JP2005110981A - 放射線画像の欠損画素検出方法、および、放射線撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 X線透視画像中の欠損画素をリアルタイムで検出できるようにする。
【解決手段】 この発明の装置は、欠損有無仮判定部14と仮判定結果登録部15と欠損有無本判定部16とが協働して、欠損の有無の最終的な本判定をくだす現時点の欠損検出対象画素の欠損有無仮判定結果に、過去の4つの異時点の欠損有無仮判定結果も併せて参酌して欠損検出対象画素の欠損有無の本判定をくだすので、現時点という単一時点の欠損有無仮判定結果だけで欠損有無の本判定をくだす従来と比べて判定精度が極めて高く、画素信号の信号強度に撮像対象の被検体Mの放射線吸収状況に応じた変動があるX線撮影中であっても欠損画素を検出することができる。その結果、リアルタイムでX線透視画像中の欠損画素を検出できる。
【選択図】 図1
【解決手段】 この発明の装置は、欠損有無仮判定部14と仮判定結果登録部15と欠損有無本判定部16とが協働して、欠損の有無の最終的な本判定をくだす現時点の欠損検出対象画素の欠損有無仮判定結果に、過去の4つの異時点の欠損有無仮判定結果も併せて参酌して欠損検出対象画素の欠損有無の本判定をくだすので、現時点という単一時点の欠損有無仮判定結果だけで欠損有無の本判定をくだす従来と比べて判定精度が極めて高く、画素信号の信号強度に撮像対象の被検体Mの放射線吸収状況に応じた変動があるX線撮影中であっても欠損画素を検出することができる。その結果、リアルタイムでX線透視画像中の欠損画素を検出できる。
【選択図】 図1
Description
この発明は、放射線検出信号にしたがって作成される放射線画像における放射線検出素子の欠陥に起因する欠損画素を放射線画像の画素信号に基づき検出する方法、および、放射線検出信号にしたがって放射線画像が作成される放射線撮像装置に係り、特に放射線画像の欠損画素をリアルタイムで検出できるようにするための技術に関する。
放射線撮像装置として、例えば、X線検出用の放射線検出用のFPD(フラットパネル型検出器)を備えたX線透視撮影装置がある。イメージインテンシファイアと比べて軽量で薄型のFPDを備えたX線透視撮影装置は、被検体からの透過X線が投影されるFPDのX線検出面に多数のX線検出素子が縦と横の配列ラインに沿って2次元状マトリックス配置されていて、X線撮影中はFPDから出力されるX線検出信号にしたがってX線検出面に投影される透過X線像に対応するX線透視画像が作成される。
しかし、X線検出素子に欠陥が生じる場合がある。特にFPDの場合、X線検出素子の欠陥が顕著であって、X線透視画像では欠損のあるX線検出素子に対応する画素が欠損画素となる。そこで、欠損画素を予め検出して登録しておき、X線撮影中は登録されている欠損画素の画素信号を適当な信号に置き換えて修復し、X線透視画像中の欠損画素を取り除いている。
また、従来装置の場合、X線透視画像の欠損画素の検出は、装置据えつけ時にFPDのX線検出面に一様のX線を投影して撮影されたX線透視画像の画素信号の信号強度が適性範囲を外れているか否かをチェックすることで行われ、X線透視画像の画素信号の信号強度が適性範囲を外れている画素が欠損画素として検出されることになる。
しかしながら、このような構成を有する従来のX線透視撮影装置は、X線透視画像の欠損画素をリアルタイムで検出できないという問題がある。すなわち,従来装置では、X線撮影中にX線透視画像の欠損画素を検出することは無理なのである。
X線撮影中のFPDのX線検出面には、据えつけ時の欠損画素検出の際のように一様なX線が投影されるわけではなく、被検体の透過X線像が投影されるので、画素信号の信号強度は一定ではなくて撮影対象の被検体のX線吸収状況に応じた変動を伴う結果、X線撮影中に欠損画像を誤りなく検出することは非常に難しく、事実上無理である。
しかし、欠損画素をリアルタイムで検出できない場合、装置据えつけ時に欠損画素が見落とされたり、X線撮影中に新たに欠損画素が発生したりした場合には、X線透視画像には欠損画素が出現してしまうことになる。
しかし、欠損画素をリアルタイムで検出できない場合、装置据えつけ時に欠損画素が見落とされたり、X線撮影中に新たに欠損画素が発生したりした場合には、X線透視画像には欠損画素が出現してしまうことになる。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、放射線画像の欠損画素をリアルタイムで検出することができる放射線画像の欠損画素検出方法、および、放射線撮像装置を提供することを目的とする。
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、放射線検出信号にしたがって作成される放射線画像における放射線検出素子の欠陥に起因する欠損画素を放射線画像の画素信号に基づき検出する方法であって、欠損の有無を判定しようとする画素(欠損検出対象画素)の画素信号強度と欠損検出対象画素の周辺の画素(欠損検出周辺画素)の画素信号強度とを用いて欠損検出対象画素の信号強度の適否をチェックする信号強度比較処理の処理結果に基づき欠損検出対象画素の欠損の有無を仮判定する欠損有無仮判定過程と、欠損有無仮判定過程で得た欠損有無仮判定結果を各画素ごとに区別して登録する仮判定結果登録過程と、欠損有無仮判定過程による欠損検出対象画素についての現時点(最新)の欠損有無仮判定結果および仮判定結果登録過程で登録された過去の欠損有無仮判定結果に基づいて欠損検出対象画素の欠損の有無を最終的に本判定する欠損有無本判定過程とを備えていることを特徴とするものである。
