JP2004532979A - 新測定技術 - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
本発明は、例えばタブレット、カプセル(特に多ユニット・ペレットシステム(MUPS:multiple unit pellet system))もしくは薬剤投与量を形成する同様な試料などの未確定薬剤試料を分析するための装置に関する。
【背景技術】
【0002】
タブレット全体の非侵入、非破壊分析は、近赤外線(NIR)又はラマン分光測定法によって実施することができる。今日では、NIR分光技術は成分の迅速な分析を実施するための知られた技術である。これらの技術に共通する特性は、薬剤タブレットが比較的透明(低モル吸収性)であるときに近赤外線波長領域(700〜2500nm、特に700〜1500nm)の光を使用することである。すなわち、この領域では、光は圧縮された粉末内に数mm侵入し、表面ばかりでなくタブレット全体から発出する内容物の情報を得ることができる。NIR放射線を使用することによる実用上の利点は、ダイオードレーザが使用できることである。
【0003】
このような分析の一例が、Foss NIR systems Inc.社に付与された米国特許第5,760,399号公報に記載されている。この文献は、薬剤タブレットのNIR分光の透過測定を実施する器具を開示している。しかしながらこの器具は、通常は試料中の特定成分の量など、試料の内容物に関しては非常に限られた情報しか提供しない。この従来技術による器具は、例えば試料中の1つもしくはそれ以上の成分の三次元分布などの詳細な情報を提供することはできない。この限界の原因となる技術的背景については、本発明の開示に関連して更に詳しく説明する。
【0004】
前記従来技術は更に、ヒトの組織、特にヒトの組織中の腫瘍の存在など、同質性障害を検出する光学画像形成のための極めて多くの方法を含んでいる。これらの方法は一般に、非同質性の存在と位置とを特定することがその主要な焦点となっている点で、定量的ではなく定性的な測定である。これらの従来技術の方法は、タブレットやカプセルなどの薬剤の未確定試料について、例えばその内容物や組成のパラメータなどの定量分析を実施するには適していない。
【発明の概要】
【0005】
本発明の第1の態様では、特に同一用量の薬剤タブレットやカプセルなどの未確定薬剤試料の定量的分析に使用される装置を提供している。
本発明によれば、当該装置は:
放射線の励起ビームを発生する手段と;
前記励起ビームを試料上に集束させる手段とを含んでいる。
1つの実施の形態によれば、前記装置は更に:
前記励起ビームを強度変調する手段と;
全ての波長を同時に検出する手段とを含んでいる。
他の実施の形態によれば、前記装置は更に:
前記励起ビームを2つのビーム(70、74)に分離する手段と;
透過した光と非透過の光とをそれぞれ検出する手段(68、71)とを含んでいる。
【0006】
本発明は以下の原理に基づく。分光測定透過及び/又は反射測定によって分析される試料は、光学特性と呼ばれる多くの特性を示す。これらの光学特性は(i)吸収率、(ii)散乱率、(iii)散乱異方性にある。このため、励起ビームの光子が前記未確定試料中を伝播すると(透過及び/又は反射モードで)、光子はこれらの光学特性の影響を受け、結果として吸収と散乱とが生ずる。たまたま試料中をほぼ真っ直ぐの経路で進み、このため実質的に散乱の影響を受けない光子は比較的僅かな時間遅延で試料から出る。照射された表面上で直接反射された光子も、反射光を測定した場合には比較的短い時間遅延を示す。これに対し、高度に散乱された(透過及び/又は反射された)光子は、大きな時間遅れもしくは位相変化を伴なって試料から出てくる。このことは、これら全ての発出してきた光子(異なる伝播時間を示す)が、試料に関する補足情報を媒介することを意味している。
【0007】
従来の定常状態の(非時間解析の)測定では、発出した光は時間集積の検出で捉えられるため、前記補足情報が重なり合う。このため、従来技術では前記補足情報が失われてしまう。例えば、計測された光強度の減少は、試料の散乱率の増加に起因するかも知れない。しかしながら、全ての発出した光が時間集積されているために実際の原因に関する情報は分からない。
【0008】
