JP2001008198A - 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、及び記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠陥画素を常に正確に抽出することで、出力
画像の画質向上を図った画像処理装置を提供する。 【解決手段】 抽出手段２０４は、画像情報の全画像領
域又は任意の領域の画素値の平均及び標準偏差を算出
し、画像情報の各画素毎に、対象画素値と平均の差分の
絶対値が、標準偏差と予め指定された倍率の積算結果よ
り大きいか否かを判別し、大きい場合に、対象画素を欠
陥画素とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、ディジタ
ル画像を複数の画素で構成される平面センサにより収集
する際に欠陥画素補正を行う技術に関し、Ｘ線等の放射
線撮影に用いて好適な、画像処理装置、画像処理システ
ム、画像処理方法、及びそれを実施するための処理ステ
ップをコンピュータが読出可能に格納した記憶媒体に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より例えば、増感紙とＸ線写真フィ
ルムを組み合わせて用いるフィルムスクリーンシステム
により、医療診断を目的とするＸ線撮影がよく行われて
いる。上記のシステムでは、被写体を通過したＸ線（被
写体の内部情報を含む）を、増感紙によって該Ｘ線の強
度に比例した可視光に変換し、その可視光によってＸ線
写真フィルムを感光させることで、Ｘ線画像をＸ線写真
フィルム上に形成するようになされている。

【０００３】また、近年では、Ｘ線を蛍光体によって該
Ｘ線の強度に比例した可視光に変換し、その可視光を複
数の画素で構成される平面センサを用いて電気信号に変
換し、そのアナログ的な電気信号をアナログ／ディジタ
ル（Ａ／Ｄ）変換器によってディジタル化することで、
Ｘ線ディジタル画像を得るＸ線ディジタル撮影装置が使
用されはじめている。このようなＸ線ディジタル撮影装
置では、平面センサを構成する画素の幾つかには欠陥画
素が含まれているため、その欠陥画素を抽出して、それ
を補正することが行われる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようなＸ線ディジタル撮影装置等における欠陥画素抽
出方法として、他の画素（ピクセル）と出力挙動が異な
っている画素を欠陥画素と判定する方法があるが、この
ような従来方法では、画素の出力挙動が、Ｘ線の当たり
方や、平面センサから画素信号を読み出すＡ／Ｄ変換器
の特性、或いは、小さな平面センサが組み合わされて大
きなセンサが構成されている場合の該センサの特性等に
よって異なることにより、欠陥画素でない画素が誤って
欠陥画素として判定され抽出される場合があった。この
ため、正確な欠陥画素の補正を行うことができず、した
がって、出力画像の画質が劣化してしまっていた。

【０００５】そこで、本発明は、上記の欠点を除去する
ために成されたもので、欠陥画素を常に正確に抽出する
ことで、出力画像の画質向上を図った画像処理装置、画
像処理システム、画像処理方法、及びそれを実施するた
めの処理ステップをコンピュータが読出可能に格納した
記憶媒体を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】斯かる目的下において、
第１の発明は、画像情報を収集するのに先立って欠陥画
素位置情報を抽出し、該欠陥画素位置情報を用いて、上
記画像情報に対して欠陥画素補正処理を行う画像処理装
置であって、上記画像情報における少なくとも任意の画
像領域内の画素値の平均及び標準偏差を取得する取得手
段と、上記取得手段により得られた平均及び標準偏差
と、該標準偏差に対する予め指定された倍率とを用い
て、上記欠陥画素位置情報の抽出を行う抽出手段とを備
えることを特徴とする。

【０００７】第２の発明は、上記第１の発明において、
上記抽出手段は、上記画像情報を構成する各画素毎に、
対象画素値と上記平均値の差分の絶対値と、上記標準偏
差と上記指定倍率の積算結果とを比較し、その比較結果
に基づいて、対象画素が欠陥画素であるかを判定するこ
とを特徴とする。

【０００８】第３の発明は、上記第１の発明において、
上記取得手段は、上記画像情報の全画像領域内の画素値
の平均及び標準偏差を取得することを特徴とする。

【０００９】第４の発明は、上記第１の発明において、
上記取得手段は、上記画像情報における対象画素を含む
任意の画像領域内の画素値の平均及び標準偏差を取得
し、上記抽出手段は、上記画像情報を構成する各画素毎
に、対象画素が欠陥画素であるかを判定することを特徴
とする。

【００１０】第５の発明は、上記第１の発明において、
上記取得手段は、上記画像情報を複数の画像領域に分割
し、各画像領域毎に、対象画像領域内の画素値の平均及
び標準偏差を取得し、上記抽出手段は、上記取得手段に
て分割された各画像領域毎に、対象画像領域における上
記欠陥画素位置情報の抽出を行うことを特徴とする。

【００１１】第６の発明は、上記第５の発明において、
上記取得手段は、上記画像情報収集のための機器の特性
に基づいて、上記分割処理を行うことを特徴とする。

【００１２】第７の発明は、上記第５の発明において、
上記取得手段は、上記画像情報を撮像により得る撮像素
子の特性に基づいて、上記分割処理を行うことを特徴と
する。

【００１３】第８の発明は、上記第１の発明において、
上記画像情報は、放射線撮影により得られた画像情報を
ディジタル化した情報であることを特徴とする。

【００１４】第９の発明は、複数の機器が相互通信可能
に接続されてなる画像処理システムであって、上記複数
の機器のうち少なくとも１つの機器は、請求項１〜８の
何れかに記載の画像処理装置の機能を有することを特徴
とする。

【００１５】第１０の発明は、画像情報を収集するのに
先立って欠陥画素位置情報を抽出し、該欠陥画素位置情
報を用いて、上記画像情報に対して欠陥画素補正処理を
行うための画像処理方法であって、上記画像情報におけ
る少なくとも任意の画像領域内の画素値の平均及び標準
偏差を取得する取得ステップと、上記取得ステップによ
り得られた平均及び標準偏差と、該標準偏差に対する予
め指定された倍率とを用いて、上記欠陥画素位置情報の
抽出を行う抽出ステップとを含むことを特徴とする。

【００１６】第１１の発明は、上記第１０の発明におい
て、上記抽出ステップは、上記画像情報を構成する各画
素毎に、対象画素値と上記平均値の差分の絶対値と、上
記標準偏差と上記指定倍率の積算結果とを比較する比較
ステップと、上記比較ステップでの比較結果に基づい
て、対象画素が欠陥画素であるかを判定する判定ステッ
プとを含むことを特徴とする。

【００１７】第１２の発明は、上記第１０の発明におい
て、上記取得ステップは、上記画像情報の全画像領域内
の画素値の平均及び標準偏差を取得するステップを含む
ことを特徴とする。