すなわち、請求項1に記載の発明は、放射線検出信号にしたがって作成される放射線画像における放射線検出素子の欠陥に起因する欠損画素を放射線画像の画素信号に基づき検出する方法であって、欠損の有無を判定しようとする画素(欠損検出対象画素)の画素信号強度と欠損検出対象画素の周辺の画素(欠損検出周辺画素)の画素信号強度とを用いて欠損検出対象画素の信号強度の適否をチェックする信号強度比較処理の処理結果に基づき欠損検出対象画素の欠損の有無を仮判定する欠損有無仮判定過程と、欠損有無仮判定過程で得た欠損有無仮判定結果を各画素ごとに区別して登録する仮判定結果登録過程と、欠損有無仮判定過程による欠損検出対象画素についての現時点(最新)の欠損有無仮判定結果および仮判定結果登録過程で登録された過去の欠損有無仮判定結果に基づいて欠損検出対象画素の欠損の有無を最終的に本判定する欠損有無本判定過程とを備えていることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項1に記載の方法によって、放射線検出信号にしたがって作成される放射線画像における放射線検出素子の欠陥に起因する欠損画素を検出する場合、先ず欠損有無仮判定過程で、欠損の有無を判定しようとする欠損検出対象画素の画素信号強度と欠損検出周辺画素の画素信号強度とを用いて欠損検出対象画素の信号強度の適否をチェックする信号強度比較処理の処理結果にしたがって欠損検出対象画素の欠損の有無を仮判定するとともに、仮判定結果登録過程で、欠損有無仮判定過程で得た欠損有無仮判定結果を各放射線検出素子ごとに区別して登録し、さらに欠損有無本判定過程で、欠損有無仮判定過程によって得た欠損検出対象画素についての現時点の欠損有無仮判定結果と仮判定結果登録過程で登録された過去の欠損有無仮判定結果とに基づいて欠損検出対象画素の欠損有無の本判定を行う。
すなわち、請求項1の発明の方法の場合、欠損検出対象画素に対して欠損有無の本判定をくだす際には、欠損有無仮判定過程で得た現時点の欠損有無仮判定結果だけでなく、現時点より前の時点の欠損有無仮判定過程で得て登録されている欠損検出対象画素の過去の欠損有無仮判定結果も併せて参酌し欠損検出対象画素に対し欠損有無の本判定をくだすので、現時点という単一時点の欠損有無仮判定結果だけで欠損検出対象画素に対して欠損有無の本判定をくだす従来の場合に比べて判定精度が極めて高く、その結果、放射線検出信号の信号強度に撮像対象の被検体の放射線吸収状況に応じた変動がある放射線撮影中であっても、欠損検出対象画素に対して欠損有無の判定をくだすことができる。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の放射線画像の欠損画素検出方法において、欠損有無本判定過程では、現時点の欠損有無仮判定結果と複数の過去の欠損有無仮判定結果との過半数が欠損有りの時は欠損有りの本判定をくだし、それ以外の時は欠損無しの本判定をくだすものである。
[作用・効果]請求項2の発明の方法の場合、欠損有無本判定過程においては、現時点および複数の過去の時点という少なくとも三つの異なる時点で得られた欠損有無仮判定結果が参酌されるとともに仮判定結果の過半数が欠損有りの時に本判定も欠損有りとされるので、欠損有無本判定過程で下される本判定が的確なものとなる。
また、請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記載の欠損画素検出方法において、前記放射線検出信号を、放射線検出面に多数の放射線検出素子が縦と横の配列ラインに沿って2次元状マトリックス配置されているFPD(フラットパネル型検出器)から得るものである。
[作用・効果]請求項3の発明の方法の場合、放射線検出面に多数の放射線検出素子が縦と横の配列ラインに沿って2次元状マトリックス配置されているFPDから出力された放射線検出信号にしたがって放射線画像を作成する。
さらに、請求項4に記載の発明に係る放射線撮像装置は、被検体に放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、放射線検出手段から出力される放射線検出信号にしたがって放射線画像が作成される放射線撮像装置において、欠損の有無を判定しようとする画素(欠損検出対象画素)の画素信号強度と欠損検出対象画素の周辺の画素(欠損検出周辺画素)の画素信号強度とを用いて欠損検出対象画素の信号強度の適否をチェックする信号強度比較処理の処理結果に基づき欠損検出対象画素の欠損の有無を仮判定する欠損有無仮判定手段と、欠損有無仮判定手段で得た欠損有無仮判定結果を各画素ごとに区別して登録する仮判定結果登録手段と、欠損有無仮判定手段による欠損検出対象画素についての現時点(最新)の欠損有無仮判定結果および仮判定結果登録手段で登録された過去の欠損有無仮判定結果に基づいて欠損検出対象画素の欠損の有無を最終的に本判定する欠損有無本判定手段と、欠損有無本判定手段により欠損有りの本判定がくだされた欠損画素を登録する欠損画素登録手段と、欠損画素登録手段に登録されている欠損画素の画素信号を信号処理により修復する画素信号修復手段とを備えていることを特徴とするものである。