本発明によれば、時間集積された強度検出によるこの従来技術のNIR分光技術とは異なり、試料から発出する放射線の強度は、試料を通過する波長の関数と光子の伝播時間の関数との双方によって測定される。このため、本発明の方法は、波長解析(wavelength-resolved)及び時間解析(time-resolved)であると言うことができる。本方法は、試料との放射線相互作用の動態に関する情報を提供するという意味で時間解析であると見ることは重要である。この意味で、「時間解析」の用語は、「光子の伝播時間の解析」を意味している。換言すれば、本発明で使用される時間解析は、試料中での光子の伝播時間(すなわち、光源から検出器までの光子の伝播時間)に対応する時間スケールに関するもので、その結果として、異なる光子の伝播時間に関連する情報の時間集積を回避することができる。表示された例では、光子の移動時間は0,1−2nsのオーダである。特に前記「時間解析」の用語は、従来のNIR技術の場合で「時間解析」なる用語が使用される空間走査を実施するために必要な時間とは関係ない。
【0009】
従来技術で行なわれている放射線を時間集積(したがって、多くの情報が失われることを)せず、代わりに試料の励起からの情報を時間解析し、情報を波長解析することと組み合わせるため、本発明では内容物、密度、組成、均質性などの試料の定量分析のパラメータを確立することができる。
【0010】
照射された試料から伝播された放射線と反射された放射線の双方は、異なる時間遅れの光子から構成される。したがって、前記時間解析及び波長解析の検出は、透過した放射線のみ、反射した放射線のみ、及び透過した放射線と反射した放射線の双方を組み合わせたもののいずれによっても実施することができる。
【0011】
本発明で使用される放射線の励起ビームは、赤外線放射線、特には約700から約1700nm、中でも700から1300nmの波長に対応する領域の近赤外線(NIR)を含むことができる。しかしながら、前記放射線の励起ビームはさらに、可視光線(400から700nm)及び紫外線の放射線をも含むことができる。これに関連し「励起」の用語は「照明」とも解釈されねばならず、すなわち試料の化学的な励起は必要とされない。
【0012】
光子の伝播時間の関数として強度を測定するステップは、試料の励起との時間同期で実施されることが好ましい。第1の好ましい実施の形態では、この時間同期は、短い励起パルスのパルストレインを示すパルス化励起ビームを使用することによって実施され、ここでは各励起パルスが強度測定の引き金となる。この目的のため、パルス化レーザシステムもしくはレーザダイオードが使用可能である。この技術は、各与えられた励起パルスに対する発出した強度(伝播及び/又は反射した)の光子伝播時間解析の測定を実施することを可能にする。
【0013】
2つの連続するパルスに関わる強度測定の間の思わしくない障害を避けるため、前記励起パルスは、試料中の光子の伝播時間に対して十分に短いパルス長でなければならず、好ましくは光子の伝播時間よりもはるかに短いものである。
【0014】
要約すれば、本発明にかかる当該実施の形態では、所定の励起パルスに関連して発出する放射線の強度検出は、当該パルスと時間同期され、1つのパルスで発出する光の検出は次のパルスの前に完了している。
【0015】
このデータの評価は、幾つかの異なる方法により行うことができる。前記構成の境界条件と光学的構造を特定することにより、モンテカルロ・シミュレーションなどの反復方法は、試料の光学特性を計算するため、及び間接的に内容物及び組成のパラメータを計算するために使用可能である。代替として、これらのパラメータを直接抽出するための多変量較正(multivariate calibration)が利用可能である。多変量較正では、測定されたデータが、薬剤物質の内容物や組成など、対象物の分析パラメータに対する経験的数理関係を確立するために使用される。新たな測定がされるときに、未知の試料の分析パラメータを予測するためにこのモデルが使用可能である。
【0016】
