KR20030087022A - 새로운 측정 기술 - Google Patents

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KR20030087022A KR10-2003-7012259A KR20037012259A KR20030087022A KR 20030087022 A KR20030087022 A KR 20030087022A KR 20037012259 A KR20037012259 A KR 20037012259A KR 20030087022 A KR20030087022 A KR 20030087022A
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크리스토퍼 아브람슨
스테판 안데르슨-엔겔스
스타판 폴레스태드
조나스 요한슨
서네 스반버그
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아스트라제네카 아베
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Abstract

본 발명은 농도가 짙은 제약 샘플, 즉 태블릿, 캡슐, 또는 약학 분량을 형성하는 유사한 샘플의 정량 분석을 수행하는데 사용되는 장치에 관한 것이다. 제약의, 농도가 짙은 샘플(24, 57, 67)은 방사선의 여기 빔(20, 53, 64), 즉 근적외선으로 조사된다. 샘플(24, 57, 67)로부터 방출된 방사선(30)의 강도는 방출된 방사선의 파장과 상기 샘플(24, 57, 67)을 통한 포톤 전파 시간 모두의 함수로서 검출된다. 선택적으로, 샘플(24, 57, 67)로부터 방출된 방사선(30)의 강도는 또한 공간적 분해적 방법으로 검출될 수 있다.

Description

새로운 측정 기술{NEW MEASURING TECHNIQUE}
NIR(near-infrared) 또는 라만 분광기를 이용하여 전체 태블릿을 비침입적이고 비파괴적으로 분석할 수 있다. 오늘날, NIR 분광학은 화합물을 빠르게 분석하는 것으로 인정된 기술이다. 이러한 기술들의 공통된 특징은, 약학적 태블릿이 비교적 투명한(낮은 몰랄(molar) 흡수도) NIR 파장 영역(700 ∼ 2500㎚, 특히 700 ∼ 1500㎚)의 광을 사용한다는 것이다. 즉, 이러한 영역에서 광은 압축된 분말을 수 ㎜:s 관통할 수 있어, 표면이 아니라 태블릿의 벌크로부터 나오는 내용물의 정보를 얻을 수 있다. NIR을 이용할 경우의 이점은 다이오드 레이저가 사용될 수 있다는 것이다.
이러한 분석의 일례가, Foss NIRsystems Inc.에 양도된, US5,760,399에 개시되어 있다. 이 문헌은 약학적 태블릿의 NIR 분광 투과 측정을 실행하기 위한 장비를 개시한다. 그러나, 이 장비는 샘플의 내용물에 대한 단지 제한된 정보, 일반적으로 샘플 내의 특정 성분량만을 제공할 수 있다. 이러한 종래의 장비는 상세한정보, 예를 들면 샘플 내의 하나 이상의 성분들의 3차원 분포는 제공할 수 없다. 이러한 제한이 기초하는 기술적 배경은 본 발명의 상세한 설명과 함께 더 설명될 것이다.
또한, 종래 기술은 인간 세포의 광학적 이미징을 위한, 특히 인간 세포 내의 종양의 존재와 같은, 동질성의 교란을 검출하기 위한 상당한 양의 방법들을 포함한다. 이러한 방법들은 일반적으로 비동질성의 존재 및 위치를 결정하는 것에 주로 초점을 맞춘다는 점에서 정량적인 측정이 아니라, 정성적인 측정이다. 이러한 종래의 방법들은, 예를 들면 내용물 및 구조적 파라미터를 결정하기 위해, 태블릿 및 캡슐과 같은, 농도가 짙은 제약 샘플에 대해 정량적인 분석을 수행하는데 적합하지 않다.
본 발명은 농도가 짙은 제약 샘플, 예를 들면 테블릿(tablet), 캡슐 - 특히, MUPS(multiple unit pellet system) - 또는 약학 분량(pharmaceutical dose)을 구성하는 유사한 샘플을 분석하기 위한 장치에 관한 것이다.
도 1a는 시간 분해 및 파장 분해적 분석을 수행하기 위한 구성을 도시한 도면.
도 1b는 방출광의 여기 및 수집이 샘플의 조사 측에서만 수행되는 실시예를 도시한 도면.
도 2는 본 발명을 구현하기 위한 기능 소자들을 도시한 도면.
도 3a는 본 발명에 따른 파장 분해 및 시간 분해적 태블릿 투과 측정의 실험적 결과를 도시하는 스트릭 카메라 이미지.
도 3b는 도 3a의 스트릭 카메라 이미지의 3D 플롯.
도 4a는 본 발명에 따른 시간 분해적 태블릿 투과 측정의 실험적 결과를 공간 분해능과 결합하여 도시한 도면.
도 4b는 도 4a의 스트릭 카메라 이미지의 3D 플롯.
도 5는 두개의 다른 태블릿 샘플들에 대한 투과 측정으로부터의 실험적 결과를 도시하는 다이어그램.
도 6은 시간 분해 및 파장 분해적 분석을 수행하기 위한 다른 구성을 도시한도면.
도 7은 시간 분해 및 파장 분해적 분석을 수행하기 위한 또 다른 구성을 도시한 도면.
도 8은 도 7의 구성으로 행해진 측정으로부터의 실험 결과를 도시하는 다이어그램.
발명의 요약
본 발명의 일측면에 따르면, 농도가 짙은 제약 샘플, 특히 약학적 태블릿이나 등가의 약학적 분량을 갖는 캡슐의 정량적인 분석에 사용되는 장치가 제공된다.