[作用・効果]請求項4の発明の装置において、放射線検出手段から出力される放射線検出信号にしたがって作成される放射線画像における放射線検出素子の欠陥に起因する欠損画素を検出する際は、欠損有無仮判定手段と仮判定結果登録手段と欠損有無本判定手段とが、放射線撮影で撮影される放射線画像の画素信号に基づき協働して上記の本発明に係る放射線画像の欠損画素検出方法を実行して放射線画像中の欠損画素を検出する。そして、請求項4の発明の装置の場合、欠損有無本判定手段によって欠損有りと本判定がくだされた欠損画素は欠損画素登録手段で登録されるとともに、欠損画素登録手段に登録されている欠損画素の画素信号は画素信号修復手段による信号処理で修復される。
すなわち、請求項4の発明の装置の場合、欠損有無仮判定手段と仮判定結果登録手段と欠損有無本判定手段とが上記の本発明に係る放射線画像の欠損画素検出方法を実行して放射線画像中の欠損画素を検出する構成を備えているので、画素信号の信号強度に撮像対象である被検体の放射線吸収状況に応じた変動がある放射線撮影中であっても、欠損画素の検出が行える。
加えて、請求項4の発明の装置の場合、欠損有無本判定手段で欠損有りの本判定がくだされた欠損画素を欠損画素登録手段が登録するとともに、欠損画素登録手段に登録されている欠損画素の画素信号を画素信号修復手段が信号処理で修復する構成を備えている。その結果、装置据えつけ時に画素の欠損が見落とされたり、放射線撮影中に新たに画素の欠損が発生したりした場合でも、遅滞なく欠損画素をなくすことができる。
また、請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の放射線撮像装置において、欠損有無本判定手段は、現時点の欠損有無仮判定結果と複数の過去の欠損有無仮判定結果との過半数が欠損有りの時は欠損有りの本判定をくだし、それ以外の時は欠損無しの本判定をくだすものである。
[作用・効果]請求項5の発明の装置の場合、欠損有無本判定手段が、現時点および複数の過去の時点という少なくとも三つの異なる時点で得られた欠損有無仮判定結果を参酌して仮判定結果の過半数が欠損有りの時に欠損有りの本判定をくだすので、欠損有無本判定手段による欠損有無の本判定を的確にくだすことができる。
また、請求項6に記載の発明は、請求項4または請求項5に記載の放射線撮像装置において、欠損有無仮判定手段は、信号強度比較処理の際に欠損検出対象画素および複数個の欠損検出周辺画素の画素信号の信号強度の平均値、または、複数個の欠損検出周辺画素の画素信号の信号強度の平均値のいずれかと、欠損検出対象画素の画素信号の信号強度とを比較する信号強度比較処理を行うとともに処理結果である信号強度の差が一定範囲内の時は欠損無しの仮判定をくだし、それ以外の時は欠損有りの仮判定をくだすものである。
[作用・効果]請求項6の発明の装置の場合、欠損有無仮判定手段が、欠損検出対象画素および複数個の欠損検出周辺画素の画素信号の信号強度の平均値、または、複数個の欠損検出周辺画素の画素信号の信号強度の平均値という適切な比較用基準に基づいて欠損検出対象画素の信号強度の適否をチェックするので、欠損有無仮判定手段による仮判定は的確にくだされる。欠損検出周辺画素の画素信号および欠損検出対象画素の画素信号は画素の欠損のない場合、互いに近い信号強度を有しており、複数個の欠損検出周辺画素の画素信号の信号強度が平均化されたかたちで含まれる比較基準用としての信号強度の平均値は、欠損検出対象画素の画素信号の適正な信号強度とほとんど変わりない値となり、比較用基準として適切である。
また、請求項7に記載の発明は、請求項4から請求項6のいずれかに記載の放射線撮像装置において、画素信号修復手段は、欠損画素登録手段に登録されている欠損画素の至近の画素(欠損検出至近画素)の画素信号を用いて前記欠損画素の修復を行うものである。
[作用・効果]請求項7の発明の装置の場合、欠損画素登録手段に登録されている欠損画素の修復が、欠損検出至近画素の画素信号という適切な信号を用いて行われるので、欠損画素の修復が適切に行われる。欠損検出対象画素の画素信号および欠損検出至近画素の画素信号は画素の欠損のない場合、互いに近い信号強度を有しており、欠損検出至近画素の画素信号の信号強度は欠損検出対象画素の画素信号の適正な信号強度とほとんど変わりない値であるので、欠損画素の修復を行うための信号として適切である。
また、請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の放射線撮像装置において、欠損画素の画素信号の修復は、修復対象の欠損画素の画素信号を、欠損検出対象画素および複数個の欠損検出至近画素の画素信号の信号強度の平均値、または、複数個の欠損検出至近画素の画素信号の信号強度の平均値のいずれかを信号強度とする代替信号に置き換えることにより行われるものである。
[作用・効果]請求項8の発明の装置の場合、修復対象の欠損画素の画素信号と置き換えられる代替信号は、欠損検出対象画素および複数個の欠損検出至近画素の画素信号の信号強度の平均値、あるいは、複数個の欠損検出至近画素の画素信号の信号強度の平均値という適切な信号強度を有するので、欠損画素の修復が適切に行われる。欠損検出至近画素の画素信号および欠損検出対象画素の画素信号は画素の欠損のない場合、互いに近い信号強度を有しており、複数個の欠損検出至近画素の画素信号の信号強度が平均化されたかたちで含まれる代替信号の信号強度は、欠損検出対象画素の画素信号の適正な信号強度とほとんど変わりない値となり、代替信号は修復用として適当である。
また、請求項9に記載の発明は、請求項4から請求項8のいずれかに記載の放射線撮像装置において、欠損有無仮判定手段と仮判定結果登録手段と画素信号修復手段とが放射線撮影中に作動するものである。
