JP2005081418A - 狭開先多層盛りアーク溶接の自動溶着量制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 基準溶接では初層から最終層2層前までの基準溶融池幅を計測し、基準溶融池幅データPwn_std(n=1〜m-2)を算出する。本溶接では先ず初層溶接を行うと共に溶融池幅を計測し、初層平滑化溶融池幅データPw1_avを算出する、この初層平滑化溶融池幅と前記基準溶融池幅データとの比(Pw1_std/Pw1_av)及び予め設定された2層目基準溶接速度Vs2を基に2層目目標溶接速度V2を算出しこの速度で2層目溶接を行なうと共に溶融池幅を計測し、2層平滑化溶融池幅データPw2_avを算出する、次の3層目から最終層1層前までの溶接は上記と同様に行い、最終層溶接は最終層2層前平滑化溶融池幅データと基準溶融池幅データとの比(Pwm-2_std/Pwm-2_av)及び予め設定された最終層基準溶接速度Vsmを基に算出した目標溶接速度Vmにより行なう。
【選択図】 なし
Description
このような多層盛りアーク自動溶接制御においては、開先加工精度のばらつきや溶接時の開先の熱膨張収縮等により溶接線方向で開先幅が変動する場合があり、開先に対する必要溶着量が変わるため、最終層の溶接ビードが余盛り不足あるいは余盛り過大となり余盛り高さが基準を満たさないことがあり、特に狭開先の場合はこの問題が顕著に現れる。
このような対策として、例えば、特許文献1では、溶接電極を揺動もしくはウィービングしてアーク溶接する際の振幅Lの増減値が開先幅Wの増減値とほぼ同値であることを利用し、これらの振幅Lを基に開先幅Wの変動を検出し、溶接ワイヤ送給速度Vfまたは溶接速度Vwを制御することにより溶接ビード高さを一定に制御する方法が開示されている。
また、特許文献2では、溶接ヘッドに設けられた開先断面形状計測センサにより走行位置毎に開先断面形状を計測し、得られた計測データから少なくとも開先幅、ビードの積層幅、開先深さおよび開先角度の全走行距離における平均値を計算し、これら平均値と予め設定された余盛り高さ及び積層高さに基づいて溶接の残り層数及び次層積層高さを計算し、この次層積層高さと、計測した積層幅及び開先角度と、予め設定したワイヤ速度及びウィービング関係値に基づいて一定走行距離毎に計測データの補正条件を求め、その補正条件を基に溶接速度、ウィービング幅および速度を計算し、予め設定された積層高さ範囲内で溶接条件を補正しつつ、多層盛り溶接を行う溶接方法が開示されている。
例えば狭開先溶接の場合、開先壁面の角度が小さく、かつスリットレーザの反射角度も小さくなるため、レーザーの乱反射光の輝度が低下する。またグラインダによる黒皮研磨で開先内だけでなく開先表面も鏡面状態に近い場合があり、乱反射光の輝度が小さくなるため、開先壁面・表面の光切断像が良く現れないことも多くなり、開先幅の計測値が異常となる可能性がある。またビード表面においては比較的光切断像が良く映るものの、積層したビードに偏り・傾きがあったり、スパッタが付着していたりすると深さ方向計測値の精度が悪くなる。
前述のように開先幅方向の計測誤差は特に狭開先においては深さ方向に拡大するため、開先幅光切断像の計測異常により余盛り高さ不良となる恐れがある。
また必要溶着量の計算方法によっては深さ方向の計測値の誤差も余盛り高さに影響してくる。
上記の従来技術の問題点に鑑みて本発明は、狭開先多層盛りアーク溶接において開先幅を安定して高精度で測定するとともに開先幅の変動に応じて必要溶着量を適正に制御することにより所定の溶接ビード余盛高さを得ることができる狭開先多層盛りアーク溶接の自動溶着量制御方法を提供することを目的とする。