【００１８】第１３の発明は、上記第１０の発明におい
て、上記取得ステップは、上記画像情報における対象画
素を含む任意の画像領域内の画素値の平均及び標準偏差
を取得するステップを含み、上記抽出ステップは、上記
画像情報を構成する各画素毎に、対象画素が欠陥画素で
あるかを判定するステップを含むことを特徴とする。

【００１９】第１４の発明は、上記第１０の発明におい
て、上記取得ステップは、上記画像情報を複数の画像領
域に分割するステップと、該ステップにより得られた各
画像領域毎に対象画像領域内の画素値の平均及び標準偏
差を取得するステップとを含み、上記抽出ステップは、
上記取得ステップにより分割された各画像領域毎に、対
象画像領域における上記欠陥画素位置情報の抽出を行う
ステップを含むことを特徴とする。

【００２０】第１５の発明は、上記第１４の発明におい
て、上記取得ステップは、上記画像情報収集のための機
器の特性に基づいて、上記分割処理を行うステップを含
むことを特徴とする。

【００２１】第１６の発明は、上記第１４の発明におい
て、上記取得ステップは、上記画像情報を撮像により得
る撮像素子の特性に基づいて、上記分割処理を行うステ
ップを含むことを特徴とする。

【００２２】第１７の発明は、上記第１０の発明におい
て、上記画像情報は、放射線撮影により得られた画像情
報をディジタル化した情報であることを特徴とする。

【００２３】第１８の発明は、画像情報を収集するのに
先立って欠陥画素位置情報を抽出し、該欠陥画素位置情
報を用いて、上記画像情報に対して欠陥画素補正処理を
行うための処理ステップを、コンピュータが読出可能に
格納した記憶媒体であって、上記処理ステップは、請求
項１０〜１７の何れかに記載の画像処理方法の各ステッ
プを含むことを特徴とする。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を用いて説明する。

【００２５】本発明は、例えば、図１に示すようなＸ線
画像撮影装置１００に適用される。このＸ線画像撮影装
置１００は、Ｘ線を発生するＸ線管球１０１と、Ｘ線管
球１０１のＸ線絞り１０２と、Ｘ線管球１０１からのＸ
線が入射する個体撮像素子（平面センサ）１０７と、Ｘ
線管球１０１と個体撮像素子１０７の間に設けられたグ
リッド１０４及びシンチレータ１０６と、個体撮像素子
１０７の出力をディジタル画像信号として出力するＡ／
Ｄ変換器１０８と、Ａ／Ｄ変換器１０８からのディジタ
ル画像信号に対して種々の処理を行って画面表示出力等
を行う画像読取部１０９と、Ｘ線管球１０１でのＸ線の
発生を制御するＸ線発生制御部１２６とを備えている。

【００２６】画像読取部１０９は、個体撮像素子１０７
及びＸ線発生制御部１２６等の動作制御や後述する画像
補正処理を含む種々の処理を実行する画像読取制御部１
１０と、種々のデータ等が記憶され作業用としても用い
られるＲＡＭ１１１と、本装置で実行される種々の処理
プログラム等が格納されるＲＯＭ１１２と、外部ネット
ワーク（ここでは「ＬＡＮ」とする）とのインターフェ
ース部であるＬＡＮ／ＩＦ１１３と、外部可搬媒体記録
装置とのインターフェース部であるＤＩＳＫ／ＩＦ１１
４と、不揮発性ＲＡＭであるＮＶＲＡＭ１１５と、ハー
ドディスク等の不揮発性記憶部１１６と、ユーザインタ
ーフェース（ＩＦ）部１１７と、ＲＯＭ１１２の処理プ
ログラムを実行する等して装置全体の動作制御を司るＣ
ＰＵ１１８とが、バス１１９を介して接続され、互いに
データ授受する構成としている。また、画像読取部１０
９には、曝射ボタン１２５が設けられており、この曝射
ボタン１２５の出力は、画像読取制御部１１０が曝射許
可スイッチ１２４を切り替え制御することでＸ線発生制
御部１２６に供給されるようになされている。また、ユ
ーザＩＦ部１１７には、ＣＲＴ等のディスプレイ１２０
や、キーボード及びマウス等の操作部１２１が接続され
ている。

【００２７】［Ｘ線画像撮影装置１００の一連の動作］

【００２８】先ず、操作者は、撮影する被写体１０３
を、固体撮像素子１０７とＸ線管球１０１の間に配置す
る。次に、操作者は、撮影する為の準備を操作部１２１
を用いて行う。例えば、被写体１０３の撮影部位を操作
部１２１により選択する。この操作情報は、ユーザイン
ターフェース１１７を介して画像読取部１０９内に取り
込まれる。

【００２９】上述のような操作者による撮影準備が終了
すると、画像読取部１０９において、画像読取制御部１
１０は、固体撮像素子駆動制御信号を用いて固体撮像素
子１０７に電圧を加えることで、固体撮像素子１０７
が、被写体１０３の画像入力がいつ有っても良い状態
（Ｘ線管球１０２からのＸ線を画像化できる状態）とな
るように準備する。

【００３０】次に、操作者は、被写体１０３の撮影した
い目的の部位が撮影領域に入るように、操作部１２１の
絞り指示部（図示せず）を用いて絞り量を調節する。こ
の絞り量の調節情報は、ユーザインターフェース１１７
を介して画像読取部１０９内に取り込まれる。

【００３１】画像読取部１０９において、画像読取制御
部１１０は、ユーザインターフェース１１７からの絞り
量調節情報に基づいた絞り信号２を、Ｘ線発生制御部１
２６に供給する。Ｘ線発生制御部１２６は、画像読取制
御部１１０からの絞り信号２に基づいた絞り信号３をＸ
線絞り１０２に供給する。これによりＸ線絞り１０２が
開閉する。

【００３２】ここで、Ｘ線絞り１０２は、矩形であり。
上下方向、左右方向の両者のそれぞれの開閉量が、Ｘ線
発生制御部１２６からの絞り信号３によって調節可能に
なされている。また、操作者から指示された被写体１０
３の部位に対する、Ｘ線絞り１０２による適切な照射
は、ランプ光により調節できるようになされている。

【００３３】次に、操作者は、曝射ボタン１２５を操作
する。この曝射ボタン１２５は、Ｘ線管球１０１でＸ線
を発生させるトリガとなるものであり、操作者から操作
（ボタン押下）されることで曝射信号１を発生する。曝
射ボタン１２５から発生した曝射信号１は、画像読取部
１０９内の画像読取制御部１１０へ一旦供給される。こ
れを受けた画像読取制御部１１０は、固体撮像素子１０
７がＸ線管球１０１からのＸ線を受けると画像化できる
状態となっているか否かを、個体撮像素子１０７が発生
する駆動通知信号の状態で確認した後、曝射許可信号を
曝射許可スイッチ１２４に対して発生する。この曝射許
可信号は、曝射許可スイッチ１２４をオンにして、曝射
ボタン１２５から発生された曝射信号１を、Ｘ線発生制
御部１２６に対する曝射信号２に導通させる。尚、曝射
信号は、曝射ボタン１２５のセカンドスイッチと呼ばれ
るスイッチを用いることとする。