[作用・効果]請求項9の発明の装置の場合、欠損有無仮判定手段と仮判定結果登録手段と画素信号修復手段とが放射線撮影中に作動して欠損画素をリアルタイムで検出する。
また、請求項10に記載の発明は、請求項4から請求項9のいずれかに記載の放射線撮像装置において、放射線検出手段は、被検体を透過した放射線が投影される放射線検出面に多数の放射線検出素子が縦と横の配列ラインに沿って2次元状マトリックス配置されている放射線検出用のFPD(フラットパネル型検出器)であるものである。
[作用・効果]請求項10の発明の装置の場合、放射線検出手段が、被検体を透過した放射線が投影される放射線検出面に多数の放射線検出素子が縦と横の配列ラインに沿って2次元状マトリックス配置されている放射線検出用のFPD(フラットパネル型検出器)であって、そのFPDから出力された放射線検出信号にしたがって放射線画像を作成する。
請求項1の発明の放射線画像の欠損画素検出方法の場合、欠損検出対象画素に対して欠損有無の本判定をくだす現時点において欠損検出対象画素の放射線検出信号の信号強度と欠損検出周辺画素の放射線検出信号の信号強度との比較に基づいて欠損検出対象画素の欠損の有無を仮に判定する欠損有無仮判定過程で得た現時点の欠損有無仮判定結果だけでなく、現時点より以前の欠損有無仮判定過程で得られて登録されている欠損検出対象画素の過去の欠損有無仮判定結果をも参酌して欠損検出対象画素に対し欠損有無の本判定がくだされるので、現時点という単一時点の欠損有無仮判定結果だけで欠損検出対象画素に対して欠損有無の本判定をくだす場合に比べて判定精度が飛躍的に高まる。その結果、放射線検出信号の信号強度に撮像対象の被検体の放射線吸収状況に応じた変動がある放射線撮影中であっても、欠損検出対象画素に対して欠損有無の判定をくだすことができる。
よって、請求項1の発明の方法によれば、放射線画像の欠損画素をリアルタイムで検出することができる。
請求項4の発明の放射線撮像装置の場合、欠損有無仮判定手段と仮判定結果登録手段と欠損有無本判定手段とが、上記の本発明に係る放射線画像の欠損画素検出方法を実行して放射線画像中の欠損画素を検出する構成を備えているので、画素信号の信号強度に撮像対象である被検体の放射線吸収状況に応じた変動がある放射線撮影中であっても、欠損画素の検出を行うことができる。
よって、請求項4の発明の装置によれば、放射線画像の欠損画素をリアルタイムで検出することができる。
また加えて、請求項4の発明の場合、欠損有無本判定手段で欠損有りの本判定がくだされた欠損画素を欠損画素登録手段が登録するとともに、欠損画素登録手段に登録されている欠損画素の画素信号を画素信号修復手段が信号処理で修復する構成を備えていて、放射線撮影中に検出された欠損画素の修復を行うことができる。その結果、装置据えつけ時に画素の欠損が見落とされたり、放射線撮影中に新たに画素の欠損が発生したりした場合でも、遅滞なく欠損画素を取り除くことができる。
この発明の実施例を図面を参照して説明する。図1はこの発明の放射線撮像装置の実施例に係るX線透視撮影装置の構成を示すブロック図、図2はFPDのX線検出面におけるX線検出素子の配置状況を示す模式的平面図である。
実施例のX線透視撮影装置は、図1に示すように、被検体MにX線を照射するX線管(放射線照射手段)1およびX線検出用のFPD2(放射線検出手段)を備える。後述する主制御部20から照射制御部1Aを介してX線管1やFPD2の制御を行う。図2に示すように、被検体Mを透過したX線が投影されるFPD2のX線検出面(放射線検出面)2Aに多数のX線検出素子2aが縦と横の配列ラインに沿って2次元状マトリックス配置されていて、FPD2から出力されるX線検出信号にしたがってX線検出面2Aに投影される被検体Mの透過X線像に対応するX線透視画像が作成される。
X線管1とFPD2は、撮影対象の被検体Mを挟んで対向配置されていて、X線撮影中は、X線管1が照射制御部1Aの制御を受けながら被検体MにX線を照射するとともに、X線管1からのX線照射に伴って生じる被検体Mの透過X線像がFPD2のX線検出面2Aに投影される配置関係となっている。
FPD2は、例えば、縦30cm×横30cm程の広さのX線検出面2AにX線検出素子2aが例えば縦1024×横1024のマトリックスで縦横にX方向とY方向に沿って番地付けされたかたちで配列されている直接変換タイプのX線検出器である。
FPD2の場合、図3に示すように、例えばa−Se系半導体膜などのX線に有感な半導体膜3と、半導体膜3の表面へ面状に積層形成されているバイアス電圧印加用の共通電極4と、図4に示すように、多数の収集電極5がX線検出素子2aの2次元状マトリックス配置でもって表面に形成されているとともに各収集電極5で収集される電荷の蓄積・読み出し用電気回路6が配設されているアクティブマトリックス基板7とを備えていて、半導体膜3がアクティブマトリックス基板7の収集電極5を形成した側に積層されている。
蓄積・読み出し用電気回路6はコンデンサ6Aやスイッチング素子としてのTFT(薄膜電界効果トランジスタ)6Bおよびゲート線6a,データ線6bなどからなり、各収集電極5ごとに1個のコンデンサ6Aと1個のTFT6Bが割り当てられている。
また、蓄積・読み出し用電気回路6の周りにはゲートドライバ8と電荷電圧変換型増幅器9およびマルチプレクサ10に加えてA/D変換器11が別デバイスのかたちで配備接続されている。
