JP2004511918A - 太陽電池をテストする装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 20
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 36
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims abstract description 19
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 18
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 5
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 235000005811 Viola adunca Nutrition 0.000 claims 1
- 240000009038 Viola odorata Species 0.000 claims 1
- 235000013487 Viola odorata Nutrition 0.000 claims 1
- 235000002254 Viola papilionacea Nutrition 0.000 claims 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000000275 quality assurance Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21S—NON-PORTABLE LIGHTING DEVICES; SYSTEMS THEREOF; VEHICLE LIGHTING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR VEHICLE EXTERIORS
- F21S8/00—Lighting devices intended for fixed installation
- F21S8/006—Solar simulators, e.g. for testing photovoltaic panels
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
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Abstract
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、上記請求項1で特徴を述べた、一般的なタイプの装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般的に統合モジュラーユニットを有し、光シミュレータとも呼ばれるこのタイプの既知の装置は、少なくとも1つのランプ、制御可能なエネルギー供給ユニット、冷却ユニット、光学フィルタユニット、及び光度を監視するための検出ユニットなどを含む。このランプには、金属ハライド蒸気又はキセノンガス又はこれらの混合物が充填されており、このランプは、連続発光体として用いられている。追加フィルタと組み合わせて、複数のランプが用いられることも多い。これらのモジュラーユニットは、連続光シミュレータ(US 7394993、JP 57179674、US 5217285)とも呼ばれる。このような装置は、例えば、開発研究所における又は生産工場での品質保証における太陽電池測定に用いられる。
【0003】
フラッシュ時間エネルギーが調整可能な1つ又は複数のキセノンフラッシュランプを用いる他の装置も、さらに知られている。一般的にフラッシャー又はパルス光シミュレータ(JP 11317535、US 3950862、JP 3154840)と呼ばれるこれらの装置は、生産工程における太陽電池測定に用いられる。
【0004】
コンパクトな設計にも関わらず、説明又は言及したこれらの装置は、ガス放電ランプを用いるため、又は、短くて高いパルスエネルギーを供給するため、大きな空間を必要とし、高いエネルギーを要求する。
【0005】
太陽電池の準連続生産工程における使用に関し、高い放射エネルギーで作動するこの連続光シミュレータ又はパルス光シミュレータの平均作動時間は、発生した放射のスペクトル範囲が依然として要求範囲内であるという条件で、例えば3秒サイクルで、それぞれ750時間、9時間である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
従って、本発明の目的は、上述した一般的なタイプの装置を、太陽電池製造における品質監視に用いるのに特に適するように、且つ構造的に単純な方式で生産することができるように、且つコンパクトで省エネルギー型となるように設計することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明に従って、光源が、測定する太陽電池の好適なスペクトル感度範囲内で実質的に単色の放射を発するマトリックスの固体光源であり、この光源を作動させる手段が電流調整器を有する場合、上記の目的は達成される。
【0008】
本発明による装置の利点は、光シミュレータにおいて用いられる高光度のガス放電を行う一般的に個別の放射源が、低光度ではあるが高効率である多数の物理的に同一の固体放射源によって置き換えられる点である。これにより、空間及びエネルギーの必要量を大きく減少させることが可能であり、寿命が著しく延びる。太陽電池の生産監視又は機能テストにおいて、太陽スペクトルを所望どおりにシミュレートすることは絶対不可欠なことではない、ということがわかった。このようなテストは、固体放射源によってもたらされる限定されたスペクトルを用いて行ってもよい。さらに、固体光源は、そのスペクトル分布を、電力の変動によって変化させない(例えば、薄暗くなったりしない)。
【0009】
