、該ホイートストンブリッジ回路からの信号を増幅してデジタル信号に変換する変換回路と、前記デジタル信号をボルトの外部に送信する送信回路と、ボルトの外部から受けた電磁波エネルギを少なくとも前記いずれかの回路の電源とする電源回路と、温度センサと、を設置し、前記温度センサと前記ホイートストンブリッジ回路とが同一のシリコン単結晶部材に形成され、前記温度センサは前記部材の不純物拡散層であることを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- 請求項1において、前記ホイートストンブリッジ回路を構成する前記ひずみセンサおよび前記ダミー抵抗が同一のシリコン単結晶部材上に形成され、前記ひずみセンサはN型不純物拡散層を有し、前記ダミー抵抗をP型不純物拡散層を有し、前記ひずみセンサは前記シリコンの<100>方向を長手とするように形成され、前記ダミー抵抗は前記シリコンの<110>方向を長手とするように形成したことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- 請求項1において、前記ホイートストンブリッジ回路を構成する前記ひずみセンサおよび前記ダミー抵抗同一のシリコン単結晶基板に形成され、前記ひずみセンサは前記シリコン基板中にP型の不純物層を拡散させて形成された第一の領域を有し、前記第一の領域の長手方向はシリコン基板の<110>方向となるよう形成され、前記ダミー抵抗は前記シリコン基板中にP型の不純物層を拡散させて形成された第二の領域を有し、前記第二の領域の長手方向はシリコン基板の<100>方向が長手となるように形成されたことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- 請求項1において、前記ホイートストンブリッジ回路を構成する前記ひずみセンサおよび前記ダミー抵抗が同一のシリコン単結晶基板に形成されており、前記ひずみセンサは前記シリコン基板中にN型の不純物層を拡散させて形成された第一の領域を有し、前記第一の領域はシリコン基板の<100>方向が長手となるように形成し、前記ダミー抵抗は前記シリコン基板中にN型の不純物層を拡散させて形成された第二の領域を有し、前記第二の領域はシリコンの<110>方向が長手となるように形成したことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- 請求項1において、ホイートストンブリッジ回路を構成する前記ひずみセンサおよび前記ダミー抵抗からなる同一のシリコン単結晶基部材に形成されており、前記ひずみセンサはP型不純物拡散層を有し、前記ダミー抵抗はN型不純物拡散層を有し、前記ひずみセンサと前記ダミー抵抗はシリコン単結晶部材の<110>方向を長手とするように形成したことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- 請求項1において、ホイートストンブリッジ回路を構成する前記ひずみセンサおよび前記ダミー抵抗からなる同一のシリコン単結晶基部材に形成されており、前記ひずみセンサはP型不純物拡散層を有し、前記ダミー抵抗はN型不純物拡散層を有し、前記ひずみセンサと前記ダミー抵抗はシリコン単結晶部材の<100>方向を長手とするように形成したことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- 請求項1において、ホイートストンブリッジ回路を構成する前記ひずみセンサおよび前記ダミー抵抗からなる同一のシリコン単結晶部材に形成されており、前記ひずみセンサはP型不純物拡散層を有し、前記ダミー抵抗はN型不純物拡散層を有し、前記ひずみセンサはシリコン単結晶部材の<100>方向を長手とするように形成し、前記ダミー抵抗はシリコン単結晶部材の<110>方向を長手とするように形成したことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
- 請求項1において、ホイートストンブリッジ回路を構成する前記ひずみセンサおよび前記ダミー抵抗からなる同一のシリコン単結晶部材に形成されており、前記ひずみセンサは前記シリコン基板中にP型の不純物層を拡散させて形成された第一の領域を有し、前記第一の領域の長手方向は前記シリコン単結晶部材の<110>方向に形成され、前記ダミー抵抗はシリコン基板中にP型の不純物層を拡散させて形成された第二の領域を有し、前記第二の領域の長手方向はシリコン単結晶部材の<100>方向となるように形成したことを特徴とするひずみ量測定機能付きボルト。
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