JPH06100635B2 - 配線板の検査装置のテストヘッド - Google Patents
配線板の検査装置のテストヘッドInfo
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- JPH06100635B2 JPH06100635B2 JP1053897A JP5389789A JPH06100635B2 JP H06100635 B2 JPH06100635 B2 JP H06100635B2 JP 1053897 A JP1053897 A JP 1053897A JP 5389789 A JP5389789 A JP 5389789A JP H06100635 B2 JPH06100635 B2 JP H06100635B2
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- Japan
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- receptacle
- flange
- hole
- barrel
- test head
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は配線板を検査する検査装置のテストヘッドの構
造に関する。
造に関する。
[従来の技術] 近時、電子業界は半導体や配線板(ガラスエポキシ等の
樹脂板、ガラス板及びセラミック板等に配線を施したも
の)を中心に益々微細化する傾向にあり、半導体等の製
造メーカーや検査装置メーカーは、微細化する被検査物
に対応する検査治具、中でも被検査物の試験点との接触
部があるテストヘッド部の開発に困難を来している。
樹脂板、ガラス板及びセラミック板等に配線を施したも
の)を中心に益々微細化する傾向にあり、半導体等の製
造メーカーや検査装置メーカーは、微細化する被検査物
に対応する検査治具、中でも被検査物の試験点との接触
部があるテストヘッド部の開発に困難を来している。
特に、上記配線板の業界では、最も多く使用されている
コンタクトプローブを使用した検査装置のテストヘッド
も各試験点のピッチ及び試験点であるパッド巾とも微細
化する中、微細プローブ等と称する形状を細密化したプ
ローブで何とか対応はしているものの、各種の問題点が
存在する。
コンタクトプローブを使用した検査装置のテストヘッド
も各試験点のピッチ及び試験点であるパッド巾とも微細
化する中、微細プローブ等と称する形状を細密化したプ
ローブで何とか対応はしているものの、各種の問題点が
存在する。
第4図は従来の配線板の検査装置のテストヘッドを示す
ものである。第4図において、1は被検査物である配線
板の試験点位置に対応してレセプタクル挿入孔2が貫通
してあけられた絶縁ボード(メインボード)、3はレセ
プタクル挿入孔2内に接着剤を用いて固定されるコンタ
クトプローブ、4はコンタクトプローブ3のレセプタク
ルの後端部に接続するリード線、5はレセプタクルとリ
ード線4の接続端部に被着する絶縁チューブである。
ものである。第4図において、1は被検査物である配線
板の試験点位置に対応してレセプタクル挿入孔2が貫通
してあけられた絶縁ボード(メインボード)、3はレセ
プタクル挿入孔2内に接着剤を用いて固定されるコンタ
クトプローブ、4はコンタクトプローブ3のレセプタク
ルの後端部に接続するリード線、5はレセプタクルとリ
ード線4の接続端部に被着する絶縁チューブである。
また、コンタクトプローブ3は、第3図に図示するよう
に、大略、レセプタクル8、バレル10及びプランジャ1
2、あるいは加えてスプリング11とで構成されており、
先端をバレル10より突出させてバレル10内に摺動自在に
プランジャ12が配設され、バレル10内のプランジャ12の
後端部とバレル10の底部にはプランジャ12のその先端に
向け付勢するスプリング11が弾装されている。13はプラ
ンジャ12の摺動のストロークを決めるストッパー突起、
7は絶縁ボード1のレセプタクル挿入孔2の縁部に係止
するレセプタクル8のフランジである。
に、大略、レセプタクル8、バレル10及びプランジャ1
2、あるいは加えてスプリング11とで構成されており、
先端をバレル10より突出させてバレル10内に摺動自在に
プランジャ12が配設され、バレル10内のプランジャ12の
後端部とバレル10の底部にはプランジャ12のその先端に
向け付勢するスプリング11が弾装されている。13はプラ
ンジャ12の摺動のストロークを決めるストッパー突起、
7は絶縁ボード1のレセプタクル挿入孔2の縁部に係止
するレセプタクル8のフランジである。
従来の配線板の検査装置のテストヘッドでは、絶縁ボー
ド1に、レセプタクル挿入孔2を穴明加工する一方、リ
ード線4の端部で被覆を剥してレセプタクル8の端部に
カシメないし半田等で接続する。このようにしたレセプ
タクル8を絶縁ボード1のレセプタクル挿入孔2に挿入
するとともに接着剤を用いて固定し、さらにレセプタク
ル8内にプランジャ12とバレル10との組立体を装着し、
レセプタクル8とリード線4との接続端部に絶縁チュー
ブ5を被着する。
ド1に、レセプタクル挿入孔2を穴明加工する一方、リ
ード線4の端部で被覆を剥してレセプタクル8の端部に
カシメないし半田等で接続する。このようにしたレセプ
タクル8を絶縁ボード1のレセプタクル挿入孔2に挿入
するとともに接着剤を用いて固定し、さらにレセプタク
ル8内にプランジャ12とバレル10との組立体を装着し、
レセプタクル8とリード線4との接続端部に絶縁チュー
ブ5を被着する。
なお、このテストヘッドで使用するコンタクトプローブ
3は、レセプタクル8と、バレル10及びプランジャ12等
の組立体とが脱着可能な分離型構造であり、使用による
経時変化でスプリング11のバネ性が劣化したとき、ある
いはプランジャ12の摩耗や折損が生じたときに、レセプ
タクル8を絶縁ボード1側に残して組立体のみを抜き出
し新たなものと交換できるようにしている。
3は、レセプタクル8と、バレル10及びプランジャ12等
の組立体とが脱着可能な分離型構造であり、使用による