Si太陽電池のテストに対し、この装置は、好適には、880nmの領域において放射を発する固体光源を有する。このマトリックス光源は、好適には、25℃において1200W/m2の特定放射パワーを出力するように設計されている。これらの条件が、現在使用されている太陽電池テスト装置に基本的に用いられることによって、この市場区分を本発明でカバーすることができる。用いられる固体光源の上記のスペクトル感度は、その設計の理由により、シリコンセルに対してのみ最適であると考えられる。薄膜若しくは薄層のセル、又はその他の光起電的に用いられる化合物半導体のテストにおいては、他の光スペクトルが必要とされることもある。従って、他の特定スペクトル光感度を有する固体光源が、今日知られている他の技術から得られた太陽電池に対して用いられる。
【0010】
さらに、25℃において1200W/m2の特定放射パワーをマトリックス光源が出力することにより、700nmの領域における放射を有するCdTe太陽電池、又は600nmの領域における放射を有するCIS太陽電池も、この装置を用いてテストすることができる。他のタイプの太陽電池をテストすることも、同様に可能である。
【0011】
好適な実施形態において、マトリックス光源は、10×10cmの太陽電池をテストするために、少なくとも400個の固体光源を有する。この数の固体光源があることにより、太陽電池をテストするのに必要な電力が供給される。
【0012】
好適な実施形態において、固体光源は、レンズ状の放射オリフィスを有するLEDであり、4.3mm±10%間隔であるそのマトリックス状構造は、ほぼ均質な放射領域を形成する。ここでの利点は、照射領域が均一な点であって、これにより、均一な光フィールドが生成される。
【0013】
光源から出力された光パワーを制御する手段は、コンピュータ制御評価ユニットに一体化されるのが好ましい。好適な実施形態において、この出力された光パワーを制御する手段は、基準光源フィードバックネットワークを有するコンピュータ制御電源を含む。これにより、マトリックス光源の老朽現象及び/又は温度偏差が補償される。
【0014】
好適な実施形態において、マトリックス光源は、モジュール式であり、モジュールの追加により拡張することができる。
【0015】
マトリックス光源はXYマトリックスの形態であり、固体光源の電流は個々に制御可能であるのが好ましい。所望のスペクトル分布をもたらすために、このマトリックス光源は、異なるスペクトル光を発する固体光源のグループから構成されていてもよく、このグループを適切に作動させることにより、所望の混合スペクトルを生成することが可能である。このように、異なるスペクトル感度を有するLEDを用いることによって、組み合わされた混合光を生成することができる。また、適切な作業により、全体としてAM(振幅変調)1.5のスペクトルを生成することもできる。しかし、これは、単なるテスト目的には必要でないことがわかった。
【0016】
また、この正方形のマトリックス光源は、長方形又は曲線形(特に円形)をしたものに置き換えることも可能である。
【0017】
【発明の実施の形態】
本発明を、添付の図面と合わせて、実施形態により以下に説明する。
【0018】
図1は、太陽電池を測定する装置を示しており、この装置は、マトリックス光源1を備える。このマトリックス光源1は、多数の固体光源から構成されており、これらの固体光源には、コンピュータ制御電源5によってエネルギーが供給される。これらの固体光源は、太陽電池2の最適なスペクトル感度範囲内におけるその発光エネルギーを電流に変換することができるように、そのスペクトル光放射の大きさが決められている。生成される測定電流は、この放射エネルギーに正比例する。アナログ測定電流は、アナログ/デジタル変換器3を介してデジタル測定信号に変換されることによって、評価ユニット/テストコンピュータ4においてさらに処理される。
【0019】
本発明によれば、スペクトル領域が880nmであるLEDが、固体光源として用いられている。その理由は、この波長における放射エネルギーが、最も容易にシリコン太陽電池によって変換されるからである。ここでは、まず、較正された基準セルが所定のタイムユニットに供給され、このセルに、コンピュータ制御電源5の制御されたダイオード電流を介して、マトリックス光源1の放射パワーが、所定の方式で増加するように供給される。較正値1000W/m2まで、これに関して生成された電流又は電圧は、テストシャントを介して記録される。この基準セルのテスト温度は、25℃である(STC)。
【0020】
図1に示された測定装置をこのように較正した後には、あらゆる所望の太陽電池を又は同じセル材料でできたあらゆる対応する放射センサを照射することができると共に、入射放射と相関する測定電流を決定することができる。この測定電流と基準セルの電流との偏差は、補正係数又は較正曲線を介して考慮される。
【0021】
図2は、図1に開示されたマトリックス光源1の詳細を示している。本実施形態では、個々のLEDは、マトリックス光源回路基板8の領域にわたって、少なくとも20の並列ストランド(列)に配置されると共に、これらが順に少なくとも20のLEDから成る直列回路(行)となるように配置される。個々のLEDストランドには、コンピュータ制御電源5から、ドライバモジュール6を介して、所定の電流が供給される。このストランド電流を監視して制御するために、LEDの放射が各ストランドから出力されることによって、このストランド電流を基準光源フィードバックネットワーク7において評価することができる。
【0022】
図3は、本発明によるこの基準光源フィードバックネットワーク7を詳細に示している。放射が出力される基準LED9は、本実施形態におけるマトリックス状光源の形態と同様である。太陽電池又は光センサチップ11は、適応フィルタ10を介して照射される。マトリックス光源1の光度は、LEDの電流を介して調整することができるので、基準光源フィードバックネットワーク7は、マトリックス光源回路基板8の老朽現象又は温度偏差を補償する手段としての機能を果たす。
【0023】
図4は、図2で既に説明された本発明によるマトリックス光源1を、広域ダブルマトリックス光源16としてのモジュール式拡張機構において示している。本実施形態によれば、図1に基づいて上述したような測定タスクは、ここでは、例えば光起電モジュール12に対して行うことができる。
【0024】
