JP2005045970A - 引出形遮断器 - Google Patents
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Abstract
【課題】 構造が複雑な多数の機構部品を要することなく、引出形遮断器の遮断器本体の各種引き出し位置を精度良く検出できるようにする。
【解決手段】 引出形遮断器において、位置検出装置を、対を成す検出電極5041,5042、5051,5052、5061,5062と橋絡電極403とが、遮断器本体2の引出枠1からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極5041,5042、5051,5052、5061,5062が前記橋絡電極403によって橋絡されるとスイッチング素子5114、5115、5116がスイッチング動作して出力端子50121、50122、50123に出力が出る検出回路500で構成した。
【選択図】 図6
【解決手段】 引出形遮断器において、位置検出装置を、対を成す検出電極5041,5042、5051,5052、5061,5062と橋絡電極403とが、遮断器本体2の引出枠1からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極5041,5042、5051,5052、5061,5062が前記橋絡電極403によって橋絡されるとスイッチング素子5114、5115、5116がスイッチング動作して出力端子50121、50122、50123に出力が出る検出回路500で構成した。
【選択図】 図6
Description
この発明は、引出形遮断器に関し、特に引出形遮断器の接続位置,試験位置,断路位置等の各位置を検出する位置検出装置を有する引出形遮断器に関するものである。
引出形遮断器は、工場等内の配電系に使用され、前記配電系において給電側から引出形遮断器を介して工場等内の負荷に給電している状態では、遮断器本体は引出枠内に押し込まれている接続位置にあり、遮断器制御回路のシ−ケンスなどの試験時には、遮断器本体は引出枠から前記試験位置まで引き出され、遮断器本体の点検時には、遮断器本体は引出枠から前記試験位置より更に引き出され前記断路位置まで引き出され、更に遮断器本体を、引き出し枠から引き出し、引き出し枠から取り外すことができる。
このような引出形遮断器においては、前記接続位置,試験位置,断路位置等の各位置が検出されるようになっており、当該検出を行う位置検出装置は、一般的には、例えば、特許文献1の図6〜図8及びその説明に記載されているように、引出枠の後底部に取り付けられ、箱体と、箱体の対向する壁に形成されたガイド孔を挿通する動作板と、箱体に収納され動作板に形成された突起によって「接続位置」、「試験位置」、「断路位置」でそれぞれ動作する複数のマイクロスイッチと、箱体と動作板の間に張架され遮断器本体が引き出される方向に動作板を偏倚させるコイルばねとからなり、マイクロスイッチのアクチュエータと動作板の突起が係合してマイクロスイッチが動作する構造になっている。
以上のように構成された引出形遮断器は、遮断器本体を「断路位置」から「試験位置」に挿入すると、遮断器本体の後部で動作板を後方へ押すため、挿入途中で第1のマイクロスイッチのアクチュエータと動作板の突起との係合が解消して第1のマイクロスイッチが不動作状態となり、次に第2のマイクロスイッチのアクチュエータが突起と係合して「試験位置」では第2のマイクロスイッチだけが動作した状態となる。さらに遮断器本体を「試験位置」から「接続位置」に挿入すると、その途中で第2のマイクロスイッチのアクチュエータと突起との係合が解消して第2のマイクロスイッチが不動作状態となり、第3のマイクロスイッチのアクチュエータが突起と係合して「接続位置」では第3のマイクロスイッチだけが動作した状態となる。
また、この遮断器本体を「接続位置」から「試験位置」、「試験位置」から「断路位置」へ引き出すときは、コイルばねの作用力により動作板が引出方向へ移動し、挿入するときとは逆に第3のマイクロスイッチと第2のマイクロスイッチが順次動作する状態となる。
特許文献1の図6〜図8及びその説明に記載されている前述のような構造の位置検出装置においては、前記特許文献1の「発明が解決しようとする課題」に記載のように、マイクロスイッチと動作板の突起の位置関係が精度良く設定されてないとマイクロスイッチのオンオフ動作が確実にできないため動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題ある。また、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題がある。
そこで、特許文献1では、前述の両問題を解決するために、その図3及びその説明に記載されているように、遮断器本体に備えられる固定軸と、遮断器本体が挿入されるとき回転軸によって押圧され回動する取付枠に備えられた第1のレバ−と、ガイド溝に係合するガイドピンを備え第1のレバ−が回動したとき回動する取付枠に備えられた第2のレバ−と、第2のレバ−と第3のレバ−とを連結するリンク部材と、第3のレバ−の回動によって動作するマイクロスイッチのスイッチユニットと、第2のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネと、により前記位置検出装置が構成されている。
前述の特許文献1の図3及びその説明に記載されている前述の位置検出装置の構成であれば、前述の特許文献1の図6〜図8及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題は解決できる。しかし、第1〜第3のレバ−、リンク部材、第2のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題がある。
前述のように、特許文献1の図3及びその説明に記載されている前述の位置検出装置の構成であれば、前述の特許文献1の図6〜図8及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題は解決できるが、第1〜第3のレバ−、リンク部材、第2のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題がある。
この発明は、前述のような実情に鑑みてなされたもので、遮断器本体の各種引き出し位置を精度良く検出できるようにすることを目的とするものである。
この発明に係る引出形遮断器は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記位置検出装置を、対を成す検出電極と橋絡電極とが、前記遮断器本体の前記引出枠からの引出し応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極が前記橋絡電極によって橋絡されるとスイッチング素子がスイッチング動作して出力端子に出力が出る検出回路で構成したものである。
また、この発明に係る引出形遮断器は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、を有する検出回路で前記位置検出装置を構成したしたものである。
また、この発明に係る引出形遮断器は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け各入力各入力の有無に基づく論理演算により、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置に対応した出力を出す論理回路と、前記論理回路の出力に応動し受け前記前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、を有する検出回路で前記位置検出装置を構成したものである。
この発明は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記位置検出装置を、橋絡電極と対を成す検出電極とが、前記遮断器本体の前記引出枠からの引出し応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極が前記橋絡電極によって橋絡されるとスイッチング素子がスイッチング動作して出力端子に出力が出る検出回路で構成したので、前記位置検出装置を多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出することができる。
また、この発明は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、 前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、を有する検出回路で前記位置検出装置を構成したので、前記位置検出装置を多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出することができ、しかも、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の検出もできる。
また、この発明は、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け各入力の有無に基づく論理演算により、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置に対応した出力を出す論理回路と、前記論理回路の出力に応動し受け前記前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、を有する検出回路で前記位置検出装置を構成したので、前記位置検出装置を多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出することができ、しかも、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の検出もでき、更に、前記遮断器本体の前記各位置以外の位置も検出することができ。
実施の形態1.
この発明の実施の形態1は、引出形遮断器において、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、位置検出装置によって遮断器本体の主回路端子の前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出する目的を、電極を使用した検出回路で前記位置検出装置を構成することにより、多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、実現するようにしたものである。
この発明の実施の形態1は、引出形遮断器において、遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、位置検出装置によって遮断器本体の主回路端子の前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を精度良く検出する目的を、電極を使用した検出回路で前記位置検出装置を構成することにより、多数の機構部品を使った複雑な構造にすることなく、実現するようにしたものである。
図1〜図7は、この発明の実施の形態1を示す図で、図1は引出形遮断器の外観斜視図で、遮断器本体が接続位置にある場合を実線で、遮断器本体を取外可能な完全引出位置まで引き出した状態を一点鎖線で、それぞれ示してある。図2は遮断器本体の主回路端子及び係合ユニットの端子の位置関係を一部断面で示す側面図で、(a)は接続位置、(b)は試験位置、及び(c)は断路位置、における主回路端子及び係合ユニットのユニット端子の位置関係を示す図である。図3は引出形遮断器の引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図、図4は図3におけるIV−IV線における断面を矢印の方向に見た縦断側面図、図5は位置信号出力部の一部断面拡大斜視図、図6は位置信号出力部の内部結線図(検出回路の回路構成を示す図)で、図7は遮断器本体の接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置の各位置における位置信号出力部の入出力真理値を示す図(検出回路の入出力の関係を真理値で示す図)である。
図1において、実線は固定の引出枠1に対し遮断器本体2が接続位置にある状態を示し、一点鎖線は、前記遮断器本体2を取り外しできる位置(以下「完全引出位置」と略記する)まで当該遮断器本体2が前記引出枠1から引き出された状態を示してある。
前記引出枠1は、主として、所定間隔を隔てて互いに平行を成す一対の側板部101,102と、これら側板部101,102の最下端を連結して固定する底板部103と、前記両側板部101,102の最上端を連結して固定する短冊状の上板部104とで構成されている。また、前記引出枠1は、図1に示すように、その後部は空間的に開放されており、その前部は前記遮断器本体2の引き出しができるように空間的に開放されている。
前記遮断器本体2の筐体201は、主として、後部の絶縁樹脂製の消孤室カバ−部2011と、前部の絶縁樹脂製の本体カバ−部2012とで構成され、これら消孤室カバ−部2011と、本体カバ−部2012とは、螺着ボルトなど(図示省略)により、分離可能に結合され、各々の内部空間は連通されている。
前記消孤室カバ−部2011内には、主接点(図示省略)や消孤板(図示省略)、主回路端子2013(後述の図2に図示)が内蔵されている。遮断器動作時に前記主接点(図示省略)間に発生するア−クの熱やイオン化消孤ガスは、前記消孤室カバ−部2011の開口(図示省略)から上方或いは後方に向けて放熱及び放出される。
前記本体カバ−部2012内には、主として、開閉機構(図示省略)や補助接点(図示省略)が内蔵されている。前記本体カバ−部2012の前面部には、主として、引き外しリレ−や遮断器過電流保護リレ−等のリレ−盤20121、遮断器ON/OFFボタンや遮断器ON/OFF表示盤20122、遮断器トリップ用バネ(図示省略)をチャ−ジするチャ−ジハンドル20123等が設けられている。
前記本体カバ−部2012の上部に位置して前記引出枠1の上板部104には、引出枠端子台3(機能及び詳細構造は図3及び図4により後述する)が、その端子部301が前面側(前記消孤室カバ−部2011と反対の側、即ち消孤室反対の側)になるように取り付けられている。
前記引出枠端子台3の下側に位置して、係合ユニット4(機能及び詳細構造は図4により後述する)が、前記本体カバ−部2012の上面に取り付けられている。即ち、前記係合ユニット4は、前記遮断器本体2の消孤室より前面側に位置して前記遮断器本体2の上面に取り付けられている。
前記引出枠端子台3及び前記係合ユニット4の側方に隣接して、位置信号出力部5(機能及び詳細構造は図5により後述する)が、その出力端子部501が前記遮断器本体2の前面側(前記消孤室カバ−部2011と反対の側、即ち消孤室反対の側)になるように、前記引出枠1の上板部104に取り付けられている。即ち、前記位置信号出力部5は、前記遮断器本体2の消孤室より前面側に位置して前記引出枠1に取り付けられている。
前記引出枠1の各側板部101,102の各々には、その内側に、引き出し可能にレ−ル601,602が取り付けられており、これらレ−ル601,602上に、前記遮断器本体2が、L字形支持部材2051,2052を介して載置されている。なお、前記L字形支持部材2051,2052は、図示のように前記遮断器本体2の側面に一体に接合されている。また、前記レ−ル601,602は、前記遮断器の接続位置(前記遮断器本体2が実線で示されている状態の位置)では、前記引出枠1内に収納されており、図示一点鎖線のように前記引出枠1内から矢印A方向に完全に引き出された完全引出位置では、前記一点鎖線で図示されている前記遮断器本体2は、上方に吊り上げることにより、前記L字形支持部材2051,2052がL字形であるが故に、前記レ−ル601,602から取り外すことができる(即ち、前記引出枠1から取り外すことができる)。
次に、図2により、接続位置、試験位置、及び断路位置、における前記遮断器本体2の主回路端子及び前記係合ユニット4のユニット端子の位置関係を説明する。
図2において、(a)は前記遮断器本体2が接続位置にある状態であり、この接続位置においては、前記遮断器本体2は前記引出枠1内に押込まれており、配電線側の固定の主回路導体105のジャンクション106に前記遮断器本体2の主回路端子2013が押し込まれている。従って、配電線側の固定の主回路導体105と前記遮断器本体2の主回路端子2013とが接続された状態にある。この状態においては、配電線の給電側から、給電側の前記主回路導体105(例えば図において上側の主回路導体105)、前記遮断器本体2の給電側の主回路端子2013(例えば図において上側の主回路端子2013)、前記遮断器本体2内の主接点(図示省略)、前記遮断器本体2の負荷側の主回路端子2013(例えば図において下側の主回路端子2013)の経路で、負荷(図示省略)に給電される。
また、この接続位置においては、前記遮断器本体2の上面に取り付けられている前記係合ユニット4のユニット端子401(機能及び詳細構造は図4により後述する)は、前記引出枠1の上板部104に取り付けられている前記引出枠端子台3のリセプタクル302(機能及び詳細構造は図4により後述する)に嵌挿されており、当該リセプタクル302に接続された状態である。
図2において、(b)は前記遮断器本体2が試験位置にある状態であり、前記遮断器本体2は前記引出枠1から矢印A方向に試験位置まで引き出され、前記配電線側の主回路導体105のジャンクション106から前記遮断器本体2の主回路端子2013が引き出されている。従って、前記配電線側の主回路導体105と前記遮断器本体2の主回路端子2013とは非接続の状態となっている。この状態においては、前記配電線の給電側から、給電側の前記主回路導体105、前記遮断器本体2の給電側の主回路端子2013、前記遮断器本体2内の主接点、前記遮断器本体2の負荷側の主回路端子2013の経路での、負荷への給電は行われない。
また、この試験位置においては、前記遮断器本体2の上面に取り付けられている前記係合ユニット4のユニット端子401は、前記遮断器本体2の矢印A方向の引き出しに伴って、前記引出枠1の上板部104に取り付けられている前記引出枠端子台3のリセプタクル302(図4に図示)内で前記遮断器本体2の引き出し方向に移動しているが、当該リセプタクル302に接続されている状態にある。前記係合ユニット4のユニット端子401は前記遮断器本体2内の前記遮断器制御回路にリ−ド線402(後述の図3、図4に図示)に接続されているので、この試験位置の状態では、前述のように、前記係合ユニット4のユニット端子401が、前記引出枠端子台3のリセプタクル302に接触し前記引出枠端子台3に接続されていることにより、前記引出枠端子台3を使って、前記遮断器本体2内の前記遮断器制御回路(図示省略)のシ−ケンスなどの試験、他各種の試験を行うことができる。
図2において、(c)は前記遮断器本体2が断路位置にある状態であり、前記遮断器本体2は前記引出枠1から断路位置まで更に矢印A方向に引き出され、前記遮断器本体2の主回路端子2013は、前記配電線側の主回路導体105のジャンクション106から、前記遮断器本体2の引き出し方向に更に離れている。従って、前記配電線側の主回路導体105と前記遮断器本体2の主回路端子2013との非接続の状態は保持されている。この状態においても、前記配電線の給電側から、給電側の前記主回路導体105、前記遮断器本体2の給電側の主回路端子2013、前記遮断器本体2内の主接点、前記遮断器本体2の負荷側の主回路端子2013の経路での、負荷への給電は行われない。
また、この断路位置においては、前記遮断器本体2の上面に取り付けられている前記係合ユニット4の端子401は、前記遮断器本体2の前記更なる引き出しに伴って、前記引出枠端子台3のリセプタクル302(図4に図示)から前記遮断器本体2の引き出し方向に離れ、当該リセプタクル302に非接続の状態となっている。従って、前記遮断器本体2は、配電線からも試験電源からも切り離され、電気的に完全に非課電の絶縁状態、即ち前記断路状態となっており、前記遮断器本体2の各種点検が行われる。
次に、図3及び図4により、前記引出枠端子台3及び前記係合ユニット4の詳細構造を説明する。
前記引出枠1に前記消孤室カバ−部2011と反対側に位置して取り付けられている(前述の図1参照)前記引出枠端子台3は、前記前記引出枠1に前記消孤室カバ−部2011と反対の方向(前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印A方向))に延在する第1の壁部303と前記遮断器本体2の本体カバ−部2012の方向に延在する第2の壁部304とを有している。なお、前記第1の壁部303と前記第2の壁部304とは絶縁性樹脂によるモ−ルド成型により一体に形成されている。
前記第1の壁部303には、その前記消孤室カバ−部2011と反対の方向の側(前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印A方向)の側)(前述の図1参照)の上面側に、前記引出枠端子台3の前記端子部301が設けられている。この端子部301は、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印A方向)と直角を成す方向に、絶縁バリア3011を相互間に介して並設された所定数の締め付けねじ3012を有している。また、前記第1の壁部303の内部には、当該第1の壁部303から前記第2の壁部304に亘って延在しその外端に前記締め付けねじ3012が螺着され内端に前記第2の壁部304内のU字状弾性レセプタクル302が接合された中間端子305が、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印A方向)と直角を成す方向に、前記締め付けねじ3012と同じ数だけ並設されている。これら並設された所定数の中間端子305は、前記第1の壁部303及び前記第2の壁部304自体によって相互に絶縁されている。なお、図3及び図4では、前記レセプタクル302及び前記中間端子305は、1個のみ図示してある。
前記第2の壁部304の内部には、所定数の前記U字状弾性レセプタクル302と、当該レセプタクル302に対向して前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印A方向)に延在し前記ユニット端子401を可移動に収容する所定数のユニット端子収容孔3041とが設けられている。
前記遮断器本体2の上面に取り付けられている(前述の図1参照)前記係合ユニット4は、主として、絶縁性樹脂によるモ−ルド成型により形成された絶縁基台部402と、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印A方向)に延在する前記ユニット端子401と、前記絶縁基台部402の前記位置信号出力部5(前述の図1参照)側の扁平な側面4021に設けられ接触面4031が扁平な橋絡電極403とで構成されている。前記ユニット端子401は、前記U字状弾性レセプタクル302に対応して、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印A方向)と直角を成す方向に所定数並設されており、前記絶縁基台部402自体により相互に絶縁されている。
前記所定数のユニット端子401の各々は、前記レセプタクル302と反対側の端部が、前記遮断器本体2内の前記遮断器制御回路、補助スイッチ、他(図示省略)に接続されている所定数のリ−ド線404に、固定部材405を介して、接続されている。なお、図3及び図4では、前記ユニット端子401及び前記レセプタクル302及び前記中間端子305は、1個のみ図示してある。
図3及び図4において、前記ユニット端子401、前記絶縁基台部402、及び前記橋絡電極403は、前記遮断器本体2が前記試験位置まで引き出された状態にある場合(図2(b)を参照)の各々の位置を実線で示してある。また、図4において、前記ユニット端子401の先端部4011(前記遮断器本体2の前面側(図1,図2を参照)と反対側の端部)を、前記遮断器本体2が前記接続位置(図1の実線,図2(a)を参照)に在る状態の場合の位置を2点鎖線で、前記遮断器本体2が前記断路位置(図2(c)を参照)に在る状態の場合の位置を1点鎖線で、それぞれ示してある。同様に、前記絶縁基台部402の前面側端部4022(前記遮断器本体2の前面側(図1,図2を参照))を、前記遮断器本体2が前記接続位置(図1の実線,図2(a)を参照)に在る状態の場合の位置を2点鎖線で、前記遮断器本体2が前記断路位置(図2(c)を参照)に在る状態の場合の位置を1点鎖線で、それぞれ示してある。
次に、図5により、前記引出枠1の上板部104に、前記引出枠端子台3及び前記係合ユニット4の側方に隣接して、その端子部501が前記遮断器本体2の前面側(前記消孤室カバ−部2011と反対の側、即ち消孤室と反対の側)になるように、取り付けられている(前述の図1を参照)前記位置信号出力部5の詳細構造を説明する。
図5において、前記位置信号出力部5は、主として、上面側端部に前記出力端子部501が設けられた絶縁樹脂製の筐体502と、この筐体502に内蔵され前記遮断器本体2の前記各位置を検出する検出回路(回路構成および機能は図6により後述する)が形成されたプリント基板503と、前記筐体502の前記引出枠端子台3側の扁平な側壁5021をそれぞれ可移動に貫通する対を成す前記接続位置の検出用の検出電極(以下「接続位置検出電極」と略記する)5041,5042と、前記筐体502の前記引出枠端子台3側の扁平な側壁5021をそれぞれ可移動に貫通し前記接続位置検出電極5041,5042から前記遮断器本体2の引き出し方向に所定距離離間して配設された対を成す前記試験位置の検出用の検出電極(以下「試験位置検出電極」と略記する)5051,5052と、前記筐体502の前記引出枠端子台3側の扁平な側壁5021をそれぞれ可移動に貫通し前記接続位置検出電極5041,5042から前記遮断器本体2の引き出し方向に所定距離離間して配設された対を成す前記断路位置の検出用の検出電極(以下「断路位置検出電極」と略記する)5061,5062とで構成されている。
前記出力端子部501は、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印A方向)と直角を成す方向に、絶縁バリア5011を相互間に介して並設された所定数の出力端子50121,50122,50123,50124で構成されている。
前記接続位置検出電極5041,5042は、前記試験位置検出電極5051,5052、前記断路位置検出電極5061,5062は、例えばカ−ボンブラシ等の電極であり、何れもその内端部が、各々に対応する導電性シリンダ507に可摺動に収納されている(前記接続位置検出電極5041,5042を収納する導電性シリンダは図示省略してある)。また、前記接続位置検出電極5041,5042の前記側壁5021から外方に突出した先端部は、前記遮断器本体2が前記接続位置にある状態において、前記前記係合ユニット4の前記橋絡電極403に接触し、前記試験位置検出電極5051,5052の前記側壁5021から外方に突出した先端部は、前記遮断器本体2が引き出され前記試験位置にある状態において、前記係合ユニット4の前記橋絡電極403に接触し、前記断路位置検出電極5061,5062の前記側壁5021から外方に突出した先端部は、前記遮断器本体2が更に引き出され前記断路位置にある状態において、前記係合ユニット4の前記橋絡電極403に接触するように、前記橋絡電極403との相対的高さが設定され、且つ前記接続位置検出電極5041,5042、前記試験位置検出電極5051,5052、及び前記断路位置検出電極5061,5062の相対的間隔が設定されている。
また、前記対を成す断路位置検出電極5061,5062は、対応する前記導電性シリンダ507内のスプリング等の弾性部材508によって各々の前記先端部が前記係合ユニット4の前記橋絡電極403に弾性的に接触されるように付勢されている。同様に、前記対を成す試験位置検出電極5051,5052も、対応する前記導電性シリンダ507内のスプリング等の弾性部材508によって各々の前記先端部が前記係合ユニット4の前記橋絡電極403に弾性的に接触されるように付勢されている。また、前記対を成す接続位置検出電極5041,5042も、同様に、対応する前記導電性シリンダ507(図示省略)内のスプリング等の弾性部材508(図示省略)によって各々の前記先端部が前記係合ユニット4の前記橋絡電極403に弾性的に接触されるように付勢されている。
また、前記接続位置検出電極5041,5042は、リ−ド線50411,50421を介して前記プリント基板503の検出回路(回路構成および機能は図6により後述する)に接続され、同様に、前記試験位置検出電極5051,5052はリ−ド線50511,50521を介して、前記断路位置検出電極5061,5062はリ−ド線50611,50621を介して、前記プリント基板503の検出回路(回路構成および機能は図6により後述する)に接続されている。
次に、図6により、前記遮断器本体2の前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置を検出する検出回路500の回路構成及び機能について詳述する。
図6において、前記接続位置検出電極5041は、前記リ−ド線50411を介して、前記プリント基板503上のプラス(以下「+」と略記する)電源509に、前記プリント基板503上で接続されている。前記接続位置検出電極5042は、前記リ−ド線50421を介して、前記プリント基板503上の直列接続の抵抗5104とフォトカプラー等のスイッチング素子5114とを介してマイナス(以下「−」と略記する)電源512に、前記プリント基板503上で接続されている。前記スイッチング素子5114の出力端は、前記出力端子50121(図5も参照)に接続されている。
前記試験位置検出電極5051は、前記リ−ド線50511を介して、前記プリント基板503上の+電源509に、前記プリント基板503上で接続されている。前記試験位置検出電極5052は、前記リ−ド線50521を介して、前記プリント基板503上の直列接続の抵抗5105とフォトカプラー等のスイッチング素子5115とを介して−電源512に、前記プリント基板503上で接続されている。前記スイッチング素子5115の出力端は、前記出力端子50122(図5も参照)に接続されている。
前記断路位置検出電極5061は、前記リ−ド線50611を介して、前記プリント基板503上の+電源509に、前記プリント基板503上で接続されている。前記断路位置検出電極5062は、前記リ−ド線50621を介して、前記プリント基板503上の直列接続の抵抗5106とフォトカプラー等のスイッチング素子5116とを介して−電源512に、前記プリント基板503上で接続されている。前記スイッチング素子5116の出力端は、前記出力端子50123(図5も参照)に接続されている。
図5は、前記接続位置検出電極5041,5042が、前記橋絡電極403に弾性的に接触して前記橋絡電極403により橋絡されている状態を示してあり、この状態においては、前記+電源509から、前記リ−ド線50411、前記接続位置検出電極5041、前記橋絡電極403、前記接続位置検出電極5042、前記リ−ド線50421、前記抵抗5104、前記スイッチング素子5114、前記−電源512の経路で電流が流れ、前記スイッチング素子5114がON動作し、前記出力端子50121から、接続位置の信号(前記遮断器本体2が接続位置にあることを伝達する信号)が出力されている。
図5において、前記橋絡電極403が矢印Aの方向に移動して、前記試験位置検出電極5051,5052が、前記橋絡電極403に弾性的に接触して前記橋絡電極403により橋絡されると、前記+電源509から、前記リ−ド線50511、前記試験位置検出電極5051、前記橋絡電極403、前記接続位置検出電極5052、前記リ−ド線50521、前記抵抗5105、前記スイッチング素子5115、前記−電源512の経路で電流が流れ、前記スイッチング素子5115がON動作し、前記出力端子50122から、試験位置の信号(前記遮断器本体2が試験位置にあることを伝達する信号)が出力される。
なお、前記橋絡電極403が矢印Aの方向に移動して、前記試験位置検出電極5051,5052が、前記橋絡電極403に弾性的に接触して前記橋絡電極403により橋絡されると、前記接続位置検出電極5041,5042の前記橋絡電極403による橋絡状態は無くなるので、前記スイッチング素子5114はOFFとなり、前記出力端子50121からの接続位置の信号は無くなる。
図5において、前記橋絡電極403が矢印Aの方向に更に移動して、前記断路置検出電極5061,5062が、前記橋絡電極403に弾性的に接触して前記橋絡電極403により橋絡されると、前記+電源509から、前記リ−ド線50611、前記断路位置検出電極5061、前記橋絡電極403、前記断路位置検出電極5062、前記リ−ド線50621、前記抵抗5106、前記スイッチング素子5116、前記−電源512の経路で電流が流れ、前記スイッチング素子5116がON動作し、前記出力端子50123から、断路位置の信号(前記遮断器本体2が断路位置にあることを伝達する信号)が出力される。
なお、前記橋絡電極403が矢印Aの方向に更に移動して、前記断路置検出電極5061,5062が、前記橋絡電極403に弾性的に接触して前記橋絡電極403により橋絡されると、前記試験位置検出電極5051,5052の前記橋絡電極403による橋絡状態は無くなるので、前記スイッチング素子5115はOFFとなり、前記出力端子50122からの接続位置の信号は無くなり、また、前記接続位置検出電極5041,5042の前記橋絡電極403による橋絡状態も無いので、前記スイッチング素子5114もOFFであり、前記出力端子50121からの接続位置の信号も無い。
前述の図6に示す検出回路500における前述の前記接続位置検出電極5041,5042、前記試験位置検出電極5051,5052、および前記断路置検出電極5061,5062の、前記橋絡電極403による橋絡の有無(検出回路500の入力の有無)と、前記出力端子50121,50122,50123の出力の有無との関係を、真理値「1」,「0」で、前記遮断器本体2の接続位置、試験位置、及び断路位置ごとに図7に示してある。図6における検出回路500の前記出力端子50121,50122,50123の出力は、前記スイッチング素子5114,5115,5116のON、OFF動作に依存しているので、当該出力端子50121,50122,50123の出力は、「1」,「0」の信号になる。従って、図7において、前記接続位置検出電極5041,5042、前記試験位置検出電極5051,5052、および前記断路置検出電極5061,5062の、前記橋絡電極403による橋絡の有無を、橋絡「有り」の場合を「1」、橋絡「無し」の場合を「0」で示してある。
次に、前述の図1〜図7により、各図を関連付けながら動作説明する。
図1における遮断器本体2が実線で示されている状態は、図2(a)に示されるように当該遮断器本体2が前記引出枠1から引き出されてなく、前記配電線側の固定の主回路導体105のジャンクション106に前記遮断器本体2の主回路端子2013が押し込まれて前記配電線側の固定の主回路導体105と前記遮断器本体2の主回路端子2013とが接続された状態にあり、前記遮断器本体2は、引出し形遮断器の分野で一般的に言われている「接続位置」にある。
この接続位置において、前記遮断器本体2の上面に取り付けられている前記係合ユニット4のユニット端子401は、前記引出枠1の上板部104に取り付けられている前記引出枠端子台3のリセプタクル302(図4参照)に接続位置まで嵌挿されており、当該リセプタクル302に接続された状態である。この前記係合ユニット4のユニット端子401と前記引出枠端子台3のリセプタクル302(図4参照)とが接続されている状態においては、遮断器制御回路や補助接点、他に接続されている所定数のリ−ド線404(図3、図4参照)から、遮断器本体2の開閉状態などの固有データ信号が、前記係合ユニット4の前記ユニット端子401、前記リセプタクル302、前記中間端子305、前記締付ねじ3012を介して出力され、この出力は、例えば遮断器トリップ表示回路の電源の投入等、ユ−ザのニ−ズに応じて任意に使用される。
一方、前記遮断器本体2の接続位置においては、図3における前記係合ユニット4の側面4021の橋絡電極403が、図5における前記接続位置検出電極5041,5042に対向しており、前記接続位置検出電極5041,5042は、何れもその先端部が前記弾性部材508により、前記橋絡電極403に弾性的に押圧されて当該前記橋絡電極403により両接続位置検出電極5041,5042が橋絡された状態になっている。つまり、検出回路500を示す図6において、前記接続位置検出電極5041,5042が前記橋絡電極403によって橋絡された状態になっており、従って、図6において、前記スイッチング素子5114がONの状態であり、前記出力端子50121の出力が「1」となっている。つまり、前記遮断器本体2が接続位置にあることを表す信号(以下「接続位置信号」と略記する)が前記出力端子50121から出力される。
前記出力端子50121から出力される前記接続位置信号は、従来の引出し形遮断器の場合と同様に、前記遮断器本体2内の遮断器制御回路に遮断器本体位置信号として供給される(図示省略)が、それとは別に、前記位置信号出力部5の、前記遮断器本体2の前面側に位置する前記出力端子501から、例えば工場やビル内の監視盤などの遠隔地の監視機器へ遮断器本体位置信号として供給することができる。
次に、遮断器制御回路のシ−ケンスなどの試験時には、図1における遮断器本体2が実線で示されている前記接続位置の状態から、前記遮断器本体2を、矢印Aの方向に、図2(b)の状態になるまで引き出す。この図2(b)の状態では、図示のように、前記遮断器本体2の主回路端子2013は、前記配電線側の固定の主回路導体105のジャンクション106から少し引き離され、前記配電線側の固定の主回路導体105と非接続の状態にあり、前記遮断器本体2は、引出し形遮断器の分野で一般的に言われている「試験位置」にある。
この試験位置においては、前記遮断器本体2の前記試験位置への矢印A方向の引き出しに伴う前記係合ユニット4の矢印A方向(前記遮断器本体2の引き出し方向)への移動によって、当該係合ユニット4のユニット端子401は、前記引出枠端子台3のリセプタクル302(図4参照)内を前記矢印Aの方向に移動しているが、当該リセプタクル302内に嵌挿された状態が維持しており、当該リセプタクル302に前記ユニット端子401が、接続された状態である。この前記係合ユニット4のユニット端子401と前記引出枠端子台3のリセプタクル302(図4参照)とが接続されている状態においては、前述の前記遮断器本体2が接続位置にある場合と同様に、遮断器制御回路や補助接点、他に接続されている所定数のリ−ド線404(図3、図4参照)から、遮断器本体2の開閉状態などの固有データ信号が、前記係合ユニット4の前記ユニット端子401、前記リセプタクル302、前記中間端子305、前記締付ねじ3012を介して出力され、この出力は、ユ−ザのニ−ズに応じて任意に使用される。
一方、前記遮断器本体2の試験位置においては、前記遮断器本体2の前記試験位置への矢印A方向の引き出しに伴う前記係合ユニット4の矢印A方向(前記遮断器本体2の引き出し方向)への移動によって、前記係合ユニット4の橋絡電極403が、図5における前記試験位置検出電極5051,5052に対向し、前記試験位置検出電極5051,5052は、何れもその先端部が前記弾性部材508により、前記橋絡電極403に弾性的に押圧されて当該前記橋絡電極403により両試験位置検出電極5051,5052が橋絡された状態になる。つまり、検出回路500を示す図6において、前記試験位置検出電極5051,5052が、前記橋絡電極403によって橋絡された状態になり、従って前記スイッチング素子5115がONの状態となり、前記出力端子50122の出力が「1」となる。つまり、前記遮断器本体2が試験位置にあることを表す信号(以下「試験位置信号」と略記する)が前記出力端子50122から出力される。
前記出力端子50122から出力される前記試験位置信号は、従来の引出し形遮断器の場合と同様に、前記遮断器本体2内の遮断器制御回路に遮断器本体位置信号として供給される(図示省略)が、それとは別に、前記位置信号出力部5の、前記遮断器本体2の前面側に位置する前記出力端子501から、例えば工場やビル内の監視盤などの遠隔地の監視機器へ遮断器本体位置信号として供給することができる。
なお、前記遮断器本体2の試験位置の状態における周知の試験の試験信号は、前記遮断器本体2の前記本体カバ−部2012の上部に位置して前記引出枠1の上板部104に取り付けられている引出枠端子台3(図1を参照)の端子部301から、図4における前記締め付けねじ3012、前記中間端子305、前記リセプタクル302、前記ユニット端子401、前記リ−ド線404、の経路を経て、前記遮断器本体2内の遮断器制御回路(図示省略)等へ供給される。
次に、前記遮断器本体2やその付属品の保守点検を行う場合は、前記遮断器本体2の前記接続位置の状態から、前記遮断器本体2を、図2(c)の状態になるまで矢印Aの方向に更に引き出す。この図2(c)の状態では、図示のように、前記遮断器本体2の主回路端子2013は、前記配電線側の固定の主回路導体105のジャンクション106から更に引き離され、前記配電線側の固定の主回路導体105とは十分な絶縁距離を隔てた非接続の状態にあり、前記遮断器本体2は、引出し形遮断器の分野で一般的に言われている「断路位置」にある。
この断路位置においては、前記遮断器本体2の前記断路位置への矢印A方向の更なる引き出しに伴う前記係合ユニット4の矢印A方向(前記遮断器本体2の引き出し方向)への更なる移動によって、当該係合ユニット4のユニット端子401は、前記引出枠端子台3のリセプタクル302(図4参照)から、前記矢印Aの方向に抜け出し、前記ユニット端子401が、前記リセプタクル302と非接続の状態となる。
一方、前記遮断器本体2の断路位置においては、前記遮断器本体2の前記断路位置への矢印A方向の更なる引き出しに伴う前記係合ユニット4の矢印A方向(前記遮断器本体2の引き出し方向)への更なる移動によって、前記係合ユニット4の橋絡電極403が、図5における前記断路位置検出電極5061,5062に対向し、前記断路位置検出電極5061,5062は、何れもその先端部が前記弾性部材508により、前記橋絡電極403に弾性的に押圧されて当該前記橋絡電極403により両断路位置検出電極5061,5062が橋絡された状態になる。つまり、検出回路500を示す図6において、前記断路位置検出電極5061,5062が、前記橋絡電極403によって橋絡された状態になり、従って前記スイッチング素子5116がONの状態となり、前記出力端子50123の出力が「1」となる。つまり、前記遮断器本体2が断路位置にあることを表す信号(以下「断路位置信号」と略記する)が前記出力端子50123から出力される。
前記出力端子50123から出力される前記断路位置信号は、従来の引出し形遮断器の場合と同様に、前記遮断器本体2内の遮断器制御回路に遮断器本体位置信号として供給される(図示省略)が、それとは別に、前記位置信号出力部5の、前記遮断器本体2の前面側に位置する前記出力端子501から、例えば工場やビル内の監視盤などの遠隔地の監視機器へ遮断器本体位置信号として供給することができる。
なお、前記遮断器本体2の前記消孤室カバ−部2011(図1参照)と前記本体カバ−部2012(図1参照)とを分解して保守点検する場合や、前記遮断器本体2をリプレイスする場合は、前記遮断器本体2を、図1に一点鎖線で示す前記完全引出位置まで引き出し、当該引き出された前記遮断器本体2を、上方に吊り上げることにより、前記レ−ル601,602から取り外す。
この発明の実施の形態1は、前述のように、前記遮断器本体2の前記主回路端子202が前記配電線側主回路導体105に接触している接続位置から前記遮断器本体2を前記引出枠1から引き出す量に応じて、前記主回路端子202の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記位置検出装置を、対を成す前記検出電極5041,5042、5051,5052、5061,5062と前記橋絡電極403とが、前記遮断器本体2の前記引出枠1からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極5041,5042、5051,5052、5061,5062が前記橋絡電極403によって橋絡されると前記スイッチング素子5114、5115、5116がスイッチング動作して出力端子50121、50122、50123に出力が出る検出回路500で構成してあるので、前述の特許文献1の図6〜図8及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題はなく、また、前述の特許文献1の図3及びその説明に記載されている位置検出装置のように第1〜第3のレバ−、リンク部材、第2のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題が残るようなことも無く、また、マイクロスイッチを使う必要もない。従って、遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を精度良く検出できる。
また、この発明の実施の形態1は、前述のように、前記スイッチング素子5114、5115、5116が装填された基板503及び前記検出電極5041,5042、5051,5052、5061,5062が前記引出枠1に前記遮断器本体2の消孤室より前面側に位置して取り付けられているので、遮断器動作時に遮断器の主接点(図示省略)間に発生するア−クの熱や高温のイオン化消孤ガスによる前記スイッチング素子5114、5115、5116や前記基板503、前記検出電極5041,5042、5051,5052、5061,5062等への悪影響は生じない。
実施の形態2.
図8〜図11は、この発明の実施の形態2を示す図で、図8は引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図で、前述の図3に相当する。図9は位置信号出力部の一部断面拡大斜視図で、前述の図5に相当する。図10は係合ユニット上の各種電極の配置を示す図、図11は位置信号出力部の内部結線図(検出回路の回路構成を示す図)で、前述の図6に相当する。なお、図8〜図11において、前述の図1〜図7と同一符号は、前述の図1〜図7と同一または相当部分を示し、前述の図1〜図7と異なる部分を主体的に説明する。また、前述の図1及び図2に図示されている範囲では、この発明の実施の形態2は前述のこの発明の実施の形態1と同じであるので、この発明の実施の形態2では、前述の図1及び図2に相当する図は省略する。
図8〜図11は、この発明の実施の形態2を示す図で、図8は引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図で、前述の図3に相当する。図9は位置信号出力部の一部断面拡大斜視図で、前述の図5に相当する。図10は係合ユニット上の各種電極の配置を示す図、図11は位置信号出力部の内部結線図(検出回路の回路構成を示す図)で、前述の図6に相当する。なお、図8〜図11において、前述の図1〜図7と同一符号は、前述の図1〜図7と同一または相当部分を示し、前述の図1〜図7と異なる部分を主体的に説明する。また、前述の図1及び図2に図示されている範囲では、この発明の実施の形態2は前述のこの発明の実施の形態1と同じであるので、この発明の実施の形態2では、前述の図1及び図2に相当する図は省略する。
この発明の実施の形態2と前述のこの発明の実施の形態1との主たる相違点は、前記遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を検出する電極部分の構造及び検出回路の回路構成である。
つまり、前述のこの発明の実施の形態1においては、図3、図5、及び図6に示されているように、前記対を成す検出電極5041,5042、・・・・と前記橋絡電極403とが、前記遮断器本体2の前記引出枠1からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極5041,5042、・・・・が前記橋絡電極403によって橋絡されると、前記スイッチング素子5114,5115,5116がスイッチング動作して出力端子50121,50122,50123に出力が出る
ように構成されている。
ように構成されている。
これに対し、この発明の実施の形態2は、図8〜図11に示されているように、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極4061、試験位置電極4062、及び断路位置電極4063と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置に配設された中間位置電極(接続−試験)4064と、前記試験位置と前記断路位置との中間位置に配設された中間位置電極(試験−断路)4065と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極4066と、前記遮断器本体2を前記引出枠1から引き出す量に応じて、前記前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極(接続−試験)4064、及び前記中間位置電極(試験−断路)4065から検出電極5042,5052,5062,50452,50562,50C2を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路510と、を有する検出回路500で、前記遮断器本体2の前記位置検出装置を構成してある。
具体的には、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記中間位置電極(試験−断路)4065、及び前記共通電極4066は、図8及び図10に示してあるように、何れも前記係合ユニット4の前記位置信号出力部5と対向している扁平な側面401に同一平面状に取り付けられている。
また、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記中間位置電極(試験−断路)4065、及び前記共通電極4066は、図8及び図10に示してあるように、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印Aの方向)と直角を成す方向に、所定の絶縁距離を確保するために、それぞれ前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印Aの方向)に離間して配設されている。
また、図10に示してあるように、前記中間位置電極(接続−試験)4064は、例えばソルダレジストで保護されたパターン電極等からなる接続電極407を介して前記共通電極4066に接続されている。同様に、前記中間位置電極(試験−断路)4065は、前記接続電極407と前記中間位置電極(接続−試験)4064と接続電極407とを介して前記共通電極4066に接続され、前記断路位置電極4063は、前記接続電極407と前記中間位置電極(接続−試験)4064と接続電極407と前記中間位置電極(試験−断路)4065と接続電極407とを介して前記共通電極4066に接続され、前記試験位置電極4062は、前記接続電極407と前記中間位置電極(接続−試験)4064と前記接続電極407と前記中間位置電極(試験−断路)4065と接続電極407とを介して前記共通電極4066に接続され、前記接続位置電極4061は、前記接続電極407と前記中間位置電極(接続−試験)4064と接続電極407と前記中間位置電極(試験−断路)4065と前記接続電極407と前記試験位置電極4062と接続電極407とを介して前記共通電極4066に接続されている。
前記検出電極5042,5052,5062,50452,50562,50C2は、図9に示してあるように、何れも前記位置信号出力部5の前記係合ユニット4と対向している扁平な側壁5021を可移動に貫通し、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印Aの方向)と直角を成す方向に、相互に所定距離を隔てて配列されている。
前記検出電極5042は、前記遮断器本体2が前記接続位置にある状態の場合に、前記係合ユニット4の前記接続位置電極4061に弾性的に接触する位置に配設されている接続位置検出電極である。
前記検出電極5052は、前記遮断器本体2が前記引出枠1から矢印A方向に引き出されて前記試験位置にある状態の場合に、当該遮断器本体2の前記試験位置への引き出しに伴って前記試験位置へ移動した係合ユニット4の前記試験位置電極4062に弾性的に接触する位置に配設されている試験位置検出電極である。
前記検出電極5062は、前記遮断器本体2が前記引出枠1から矢印A方向に更に引き出されて前記断路位置にある状態の場合に、当該遮断器本体2の前記断路位置への引き出しに伴って前記試験位置へ移動した前記係合ユニット4の前記断路位置電極4063に弾性的に接触する位置に配設されている断路位置検出電極である。
前記検出電極50452は、前記遮断器本体2が前記接続位置から前記試験位置へ引き出されている間中、前記係合ユニット4の前記中間位置電極(接続−試験)4064に弾性的に接触する位置に配設されている中間位置位置検出電極(接続−試験)である。
前記検出電極50562は、前記遮断器本体2が前記試験位置から前記断路位置へ引き出されている間中、前記係合ユニット4の前記中間位置電極(試験−断路)4065に弾性的に接触する位置に配設されている中間位置検出電極(試験−断路)である。
前記検出電極50C2は、前記遮断器本体2が、前記接続位置にある間中、前記接続位置から前記試験位置へ引き出されている間中、前記試験位置にある間中、前記試験位置から前記断路位置へ引き出されている間中、及び前記断路位置にある間中、前記係合ユニット4の前記共通電極4066に弾性的に接触する位置に配設されている共通検出電極である。
前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452、前記中間位置位置検出電極(試験−断路)50562は、それぞれ、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印Aの方向)に前述の各々の機能を呈する長さに短冊状に延在している。
また、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452、前記中間位置検出電極(試験−断路)50562、共通検出電極50C2は、前述のこの発明の実施の形態1における前記断路位置検出電極5061,5062等と同様に、例えば、前記導電性シリンダ507内のスプリング等の弾性部材508(図5参照)等によって、各々の前記先端部が、それぞれ前記係合ユニット4の対応電極4061,4062,4063,4064,4065,4066に弾性的に接触されるように付勢されている。
次に、前記遮断器本体2の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記中間位置(接続−試験)、前記中間位置(試験−断路)の検出動作について、図10及び図11によって説明する。
先ず、前記遮断器本体2が前記接続位置にある状態(図2(a)参照)では、図10に示すように、前記係合ユニット4における接続位置が、前記共通電極4066、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452、前記中間位置検出電極(試験−断路)50562、共通検出電極50C2の位置にある。つまり、前記共通電極4066が前記共通検出電極50C2に、前記中間位置電極(接続−試験)4064が前記中間位置検出電極(接続−試験)50452に、前記接続位置電極4061が前記接続位置検出電極5042に、それぞれ弾性的に接触している。
従って、図11の+電源509に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極407−前記中間位置電極(接続−試験)4064−前記中間位置検出電極(接続−試験)50452の経路で、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452が接続され、同様に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極407−前記中間位置電極(接続−試験)4064−前記接続電極407−前記中間位置電極(試験−断路)4065−前記接続電極407−前記試験位置電極4062−前記接続電極407−前記接続位置電極4061−前記接続位置検出電極5042の経路で、前記接続位置検出電極5042が図11の+電源509に接続されている。
従って、図11において、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452が前述のように+電源509に接続されているので、スイッチング素子5117が出力を出し、出力端子50125から、前記遮断器本体2が接続位置から試験位置にあることを表す信号「1」が出力される。また、前述のように前記接続位置検出電極5042が図11の+電源509に接続されているので、スイッチング素子5114が出力を出し、出力端子50121から、前記遮断器本体2が接続位置にあることを表す信号「1」が出力される。従って、前記遮断器本体2が接続位置にあることを検出できる。
次に、前記遮断器本体2が矢印Aの方向に引き出されて前記試験位置なった状態(図2(b)参照)では、図10に示すように、前記係合ユニット4における試験位置が、前記遮断器本体2の矢印A方向への引き出しに伴って、前記共通電極4066、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452、前記中間位置検出電極(試験−断路)50562、共通検出電極50C2の位置に移動してきている。つまり、前記共通電極4066が前記共通検出電極50C2に、前記中間位置電極(接続−試験)4064が前記中間位置検出電極(接続−試験)50452に、前記中間位置電極(試験−断路)4065が前記中間位置検出電極(試験−断路)50562に、前記試験位置電極4062が前記試験位置検出電極5052に、それぞれ弾性的に接触している。
従って、図11の+電源509に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極407−前記中間位置電極(接続−試験)4064−前記中間位置検出電極(接続−試験)50452の経路で、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452が接続され、同様に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極407−前記中間位置電極(接続−試験)4064−前記接続電極407−前記中間位置電極(試験−断路)4065−前記中間位置検出電極(試験−断路)50562の経路で、前記中間位置検出電極(試験−断路)50562が前記+電源509に接続され、更に同様に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極407−前記中間位置電極(接続−試験)4064−前記接続電極407−前記中間位置電極(試験−断路)4065−前記接続電極407−前記試験位置電極4062−前記試験位置検出電極5052の経路で、前記試験位置検出電極5052が前記+電源509に接続される。
従って、図11において、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452が前述のように+電源509に接続されているので、スイッチング素子5117が出力を出し、出力端子50125から、前記遮断器本体2が接続位置から試験位置にあることを表す信号「1」が出力される。また、前述のように前記中間位置検出電極(試験−断路)50562が前記+電源509に接続されているので、スイッチング素子5118が出力を出し、出力端子50126から、前記遮断器本体2が試験位置から断路位置にあることを表す信号「1」が出力される。また、前述のように前記試験位置検出電極5052が前記+電源509に接続されているので、スイッチング素子5115が出力を出し、出力端子50122から、前記遮断器本体2が試験位置にあることを表す信号「1」が出力される。従って、前記遮断器本体2が試験位置にあることを検出できる。
次に、前記遮断器本体2の引き出し作業の途中で他の割り込み作業が発生するなどにより前記遮断器本体2が前記接続位置と前記試験位置との中間の位置にある状態のままである場合には、図10において、前記係合ユニット4の前記接続位置と前記試験位置との中間が、前記共通電極4066、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452、前記中間位置検出電極(試験−断路)50562、共通検出電極50C2の位置にある。つまり、前記共通電極4066が前記共通検出電極50C2に、前記中間位置電極(接続−試験)4064が前記中間位置検出電極(接続−試験)50452に、弾性的に接触している。
従って、図11の+電源509に、前記共通検出電極50C2−前記共通電極4066−前記接続電極407−前記中間位置電極(接続−試験)4064−前記中間位置検出電極(接続−試験)50452の経路で、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452が接続されている。この場合、
従って、図11において、前記中間位置検出電極(接続−試験)50452が前述のように+電源509に接続されているので、スイッチング素子5117が出力を出し、出力端子50125から、前記遮断器本体2が接続位置から試験位置にあることを表す信号「1」が出力される。この場合、前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、及び前記中間位置検出電極(試験−断路)50562は、何れも前記+電源509には接続されていないので、
対応スイッチング素子5114、5115、5118は出力を出さない。従って、前記遮断器本体2が前記接続位置と前記試験位置との中間の位置にあることを検出できる。
対応スイッチング素子5114、5115、5118は出力を出さない。従って、前記遮断器本体2が前記接続位置と前記試験位置との中間の位置にあることを検出できる。
前記遮断器本体2の前記断路位置、及び前記試験位置と断路位置の中間の位置も検出できるが、その動作原理は、前述の接続位置、試験位置、及び接続位置と試験位置との中間の位置の検出動作と同じであるので、前記断路位置、及び前記試験位置と断路位置との中間の位置の各検出動作の説明は割愛する。
この発明の実施の形態2は、前述のように、前記遮断器本体2の前記主回路端子202が配電線側主回路導体105に接触している接続位置から前記遮断器本体2を引出枠1から引き出す量に応じて、前記主回路端子202の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極4061、試験位置電極4062、及び断路位置電極4063と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極4064,4065と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、及び前記各中間位置電極4064,4065と電気的に接続された共通電極4066と、前記遮断器本体2を前記引出枠1から引き出す量に応じて、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、及び前記各中間位置電極4064,4065から検出電極5042,5052,5062,50452,50562,50C2を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路510と、を有する検出回路500で前記遮断器本体2の位置検出装置を構成したので、前述の特許文献1の図6〜図8及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題はなく、また、前述の特許文献1の図3及びその説明に記載されている位置検出装置のように第1〜第3のレバ−、リンク部材、第2のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題が残るようなことも無く、また、マイクロスイッチを使う必要もない。従って、遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を精度良く検出できる。しかも、前記前記遮断器本体2の、前記接続位置と前記試験位置との中間の位置や前記試験位置と断路位置との中間の位置も検出できる。
また、前述のこの発明の実施の形態1と同様に、前記スイッチング素子5114,5115,5116,5117,5118が装填された基板503及び前記検出電極5042、5052、5062,50452,50562,50C2が前記引出枠1に前記遮断器本体2の消孤室より前面側に位置して取り付けられているので、遮断器動作時に遮断器の主接点(図示省略)間に発生するア−クの熱や高温のイオン化消孤ガスによる前記スイッチング素子5114,5115,5116,5117,5118や前記基板503、前記検出電極5042、5052、5062,50452,50562,50C2等への悪影響は生じない。
実施の形態3.
図12〜図16は、この発明の実施の形態3を示す図で、図12は引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図で、前述の図3及び図8に相当する。図13は位置信号出力部の一部断面拡大斜視図で、前述の図5及び図9に相当する。図14は係合ユニット上の各種電極の配置を示す図で、前述の図10に相当する。図15は位置信号出力部の内部結線図(検出回路の回路構成を示す図)で、前述の図6及び図11に相当する。図16は遮断器本体の各位置における位置信号出力部の入出力の関係を示す図で、(a)は主回路と制御回路との入出力の関係を示すタイムチャート、(b)は前述の図7に相当する入出力の真理値を示す図である。なお、図12〜図16において、前述の図1〜図11と同一符号は、前述の図1〜図11と同一または相当部分を示し、前述の図1〜図11と異なる部分を主体的に説明する。また、前述の図1及び図2に図示されている範囲では、この発明の実施の形態3は前述のこの発明の実施の形態1と同じであるので、この発明の実施の形態3では、前述の図1及び図2に相当する図は省略する。
図12〜図16は、この発明の実施の形態3を示す図で、図12は引出枠端子台と係合ユニットの位置関係を示す拡大斜視図で、前述の図3及び図8に相当する。図13は位置信号出力部の一部断面拡大斜視図で、前述の図5及び図9に相当する。図14は係合ユニット上の各種電極の配置を示す図で、前述の図10に相当する。図15は位置信号出力部の内部結線図(検出回路の回路構成を示す図)で、前述の図6及び図11に相当する。図16は遮断器本体の各位置における位置信号出力部の入出力の関係を示す図で、(a)は主回路と制御回路との入出力の関係を示すタイムチャート、(b)は前述の図7に相当する入出力の真理値を示す図である。なお、図12〜図16において、前述の図1〜図11と同一符号は、前述の図1〜図11と同一または相当部分を示し、前述の図1〜図11と異なる部分を主体的に説明する。また、前述の図1及び図2に図示されている範囲では、この発明の実施の形態3は前述のこの発明の実施の形態1と同じであるので、この発明の実施の形態3では、前述の図1及び図2に相当する図は省略する。
この発明の実施の形態3と前述のこの発明の実施の形態2との主たる相違点は、前記遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を検出する電極部分の配置及び検出回路の回路構成である。
つまり、前述のこの発明の実施の形態2においては、図8、図9、及び図10に示されているように、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063が、
前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印Aの方向)と直角を成す方向に所定距離離間して配列されているが、この発明の実施の形態3においては、図12及び図14に示されているように、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063が、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印Aの方向)に直線状に所定距離離間して配列されている。
前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印Aの方向)と直角を成す方向に所定距離離間して配列されているが、この発明の実施の形態3においては、図12及び図14に示されているように、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063が、前記遮断器本体2の引き出し方向(矢印Aの方向)に直線状に所定距離離間して配列されている。
また、前述のこの発明の実施の形態2においては、図9、図10、及び図11に示されているように、前記遮断器本体2の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記中間位置(接続−試験)、及び前記中間位置(試験−断路)を検出する検出電極は、6個(即ち前記接続位置検出電極5042、前記試験位置検出電極5052、前記断路位置検出電極5062、前記中間位置位置検出電極(接続−試験)50452、前記中間位置検出電極(試験−断路)50562、共通検出電極50C2)設けられているが、この発明の実施の形態3においては、図13、図14、及び図15に示されているように、4個の検出電極、即ち中間位置(接続−試験)検出電極50452、中間位置(試験−断路)検出電極50562、接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562、及び共通検出電極50C2で、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記中間位置(接続−試験)、及び前記中間位置(試験−断路)を検出することできる。
また、図15に示してあるように、検出回路500の回路構成も、この発明の実施の形態3は、前述の実施の形態2とは異なり、前記中間位置(接続−試験)検出電極50452、前記中間位置(試験−断路)検出電極50562、及び前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562と、スイッチング回路510との間に、抵抗5119,5120,5121を介して論理回路520を接続してある。前記論理回路520は、AND回路5125,5126,5127,5132,5133と、OR回路5128と、NOR回路5129と、インバ−タ5130,5131,5134とで構成されている。
前記AND回路5125は、その入力が前記中間位置(接続−試験)検出電極50452および前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562に接続されると共に前記インバ−タ5130を介して前記中間位置(試験−断路)検出電極50562に接続され、その出力は前記スイッチング素子5117の入力に接続されている。
前記AND回路5126は、その入力が前記中間位置(接続−試験)検出電極50452、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562、および前記中間位置(試験−断路)検出電極50562に接続され、その出力は前記スイッチング素子5118の入力に接続されている。
前記AND回路5127は、その入力が前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562に接続されると共に前記インバ−タ5131を介して前記中間位置(接続−試験)検出電極50452に接続され、その出力は前記スイッチング素子5114の入力に接続されている。
前記AND回路5132は、その入力が前記中間位置(接続−試験)検出電極50452に接続されると共に前記インバ−タ5134を介して前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562に接続され、その出力は前記OR回路5128の入力に接続されている。
前記AND回路5133は、その入力が前記中間位置(試験−断路)検出電極50562に接続されると共に前記インバ−タ5134を介して前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562に接続され、その出力は前記OR回路5128の入力に接続されている。
前記AND回路5132,5133の出力を入力する前記OR回路5128の出力は前記スイッチング素子5115の入力に接続されている。
前記NOR回路5129は、その入力が前記中間位置(接続−試験)検出電極50452、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562、および前記中間位置(試験−断路)検出電極50562に接続され、その出力は前記スイッチング素子5116の入力に接続されている。
なお、前記中間位置(接続−試験)検出電極50452、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562、および前記中間位置(試験−断路)検出電極50562は、各々、抵抗5122,5123,5124を介して接地されている。
次に、以上のように構成されたこの発明の実施の形態3における引出形遮断器の動作を、関係化くずを参照しながら説明する。
引出形遮断器の接続位置において、前記遮断器本体2は前記引出枠1内に押込まれており(図2(a)参照)、前記主回路導体105と前記主回路端子202とは接続(図16(a)のS1)され、また、係合ユニット4のユニット端子401(図4参照)と引出枠端子台3のリセプタクル302(図4参照)とが接続(図16(a)のS2)された状態である。
また、前記共通検出電極50C2と前記共通電極4066、前記中間位置(接続−試験)検出電極50452と前記中間位置電極(接続−試験)4064、及び前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562と前記接続位置電極4061とは、それぞれ接触状態(図16(a)のS3,S4)である(図14参照)ため、図15において、前記電源509から前記共通検出電極50C2、前記共通電極4066、前記接続電極407、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記中間位置(接続−試験)検出電極50452を介して前記論理回路520に信号が入力されると共に、前記電源509から前記共通検出電極50C2、前記共通電極4066、前記接続電極407、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記接続電極407、前記中間位置電極(試験−断路)4065、前記接続電極407、前記試験位置電極4062、前記接続電極407、前記接続位置電極4061、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562を介して前記論理回路520に信号が入力され、前記論理回路520はそのロジックに応じた論理処理を行い出力端子50121から出力信号が出力され、この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも引出形遮断器が前記接続位置であることが確認できる。
前記遮断器本体2を前記接続位置と前記試験位置の中間位置まで引き出すと、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562と前記接続位置電極4061とは非接触(図16(a)のS5)となり、前記論理回路520に前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562から入力されていた信号がなくなり、前記論理回路520は出力端子501256から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも、引出形遮断器が前記接続位置には無く前記中間位置にあることが確認できる。
更に、前記遮断器本体2を引出枠1から引き出すと、前記主回路導体105と前記主回路端子202とが開離(図16(a)のS6)される。
前記遮断器本体2を前記試験位置まで引き出すと、前記中間位置(試験−断路)検出電極50562と前記中間位置電極(試験−断路)4065とが接触(図16(a)のS7)すると共に、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562と前記試験位置電極4062とが接触(図16(a)S8)し、前記論理回路520は出力端子50122から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも引出形遮断器が前記試験位置にあることが確認できる。
前記遮断器本体2を前記試験位置と前記断路位置の中間位置まで引き出すと、前記中間位置(接続−試験)検出電極50452と前記中間位置電極(接続−試験)4064とが非接触(図16(a)のS9)となる共に、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562と前記試験位置電極4062とが非接触(図16(a)のS10)となり、前記論理回路520に入力されていた信号がなくなり、前記論理回路520は出力端子501256から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも、引出形遮断器が前記接続位置には無く前記中間位置にあることが確認できる。
更に前記遮断器本体2を前記引出枠1から引き出すと、前記係合ユニット4のユニット端子401と前記引出枠端子台3のリセプタクル302とが開離(図16(a)のS11)される。
前記遮断器本体2を前記断路位置まで引き出すと、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562と前記断路位置電極4063とが接触(図16(a)のS12)し、前記論理回路520は出力端子50123から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも、引出形遮断器が前記断路位置にあることが確認できる。
前記遮断器本体2を前記断路位置から更に引き出すと、前記中間位置(試験−断路)検出電極50562と前記中間位置電極(試験−断路)4065とが非接触(図16(a)のS13)となると共に、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562と前記断路位置電極4063とが非接触(図16(a)のS14)となり、前記論理回路520に入力されていた信号がなくなり、前記論理回路520は出力端子50127から出力信号を出力する。この出力信号を遠隔地などに送信することにより、遠隔地でも、引出形遮断器が完全引出位置にあることが確認できる。
前述の各位置での入出力動作をまとめて真理値で示すと、図16(b)のようになる。
この発明の実施の形態3は、前述のように、前記遮断器本体2の前記主回路端子202が前記配電線側主回路導体105に接触している前記接続位置から前記遮断器本体2を前記引出枠1から引き出す量に応じて、前記主回路端子202の位置が前記試験位置及び前記断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極4061、試験位置電極4062、及び断路位置電極4063と、前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極4064,4065と、前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、及び前記各中間位置電極4064,4065と電気的に接続された共通電極4066と、前記遮断器本体2を前記引出枠1から引き出す量に応じて、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、及び前記各中間位置電極4064,4065から検出電極50452,50562,504562,50C2を介して入力を受け各入力の有無に基づく論理演算により、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置に対応した出力を出す論理回路520と、前記論理回路520の出力に応動し前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路510と、を有する検出回路500で前記引出形遮断器の位置検出装置を構成したので、前述の特許文献1の図6〜図8及びその説明に記載されている一般的な位置検出装置のように、動作板がどのように移動してもマイクロスイッチが精度良く正常動作するように精度良く組み立て調整する必要があって生産性がよくなく、また、組み立て精度を上げる為に動作板の遊びを極めて小さく制限する構造にした場合は動作板が引き出し方向に移動しなくなる可能性があり採用困難であるという相容れない厄介な問題や、位置検出装置が引出枠の後底部に取り付けられているので配線や保守が困難であるという問題はなく、また、前述の特許文献1の図3及びその説明に記載されている位置検出装置のように第1〜第3のレバ−、リンク部材、第2のレバ−を時計方向に偏奇するコイルバネ等、多数の機構部品を要し、構造が複雑であるため、マイクロスイッチが精度良く正常動作するように高度な製造技術、組み立て技術が必要であり、必ずしもマイクロスイッチを精度よくオンオフ動作させることができるかどうか問題が残るようなことも無く、また、マイクロスイッチを使う必要もない。従って、遮断器本体の前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置を精度良く検出できる。しかも、前記前記遮断器本体2の、前記接続位置と前記試験位置との中間の位置や前記試験位置と断路位置との中間の位置も検出できる。前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の各位置間の中間位置の検出ができるようになることで、遮断器本体が中途半端な位置(主回路あるいは制御回路が接続・断路の切り換ったか切り換らないかの境界)をも監視することができ、不用意な状態での操作等を確実に防ぐことができ、更に、完全引出位置が確認できるので、遠隔地から遮断器本体の有無がわかる。
実施の形態4.
図17及び図18は、この発明の実施の形態4を示す図で、図17は引出形遮断器の遮断器本体要部外観斜視図、図18は引出形遮断器の位置信号出力部の外観斜視図である。
図17及び図18は、この発明の実施の形態4を示す図で、図17は引出形遮断器の遮断器本体要部外観斜視図、図18は引出形遮断器の位置信号出力部の外観斜視図である。
前述の実施の形態3においては、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記中間位置電極(試験−断路)、及び共通電極4066を、前記結合ユニット4の側面4021に設け、前記中間位置(接続−試験)検出電極50452、前記中間位置(試験−断路)検出電極50562、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562、及び前記共通検出電極50C2を、前記位置信号出力部5の側壁部5021に設けた例を例示したが、この発明の実施の形態4は、図17及び図18に示すように、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記中間位置電極(試験−断路)、及び共通電極4066を、前記遮断器本体2の絶縁樹脂製の本体カバ−部2012の上面部に配設し、前記中間位置(接続−試験)検出電極50452、前記中間位置(試験−断路)検出電極50562、前記接続位置/試験位置/断路位置検出電極504562、及び前記共通検出電極50C2を、前記位置信号出力部5の筐体502の底面部に設けた例であり、前述の実施の形態3と同等な効果を奏する。
なお、前述の実施の形態2及び3において、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記中間位置電極(試験−断路)、及び共通電極4066を、前記結合ユニット4の側面4021に直接設けてあるように図示してあるが、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記中間位置電極(試験−断路)、及び共通電極4066は、前記結合ユニット4の側面4021や前記遮断器本体2の絶縁樹脂製の本体カバ−部2012の上面部に直接設けてもよく、また、絶縁物製の電極取付基板に取り付け、前記接続位置電極4061、前記試験位置電極4062、前記断路位置電極4063、前記中間位置電極(接続−試験)4064、前記中間位置電極(試験−断路)、及び共通電極4066が取り付けられた絶縁物製電極取付基板を、前記結合ユニット4の側面4021や前記遮断器本体2の絶縁樹脂製の本体カバ−部2012の上面部に取り付けても良い。
1 引出枠、
2 遮断器本体、
105 主回路導体、
202 主回路端子、
403 橋絡電極、
4061 接続位置電極、
4062 試験位置電極、
4063 断路位置電極、
4064,4065 中間位置電極、
4066 共通電極、
500 検出回路、
503 基板、
510 スイッチング回路
520 論理回路、
5041,5042、5051,5052、5061,5062,50452,50562,504562,50C2 検出電極、
5114、5115、5116 スイッチング素子。
2 遮断器本体、
105 主回路導体、
202 主回路端子、
403 橋絡電極、
4061 接続位置電極、
4062 試験位置電極、
4063 断路位置電極、
4064,4065 中間位置電極、
4066 共通電極、
500 検出回路、
503 基板、
510 スイッチング回路
520 論理回路、
5041,5042、5051,5052、5061,5062,50452,50562,504562,50C2 検出電極、
5114、5115、5116 スイッチング素子。
Claims (6)
- 遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、
前記位置検出装置を、
対を成す検出電極と橋絡電極とが、前記遮断器本体の前記引出枠からの引出しに応じ相対的に移動して前記対を成す検出電極が前記橋絡電極によって橋絡されるとスイッチング素子がスイッチング動作して出力端子に出力が出る検出回路で構成した
ことを特徴とする引出形遮断器。 - 請求項1に記載の引出形遮断器において、
前記スイッチング素子が基板に装填され、前記スイッチング素子が装填された基板及び前記検出電極が前記引出枠に前記遮断器本体の消孤室より前面側に位置して取り付けられ、
前記橋絡電極が前記遮断器本体に取り付けられている
ことを特徴とする引出形遮断器。 - 遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、
前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、
前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、
前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、
前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、
を有する検出回路で前記位置検出装置を構成した
ことを特徴とする引出形遮断器。 - 遮断器本体の主回路端子が配電線側主回路導体に接触している接続位置から前記遮断器本体を引出枠から引き出す量に応じて、前記主回路端子の位置が試験位置及び断路位置となり、前記接続位置、前記試験位置、及び前記断路位置が位置検出装置によって検出される引出形遮断器において、
前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置の順に配設された接続位置電極、試験位置電極、及び断路位置電極と、
前記接続位置と前記試験位置との中間位置及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各中間位置に配設された中間位置電極と、
前記接続位置と前記断路位置とを含む前記接続位置と前記断路位置との間に配設され、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極と電気的に接続された共通電極と、
前記遮断器本体を前記引出枠から引き出す量に応じて、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、及び前記各中間位置電極から検出電極を介して入力を受け各入力の有無に基づく論理演算により、前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置に対応した出力を出す論理回路と、
前記論理回路の出力に応動し前記接続位置、前記試験位置、前記断路位置、前記接続位置と前記試験位置との中間位置、及び前記試験位置と前記断路位置との中間位置の各位置の出力を出すスイッチング回路と、
を有する検出回路で前記位置検出装置を構成した
ことを特徴とする引出形遮断器。 - 請求項3及び請求項4の何れか一に記載の引出形遮断器において、
前記スイッチング回路が基板上に設けられ、前記スイッチング回路が設けられた基板及び前記検出電極が前記引出枠に前記遮断器本体の消孤室より前面側に位置して取り付けられ、
前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、前記各中間位置電極、及び前記共通電極が前記遮断器本体に取り付けられている
ことを特徴とする引出形遮断器。 - 請求項1、請求項3、及び請求項4の何れか一に記載の引出形遮断器において、
前記検出電極と、前記接続位置電極、前記試験位置電極、前記断路位置電極、前記各中間位置電極、及び前記共通電極とを弾性的に接触させる弾性部材が設けられている
ことを特徴とする引出形遮断器。
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