【００３４】Ｘ線発生制御部１２６は、上述のようにし
て発生された曝射信号２に従って、Ｘ線管球１０１のＸ
線発生の準備が整い次第、曝射信号３をＸ線管球１０１
に対して発生する。これにより、Ｘ線管球１０１からＸ
線が発生する。

【００３５】一方、上述のような曝射を受けた後、Ｘ線
管球１０１のＸ線は、被写体１０３、グリッド１０４、
及びシンチレータ１０６を順次透過して、被写体１０３
の透過光像として固体撮像素子１０７の撮像面上に結像
され、個体撮像素子１０７での光電変換により、画像信
号として個体撮像素子１０７から出力される。Ａ／Ｄ変
換器１０８は、個体撮像素子１０７の出力である画像信
号をディジタル化して、それをディジタル画像信号とし
て画像読取部１０９に供給する。

【００３６】画像読取部１０９は、Ａ／Ｄ変換器１０８
からのディジタル画像信号を一旦ＲＡＭ１１１上に展開
し、画像読取制御部１１０により後述する画像補正処理
を含む様々な処理を施して、それをディスプレイ１２０
にて画面表示したり、フィルム上に出力したりする。こ
のような動作制御は、ＣＰＵ１１８により行われる。

【００３７】［Ｘ線画像撮影装置１００での画像補正処
理構成］

【００３８】まず、Ｘ線画像撮影装置１００では、例え
ば、キャリブレーション撮影が行われる。このキャリブ
レーション撮影とは、通常撮影に先立って行う画像校正
（補正）用の情報収集の為の操作を行うことで、通常撮
影時の画像（以下、「撮影生画像」と言う）に対してピ
クセルゲイン補正を行う為のピクセルゲイン情報を収集
することと、欠陥画素の位置情報を収集することとの作
業（以下、「キャリブレーション作業」と言う）が行わ
れる撮影方式である。また、キャリブレーション撮影で
は、撮影が複数回行うようになっており、これにより平
均的な情報を収集することができるようになされてい
る。このとき、１回のキャリブレーション作業で何回の
撮影を繰り返すかは、予め設定するとも可能であるし、
また、操作者が撮影を繰り返していきながら、希望の撮
影を最後の撮影とすることもできるようになされてい
る。したがって、画像補正処理に用いるピクセルゲイン
情報や欠陥画素位置情報を収集するために、撮影する前
段階の処理（実際の撮影直前の処理）として、何も被写
体を置かない状態で、個体撮像素子（以下、「平面セン
サ」と言う）１０７の撮像面（センサ面）上の、例え
ば、中央２５６×２５６画素の出力が、４０９６階調
中、およそ２０４８階調あたりになるような撮影を行
う。この撮影により得られた画像情報（以下、「暗電流
画像情報」と言う）は、自動的に収集される。

【００３９】そこで、画像読取制御部１１０は、例え
ば、図２に示すような画像補正部２００を備えている。
画像補正部２００は、上記図２に示すように、通常の撮
影動作によって得られた撮影生画像情報から該撮影直前
に収集された暗電流画像情報を減算する暗電流減算部２
０１と、予め工場出荷時等に収集された初期欠陥位置情
報を用いて暗電流減算部２０１からの画像情報に対して
欠陥補正処理を行う初期欠陥補正部２０２と、初期欠陥
補正部２０２にて得られた初期欠陥補正画像の適切さを
チェックする画像チェック部２０３と、画像チェック部
２０３でのチェック結果に基づいて初期欠陥補正部２０
２にて得られた撮影毎の初期欠陥補正画像を積算するピ
クセルゲイン情報加算部２０５と、ピクセルゲイン情報
加算部２０５での処理中における情報を一時記憶するた
めのピクセルゲイン情報一時記憶部２０６と、ピクセル
ゲイン情報加算部２０５での処理結果を保存するための
ピクセルゲイン情報保持部２０７とを備えている。ま
た、画像補正部２００は、初期欠陥補正部２０２にて得
られた初期欠陥補正画像情報を用いてユーザ先で増加し
た欠陥画素の位置情報を抽出する欠陥位置抽出部２０４
と、欠陥位置抽出部２０４にて得られた撮影毎の欠陥画
素位置情報を合成する欠陥位置合成部２０８と、欠陥位
置合成部２０８での処理中における情報を一時記憶する
ための欠陥位置情報一時記憶部２０９と、欠陥位置合成
部２０８での処理結果を保存するための増加欠陥位置情
報保持部２１２と、欠陥位置合成部２０８にて得られた
増加欠陥画素と上記初期欠陥位置情報を合成する初期欠
陥位置合成部２１０と、初期欠陥位置合成部２１０での
処理結果を保存するための欠陥位置情報保持部２１１と
を備えている。尚、上述した各記憶部及び保持部として
は、例えば、不揮発性記憶部１１６（上記図１参照）が
用いられる。

【００４０】上述のような画像補正部２００において、
まず、暗電流減算部２０１は、撮影生画像情報から暗電
流画像情報を減算することで暗電流補正処理を行う。初
期欠陥補正部２０２は、暗電流減算部２０１にて得られ
た画像情報に対して、予め工場出荷時等で収集された初
期欠陥位置情報を用いた欠陥画素補正処理を行う。この
補正処理に結果得られた画像を「初期欠陥補正画像」と
言う。

【００４１】画像チェック部２０３は、初期欠陥補正部
２０２からの初期欠陥補正画像情報を用いて、平面セン
サ１０７中央の出力が４０９６階調中、およそ２０４８
階調あたりになるようになっているか否かを判定する。
ここでの平面センサ１０７は、２６８８×２６８８画素
（ピクセル）としており、画像チェック部２０３は、平
面センサ１０７の中央の２５６×２５６画素部分の画素
平均値によって、キャリブレーション撮影でのＸ線量が
適切が否かを判定する。例えば、センサ中央部分の画素
平均値が、１５００以上、２５００未満の場合、キャリ
ブレーション撮影でのＸ線量が適切と判断し、それ以外
の場合は不適切と判断する。画像チェック部２０３に
て、キャリブレーション撮影でのＸ線量が不適切と判断
された場合、このときの撮影はキャンセルされ、再度撮
影をやり直す旨が、ユーザインタフェース部１１７を介
してディスプレイ１２０等に与えられる。これにより、
操作者は、再度撮影を認識し、再びキャリブレーション
撮影を行う。