図5は、電子回路基板が適切に修正されたXYマトリックス光源13、x行及びy列に対するデコーダアセンブリ14、並びに、プログラム可能な電流源15の例を示している。本実施形態によれば、個々の電流モニタは、このプログラム可能な電流源において行われる。本発明によれば、所定の振幅及び形状の光パルスを選択して太陽電池の均質性をテストすることによって、生成処理においてできるだけ障害を起こさないようにすると共に、できるだけ単純な方式でこれらの太陽電池を評価することができるようにする。
【図面の簡単な説明】
【図1】
マトリックス光源を備えた、太陽電池をテストする装置を示す、略図である。
【図2】
LEDを有する実際のマトリックス光源及び作動ネットワーク、フィードバックネットワークを含む基準測定構造、並びに、電源を示す、略図である。
【図3】
基準LED、光適応フィルタ、及び評価センサを備えた、基準測定構造を示す、略図である。
【図4】
例えば光起電モジュールのような面積の大きいテスト試料に対する、モジュール式に拡張されたダブルマトリックス光源を示す、略図である。
【図5】
x−y作動することによって太陽電池の均質性をテストする、マトリックス光源構造を示す、略図である。
Claims (11)
- 太陽電池(2)を照射する所定のマトリックス光源(1)と、
電流調整器で前記光源を作動させる手段と、
テストする太陽電池(2)に電気的に接続し、照射された前記太陽電池によって出力される電力を測定し、必要に応じて、較正された基準セル(11)の電力と比較する評価ユニット(4)と、
を備える、太陽電池をテストする装置であって、
発生する放射が、実質的に単色であり、測定する前記太陽電池(2)の好適なスペクトル感度範囲内にあるような固体光源から、前記マトリックス光源が構成される、
太陽電池をテストする装置。 - 特に、25℃において1200W/m2の特定放射パワーの出力により、Si太陽電池(2)をテストし、
前記マトリックス光源が、赤外領域における最大値、好ましくは880nmである放射を発する固体光源を有する、
請求項1に記載の装置。 - 特に、25℃において1200W/m2の特定放射パワーの出力により、CIS又はCdTe太陽電池(2)をテストし、
前記マトリックス光源が、赤色領域における最大値、好ましくは600nm又は700nmである放射を発する固体光源を有する、
請求項1に記載の装置。 - 特に、25℃において1200W/m2の特定放射パワーの出力により、非晶質シリコンの太陽電池(2)をテストし、
前記マトリックス光源が、青又は青紫色領域における最大値、好ましくは450nmである放射を発する固体光源を有する、
請求項1に記載の装置。 - 前記マトリックス光源が、10×10cmの太陽電池をテストするために、少なくとも400個の固体光源を有する、請求項1又は請求項2〜4に記載の装置。
- 前記固体光源が、レンズ状の放射オリフィスを有するLEDであり、4.3mm±10%間隔であるマトリックス状構造が、ほぼ均質な放射領域を形成する、請求項1〜5のうちの少なくとも1つに記載の装置。
- 前記光源を作動させる手段が、コンピュータ制御評価ユニット(4)に一体化されている、請求項1〜6のうちの少なくとも1つに記載の装置。
- 前記光源を作動させる手段が、基準光源フィードバックネットワーク(7)を有するコンピュータ制御電源(5)である、請求項7に記載の装置。
- 前記マトリックス光源(1)が、モジュール式であり、モジュールの追加により拡張することができる、請求項1〜8のうちの少なくとも1つに記載の装置。
- 前記マトリックス光源(13)がXYマトリックスの形態であり、前記固体光源の電流が個々に制御可能である、請求項1〜9のうちの少なくとも1つに記載の装置。
- 前記マトリックス光源(1)が、異なるスペクトル光を発する固体光源のグループであり、前記グループを適切に作動させることにより、所望の混合スペクトルを生成することができる、請求項1及び請求項5〜9のうちの少なくとも1つに基づいた、請求項10に記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10051357A DE10051357A1 (de) | 2000-10-17 | 2000-10-17 | Vorrichtung zum Prüfen von Solarzellen |
EP01117506A EP1199576B1 (de) | 2000-10-17 | 2001-07-20 | Vorrichtung zum Prüfen von Solarzellen |
PCT/EP2001/011894 WO2002033430A1 (de) | 2000-10-17 | 2001-10-15 | Vorrichtung zum prüfen von solarzellen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004511918A true JP2004511918A (ja) | 2004-04-15 |
JP4551057B2 JP4551057B2 (ja) | 2010-09-22 |
Family
ID=26007383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002536566A Expired - Lifetime JP4551057B2 (ja) | 2000-10-17 | 2001-10-15 | 太陽電池をテストする装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20040020529A1 (ja) |
JP (1) | JP4551057B2 (ja) |
CN (1) | CN1260576C (ja) |
AU (1) | AU2002216964A1 (ja) |
WO (1) | WO2002033430A1 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002111029A (ja) * | 2000-07-04 | 2002-04-12 | Canon Inc | 光電変換特性の測定方法およびその装置 |
JP2009043987A (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Toyota Motor Corp | 太陽電池モジュールの故障診断装置 |