代替の実施の形態では、前記放射線源は、時間で強度変調される。このため、試料から発出した放射線の位相シフト及び/又は変調深さを特定するために周波数変域の分光技術が使用可能である。これにより、発出した試料の放射線の位相及び/又は変調深さが前記励起放射線のものと比較される。この情報は、試料中の放射線の時間遅延に関する情報を取り出すために使用することができる。その上、前記発出した放射線は、スペクトルの情報を得るために多数の波長に対して測定され得る。前述した周波数変域の分光技術は試料との光子相互作用の動態に関する情報をも提供することから、本発明に従えば「時間解析」でもあることは注意すべきである。上述したものと同様な数学的手順によって、同じ定量的分析情報を得ることができる。
【0017】
第1の実施の形態にかかるパルス化励起ビームと、第2の実施の形態にかかる強度変調された励起ビームとは、試料から発出する放射線の検出の引き金として利用することができること、すなわち時間解析検出を試料の励起に時間同期させるために使用することができる特有の「励起時点」を(前記励起ビーム内に)特定することが可能であるという共通の特性を有している。これはパルス化された、あるいは変調されたビームが、光検出器もしくはこれと同等なものの引き金となり、これが次に適当な時間制御回路を介して前記検出器の引き金となることにより実施可能である。
【0018】
前記の時間検出は、ストリークカメラなどの時間解析検出器を使用することによって実施可能である。あるいは時間ゲートシステム(time-gated system)によっても実施することができ、このシステムによれば発出された放射線の検出は、時間経過全体の代わりに限定された数の非常に短い時間スライスの間に実施される。このような各時間スライスの長さは検出時間のごく一部に過ぎず、この間に各励起に対して時間解析検出が実施される。このような幾つかの「時間スライス」を測定することにより、粗時間解析が得られる。良好な代替案は、迅速な光と遅延する光の2つの時間ゲートで波長解析スペクトルを測定することである。更に、時間解析データは、瞬時デジタイザもしくはこれと同等の他の時間解析装置によって記録することができる。
【0019】
更なる実施の形態では、フーリエ変換検出器が使用され、これによりミラーが前後に走査してインターフェログラムを作成する。このインターフェログラムは、全ての波長の試料を透過した光に関する情報を含んでいる。インターフェログラムが使用されることから、全ての波長が同時にモニタされる。その結果は、透過した光のスベクトルとなる。光源は変調ドライバにより高周波数(MHz−GHz)で強度変調される。検出された信号の位相及び変調深さと変調ドライバが比較され、出力信号として使用される。これらは、試料を通過する光子伝播の時間挙動に関する情報を提供する。フーリエ分光計の移動ミラーの走査スピードが光変調周波数よりもはるかに遅ければ、位相差と変調深さに対する値は、前記移動ミラーの各位置に対して得られる。このように、位相差と変調深さとはフーリエ空間での走査によって測定され、波長領域での走査ではない。内容物や粒子サイズなどの試料の物理的関連パラメータに関する情報は、デコンヴォリーション技術(deconvolution techniques)や化学測定モデル(chemometric models)によって得ることができる。多数の変調周波数は、より正確な分析のために使用可能である。
【0020】
さらに他の実施の形態では、強度変調された光が試料に向けられる。伝播され、もしくは散乱して反射された光は、迅速検出器によって検出され、第2の検出器は試料を照射する前に当該光を検出する。2つの検出器からの信号は、位相差と変調深さに関して比較される。これらの2つの値は、各波長に対して連続して記録され、これらの値から、例えば内容物などに関する情報がデコンヴォリューション技術や化学測定モデルによって得られる。
【0021】
前記波長解析された検出は、多くの異なる従来の方法によって実施することができる。微細チャンネルプレートやストリークカメラ等の多チャンネル検出器を用いて実施することができる。(i)分光計、(ii)波長依存ビームスプリッタ、(iii)異なる波長もしくは波長バンドの放射線を提供するための各成分のそれぞれをフィルタがけする複数のフィルタを組み合わせた波長非依存ビームスプリッタ、(iv)複数のフィルタと組み合わされ、試料から発出する放射線を複数の成分に分離するプリズムアレイもしくはレンズシステムなど、光分散システムを利用することができる。
【0022】
本発明にかかる上述の特性と利点、及び他の特性と利点は、請求の範囲によって特定され、さらに好ましい実施の形態を表示する添付図面を参照して以下により詳細に記載されている。