【００４２】画像チェック部２０３にて、キャリブレー
ション撮影でのＸ線量が適切と判断された場合、ピクセ
ルゲイン情報加算部２０５は、初期欠陥補正部２０２か
らの撮影毎の初期欠陥補正画像情報の積算を行う。

【００４３】具体的にはまず、キャリブレーション作業
中の初めての撮影である場合は、初期欠陥補正部２０２
から受け取った初期欠陥補正画像を、そのままピクセル
ゲイン情報として一旦ピクセルゲイン情報一時記億部２
０６へ記憶する。

【００４４】また、キャリブレーション作業中の初めて
の撮影でない場合、すなわち２回目以降の撮影である場
合は、ピクセルゲイン情報一時記憶部２０６に記憶され
ている情報と、初期欠陥補正部２０２から受け取った初
期欠陥補正画像とを、各画素毎に加算して、その加算結
果を再びピクセルゲイン情報一時記憶部２０６へ記憶す
る。

【００４５】また、キャリブレーション作業中の最後の
撮影である場合は、ピクセルゲイン情報一時記憶部２０
６に記憶されている情報と、初期欠陥補正部２０２から
受け取った初期欠陥補正画像とを、各画素毎に加算し
て、その加算結果を撮影回数で除算することで、ピクセ
ルゲイン情報の平均値を算出する。そして、その算出結
果を、ピクセルゲイン情報保持部２０７へ記憶する。

【００４６】尚、キャリブレーション撮影が１回の場合
には、そのときにピクセルゲイン情報一時記憶部２０６
へ一旦収集されたピクセルゲイン情報が、そのままピク
セルゲイン情報保持部２０７へと渡されることと同等の
扱いとなる。また、通常撮影の際にはピクセルゲイン情
報保持部２０７内の情報が必要となるので、ピクセルゲ
イン情報保持部２０７としては不揮発性記憶媒体を用い
ている。

【００４７】一方、初期欠陥補正部２０２にて得られた
初期欠陥補正画像は、欠陥位置抽出部２０４にも供給さ
れる。この欠陥位置抽出部２０４に供給される初期欠陥
補正画像は、予め工場出荷時の際に調べられた欠陥画像
（初期欠陥画像）に関しては補正された状態である。そ
こで、欠陥位置抽出部２０４は、ユーザ先で増えた欠陥
画素の位置情報を抽出する。このための欠陥抽出アルゴ
リズムについての詳細は後述する。

【００４８】欠陥位置合成部２０８は、欠陥位置抽出部
２０４にて得られた撮影毎の欠陥画素位置情報を合成す
る。

【００４９】具体的にはまず、キャリブレーション作業
中の初めての撮影である場合は、欠陥位置抽出部２０４
からの欠陥画素位置情報を、そのまま一時欠陥画素情報
として欠陥位置情報一時記億部２０９へ一旦記憶する。
ここで、欠陥位置情報一時記憶部２０９には、各画素に
対して欠陥画素である判定された回数を記憶できる機構
（以下、「判定回数記憶機構」と言う）を有し、欠陥画
素と判定された画素に対しては、その判定回数に”１”
が加算されるようになされている。したがって、この場
合に欠陥画素と判定された画素には、”１”が設定され
る。

【００５０】また、キャリブレーション作業中の初めて
の撮影でない場合、すなわち２回目以降の撮影である場
合は、欠陥位置情報一時記憶部２０９に記憶されている
情報と、欠陥位置抽出部２０４からの欠陥画素位置情報
とを合成し、その合成結果を再び欠陥位置情報一時記憶
部２０９へ記憶する。このとき、欠陥位置情報一時記憶
部２０９において、上述した判定回数記憶機構により、
欠陥画素と判定された画素に対しては、その判定回数
に”１”が加算される。

【００５１】また、キャリブレーション作業中の最後の
撮影である場合は、欠陥位置情報一時記憶部２０９に記
憶されている情報と、欠陥位置抽出部２０４からの欠陥
画素位置情報とを合成し、その合成結果を増加欠陥画素
位置情報として、増加欠陥位置情報保持部２１２へ記憶
すると共に、初期欠陥位置合成部２１１へ供給する。こ
のとき、上述した判定回数記憶機構により、欠陥画素と
判定された画素に対して、その判定回数に”１”が加算
された後、その加算結果が予め設定された欠陥判定回数
を超える場合のみ、その画素を欠陥画素として扱うよう
にする。例えば、一般には、キャリブレーション撮影は
４回ほど行うため、このような場合の欠陥判定回数は、
撮影回数の半分の値である”２”を設定する（小数点以
下は切り捨てる）。したがって、この場合には、２回を
超える、３回若しくは４回、欠陥画素と判定された画素
が欠陥画素と確定される。初期欠陥位置合成部２１１
は、予め工場出荷時等で収集された初期欠陥位置情報
と、欠陥位置合成部２０８からの増加欠陥画素位置情報
とを合成し、その合成結果を欠陥位置情報保持部２１１
へ記憶する。

【００５２】尚、キャリブレーション撮影が１回で、画
素の判定回数が”０”の場合、収集された欠陥位置情報
がそのまま欠陥位置情報保持部２１１へと渡されること
と同等の扱いとなる。

【００５３】上述のようにして、ピクセルゲイン情報保
持部２０７に保持されたピクセルゲイン情報、及び欠陥
位置情報保持部２１１に保持された欠陥画素位置情報
は、後述する通常撮影時でのピクセルゲイン補正処理及
び欠陥画素補正処理に用いられる。

【００５４】［欠陥位置抽出部２０４にて実行される欠
陥画素位置抽出アルゴリズム］

【００５５】ここでの欠陥画素位置抽出アルゴリズム
は、以下に説明する方法（１）〜（３）というような複
数のアルゴリズムの選択が可能となっており、これらの
アルゴリズムから選択されたものが予めＸ線画像撮影装
置１００に対して設定されるようになされている。ま
た、ここでの欠陥画素位置抽出アルゴリズムは、例え
ば、工場出荷時に、初期欠陥画素位置情報を得る際にも
利用可能なようになされている。