WO2010103786A1 (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-16 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および試験方法 |
WO2011152081A1 (ja) * | 2010-06-04 | 2011-12-08 | 富士電機株式会社 | ソーラーシミュレーターおよび太陽電池検査装置 |
WO2011152082A1 (ja) * | 2010-06-04 | 2011-12-08 | 富士電機株式会社 | ソーラーシミュレーターおよび太陽電池検査装置 |
JP2012073167A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Sharp Corp | 擬似太陽光照射装置 |
JP2018190690A (ja) * | 2017-05-11 | 2018-11-29 | 日産自動車株式会社 | 光照射装置 |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2212891B1 (es) * | 2002-07-12 | 2005-10-01 | Universidad Del Pais Vasco Euskal Herriko Unibertsitatea | Sistema de evaluacion de celulas solares. |
JP2004273245A (ja) * | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Canon Inc | 擬似太陽光照射方法および装置 |
JP5256521B2 (ja) * | 2003-03-14 | 2013-08-07 | 独立行政法人科学技術振興機構 | Ledを用いた太陽電池の評価方法及びその評価装置 |
CN100364117C (zh) * | 2004-08-15 | 2008-01-23 | 李毅 | 用于非晶硅电池测量的标准太阳能电池及其制造方法 |
DE102005002651B3 (de) * | 2005-01-19 | 2006-08-24 | Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertreten durch den Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt Braunschweig und Berlin | Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Defekten an Solarzellenelementen |
JP5236858B2 (ja) * | 2005-02-01 | 2013-07-17 | 日清紡ホールディングス株式会社 | 太陽電池の出力特性の測定方法。 |
EP1710589A1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-11 | VA TECH Transmission & Distribution SA | Optical sensor arrangement for electrical switchgear |
US7309850B2 (en) * | 2005-08-05 | 2007-12-18 | Sinton Consulting, Inc. | Measurement of current-voltage characteristic curves of solar cells and solar modules |
JP5009569B2 (ja) * | 2005-10-03 | 2012-08-22 | 日清紡ホールディングス株式会社 | ソーラシミュレータとその運転方法 |
US8239165B1 (en) * | 2007-09-28 | 2012-08-07 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Ultra-fast determination of quantum efficiency of a solar cell |
US20090308426A1 (en) * | 2008-06-11 | 2009-12-17 | Kent Kernahan | Method and apparatus for installing, testing, monitoring and activating power generation equipment |
US20100073011A1 (en) * | 2008-09-23 | 2010-03-25 | Applied Materials, Inc. | Light soaking system and test method for solar cells |
EP2345089A4 (en) * | 2008-10-17 | 2012-10-03 | Atonometrics Inc | UV EXPOSURE CHAMBER FOR PV MODULES |
GB0821146D0 (en) | 2008-11-19 | 2008-12-24 | Univ Denmark Tech Dtu | Method of testing solar cells |
US20100206355A1 (en) * | 2009-02-13 | 2010-08-19 | Infusion Solar Technologies | Self generating photovoltaic power unit |
WO2010101629A1 (en) * | 2009-03-01 | 2010-09-10 | Tau Science Corporation | High speed quantum efficiency measurement apparatus utilizing solid state lightsource |
DE102009053504B3 (de) * | 2009-11-16 | 2011-07-07 | Sunfilm AG, 01900 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Quanteneffizienz einer Solarzelle |
