JP2004503079A - ウェハ処理制御及び診断用の一体化された電子ハードウェア - Google Patents
ウェハ処理制御及び診断用の一体化された電子ハードウェア Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004503079A JP2004503079A JP2002507415A JP2002507415A JP2004503079A JP 2004503079 A JP2004503079 A JP 2004503079A JP 2002507415 A JP2002507415 A JP 2002507415A JP 2002507415 A JP2002507415 A JP 2002507415A JP 2004503079 A JP2004503079 A JP 2004503079A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bus
- control
- sensors
- circuit board
- vme
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/042—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
- G05B19/0421—Multiprocessor system
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32917—Plasma diagnostics
- H01J37/32935—Monitoring and controlling tubes by information coming from the object and/or discharge
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/20—Pc systems
- G05B2219/22—Pc multi processor system
- G05B2219/2208—Each processor controls a different function of the machine
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/20—Pc systems
- G05B2219/25—Pc structure of the system
- G05B2219/25434—Microprocessor and control logic integrated on same circuit board
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/45—Nc applications
- G05B2219/45031—Manufacturing semiconductor wafers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Control By Computers (AREA)
- Programmable Controllers (AREA)
Abstract
Description
【技術分野】
本発明は、半導体デバイスのプラズマ処理に係る。より詳細には、本発明は、半導体製造装置、特に、プラズマエッチングシステムに使用されるセンサやハードウェア制御器を一体化(集積、統合)する装置に係る。
【0002】
【背景技術】
特に、半導体デバイス製造の分野では、プラズマエッチング/付着及び反応性イオンエッチング/付着のようなイオン化ガスでの種々の形態の処理が益々重要になっている。特に関心のあるものは、エッチングプロセスに使用される装置である。図1は、半導体デバイスの処理及び製造に使用される従来の誘導性結合プラズマエッチングシステム100を示す。この誘導性結合プラズマ処理システム100は、プラズマチャンバー104を有するプラズマ炉102を備えている。変成器結合電力(TCP)コントローラ106及びバイアス電力コントローラ108は、各々、プラズマチャンバー104内に形成されるプラズマに作用するようにTCP電源110及びバイアス電源112を制御する。
【0003】
TCP電力コントローラ106は、TCP電源110の設定点をセットし、該TCP電源は、TCPマッチングネットワーク114により同調された高周波(RF)信号を、プラズマチャンバー104付近に配置されたTCPコイル116へ供給するように構成される。RF透過窓118が通常設けられていて、TCPコイル116をプラズマチャンバー104から分離する一方、TCPコイル116からプラズマチャンバー104へエネルギーを通せるようにしている。
【0004】
バイアス電力コントローラ108は、バイアス電源112の設定点をセットし、該バイアス電源は、バイアスマッチングネットワーク120により同調されたRF信号を、プラズマ炉104内に配置された電極122へ供給して、電極122に直流(DC)バイアスを形成するよう構成され、そして電極122は、処理される半導体ウェハのような基体124を受け入れる。
【0005】
振り子式制御バルブのようなガス供給メカニズム126は、通常、製造プロセスに必要な適切な化学薬品をプラズマ炉104の内部に供給する。ガス排出メカニズム128は、プラズマチャンバー104内から粒子を除去し、そしてプラズマチャンバー104内に特定圧力を維持する。圧力コントローラ130は、ガス供給メカニズム126及びガス排出メカニズム128の両方を制御する。
温度コントローラ134は、プラズマチャンバー104の周りに加熱カートリッジのようなヒータ136を使用して、プラズマチャンバー104の温度を選択された温度設定点に制御する。
