JP2005081364A - スポット溶接用電極の良否判定装置 - Google Patents

スポット溶接用電極の良否判定装置 Download PDF

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Abstract

【課題】構造の簡略化と光センサユニットの耐久性向上とを図るとともに、高精度なスポット溶接用電極の良否判定装置を提供すること。
【解決手段】ハウジング10と、電極の先端を当接させる擂鉢状の一対の着座部11,12と、当該着座部11,12の中心に形成された開口部13,14と、所定の反射特性を有する原点ピン57,58と、電極の先端面および原点ピン57,58に光線を照射するとともに電極2,3および原点ピン57,58からの反射光を検出する光センサユニット20と、当該光センサユニット20で検出した反射光の反射光量に基づき電極の良否を判定する良否判定手段40とを有するスポット溶接用電極の良否判定装置1において、光センサユニット20はハウジング10の内部に固設され、原点ピン57,58はハウジング10の外部に設けられるとともに移動手段50によって開口部13,14に臨む前進位置と開口部13,14から離れる後退位置との間で移動可能とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、スポット溶接用電極の先端の良否を判定して、溶接不良の発生を未然に防止するスポット溶接用電極の良否判定装置に関する。
スポット溶接は、電極を溶接対象物に加圧して溶接電流を流すため、連続して行われる溶接作業により電極の先端に平坦部が形成され、この平坦部は次第に拡大されていく。この様な状態のまま溶接作業を続けると、電流密度が低下して所定のジュール発熱を得ることができず、その結果として溶接不良が発生する。このような不具合を未然に防止するためにスポット溶接においては、電極の先端を所望の曲面形状にするべく定期的に研磨している。
電極の研磨作業は、擂鉢状の凹部にカッターを配設したホルダを回転させる研磨装置を使用し、擂鉢状の凹部にスポット溶接用電極を押し当てた状態でホルダを回転させて電極の先端を研磨するなどの方法が用いられている。(例えば、特許文献1参照。)
一方、研磨後には、何らかの方法で電極の研磨状態の良否を判定する必要がある。従来より、研磨状態の良否を自動的に判定する装置として、基準穴に電極先端部を嵌め込み、その穴からの電極の突出量をリミットスイッチで検出することにより先端部が所定の曲率を形成していることを判定する装置が知られている(特許文献2参照)。しかし、このようなリミットスイッチによる検出では、電極先端部に溶接対象物の酸化物が付着している場合などは適正な良否判定ができず、判定結果に誤りが生じるという問題があった。
近年ではこれらの問題点を克服すべく、電極先端部に検査光線を照射し、その反射光量を計測して、その計測値によって研磨状態の良否を判定するスポット溶接用電極の研磨良否検査装置が提案されている(例えば、特許文献3参照。)
特開2002−292472号公報 実開平5−24175号公報 特開2002−273575号公報
特許文献3に開示されている研磨良否検査装置によると、研磨後の電極先端部からの反射光量により研磨状態の良否を判定するので、誤判定のおそれもなく、適正に研磨状態の良否を判定できる。
しかしながら、特許文献3に開示されている研磨良否検査装置では、精密部品である光センサユニットを位置決めハウジングの外部からの操作により、位置決めハウジングの内部において移動可能に構成されているので、その構造が複雑となるとともに、光センサユニットが損傷を受けるおそれもある。また、位置決めハウジングの内部において光センサユニットを摺動させ、対向する一対の着座部の間に光センサユニットの検査部を進入させるため、検査部と着座部の間に所定のクリアランスを確保する必要があり、着座部の対向間隔が増大する傾向にある。着座部の対向間隔が増大すると、検査部と着座部の間隔も増大し、その結果、電極検査時において、検査部に対して着座部に着座させた電極の位置が遠ざかる。そうすると、電極先端部からの反射光の計測精度が低下するおそれも生じる。
本発明は、このような事情のもとで考え出されたものであって、構造の簡略化と光センサユニットの耐久性向上とを図るとともに、高精度なスポット溶接用電極の良否判定装置を提供することを課題とする。