(1)多層盛アーク溶接の自動制御方法において、本溶接に先立って、予め基準開先を用いて基準溶接を行うと同時に、初層から最終層2層前までの各層毎に基準溶融池幅計測を行い、これらの計測値を平滑化して各層における基準溶融池幅データPwn_std(n=1〜m-2)を算出し、その後、本溶接における初層溶接を行うと同時に、溶融池幅計測を行い、この計測値を平滑化して平滑化溶融池幅データPw1_avを算出し、次の2層目の目標溶接速度V2を下記(1)式に従って前記平滑化溶融池幅Pw1_avと前記基準溶融池幅データPw1_stdとの比(Pw1_std/Pw1_av)および予め設定された2層目の基準溶接速度Vs2より算出し、該目標溶接速度V2を用いて2層目の溶接を行うと同時に、溶融池幅計測を行い、この計測値を平滑化して平滑化溶融池幅データPw2_avを算出し、その後、3層目から最終層1層前までの各層の溶接を上記と同様の手順で行った後、最終層の溶接を下記(2)式に従って最終層2層前の平滑化溶融池幅データPwm-2_avと基準溶融池幅データPwm-2_stdとの比(Pwm-2_std/Pwm-2_av)および予め設定された最終層の基準溶接速度Vsmを基に算出した目標溶接速度Vmにより行なうことを特徴とする多層盛アーク溶接の自動制御方法。
Vn=(Pwn-1_std/Pwn-1_av)×Vsn・・・(1)
Vm=(Pwm-2_std/Pwm-2_av)×Vsm ・・・(2)
但し、Pwn-1_stdはn−1層目の基準溶融池幅データ、Pwn-1_avはn−1層目の平滑化溶融池幅データ、Vnはn層目の目標溶接速度、Vsnは予め定められたn層目の基準溶接速度を示す。
なお、n=2〜m−1、nは溶接パス数を示し、n=2の場合は2層目、
n=mの場合は最終層を示す。
(2)前記基準溶融池幅Pwn-1_std、前記溶融池幅データPwn-1、前記平滑化溶融池幅データPwn-1_av、前記目標溶接速度Vnおよび前記基準溶接速度Vsnは、溶接姿勢角度φの関数として表せることを特徴とする前記(1)記載の多層盛アーク溶接の自動制御方法。
本発明において溶融池幅を測定するために用いる溶融池画像は図1に示されるように溶接ワイヤ2を備えた溶接トーチ1を用いて鋼材4の開先部をアーク溶接する際に形成される溶融池3先端の溶鋼からの輻射光を近赤外光透過フィルタ7を通してTVカメラ8で斜め上方から撮像することにより得られ、溶接時のアーク光の影響は相対的に低下させることが可能である。
このようにして得られた溶融池画像5は、図2に示すように溶融池の輻射光に相当する高輝度画像中の上部に溶接ワイヤ影6が写り込んだ画像となり、この溶融池画像5において垂直座標軸の上から下への方向が溶接進行方向9に相当し、水平座標軸の方向が溶融池の幅方向に相当する。
本発明における溶融池幅とは、TVカメラでの撮像により得られた溶融池画像5を画像処理装置に入力後、図2に示す溶融池画像5における溶融池幅の計測値Pwi(i=1〜n)から最大値を抽出し、これを溶融池幅計測値Pwとする。
つまり、溶着断面積Sはワイヤ送給速度をF、溶接速度をVとするとS=k×F/V(kは定数)の関係となり、基準開先における溶着断面積をSstd、溶接速度をVstd、制御対象開先における必要溶着断面積をS、溶接速度をVとし、ワイヤ送給速度Fを基準開先、制御対象開先何れにおいても一定とする場合、
S/Sstd=Vstd/V ・・・(1)
従って必要溶接速度Vは
V=Vstd×Sstd/S ・・・(2)
となる。
一方、溶接速度Vを基準開先、制御対象開先何れにおいても一定とし、基準開先におけるワイヤ送給速度をFstd、制御対象開先における必要ワイヤ送給速度をFとすると、
S/Sstd=F/Fstd ・・・(3)
従って必要ワイヤ送給速度Fは
F=Fstd×S/Sstd ・・・(4)
となる。
d=Sstd/Pwstd=S/Pw ・・・(5)
Sstd/S=Pwstd/Pw ・・・・(5)’