【0006】
プラズマチャンバー104内では、真空のもとでイオン化ガス化合物(プラズマ)に基体104を露出することにより基体エッチングが達成される。このエッチングプロセスは、ガスがプラズマチャンバー104へ搬送されるときにスタートする。TCPコイル116により供給されそしてTCPマッチングネットワーク110により同調されたRF電力は、ガスをイオン化する。電極122によって供給されそしてバイアスマッチングネットワーク120により同調されたRF電力は、基体124にDCバイアスを誘起し、基体124のイオン衝撃の方向とエネルギーを制御する。エッチングプロセス中に、プラズマが基体124の表面と化学的に反応し、ホトレジストマスクで覆われていない材料を除去する。
【0007】
プラズマ炉の設定のような一次パラメータは、プラズマ処理において基本的に重要である。実際のTCP電力、バイアス電力、プラズマチャンバー104内のガス圧力、ガス温度、及びガス流量は、プロセス条件に大きく影響する。プラズマチャンバー104に供給される実際の電力が著しく変動すると、中性及びイオン化粒子密度、温度及びエッチング速度のような他のプロセス変数パラメータの予想値が不意に変化する。
【0008】
しかしながら、既存のプラズマエッチングシステムでは、互いにリアルタイムで直接通信しない個別のスタンドアローン型コントローラを介して一次パラメータが制御される。図2は、従来のプラズマエッチング制御ハードウェアシステムを示す。TCPマッチングネットワーク200は、TCPコントローラ202を含む。バイアスマッチングネットワーク204は、バイアスコントローラ206を含む。圧力制御バルブ208は、圧力コントローラ210を含む。光学的放射分光計(OES)又は干渉計(INTRF)212は、OES又はINTRFコントローラ214を含む。VMEシャーシ216は、シリアルリンク218を経てスタンドアローン型コントローラ202、206、210及び214と通信する。従って、炉の設定は、互いの間に比較的低速な通信リンクをもつスタンドアローン型コントローラにより個別に制御される。
【0009】
プラズマエッチングシステムでは、パラメータの1つが変化すると、他のパラメータに影響し得る。例えば、プロセス中に、チャンバー内の化学的反応によりプラズマインピーダンスが変化して、電力供給、温度及び圧力に影響を及ぼす。従って、これらの影響を効果的に取り除くためにオペレータにより精巧な個別の調製段階を開発する必要がある。これは、一般に、操作プロセスの窓を制限し、そして処理時間を延長し、プラズマエッチングシステムのスループットポテンシャルに影響を及ぼす。更に、第1ウェハ作用(同じプラズマ炉内の第1ウェハのプロセスは、その後のプロセスに影響する変化をプラズマ炉に生じさせる)及び常に存在するプロセスドリフトオーバー時間(ある期間にわたって使用されたプラズマ炉は、その長期使用のために精度を失う)も、炉の設定を制御するだけではチャンバー内及びウェハに何が起きるか制御できないことを示す。
【0010】
それ故、オープンアーキテクチャーで全ての制御を集中化し、種々のコントローラ間でリアルタイム通信を行うことのできる方法及び装置が要望されている。このような装置は、オペレータがエッチングプロセスの安定性及び再現性を著しく改善できるようにし、そして最終的に、プロセスに直接関連するパラメータを制御し、ウェハの特徴を直接制御できるようにする。
【0011】
【発明の開示】
半導体製造装置に使用するための集中制御装置は、オープンアーキテクチャーで複数のコントローラを一体化し、種々の制御ループ間でリアルタイム通信を行えるようにする。この集中型制御装置は、高レベル入力出力(I/O)及び制御アルゴリズムを実行する少なくとも1つの中央処理ユニット(CPU)と、センサ及び制御ハードウェアへの一体化されたインターフェイスを与える少なくとも1つの一体化されたI/Oコントローラとを備えている。一体化されたI/Oコントローラは、基本的なI/O及び低レベル制御機能を実行し、そしてバスを経てCPUと通信して、半導体製造装置の種々のサブシステムの制御を実行し又は可能にする。
【0012】
半導体製造装置に使用するための複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアを制御する方法は、バスに差し込まれるCPUボードにアプリケーションソフトウェアをロードすることを含む。センサ及び制御ハードウェアは、電気的コントローラにリンクされ、これらコントローラは、単一の回路板に取り付けられ、この単一の回路板は、バスのメモリスペースにおけるアドレスブロックを占有する。単一の回路板は、次いで、バスに差し込まれ、そしてセンサ及び制御ハードウェアは、アプリケーションソフトウェアにより制御される。
【0013】
【発明を実施するための最良の形態】
当業者であれば、本発明の以下の説明は、例示に過ぎず、これに限定されるものでないことが明らかであろう。この開示の利益を得る当業者には、本発明の他の実施形態も容易に示唆されよう。
プラズマエッチングシステムのような半導体製造装置は、コンピュータシステムを使用して、ウェハの搬送、ガスの流れ、ウェハの処理、及びウェハの剥離を監視しそして制御する。
【0014】