本発明によると、ハウジングと、電極の先端を当接させる凹状の一対の着座部と、当該着座部の中心に形成された開口部と、所定の反射特性を有する基準反射部材と、電極の先端面および基準反射部材に光線を照射するとともに電極および基準反射部材からの反射光を検出する光センサユニットと、当該光センサユニットで検出した反射光の反射光量に基づき電極の良否を判定する良否判定手段とを有するスポット溶接用電極の良否判定装置であって、上記光センサユニットは上記ハウジングの内部に固設され、上記基準反射部材は上記ハウジングの外部に設けられるとともに移動手段によって上記開口部に臨む第1位置と上記開口部から離れる第2位置との間で移動可能であることを特徴とする、スポット溶接用電極の良否判定装置が提供される。
このような構成のスポット溶接用電極の良否判定装置を用いると、光センサユニットはハウジングの内部に固設されており、移動させる必要がないので損傷を受け難く、耐久性が向上する。そして、移動手段をハウジングの外部に設けたので、ハウジングの内外に跨る連結が不要となり、ハウジングの構造を簡略化できるとともに、装置全体の製造コストを低減できる。また、光センサユニットを対向する一対の着座部の間に固定的に設けることにより、光センサユニットが移動可能に構成されている場合と比べて着座部同士を近接させることが可能となり、電極の良否判定においても高精度な判定結果を得られる。
好ましくは、上記基準反射部材は、上記ハウジングの長手方向に沿って摺動する摺動体に取付けられており、上記移動手段は、当該摺動体を摺動させるように構成されている。
このような構成によると、移動手段は、基準反射部材が取付けられた摺動体をハウジングの長手方向に沿って摺動させるように構成されているので、移動手段にかかる占有スペースを小型化でき、その結果として装置全体を小型化できる。
好ましくは、上記移動手段は、回動軸心を中心に回動可能な回動手段であるとともに、上記基準反射部材が上記回動手段の回動動作にともない上記着座部の形成された窪んだ領域に入り込み可能に構成されている。
このような構成によると、基準反射部材はハウジングの外周面よりも内側に入り込み、光センサユニットに近接するので、基準反射部材からの反射光の計測精度を高めることができる。
好ましくは、上記基準反射部材からの反射光量に基づく第1閾値と、上記電極からの反射光量に基づく電極の種類毎に固有の第2閾値があらかじめ設定されている。
このような構成によると、基準反射部材からの反射光量に基づく1種類の第1閾値があらかじめ設定されていることにより、良否判定装置の使用に伴う光センサユニットおよびその他の光量計測にかかる部品の経時劣化に対応した閾値の再設定が可能となり、光センサユニットおよびその他の光量計測にかかる部品の長寿命化を図ることができる。さらに、電極からの反射光量に基づくとともに溶接ガンの形式毎および電極の種類毎に異なった複数の第2閾値が設定されていることにより、電極の種類毎に研磨状態の良否判定を行えるので、良否判定装置の汎用性を高めることができる。
好ましくは、上記摺動体は、上記第1位置において上記着座部を覆う防塵カバーの形態である。
このような構成によると、摺動体が第1位置に配置されているときには、摺動体は着座部を覆う防塵カバーとして機能するので、塵・埃などの異物が外部から侵入して着座部や基準反射部材に付着するなどの不具合を効果的に防止することができる。
本発明の第1の実施形態について、図1〜図6を参照しつつ具体的に説明する。図1に示すように、本発明の第1の実施形態にかかるスポット溶接用電極の良否判定装置1は、ハウジング10、光センサユニット20、光源30、良否判定手段40、移動手段50を備えている。
図1〜図3に示すように、ハウジング10は、外形が四角柱状で円柱状の中空部分を有する筒状に形成され、その先端側には中心に開口部13,14が形成された上下方向に一対の擂鉢状の着座部11,12が配設されている。光センサユニット20は、ハウジング10の長手方向の軸心に沿う姿勢にて当該ハウジング10の内部に固定されているとともに、一対のセンサ部21,22と光ファイバーケーブル23を備えている。両センサ部21,22は、それぞれ開口部13,14に向けて光線を発する発光部24と、電極などで反射した反射光を受ける受光部25より構成されている(図3参照)。発光部24および受光部25は、光ファイバーケーブル23を通じて、それぞれ光源30および良否判定手段40に接続されている。