본 발명에 따르면, 장치는:
- 방사선(radiation)을 발생하기 위한 수단; 및
- 상기 여기 빔을 상기 샘플에 포커싱하기 위한 수단을 포함한다.
또한, 일실시예에 따르면, 장치는:
- 상기 여기 빔을 강도 변조(intensity modulating)하기 위한 수단; 및
- 모든 파장을 동시에 검출하기 위한 수단을 포함한다.
또한, 다른 실시예에 따르면, 장치는:
- 상기 여기 빔을 2개의 빔들(70, 74)로 분리하기 위한 수단; 및
- 투과 광 및 비투과 광을 각각 검출하기 위한 수단(68, 71)을 포함한다.
본 발명은 다음과 같은 원리에 기초한다. 분광 투과 및/또는 반사 측정에 의해 분석될 샘플은 소위 많은 광학적 특성들을 나타낸다. 이러한 광학적 특성들은 (i) 흡수 계수, (ii) 산란 계수 및 (iii) 산란 이방성들이다. 따라서, 여기 빔의 포톤들이 투과 및/또는 반사 모드로 농도가 짙은 샘플을 통해 전파할 경우 이러한 광학적 특성들에 의해 영향을 받고, 결과적으로 흡수 및 산란된다. 우연히 샘플을 관통하는 본래 직선 경로를 따라 이동하여 임의의 감지할 수 있을 정도의 산란을 겪지 않는 포톤들은 비교적 짧은 시간 지연을 갖고 샘플로부터 빠져나올 것이다. 반사된 광을 측정하는 경우, 조사된 표면 상에서 직접 반사되는 포톤들도 비교적 짧은 시간 지연을 나타낸다. 반대로, 많이 산란된 포톤들(투과 및/또는 반사됨)은 상당한 시간 지연 또는 위상차를 가지고 빠져나올 것이다. 이처럼 방출된 모든 포톤들 - 서로 다른 전파 시간을 나타냄 - 은 샘플에 대한 보완적인 정보를 전달한다.
종래의 정상 상태(시간 분해능이 없음) 측정에서는, 방출된 광이 시간 적분 검출에 의해 캡쳐되기 때문에, 이러한 보완적인 정보의 일부가 함께 가산된다. 따라서, 종래 기술에서는 보완적인 정보가 손실된다. 예를 들면, 샘플 산란 계수가 증가함에 따라 기록된 광 강도는 감소한다. 그러나, 모든 방출된 광이 시간 적분되기 때문에 실질적인 원인에 대한 정보는 감춰진다.
본 발명에 따르면, 시간 적분된 강도 검출을 구비하는 이러한 종래의 NIR 분광학과는 대조적으로, 샘플로부터 방출된 방사선의 강도는 파장의 함수 및 샘플을 통과하는 포톤 전파 시간의 함수로서 측정된다. 따라서, 본 발명에 따른 방법은 파장 분해되고 시간 분해된다고 말할 수 있다. 본 방법은 샘플과의 방사선 상호작용의 동력학에 대한 정보를 제공한다는 점에서 시간 분해적이라는 점이 중요하다. 따라서, 이러한 문맥에서, "시간 분해적(time resolved)"이라는 용어는, "포톤 전파 시간 분해적(photon propagation time resolved)"이라는 것을 의미한다. 즉, 본원에 사용되는 시간 분해능은 샘플 내의 포톤 전파 시간(즉, 소스로부터 검출기까지의 포톤 통과 시간)에 대응하는 시간 스케일이고, 결과적으로, 서로 다른 포톤 전파 시간에 관한 정보가 시간 적분되는 것을 회피할 수 있도록 한다. 예시적인 실시예로서, 포톤에 대한 전파 시간은 0.1 ~ 2㎱ 단위일 것이다. 특히, "시간 분해적"이라는 용어는, "시간 분해능(time resolution)"이 사용되는 소정의 종래 NIR 기술의 경우인 공간적 스캐닝(spatial scanning)을 실행하는데 필수적인 시간 주기와 관련되지 않는다.
종래 기술에서 실행된 바와 같이 방사선을 시간 적분(그 결과 많은 정보를 "감춤")하지 않고, 대신 샘플의 여기로부터의 정보를 시간 분해하는 것과 결합하여 정보를 파장 분해한 결과로서, 본 발명은 내용물, 농도, 구조, 동질성 등과 같은 샘플의 정량분석 파라미터를 결정할 수 있다.
조사된 샘플로부터의 투과된 방사선 및 반사된 방사선 모두는 서로 다른 시간 지연을 갖는 포톤들을 포함한다. 따라서, 시간 분해되고 파장 분해된 검출이투과된 방사선에 대해서만 실행되거나, 반사된 방사선에 대해서만 실행될 뿐만 아니라 투과된 방사선 및 반사된 방사선의 결합에 대해서도 실행될 수 있다.
본 발명에 사용된 방사선의 여기 빔은 적외선, 특히 약 700 내지 약 1700㎚의 파장에 대응하는 범위 내의 NIR을 포함할 수 있으며, 특별히 700 내지 1300㎚을 형성할 수 있다. 그러나, 방사선의 여기 빔은 또한 가시광(400 내지 700㎚) 및 자외선을 포함할 수 있다. 이와 관련하여, "여기(excitation)"라는 용어는 "조명(illumination)", 즉 샘플의 화학적 여기가 필수적이지 않는 것으로 해석되어야 한다.