経時変化でスプリング11のバネ性が劣化したとき、ある
いはプランジャ12の摩耗や折損が生じたときに、レセプ
タクル8を絶縁ボード1側に残して組立体のみを抜き出
し新たなものと交換できるようにしている。
コンタクトプローブには、このような分離型の他に第3
図のレセプタクル8とバレル10との機能を一つのレセプ
タクルにまとめた一体型構造のものもある。
図のレセプタクル8とバレル10との機能を一つのレセプ
タクルにまとめた一体型構造のものもある。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、前述の従来の配線板の検査装置のテスト
ヘッドは、次なる問題点が存在した。
ヘッドは、次なる問題点が存在した。
すなわち、 コンタクトプローブは、プランジャ、バレル、レセプ
タクル等の結合によって構成されているが、微細化した
試験点に対応するために形状を小型化すると、各部品の
寸法精度が要求され、歩留りが悪くなってコスト高とな
る。逆に各部品の公差をあまくすると、プランジャの先
端部の振れが大きくなって試験点に当りにくいという不
都合がある。
タクル等の結合によって構成されているが、微細化した
試験点に対応するために形状を小型化すると、各部品の
寸法精度が要求され、歩留りが悪くなってコスト高とな
る。逆に各部品の公差をあまくすると、プランジャの先
端部の振れが大きくなって試験点に当りにくいという不
都合がある。
この点、現状では、かなり厳しい公差をつけてはいる
が、プランジャの先端部の振れが問題となっており、コ
ストが高い割には性能が出ないという問題がある。
が、プランジャの先端部の振れが問題となっており、コ
ストが高い割には性能が出ないという問題がある。
レセプタクルは絶縁ボードのプローブ挿入孔へ接着剤
を使って固定される。しかし、断線等の故障が生じたと
きは、レセプタクルを絶縁ボードから抜き出さなければ
ならないが、これがかなり困難な修理作業となり、場合
によってはテストヘッド自体が使用不可能となる。
を使って固定される。しかし、断線等の故障が生じたと
きは、レセプタクルを絶縁ボードから抜き出さなければ
ならないが、これがかなり困難な修理作業となり、場合
によってはテストヘッド自体が使用不可能となる。
また、レセプタクルは、絶縁ボードのプローブ挿入孔へ
接着剤を使いながら1本づつ手作業にて組み込むため、
その作業性がよくないという問題がある。
接着剤を使いながら1本づつ手作業にて組み込むため、
その作業性がよくないという問題がある。
絶縁ボードにレセプタクルを装着した後にレセプタク
ルの後端部へのリード線の接続部分に絶縁チューブを被
着しているが、これは1本づつ行わなければならずかな
りの工数を要し、特にレセプタクルのピッチが細かくな
ると、きわめて作業能率が悪くなるという問題がある。
ルの後端部へのリード線の接続部分に絶縁チューブを被
着しているが、これは1本づつ行わなければならずかな
りの工数を要し、特にレセプタクルのピッチが細かくな
ると、きわめて作業能率が悪くなるという問題がある。
本発明は上記の従来の問題点に鑑みてなされたものであ
り、コンタクトプローブを構成する各部品の寸法公差を
余り厳しくしなくともプランジャの先端部の振れを小さ
く押えることができて微細化した試験点に対応すること
ができ、また絶縁ボード(メインボード)へのレセプタ
クルの組み込み作業を改善して組立作業能率を高めるこ
とができる配線板の検査装置のテストヘッドを提供する
ことを目的とする。
り、コンタクトプローブを構成する各部品の寸法公差を
余り厳しくしなくともプランジャの先端部の振れを小さ
く押えることができて微細化した試験点に対応すること
ができ、また絶縁ボード(メインボード)へのレセプタ
クルの組み込み作業を改善して組立作業能率を高めるこ
とができる配線板の検査装置のテストヘッドを提供する
ことを目的とする。
また、本発明の他の目的は、コンタクトプローブの交換
やリード線の断線等の故障に対しても簡単に対応し得る
配線板の検査装置のテストヘッドを提供することを目的
とする。
やリード線の断線等の故障に対しても簡単に対応し得る
配線板の検査装置のテストヘッドを提供することを目的
とする。
さらに、本発明の他の目的は、レセプタクルとリード線
との接続部の絶縁処理作業等を改善することにより、組
立作業能率を高めることができる配線板の検査装置のテ
ストヘッドを提供することを目的とする。
との接続部の絶縁処理作業等を改善することにより、組
立作業能率を高めることができる配線板の検査装置のテ
ストヘッドを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明の配線板の検査装置のテストヘッドは、上記の目
的を達成するため、配線板の試験点に対応してプローブ
挿入孔を貫通してあけたメインボードと、後端部にリー
ド線を接続し先端部にフランジを形成したレセプタクル
を有し、フランジより先端突出部を突出させてレセプタ
クルに装着したバレルを有し、先端をバレルより突出さ
せてバレル内にスプリングの付勢を伴って摺動自在に配
設したプランジャを有し、フランジがメインボードの一
側面のプローブ挿入孔の縁部に当接してレセプタクルが
プローブ挿入孔に挿入されるコンタクトプローブと、ほ
ぼフランジの高さに対応する厚みとし、フランジ収容孔
を有し、該フランジ収容孔にフランジを収容してメイン
ボードの一側面に配設されるスペーサーと、バレルのレ
セプタクルよりの先端突出部より小さい厚みとし、フラ
ンジの外径より小さい孔径のバレル収容孔を有し、該バ
レル収容孔にバレルの先端突出部を収容し、かつ、バレ
ル収容孔の縁部でフランジを係止してスペーサー上に取
外し可能に配設される第一のトップボードと、少なくと
も部分的にプランジャの先端部の外径と同程度の孔径で
バレルの先端突出部を収容可能な貫通孔を有し、該貫通
孔にバレルの先端突出部を収容するとともにフランジの
先端部を挿通して第一のトップボード上に取外し可能に
配設される第二のトップボードと、からなることを特徴
とする。
的を達成するため、配線板の試験点に対応してプローブ
挿入孔を貫通してあけたメインボードと、後端部にリー