図4に示すように、良否判定手段40は、光量計測部41と、閾値記憶部42と、良否判定部43と、表示部44とを備えている。光量計測部41においては、光ファイバーケーブル23を通じて届いた反射光を受光素子にて電気信号に変換して、反射光量を計測できるように構成されている。良否判定部43においては、閾値記憶部42にあらかじめ設定・記憶された閾値と、光量計測部41で得られた反射光量との関係より、電極の研磨状態の良否判定を行うように構成されている。そして、良否判定部43で得られた判定結果は表示部44に表示され、作業者により外部から判定結果が識別できるように構成されている。
図1および図5に示すように、移動手段50は、駆動源としてのアクチュエータ51、ハウジング10の長手方向に沿って摺動する摺動体54を備えている。アクチュエータ51は、摺動体54を図1に示す前進位置(第1位置)と図5に示す後退位置(第2位置)とに進退移動させるもので、例えばハウジング10の上部に固設されるエアシリンダ52、エアシリンダ52より出入するピストンロッド53で構成され、ピストンロッド53の先端は摺動体54と連結されている。摺動体54は、正面視コの字状をなしており、ハウジング10の外周面を包囲するように形成されるとともにハウジング10の長手方向に沿って摺動可能に構成されている。また、摺動体54には、基準反射部材としての一対の原点ピン57,58が着脱可能に止着されており、摺動体54が前進位置にシフトした際に、原点ピン57,58の中心が開口部13,14の中心に略一致し、センサ部21,22から発せられた光線が開口部13,14を通じて原点ピン57,58に照射できるように構成されている。本実施形態において、摺動体54は着座部11,12を覆う防塵カバーの形態であるとともに、良否判定装置1を使用しないときには、摺動体54は前進位置に配置されている。これより、塵・埃などの異物が外部から摺動体54の内側に侵入して着座部11,12および原点ピン57,58に付着することがないので、反射光量の計測値に誤差が生じるおそれもない。
ここで閾値について具体的に説明する。閾値には、原点ピン固有の第1閾値と、電極固有の第2閾値とが設けられている。第1閾値は、摺動体54を前進位置に配置させた状態にて、原点ピン57,58に光線を照射したときに反射する反射光の反射光量に基づいて設定されている。第2閾値は、良好に研磨された一対の電極を着座部11,12に着座させた状態にて、電極先端面に光線を照射したときに反射する反射光の反射光量に基づいて設定されている。なお、第1閾値および第2閾値を設定する際には光センサユニット20や受光素子などの光量計測にかかる部品が新品の状態にて同時期に行うことにより、第1閾値および第2閾値を適正な基準値として扱うことができる。また、第2閾値は、異なる電極の種類毎(溶接ガンの形式別に対応する電極の種類毎)にそれぞれ設定しておくと、判定対象である電極の種類に対応する第2閾値を選択的に使用することによってスポット溶接用電極の良否判定装置1の汎用性を高められ、さらに有益である。
次に、スポット溶接用電極の良否判定装置1を用いた研磨電極の良否判定方法について、具体的に説明する。図1に示すように、摺動体54はあらかじめ前進位置に配置されている。この状態で両センサ部21,22の発光部24より原点ピン57,58の先端面に光線を照射させ、原点ピン57,58の先端面で反射した反射光を受光部25にて受光する(図3参照)。受光部25で受光した反射光は、光ファイバーケーブル23を通じて光量計測部41に送られ、原点ピン57,58の反射光量が計測される(図4参照)。
引き続き、図5に示すように、エアシリンダ52を退避作動させて摺動体54を後退位置に配置させる。このとき着座部11,12は外部に開放されており、電極を着座可能な状態である。そして、ティーチングされたスポット溶接機(図示せず)を作動させて、図6に示すように、電極2,3の先端面の中心が開口部13,14の中心に略一致するように電極2,3を着座部11,12に着座させる。着座部11,12は擂鉢状に形成されているので、先端付近が球状外面をなす異なる種類の電極(例えば、ドーム電極、タンクドーム電極、スマート電極など)に対して幅広く兼用することができる。この状態でセンサ部21,22(発光部)より電極2,3の先端面に光線を照射させ、電極2,3の先端面で反射した反射光をセンサ部21,22(受光部)にて受光する。センサ部21,22で受光した反射光は、光ファイバーケーブル23を通じて光量計測部41に送られ、電極2,3の反射光量が計測される。そして、電極2,3の反射光量計測後には、電極2,3を着座部11,12から離し、エアシリンダ52を伸長作動させて摺動体54を前進位置に移動させる。