바람직하게는, 강도를 포톤 전파 시간의 함수로서 측정하는 단계는 샘플의 여기와 시간적으로 동기되어 실행된다. 바람직한 제1 실시예에서, 이러한 시간 동기는, 각 여기 펄스가 강도 측정을 개시하는 짧은 여기 펄스들의 펄스 트레인(pulse train)을 나타내는, 펄스 여기 빔을 이용하여 구현된다. 이 때문에, 펄스 레이저 시스템 또는 레이저 다이오드가 사용될 수 있다. 이러한 기술은, 후속 여기 펄스까지의 시간 주기 동안, 주어진 각 여기 펄스에 대한 방출 강도(투과 및/또는 반사됨)의 포톤 전파 시간 분해적 측정을 실행할 수 있도록 한다.
2개의 연속하는 펄스들에 관련된 강도 측정들 사이에서 원하지 않는 임의의 간섭을 회피하기 위해, 상기 여기 펄스들은 샘플 내의 포톤 전파 시간에 관련하여 충분히 짧은, 바람직하게는, 포톤 전파 시간보다 훨씬 짧은 펄스 길이를 가져야 한다.
요약하면, 본 발명의 본 실시예에서는, 주어진 여기 펄스와 연관되는 방출된방사선의 강도 검출은 상기 펄스와 시간 동기되고 하나의 펄스로부터의 방출광의 검출은 다음 펄스 이전에 완료된다.
데이터 평가는 서로 다른 방식으로 행해질 수 있다. 구성(set-up)의 광학적 기하학 및 경계 조건을 규정함으로써, 샘플의 광학적 특성을 산출하고 간접적으로 내용물 및 구조적 파라미터들을 산출하기 위해 몬테칼로 시뮬레이션과 같은 반복적 방법이 사용될 수 있다. 선택적으로, 그러한 파라미터들의 직접 여기에 대해 다변량 보정이 사용될 수 있다. 다변량 보정에서, 측정된 데이터는, 약학적 물질의 내용물 또는 구조과 같은 관심있는 분석 파라미터에 대해 경험적 수학 관계를 확립하는데 사용될 수 있다. 새로운 측정이 수행될 경우, 미지의 샘플의 분석 파라미터들을 예측하기 위해 모델이 사용될 수 있다.
선택적 실시예에서, 방사선 소스는 시간 상으로 강도 변조된다. 그 후, 샘플로부터의 방출된 방사선의 위상 이동 및/또는 변조 깊이를 결정하기 위하여 주파수 도메인 분광학이 사용될 수 있다. 따라서, 방출된 샘플 방사선의 위상 및/또는 변조 깊이는 여기 방사선의 것들과 비교된다. 샘플 내의 방사선의 시간 지연에 대한 정보를 추출하는데 이 정보가 사용될 수 있다. 더우기, 방출된 방사선은 다수의 파장들에 대해 측정되어 스펙트럼 정보를 얻을 수 있다. 상술한 주파수 도메인 분광학은 또한, 샘플과의 포톤 상호작용의 동력학에 대한 정보를 제공하기 때문에, 본 발명에 따른 "시간-분해적" 기술이라는 점에 주의하라. 상기와 같이 유사한 수학적 절차들을 사용하면, 동일한 정량적 분석 정보가 추출될 수 있다.
제1 실시예에 따른 펄스 여기 빔, 및 제2 실시예에 따른 강도 변조된 여기빔은, 샘플로부터의 방출된 방사선의 검출을 개시, 즉 시간 분해된 검출을 샘플의 여기와 시간 동기하는데 사용될 수 있는 특정 "여기 시간 포인트(excitation time point)"를 - 상기 여기 빔 내에서 - 식별할 수 있게 하는 공통된 특징을 공유한다. 이는, 적당한 시간 제어 회로를 통해 검출 유닛을 트리거하도록, 펄스화된 또는 변조된 빔이, 광검출기 또는 그 등가물을 트리거하게 함으로써 실행될 수 있다.
시간 검출은 스트릭 카메라(streak camera)와 같은, 시간 분해적 검출기를 사용함으로써 구현될 수 있다. 또한, 방출된 방사선의 검출이 전체 시간 대신 한정된 개수의 매우 짧은 시간 슬라이스들 동안에 실행되는 시간 게이트된 시스템(time-gated system)를 사용함으로써 실행될 수 있다. 이러한 시간 슬라이스 각각의 시간 길이는, 시간 분해적 검출이 각 여기에 대해 실행되는 검출 시간 주기의 단지 일부이다. 이러한 몇몇의 "시간 슬라이스들(time slices)"을 측정함으로써, 대강의 시간 분해능이 얻어진다. 2개의 이러한 시간 게이트들에서의 파장 분해된 스펙트럼, 프롬프트 광(prompt light) 및 지연된 광을 측정하는 것이 매력적인 대안이 될 수 있다. 또한, 시간 분해된 데이터는 다른 시간 분해된 장비, 과도적 디지타이저(transient digitizers) 또는 등가물에 의해 기록될 수 있다.