ES2389219B1 (es) * | 2009-12-09 | 2013-04-03 | Aplicaciones Técnicas de la Energía, S.L. | Procedimiento y sistema de verificación de un conjunto de células solares fotovoltaicas. |
TWI397708B (zh) * | 2010-04-06 | 2013-06-01 | Ind Tech Res Inst | 太陽能電池之量測系統和太陽光模擬器 |
EP2458393A3 (de) * | 2010-08-31 | 2013-09-25 | SCHOTT Solar AG | Verfahren zur Bestimmung der Kenngrössen einer photovoltaischen Einrichtung |
DE102011002960B3 (de) * | 2011-01-21 | 2012-04-26 | Osram Ag | Solarsimulator und Verfahren zum Betreiben eines Solarsimulators |
IT1404468B1 (it) * | 2011-02-10 | 2013-11-22 | Ecoprogetti S R L | Dispositivo simulatore solare a led per test su pannelli solari, fotovoltaici o su celle solari |
ITUD20110115A1 (it) * | 2011-07-19 | 2013-01-20 | Applied Materials Italia Srl | Dispositivo per la simulazione della radiazione solare e procedimento di test che utilizza tale dispositivo |
US10027278B2 (en) * | 2013-05-10 | 2018-07-17 | Sinton Consulting, Inc | Characterization of substrate doping and series resistance during solar cell efficiency measurement |
EP3092397B1 (en) * | 2013-12-31 | 2018-12-19 | United Technologies Corporation | Inlet manifold for multi-tube pulse detonation engine |
US9866171B2 (en) | 2015-10-13 | 2018-01-09 | Industrial Technology Research Institute | Measuring device for property of photovoltaic device and measuring method using the same |
US10128793B2 (en) * | 2015-11-12 | 2018-11-13 | The Boeing Company | Compensation technique for spatial non-uniformities in solar simulator systems |
CN105841931A (zh) * | 2016-05-20 | 2016-08-10 | 苏州北鹏光电科技有限公司 | 一种光谱响应测试系统及测试方法 |
TWI617128B (zh) | 2016-11-03 | 2018-03-01 | 財團法人工業技術研究院 | 太陽能電池量測裝置 |
US10720883B2 (en) | 2017-04-24 | 2020-07-21 | Angstrom Designs, Inc | Apparatus and method for testing performance of multi-junction solar cells |
FR3083405B1 (fr) * | 2018-06-28 | 2020-07-31 | Airbus Defence & Space Sas | Dispositif de test d'un generateur solaire de satellite |
CN114354131A (zh) * | 2022-03-18 | 2022-04-15 | 中国飞机强度研究所 | 一种飞机测试用太阳辐射试验控制系统及其控制方法 |
CN117335745B (zh) * | 2023-11-29 | 2024-04-09 | 龙焱能源科技(杭州)有限公司 | 电池组件测试装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63309059A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-16 | Omron Tateisi Electronics Co | 固体光源装置 |
JPH09186212A (ja) * | 1996-01-05 | 1997-07-15 | Canon Inc | 光起電力素子の特性検査装置及び製造方法 |
JPH1126785A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-29 | Canon Inc | 太陽電池特性の測定方法 |
JPH11108844A (ja) * | 1997-10-01 | 1999-04-23 | Asahi Glass Co Ltd | 鏡面材料並びに透過材料の検査用光源装置 |
JPH11266036A (ja) * | 1998-03-17 | 1999-09-28 | Sanyo Electric Co Ltd | 平面光源装置およびその製造方法 |