【発明を実施するための最良の形態】
【0023】
図1aを参照して、本発明にかかる時間解析の分析を実施するための第1の実施の形態の装置は、アルゴンレーザ12により加圧されるTi:サファイアレーザ10を含む。これにより発生するレーザビーム14は、ネオジウムYAG増幅ステージ16により増幅レーザビーム18に増幅される。「白色」光の励起ビーム20を生み出すため、レーザビーム18は、ミラーM1と第1のレンズシステムL1を経由して水が充填されたキュベット22を通過する。
【0024】
分析すべき試料は符号24により概略表示されており、前面26と後面28とを有する。試料24は試料位置決めユニット(図示せず)に一時的に固定される。励起レーザビーム20は、レンズシステムL2/L3とミラーM2−M4を介して試料24の前面26に集束される。試料24の反対側では、透過したレーザビーム30が前記後面からレンズシステムL4/L5で回収され、分光計32に集束される。図示の構成では、試料24は、例えば9mm径の薬剤用固形タブレットとすることができる。励起ビーム20は約1mmのスポットに集束することができる。他の実施の形態では、前記励起ビームは試料全体に集束され、もしくは試料上で走査される。
【0025】
代替の実施の形態では、前記装置は例えば流動化ベッド(fluidised bed)に取り付けられ、当該ベッドにある内容物の選択部分を遠隔サンプリングすることができる。
【0026】
図1aに概略表示するように、この実施の形態の励起ビーム20は時間パルス化され、短い反復励起パルスPのパルストレインとなる。各励起パルスPのパルス長は十分に短く、2つの連続する励起パルスP間の時間間隔は前記ビームの移動時間に比較して(すなわち、各パルスが時間内に完全に測定されるためにかかる時間に比較して)十分に長い。このため、所定の励起パルスPnから検出される光と、次の励起パルスPn+1から検出される光との間のいかなる障害も回避される。これにより、1つの励起パルスPからの放射線に関する時間解析測定を一度に実施することが可能である。
【0027】
検出された光ビーム33は、分光計32からレンズシステムL6/L7を通過し、本実施の形態ではストリークカメラ34とされた時間解析ユニットに至る。図1aにかかる実験用構成で使用されたストリークカメラ34は、Hamamutsu Streak Camera Model C5680である。より具体的には、このストリークカメラ34は、分光計32から検出された光ビーム33が集束される入口スリット(図示せず)を有する。実際には試料から発出した光のほんの一部のみが分光計32、さらには検出ユニット34に回収されることは注意すべきである。分光計32を通過する結果、試料24から発出した放射線30は、スペクトル状に空間に分離され、このためストリークカメラ34によって受け取られる放射線は前記入口スリットに沿って波長分布を呈する。
【0028】
前記スリットに入射した光子は、ストリークカメラによって光電子に変換され、対となった偏向プレート(図示せず)間の通路で加速される。これにより、前記光電子は軸に沿って押し流され、前記カメラ内の微細チャンネルプレートに至る。このため入射した光子の時間軸は、前記微細チャンネルプレート上の空間軸に変換される。これにより、光子がストリークカメラに到達した時間と強度とは、ストリークカメラの位置と輝度によって特定される。前記波長解析は他の軸に沿って得られる。前記光電子の画像は、光学的にストリークカメラに接続されたCCD装置36によって読み取られる。このCCD装置36によって回収されるデータは、コンピュータとモニタで概略描かれた分析装置38に送られる。
【0029】
図1aに示す構成では、発出した光の強度は、試料の各励起と時間同期された時間の関数として測定される。これは、ストリークカメラ34と、これにつながったCCD装置36とからなる検出ユニットが、前記反復励起パルスPと時間同期されていることを意味する。この時間同期は以下のようにして達成される。すなわち、レーザビーム14の各励起パルスPが、光学要素40を介して光検出器42もしくはこれと同等のものの引き金となる。この光検出器42からの出力信号43は、遅延発生装置44を通過して停止ユニット46に至り、ストリークカメラ34に停止パルスを提供する。この方法により、ストリークカメラの光子検出作用が作動し、各励起パルスPが発生した後に予め定められた時間丁度に作動停止される。