【００５６】（方法１）本アルゴリズムは、図３の概念
図、及び図４のフローチャートにより示される。

【００５７】先ず、センサ面上の領域の左上を対象画素
Ｐijの開始画素とする（ステップＳ３０１）。次に、初
期欠陥補正部２０２にて得られた初期欠陥画素補正画像
から、全画素の平均Ａ及び標準偏差σを算出すると共
に、この標準偏差σに予め指定された倍率Ｎを積算する
（ステップＳ３０２）。次に、対象画素Ｐijと全画素平
均Ａの差の絶対値が、上記積算結果より大きいか否かを
判別する（ステップＳ３０３）。この判別の結果、”絶
対値＞積算結果”の場合には、対象画素Ｐijを欠陥画素
と確定する（ステップＳ３０４）。その後、次のステッ
プＳ３０５へと進む。一方、”絶対値＞積算結果”でな
い場合には、そのままステップＳ３０５へと進む。ステ
ップＳ３０５では、センサ面上の領域の全ての画素に対
して、ステップＳ３０３からの処理を実行し終えたか否
かを判別し、未だ終了していない場合には対象画素Ｐij
を次の画素へと進めて（ステップＳ３０６）、ステップ
Ｓ３０３へと戻り、以降の処理ステップを繰り返し実行
する。そして、センサ面上の領域の全ての画素に対し
て、ステップＳ３０３からの処理を実行し終えたとき
に、本処理終了となる。

【００５８】すなわち、本アルゴリズムでは、 ｜Ｐij−Ａ（全画素）｜＞σ（全画素）×Ｎ Ｐij ：対象画素 Ａ（全画素）：全画素平均 σ（全画素）：全画素標準偏差 Ｎ ：指定倍率 なる関係にある対象画素Ｐijを欠陥画素と判定する。
尚、Ｘ線撮影の際に画像シェーディングが存在するとき
は、該シェーディングのために、欠陥画素ではないのに
出力値が少なくなり、欠陥画素として判断される場合が
ある。このため、本アルゴリズムは、演算時間が高速
な、シェーディングの少ない場合等に利用するのが好ま
しい。

【００５９】（方法２）本アルゴリズムは、図５の概念
図、及び図６のフローチャートにより示される。まず、
上述した（方法１）では、センサ面上の全画素の平均Ａ
及び標準偏差σに基づいて、欠陥画素の判定を行ってい
るが、本アルゴリズムでは、対象画素Ｐijの近傍、例え
ば、その周囲２５６×２５６画素の平均及び標準偏差に
基づいて、欠陥画素の判定を行う。

【００６０】すなわち、先ず、センサ面上の領域の左上
を対象画素Ｐijの開始画素とする（ステップＳ３１
１）。次に、初期欠陥補正部２０２にて得られた初期欠
陥補正画像から、対象画素Ｐijの近傍２５６×２５６画
素の平均Ａ及び標準偏差σijを算出すると共に、この標
準偏差σijに予め指定された倍率Ｎを積算する（ステッ
プＳ３１２）。次に、対象画素Ｐijと、対象画素Ｐijの
近傍２５６×２５６画素の全画素平均Ａijとの差の絶対
値が、上記積算結果より大きいか否かを判別する（ステ
ップＳ３１３）。この判別の結果、”絶対値＞積算結
果”の場合には、対象画素Ｐijを欠陥画素と確定する
（ステップＳ３１４）。その後、次のステップＳ３１５
へと進む。一方、”絶対値＞積算結果”でない場合に
は、そのままステップＳ３１５へと進む。ステップＳ３
１５では、センサ面上の領域の全ての画素に対して、ス
テップＳ３１２からの処理を実行し終えたか否かを判別
し、未だ終了していない場合には対象画素Ｐijを次の画
素へと進めて（ステップＳ３１６）、ステップＳ３１２
へと戻り、以降の処理ステップを繰り返し実行する。そ
して、センサ面上の領域の全ての画素に対して、ステッ
プＳ３１２からの処理を実行し終えたときに、本処理終
了となる。

【００６１】上述のような本アルゴリズムによれば、Ｘ
線撮影によるシェーディングによる影響が少なくなり、
より正確な欠陥画素の判定を行うことができる。尚、例
えば、図７に示すように、平面センサからの画像読み出
しのＡＤ変換器が複数ある場合は、ＡＤ変換器のばらつ
きが大きいことがある。この場合、２つのＡＤ変換器に
またがるように近傍矩形領域をとった場合、例えば、Ａ
Ｄ変換器の出力が小さいと、それが原因で誤って欠陥画
素として判定される場合がある。このため、本アルゴリ
ズムは、利用している平面センサが小さいセンサであ
り、ＡＤ変換器が１つしかない場合等に利用するのが好
ましい。

【００６２】（方法３）本アルゴリズムは、図７の概念
図、及び図８のフローチャートにより示される。本アル
ゴリズムでは、平面センサ１０７からの画像読み出しの
ＡＤ変換器１０８に従ってセンサ面の領域の横方向をバ
ンドで区切り、且つ縦方向をも、Ｘ線シェーディング特
性をよりなくすようにバンドで区切りる。このようにし
て、センサ面上の領域を縦横で碁盤状に区切り、対象画
素Ｐijが存在する矩形領域内を対象として、上述した
（方法１）のアルゴリズムを実行する。

【００６３】すなわち、先ず、センサ面上の領域の左上
の区切られた矩形領域を対象矩形領域とする（ステップ
Ｓ３２１）。次に、上記対象矩形領域の左上を対象画素
Ｐijの開始画素とする（ステップＳ３２２）。次に、初
期欠陥補正部２０２にて得られた初期欠陥補正画像か
ら、上記対象矩形領域の平均Ａ及び標準偏差σijを算出
すると共に、この標準偏差σijに予め指定された倍率Ｎ
を積算する（ステップＳ３２３）。次に、対象画素Ｐij
と全画素平均Ａとの差の絶対値が、上記積算結果より大
きいか否かを判別する（ステップＳ３２４）。この判別
の結果、”絶対値＞積算結果”の場合には、対象画素Ｐ
ijを欠陥画素と確定する（ステップＳ３２５）。その
後、次のステップＳ３２６へと進む。一方、”絶対値＞
積算結果”でない場合には、そのままステップＳ３２６
へと進む。ステップＳ３２６では、上記対象矩形領域の
全ての画素に対して、ステップＳ３２４からの処理を実
行し終えたか否かを判別し、未だ終了していない場合に
は対象画素Ｐijを次の画素へと進めて（ステップＳ３２
７）、ステップＳ３２４へと戻り、以降に処理ステップ
を繰り返し実行する。上記対象矩形領域の全ての画素に
対して、ステップＳ３２４からの処理を実行し終える
と、上記対象矩形領域を次の矩形領域へと進める（ステ
ップＳ３２８）。そして、センサ領域の全ての矩形領域
に対して、ステップＳ３２２からの処理を実行し終えた
か否かを判別し（ステップＳ３２９）、未だ終了してい
ない場合にはステップＳ３２２へと戻り、以降の処理ス
テップを繰り返し実行する。センサ領域の全ての矩形領
域に対して、ステップＳ３２２からの処理を実行し終え
たときに、本処理終了となる。