従って、ワイヤ送給速度Fが基準開先、制御対象開先の何れにおいても一定である場合、制御対象開先における溶接速度Vは、上記(2)、(5)’式から、
V=Vstd×Sstd/S=Vstd×Pwstd/Pw ・・・(6)
となる。
一方、溶接速度Vが基準開先、制御対象開先何れにおいても一定である場合、制御対象開先におけるワイヤ送給速度Fは、上記(4)、(5)’式から、
F=Fstd×S/Sstd=Fstd×Pw/Pwstd・・・(7)
となる。
このように基準開先の溶融池幅Pwstdと制御対象開先の溶融池幅Pwとの比に基づいて、制御対象開先の溶接速度Vまたはワイヤ送給速度Fを変更することで溶接ビード高さdが一定になるように溶着量制御することが可能である。
なお、以下の本発明実施形態の説明では、本発明をラインパイプの全姿勢多層盛り溶接の余盛り高さ制御に適用する場合について説明するが、本発明がこれに限定するものではない。
ラインパイプの現地溶接においては開先幅の変動が大きく、特に狭開先の場合はこの変動が溶接ビードの余盛り高さに大きく影響するため、高精度の溶着量制御が必要であるが、人手による制御はほとんど不可能に近く、自動制御が必須である。
図4は、本発明の示す自動溶接装置の模式図を示すものである。鋼材4の開先部10の裏側面に裏当て金11を溶接し表側から溶接ワイヤ2を備えた溶接トーチを用いて溶接進行方向9に沿ってアーク溶接する際に、開先部に形成される溶融池3の先端を撮像するために溶接加工点に対して斜め前方にTVカメラ8を設置し、溶融池3先端部を近赤外線域に透過主波長を持つ近赤外光透過フィルタ7を通してTVカメラ8により溶融池画像を撮像する。この溶融池を撮像した映像信号は、画像処理装置14においてディジタル画像データに変換した後、前記画像データのうち必要な領域の輝度データを基にホストCPU13においては溶融池端部検知処理および端部位置から算出された溶融池幅計測値に応じて溶接速度の制御のための指令値をRS−232Cシリアル通信インタフェースにより溶接ヘッド制御装置12に送信し、溶接速度の変更による溶着量制御を行うものである。
TVカメラ8によって溶接線方向の斜め前方から撮像した溶融池画像は、図2に示すように溶融池輻射光による溶融池画像5に溶接ワイヤ6が影となって映り込む画像として得られ、この場合、開先幅方向が左右、溶接進行方向が下側に相当する。
本発明における溶融池幅は、この溶融池画像を水平に横切る計測ラインを設け、画像処理によりそのライン上の画像の輝度の変化を調べることで溶融池左右端を検知し、これらにより溶融池幅を算出する。以下、具体的な溶融池幅の算出方法を説明する。
次に、図7に示されるように、溶融池画像において前記輝度積算処理で得られたY=Ypkを最大溶融池幅の計測ラインとし、このライン上のX=0からX座標のプラス方向およびX=639からX座標のマイナス方向のそれぞれの範囲において各輝度値P(X,Ypk)の1次微分処理および2次微分処理を実行し、1次微分値dP(X,Ypk)/dXが最初にしきい値Thを越えた点から2次微分値d2P(X,Ypk)/dX2が正から負に変化する点すなわち1次微分ピーク点を各々溶融池左端点(XL、Ypk)、右端点(XR、Ypk)とする。
本発明における溶融池幅Pwは上記溶融池の左端点のX座標XLと同右端点のX座標XRとの差分値、すなわちPw=|XR−XL|として求められる。
溶融池幅Pwは、厳密には溶接姿勢によって開先幅の収縮等が異なることによりその値が変わる。図8に示すようなラインパイプの全姿勢多層盛り溶接を行う場合には、その溶接姿勢は、鋼管円周方向の鋼材4の開先に沿って溶接ワイヤ2を備えた溶接トーチ1とそれによる溶接点が相対的に溶接進行方向9に移動するため、鋼管断面の中心点の周りを鋼管外周に沿って移動する溶接点により形成される回転角度、つまり溶接姿勢角度φとして示されるため、溶融池幅の計測データは溶接姿勢角度φの関数Pw(φ)として一旦、ホストCPU13のハードディスク装置に保存される。