ド線を接続し先端部にフランジを形成したレセプタクル
を有し、フランジより先端突出部を突出させてレセプタ
クルに装着したバレルを有し、先端をバレルより突出さ
せてバレル内にスプリングの付勢を伴って摺動自在に配
設したプランジャを有し、フランジがメインボードの一
側面のプローブ挿入孔の縁部に当接してレセプタクルが
プローブ挿入孔に挿入されるコンタクトプローブと、ほ
ぼフランジの高さに対応する厚みとし、フランジ収容孔
を有し、該フランジ収容孔にフランジを収容してメイン
ボードの一側面に配設されるスペーサーと、バレルのレ
セプタクルよりの先端突出部より小さい厚みとし、フラ
ンジの外径より小さい孔径のバレル収容孔を有し、該バ
レル収容孔にバレルの先端突出部を収容し、かつ、バレ
ル収容孔の縁部でフランジを係止してスペーサー上に取
外し可能に配設される第一のトップボードと、少なくと
も部分的にプランジャの先端部の外径と同程度の孔径で
バレルの先端突出部を収容可能な貫通孔を有し、該貫通
孔にバレルの先端突出部を収容するとともにフランジの
先端部を挿通して第一のトップボード上に取外し可能に
配設される第二のトップボードと、からなることを特徴
とする。
なお、スペーサーを第一のトップボードに一体に設け、
これをメインボードの一側面に取外し可能に配設しても
よく、スペーサーをメインボードに一体に設けてもよ
い。
これをメインボードの一側面に取外し可能に配設しても
よく、スペーサーをメインボードに一体に設けてもよ
い。
また、他の本発明の配線板の検査装置のテストヘッド
は、メインボードの他側面に、レセプタクル収容孔を有
し、該レセプタクル収容孔にレセプタクルの後端部及び
リード線のレセプタクルへの接続端部を挿通する保護ボ
ードを配設してもよい。保護ボードはメインボードに一
体に設けるようにしてもよい。
は、メインボードの他側面に、レセプタクル収容孔を有
し、該レセプタクル収容孔にレセプタクルの後端部及び
リード線のレセプタクルへの接続端部を挿通する保護ボ
ードを配設してもよい。保護ボードはメインボードに一
体に設けるようにしてもよい。
さらに、他の本発明の配線板の検査装置のテストヘッド
は、配線板の試験点に対応してプローブ挿入孔を貫通し
てあけたメインボードと、後端部にリード線を接続し先
端部にフランジを形成したレセプタクルを有し、先端を
レセプタクルより突出させてレセプタクル内にスプリン
グの付勢を伴って摺動自在に配設したプランジャを有
し、フランジがメインボードの一側面のプローブ挿入孔
の縁部に当接してレセプタクルがプローブ挿入孔に挿入
されるコンタクトプローブと、ほぼフランジの高さに対
応する厚みとし、フランジ収容孔を有し、該フランジ収
容孔にフランジを収容してメインボードの一側面に配設
されるスペーサーと、少なくとも部分的にプランジャの
先端部の外径と同程度の孔径でフランジの外径より小さ
い孔径の貫通孔を有し、該貫通孔にプランジャの先端部
を挿通するとともに、貫通孔の縁部でフランジを係止し
てスペーサー上に取外し可能に配設されるトップボード
と、からなることを特徴とする。
は、配線板の試験点に対応してプローブ挿入孔を貫通し
てあけたメインボードと、後端部にリード線を接続し先
端部にフランジを形成したレセプタクルを有し、先端を
レセプタクルより突出させてレセプタクル内にスプリン
グの付勢を伴って摺動自在に配設したプランジャを有
し、フランジがメインボードの一側面のプローブ挿入孔
の縁部に当接してレセプタクルがプローブ挿入孔に挿入
されるコンタクトプローブと、ほぼフランジの高さに対
応する厚みとし、フランジ収容孔を有し、該フランジ収
容孔にフランジを収容してメインボードの一側面に配設
されるスペーサーと、少なくとも部分的にプランジャの
先端部の外径と同程度の孔径でフランジの外径より小さ
い孔径の貫通孔を有し、該貫通孔にプランジャの先端部
を挿通するとともに、貫通孔の縁部でフランジを係止し
てスペーサー上に取外し可能に配設されるトップボード
と、からなることを特徴とする。
なお、この場合も、スペーサーをトップボードと一体に
設けたり、メインボードと一体に設けたりしてもよく、
さらに、メインボードの他側面に、レセプタクル収容孔
を有し、該レセプタクル収容孔にレセプタクルの後端部
及びリード線のレセプタクルへの接続端部を挿通する保
護ボードを配設してもよい。この保護ボードはメインボ
ードと一体に設けることもできる。
設けたり、メインボードと一体に設けたりしてもよく、
さらに、メインボードの他側面に、レセプタクル収容孔
を有し、該レセプタクル収容孔にレセプタクルの後端部
及びリード線のレセプタクルへの接続端部を挿通する保
護ボードを配設してもよい。この保護ボードはメインボ
ードと一体に設けることもできる。
[実 施 例] 以下、本発明を図面に基づき実施例をもって説明する。
第1図は本発明の実施例に係るテストヘッドの断面を示
すものである。図において、20はメインボード、3はコ
ンタクトプローブ、21はスペーサー、22は第一のトップ
ボード、23は第二のトップボードである。
すものである。図において、20はメインボード、3はコ
ンタクトプローブ、21はスペーサー、22は第一のトップ
ボード、23は第二のトップボードである。
メインボード20は、ガラスエポキシ板、ベーク板、アク
リル板等の絶縁板に、配線板の試験点に対応して多数の
プローブ挿入孔が貫通してあけてある。
リル板等の絶縁板に、配線板の試験点に対応して多数の
プローブ挿入孔が貫通してあけてある。
コンタクトプローブ3は、第3図に示すように、後端部
にリード線26を接続し先端部にフランジ7を形成したレ
セプタクル8を有し、フランジ7より先端突出部9を突
出させてレセプタクル8に装着したバレル10を有し、先
端をバレル10より突出させて10内にスプリング11の付勢
を伴って摺動自在に配設したプランジャ12を有する。こ
のコンタクトプローブ3は、レセプタクル8にリード線
26を接続した状態でメインボード20のプローブ挿入孔25
のそれぞれに挿入され、フランジ7がメインボード20の
一側面20aのプローブ挿入孔25の縁部に当接される。こ