FPD2によりX線を検出する場合、数キロボルト〜数十キロボルト程度のバイアス電圧が共通電極4に印加される。バイアス電圧が印加された状態で、検出対象の検出対象のX線の入射に伴って半導体膜3で電荷が生成されるとともに半導体膜3で生じた電荷が(詳しくは各収集電極5へ移動することで収集電極5に電荷が誘起生成するかたちで)各収集電極5ごとに収集される一方、各収集電極5で収集される電荷は、アクティブマトリックス基板7の蓄積・読み出し用電気回路6などにより収集電極5毎のX線検出信号として取り出される。
具体的には、ゲートドライバ8からゲート線6a経由で読み出し信号が各TFT6Bのゲートに順番に与えられると同時に、読み出し信号が与えられている各TFT6Bのソースに繋がっているデータ線6bが電荷電圧変換型増幅器9を介してマルチプレクサ10に順に切り換え接続されるのに伴って、コンデンサ6Aに蓄積された電荷が、TFT6Bからデータ線6bを経て電荷電圧変換型増幅器9で増幅された上で、マルチプレクサ10により各収集電極5毎のX線検出信号としてA/D変換器11に送り出されてディジタル化される。
つまり、FPD2では、一つの収集電極5と収集電極5の広さ相当の半導体膜3および共通電極4に加えて1個のコンデンサ6Aおよび1個のTFT6Bとで一つのX線検出素子2aが構成されており、2次元状マトリックス配置の各収集電極5がそれぞれX線透視画像の各画素に対応する電極(画素電極)となっている。
実施例装置では、FPD2の後段には、FPD2から出力されるX線検出信号にしたがってX線透視画像を作成する信号処理部12と、信号処理部12で作成されたX線透視画像を記憶する画像メモリFMと、X線透視画像を表示する画像モニタ13が配設されていて、X線管1による被検体MへのX線照射に伴ってFPD2から出力されるX線検出信号にしたがって信号処理部12でX線透視画像が作成されて画像メモリFMに記憶されるとともに、画像モニタ13の画面にX線透視画像が映し出される。
具体的には、サンプリング時間間隔ΔtでFPD2から1画面分のX線検出信号が取り出されるとともに、サンプリング時間間隔Δtごとに信号処理部12でX線透視画像が1枚作成される処理が繰り返される。FPD2から1画面分のX線検出信号を取り出すサンプリング時間間隔Δtが1/30秒であれば、1秒間に30枚ほどのスピードでX線透視画像が次々作成され、画像モニタ13に動画像のかたちでX線透視画像が表示される。
画像メモリFMは、X線検出素子2aのマトリックス配置に対応したマトリックスでX方向とY方向に沿って番地付けされたかたちでメモリセル(図示省略)が、例えば縦1024×横1024の2次元マトリックス配置されているフレームメモリであり、メモリセルの番地はX線透視画像の画素の番地であり、各メモリセルにはX線透視画像の画素信号の信号強度(ピクセル値)が記憶される。
一方、FPD2の場合、多数のX線検出素子2aの中には製造中あるいは製造後に生じた例えば半導体膜3の微視的損傷等に起因する欠損をもつ素子が不可避的に存在しており、X線透視画像Pでは、図5に示すように、X線検出素子の欠陥に起因する欠損画素Paがあちこちに生じる。そして、実施例装置は、X線透視画像PAにおけるX線検出素子の欠陥に起因する欠損画素PaをX線透視撮像中に検出できる極めて特徴的な構成を備えている。以下、この特徴的な構成について詳しく説明する。
すなわち、実施例装置は、図1に示すように、欠損の有無を判定しようとする画素(欠損検出対象画素)の画素信号強度と欠損検出対象画素の周辺の画素(欠損検出周辺画素)の画素信号強度とを用いて欠損検出対象画素の信号強度の適否をチェックする信号強度比較処理の処理結果に基づいて欠損検出対象画素の欠損の有無を仮判定する欠損有無仮判定部14と、欠損有無仮判定部14で得た欠損有無仮判定結果を各画素ごとに区別して登録する仮判定結果登録部15と、欠損有無仮判定手段による欠損検出対象画素についての現時点(最新)の欠損有無仮判定結果および仮判定結果登録手段で登録された過去の欠損有無仮判定結果に基づいて欠損検出対象画素の欠損の有無を最終的に本判定する欠損有無本判定部16とを備えている。
欠損有無仮判定部14は、図5に示すように、欠損検出対象画素PAを含んでX方向に隣接して4個の画素が続くかたちで3個の欠損検出周辺画素PBをピックアップし、欠損検出対象画素PAおよび3個の欠損検出周辺画素PBの画素信号の信号強度の平均値を算出するのに続いて、算出した平均値と欠損検出対象画素PAのX線検出信号の信号強度とを比較する。そして、欠損検出対象画素PAのX線検出信号の信号強度が、算出された平均値の0.8倍以上〜1.2倍以下の範囲にあるという比較結果であれば、欠損無しの仮判定結果をくだし、それ以外であれば、欠損有りの仮判定結果をくだす。
なお、欠損検出対象画素PAは含まずに3個の欠損検出周辺画素PBだけの信号強度の平均値を比較用基準としてもよい。
欠損有無仮判定部14の場合、欠損検出対象画素PAおよび3個の欠損検出周辺画素PBの画素信号の信号強度の平均値という適切な比較用基準に基づいて欠損検出対象画素PAの信号強度の適否をチェックするので、仮判定が的確にくだせる。欠損検出周辺画素PBの画素信号および欠損検出対象画素PAの画素信号は画素欠損のない場合、互いに近い信号強度を有しており、3個の欠損検出周辺画素PBの画素信号の信号強度が平均化されたかたちで含まれる比較基準用の信号強度の平均値は、欠損検出対象画素Aの画素信号の適正な信号強度とほとんど変わりない値となり、比較用基準として適切である。