本発明の好ましい実施形態によるハードウェア制御システムが図3に示されている。これは、集中(中央)制御装置300を備え、この制御装置は、少なくとも1つの中央処理ユニット(CPU)ボード304と、少なくとも1つの回路板306、例えば、VIOPボードと、任意の通信ボード308とを含む。全てのボードは、シャーシ312内で、例えばVMEバス310のようなバスに差し込まれる。通信ボード308は、プラズマエッチングシステムの他のコンポーネント、例えば、ユーザインターフェイスと相互作用する。回路板306には、多数のI/Oマイクロコントローラが取り付けられる。I/Oマイクロコントローラは、種々の外部制御ハードウェア及びセンサ、例えば、TCPマッチングネットワーク314、バイアスマッチングネットワーク316、圧力制御バルブ318、及びOES又はINTRFセンサ320と通信する。特に、回路板306に配置された2つのTCPマイクロコントローラ322は、外部TCPマッチングネットワーク314を制御する。回路板306に配置された2つのバイアスマイクロコントローラ324は、外部バイアスマッチングネットワーク316を制御する。回路板306に配置された圧力マイクロコントローラ326は、外部圧力制御バルブ318を制御する。回路板306に配置されたOES又はINTRFコントローラ328は、外部OES又はINTRFセンサ320を制御する。
【0015】
マイクロコントローラ322、324、326、328は、外部ドライブ、即ちTCPキャパシタドライブ、バイアスマッチングキャパシタドライブ又は振り子型バルブドライブと通信する独立した内蔵ステッパコントローラである。又、集中制御装置は、例えば、オーシャン・オプチックスS2000分光計のようなOESへの内蔵インターフェイス、或いは例えば、オーシャン・オプチックスSD2000のようなOES及びINTRFの両方への内蔵インターフェイスも備えている。
【0016】
反応チャンバーにおいては、真空のもとでイオン化ガス化合物(プラズマ)にウェハを露出することによりウェハエッチングが達成される。エッチング調製法は、ガス流量、チャンバー圧力、RF電力、ギャップ間隔、チャンバー温度及びヘリウムバックサイド冷却圧力を制御する一連のステップより成る。これらの値は、コンピュータシステムにプログラムされる。オペレータは、エッチングプロセスをスタートする前に所望の調製法を選択する。CPU304は、高レベルI/O及び制御アルゴリズムを実行することにより調製アルゴリズムを処理し、そしてVMEバス320を経てマイクロコントローラ322、324、326、328と通信する。次いで、マイクロコントローラ322、324、326、328は、基本的I/O及び低レベル制御機能を実行し、そしてセンサ及び制御ハードウェア314、316、318、320への一体化されたインターフェイスを与える。それ故、CPU304は、VMEバス310を経てマイクロコントローラ322、324、326、328と通信し、TCP電力、バイアス電力、ガス圧力、及びOES又はINTRFセンサのようなプラズマエッチングシステムの種々のサブシステムの制御を実行し又は可能にする。
【0017】
図4は、回路板306(図3)の現在の好ましい実施形態を示す。I/Oプロセッサ回路板400は、VMEメモリスペースにおいて64KBのアドレスブロックを占有する24ビットアドレス及び16ビットデータVMEバス適合ボードを有する。バス402は、ステッパコントローラインターフェイス404と、デジタル入力(DI)及びデジタル出力(DO)VMEインターフェイス406と、デュアルポートメモリ(DPM)408と通信する。
【0018】
ステッパコントローラインターフェイス404は、TCPマッチングネットワーク314に対する2つの軸(TCPキャパシタ1 410及びTCPキャパシタ2 412)と、バイアスマッチングネットワーク316に対する2つの軸(バイアスキャパシタ1 414及びバイアスキャパシタ2 416)と、圧力制御バルブ318に対する1つの軸(振り子型バルブ418)と、1つのスペア軸420とを含む。ステッパコントローラインターフェイスは、軸を制御するマイクロコントローラ422へコマンドを送信する。データ速度は、ステップレートに対して4ビット、そして多数のレートテーブルを伴う指令に対して1ビットである。マイクロコントローラファームウェアは、ステップレートの変化と変化との間の加速/減速を自動的に実施する。
【0019】
DI及びDO VMEインターフェイス406は、DI及びDO424をVMEメモリスペースにマップする。DIは、24ボルトソース形式である。というのは、センサからソース電圧が必要とされるからである。DOは、24ボルトソース形式であり、読み戻し能力を有する。
DPM408は、マイクロコントローラ426、及びOES及び/又はINTRF VMEインターフェイス428と通信する。アナログ入力(AI)及びアナログ出力(AO)430は、DPM408を使用することによりVMEメモリスペースに直接マップされる。AI430は、マイクロコントローラ426により制御されるコンバータADC430の使用により変換される。マイクロコントローラ426により制御されるDAC430は、デジタル信号AO430を変換する。VIOP400は、32AI及び12AOを有する。AIは、−10ボルトないし+10ボルトの範囲で12ビット分解能を有し、特に、ホストにより開始される自己校正により0.1%の精度が保証されている。AOは、0ないし10ボルトの範囲において0.1%精度で12ビット分解能を有し、そして自己テスト目的で読み戻し能力を有する。
【0020】
又、VIOP300は、OES及び/又はINTRF432へのVMEインターフェイス428を含み、ここでは、制御及びデータがVMEメモリスペースにマップされる。OESは、オーシャン・オプチックスS2000でよい。OES及びINTRFは、オーシャン・オプチックスSD2000でよい。スペクトルデータは、OES及び/又はINTRFスペクトルの同時収集で12ビット巾である。スペクトルの加算は、例えば、PLDベースの形式のコントローラ428により実行され、積分周期は、1、1.4、2、2.8、・・というシーケンスで4mSから250mSまでプログラム可能である。
【0021】