ラインパイプの全姿勢多層盛溶接における溶融池幅計測データPw(φ)の一例を図10、11に示す。図10に示されるように、溶融池幅Pw(φ)はそのままでは溶接姿勢角度φの増減に対して変動するので、図11に示されるように、溶接姿勢角度φをある範囲毎に区切り、この区間における溶融池幅Pw(φ)の平均値を算出後、各区間の平均値を直線で結んで平滑化処理したものを平滑化溶融池幅Pw_std(φ)として、CPU13のハードディスク装置にファイル保存する。
本発明では、本溶接に先立って、予め基準開先を用いて適正な余盛り高さとなるような溶接条件にて基準溶接を行い、かつ同時に初層から最終層2層前まで各層毎に基準溶融池幅計測を行い、これを平滑化して各n層における基準溶融池幅データPwn_std(φ)を作成する。
本発明では、このようにして得られた各層の基準溶融池幅データPwn_std(φ)を基に本溶接において溶接ビード高さdが一定になるように溶着量制御を行ううえでの各層の目標溶接速度または目標溶接ワイヤ速度を決定する。
次に本溶接における溶接ビード高さdの制御方法について説明する。
溶融池幅計測値Pwn(φ)は溶接姿勢角度φにより細かい変動があるので上述のような平滑化処理を行なう必要があり、このため当該層(n層)の溶接時の溶融池幅計測値Pwn(φ)は使わず、当該層(n層)の一層前の層(n―1層)の溶接時の溶融池幅計測値Pwn-1(φ)を平滑化処理したデータPwn-1_avを用い、それと同じ層(n−1層)の基準溶融池幅Pwn-1_std(φ)との比(Pwn-1_std(φ)/Pwn-1_av(φ))を本発明の制御に適用する。図9は、基準開先および制御対象開先における開先底部を初層溶接した後、2層から最終層(6層)までを本発明の自動制御により多層盛アーク溶接する場合を説明するための模式図を示す。
図5に示すように、初層(n=1)溶接時には、溶融池幅計測Pw1(φ)を実行し、溶接姿勢角度φの関数Pw1(φ)として計測データファイルとしてCPU13のハードディスク装置に保存し、初層溶接終了後、前述の平滑化処理により、平滑化データPw1_av(φ)を生成する。さらに、次の2層目(n=2)の目標溶接速度V2(φ)をPw1_av(φ)と基準溶融池幅データPw1_std(φ)との比(Pw1_std(φ)/Pw1_av(φ))および予め設定された2層(n=2)目の基準溶接速度Vs2(φ)より求める。
なお、本発明において初層(n=1)溶接は特に規定する必要はなく、先行量による裏波制御により溶接速度をコントロ−ルすることで行うことができる。
V2(φ)=(Pw1_std(φ)/Pw1_av(φ))×Vs2(φ) ・・・(8)
2層目(n=2)の溶接は、上記のように算出された目標溶接速度V2(φ)により行なわれると同時に2層目(n=2)の溶融池幅計測Pw2(φ)を実行し、1層目と同様に溶接姿勢角度φの関数Pw2(φ)として計測データファイルとして保存し、2層目(n=2)の溶接完了後、前述の平滑化処理を行い、平滑化データPw2_av(φ)を生成する。
3層目以降(n=3〜m−2層、mは最終層)の溶接時の目標溶接速度Vn(φ)は上記と同様に前層(n=n−1層)の溶融池幅平滑化データPwn-1_av(φ)と基準溶融池幅データPwn-1_std(φ)との比(Pwn-1_std(φ)/Pwn-1_av(φ))および予め設定されたn層目の基準溶接速度Vsn(φ)より以下の式で算出される。
Vn(φ)=(Pwn-1_std(φ)/Pwn-1_av(φ))×Vsn(φ) ・・・(9)
最終層の2層前(n=m−2層)までは、以上のようにして繰り返し溶接制御が行なわれる。