추가 실시예에서는, 푸리에 변형 검출기(Fourier transform detector)가 사용되어, 미러가 앞뒤로 주사되어 인터페로그램(interferogram)을 생성한다. 인터페로그램은 모든 파장에서 샘플을 통과하는 광에 대한 정보를 가질 것이다. 인터페로그램이 사용되기 때문에, 모든 파장들은 동시에 관찰될 수 있다. 그 결과는 투과 광의 스펙트럼이 될 것이다. 광원은 고주파수(㎒ ~ ㎓)에서 변조 드라이버로강도 변조된다. 검출된 신호 및 변조 드라이버의 위상 및 변조 깊이가 비교되고 출력 신호들로서 사용된다. 이들은 샘플을 통과하는 포톤 전파의 시간 거동에 관한 정보를 제공할 것이다. 푸리에 분광기의 이동하는 미러의 주사 속도가 광 변조 주파수보다 훨씬 느릴 경우, 위상 차이 및 변조 깊이에 대한 값이 이동하는 미러의 각 위치에 대해 얻어질 것이다. 따라서, 위상 차이 및 변조 깊이는, 주파수 도메인에서의 주사가 아니라 푸리에 공간에서의 주사에 의해 측정된다. 내용물 또는 입자 크기와 같은, 물리적으로 연관된 파라미터들에 관한 정보는 디컨볼루션(deconvolution) 기술 및 케모메트릭(chemometric) 모델에 의해 추출될 수 있다. 보다 정확한 분석을 위해 다수의 변조 기술이 사용될 수 있다.
또 다른 실시예에서, 강도 변조된 광이 샘플에 주사된다. 투과되거나 확산적으로 반사된 광이 고속 검출기에 의해 검출되고, 제2 검출기는 샘플에 조사되기 전의 광을 검출한다. 두 검출기로부터의 신호들은 위상 차와 변조 깊이에 대하여 비교된다. 이 두값들은 각 파장에 대해 순차적으로 등록되고, 이 값들로부터 예를 들어 내용물에 대한 정보를 디컨볼루션(deconvolution) 기술 및 케모메트릭(chemometric) 모델을 이용하여 추출할 수 있다.
파장 분해 검출은 다양한 종래의 방법으로 구현될 수 있다. 이것은 마이크로 채널 플레이트 또는 스트릭 카메라 등의 멀티채널 검출기를 이용하여 구현될 수 있다.
이것은 (ⅰ)분광기(spectrometer), (ⅱ) 파장 의존형 빔 분할기, (ⅲ)각각의 성분을 필터링하여 다양한 파장 또는 파장 대역의 조사를 제공하기 위해 복수의 필터들과 결합된 비파장 의존형(non-wavelength dependent) 빔 분할기, (ⅳ) 복수의 필터와 결합하여 방출된 방사선을 샘플로부터 복수의 성분으로 분리하기 위한 프리즘 어레이 또는 렌즈 시스템 등의 광 분산 시스템으로 구성하여 이용할 수 있다.
본 발명의 상기 및 다른 특징과 이점들은 특허청구범위에서 정의되며, 바람직한 실시예를 도시하는 첨부 도면을 참조하여 이하에서 더욱 상세히 설명된다.
이제 도 1a를 참조하여 보면, 본 발명에 따른 시간 분해적 분석을 수행하기 위한 제1 실시예에 따른 장치는, 아르곤 레이저(12)에 의해 펌핑되는 티타늄:사파이어 레이저(10)를 포함한다. 이렇게 생성된 레이저 빔(14)은 네오디뮴 YAG 증폭기 스테이지(16)에서 증폭된 레이저빔(18)으로 증폭된다. "백" 색의 여기 빔(20)을 발생시키기 위하여, 레이저 빔(18)은 미러 M1과 제1 렌즈 시스템 L1을 지나 물이 채워진 반응컵(water filled cuvette)(22)을 통과한다.
분석될 샘플은 참조 번호 24로 개략적으로 도시되어 있으며 전면(front surface:26)과 후면(back surface:28)을 포함한다. 샘플(24)은 일시적으로 샘플 포지셔닝 유닛(도시되지 않음)에 고정되어 있다. 여기 레이저 빔(20)은 렌즈 시스템 L2/L3 및 미러 M2-M4를 통해 샘플의 전면에 포커싱된다. 샘플(24)의 반대측에서, 투과된 레이저 빔(30)이 렌즈 시스템 L4/L5에 의해 후측으로부터 모아져서 분광기(32)로 포커싱된다. 도시된 구성에서, 샘플(24)은 예를 들어, 9mm 직경을 갖는 약학의 고체 태블릿일 수 있다. 여기 빔(20)은 약 1mm의 스폿으로 포커싱될 수 있다. 다른 실시예에서, 여기 빔은 전체 샘플 상에 포커싱되거나, 샘플 상에서 스캐닝될 수 있다.
다른 실시예에서, 본 장치는 예를 들어 층(bed)의 내용물의 선택된 부분을 원격 샘플링하기 위한 유동층(fluidised bed)에 부착되어 있다.
도 1a에 개략적으로 도시된 바와 같이, 본 실시예의 여기 빔(20)은 짧고 반복적인 여기 펄스 P의 펄스 열로 시간적 펄스화된다. 소정의 한 여기 펄스 Pn으로부터의 검출광과 그 다음 여기 펄스 Pn+1로부터의 검출광 사이의 임의의 간섭을 피할 수 있도록, 각 여기 펄스 P의 펄스 길이는 충분히 짧으며, 두 연속 여기 펄스들 P 사이의 시간 간격은 빔의 전이 시간에 대해(즉, 각 펄스가 시간 안에 완전하게 측정될 수 있는 시간과 관련) 충분히 길다. 이에 따라, 하나의 여기 펄스 P로부터의 방사선에 대한 시간 분해적 측정을 한번에 수행하는 것이 가능하다.