それ故、本発明は、最適な性能に対して制御機能を区分化することができる。又、非タイムクリティカルサブシステムの「ローカル」制御を許しながらタイムクリティカルループの密接な結合を容易にする。このような一体化インターフェイスは、リソースの利用度を最大にしそしてハードウェア及びソフトウェアにおける冗長性を減少することにより装置のコストを低減する。又、このようなオープンアーキテクチャーは、コントローラをリアルタイムで整合させて、プロセスを安定で且つ一貫したものにすることができる。
【0022】
図5は、ソフトウェアアプリケーションと、センサ及び制御ハードウェアとの間の相互作用を示すフローチャートである。ブロック500において、CPUボード304のようなCPUボードに存在するアプリケーションソフトウェアは、プラズマエッチング及び付着炉においてウェハに所望の表面プロフィールを形成するに必要なパラメータをオペレータが入力できるようにする。このアプリケーションソフトウェアは、ブロック502においてドライバと相互作用する。ドライバとは、ブロック500におけるアプリケーションソフトウェアをブロック504における制御センサ及び制御ハードウェアにリンクする低レベルドライバプログラムルーチンである。回路板306(図3)は、各センサ及び制御ハードウェアに対して特定のマッピングアドレスが割り当てられている。例えば、VMEメモリスペースFAC2000h−FAC21FFFhは、VIOP状態/制御及びDI/DOに指定されている。次いで、これらドライバは、対応するメモリマップアドレスをリファレンスすることにより、アプリケーションソフトウェアから特定のセンサ又は制御ハードウェアに高レベルコマンドを搬送することができる。
【0023】
半導体製造装置に使用するためのセンサ及び制御ハードウェアを制御するための方法が図6のフローチャートに示されている。第1ブロック600において、オペレータが特定のパラメータを含む調製法を選択してプラズマエッチング及び付着システムで所望の表面プロフィールを形成できるようにするアプリケーションソフトウェアが、CPUボード304(図3)のようなCPUボードにロードされる。ブロック602では、CPUボードがVMEバス310のようなバスに差し込まれる。ブロック604では、TCPマッチングネットワーク314、バイアスマッチングネットワーク316、圧力制御バルブ318、及びOES/干渉計320のようなセンサ及び制御ハードウェアがマイクロコントローラにリンクされる。ブロック606では、マイクロコントローラ322、324、326及び328のような電気的コントローラが、VIOPボード306のような単一回路板に取り付けられる。次いで、この単一回路板は、ブロック608において、バスに差し込まれる。オペレータは、ブロック610において、CPUボードにロードされたアプリケーションソフトウェアを介してセンサ及び制御ハードウェアを制御する。コントローラのこのような集中ファシリティを単一ボードにもたせると、複数の非タイムクリティカルサブシステムのローカル制御を許しながら複数のタイムクリティカルループの密接な結合を容易にする。図6に示す方法の他の実施形態は、ブロック600ないし608を任意の順序に再配置することができる。
【0024】
単一回路板上のマイクロコントローラは、リアルタイムで通信するので、プラズマウェハプロセスの状態に関する重要な情報を交換することができ、CPUが全オペレーションに対するマスターとなることができる。このようなプラズマウェハプロセスは、CPUが単一回路板上のマイクロコントローラ及びインターフェイスに高レベル命令を送信することにより編成される。これらの命令は、次いで、「単純な」アクティビティに焦点を合わせたマイクロコントローラにより実行される。このようなアーキテクチャーは、各コントローラの閉ループが、互いに通信できるようにする。プラズマエッチング及び付着プロセスに影響を及ぼす共従属パラメータ及び変数が多数あるので、TCP、バイアス又は圧力のようなパラメータの巨視的な「同時」制御は、オペレータが、エッチング及び付着プロセスの精度、安定性及び再現性を著しく改善できるようにする。
【0025】
以上、本発明の実施形態及び用途を図示して説明したが、この開示の利益を得る当業者であれば、本発明から逸脱せずに、上記とは異なる多数の変更がなされ得ることが明らかであろう。例えば、一体化I/Oボードに種々の制御ループを一体化するレベルは、意図された特定の用途に基づいて拡張可能である。例えば、低レベルファームウェアを伴うOESを取り出して、「ポータブル」光学放射分光計としてCPUボードに合体することができる。この新たなコントローラは、公知技術において、その既存の能力を向上するために使用することもできる。
【0026】
又、非常に複雑な半導体製造装置については、この「集中型」制御装置を多数使用して、制御の区分け、ワイヤハーネス処理及びスペースの割り振りを最適化することができる。
それ故、本発明は、特許請求の範囲の精神以外によって何ら限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】
従来のプラズマエッチングシステムを示すシステムブロック図である。
【図2】
プラズマエッチングシステムにおける従来の制御ハードウェア環境を示すシステムブロック図である。
【図3】
本発明の特定の実施形態に基づくエッチングシステムの集中ハードウェア制御装置を示すシステムブロック図である。
【図4】
本発明の特定の実施形態に基づく回路板を示すシステムブロック図である。
【図5】
ソフトウェアアプリケーションと、センサ及び制御ハードウェアとの間の相互作用を示すフローチャートである。
【図6】
半導体製造装置に使用するためのセンサ及び制御ハードウェアを制御するための方法を示すフローチャートである。
Claims (10)
- 半導体製造装置に使用するための集中制御装置において、
バスと、
少なくとも1つの中央処理ユニット(CPU)カードであって、上記バスに差し込まれ、そして少なくとも1つの高レベルI/O制御アルゴリズムを実行するCPUカードと、