最終層の1層前(n=m−1層)の場合には、上記と同様に前層の溶接完了後に前層(n=m−2層)の溶融池幅平滑化データPwm-2_av(φ)と基準溶融池幅データPwm-2_std(φ)との比(Pwm-2_std(φ)/Pwm-2_av(φ))および予め設定されたm−1層(n=m−1)目の基準溶接速度Vsm-1(φ)より下式で算出された目標溶接速度Vm-1(φ)で自動溶接される。
Vm-1(φ)=(Pwm-2_std(φ)/Pwm-2_av(φ))×Vsm-1(φ) ・・・(10)
しかしながら、この最終層の1層前(n=m−1)の溶接時には、上記のような溶融池幅計測を実施しない。これは、最終層の1層前(n=m−1)の溶接では溶接姿勢または溶接条件の変動によって溶融池が開先上面以上、つまり、最終層レベルに達する場合があるため、溶融池幅計測値Pwm-1_av(φ)が最終層(n=m)の開先幅とするには信頼性が低いためである。
最終層の1層前(n=m−1)の溶接完了後、最終層(n=m)の目標溶接速度Vm(φ)の決定する方法は、前層、つまり、最終層1層前(n=m−1)の溶融池幅平滑化データPwm-1_av(φ)用いるのではなく、最終層2層前(n=m−2)の溶融池幅平滑化データPwm-2_av(φ)を用い、これと基準溶融池幅データPwm-2_std(φ)との比(Pwm-2_std(φ)/Pwm-2_av(φ))および予め設定された最終層(n=m)の基準溶接速度Vsm(φ)を用いて目標溶接速度Vm(φ)を算出する。
Vm(φ)=(Pwm-2_std(φ)/Pwm-2_av(φ))×Vsm(φ) ・・・(11)
溶接ワイヤ供給速度によりビード高さdが一定となるように溶着量制御する場合は以下のように行う。前述の溶接速度で制御する場合と同様に初層(n=1)溶接時に、溶融池幅計測Pw1(φ)を実行し、溶接姿勢角度φの関数Pw1(φ)として計測データファイルとしてCPU13のハードディスク装置に保存し、初層溶接終了後、前述の平滑化処理により、平滑化データPw1_av(φ)を生成する。さらに、次の2層目(n=2)の目標ワイヤ供給速度F2(φ)をPw1_av(φ)と基準溶融池幅データPw1_std(φ)との比(Pw1_std(φ)/Pw1_av(φ))および予め設定された2層(n=2)目の基準ワイヤ供給速度Fs2(φ)より求める。
F2(φ)=(Pw1_av(φ)/Pw1_std(φ))×Fs2(φ) ・・・(12)
2層目(n=2)の溶接は、上記のように算出された目標ワイヤ供給速度F2(φ)により行なわれると同時に2層目(n=2)の溶融池幅計測Pw2(φ)を実行し、1層目と同様に溶接姿勢角度φの関数Pw2(φ)として計測データファイルとして保存し、2層目(n=2)の溶接完了後、前述の平滑化処理を行い、平滑化データPw2_av(φ)を生成する。
3層目以降(n=3〜m−2層)の溶接時の目標ワイヤ供給速度Fn(φ)は上記と同様に前層(n=n−1層)の溶融池幅平滑化データPwn-1_av(φ)と基準溶融池幅データPwn-1_std(φ)との比(Pwn-1_std(φ)/Pwn-1_av(φ))および予め設定されたn層目の基準ワイヤ供給速度Fsn(φ)より以下の式で算出される。
Fn(φ)=(Pwn-1_av(φ)/Pwn-1_std(φ))×Fsn(φ) ・・・(13)
最終層の2層前(n=m−2層)までは、以上のようにして繰り返し溶接制御が行なわれる。
最終層の1層前(n=m−1層)の場合には、上記と同様に前層の溶接完了後に前層(n=m−2層)の溶融池幅平滑化データPwm-2_av(φ)と基準溶融池幅データPwm-2_std(φ)との比(Pwm-2_std(φ)/Pwm-2_av(φ))および予め設定されたm−1層(n=m−1)目の基準ワイヤ供給速度Fsm-1(φ)より下式で算出された目標ワイヤ供給速度Fm-1(φ)で自動溶接される。