분광기(32)로부터, 검출된 광빔(33)이 렌즈 시스템 L6/L7을 통하여 시간 분해적 검출 유닛으로 패스되며, 본 실시예에서는 이 시간 분해적 검출 유닛은 스트릭 카메라(34)로 구현된다. 도 1a에 따른 실험적 구성에서 사용된 스트릭 카메라(34)는 하마무츠(Hamamutsu) 스트릭 카메라 모델 C5680이었다. 특히, 스트릭 카메라(34)는 분광기로부터 검출된 광빔(33)이 포커싱되는 입구 슬릿(도시되지 않음)을 갖는다. 유의해야 할 점은, 샘플로부터 방출된 광의 회절부만이 실제적으로 분광기(32) 및 그결과 검출 유닛(34)에 모아진다는 것이다. 분광기(32)를 통과한 결과, 샘플(24)로부터 방출된 방사선(30)은 공간에서 스펙트럼 분할되어, 스트릭 카메라(34)가 수신한 방사선은 입구 슬릿에 따른 파장 분포를 나타낸다.
슬릿에서의 입사 포톤은 스트릭 카메라에 의해 광전자로 변환되어, 편향판(도시되지 않음)의 쌍 사이의 경로에서 가속된다. 이에 따라, 광전자들은 카메라 내부의 마이크로채널 플레이트 상의 축을 따라 지나가서, 입사 포톤의 시간 축이 상기 마이크로채널 플레이트의 공간축으로 변환되게 한다. 그 결과, 포톤이 스트릭 카메라에 도달한 시간과 강도가 스트릭 이미지의 위치 및 광도에 의해 결정될 수 있다. 파장 분해능은 다른 축을 따라 얻어진다. 광전자 이미지는, 스트릭 카메라(34)와 광학적으로 결합되어 있는 CCD 장치(36)에 의해 판독된다. CCD 장치(36)에 의해 수집된 데이타는 컴퓨터와 모니터로서 개략적으로 도시된 분석 유닛(38)에 결합된다.
도 1a의 구성에서, 방출 광의 강도는 샘플의 각 여기와 함께 시간의 함수로서 시간 동기적으로 측정된다. 이것은 스트릭 카메라(34) 및 이와 관련된 CCD 장치(36)를 포함하는 검출 유닛이 반복적 여기 펄스 P와 시간 동기된다는 것을 의미한다. 이 시간 동기화는 다음에 의해 달성된다: 레이저 빔(14)의 각 여기 펄스 P는 광학 소자(40)를 통해 광검출기(42) 또는 그 등가물을 트리거한다. 광검출기(42)로부터의 출력 신호(43)는 지연 발생기(44)를 통해 트리그 유닛(46)으로 패스되며, 스트릭 카메라(34)로 트리그 펄스를 제공한다. 이 방식으로, 스트릭 카메라의 광 검출 동작이 각 여기 펄스 P의 생성 후에 정확히 소정의 포인트에서 시간 내에 활성 및 비활성된다.
상술한 바와 같이, 수집되고 시간 분해된 정보의 평가 및 분석은 다양한 방법으로 행해질 수 있다. 도 1a에서 개략적으로 도시한 바와 같이, 각 여기로부터수집된 데이타 정보는, 정보를 평가하기 위해 스트릭 카메라(34) 및 CCD 장치(36)로부터 컴퓨터(38)로 전송된다. 본 출원의 도입부에서 언급되었던 바와 같이, 샘플의 광학적 특성 및, 간접적으로는 샘플(24)의 내용 및 구조적 파라미터들을 계산하기 위해 몬테 칼로(Monte Carlo) 시뮬레이션, 다변량 보정(multivariate calibration) 등이 이용될 수 있다.
도 1b에 도시된 실시예에서, 시간 분해적 방식으로 검출되는 것은 투과된 방사선-빔(30)-이다. 그러나, 본 발명은 샘플로부터 반사된 방사선을 검출함으로써 구현될 수도 있다. 도 1b는, 도 1a의 여기 빔(20)에 대응하는 여기 빔(20')이 렌즈 L3'을 통해 샘플(24)의 전면(26)에 포커싱되는 방법을 개략적으로 도시한다. 각 여기 펄스의 포톤은, 다소 시간 지연을 갖고 확산적으로 후방 산란된(backscattered) 포톤 뿐만 아니라 전면으로부터 직접적으로 반사된 포톤으로써 모두 반영될 것이다. 이러한 직접적으로 반사된 방사선은 확산적으로 후방산란된 방사선과 함께, 렌즈 L4'에 의해 도 1a의 검출 빔(30)에 대응하는 검출 빔(30')으로 수집된다.
상술한 바와 같이, 도 1a 및 도 1b에 도시된 실시예들을 단일의 실시예에 결합하는 것도 가능하며, 이때 본 발명에 따라, 투과되고 후방 산란된 광은 모두 시간 분해 및 파장 분해적 방식으로 검지되고 분석된다.
도 2는 본 발명의 방법을 구현하기 위한 실시예의 주요 기능 구성 요소들을 개략적으로 개시하며, 방사선 발생 유닛(100)(도 1a의 구성 요소(10, 12 및 16)), 샘플 포지셔닝 유닛(102), 하나 이상의 파장 분산/선택 소자(104)(도 1a의 구성 요소(32)), 하나 이상의 검출기 유닛(106)(도 1a의 구성부(34, 36)) 및 분석 유닛(108)(도 1a의 구성 요소(38))을 포함한다.
파장 분산 소자로서 작용하는 분광기와 결합하여 백색 레이저광을 발생하는 물이 채워진 반응컵(22)은 파장 분해되고 시간 분해된 데이타를 수집하는 것을 가능하게 한다. 도 3a 및 도 3b는 이러한 검출의 실험적 결과를 도시한다. 유의해야 할 것은, 이 도면들을 작성하기 위해 이용된 실제적인 데이타가 다수회 판독된 축적 데이타들에 기초하고 있음에도 불구하고, 두 도면 도 3a 및 3b에서의 시간 스케일이 오직 한 펄스에 대한 시간 경과의 강도 변화를 도시하고 있다는 점이다. 도 3a 및 3b의 시간 축은 나노초(nano second) 스케일이다.
도 3a는 시간-파장 다이어그램으로 붙여진 스트릭 카메라 이미지를 도시하며, 광 부분은 고강도 값에 대응한다. 이미지의 왼쪽 부분은 다소 짧은 시간 지연을 갖는 검출 포톤에 대응하는 한편, 이미지의 오른쪽 부분은 비교적 긴 지연 시간을 갖는 포톤에 대응한다.
도 3b의 3D 플롯은 도 3a의 이미지에 대응한다. 이 3D 플롯은, 본 발명에 따른 시간 분해적 분광학에 의해 파장 및 포톤 전파 시간 양측에 대한 함수로서 강도의 측정치가 얻어지는 방법을 명확하게 도시한다. 이 3D 플롯은 본 발명에 의해 얻어진 전체 정보 내용이 종래의 시간 적분 검출로 얻어질 수 있는 정보보다 현저하게 많음을 명확하게 도시한다.
도 3b에서, 각 파장에 대해(예를 들어 도 3b에 식별된 파장 λ1 및 λ2에 대해), 다수의 시간적으로 이격된 강도의 판독이 있다. 따라서, 각 파장에 대해 방출(투과 및/또는 반사) 강도 대 전파 시간의 전체 곡선을 얻을 수 있다. 도 3b에 도시된 이러한 "시간 프로파일"의 형태는 분석된 샘플의 광학적 특성들 간의 관계에 의존한다. 이러한 시간 분해 및 파장 분해 분광학을 이용하여, 샘플과의 광 상호작용을 설명하기 위해 정보를 획득하는 것이 가능하다. 예로써, 이것은 산란에는 관계되지 않지만 흡수 계수에 비례하는 샘플의 분석 농도를 결정하기 위한 기반을 제공한다. 다른 예로써, 그 대신에 샘플의 산란 특성에 상관하는 분석량을 측정하기를 원할수도 있다.
도 3b의 점선 t1 및 t2로 도시한 바와 같이, 고정된 시간 슬라이스 동안의 강도를 검출함으로써 방출광을 평가하는 것 또한 가능하다. 이것은 더욱 대강의 시간 분해능을 제공한다. 일 실시예에 있어서, 파장 분해적 스펙트라는 오직 두번의 시간 게이트에서만 - 하나는 "프롬프트(prompt)" 광에 대해서이고 하나는 "지연된(delayed)" 광에 대해서임 - 측정된다.
도 5의 강도-시간 다이어그램은 두개의 상이한 태블릿에 대한 측정으로부터의, 2개의 실험적인 시간 분해적 결과들을 도시한다. 차이가 실질적인 적절한 시간 게이트를 선택함으로써, 서로 다른 태블릿을 용이하게 구별할 수 있다.
도 1a 및 1b에 도시된 구성에 대한 대안으로써, 분광기(32)와 결합한 물 반응컵(20)을 이용하는 것 대신에, 다이오드 레이저와 같은 파장 선택적 광원을 사용하는 것도 가능하다. 검출기 측에서, 필터 및 검출기 다이오드들과 결합한 파장 선택적 검출기들이 각 파장에 대해 이용될 수 있다.
샘플로부터의 방출광에 대한 공간 분해적 강도 검출과 본 발명을 결합하는것도 가능하다. 이 맥락에서, 용어 "공간 분해적(spatial resolved)"은 각 여기 펄스에 대해 획득된 공간 분해능을 지칭한다. 특히, "공간 분해적"은 샘플과 관련하여 여기 빔의 때에 맞는 스캐닝에 기초한 공간 분해능을 지칭하는 것은 아니다. 도시된 예로써, 도 1a의 구성에서의 물 반응컵(22)과 분광기(32)를 제거함으로써, 스트릭 카메라의 입구 슬릿 상에 포커싱된 광은 슬릿을 따라 샘플에 대한 "슬릿"에 대응하여 공간 분해된다. 이러한 구성에 의해 획득된 스트릭 카메라 이미지는 도 4a에 도시되고, 대응하는 3D 플롯은 도 4b에 도시되어 있다. 상술한 도 3a 및 3b에 따라, 도 4a 및 4b는 오직 하나의 펄스만을 나타낸다; 즉, 도시된 공간 분해능은 샘플에 대한 여기 빔의 임의의 스캐닝에 대응하지는 않는다.
또 다른 설정이 도 6에 도시된다. 변조 드라이버(50)는 광원(52)을 강도 변조(51)한다. 광원은 고주파(MHz-GHz)로 강도 변조된다. 광원(52), 바람직하게는 LED(light emitting diode)는 넓은 범위의 파장의 여기 빔(53)을 방출한다. 여기 빔(53)은 빔 분할기(54)에 도달하며, 여기서 여기 빔(53)이 분할된다. 여기 빔(53)의 한 부분은 미러(56) 쪽으로 계속되며 여기서 빔 분할기(54)로 다시 반사된다. 여기 빔(53)의 다른 부분은 이동 미러(55) 쪽으로 계속되고 여기서 빔 분할기(54)로 다시 반사된다. 분할된 여기 빔(53)의 두 부분은 빔 분할기(54)에서 다시 모아지고 여기서 샘플(57) 쪽으로 계속된다. 따라서 샘플(57)이 조사되고 검출기(58)에 의해 투과광이 검출된다. 이동 미러(55)를 앞뒤로 스캐닝함으로써, 인터페로그램(interferogram)이 생성된다. 이 인터페로그램은 모든 파장에서 샘플을 통해 투과한 광에 대한 정보를 담고 있다. 인터페로그램을 이용함으로써, 모든 파장이 동시에 모니터되고 그 결과가 투과광 강도의 스페트럼으로 된다. 변조 드라이버(50)로부터의 신호(60)는 위상 비교기(61)에 의해 검출기(58)로부터의 신호(59)와 비교된다. 비교기(61)에서의 비교로부터 디컨벌루션 기술과 케모메트릭 모델(chemometric model)로 정보가 추출될 수 있다.
본 발명의 또 다른 설정은 도 7에 도시된다. 이 실시예에서 강도 변조된 광을 생성하는 광원은 다이오드 레이저(62)의 어레이로 구성된다. 다이오드 레이저(62)의 어레이는 넓은 범위의 파장에 걸쳐 있고, 멀티플렉서(63)는 어레이의 각종 다이오드 레이저(62)를 스캔하는데 사용된다, 즉 멀티플렉서(63)는 다른 파장에 걸쳐 스캔을 수행한다. 생성된 여기 빔은, 빔 분할기(66)에 도달하고 여기서 여기 빔(64)이 2개의 빔(70 및 74)으로 분할될 때까지, 하나의 미러(65)를 갖고 있는 도 7에 도시된 미러의 세트를 통해 이동한다. 하나의 빔(74)은 샘플(67)을 조사하고 투과광은 광전자 증배기(68)에 의해 검출된다. 다른 빔(70)은 샘플(67)을 조사하지 않고 광전자 증배기(71)로 직진한다. 입사하는 빔 때문에 광전자 증배기(68 및 71)에 의해 생성된 2개의 신호(69 및 72)는 위상 비교기(73)에서 비교된다. 이들 2개의 신호(69 및 72)는 멀티플렉서(63)에 의해 다이오드 레이저 어레이(62)의 스캐닝에 따라 순서대로 각 파장에 대해 기록된다. 도 8의 다이어그램은 여기 사인 곡선(excitation sinus curve)이 도 7의 광전자 증배기(71)에 의해 검출된 빔(70), 즉 샘플(67)에 의해 영향을 받지 않은 빔에 대응하는 2개의 신호(69 및 72)의 예를 나타낸다. 빔(74)은, 샘플을 조사한 후의, 도 8의 검출 사인 곡선이다. 샘플의 물리적인 파라미터에 대한 정보는 2개의 사인 형상을 비교함으로써 도 8에 도시된 다이어그램의 타입으로부터 추출될 수 있다.
상기 실시예들 중 어느 하나에서 측정은 리모트 샘플링에 의해 수행될 수 있다, 즉 샘플은 특정 수단에 배치될 필요가 없다. 따라서, 장치들은 특별히 선택된 샘플들, 즉 태블릿 또는 캡슐 뿐만 아니라 농도가 짙은 제약 샘플 플로우의 내용물들을 측정하도록 배치될 수 있다.
상기한 것은 본 발명을 구현하기 위한 바람직한 실시예들의 개시물이다. 그러나, 수정 및 변경을 포함하는 디바이스가 당업자들에게 명백하다는 것은 자명하다. 상기 개시물은 당업자들이 본 발명을 구현할 수 있도록 의도되는 한, 제한되도록 구성되지 않아야 하지만, 그 정신 및 범위 내에서 이러한 수정 및 변경을 포함하도록 구성되어야 한다.
본 발명에 따르면, 농도가 짙은 제약 샘플, 특히 약학적 태블릿이나 등가의 약학적 분량을 갖는 캡슐의 정량적인 분석에 사용되는 장치가 제공된다.

Claims (37)

  1. 농도가 짙은 제약(turbid pharmaceutical) 샘플(57)의 정량 분석에 사용되는 장치에 있어서,
    방사선(radiation)의 여기 빔(excitation beam:53)을 발생하는 수단(52);
    상기 여기 빔(53)을 강도 변조(intensity modulating)하는 수단(50);
    상기 여기 빔(53)을 상기 샘플(57) 상에 포커싱(focusing)하는 수단(54, 55, 56); 및
    모든 파장을 동시에 검출하는 수단(58)
    을 포함하는 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 검출 수단은 시간 분해적(time-resolved) 검출 유닛(58)을 포함하는 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 검출 수단은 위상 분해적(phase-resolved) 검출 유닛을 포함하는 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 검출 수단은 시간 게이트된 시스템을 포함하는 장치.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 강도의 공간 분해적(spatial-resolved) 검출을 수행하는 수단을 더 포함하는 장치.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제약의, 농도가 짙은 샘플은 고체 샘플(57), 특히 태블릿, 캡슐, 벌크 분말(bulk powder) 또는 등가의 약학 분량(equivalent pharmaceutical dose)인 장치.
  7. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제약의, 농도가 짙은 샘플은 분산(dispersion)인 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 여기 빔(53)은 적외선(infrared radiation)을 포함하는 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 적외선은 NIR(near infrared radiation)인 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 방사선은 약 700 내지 약 1700 nm, 특히 700 내지 1300nm의 파장에 대응하는 영역의 주파수를 갖는 장치.
  11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 여기 빔(53)은 가시광을 포함하는 장치.
  12. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 여기 빔(53)은 자외선(UV radiation)을 포함하는 장치.
  13. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서,
    방사선의 여기 빔(53)을 발생하는 상기 수단(52)은 하나 이상의 다이오드 레이저를 포함하는 장치.
  14. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서,
    방사선의 여기 빔(53)을 발생하는 상기 수단(52)은 강도 변조된 램프를 포함하는 장치.
  15. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서,
    방사선의 여기 빔(53)을 발생하는 상기 수단(52)은 강도 변조된 LED를 포함하는 장치.
  16. 제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 여기 빔(53)을 강도 변조하는 상기 수단(50)은 변조 드라이버(50)인 장치.
  17. 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 수단(54, 55, 56)은 푸리에 분광계(Fourier spectrometer)의 일부인 장치.
  18. 제1항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,
    위상 비교기(61)는 상기 변조 드라이버(50) 및 상기 검출기(58)로부터의 신호들을 비교하도록 구성되는 장치.
  19. 제1항 내지 제18항 중 어느 한 항에 있어서,
    농도가 짙은 제약 샘플(57)을 위치시키는 수단을 포함하는 장치.
  20. 농도가 짙은 제약 샘플(67)의 정량 분석에 사용되는 장치에 있어서,
    방사선의 여기 빔(64)을 발생하는 수단(62, 63);
    상기 여기 빔(64)을 상기 샘플(57) 상에 포커싱하는 수단(65, 66);
    상기 여기 빔을 2개의 빔(70, 74)으로 분리하는 수단(66); 및
    투과광 및 비투과광을 각각 검출하는 수단(68, 71)
    을 포함하는 장치.
  21. 제20항에 있어서,
    상기 검출 수단은 시간 분해적(time-resolved) 검출 유닛을 포함하는 장치.
  22. 제20항에 있어서,
    상기 검출 수단은 위상 분해적(phase-resolved) 검출 유닛을 포함하는 장치.
  23. 제20항에 있어서,
    상기 검출 수단은 시간 게이트된 시스템을 포함하는 장치.
  24. 제20항 내지 제23항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 강도의 공간 분해적(spatial-resolved) 검출을 수행하는 수단을 더 포함하는 장치.
  25. 제20항 내지 제24항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제약의, 농도가 짙은 샘플은 고체 샘플(67), 특히 태블릿, 캡슐, 벌크 분말(bulk powder) 또는 등가의 약학 분량(equivalent pharmaceutical dose)인 장치.
  26. 제20항 내지 제24항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제약의, 농도가 짙은 샘플은 분산(dispersion)인 장치.
  27. 제20항에 있어서,
    상기 여기 빔(64)은 적외선을 포함하는 장치.
  28. 제27항에 있어서,
    상기 적외선은 NIR(near infrared radiation)인 장치.
  29. 제20항에 있어서,
    상기 방사선은 약 700 내지 약 1700 nm, 특히 700 내지 1300nm의 파장에 대응하는 영역의 주파수를 갖는 장치.
  30. 제20항 내지 제29항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 여기 빔(64)은 가시광을 포함하는 장치.
  31. 제20항 내지 제30항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 여기 빔(64)은 자외선을 포함하는 장치
  32. 제20항 내지 제31항 중 어느 한 항에 있어서,
    방사선의 여기 빔(64)을 발생하는 상기 수단(62, 63)은 하나 이상의 다이오드 레이저를 포함하는 장치.
  33. 제20항 내지 제31항 중 어느 한 항에 있어서,
    방사선의 여기 빔(64)을 발생하는 상기 수단(62, 63)은 강도 변조된 램프를 포함하는 장치.
  34. 제20항 내지 제31항 중 어느 한 항에 있어서,
    방사선의 여기 빔(64)을 발생하는 상기 수단(62, 63)은 강도 변조된 LED를 포함하는 장치.
  35. 제20항에 있어서,
    방사선의 여기 빔(64)을 발생하는 상기 수단(62,63)은 다이오드 레이저(62)의 어레이와 멀티플렉서(63)인 장치.
  36. 제20항에 있어서,
    투과광 및 비투과광을 검출하는 상기 수단(68, 71)은 광전자 증배기인 장치.
  37. 제20항에 있어서,
    위상 비교기(73)는 투과광과 비투과광을 검출하는 상기 수단(68, 71)으로부터의 신호들(69,72)을 비교하도록 구성되는 장치.
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