少なくとも1つの回路板であって、上記バスに差し込まれ、そして上記半導体製造装置の複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアへの一体化インターフェイスを与える回路板と、
を備えた集中制御装置。 - 上記回路板は、基本的I/O又は低レベル制御機能を遂行する請求項1に記載の集中制御装置。
- 上記回路板は、上記バスを経て上記CPUと通信して、上記半導体製造装置の複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアの制御を実行し又は可能にする請求項1に記載の集中制御装置。
- 上記バスは、バーサ・モジュラー・ヨーロピアン(VME)バスである請求項1に記載の集中制御装置。
- 半導体製造装置に使用するための回路板において、
VMEバス及び複数のマイクロコントローラと通信するステッパコントローラインターフェイスを備え、上記複数のマイクロコントローラは複数の軸を制御するものであり、更に、
VMEバスと通信しそしてデジタル入力及びデジタル出力をVMEメモリスペースにマッピングするデジタル入力及びデジタル出力インターフェイスと、
VMEバスと通信しそしてアナログ入力及びアナログ出力をVMEメモリスペースにマッピングする第1デュアルポートメモリと、
VMEバス及びOES又はINTRFと通信する第2デュアルポートメモリとを備えた回路板。 - 半導体製造装置に使用するための複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアを制御する方法において、
アプリケーションソフトウェアをCPUボードにロードし、
上記CPUボードをバスに差し込み、
上記複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアを複数の電気的コントローラにリンクし、
上記複数の電気的コントローラを単一の回路板に取り付け、この単一の回路板は、上記バスのメモリスペースにおけるアドレスブロックを占有し、
上記単一の回路板を上記バスに差し込み、そして
上記複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアを上記アプリケーションソフトウェアにより制御する、
という段階を備えた方法。 - 上記アドレスブロックは、64キロバイトである請求項6に記載の方法。
- 上記アプリケーションソフトウェアは、複数のドライバを経て上記複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアと通信し、上記複数のドライバは、上記アプリケーションソフトウェアに複数の対応するメモリマッピングアドレスをリファレンスさせる請求項6に記載の方法。
- 上記複数の電気的コントローラは、更に、複数の非タイムクリティカルなサブシステムのローカル制御を許しながら複数のタイムクリティカルなループの密接な結合を容易にする請求項6に記載の方法。
- マシンにより読み取り可能なプログラム記憶装置であって、これは、半導体製造装置に使用するための複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアを制御する方法を実行するために上記マシンにより読み取り可能な命令のプログラムを現実に実施し、上記方法は、
アプリケーションソフトウェアをCPUボードにロードし、
上記CPUボードをバスに差し込み、
上記複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアを複数の電気的コントローラにリンクし、
上記複数の電気的コントローラを単一の回路板に取り付け、この単一の回路板は、上記バスのメモリスペースにおけるアドレスブロックを占有し、
上記単一の回路板を上記バスに差し込み、そして
上記複数のセンサ及び複数の制御ハードウェアを上記アプリケーションソフトウェアにより制御する、
という段階を備えたものであるプログラム記憶装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/608,599 | 2000-06-30 | ||
US09/608,599 US6622286B1 (en) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | Integrated electronic hardware for wafer processing control and diagnostic |
PCT/US2001/020800 WO2002003429A2 (en) | 2000-06-30 | 2001-06-29 | Integrated electronic hardware for wafer processing control and diagnostic |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004503079A true JP2004503079A (ja) | 2004-01-29 |
JP2004503079A5 JP2004503079A5 (ja) | 2008-08-21 |
JP4986362B2 JP4986362B2 (ja) | 2012-07-25 |
Family
ID=24437204
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002507415A Expired - Fee Related JP4986362B2 (ja) | 2000-06-30 | 2001-06-29 | ウェハ処理制御及び診断用の一体化された電子ハードウェア |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6622286B1 (ja) |