Fm-1(φ)=(Pwm-2_ av(φ)/Pwm-2_ std(φ))×Fsm-1(φ) ・・・(14)
最終層の1層前(n=m−1)の溶接完了後、最終層(n=m)の目標ワイヤ供給速度Fm(φ)は最終層2層前(n=m−2)の溶融池幅平滑化データPwm-2_av(φ)を用い、これと基準溶融池幅データPwm-2_std(φ)との比(Pwm-2_std(φ)/Pwm-2_av(φ))および予め設定された最終層(n=m)の基準ワイヤ供給速度Fsm(φ)を用いて目標ワイヤ供給速度Fm(φ)を算出する。
Fm(φ)=(Pwm-2_ av(φ)/Pwm-2_ std(φ))×Fsm(φ) ・・・(15)
本実施例では図9に示すようなV型狭開先を用い、銅裏当て金付き内面クランプ装置により開先を保持しつつ、6層盛溶接を行った。
現地溶接を実施するときまでに、事前に工場等で基準開先を用いて正常な余盛り高さとなるように溶接速度V、ワイヤ供給速度F等の溶接条件を各層毎に決定し、溶接制御CPUのハードディスク装置に溶接条件データファイルとして記録する。これらの溶接条件は溶接姿勢φの関数となっており、各層毎に[V1(φ),F1(φ)]、・・・[Vn(φ),Fn(φ)]、・・・[Vm(φ),Fm(φ)](n=1〜m)というように整理されている。また溶接時に各層において溶融池幅計測を行い、各層毎にこれらを平滑化した計測データを基準溶融池幅データファイルとして画像処理装置12のホストCPU13内ハードディスク装置に記録した。これらも溶接姿勢φの関数となっており、また前述のように計測値は平滑化されている。平滑化されたデータは各層毎にPw1_std(φ)、・・・Pwn_std(φ)、・・・Pwm_std(φ) (n=1〜m)というように整理される。
本溶接ではまず初層溶接を行い、その際に溶融池幅計測を行いつつ、平滑化し、溶融池幅平滑化データPw1_av(φ)として画像処理装置12のホストCPU13内ハードディスク装置に記憶させた。本実施例では2層目〜最終層(6層目)までを溶接速度を増減させて溶着量を制御するために本発明法を用いた。
2層目の溶接においては溶融池幅計測データPw1_av(φ)と基準溶融池幅データPw1_std(φ)および基準溶接速度Vs2(φ)より適正溶接速度V2(φ)を以下のように算出し、速度制御を行った。
V2(φ)=(Pw1_std(φ)/Pw1_av(φ))×Vs2(φ)
これと同時に2層目の溶融池幅計測および平滑化を実行し、1層目と同様に溶接姿勢角度φの関数Pw2_av(φ)を生成、ファイル保存する。
3、4、5層目も同様に適正溶接速度V3(φ)、V4(φ)、V5(φ)を以下のように算出し、速度制御を行った。
V3(φ)=(Pw2_std(φ)/Pw2_av(φ))×Vs3(φ)
V4(φ)=(Pw3_std(φ)/Pw3_av(φ))×Vs4(φ)
V5(φ)=(Pw4_std(φ)/Pw4_av(φ))×Vs5(φ)
最終層(6層目)では、前層(5層目)において溶融池幅計測を行っていないため、4層目の溶融池幅データを使用し、適正溶接速度V6(φ)を算出し、速度制御を行った。
本実施例で使用した開先は、板厚20mmに対してルートギャップが5mm程度、開先上部での開先幅が10mm程度であり、この範囲をカバーするために溶融池画像の視野は幅方向で20〜30mmの範囲とした。本実施例で画像処理の横方向の画素数が640であるため、開先幅の計測分解能は0.03〜0.05mm/画素程度であり、これより開先幅の変動量の測定精度は、±0.03〜±0.05mm程度と推定できる。
比較例1として、発明例を同じ開先、溶接条件で、特許文献1に示される従来方法、すなわち溶接電極を揺動しながらアーク溶接する際の揺動振幅Lの増減により開先幅Wの変動を検出し、溶接速度Vwを制御することによる溶接ビード高さ一定制御を適用して多層盛りアーク溶接を行なった。その結果、この方法で検知できる開先幅の変動量の測定精度は、±0.2mm〜±0.5mm程度であった。
本発明の実施例と比較例1で使用した狭開先は、板厚20mmに対してルートギャップが5mm程度であり、開先幅に対する開先深さの比(開先幅/開先深さ)は約4/1となりから、開先深さ方向、つまり、溶接ビード高さの変動量の誤差は、開先幅の変動量の計測誤差の約4倍に拡大する。
本発明の実施例では、開先幅の変動量の計測誤差は、±0.03〜±0.05mmであるから、溶接ビードの余盛り高さの変動は±0.12〜±0.2mm程度に抑えることが可能となり、良好な余盛り高さを得ることができた。
これに対して、比較例1では、開先幅の変動量の測定精度は、±0.2mm〜±0.5mm程度であるから、溶接ビードの余盛り高さの変動は、±0.8mm〜2mmと大きく、所定の余盛り高さを得ることはできなかった。
2…溶接ワイヤ
3…溶融池
4…鋼材
5…溶融池画像
6…溶接ワイヤ影
7…近赤外光透過フィルタ
8…TVカメラ
9…溶接方向
10…開先
11…裏当て金
12…溶接ヘッド制御装置
13…ホストCPU
14…画像処理装置
Claims (2)
- 多層盛アーク溶接の自動制御方法において、本溶接に先立って、予め基準開先を用いて基準溶接を行うと同時に、初層から最終層2層前までの各層毎に基準溶融池幅計測を行い、これらの計測値を平滑化して各層における基準溶融池幅データPwn_std(n=1〜m-2)を算出し、その後、本溶接における初層溶接を行なうと同時に、溶融池幅計測を行い、この計測値を平滑化して平滑化溶融池幅データPw1_avを算出し、次の2層目の目標溶接速度V2を下記(1)式に従って前記平滑化溶融池幅Pw1_avと前記基準溶融池幅データPw1_stdとの比(Pw1_std/Pw1_av)および予め設定された2層目の基準溶接速度Vs2より算出し、該目標溶接速度V2を用いて2層目の溶接を行うと同時に、溶融池幅計測を行い、この計測値を平滑化して平滑化溶融池幅データPw2_avを算出し、その後、3層目から最終層1層前までの各層の溶接を上記と同様の手順で行った後、最終層の溶接を下記(2)式に従って最終層2層前の平滑化溶融池幅データPwm-2_avと基準溶融池幅データPwm-2_stdとの比(Pwm-2_std/Pwm-2_av)および予め設定された最終層の基準溶接速度Vsmを基に算出した目標溶接速度Vmにより行なうことを特徴とする狭開先多層盛りアーク溶接の自動溶着量制御方法。
Vn=(Pwn-1_std/Pwn-1_av)×Vsn・・・(1)
Vm=(Pwm-2_std/Pwm-2_av)×Vsm ・・・(2)
但し、Pwn-1_stdはn−1層目の基準溶融池幅データ、Pwn-1_avはn−1層目の平滑化溶融池幅データ、Vnはn層目の目標溶接速度、Vsnは予め定められたn層目の基準溶接速度を示す。
なお、n=2〜m−1、nは溶接パス数を示し、n=2の場合は2層目、
n=mの場合は最終層を示す。 - 前記基準溶融池幅Pwn-1_std、前記溶融池幅データPwn-1、前記平滑化溶融池幅データPwn-1_av、前記目標溶接速度Vnおよび前記基準溶接速度Vsnは、溶接姿勢角度φの関数として表せることを特徴とする請求項1記載の狭開先多層盛りアーク溶接の自動溶着量制御方法。
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- 2003-09-10 JP JP2003318488A patent/JP2005081418A/ja active Pending
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