JP2004281706A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Japan Science & Technology Agency | Ledを用いた太陽電池の評価方法及びその評価装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5158181A (en) * | 1985-10-29 | 1992-10-27 | Bailey Roger F | Optical sorter |
JPH06105280B2 (ja) * | 1986-04-08 | 1994-12-21 | 株式会社和廣武 | 太陽電池の特性試験方法 |
US5272508A (en) * | 1989-10-19 | 1993-12-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic photosensitive member and apparatus incorporating the same |
US5217285A (en) * | 1991-03-15 | 1993-06-08 | The United States Of America As Represented By United States Department Of Energy | Apparatus for synthesis of a solar spectrum |
US5394238A (en) * | 1992-11-09 | 1995-02-28 | Honeywell Inc. | Look-ahead windshear detector by filtered Rayleigh and/or aerosol scattered light |
AU6559394A (en) * | 1993-04-15 | 1994-11-08 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Raman spectrometer |
GB2278480A (en) * | 1993-05-25 | 1994-11-30 | Sharp Kk | Optical apparatus |
US5491343A (en) * | 1994-03-25 | 1996-02-13 | Brooker; Gary | High-speed multiple wavelength illumination source, apparatus containing the same, and applications thereof to methods of irradiating luminescent samples and of quantitative luminescence ratio microscopy |
JP3270303B2 (ja) * | 1995-07-26 | 2002-04-02 | キヤノン株式会社 | 電池電源装置特性測定装置および測定方法 |
JPH10162412A (ja) * | 1996-12-05 | 1998-06-19 | Rohm Co Ltd | 光ピックアップ |
US6034779A (en) * | 1997-08-08 | 2000-03-07 | Hoya Corporation | Array element examination method and array element examination device |
WO2000003198A1 (en) * | 1998-07-08 | 2000-01-20 | Ppt Vision, Inc. | Machine vision and semiconductor handling |
-
2001
- 2001-10-15 WO PCT/EP2001/011894 patent/WO2002033430A1/de active Application Filing
- 2001-10-15 CN CNB01817518XA patent/CN1260576C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2001-10-15 US US10/399,035 patent/US20040020529A1/en not_active Abandoned
- 2001-10-15 JP JP2002536566A patent/JP4551057B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2001-10-15 AU AU2002216964A patent/AU2002216964A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63309059A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-16 | Omron Tateisi Electronics Co | 固体光源装置 |
JPH09186212A (ja) * | 1996-01-05 | 1997-07-15 | Canon Inc | 光起電力素子の特性検査装置及び製造方法 |
JPH1126785A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-29 | Canon Inc | 太陽電池特性の測定方法 |
JPH11108844A (ja) * | 1997-10-01 | 1999-04-23 | Asahi Glass Co Ltd | 鏡面材料並びに透過材料の検査用光源装置 |
JPH11266036A (ja) * | 1998-03-17 | 1999-09-28 | Sanyo Electric Co Ltd | 平面光源装置およびその製造方法 |
JP2004281706A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Japan Science & Technology Agency | Ledを用いた太陽電池の評価方法及びその評価装置 |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002111029A (ja) * | 2000-07-04 | 2002-04-12 | Canon Inc | 光電変換特性の測定方法およびその装置 |
