JP2005099037A - 接触ピン - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明の接触ピン110は、検査対象に対する電気的な接触を得て、検査対象の電気的特性を検査する検査冶具100に用いられる可撓性および弾性を有する接触ピン110であって、検査対象に接触すべき先端部110aと、検査回路に導電接続される接続電極に接触すべき基端部110bと、を備えるワイヤ本体110dと、ワイヤ本体110dの先端部110aおよび基端部110bを除いた外周に設けられた絶縁被覆110cと、ワイヤ本体110dの先端部110aおよび基端部110bと、絶縁被覆110cの端部と、の間で形成され、ヘッド部の内部に収納される段部110eと、を有するものである。
【選択図】 図9
Description
110 接触ピン
110a 先端部
110b 基端部
110c 絶縁被覆
110d ワイヤ本体
110e 段部
120 ヘッド部
121 Aプレート
122 Bプレート
123 Cプレート
124 Dプレート
125 Eプレート
126、127 固定手段
128 保持手段
129 位置決めピン
130 電極部
131 ベース基板
131a 第1孔部
131b 第2孔部
132 導電線
133 導電層
Claims (2)
- 検査対象に対する電気的な接触を得て、上記検査対象の電気的特性を検査する検査冶具のヘッド部に保持されて用いられる可撓性および弾性を有する接触ピンであって、
上記検査対象に接触すべき先端部と、検査回路に導電接続される接続電極に接触すべき基端部と、を備える1本のワイヤ本体と、
上記ワイヤ本体の上記先端部および上記基端部の各外周を除いた中央部外周に設けられた絶縁被覆と、
上記ワイヤ本体の上記先端部および上記基端部と上記絶縁被覆との境界位置に形成され、上記絶縁被覆の端部となると共に上記ヘッド部の両面側にそれぞれ設けられる小径の保持孔より内側に配置される段部と、
を有することを特徴とする接触ピン。 - 前記ワイヤ本体は、タングステンで構成された金属ワイヤとされ、前記絶縁被覆は、ウレタン樹脂で構成されることを特徴とする請求項1記載の接触ピン。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015004518A (ja) * | 2013-06-19 | 2015-01-08 | 大西電子株式会社 | 検査治具 |
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