さらに、欠損検出対象画素PAについての欠損有無仮判定結果は、欠損検出対象画素PAのメモリセルの番地と対応付けられて仮判定結果登録部15で登録される。そして欠損検出対象画素PAを次の番地のX線検出素子2aへ変更して、同様に欠損有無仮判定部14による仮判定と仮判定結果登録部15による仮判定結果の登録を行う処理が、ある時点で得られた1枚のX線透視画像の画素について繰り返され、最終的には、仮判定に用いたX線透視画像Pの全画素の欠損有無仮判定結果が画素ごとに区別されたかたちで登録される。
また、欠損有無仮判定部14は、図6に示すように、サンプリング時間間隔Δt置きで連続する(k−4・Δt)時点,(k−3・Δt)時点,(k−2・Δt)時点,(k−Δt)時点の4つの時点でX線透視画像Pにおける各画素の欠損有無仮判定を行う一方、仮判定結果登録部15が仮判定結果をX線検出素子2aごとに区別して登録する。したがって画素1個あたり、4個の過去の欠損有無仮判定結果が登録される。
そして、(k−Δt)時点からサンプリング時間間隔Δtだけ時間が進んだ次のk時点で撮影されたX線透視画像Pの画素についても、欠損有無仮判定結果が欠損有無仮判定部14によって行われる。したがって、k時点での欠損有無仮判定結果が得られた欠損検出対象画素PAについては、現時点であるk時点の仮判定結果と過去の4個の仮判定結果の合計5個の欠損有無仮判定結果が得られることになる。そして、欠損有無本判定部16は現時点(k時点)の欠損有無仮判定結果と4個の過去の欠損有無仮判定結果の合計5個の欠損有無仮判定結果の過半数である3個以上が欠損有りの時は欠損有りの本判定をくだし、それ以外の時は欠損無しの本判定をくだす。
欠損有無本判定部16の場合、現時点と以前の4個の過去の時点という少なくとも五つの異なる時点で得られる欠損有無仮判定結果を参酌して過半数が欠損有りの時に本判定も欠損有りとするので、欠損有無本判定手段による欠損有無の本判定を的確にくだすことができる。
以上の説明から明らかなように、実施例の透視X線撮影装置は、欠損有無仮判定部14と仮判定結果登録部15と欠損有無本判定部16が協働して、この発明に係る放射線画像の欠損画素検出方法を実行してX線透視画像中の欠損画素を検出する。
さらに、実施例のX線透視撮影装置は、欠損有無本判定部16によって欠損有りと本判定がくだされた欠損画素を登録する欠損画素登録部17と、欠損画素登録部17に登録されている欠損画素の画素信号を信号処理によって修復する画素信号修復部18とを備えている。
欠損画素登録部17は、X線透視画像中の欠損画素の画像信号が記憶されていた画像メモリFMのメモリセルの番地で登録する。画素信号修復部18は、画像メモリFMに記憶されているX線透視画像の画素信号のうち欠損画素登録部17に登録されている欠損画素の番地のメモリセルに記憶されている画素信号を信号処理で修復する。
画素信号修復部18は、3個の欠損検出周辺画素PBを欠損検出至近画素としてピックアップするのに続いて、修復対象の欠損画素の画素信号を、欠損検出対象画素PAおよび3個の欠損検出周辺画素PBの画素信号の信号強度の平均値を算出し、算出した平均値を信号強度とする代替信号に置き換えることにより修復を行う。欠損検出至近画素である欠損検出周辺画素PBの画素信号および欠損検出対象画素PAの画素信号は画素欠損のない場合、互いに近い信号強度を有しており、複数個の欠損検出至近画素の画素信号の信号強度が平均化されたかたちで含まれる代替信号の信号強度は、欠損検出対象画素PAの画素信号の適正な信号強度とほとんど変わりない値となり、代替信号は修復用の信号として適切である。
なお、欠損検出対象画素PAは含まずに3個の欠損検出周辺画素PBだけの信号強度の平均値を代替信号の信号強度とするようにしてもよい。
また、実施例装置の場合、欠損画素登録部17に番地が登録されている欠損画素については、欠損画素であることが既に判明しているので、欠損検出対象画素PAとしてはピックアップされない。但し、実施例装置の場合、欠損画素登録部17に番地が登録されている欠損画素も、欠損検出周辺画素や欠損検出至近画素としてはピックアップされる。しかし、欠損画素登録部17に番地が登録されている欠損画素は、欠損検出周辺画素や欠損検出至近画素の候補から外されてピックアップされない構成であってもよい。
実施例のX線透視撮影装置では、照射制御部1A、FPD2、画像メモリFM、信号処理部12、欠損有無仮判定部14、仮判定結果登録部15、欠損有無本判定部16、欠損画素登録部17、画素信号修復部18は、操作部19から入力される指示やデータあるいはX線撮影の進行にしたがって主制御部20から送出される各種命令にしたがって、制御・処理を実行する。
続いて、上述した構成を有する実施例装置においてX線撮影中にX線透視画像の欠損画素を検出する場合の装置動作を図面を参照しながら説明する。図7は実施例装置によるX線透視画像の欠損画素検出プロセスを示すフローチャートである。なお、以下では、X線透視撮影が既に開始され、1/30秒程度のサンプリング時間間隔Δtで1枚のX線透視画像が撮影されるものとする。
〔ステップS1〕欠損有無仮判定部14が新たに撮影された1枚のX線透視画像の各画素について欠損有無仮判定結果を番地の順に得るとともに、仮判定結果登録部15が得られた結果を過去の欠損有無仮判定結果として登録する処理が繰り返され、1つの時点で撮影されたX線透視画像の各画素の仮判定結果が仮判定結果登録部15で画素ごとに区別して登録される。なお、欠損画素登録部17に番地が既に登録されている画素については、欠損が既にあることが分かっているので、欠損検出対象画素PAから外される。