【００６４】上述のような本アルゴリズムによれば、Ａ
Ｄ変換器が複数ある場合でも、より正確な欠陥画素の判
定を行うことができる。特に、面積の小さい平面センサ
が複数組み合わされて大きい平面センサを構成する場合
でも、平面センサの組み合わせの境目を区切りとして、
縦横でセンサ領域を区切ることで、より正確な欠陥画素
の判定を行うことができる。尚、本アルゴリズムでは、
Ｘ線撮影によるシェーディングによる影響が少なくな
り、且つＡＤ変換器やセンサの組み合わせに従う必要も
ないため、構成を問わず、様々な構成に利用することが
可能である。

【００６５】［Ｘ線量を変更しながらの欠陥画素位置抽
出］

【００６６】まず、一般的に、平面センサより得られる
画素の出力挙動は、全く出力されない画素や、常にディ
ジタル的に大きい信号を出力する画素、また、中間値を
出力する画素等があり、上述したようなディジタル階調
４０９６中、２０００階調あたりをねらった撮影では、
平面センサの出力中に欠陥画素としての出力値が含まれ
てしまうケースがある。

【００６７】そこで、ここでは、図９のフローチャート
に示すように、Ｘ線量（曝射線量）を様々に変更して、
それぞれのＸ線量での上述したようなキャリブレーショ
ン撮影を行って、欠陥画素位置情報を収集する。

【００６８】すなわち、先ず、平面センサ１０７の中央
の２５６×２５６画素の平均が５００〜１０００階調の
範囲となるようなＸ線量での撮影回数（撮影許容回数）
Ｎｌ（ｌｏｗ）、１５００〜２５００階調の範囲となる
ようなＸ線量での撮影回数Ｎｍ（ｍｉｄ）、３０００〜
３５００階調の範囲となるようなＸ線量での撮影回数Ｎ
ｈ（ｈｉｇｈ）をそれぞれ設定する（ステップＳ４０
１）。ここでは、Ｎｌ＝４、Ｎｍ＝４、Ｎｈ＝４と設定
しているため、平面センサ１０７の中央の２５６×２５
６画素の平均が５００〜１０００階調の範囲となるよう
なＸ線量での撮影が４回行われ、１５００〜２５００階
調の範囲となるようなＸ線量での撮影が４回行われ、３
０００〜３５００階調の範囲となるようなＸ線量での撮
影が４回行われることになる。

【００６９】次に、平面センサ１０７の中央の２５６×
２５６画素の平均が５００〜１０００階調の範囲となる
ようなＸ線量での撮影により得られた画像情報に対し
て、上述したような欠陥画素位置の抽出を、Ｎｌで示さ
れる回数分行う（ステップＳ４０２）。次に、平面セン
サ１０７の中央の２５６×２５６画素の平均が１５００
〜２５００階調の範囲となるようなＸ線量での撮影によ
り得られた画像情報に対して、上述したような欠陥画素
位置の抽出を、Ｎｍで示される回数分を行う。このと
き、ピクセルゲイン情報の収集をもＮｍで示される回数
分行う（ステップＳ４０３）。次に、平面センサ１０７
の中央の２５６×２５６画素の平均が３０００〜３５０
０階調の範囲となるようなＸ線量での撮影により得られ
た画像情報に対して、上述したような欠陥画素位置の抽
出を、Ｎｈで示される回数分行う（ステップＳ４０
４）。

【００７０】上述のステップＳ４０２〜Ｓ４０４での欠
陥画素位置抽出は、利用するセンサ種類等の環境によ
り、上述した（方法１）〜（方法３）のいずれの欠陥画
素位置抽出アルゴリズムも利用できるが、重要な点は、
曝射強度が違うため、より低い曝射線量で撮影した場合
は、欠陥画素として比較的中間階調を維持する画素が、
欠陥画素と全画素平均の差の絶対値が標準偏差に予め指
定された倍率を積算した値より大きく外れるので、欠陥
画素として捕捉できる点である。したがって、上述のよ
うにしてＸ線量を様々に変更しながら欠陥画素位置の抽
出を行うことで、それぞれのＸ線量での撮影での平面セ
ンサ１０７の出力のばらつきから大きくはずれたものが
欠陥画素と確定されることになるため、出力挙動が、全
く出力されない画素や、常にディジタル的に大きい信号
を出力する画素、また、中間値を出力する画素等に対し
ても、欠陥画素の判定を正確に行うことができる。

【００７１】尚、Ｘ線量がそれぞれの範囲以外の値とな
ってしまった場合においては、その撮影は再撮影とな
る。

【００７２】［ピクセルゲイン補正処理及び欠陥画素補
正処理構成］

【００７３】上記図２〜図８を用いて説明したようにし
て、欠陥画素位置情報及びピクセルゲイン情報を収集し
終えると、通常撮影時において、それらの情報を用いた
ピクセルゲイン補正処理及び欠陥画素補正処理が行われ
る。このため、上記図２に示した画像補正部２００は、
例えば、図１０に示すような、ピクセルゲイン情報保持
部２０７に保持されたピクセルゲイン情報を用いてピク
セル補正処理を行うピクセルゲイン補正部２２１と、ピ
クセルゲイン補正部２２１の出力及び欠陥位置情報保持
部２１１に保持された欠陥画素位置情報を用いて欠陥画
素補正処理を行う欠陥画素補正部２２２を更に備えた構
成としている。

【００７４】先ず、ピクセルゲイン補正部２２１は、通
常撮影により得られた撮影生画像情報に対して、ピクセ
ルゲイン情報保持部２０７のピクセルゲイン情報を用い
たピクセル補正処理を行う。ここでのピクセルゲイン補
正処理とは、先ず、ピクセルゲイン情報を、画像の中央
部が１．０近くとなるように、撮影生画像情報の画素
（入力ピクセル）Ｐijを持って、 Ｎij＝Ｐij／（画像中央部２５６×２５６画素の平均） なる式により正規化して、正規化されたピクセルゲイン
情報Ｎijを得る。

【００７５】そして、 Ｏij＝Ｐij／Ｎij なる式に示されるように、入力ピクセルＰijを、その画
素の正規化されたピクセルゲイン情報Ｎijで除算して、
ピクセルゲインの補正された値（ピクセルゲイン補正
値）Ｏijを得る。

【００７６】上記のピクセルゲイン補正値Oijは、計算
結果が４０９５階調となるようにクリッピングされて、
オーバフローしたものは４０９５階調となる。ここで
は、 Ｌｏｇ（Ｏij）＝Ｌｏｇ（Ｐij）−Ｌｏｇ（Ｎij） なるＬｏｇ演算式により、Ｌｏｇテーブルを通して、減
算することで実施するようになされている。そして、こ
の結果の出力値は、指数テーブルを用いて”Ｏij”に戻
すようになされている。