JP2009043987A (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Toyota Motor Corp | 太陽電池モジュールの故障診断装置 |
JP2013093611A (ja) * | 2007-08-09 | 2013-05-16 | Toyota Motor Corp | 太陽電池モジュールの故障診断装置 |
WO2010103786A1 (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-16 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および試験方法 |
JP5411925B2 (ja) * | 2009-03-10 | 2014-02-12 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および試験方法 |
DE112011100041T5 (de) | 2010-06-04 | 2012-06-21 | Fuji Electric Co., Ltd | Sonnensimulator und Solarzellen-Inspektionsvorrichtung |
DE112011101902T5 (de) | 2010-06-04 | 2013-03-21 | Fuji Electric Co., Ltd. | Sonnensimulator und Solarzellen-Inspektionsvorrichtung |
WO2011152082A1 (ja) * | 2010-06-04 | 2011-12-08 | 富士電機株式会社 | ソーラーシミュレーターおよび太陽電池検査装置 |
JPWO2011152082A1 (ja) * | 2010-06-04 | 2013-07-25 | 富士電機株式会社 | ソーラーシミュレーターおよび太陽電池検査装置 |
JP5310946B2 (ja) * | 2010-06-04 | 2013-10-09 | 富士電機株式会社 | ソーラーシミュレーターおよび太陽電池検査装置 |
JP5354100B2 (ja) * | 2010-06-04 | 2013-11-27 | 富士電機株式会社 | ソーラーシミュレーターおよび太陽電池検査装置 |
WO2011152081A1 (ja) * | 2010-06-04 | 2011-12-08 | 富士電機株式会社 | ソーラーシミュレーターおよび太陽電池検査装置 |
JP2012073167A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Sharp Corp | 擬似太陽光照射装置 |
JP2018190690A (ja) * | 2017-05-11 | 2018-11-29 | 日産自動車株式会社 | 光照射装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1469998A (zh) | 2004-01-21 |
WO2002033430A1 (de) | 2002-04-25 |
JP4551057B2 (ja) | 2010-09-22 |
US20040020529A1 (en) | 2004-02-05 |
CN1260576C (zh) | 2006-06-21 |
AU2002216964A1 (en) | 2002-04-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040707 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080805 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081104 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090316 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090324 |
|
A02 | Decision of refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100115 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100209 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100304 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100511 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100526 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100615 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100709 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4551057 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130716 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S201 | Request for registration of exclusive licence |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R314201 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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