〔ステップS2〕仮判定結果登録部15に登録されている画素ひとつ当たりの過去の欠損有無仮判定結果の数が4個に達したのであれば、次のステップS3へ進み、過去の欠損有無仮判定結果の数が4個未満であれば、ステップS1へ戻る。
〔ステップS3〕欠損有無仮判定部14が新たに撮影された1枚のX線透視画像の最初の番地の画素を欠損検出対象画素PAとしてピックアップして欠損有無仮判定結果を得て、これを現時点の欠損有無仮判定結果とする。
〔ステップS4〕欠損有無本判定部16が、欠損有無仮判定部14で得られた欠損検出対象画素PAの現時点の欠損有無仮判定結果と、仮判定結果登録部15に登録されている過去の4個の欠損有無仮判定結果との合計5個の仮判定結果の過半数である3個以上が欠損有りの時は欠損有りの本判定をくだし、それ以外の時は欠損無しの本判定をくだす。
〔ステップS5〕欠損画素登録部17が欠損有無本判定部16により欠損有りと本判定がくだされた画素の番地を登録する。
〔ステップS6〕欠損の有無の本判定が済んでいない画素があれば、次の番地の画素を欠損検出対象画素PAとしてから、ステップS3へ戻る。欠損の有無の本判定が済んでいない画素がもうなければ、欠損画素の検出プロセスは完了となる。
以上に述べたように、実施例装置の場合、欠損有無仮判定部14と仮判定結果登録部15と欠損有無本判定部16が協働して、本発明に係る放射線画像の欠損画素検出方法を実行してX線透視画像中の欠損画素を検出する構成を備えており、本判定をくだす現時点の欠損検出対象画素PAの欠損有無仮判定結果だけでなく、現時点より前の異なる4つの時点の欠損有無仮判定結果を併せて参酌して欠損検出対象画素PAの欠損有無の本判定がくだされるので、現時点という単一時点の欠損有無仮判定結果だけで欠損検出対象画素PAの欠損有無の本判定がくだされる従来の場合と比べて判定精度が飛躍的に高まる。その結果、画素信号の信号強度に撮像対象の被検体Mの放射線吸収状況に応じた変動があるX線撮影中であっても、X線透視画像中の欠損画素の検出ができる。よって、実施例装置によれば、X線透視画像中の欠損画素の検出をリアルタイムで行うことができる。
加えて、実施例装置の場合、X線撮影中に欠損有無本判定部16で欠損有りと本判定がくだされた欠損画素を欠損画素登録部17が登録するとともに、欠損画素登録部17に登録されている欠損画素に対応する画素信号を画素信号修復部18が信号処理により修復するので、装置据えつけ時に欠損画素が見落とされたり、X線撮影中に新たに欠損画素が生じたりした場合でも、遅滞なく欠損画素を取り除くことができる。
なお、実施例装置は、X線透視画像における欠損画素の検出をオフタイムで行うこともできる。すなわち、実施例装置の場合、予めX線撮影されて録画されているX線透視画像についても、欠損有無仮判定部14と仮判定結果登録部15と欠損有無本判定部16が協働して、本発明に係る放射線画像の欠損画素検出方法を実行してX線透視画像中の欠損画素を検出することもできる。
また、装置据えつけ時に、従来の方法、すなわちFPD2のX線検出面2Aに一様のX線を投影して撮影されたX線透視画像の画素信号の信号強度が適性範囲を外れているか否かをチェックしてX線透視画像の欠損画素を検出するとともに、欠損画素を欠損画素登録部17で登録しておくようにしてもよい。
この発明は、上記の実施例に限られるものではなく、以下のように変形実施することも可能である。
(1)実施例装置の場合、画素信号修復部18の信号処理による修復の際にピックアップされる欠損検出至近画素が、欠損有無仮判定部14による仮判定の際にピックアップされる欠損検出周辺画素PBと全く同一であったが、欠損検出至近画素の一部または全部が欠損検出周辺画素PBと異なるようであってもよい。
(2)実施例装置の場合、欠損検出周辺画素および欠損検出至近画素は、欠損検出対象画素PAを含んでX方向に隣接して4個の画素が続くかたちで3個の欠損検出周辺画素ないし欠損検出至近画素がピックアップされる構成であったが、欠損検出対象画素PAを含んでY方向に隣接して4個の画素が続くかたちで3個の欠損検出周辺画素ないし欠損検出至近画素がピックアップされる構成であってもよい。さらに、欠損検出周辺画素や欠損検出至近画素の数も3個に限らず、2個あるいは4個以上であってもよいし、欠損検出周辺画素や欠損検出至近画素の間で数が異なるようであってもよい。
(3)実施例装置の場合、FPD2が直接変換タイプの検出器であったが、この発明はFPD2が間接変換タイプの検出器装置の場合にも適用できる。
(4)実施例装置の場合、FPD2を備えた装置であったが、FPD以外の放射線検出手段、例えばイメージインテンシファイアを備えた装置の場合にも適用できる。
(5)実施例装置はX線透視撮影装置であったが、この発明はX線透視撮影装置以外の放射線撮像装置にも適用できる。
1 … X線管(放射線照射手段)
2 … FPD(フラットパネル型検出器、放射線検出手段)
2A … X線検出面(放射線検出面)
2a … X線検出素子(放射線検出素子)
14 … 欠損有無仮判定部(欠損有無仮判定手段)
15 … 仮判定結果登録部(仮判定結果登録手段)
16 … 欠損有無本判定部(欠損有無本判定手段)
17 … 欠損画素登録部(欠損画素登録手段)
18 … 画素信号修復部(画素信号修復手段)
P … X線透視画像(放射線画像)
Pa … 欠損画素
PA … 欠損検出対象画素