【００７７】ここで、上述のようなピクセルゲイン補正
処理を行う際、欠陥画素に関しては、上記の計算は全く
意味の無い値を出力する。これは、入力される撮影生画
像も、上述したようにしてピクセルゲイン情報保持部２
０９に保持されるピクセルゲイン情報も、欠陥画素に関
しては無意味な値であるためである。しかしながら、ピ
クセルゲイン補正処理に引き続き実行される欠陥画素補
正部２２２での欠陥画素補正処理により、欠陥画素部分
に関して補正がなされるため、ピクセルゲインも、欠陥
画素も補正された撮影画像を得ることができる。例え
ば、欠陥画素補正部２２２は、ピクセルゲイン補正部２
２１にて得られたピクセルゲイン補正処理後の画像情報
に対して、欠陥位置情報保持部２１１の欠陥画素位置情
報（ユーザ先で増加した欠陥画素位置情報を含む）によ
り、欠陥画素の周囲の画素の平均値を該欠陥画素値に上
書する、といった補正処理を行う。したがって、欠陥画
素補正部２２２での欠陥画素補正処理後、最終的に得ら
れる撮影画像は、ピクセルゲインも、欠陥画素も補正さ
れた高品位の画像となる。また、上述したピクセルゲイ
ン情報は、ユーザ先で増加した欠陥画素を含んでいるた
め、ピクセルゲイン情報のみしか入手できない場合にお
いても、本実施の形態での欠陥画素抽出処理を実行すれ
ば、ユーザ先で増加した欠陥画素を確実に抽出すること
が可能であり、サービスの面からも都合が良い。

【００７８】尚、本実施の形態では、実施をより容易に
するため、及び説明をより簡便にするために、ソフトウ
ェアでの実現を示したが、これに限らずハードウェアに
て実現することも可能である。この場合、より高速に処
理を実行することができる。

【００７９】また、本実施の形態では、本発明をＸ線撮
影に適用したが、これに限らず、他の撮影、例えば、可
視光を用いた撮影等に適用することも可能である。

【００８０】また、本発明の目的は、上述した実施の形
態のホスト及び端末の機能を実現するソフトウェアのプ
ログラムコードを記憶した記憶媒体を、システム或いは
装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ
（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログ
ラムコードを読みだして実行することによっても、達成
されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体から
読み出されたプログラムコード自体が本実施の形態の機
能を実現することとなり、そのプログラムコードを記憶
した記憶媒体は本発明を構成することとなる。プログラ
ムコードを供給するための記憶媒体としては、ＲＯＭ、
フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光
ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、
磁気テープ、不揮発性のメモリカード等を用いることが
できる。また、コンピュータが読みだしたプログラムコ
ードを実行することにより、本実施の形態の機能が実現
されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づ
き、コンピュータ上で稼動しているＯＳ等が実際の処理
の一部又は全部を行い、その処理によって本実施の形態
の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもな
い。さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコー
ドが、コンピュータに挿入された拡張機能ボードやコン
ピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリ
に書き込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づ
き、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣ
ＰＵなどが実際の処理の一部又は全部を行い、その処理
によって本実施の形態の機能が実現される場合も含まれ
ることは言うまでもない。

【００８１】

【発明の効果】以上説明したように本発明では、例え
ば、画像情報（Ｘ線撮影により得られたディジタル画像
情報等）の全画像領域の画素値の平均及び標準偏差を算
出し、各画素毎に、対象画素値と平均の差分の絶対値
が、標準偏差と予め指定された倍率の積算結果より大き
いか否かを判別し、大きい場合に、対象画素を欠陥画素
とする。このように構成することで、高速に欠陥画素位
置情報の抽出を行うことができる。このとき、画素の平
均及び標準偏差を算出する画像領域を、対象画素の近傍
の領域等の任意の領域とし、対象画素の領域の平均及び
標準偏差を算出し、その平均及び標準偏差を用いて、対
象画素が欠陥画素であるかの判定を行うようにしてもよ
い。このような構成とした場合、画像シェーディングが
存在し、そのシェーディングのために画素出力値が少な
くなることにより誤って欠陥画素と判定されてしまう、
などという誤判定を確実に防ぐことができる。また、画
像情報を収集する際のＡ／Ｄ変換器の特性や配置状態、
画像情報を撮像して得るための撮像素子（平面センサ）
が複数組み合わせられて（張り合わされて）１つのセン
サを構成する場合にはそのセンサの張り合わせ状態、或
いはセンサに対する入射光の状態（Ｘ線の当たり方等）
等に応じて、画像情報の全画像領域を複数に分割し、そ
れらの各画像領域毎に、対象画像領域の画素の平均及び
標準偏差を算出し、対象画像領域において、各画素毎に
対象画素が欠陥画素であるかの判定を行うようにしても
よい。このような構成とした場合、画像情報収集のため
の機器（センサの出力先）の特性、放射線等による撮影
の際のセンサへの入射光状態、センサの構成による特性
等に左右されずに、正確に欠陥画素の判定を行うことが
できる。よって、本発明によれば、欠陥画素位置情報を
常に正確に抽出することができるため、この正確な抽出
結果を用いて欠陥画素補正を行うことができるため、高
画質の撮影画像を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用したＸ線画像撮影装置の構成を示
すブロック図である。

【図２】上記Ｘ線画像撮影装置の画像読取制御部の画像
補正部の構成を示すブロック図である。

【図３】上記画像補正部において、欠陥画素位置抽出処
理の一例（方法１）を説明するための図である。

【図４】上記欠陥画素位置抽出処理（方法１）を説明す
るためのフローチャートである。

【図５】上記画像補正部において、欠陥画素位置抽出処
理の一例（方法２）を説明するための図である。

【図６】上記欠陥画素位置抽出処理（方法２）を説明す
るためのフローチャートである。

【図７】上記画像補正部において、欠陥画素位置抽出処
理の一例（方法３）を説明するための図である。

【図８】上記欠陥画素位置抽出処理（方法３）を説明す
るためのフローチャートである。

【図９】上記画像補正部において、Ｘ線量を変更しなが
らの欠陥画素位置抽出処理を説明するためのフローチャ
ートである。

【図１０】上記画像補正部において、ピクセルゲイン補
正処理及び欠陥画素補正処理の構成を示すブロック図で
ある。

【符号の説明】

１００ Ｘ画像撮影装置 １１８ ＣＰＵ １１０ 画像読取制御部 ２００ 画像補正部 ２０１ 暗電流減算部 ２０２ 初期欠陥補正部 ２０３ 画像チェック部 ２０４ 欠陥位置抽出部 ２０５ ピクセルゲイン情報加算部 ２０６ ピクセルゲイン情報一時記憶部 ２０７ ピクセルゲイン情報保持部 ２０８ 欠陥位置合成部 ２０９ 欠陥位置情報一時記憶部 ２１０ 初期欠陥位置合成部 ２１１ 欠陥位置情報保持部 ２１２ 増加欠陥位置情報保持部 ２２１ ピクセルゲイン補正部 ２２２ 欠陥画素補正部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 4C093 AA01 AA26 EA14 EB12 EB24 EE01 FC11 FC16 FC18 FD01 FD03 FD09 FD11 FD13 FF01 FF19 FF35 FF50 FG05 FH06 GA06 5B047 AA30 AB02 BB04 DA06 DB01 DC09 5C054 AA01 CA02 CA04 CB05 CC02 EA01 EH07 EJ05 5C077 LL04 LL19 MM20 MP01 PP06 PP20 PP21 PP43 PP46 PP47 PP71 PQ20 RR01

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 画像情報を収集するのに先立って欠陥画
   素位置情報を抽出し、該欠陥画素位置情報を用いて、上
   記画像情報に対して欠陥画素補正処理を行う画像処理装
   置であって、 上記画像情報における少なくとも任意の画像領域内の画
   素値の平均及び標準偏差を取得する取得手段と、 上記取得手段により得られた平均及び標準偏差と、該標
   準偏差に対する予め指定された倍率とを用いて、上記欠
   陥画素位置情報の抽出を行う抽出手段とを備えることを
   特徴とする画像処理装置。
2. 【請求項２】 上記抽出手段は、上記画像情報を構成す
   る各画素毎に、対象画素値と上記平均値の差分の絶対値
   と、上記標準偏差と上記指定倍率の積算結果とを比較
   し、その比較結果に基づいて、対象画素が欠陥画素であ
   るかを判定することを特徴とする請求項１記載の画像処
   理装置。
3. 【請求項３】 上記取得手段は、上記画像情報の全画像
   領域内の画素値の平均及び標準偏差を取得することを特
   徴とする請求項１記載の画像処理装置。
4. 【請求項４】 上記取得手段は、上記画像情報における
   対象画素を含む任意の画像領域内の画素値の平均及び標
   準偏差を取得し、 上記抽出手段は、上記画像情報を構成する各画素毎に、
   対象画素が欠陥画素であるかを判定することを特徴とす
   る請求項１記載の画像処理装置。
5. 【請求項５】 上記取得手段は、上記画像情報を複数の
   画像領域に分割し、各画像領域毎に、対象画像領域内の
   画素値の平均及び標準偏差を取得し、 上記抽出手段は、上記取得手段にて分割された各画像領
   域毎に、対象画像領域における上記欠陥画素位置情報の
   抽出を行うことを特徴とする請求項１記載の画像処理装
   置。
6. 【請求項６】 上記取得手段は、上記画像情報収集のた
   めの機器の特性に基づいて、上記分割処理を行うことを
   特徴とする請求項５記載の画像処理装置。
7. 【請求項７】 上記取得手段は、上記画像情報を撮像に
   より得る撮像素子の特性に基づいて、上記分割処理を行
   うことを特徴とする請求項５記載の画像処理装置。
8. 【請求項８】 上記画像情報は、放射線撮影により得ら
   れた画像情報をディジタル化した情報であることを特徴
   とする請求項１記載の画像処理装置。
9. 【請求項９】 複数の機器が相互通信可能に接続されて
   なる画像処理システムであって、 上記複数の機器のうち少なくとも１つの機器は、請求項
   １〜８の何れかに記載の画像処理装置の機能を有するこ
   とを特徴とする画像処理システム。
10. 【請求項１０】 画像情報を収集するのに先立って欠陥
    画素位置情報を抽出し、該欠陥画素位置情報を用いて、
    上記画像情報に対して欠陥画素補正処理を行うための画
    像処理方法であって、 上記画像情報における少なくとも任意の画像領域内の画
    素値の平均及び標準偏差を取得する取得ステップと、 上記取得ステップにより得られた平均及び標準偏差と、
    該標準偏差に対する予め指定された倍率とを用いて、上
    記欠陥画素位置情報の抽出を行う抽出ステップとを含む
    ことを特徴とする画像処理方法。
11. 【請求項１１】 上記抽出ステップは、 上記画像情報を構成する各画素毎に、対象画素値と上記
    平均値の差分の絶対値と、上記標準偏差と上記指定倍率
    の積算結果とを比較する比較ステップと、 上記比較ステップでの比較結果に基づいて、対象画素が
    欠陥画素であるかを判定する判定ステップとを含むこと
    を特徴とする請求項１０記載の画像処理方法。
12. 【請求項１２】 上記取得ステップは、上記画像情報の
    全画像領域内の画素値の平均及び標準偏差を取得するス
    テップを含むことを特徴とする請求項１０記載の画像処
    理方法。
13. 【請求項１３】 上記取得ステップは、上記画像情報に
    おける対象画素を含む任意の画像領域内の画素値の平均
    及び標準偏差を取得するステップを含み、 上記抽出ステップは、上記画像情報を構成する各画素毎
    に、対象画素が欠陥画素であるかを判定するステップを
    含むことを特徴とする請求項１０記載の画像処理方法。
14. 【請求項１４】 上記取得ステップは、上記画像情報を
    複数の画像領域に分割するステップと、該ステップによ
    り得られた各画像領域毎に対象画像領域内の画素値の平
    均及び標準偏差を取得するステップとを含み、 上記抽出ステップは、上記取得ステップにより分割され
    た各画像領域毎に、対象画像領域における上記欠陥画素
    位置情報の抽出を行うステップを含むことを特徴とする
    請求項１０記載の画像処理方法。
15. 【請求項１５】 上記取得ステップは、上記画像情報収
    集のための機器の特性に基づいて、上記分割処理を行う
    ステップを含むことを特徴とする請求項１４記載の画像
    処理方法。
16. 【請求項１６】 上記取得ステップは、上記画像情報を
    撮像により得る撮像素子の特性に基づいて、上記分割処
    理を行うステップを含むことを特徴とする請求項１４記
    載の画像処理方法。
17. 【請求項１７】 上記画像情報は、放射線撮影により得
    られた画像情報をディジタル化した情報であることを特
    徴とする請求項１０記載の画像処理方法。
18. 【請求項１８】 画像情報を収集するのに先立って欠陥
    画素位置情報を抽出し、該欠陥画素位置情報を用いて、
    上記画像情報に対して欠陥画素補正処理を行うための処
    理ステップを、コンピュータが読出可能に格納した記憶
    媒体であって、 上記処理ステップは、請求項１０〜１７の何れかに記載
    の画像処理方法の各ステップを含むことを特徴とする記
    憶媒体。