EP (1) | EP1295316B1 (ja) |
JP (1) | JP4986362B2 (ja) |
KR (1) | KR100826492B1 (ja) |
CN (1) | CN100343771C (ja) |
AT (1) | ATE357011T1 (ja) |
AU (2) | AU2001271676A1 (ja) |
DE (1) | DE60127257T2 (ja) |
TW (1) | TW494432B (ja) |
WO (2) | WO2002003416A2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002082714A (ja) * | 2000-09-08 | 2002-03-22 | Tokyo Electron Ltd | 入出力回路系の自己診断回路 |
JP2002252161A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-06 | Hitachi Ltd | 半導体製造システム |
EP1518198A2 (en) * | 2002-07-03 | 2005-03-30 | Tokyo Electron Limited | Method and apparatus for automatic sensor installation |
US7208067B2 (en) * | 2003-03-27 | 2007-04-24 | Tokyo Electron Limited | Method and system for monitoring RF impedance to determine conditions of a wafer on an electrostatic chuck |
US7289862B2 (en) * | 2004-01-07 | 2007-10-30 | Britton David R | Methods to support process quality and maintenance during control of an industrial process such as welding |
US7289924B2 (en) * | 2005-07-20 | 2007-10-30 | Honeywell International Inc. | Self-calibrating sensor |
US20100014748A1 (en) * | 2008-07-21 | 2010-01-21 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for real time fault detection in high speed semiconductor processes |
US8255606B2 (en) * | 2008-10-24 | 2012-08-28 | Applied Materials, Inc. | Remote access gateway for semiconductor processing equipment |
US9117552B2 (en) | 2012-08-28 | 2015-08-25 | Kingtiger Technology(Canada), Inc. | Systems and methods for testing memory |
US9716022B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-07-25 | Lam Research Corporation | Method of determining thermal stability of a substrate support assembly |
US11429409B2 (en) * | 2018-09-04 | 2022-08-30 | Lam Research Corporation | Software emulator for hardware components in a gas delivery system of substrate processing system |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61228648A (ja) * | 1985-01-22 | 1986-10-11 | アプライド マテリアルズ インコ−ポレ−テツド | 半導体ウェハ製造装置、半導体ウェハ処理装置及びチャック装置 |
JPS63225804A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-09-20 | ストーブリ・インターナショナル・アクチエンゲゼルシャフト | ロボット制御システム |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5280983A (en) | 1985-01-22 | 1994-01-25 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing system with robotic autoloader and load lock |
US4962338A (en) | 1986-11-20 | 1990-10-09 | Staubli International Ag. | Universal robot control board configuration |