こうして光量計測部41で得られる原点ピン57,58および電極2,3の反射光量と、閾値記憶部42に記憶されている第1閾値および第2閾値との関係より、良否判定部43において研磨状態の良否を判定する。そして、最終的に、例えば「研磨が良好である」あるいは「研磨が不十分である」といった判定結果を表示部44に表示させる。なお、表示部44への表示方法としては、色別のランプの点灯などの方法により2通りの判定結果を識別できる程度に表示させるだけものや、計測した光量をもとに電極の具体的な表面状態(例えば良品、銀皮、茶皮、黒皮などの表面粗さ)を表示させるものなど、目的に応じて種々の形態をとり得る。
本発明における光センサユニット20はハウジング10に対して固設されているので、光センサユニット20が移動可能に構成されている場合と比べて着座部11,12を互いに近接させることが可能となり、当該着座部11,12に着座させた電極2,3の良否判定においても、高精度な判定結果を得ることができる。また、光センサユニット20などの繊細な部品を移動させる必要がないので、これらの部品が損傷を受け難く、耐久性も高まる。さらに、移動手段50を構成する部品はすべてハウジング10の外部にあるので、ハウジング10の内外に跨る連結が不要となる点で構造が簡単となり、良否判定装置1の製造コストを低減できる。
一方、受光素子や光センサユニット20などの光量計測にかかる部品の経時劣化に伴って原点ピン57,58の反射光量の計測値が低下した場合においても、反射光量の第1閾値に対する減少率などを考慮して閾値を再設定することにより、当該部品を交換することなく適正に良否判定を継続することができる。さらに、第1閾値の再設定値に基づいて第2閾値を再設定することにより、異なる種類の電極に対しても適正な判定結果を継続して得ることができるので、良否判定装置1の汎用性が高められてコスト的にも有利である。
図7〜図8は、本発明の第2の実施形態にかかるスポット溶接用電極の良否判定装置1’を示す。良否判定装置1’は、ハウジング10、光センサユニット20、光源30、良否判定手段40、移動手段としての回動手段60を備えている。
回動手段60は、駆動源としてのアクチュエータ61、支軸64を中心に回動する回動部材65,66を備えている。アクチュエータ61は、回動部材65,66を図7に示す閉じ位置(第1位置)と図8に示す開き位置(第2位置)とに回動移動させるもので、例えばエアシリンダ62、エアシリンダ62より出入りするピストンロッド63で構成され、エアシリンダ62およびピストンロッド63は、それぞれ回動部材65,66の後端に、揺動可能に連結されている。回動部材65,66は、ハウジング10の中心軸線に直交する固定された支軸64を中心に回動する鋏状をなしており、その先端には図7に示す閉じ位置のときにハウジング10の外面に当接して回動動作を規制する当接面65a,66aが設けられている。同じく回動部材65,66の先端には、原点ピン67,68が着脱自在に止着されているとともに、回動部材65,66が閉じ位置にシフトした際に、原点ピン67,68が着座部11,12の窪んだ領域に入り込むように構成されている。このとき、原点ピン67,68の中心が開口部13,14の中心に略一致し、センサ部21,22から発せられた光線が開口部13,14を通じて原点ピン67,68に照射できるように構成されている。
次に、良否判定装置1’の作動方法について説明する。図7に示すように、回動部材65,66はあらかじめ閉じ位置に配置されている。この状態でセンサ部21,22(発光部)より原点ピン67,68の先端面に光線を照射させ、原点ピン67,68の先端面で反射した反射光をセンサ部21,22(受光部)にて受光する。センサ部21,22で受光した反射光が光ファイバーケーブル23を通じて光量計測部41に送られ、原点ピン67,68の反射光量が計測される。このとき、原点ピン67,68の先端面はハウジング10の外周面よりも内側に入り込み、センサ部21,22に近接するので、原点ピン67,68からの反射光の計測精度が高まる。電極(図示せず)の反射光量計測の際は、図8に示すように、エアシリンダ62を伸長作動させて回動部材65,66を開き位置に配置させる。そして電極を着座部に着座させ、上述と同様の方法にて電極の反射光量を計測する。電極の反射光量計測後には、電極を着座部から離し、エアシリンダ62を退避作動させて回動部材65,66を閉じ位置に移動させる。その他の構成および研磨電極の良否判定方法については、第1の実施形態のものと同様であるために、同一部材には同一符号を付して、その説明は省略する。
以上、本発明の具体的な実施形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、発明の思想から逸脱しない範囲内で種々な変更が可能である。例えば、上記実施形態に示された移動手段50および回動手段60は、具体的な構成の一例に過ぎず、他にも種々な構成をとり得る。さらに、良否判定装置1は研磨前の電極の良否判定に用いてもよい。
本発明に係るスポット溶接用電極の良否判定装置の第1実施形態を示す縦断面側面図である。 図1におけるA−A線断面図である。 (イ)は本発明に係るスポット溶接用電極の良否判定装置のセンサ部を示す縦断面側面図、(ロ)は(イ)におけるB−B線断面図である。 本発明に係るスポット溶接用電極の良否判定装置の良否判定手段を示すブロック図である。 本発明に係るスポット溶接用電極の良否判定装置の第1実施形態を示す縦断面側面図である。 本発明に係るスポット溶接用電極の良否判定装置の第1実施形態を示す縦断面側面図である。 本発明に係るスポット溶接用電極の良否判定装置の第2実施形態を示す縦断面側面図である。 本発明に係るスポット溶接用電極の良否判定装置の第2実施形態を示す縦断面側面図である。
符号の説明
1,1’ 良否判定装置
2,3 電極
10 ハウジング
11,12 着座部
13,14 開口部
20 光センサユニット
40 良否判定手段
50 移動手段
54 摺動体(防塵カバー)
57,58,67,68 原点ピン(基準反射部材)
60 回動手段

Claims (5)

  1. ハウジングと、電極の先端を当接させる凹状の一対の着座部と、当該着座部の中心に形成された開口部と、所定の反射特性を有する基準反射部材と、電極の先端面および基準反射部材に光線を照射するとともに電極および基準反射部材からの反射光を検出する光センサユニットと、当該光センサユニットで検出した反射光の反射光量に基づき電極の良否を判定する良否判定手段とを有するスポット溶接用電極の良否判定装置であって、上記光センサユニットは上記ハウジングの内部に固設され、上記基準反射部材は上記ハウジングの外部に設けられるとともに移動手段によって上記開口部に臨む第1位置と上記開口部から離れる第2位置との間で移動可能であることを特徴とする、スポット溶接用電極の良否判定装置。
  2. 上記基準反射部材は、上記ハウジングの長手方向に沿って摺動する摺動体に取付けられており、上記移動手段は、当該摺動体を摺動させるように構成されている、請求項1に記載のスポット溶接用電極の良否判定装置。
  3. 上記移動手段は、回動軸心を中心に回動可能な回動手段であるとともに、上記基準反射部材が上記回動手段の回動動作にともない上記着座部の形成された窪んだ領域に入り込み可能に構成されている、請求項1に記載のスポット溶接用電極の良否判定装置。
  4. 上記基準反射部材からの反射光量に基づく第1閾値と、上記電極からの反射光量に基づく電極の種類毎に固有の第2閾値があらかじめ設定されていることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1つに記載のスポット溶接用電極の良否判定装置。
  5. 上記摺動体は、上記第1位置において上記着座部を覆う防塵カバーの形態である、請求項2に記載のスポット溶接用電極の良否判定装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202006004456U1 (de) * 2006-03-21 2007-08-02 Pepperl + Fuchs Gmbh Testvorrichtung für Oberflächen, insbesondere von Schweißelektroden
JP2010120035A (ja) * 2008-11-18 2010-06-03 Kyokutoh Co Ltd 電極チップの良否判定装置
JP2012157879A (ja) * 2011-01-31 2012-08-23 Daihatsu Motor Co Ltd 電極形状検査装置
KR101326033B1 (ko) * 2012-07-26 2013-11-05 주식회사 나우정공 저항용접기의 용접전극용 팁 검사장치
WO2015194748A1 (ko) * 2014-06-20 2015-12-23 주식회사 휴비스 스팟용접 전극 팁 연마 확인 장치
KR101675559B1 (ko) * 2016-05-02 2016-11-11 주식회사 나우정공 광전센서 모듈 및 이를 이용한 용접 팁 검사장치
DE102007013038B4 (de) * 2006-03-21 2017-06-22 Pepperl + Fuchs Gmbh Doppeltestvorrichtung für ein Paar von Schweißelektroden
KR101806694B1 (ko) 2016-05-02 2017-12-07 현대자동차주식회사 용접팁 검사장치 및 그 방법
KR20180071191A (ko) * 2016-12-19 2018-06-27 주식회사 신영 스터드 용접용 스터드 피딩 장치
KR20190017406A (ko) * 2017-08-11 2019-02-20 주식회사 호원 용접 노즐 클리닝장치

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102031038B1 (ko) 2017-11-30 2019-11-08 주식회사 아이씨엠씨 용접팁 검사장치

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202006004456U1 (de) * 2006-03-21 2007-08-02 Pepperl + Fuchs Gmbh Testvorrichtung für Oberflächen, insbesondere von Schweißelektroden
DE102007013038B4 (de) * 2006-03-21 2017-06-22 Pepperl + Fuchs Gmbh Doppeltestvorrichtung für ein Paar von Schweißelektroden
JP2010120035A (ja) * 2008-11-18 2010-06-03 Kyokutoh Co Ltd 電極チップの良否判定装置
JP2012157879A (ja) * 2011-01-31 2012-08-23 Daihatsu Motor Co Ltd 電極形状検査装置
KR101326033B1 (ko) * 2012-07-26 2013-11-05 주식회사 나우정공 저항용접기의 용접전극용 팁 검사장치
WO2015194748A1 (ko) * 2014-06-20 2015-12-23 주식회사 휴비스 스팟용접 전극 팁 연마 확인 장치
KR101675559B1 (ko) * 2016-05-02 2016-11-11 주식회사 나우정공 광전센서 모듈 및 이를 이용한 용접 팁 검사장치
KR101806694B1 (ko) 2016-05-02 2017-12-07 현대자동차주식회사 용접팁 검사장치 및 그 방법
KR20180071191A (ko) * 2016-12-19 2018-06-27 주식회사 신영 스터드 용접용 스터드 피딩 장치
KR101977746B1 (ko) * 2016-12-19 2019-05-13 주식회사 신영 스터드 용접용 스터드 피딩 장치
KR20190017406A (ko) * 2017-08-11 2019-02-20 주식회사 호원 용접 노즐 클리닝장치
KR101988335B1 (ko) * 2017-08-11 2019-06-12 (주)호원 용접 노즐 클리닝장치

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