PB … 欠損検出周辺画素(並びに欠損検出至近画素)
2 … FPD(フラットパネル型検出器、放射線検出手段)
2A … X線検出面(放射線検出面)
2a … X線検出素子(放射線検出素子)
14 … 欠損有無仮判定部(欠損有無仮判定手段)
15 … 仮判定結果登録部(仮判定結果登録手段)
16 … 欠損有無本判定部(欠損有無本判定手段)
17 … 欠損画素登録部(欠損画素登録手段)
18 … 画素信号修復部(画素信号修復手段)
P … X線透視画像(放射線画像)
Pa … 欠損画素
PA … 欠損検出対象画素
PB … 欠損検出周辺画素(並びに欠損検出至近画素)
Claims (10)
- 放射線検出信号にしたがって作成される放射線画像における放射線検出素子の欠陥に起因する欠損画素を放射線画像の画素信号に基づき検出する方法であって、欠損の有無を判定しようとする画素(欠損検出対象画素)の画素信号強度と欠損検出対象画素の周辺の画素(欠損検出周辺画素)の画素信号強度とを用いて欠損検出対象画素の信号強度の適否をチェックする信号強度比較処理の処理結果に基づき欠損検出対象画素の欠損の有無を仮判定する欠損有無仮判定過程と、欠損有無仮判定過程で得た欠損有無仮判定結果を各画素ごとに区別して登録する仮判定結果登録過程と、欠損有無仮判定過程による欠損検出対象画素についての現時点(最新)の欠損有無仮判定結果および仮判定結果登録過程で登録された過去の欠損有無仮判定結果に基づいて欠損検出対象画素の欠損の有無を最終的に本判定する欠損有無本判定過程とを備えていることを特徴とする放射線画像の欠損画素検出方法。
- 請求項1に記載の放射線画像の欠損画素検出方法において、欠損有無本判定過程では、現時点の欠損有無仮判定結果と複数の過去の欠損有無仮判定結果との過半数が欠損有りの時は欠損有りの本判定をくだし、それ以外の時は欠損無しの本判定をくだす放射線画像の欠損画素検出方法。
- 請求項1または請求項2に記載の欠損画素検出方法において、前記放射線検出信号を、放射線検出面に多数の放射線検出素子が縦と横の配列ラインに沿って2次元状マトリックス配置されているFPD(フラットパネル型検出器)から得る欠損画素検出方法。
- 被検体に放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、放射線検出手段から出力される放射線検出信号にしたがって放射線画像が作成される放射線撮像装置において、欠損の有無を判定しようとする画素(欠損検出対象画素)の画素信号強度と欠損検出対象画素の周辺の画素(欠損検出周辺画素)の画素信号強度とを用いて欠損検出対象画素の信号強度の適否をチェックする信号強度比較処理の処理結果に基づき欠損検出対象画素の欠損の有無を仮判定する欠損有無仮判定手段と、欠損有無仮判定手段で得た欠損有無仮判定結果を各画素ごとに区別して登録する仮判定結果登録手段と、欠損有無仮判定手段による欠損検出対象画素についての現時点(最新)の欠損有無仮判定結果および仮判定結果登録手段で登録された過去の欠損有無仮判定結果に基づいて欠損検出対象画素の欠損の有無を最終的に本判定する欠損有無本判定手段と、欠損有無本判定手段により欠損有りの本判定がくだされた欠損画素を登録する欠損画素登録手段と、欠損画素登録手段に登録されている欠損画素の画素信号を信号処理により修復する画素信号修復手段とを備えていることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項4に記載の放射線撮像装置において、欠損有無本判定手段は、現時点の欠損有無仮判定結果と複数の過去の欠損有無仮判定結果との過半数が欠損有りの時は欠損有りの本判定をくだし、それ以外の時は欠損無しの本判定をくだす放射線撮像装置。
- 請求項4または請求項5に記載の放射線撮像装置において、欠損有無仮判定手段は、信号強度比較処理の際に欠損検出対象画素および複数個の欠損検出周辺画素の画素信号の信号強度の平均値、または、複数個の欠損検出周辺画素の画素信号の信号強度の平均値のいずれかと、欠損検出対象画素の画素信号の信号強度とを比較する信号強度比較処理を行うとともに処理結果である信号強度の差が一定範囲内の時は欠損無しの仮判定をくだし、それ以外の時は欠損有りの仮判定をくだす放射線撮像装置。
- 請求項4から請求項6のいずれかに記載の放射線撮像装置において、画素信号修復手段は、欠損画素登録手段に登録されている欠損画素の至近の画素(欠損検出至近画素)の画素信号を用いて前記欠損画素の修復を行う放射線撮像装置。
- 請求項7に記載の放射線撮像装置において、欠損画素の画素信号の修復は、修復対象の欠損画素の画素信号を、欠損検出対象画素および複数個の欠損検出至近画素の画素信号の信号強度の平均値、または、複数個の欠損検出至近画素の画素信号の信号強度の平均値のいずれかを信号強度とする代替信号に置き換えることにより行われる放射線撮像装置。
- 請求項4から請求項8のいずれかに記載の放射線撮像装置において、欠損有無仮判定手段と仮判定結果登録手段と画素信号修復手段とが放射線撮影中に作動する放射線撮像装置。
- 請求項4から請求項9のいずれかに記載の放射線撮像装置において、放射線検出手段は、被検体を透過した放射線が投影される放射線検出面に多数の放射線検出素子が縦と横の配列ラインに沿って2次元状マトリックス配置されている放射線検出用のFPD(フラットパネル型検出器)である放射線撮像装置。
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