【0030】
上述したように、回収され、時間解析された情報の評価と分析とは、複数の異なる方法によって行うことができる。図1aに概略示すように、各励起から回収されたデータ情報は、ストリークカメラ34及びCCD装置36からコンピュータ38に送られ、情報が分析される。本明細書の導入部分に記載したモンテカルロ・シミュレーションや多変量較正などは試料の光学特性を計算するために使用することができ、間接的に試料24の内容物及び組成のパラメータを得るために使用することができる。
【0031】
図1bに示す実施の形態では、時間解析方法によって検出されるのは透過した放射線(ビーム30)である。しかしながら、本発明は、試料から反射した放射線を検出することによっても実施することができる。図1bは、図1aに示す励起ビーム20に相当する励起ビーム20’が、どのようにしてレンズL3’を介して試料24の前面26上に集束されるかを示している。各励起パルスの光子は、前面26から直接反射される光子と、ある程度の時間遅延をもって散乱状に後方に分散される光子との双方がある。この直接反射される放射線と、散乱状に後方に分散される放射線がレンズL4’によって集められ、図1aの検出ビーム30に相当する検出ビーム30’となる。
【0032】
上述のように、図1aに示す実施の形態と図1bに示す実施の形態とを1つの実施の形態に組み合わせることが可能であり、本発明によれば、ここでは透過した光と後方分散した光との双方が検出され、時間解析及び波長解析によって分析される。
【0033】
図2は、本発明の方法を実施するための実施の形態における主要機能の構成要素を概略示しており、放射線発生ユニット100(図1aの要素10、12、16)と、試料位置決めユニット102と、1つもしくはそれ以上の波長分散/選択要素104(図1aの要素32)と、1つもしくはそれ以上の検出器ユニット106(図1aの要素34、36)と、分析ユニット108(図1aの要素38)とを含んでいる。
【0034】
波長分散要素として機能する白色レーザ光を生み出すための水が充填されたキュベット22と分光計32との組み合わせは、波長解析及び時間解析の双方のデータを回収することを可能にする。図3aと3bは、そのような検出の実験結果を示す。両図3a、3bの時間スケールは、単一のパルスのみに対する強度変化の時間経緯を示す。但し、これらの図を作成するのに使用された実際のデータは、多くの読み取り結果から集積されたデータを基にしている。図3a、3bの時間軸は、ナノ秒のスケールである。
【0035】
図3aは、時間−波長グラフに貼り付けられたストリークカメラの画像を示しており、輝いている部分は高い強度の値に対応している。画像の左部分は比較的短い時間遅れで検出された光子に対応し、画像の右部分は比較的長い時間遅れの光子に対応する。
【0036】
図3bの3Dプロットは、図3aの画像に対応している。この3Dプロットは、本発明にかかる時間解析分光技術が、どのようにして波長と光子の伝播時間の双方の関数として強度測定につなげるかを明確に示している。この3Dスポットはまた、本発明によって得られる全体の情報内容が、従来の時間集積検出によって得られる情報よりもはるかに多いことを明確に示している。
【0037】
図3bにおいて、各波長(例えば図3bに示すような波長λ1及びλ2)に対応して、時間的に間隔を設けた多数の強度の読みが示されている。このように、各波長に対して、発出した(透過した及び/又は反射した)強度 対 伝播時間の全てのカーブを得ることができる。図3bに示すこれらの「時間プロファイル」の形態は、分析される試料の複数の光学特性間の関係によって異なる。このような時間解析及び波長解析の分光技術により、試料に対する光の相互作用を表す情報を得ることが可能である。例えば、これにより、吸収率には比例するが散乱には関連しない試料中の分析濃度を特定するベースを提供する。他の例として、人によっては試料の散乱特性に相関する分析量の測定を欲するかも知れない。
【0038】
図3bに破線t1、t2で示すように、一定の時間スライスの間の強度を検出することによって発出した光を評価することが可能である。これはより粗い時間解析を提供する。1つの実施の形態では、波長解析されたスペクトルが、2つの時間ゲートのみで測定される。1つは「迅速」な光に対するもの、他の1つは「遅延」した光に対するものである。
【0039】
図5の強度−時間グラフは、2つの異なるタブレットに対する測定による2つの実験的な時間解析結果を示す。差異が大きくなる適切な複数の時間ゲートを選択することにより、他とは異なるタブレットを容易に区別することができる。
【0040】
図1a、1bに示す構成の代替として、分光計32と組み合わせた水キュベット20を使用する代わりに、ダイオードレーザなどの波長選択された光源を使用することが可能である。検出計側では、フィルターと検出計ダイオードとの組み合わせなどの波長選択検出器を各波長に対して使用することができる。
【0041】
本発明を、試料から発出する光に対する空間解析強度検出と組み合わせることが可能である。これに関し、「空間解析(spatial resolved)」の用語は、各励起パルスに対して得られる空間の解析を意味する。特に「空間解析」は、試料に対する励起ビームの時間走査を基礎とする空間解析を意味しない。表示目的の例として、図1aの構成の水キュベット22と分光計32を取り除くことにより、ストリークカメラの入口スリットに集光される光は前記スリットに沿った空間解析となり、試料を横切る「スリット」に対応する。このような構成により得られるストリークカメラの画像は図4aに示されており、対応する3Dプロットが図4bに示されている。上述の図3a、3bに従えば、図4a、4bは1つのパルスのみを示しており、すなわち、表示された空間解析は、試料上でのどの励起ビームの走査とも対応しない。
【0042】
更なる代替の構成が図6に示されている。変調ドライバ50が光源52の強度を変調する(51)。この光源は、高周波(MHz−GHz)によって強度変調されている。この光源52は、好ましくは発光ダイオード(LED)で、広範な波長領域で励起ビーム53を発出する。励起ビーム53はビームスプリッタ54に到達し、ここで励起ビーム53が分割される。励起ビーム53の一部は続けてミラー56に向い、反射してビームスプリッタ54に戻る。励起ビーム53の他の一部は続けて移動ミラー55に向い、反射してビームスプリッタ54に戻る。分離した励起ビーム53の2つの部分はビームスプリッタ54で再び一緒になり、試料57へ向う。試料57はこれにより照射され、透過した光が検出器58によって検出される。移動ミラー55を前後に走査することにより、インターフェログラムが作成される。このインターフェログラムは、試料を透過した全ての波長の光に関する情報を含んでいる。インターフェログラムを使用することにより、全ての波長が同時にモニターされ、その結果として得られるものは透過した光の強度のスペクトルとなる。変調ドライバ50からの信号60は、位相コンパレータ61によって検出器58の信号59と比較される。前記コンパレータ61内での比較により、デコンヴォリューション技術及び化学測定モデルにより、情報を抽出することが可能である。
【0043】
本発明の更に他の代替の構成が図7に示されている。この実施の形態では、強度変調された光を生み出す光源が、ダイオードレーザ62のアレイにより形成される。ダイオードレーザ62のアレイは、広範囲の波長をカバーし、マルチプレクサ63が前記アレイ内の各種ダイオードレーザ62を走査するために使用される。すなわち、マルチプレクサ63は、異なる波長を通して走査を実行する。得られた励起ビームは、図7では1つのミラー65で表示される一連のミラーを通過してビームスプレッタ66に到達し、ここで励起ビーム64は2つのビーム70、74に分割される。1つのビーム74が試料67を照射し、透過した光は光電子倍増管(PM)68によって検出される。他方のビーム70は試料67を照射することなく直接光電子倍増管(PM)71に向う。入射ビームによって光電子倍増管68、71で生まれた2つの信号69、72は、位相コンパレータ73内で比較される。これらの2つの信号69、72は、マルチプレクサ63によるダイオードレーザ・アレイの走査によって各波長ごとに連続して記録される。図8のグラフは、これら2つの信号69、72の例を示しており、ここで励起サインカーブは、図7の光電子倍増管71により検出されたビーム70、すなわち試料67に影響されないビームに対応している。試料を照射した後のビーム74は、図8の検出サインカーブである。試料の物理的パラメータに関する情報は、図8に示すグラフの形態から2つのサイン形状を比較することによって得ることができる。
【0044】
以上いずれの実施の形態においても、測定は遠隔サンプリングによって実施することができ、すなわち、試料は特定の手段によって位置決めされる必要はない。したがって、装置は、不確定薬剤試料の流れの内容物を測定するために配置さることができ、例えばタブレットやカプセルなどの特別に選ばれた試料内のものに限定されない。
【0045】
以上は、本発明を実施するための好ましい実施の形態を開示したものである。しかしながら、改造や変更を含めた前記装置は当業者にとっては自明である。以上の開示内容は、当業者が本発明を実施できるようにするためのものであることから、本発明はこれによって限定されるものと解釈してはならず、このような改造や変更も本発明の真の精神と範疇に含まるものと解釈しなければならない。
【図面の簡単な説明】
【0046】
【図1a】時間解析及び波長解析の分析を実施する為の構成を示す。
【図1b】発出した光の励起と回収とが試料の照射側でのみ行なわれる実施の形態を示す。
【図2】本発明を実施するための機能構成を示す。
【図3a】ストリークカメラ画像で、本発明にかかる波長解析及び時間解析のタブレット透過測定の実験結果を示す。
【図3b】図3aのストリークカメラ画像の3Dプロットである。
【図4a】ストリークカメラ画像で、空間解析と組み合わされた本発明にかかる時間解析のタブレット透過測定の実験結果を示す。
【図4b】図4aのストリークカメラ画像の3Dプロットである。
【図5】2つの異なるタブレット試料の透過測定から得られた実験結果を示す。
【図6】時間解析及び波長解析の分析を実施するための代替の構成を示す。
【図7】時間解析及び波長解析の分析を実施するための他の代替の構成を示す。
【図8】図7に示す構成による測定の実験結果を示すグラフである。
【符号の説明】
【0047】
10.Ti:サファイアレーザ、 12.アルゴンレーザ、 14.レーザビーム、 16.ネオジウムYAG増幅ステージ、 18.増幅レーザビーム、 20.励起ビーム、 22.キュベット、 24.試料、 26.前面、 28.後面、 30.レーザビーム、 32.分光計、 33.光ビーム、 34.ストリークカメラ、 36.CCD装置、 38.分析装置、 40.光学要素、 42.光検出器、 43.出力信号、 44.遅延発生装置、 46.停止ユニット、 50.変調ドライバ、 52.光源、 53.励起ビーム、 54.ビームスプリッタ、 55.移動ミラー、 57.試料、 58.検出器、 61.位相コンパレータ、 62.ダイオードレーザ、 63.マルチプレクサ、 64.励起ビーム、 66.ビームスプレッタ、 67.試料、 68、71.光電子倍増管(PM)、 73.位相コンパレータ、 100.放射線発生ユニット、 102.試料位置決めユニット、 104.波長分散/選択要素、 106.検出器ユニット、 108.分析ユニット。
Claims (37)
- 未確定薬剤試料の定量分析に使用する装置であって:
放射線の励起ビーム(53)を発生する手段(52)と;
前記励起ビーム(53)を強度変調する手段(50)と;
前記励起ビーム(53)を前記試料(57)上に集束させる手段(54、55、56)と;
全ての波長を同時に検出する手段(58)とからなる装置。 - 前記検出する手段が、時間解析検出ユニット(58)からなる請求項1に記載の装置。
- 前記検出する手段が、位相解析検出ユニットからなる請求項1に記載の装置。
- 前記検出する手段が、時間ゲートシステムからなる請求項1に記載の装置。
- 前記装置が、前記強度の空間解析検出を実施する手段を更に備える請求項1から請求項4のいずれか一に記載の装置。
- 前記未確定薬剤試料が、固形試料(57)、特にはタブレット、カプセル、凝集粉末(bulk powder)、同様の薬剤投与形態からなる請求項1から請求項5のいずれか一に記載の装置
- 前記未確定薬剤試料が分散物(dispersion)である請求項1から請求項5のいずれか一に記載の装置。
- 前記励起ビーム(53)が赤外線放射線である請求項1に記載の装置。
- 前記赤外線放射線が近赤外線放射線(NIR)である請求項8に記載の装置。
- 前記放射線が、約700から約1700nm、特には700から1300nmの波長に相当する領域の周波数を有する請求項1に記載の装置。
- 前記励起ビーム(53)が可視光線からなる請求項1から請求項10のいずれか一に記載の装置。
- 前記励起ビーム(53)が紫外線放射線からなる請求項1から請求項11のいずれか一に記載の装置。
- 前記放射線の励起ビーム(53)を発生する手段(52)が、1つもしくはそれ以上のダイオードレーザからなる請求項1から請求項12のいずれか一に記載の装置。
- 前記放射線の励起ビーム(53)を発生する手段(52)が、強度変調ランプからなる請求項1から請求項12のいずれか一に記載の装置。
- 前記放射線の励起ビーム(53)を発生する手段(52)が、強度変調された発光ダイオード(LED)からなる請求項1から請求項12のいずれか一に記載の装置。
- 前記励起ビーム(53)を強度変調する手段(50)が変調ドライバ(50)である請求項1から請求項15のいずれか一に記載の装置。
- 前記励起ビームを集束させる手段(54、55、56)が、フーリエ分光計の部分である請求項1から請求項16のいずれか一に記載の装置。
- 前記変調ドライバ(50)からの信号と前記検出器(58)からの信号とを比較するため位相コンパレータ(61)が配置されている請求項1から請求項17のいずれか一に記載の装置。
- 未確定薬剤試料(57)を位置決めする手段を備える請求項1から請求項18のいずれか一に記載の装置。
- 未確定薬剤試料の定量分析に使用する装置であって:
放射線の励起ビーム(64)を発生する手段(62、63)と;
前記励起ビーム(64)を前記試料(57)上に集束させる手段(65、66)と;
前記励起ビームを2つのビーム(70、74)に分離する手段(66)と;
透過した光及び非透過の光をそれぞれ検出する手段(68、71)とからなる装置。 - 前記検出する手段が、時間解析検出ユニットからなる請求項20に記載の装置。
- 前記検出する手段が、位相解析検出ユニットからなる請求項20に記載の装置。
- 前記検出する手段が、時間ゲートシステムからなる請求項20に記載の装置。
- 前記装置が、前記強度の空間解析検出を実施する手段を更に備える請求項20から請求項23のいずれか一に記載の装置。
- 前記未確定薬剤試料が、固形試料(67)、特にはタブレット、カプセル、凝集粉末(bulk powder)、同様の薬剤投与形態からなる請求項20から請求項24のいずれか一に記載の装置
- 前記未確定薬剤試料が分散物(dispersion)である請求項20から請求項24のいずれか一に記載の装置。
- 前記励起ビーム(64)が赤外線放射線である請求項20に記載の装置。
- 前記赤外線放射線が近赤外線放射線(NIR)である請求項27に記載の装置。
- 前記放射線が、約700から約1700nm、特には700から1300nmの波長に相当する領域の周波数を有する請求項20に記載の装置。
- 前記励起ビーム(64)が可視光線からなる請求項20から請求項29のいずれか一に記載の装置。
- 前記励起ビーム(64)が紫外線放射線からなる請求項20から請求項30のいずれか一に記載の装置。
- 前記放射線の励起ビーム(64)を発生する手段(62、63)が、1つもしくはそれ以上のダイオードレーザからなる請求項20から請求項31のいずれか一に記載の装置。
- 前記放射線の励起ビーム(64)を発生する手段(62、63)が、強度変調ランプからなる請求項20から請求項31のいずれか一に記載の装置。
- 前記放射線の励起ビーム(64)を発生する手段(62、63)が、強度変調された発光ダイオード(LED)からなる請求項20から請求項31のいずれか一に記載の装置。
- 前記放射線の励起ビーム(64)を発生する手段(62、63)が、ダイオードレーザ(62)のアレイとマルチプレクサ(63)である請求項20に記載の装置。
- 透過した光及び非透過の光を検出する手段(68、71)が光電子倍増管である請求項20に記載の装置。
- 前記透過した光と非透過の光とを検出する手段(68、71)からの信号(69、72)を比較するため位相コンパレータ(73)が配置されている請求項20に記載の装置。
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