DE645685T1 (de) | 1989-08-31 | 1995-11-09 | Yokogawa Electric Corp | Verfahren zur Steuerung eines Line Computers zur Durchführung und Relokierung eines übersetztes Programms aus einer Datenspeichersammlung. |
US5270627A (en) | 1991-06-24 | 1993-12-14 | Unilens Corp., U.S.A. | Machine tool control system |
KR100278380B1 (ko) | 1993-05-19 | 2001-02-01 | 다카시마 히로시 | 반도체디바이스의 제조장치에 사용되는 통신시스템 |
EP0791887B1 (en) * | 1996-02-21 | 2001-05-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Flip-Chip layout input apparatus and method |
US6312525B1 (en) | 1997-07-11 | 2001-11-06 | Applied Materials, Inc. | Modular architecture for semiconductor wafer fabrication equipment |
KR100278137B1 (ko) * | 1997-09-04 | 2001-01-15 | 가나이 쓰도무 | 반도체소자의 탑재방법 및 그 시스템, 반도체소자 분리장치 및ic카드의 제조방법 |
US6220091B1 (en) * | 1997-11-24 | 2001-04-24 | Applied Materials, Inc. | Liquid level pressure sensor and method |
CN1085360C (zh) * | 1997-11-26 | 2002-05-22 | 鸿友科技股份有限公司 | 周边控制系统 |
US6098568A (en) * | 1997-12-01 | 2000-08-08 | Applied Materials, Inc. | Mixed frequency CVD apparatus |
JP3246891B2 (ja) * | 1998-02-03 | 2002-01-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置 |
US6205409B1 (en) * | 1998-06-26 | 2001-03-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Predictive failure monitoring system for a mass flow controller |
-
2000
- 2000-06-30 US US09/608,599 patent/US6622286B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-06-28 WO PCT/US2001/020830 patent/WO2002003416A2/en active Application Filing
- 2001-06-28 AU AU2001271676A patent/AU2001271676A1/en not_active Abandoned
- 2001-06-29 EP EP01950693A patent/EP1295316B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-29 CN CNB018149456A patent/CN100343771C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-06-29 AT AT01950693T patent/ATE357011T1/de not_active IP Right Cessation
- 2001-06-29 WO PCT/US2001/020800 patent/WO2002003429A2/en active IP Right Grant
- 2001-06-29 DE DE60127257T patent/DE60127257T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-29 AU AU2001271661A patent/AU2001271661A1/en not_active Abandoned
- 2001-06-29 KR KR1020027018031A patent/KR100826492B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2001-06-29 JP JP2002507415A patent/JP4986362B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-06-29 TW TW090116200A patent/TW494432B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61228648A (ja) * | 1985-01-22 | 1986-10-11 | アプライド マテリアルズ インコ−ポレ−テツド | 半導体ウェハ製造装置、半導体ウェハ処理装置及びチャック装置 |
JPS63225804A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-09-20 | ストーブリ・インターナショナル・アクチエンゲゼルシャフト | ロボット制御システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1295316A2 (en) | 2003-03-26 |