のコンタクトプローブ3のレセプタクル8の外径とメイ
ンボード20のプローブ挿入孔25の孔径との関係は、レセ
プタクル8を手指にてプローブ挿入孔へ抜き差し出来る
程度としてある。
にリード線26を接続し先端部にフランジ7を形成したレ
セプタクル8を有し、フランジ7より先端突出部9を突
出させてレセプタクル8に装着したバレル10を有し、先
端をバレル10より突出させて10内にスプリング11の付勢
を伴って摺動自在に配設したプランジャ12を有する。こ
のコンタクトプローブ3は、レセプタクル8にリード線
26を接続した状態でメインボード20のプローブ挿入孔25
のそれぞれに挿入され、フランジ7がメインボード20の
一側面20aのプローブ挿入孔25の縁部に当接される。こ
のコンタクトプローブ3のレセプタクル8の外径とメイ
ンボード20のプローブ挿入孔25の孔径との関係は、レセ
プタクル8を手指にてプローブ挿入孔へ抜き差し出来る
程度としてある。
なお、本発明で使用するコンタクトプローブ3の構造は
従来より公知のものである。
従来より公知のものである。
スペーサー21は、絶縁板からなり、所定の位置にコンタ
クトプローブ3のレセプタクル8の先端部に形成される
フランジ7を収容するためのフランジ収容孔28が形成さ
れ、またその厚みはほぼフランジ7の高さに対応する程
度とし、フランジ7の高さより若干薄くする。このスペ
ーサー21は、フランジ収容孔28を対応するメインボード
20のプローブ挿入孔25に合せて、メインボード20の一側
面20aに配設し、そのフランジ収容孔28内にコンタクト
プローブ3のフランジ7を収容する。
クトプローブ3のレセプタクル8の先端部に形成される
フランジ7を収容するためのフランジ収容孔28が形成さ
れ、またその厚みはほぼフランジ7の高さに対応する程
度とし、フランジ7の高さより若干薄くする。このスペ
ーサー21は、フランジ収容孔28を対応するメインボード
20のプローブ挿入孔25に合せて、メインボード20の一側
面20aに配設し、そのフランジ収容孔28内にコンタクト
プローブ3のフランジ7を収容する。
第一のトップボード22は、絶縁板からなり、所定の位置
にコンタクトプローブ3のフランジ7の外径より小さい
孔径のバレル収容孔29があけられる。第一のトップボー
ド22はまたコンタクトプローブ3のバレル10のレセプタ
クル8よりの先端突出部9より小さい厚みとしてある。
この第一のトップボード22は、バレル収容穴29をスペー
サー21のフランジ収容孔28に位置合せし、バレル収容孔
29にバレル10の先端突出部9を部分的に収容し、かつ、
バレル収容孔29の縁部でフランジ7を係止してスペーサ
ー21上にビス等を使って取外し可能に配設される。
にコンタクトプローブ3のフランジ7の外径より小さい
孔径のバレル収容孔29があけられる。第一のトップボー
ド22はまたコンタクトプローブ3のバレル10のレセプタ
クル8よりの先端突出部9より小さい厚みとしてある。
この第一のトップボード22は、バレル収容穴29をスペー
サー21のフランジ収容孔28に位置合せし、バレル収容孔
29にバレル10の先端突出部9を部分的に収容し、かつ、
バレル収容孔29の縁部でフランジ7を係止してスペーサ
ー21上にビス等を使って取外し可能に配設される。
なお、前述のスペーサー21は、それ自体独立させずにメ
インボード20の一側面20a側に一体に設けたり、あるい
は第一のトップボード22と一体に設けてもよい。第一の
トップボード22とスペーサー21とを一体とする場合も、
メインボード20に対しては取外し可能に配設する。
インボード20の一側面20a側に一体に設けたり、あるい
は第一のトップボード22と一体に設けてもよい。第一の
トップボード22とスペーサー21とを一体とする場合も、
メインボード20に対しては取外し可能に配設する。
また、第二のトップボード23も絶縁板からなり、所定の
位置に貫通孔30が設けられる。この貫通孔30は、少なく
とも部分的にコンタクトプローブ3のプランジャ12の先
端部の外径と同程度の孔径にされ、かつ、コンタクトプ
ローブ3のバレル10の先端突出部9が収容可能にされて
いる。従って、コンタクトプローブ3のプランジャ12の
先端部は貫通孔30によってその振れが規制されることに
なる。なお、貫通孔30の下部にはテーパー部30aが形成
されプランジャ12の貫通孔30への挿入をしやすくしてい
る。この第二のトップボード23は、貫通孔30を第一のト
ップボード22のバレル収容孔29に位置合せし、貫通孔30
にプランジャ12の先端部を挿通しバレルの10の先端突出
部9を収容して、第一のトップボード22の上にビス等を
使用して取外し可能に配設される。
位置に貫通孔30が設けられる。この貫通孔30は、少なく
とも部分的にコンタクトプローブ3のプランジャ12の先
端部の外径と同程度の孔径にされ、かつ、コンタクトプ
ローブ3のバレル10の先端突出部9が収容可能にされて
いる。従って、コンタクトプローブ3のプランジャ12の
先端部は貫通孔30によってその振れが規制されることに
なる。なお、貫通孔30の下部にはテーパー部30aが形成
されプランジャ12の貫通孔30への挿入をしやすくしてい
る。この第二のトップボード23は、貫通孔30を第一のト
ップボード22のバレル収容孔29に位置合せし、貫通孔30
にプランジャ12の先端部を挿通しバレルの10の先端突出
部9を収容して、第一のトップボード22の上にビス等を
使用して取外し可能に配設される。
なお、従来と同様にレセプタクル8の後端部に接続する
リード線26の端部に絶縁チューブを被着してもよいが、
さらに第1図に図示するように保護ボード24を設けるこ
ととしてもよい。この保護ボード24はメインボード20と
同等の絶縁板からなり、所定位置にレセプタクル収容孔
31が設けられており、メインボード20の他側面20bに配
設され、レセプタクル収容孔31の内部にレセプタクル8
の後端部及びそこに接続されるリード線26の接続端部を
収容できる程度の厚みとされる。
リード線26の端部に絶縁チューブを被着してもよいが、
さらに第1図に図示するように保護ボード24を設けるこ
ととしてもよい。この保護ボード24はメインボード20と
同等の絶縁板からなり、所定位置にレセプタクル収容孔
31が設けられており、メインボード20の他側面20bに配
設され、レセプタクル収容孔31の内部にレセプタクル8
の後端部及びそこに接続されるリード線26の接続端部を
収容できる程度の厚みとされる。
なおまた、保護ボード24とメインボード20とは一体のも
のとしてもよい。図示の実施例では、両者を別個のもの
としているが、これは板厚が大きくなると、孔明加工の
精度が落ちるためである。しかし、両者を一体のものと
しても製作不可能ではなく。むしろ部品点数が少なくな
ってその方が好ましい。
のとしてもよい。図示の実施例では、両者を別個のもの
としているが、これは板厚が大きくなると、孔明加工の
精度が落ちるためである。しかし、両者を一体のものと
しても製作不可能ではなく。むしろ部品点数が少なくな
ってその方が好ましい。
次に、上記実施例におけるテストヘッドの組立について
説明する。
説明する。
コンタクトプローブ3のレセプタクル8の後端部にリー
ド線26を接続し、その状態で所定に孔明加工してあるメ
インボード20のプローブ挿入孔25へ挿入する。この場
合、コンタクトプローブ3のレセプタクル8と、その内
部に装着されるバレル10やプランジャ12等に組立体とは
脱着可能な構造とされているため、メインボード20への
組込に際しては、コンタクトプローブ3の全体を挿入し
てもよいし、先にレセプタクル8を挿入し、次いでレセ
プタクル8内へ組立体を装着してもよい。
ド線26を接続し、その状態で所定に孔明加工してあるメ
インボード20のプローブ挿入孔25へ挿入する。この場
合、コンタクトプローブ3のレセプタクル8と、その内
部に装着されるバレル10やプランジャ12等に組立体とは
脱着可能な構造とされているため、メインボード20への
組込に際しては、コンタクトプローブ3の全体を挿入し
てもよいし、先にレセプタクル8を挿入し、次いでレセ
プタクル8内へ組立体を装着してもよい。
なお、レセプタクル8をメインボード20のプローブ挿入
孔25へ挿入しただけでは、レセプタクル8はメインボー
ド20に何ら固定されず、手指あるいは簡単な工具で摘み
出すことができる。
孔25へ挿入しただけでは、レセプタクル8はメインボー
ド20に何ら固定されず、手指あるいは簡単な工具で摘み
出すことができる。
コンタクトプローブ3のメインボード20への組込を終え
た後、メインボード20の一側面20aのスペーサー21上に
第一のトップボード22をビス等によって取付る。これよ
り、第一のトップボード22のバレル収容孔29の縁部でレ
セプタクル8のフランジ7が押え込まれ、コンタクトプ
ローブ3がメインボード20に固定されることになる。そ
して、第一のトップボード22上に第二のトップボード23
がビス等で取付られ、第二のトップボード23の貫通孔30
でコンタクトプローブ3のプランジャ12の振れが規制さ
れることになる。
た後、メインボード20の一側面20aのスペーサー21上に
第一のトップボード22をビス等によって取付る。これよ
り、第一のトップボード22のバレル収容孔29の縁部でレ
セプタクル8のフランジ7が押え込まれ、コンタクトプ
ローブ3がメインボード20に固定されることになる。そ
して、第一のトップボード22上に第二のトップボード23
がビス等で取付られ、第二のトップボード23の貫通孔30
でコンタクトプローブ3のプランジャ12の振れが規制さ
れることになる。
なお、スペーサー21は予めメインボード20に配設してお
けばよく、保護ボード24を使う場合も予めメインボード
20に配設しておけばよい。
けばよく、保護ボード24を使う場合も予めメインボード
20に配設しておけばよい。
このテストヘッドにおいて、コンタクトプローブ3のス
プリング11が使用による経年変化でバネ性が劣化し全数
の交換を必要とする場合は、まず、第二のトップボード
23を第一のトップボード22上から取り外す。すると、第
一のトップボード22上にはそのバレル収容孔29からバレ
ル10の先端突出部9が部分的に突出しているので、この
先端突出部9を手掛かりにバレル10を引っ張れば、コン
タクトプローブ3の内部組立体のみを抜き出すことがで
き、レセプタクル8は第一のトップボード22で押え込ま
れてメインボード20に残っているので、そこに新しい内
部組立体を装着すればよい。
プリング11が使用による経年変化でバネ性が劣化し全数
の交換を必要とする場合は、まず、第二のトップボード
23を第一のトップボード22上から取り外す。すると、第
一のトップボード22上にはそのバレル収容孔29からバレ
ル10の先端突出部9が部分的に突出しているので、この
先端突出部9を手掛かりにバレル10を引っ張れば、コン
タクトプローブ3の内部組立体のみを抜き出すことがで
き、レセプタクル8は第一のトップボード22で押え込ま
れてメインボード20に残っているので、そこに新しい内
部組立体を装着すればよい。
また、リード線26とレセプタクル8との間の接続部で断
線を生じたときは、第一及び第二のトップボード22,23
をメインボード20上から取外し該当するコンタクトプロ
ーブ3のみをプローブ挿入孔25から取り出し接続等の修
理を行い、しかる後に元に戻せばよい。
線を生じたときは、第一及び第二のトップボード22,23
をメインボード20上から取外し該当するコンタクトプロ
ーブ3のみをプローブ挿入孔25から取り出し接続等の修
理を行い、しかる後に元に戻せばよい。
次に他の本発明の実施例について説明する。前述の実施
例は、いわゆる分離型構造のコンタクトプローブを使用
する場合であるが、第2図実施例は、いわゆる一体型構
造のコンタクトプローブを使用する場合のものである。
ここで使用する一体構造のコンタクトプローブ3は、第
3図の分離型構造のプローブに対して、レセプタクルが
バレルを兼ねたものとでも言うべきもので、従来より一
般に使用されているものである。従って、そのコンタク
トプローブ3′の詳しい内部構造の説明は省略するが、
一体型構造のものでは分離型構造と異なり、そのレセプ
タクル8′は交換せずにそのまま使用し内部組立体のみ
を新品と交換するということはできず、その交換につい
てはプローブ3′全体を交換することになる。第2図に
示すテストヘッドでは、プローブの構造での違いに伴っ
て、前述の実施例に比し、第一のトップボード22及び第
二のトップボード23をひとつのトップボード22′にまと
め、そこに貫通孔30′を設けた点で異なるのみで、その
他は前述の実施例における構造と同一である。
例は、いわゆる分離型構造のコンタクトプローブを使用
する場合であるが、第2図実施例は、いわゆる一体型構
造のコンタクトプローブを使用する場合のものである。
ここで使用する一体構造のコンタクトプローブ3は、第
3図の分離型構造のプローブに対して、レセプタクルが
バレルを兼ねたものとでも言うべきもので、従来より一
般に使用されているものである。従って、そのコンタク
トプローブ3′の詳しい内部構造の説明は省略するが、
一体型構造のものでは分離型構造と異なり、そのレセプ
タクル8′は交換せずにそのまま使用し内部組立体のみ
を新品と交換するということはできず、その交換につい
てはプローブ3′全体を交換することになる。第2図に
示すテストヘッドでは、プローブの構造での違いに伴っ
て、前述の実施例に比し、第一のトップボード22及び第
二のトップボード23をひとつのトップボード22′にまと
め、そこに貫通孔30′を設けた点で異なるのみで、その
他は前述の実施例における構造と同一である。
なお、図示はしないがテストヘッドのリード線26は、こ
れを集合し結束し端部にコネクタを設ける。このコネク
タはアナライザーへと接続されることになる。また、テ
ストヘッドはプリント基板の支持機構及び加圧手段を備
える検査治具に配線板と対向して装置されることにな
る。
れを集合し結束し端部にコネクタを設ける。このコネク
タはアナライザーへと接続されることになる。また、テ
ストヘッドはプリント基板の支持機構及び加圧手段を備
える検査治具に配線板と対向して装置されることにな
る。
[作用] 本発明の配線板の検査装置のテストヘッドでは、コンタ
クトプローブを収容するメインボード上に設けた第二の
トップボードあるいはトップボードにあけた貫通孔の孔
径をプランジャの先端部の外径を同程度とし、この貫通
孔にプランジャの先端部を挿通してあるので、これらト
ップボードによってプランジャの先端部の振れが規制さ
れることになり、微細な試験点にも適確にプランジャを
接触させ得る。
クトプローブを収容するメインボード上に設けた第二の
トップボードあるいはトップボードにあけた貫通孔の孔
径をプランジャの先端部の外径を同程度とし、この貫通
孔にプランジャの先端部を挿通してあるので、これらト
ップボードによってプランジャの先端部の振れが規制さ
れることになり、微細な試験点にも適確にプランジャを
接触させ得る。
また、コンタクトプローブのメインボードへの組込は、
コンタクトプローブの全体あるいはレセプタクル部分を
メインボードのプローブ挿入孔へ挿入する構造とし、特
にコンタクトプローブのメインボードへの固定は接着剤
を使用することなく、第一のトップボードあるいはトッ
プボードのバレル収容孔あるいは貫通孔の縁部でレセプ
タクルのフランジを係止することでなされる。
コンタクトプローブの全体あるいはレセプタクル部分を
メインボードのプローブ挿入孔へ挿入する構造とし、特
にコンタクトプローブのメインボードへの固定は接着剤
を使用することなく、第一のトップボードあるいはトッ
プボードのバレル収容孔あるいは貫通孔の縁部でレセプ
タクルのフランジを係止することでなされる。
そして、第一及び第二トップボードあるいはトップボー
ドはそれぞれ所定の取付位置で取外し可能とされ、レセ
プタクルはメインボードに固着されずに抜き差し可能で
あるため、各トップボードを適宜に取外すことで、コン
タクトプローブの主要部のみあるいは全体をメインボー
ドから簡単に外すことができる。
ドはそれぞれ所定の取付位置で取外し可能とされ、レセ
プタクルはメインボードに固着されずに抜き差し可能で
あるため、各トップボードを適宜に取外すことで、コン
タクトプローブの主要部のみあるいは全体をメインボー
ドから簡単に外すことができる。
さらに、レセプタクルへのリード線の接続端部はメイン
ボードの他側面に配設される保護ボードに明けたレセプ
タクル収容孔内に収容され、相隙間との電気絶縁が図ら
れ及び外力の不可から保護される。
ボードの他側面に配設される保護ボードに明けたレセプ
タクル収容孔内に収容され、相隙間との電気絶縁が図ら
れ及び外力の不可から保護される。
[発明の効果] 本発明の配線板の検査装置のテストヘッドによれば、コ
ンタクトプローブのプランジャの先端に生じる振れをコ
ンタクトプローブを構成する各機構部品の寸法公差を厳
密にすることで対応するのではなく、コンタクトプロー
ブとは別個の第二のトップボードあるいはトップボード
にあけた貫通孔との嵌め合せで振れを規制するため、コ
ンタクトプローブの部品各部の公差を厳密に管理する必
要がなく、コンタクトプローブの製造が比較的容易とな
り歩留まりが向上する。特にテストヘッドには多数のコ
ンタクトプローブが使用され、一方でトップボードは絶
縁板の所定位置に孔明加工をするという機械加工で容易
に製作できるものであるから、結局、微細な試験点に対
応する精密なテストヘッド全体を従来に比べてより安価
に製造し得る。
ンタクトプローブのプランジャの先端に生じる振れをコ
ンタクトプローブを構成する各機構部品の寸法公差を厳
密にすることで対応するのではなく、コンタクトプロー
ブとは別個の第二のトップボードあるいはトップボード
にあけた貫通孔との嵌め合せで振れを規制するため、コ
ンタクトプローブの部品各部の公差を厳密に管理する必
要がなく、コンタクトプローブの製造が比較的容易とな
り歩留まりが向上する。特にテストヘッドには多数のコ
ンタクトプローブが使用され、一方でトップボードは絶
縁板の所定位置に孔明加工をするという機械加工で容易
に製作できるものであるから、結局、微細な試験点に対
応する精密なテストヘッド全体を従来に比べてより安価
に製造し得る。
また、コンタクトプローブのメインボードへの固定構造
は、接着剤を使用することなく、第一のトップボードあ
るいはトップボードに設けた所定の孔の縁部にてコンタ
クトプローブの全数をまとめて係止するものであるた
め、従来の接着剤を用いてコンタクトプローブを1本づ
つメインボードに固着する構造に比較してその組立作業
能率が飛躍的に改善される。
は、接着剤を使用することなく、第一のトップボードあ
るいはトップボードに設けた所定の孔の縁部にてコンタ
クトプローブの全数をまとめて係止するものであるた
め、従来の接着剤を用いてコンタクトプローブを1本づ
つメインボードに固着する構造に比較してその組立作業
能率が飛躍的に改善される。
そして、第一及び第二トップボードあるいはトップボー
ドは取外し可能に配設されるものであり、これらいずれ
かを適宜取外し、コンタクトプローブの交換・補修がで
き、これら作業の能率も大きく改善されることになる。
ドは取外し可能に配設されるものであり、これらいずれ
かを適宜取外し、コンタクトプローブの交換・補修がで
き、これら作業の能率も大きく改善されることになる。
さらに、保護ボードを設けることで多数のレセプタクル
のリード線の接続端部を同時に電気的機械的に保護で
き、従来の如く各毎に保護チューブを被着する構造に比
し組立作業が大いに改善されるという効果を奏する。
のリード線の接続端部を同時に電気的機械的に保護で
き、従来の如く各毎に保護チューブを被着する構造に比
し組立作業が大いに改善されるという効果を奏する。
第1図は本発明の実施例に係るテストヘッドの断面図、
第2図は他の本発明の実施例に係るテストヘッドの断面
図、第3図はコンタクトプローブの断面図、第4図は従
来のテストヘッドの断面図である。 3〜コンタクトプローブ 7〜フランジ 8,8′〜レセプタクル 9〜先端突出部 10〜バレル 11〜スプリング 12〜プランジャ 20〜メインボード 20a〜メインボードの一側面 20b〜メインボードの他側面 21〜スペーサー 22〜第一のトップボード 23〜第二のトップボード 22′〜トップボード 25〜プローブ挿入孔 26〜リード線 28〜フランジ収容孔 29〜バレル収容孔 39,30′〜貫通孔 31〜レセプタクル収容孔
第2図は他の本発明の実施例に係るテストヘッドの断面
図、第3図はコンタクトプローブの断面図、第4図は従
来のテストヘッドの断面図である。 3〜コンタクトプローブ 7〜フランジ 8,8′〜レセプタクル 9〜先端突出部 10〜バレル 11〜スプリング 12〜プランジャ 20〜メインボード 20a〜メインボードの一側面 20b〜メインボードの他側面 21〜スペーサー 22〜第一のトップボード 23〜第二のトップボード 22′〜トップボード 25〜プローブ挿入孔 26〜リード線 28〜フランジ収容孔 29〜バレル収容孔 39,30′〜貫通孔 31〜レセプタクル収容孔
Claims (10)
- 【請求項1】配線板の試験点に対応してプローブ挿入孔
(25)を貫通してあけたメインボード(20)と、後端部
にリード線(26)を接続し先端部にフランジ(7)を形
成したレセプタクル(8)を有し、フランジ(7)より
先端突出部(9)を突出させてレセプタクル(8)に装
着したバレル(10)を有し、先端をバレル(10)より突
出させてバレル(10)内にスプリング(11)の付勢を伴
って摺動自在に配設したプランジャ(12)を有し、フラ
ンジ(7)がメインボード(20)の一側面(20a)のプ
ローブ挿入孔(25)の縁部に当接してレセプタクル
(8)がプローブ挿入孔(25)に挿入されるコンタクト
プローブ(3)と、ほぼフランジ(7)の高さに対応す
る厚みとし、フランジ収容孔(28)を有し、該フランジ
収容孔(28)にフランジ(7)を収容してメインボード
(20)の一側面(20a)に配設されるスペーサー(21)
と、バレル(10)のレセプタクル(8)よりの先端突出
部(9)より小さい厚みとし、フランジ(7)の外径よ
り小さい孔径のバレル収容孔(29)を有し、該バレル収
容孔(29)にバレル(10)の先端突出部(9)を収容
し、かつ、バレル収容孔(29)の縁部でフランジ(7)
を係止してスペーサー(21)上に取外し可能に配設され
る第一のトップボード(22)と、少なくとも部分的にプ
ランジャ(12)の先端部の外径と同程度の孔径でバレル
(10)の先端突出部(9)を収容可能な貫通孔(30)を
有し、該貫通孔(30)にバレル(10)の先端突出部
(9)を収容するとともにフランジ(7)の先端部を挿
通して第一のトップボード(22)上に取外し可能に配設
される第二のトップボード(23)と、からなることを特
徴とする配線板の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項2】レセプタクル収容孔(31)を有し、該レセ
プタクル収容孔(31)にレセプタクル(8)の後端部及
びリード線(26)のレセプタクル(8)への接続端部を
挿通してメインボード(20)の他側面(20b)に配設さ
れる保護ボード(24)を備える請求項1に記載の配線板
の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項3】スペーサー(21)を第一のトップボード
(22)に一体に設け、これをメインボード(20)の一側
面(20a)に取外し可能に配設した請求項1又は2のい
ずれかに記載の配線板の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項4】スペーサー(21)をメインボード(20)に
一体に設けた請求項1又は2のいずれかに記載の配線板
の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項5】保護ボード(24)をメインボード(20)に
一体に設けた請求項2ないし4のいずれかに記載の配線
板の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項6】配線板の試験点に対応してプローブ挿入孔
(25)を貫通してあけたメインボード(20)と、後端部
にリード線(26)を接続し先端部にフランジ(7)を形
成したレセプタクル(8′)を有し、先端をレセプタク
ル(8′)より突出させてレセプタクル(8′)内にス
プリング(11)の付勢を伴って摺動自在に配設したプラ
ンジャ(12)を有し、フランジ(7)がメインボード
(20)の一側面(20a)のプローブ挿入孔(25)の縁部
に当接してレセプタクル(8′)がプローブ挿入孔(2
5)に挿入されるコンタクトプローブ(3)と、ほぼフ
ランジ(7)の高さに対応する厚みとし、フランジ収容
孔(28)を有し、該フランジ収容孔(28)にフランジ
(7)を収容してメインボード(20)の一側面(20a)
に配設されるスペーサー(21)と、少なくとも部分的に
プランジャ(12)の先端部の外径と同程度の孔径でフラ
ンジ(7)の外径より小さい孔径の貫通孔(30′)を有
し、該貫通孔(30′)にプランジャ(12)の先端部を挿
通するとともに、貫通孔(30′)の縁部でフランジ
(7)を係止してスペーサー(21)上に取外し可能に配
設されるトップボード(22′)と、からなることを特徴
とする配線板の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項7】レセプタクル収容孔(31)を有し、該レセ
プタクル収容孔(31)にレセプタクル(8′)の後端部
及びリード線(26)のレセプタクル(8′)への接続端
部を挿通してメインボード(20)の他側面(20b)に配
設される保護ボード(24)を備える請求項6に記載の配
線板の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項8】スペーサー(21)をトップボード(22′)
と一体に設けた請求項6又は7のいずれかに記載の配線
板の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項9】スペーサー(21)をメインボード(20)と
一体に設けた請求項6又は7のいずれかに記載の配線板
の検査装置のテストヘッド。 - 【請求項10】保護ボード(24)をメインボード(20)
に一体に設けた請求項7ないし9のいずれかに記載の配
線板の検査装置のテストヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1053897A JPH06100635B2 (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 配線板の検査装置のテストヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1053897A JPH06100635B2 (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 配線板の検査装置のテストヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02257075A JPH02257075A (ja) | 1990-10-17 |
JPH06100635B2 true JPH06100635B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=12955514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1053897A Expired - Fee Related JPH06100635B2 (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 配線板の検査装置のテストヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06100635B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018049816A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-29 | 株式会社Sdk | コンタクト装置、測定用ソケットおよび先端部アダプタ |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0656779U (ja) * | 1991-10-25 | 1994-08-05 | 株式会社モリモト | プリント基板等の検査装置 |
US6032994A (en) * | 1998-11-25 | 2000-03-07 | Promos Technologies Inc. | Tools for positioning semiconductor chip test probes |
US6343940B1 (en) * | 2000-06-19 | 2002-02-05 | Advantest Corp | Contact structure and assembly mechanism thereof |
US6902416B2 (en) * | 2002-08-29 | 2005-06-07 | 3M Innovative Properties Company | High density probe device |
JP5968202B2 (ja) * | 2012-11-16 | 2016-08-10 | 三菱電機株式会社 | 半導体評価装置 |
-
1989
- 1989-03-08 JP JP1053897A patent/JPH06100635B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018049816A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-29 | 株式会社Sdk | コンタクト装置、測定用ソケットおよび先端部アダプタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02257075A (ja) | 1990-10-17 |
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