CN100343771C (zh) | 2007-10-17 |
DE60127257D1 (de) | 2007-04-26 |
AU2001271661A1 (en) | 2002-01-14 |
WO2002003429A2 (en) | 2002-01-10 |
EP1295316B1 (en) | 2007-03-14 |
KR20030060780A (ko) | 2003-07-16 |
US6622286B1 (en) | 2003-09-16 |
WO2002003416A2 (en) | 2002-01-10 |
ATE357011T1 (de) | 2007-04-15 |
KR100826492B1 (ko) | 2008-05-02 |
DE60127257T2 (de) | 2007-07-05 |
JP4986362B2 (ja) | 2012-07-25 |
TW494432B (en) | 2002-07-11 |
CN1449514A (zh) | 2003-10-15 |
WO2002003429A3 (en) | 2002-10-17 |
AU2001271676A1 (en) | 2002-01-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7375035B2 (en) | Host and ancillary tool interface methodology for distributed processing | |
JP4986362B2 (ja) | ウェハ処理制御及び診断用の一体化された電子ハードウェア | |
JP5233005B2 (ja) | プラズマ処理システム | |
CN118197893A (zh) | Rf系统 | |
KR20150041752A (ko) | 플라즈마 처리 장치 | |
JP2004509464A (ja) | シリコンのエッチング及びチャンバのクリーニングプロセスの一体化 | |
CN110537241A (zh) | 使用同时存在的原位和远程等离子体源进行快速室清洁 | |
CN110235227A (zh) | 利用原子层控制各向同性蚀刻膜 | |
WO2022093551A1 (en) | Synchronization of rf pulsing schemes and of sensor data collection | |
KR20080036447A (ko) | 반도체 장비 제어 시스템 및 제어 방법 | |
US20220301824A1 (en) | Plasma processing method and plasma processing apparatus | |
CN101086953A (zh) | 半导体基底处理装置、方法和介质 | |
JP7308110B2 (ja) | シリコン酸化膜をエッチングする方法及びプラズマ処理装置 | |
KR20080040804A (ko) | 반도체 제조관리 시스템 | |
KR20230103852A (ko) | 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치 | |
JP2023530125A (ja) | Rf信号のパラメータのパルス化周波数およびデューティサイクルの制御 | |
US12020901B2 (en) | RF impedance matching networks for substrate processing platform | |
KR20240084124A (ko) | Rf 발생 장치 | |
KR20230099996A (ko) | 제어 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 시스템 | |
JPS6362325A (ja) | ドライエツチング装置 | |
CN116266525A (zh) | 利用等离子体的基板处理装置和方法 | |
KR20240052988A (ko) | 하이브리드 주파수 플라즈마 소스 (hybrid frequency plasma source) | |
JP2022099113A (ja) | 処理方法及びプラズマ処理装置 | |
US20020104549A1 (en) | Method of reconditioning reaction chamber | |
JP2002203795A (ja) | プラズマ反応炉システムの運転制御方法及び装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080630 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080630 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111215 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120313 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120412 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120424 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4986362 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |