JP2004247325A - 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 - Google Patents
集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004247325A JP2004247325A JP2003032002A JP2003032002A JP2004247325A JP 2004247325 A JP2004247325 A JP 2004247325A JP 2003032002 A JP2003032002 A JP 2003032002A JP 2003032002 A JP2003032002 A JP 2003032002A JP 2004247325 A JP2004247325 A JP 2004247325A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solar cell
- film solar
- integrated thin
- light source
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 68
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims description 24
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000003086 colorant Substances 0.000 claims description 5
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- 239000010408 film Substances 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/541—CuInSe2 material PV cells
Abstract
【解決手段】暗ボックス1内には、集積型薄膜太陽電池5が載置されるステージ2が設置されており、ステージ2上には、集積型薄膜太陽電池5上をライン状に照射することのできるライン構造光源4が、ステップ駆動部3によりステップ移動できるように設置されている。ライン構造光源4の長手方向は、集積型薄膜太陽電池のセルの直列接続方向である。ライン構造光源4は、ステップ駆動部3により、太陽電池受光面の端から端までステップ状に送られ、ライン構造光源4の停止位置毎に集積型薄膜太陽電池5の光照射部分の電流−電圧特性が測定される。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法に関し、特に太陽電池受光面の局所的な特性測定を行うことができ局所的な欠陥を検出することができる集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図8(a)は、集積型薄膜太陽電池の斜視図であり、図8(b)は、そのA−A線の断面図である。図8において、101は基板、102は第1電極、103はa−Siなどからなる半導体層、104は第2電極、105、106は一対の出力端子である。集積型薄膜太陽電池には、表面光照射型と裏面(基板側)光照射型とがあり、前者の場合には、第2電極には透明導電膜(TCO)が用いられ、また後者である場合には、第1電極に透明導電膜が用いられ、基板にガラスなどの透明基板が用いられる。
【0003】
図8に示されるように、集積型薄膜太陽電池の各セルは第1電極102と半導体層103と第2電極104を有し、短冊状に形成されている。各セルは、第1電極102と第2電極104とを介して直列に接続されており、全体の出力は直列接続体の両端に設けられた出力端子105、106を介して取り出される。
このように形成された太陽電池の試験・測定は、全面に光を照射し、その電圧−電流特性を出力端子105、106を用いて測定することによって行っていた。そして、その結果に基づいて、最大出力(Pmax)を求め、Pmax/Isc・Voc(Iscは短絡電流、Vocは開放電圧)から算出される曲線因子:FF値等を求める(例えば、特許文献1参照)。
【0004】
【特許文献1】
特開2002−270877号公報(第3−7頁、図6−8)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
現実に生産された集積型薄膜太陽電池では、プロセス上の様々な要因により特性がばらつく。近年、薄膜集積型太陽電池はm2サイズクラスの大面積化が図られているが、大面積化によって、均一な成膜およびその維持が難しく、膜厚および組成の不均一部分、ピンホール等が性能低下、経時的不安定要因になり易い。従来は、太陽電池受光面の全面に光を照射し全体の特性を測定していたため、特性ばらつきや不良の要因が基板のどの位置に存在しているのかの把握が困難であった。そして、面内に大きな特性ばらつきがあってもばらつきが平均化されてしまうためばらつきは顕在化せず、ばらつきが大きい場合であっても全体的な特性が仕様に合致していれば将来劣化の進行が早いものと推測されるにも拘わらず良品として扱われてきた。また、半導体層のどの層にばらつき要因や不良原因があるのかを追求することも困難であった。そのため、製品にばらつきが生じてもあるいは不良が発生しても、それが基板のどの位置の膜に起因しているのかの特定が難しく、不良対策に長時間を要しまたばらつきの低減に有効な手立てを見出すことが困難であった。
本発明の課題は、上述した従来技術の問題点を解決することであって、その目的は、内部ばらつきや局部欠陥を検出できるようにしばらつきの大きな位置や欠陥発生位置を特定できるようにすることであり、これにより内部ばらつきの大きい製品や局部的欠陥を含む製品は出荷されることのないようにすると共に、迅速で的確な不良対策を講じ得るようにしばらつきの少ない製品を製造し得るようにしようとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明によれば、短冊状のセルが直列に接続された集積型薄膜太陽電池を載置する載置台と、前記集積型薄膜太陽電池上を照射する、セルの直列接続方向に長いライン状の光源と、前記光源に照射された前記集積型薄膜太陽電池の光−電気特性を測定する測定器と、を備えたことを特徴とする集積型薄膜太陽電池の評価装置、が提供される。
そして、好ましくは、前記光源または前記載置台のいずれか一方または双方を、前記光源の長さ方向と直交する方向にステップ状に移動させることができるようになされ、これにより太陽電池受光面の全領域を測定することができるように構成される。
【0007】
また、上記の目的を達成するため、本発明によれば、短冊状のセルが直列に接続された集積型薄膜太陽電池に、セルの直列接続方向に長いライン状の光を照射して、太陽電池のライン状受光部分の光−電気特性を測定することを特徴とする集積型薄膜太陽電池の評価方法、が提供される。
【0008】
【発明の実施の形態】
次に、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態を示す斜視図であり、図2は、その制御部のブロック図である。図1に示すように、遮光された容器である暗ボックス1内には、集積型薄膜太陽電池5が載置されるステージ2が設置されており、ステージ2上には、集積型薄膜太陽電池5上をライン状に照射することのできるライン構造光源4が移動可能に設置されている。ライン構造光源4は、ステップ駆動部3によりステップ状に移動されるように構成されており、これにより集積型薄膜太陽電池5の全受光面を照射することができるようになされている。
【0009】
ライン構造光源4の長手方向は、集積型薄膜太陽電池のセルの直列接続方向(図8の左右方向)になっている。ライン構造光源4の発光源はランプまたはLEDである。ランプとしてはハロゲンランプまたはキセノンランプを用いることができる。ランプとしては棒状のものを用いることができ、またライン構造光源4内に複数のランプが搭載されていても良い。ランプとして特に好ましいのは、ハロゲンランプである。
LEDを発光源とするとき、0.3〜1.5μmの波長範囲内の単色または白色の複数のLEDが直線的に配列される。異なる発光色のLEDをそれぞれ複数個用意しておき、切り換えて異なる色のLEDを発光させるようにしてもよい。この場合に、LEDは異なる発光色毎に別々の列に配列し、切り換えて異なる色のLED列を発光させるようにしてもよい。集積型薄膜太陽電池ではバンド幅の異なる半導体層が積層される場合が多い。この場合に、異なる発光色の照明光を照射して特性測定を行うことにより、どの半導体層に不良原因が存在しているのかの特定が容易になる。
【0010】
ライン光の長さは、太陽電池の受光面の出力端子間に設定し、ライン光の幅は、3〜50mmの幅に設定する。ライン光の幅は、ライン構造光源4の送られるステップ幅に関連して決定される。
ライン構造光源4には、光強度を均一化するための光拡散板が搭載されている。また、必要に応じてフィルタが搭載される。例えば、白色LEDを光源として用いるとき、白色LEDの発光色は通常の白色光より青側の光強度が高いので、フィルタを用いることにより白色LEDの発光スペクトルを補正することが望ましい。
ライン構造光源4は、薄膜太陽電池の全表面を測定する間中連続して発光させておくこともできるが、特性測定時にのみ発光させるようにしてもよい。
【0011】
ライン構造光源4は、ステップ駆動部3により、太陽電池受光面の端から端までステップ状に送られる。その望ましいステップ幅は3〜50mmである。また、1枚の太陽電池に係る望ましいステップ数は、10ないし100である。ステップ数が多ければ精度は向上するが測定時間が長期化するので、ステップ数は精度と生産性のバランスを考慮して決定される。1枚の太陽電池について測定が完了すると、ライン構造光源4はステップ駆動部3により初期位置に復帰される。
集積型薄膜太陽電池の搬入・搬出、ライン構造光源のステップ送り、特性の測定などの一連の動作は、制御部6によってコントロールされる。暗ボックス1内の雰囲気、すなわち温度、および/または、湿度が空調部7によって制御される。空調部7を設けることにより、温度変化ないし湿度変化に応じた特性を測定することが可能になる。
【0012】
図2に示されるように、制御部6には、中央処理部61を中心として、基板搬入・搬出部62、光源制御部63、測定部64、演算部65、判定・選別部66、記録部67が設けられる。基板搬入・搬出部62は、中央処理部61の指示を受け、被測定太陽電池の搬入・搬出および位置決めを制御する。光源制御部63には、光源位置制御部631と照明制御部632が設けられている。光源位置制御部631は、中央処理部61よりトリガー信号が発せられると、ライン構造光源を1ステップだけ送る。照明制御部632は中央処理部61の指示により光源のオン・オフを制御する。光源位置制御部631はまた当該被測定太陽電池について測定が完了すると光源の初期位置復帰を制御する。測定部64は、中央処理部61より被測定太陽電池の搬入が完了したこと若しくはライン構造光源の1ステップ移動が完了したことの信号を受けると被測定太陽電池の1ライン分のI−V特性を測定する。中央処理部61は、測定部64より1ライン分のI−V特性の測定が完了したことを示す信号を受け取ると光源制御部63へ向けてトリガー信号を発信する。演算部65は、測定部64の測定データを受け取りこれに基づいて最大出力PmaxとFF値とを算出する。測定部64の測定データと演算部65の演算結果とは、判定・選別部66と記録部67とに伝達される。判定・選別部66は、被測定太陽電池の全面のデータを取得すると、その被測定太陽電池の良・不良の判別を行うと共に不良品が発生した場合には警告を発し、良品である場合にはその光−電気特性に応じてクラス分けを行う。警告が発せられると製造ラインへフィードバックがかけられる。
【0013】
図3は、図1、図2に示される本実施の形態に係る集積化薄膜太陽電池の測定装置を用いた処理の流れの一例を示すフローチャートである。この例では、ライン構造光源は常時点灯されているものとされ、またライン構造光源のステップ送り回数はN(測定されるライン状領域はN+1個)であるものとする。太陽電池処理部Aでは、ステップS11において、被測定太陽電池がステージ上に送られてきて位置決めされる。ステップS12において、n=0と設定される。そして、ステップS13において、光−電気特性の測定が行われる。すなわち、光の照射されたライン状部分の電流−電圧特性が測定される。ステップS14において、nがNであるか否かがチェックされる。Nである場合には、ステップS15に至り、被測定太陽電池はステージ上から外され、本装置外へ搬出される。そして、ステップS16において、ライン構造光源は初期位置へ復帰される。ステップS14において、n=Nではないと判定された場合には、ステップS17に至り、トリガー信号が発生され、ステップS18において、ライン構造光源を1ステップ移動させる。そして、ステップS19において、n=n+1とした後、ステップS13へ移る。
【0014】
データ処理部Bでは、太陽電池処理部AのステップS11において、被測定太陽電池の搬入が行われると、ステップS21において、m=0と設定し、ステップS22において、太陽電池処理部AのステップS13にて得られた測定データを取り込む。そして、ステップS23において、取得した測定データに基づいて最大出力Pmaxを求め、FF値を算出する。次いで、ステップS24において、mがNであるか否かがチェックされる。mがNである場合には、ステップS25へ移り、測定の終了した被測定太陽電池の測定結果、演算結果を取得して、当該太陽電池について判定・選別を行う。すなわち、不良品は除外され、良品は特性に応じてクラス分けされる。不良品が発生した場合には、製造ラインに対してフィードバックが行われる(ステップS26)。ステップS24において、mがNではないと判定された場合には、トリガー信号待機状態となる。ステップS27において、ステップS17で発信されたトリガー信号が受信されると、ステップS28に移り、m=m+1とした後、ステップS22へ進む。
【0015】
図4は、本発明の第2の実施の形態を示す概略断面図である。本実施の形態では、被測定太陽電池が載置されるステージが移動できるように構成される。すなわち、ステップ送りされる可動ステージ12上に集積型薄膜太陽電池15は載置され位置決めされる。可動ステージ12は、暗ボックス11の床面にステップ移動可能に設置され、暗ボックス11の天井にはライン構造光源14が固定されている。ライン構造光源14の長手方向は紙面垂直方向であって、集積型薄膜太陽電池15のセルの直列接続方向もこの方向となっている。
本実施の形態においても、可動ステージ12をステップ送りし、ステップ送り毎に電気的特性を測定することにより、先の実施の形態と同様の効果を奏することができる。
【0016】
図5(a)は、本発明の第3の実施の形態を示す概略斜視図であり、図5(b)は、その要部斜視図である。本実施の形態においては、ライン構造光源24が複数本装備されたライン光源アレイ24Aが用いられる。光源アレイ24Aの光照射範囲は、集積型薄膜太陽電池25の全受光領域をカバーできるようにライン構造光源24の長さとその本数が決定されている。すなわち、ライン構造光源24の長さは太陽電池の受光面の出力端子間に設定され、その幅は3〜50mm、その本数は10ないし100になされる。光源アレイ24Aは、駆動部23により上下動され、集積型薄膜太陽電池25の測定時にはその表面に接触せしめられる。光源アレイ24Aの各ライン構造光源24は、点灯用電源逐次供給回路26より電力が供給され、順次点灯される。
【0017】
次に、本実施の形態装置の動作について説明する。被測定ウエハである集積型薄膜太陽電池25は、搬送手段(図示なし)により暗ボックス21内に搬入され、ステージ22上の所定の位置に位置決めされる。次に、ライン光源アレイ24Aが、駆動部23により降下させられ、その表面が集積型薄膜太陽電池25の受光面と接触させられる。続いて、点灯用電源逐次供給回路26により、例えば、図5(b)の右端のライン構造光源24が点灯される。そして、光照射領域の、すなわち、図5(a)に示す集積型薄膜太陽電池25の左端のライン状領域についての測定が行われる。そのライン状領域についての測定が終了すると、点灯用電源逐次供給回路26は、図5(b)に示す右から2番目のライン構造光源24が点灯され、そして図5(a)に示す集積型薄膜太陽電池25の左から2番目のライン状領域についての測定が行われる。以下、同様にして、ライン光源アレイ24Aの各ライン構造光源は逐次点灯され、それに連動して集積型薄膜太陽電池25のライン状測定領域についての測定が逐次行われる。集積型薄膜太陽電池25の全受光領域についての測定が完了すると、ライン光源アレイ24Aは駆動部23により上昇させられ、集積型薄膜太陽電池25は搬送手段(図示なし)により暗ボックス21外へ搬出される。
【0018】
【実施例】
ガラス基板上にモリブデン(Mo)を下部電極とし、p型CIGS(CuInGaSe)膜、n型CdS膜、ZnO膜、AlドープZnO膜が順次積層された集積型薄膜太陽電池を作製した。このモジュールの受光面積は171mm(セルの長手方向)x308mm(セルの直列接続方向)、セル段数は42である。一つのモジュール(モジュールAとする)上を、開口部の大きさが308x3mm2で棒状ハロゲンランプを発光源とするライン構造光源を用いて、3mmステップで57ライン照射して、ライン毎に特性を測定した。モジュールAについて得られた結果を図6に示す。他のモジュール(モジュールBとする)についても同様に測定した。そのライン毎の測定結果に基づいて、各ライン毎に最大出力Pmax、曲線因子FFを求めた。
図7は、モジュールAとモジュールBのライン毎の、短絡電流Isc、開放電圧Voc、最大出力Pmax、曲線因子FFを示したグラフである。図7において、縦軸は各特性値のばらつき幅である。各特性値のばらつきの許容値を10%と設定するとき、モジュールBは合格品となるが、モジュールAはPmaxにおいてばらつきが10%を越えるため不合格となる。
【0019】
モジュールAとモジュールBについて従来方法により測定・評価を行うとき、すなわち受光面全面に光照射を行い全体の特性測定を行うとき、面内ばらつきは平均化されるため、モジュールAとモジュールBについてほぼ同様の測定結果が得られ共に良品と判定される。しかし、面内に局部的に特性の悪い領域が存在している場合にはその部分から劣化が進行するため、経時安定性を向上させ長期信頼性を確保するためには、面内に局部的に劣悪部分が存在する製品は出荷段階でリジェクトしておくことが望ましい。また、局部的に劣悪部分が存在する製品が製造されているときには、製造工程での改善が望まれるが、従来方法では不良品発生を発見することができず、製造現場への工程改善方要請も不可能なことであった。本願発明は、不良品発見、製造ラインへのフィードバックに有効な手立てを提供するものである。
【0020】
以上好ましい実施の形態、実施例について説明したが、本願発明はこれらに限定されるものではなく、本願発明の要旨を逸脱しない範囲内において適宜の変更が可能なものである。例えば、上述した実施の形態では、ステップ移動は、ライン構造光源またはステージのいずれかであったが、双方がステップ移動できるように構成されていてもよい。
【0021】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、ライン構造光源によって集積型薄膜太陽電池上を照射してそのライン状部分の光−電気特性を測定しその性能を評価するものであるので、集積型薄膜太陽電池の局部的な特性を評価することができる。従って、本発明によれば、集積型薄膜太陽電池内部の特性ばらつきや局部的欠陥を認識することが可能になり、内部均一性の高い、局部的欠陥要素を含まない、すなわち経時的劣化の起こり難い品質の保証された製品の供給が可能になる。これと共に、太陽電池内部の特性ばらつきや局部的欠陥の製造過程への情報フィードバックが可能になり、工程管理上に有益な情報を提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す概略斜視図。
【図2】図1に示す装置の制御部の構成を示すブロック図。
【図3】図1に示す装置の処理の流れを示すフローチャート。
【図4】本発明の第2の実施の形態を示す概略断面図。
【図5】本発明の第3の実施の形態を示す概略斜視図。
【図6】本発明の一実施例の測定結果を示すグラフ。
【図7】図6の測定結果から得られた特性曲線図。
【図8】集積型薄膜太陽電池の斜視図と断面図。
【符号の説明】
1、11、21 暗ボックス
2、22 ステージ
3 ステップ駆動部
4、14、24 ライン構造光源
5、15、25 集積型薄膜太陽電池
6 制御部
7 空調部
12 可動ステージ
23 駆動部
24A ライン光源アレイ
26 点灯用電源逐次供給回路
Claims (20)
- 短冊状のセルが直列に接続された集積型薄膜太陽電池を載置する載置台と、前記集積型薄膜太陽電池上を照射する、セルの直列接続方向に長いライン状の光源と、前記光源に照射された前記集積型薄膜太陽電池の光−電気特性を測定する測定器と、を備えたことを特徴とする集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光源または前記載置台のいずれか一方または双方を、前記光源の長さ方向と直交する方向にステップ状に移動させることができることを特徴とする請求項1に記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光源または前記載置台のステップ移動の回数が、1集積型薄膜太陽電池について10回以上100回以下であることを特徴とする請求項2に記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記ステップ状の移動がトリガー信号によって開始され前記光−電気特性の測定が前記ステップ状の移動と連動して自動的に行われることを特徴とする請求項2または3に記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- ライン状の光源が、集積型薄膜太陽電池の全受光領域を覆うように複数本設けられ、各光源の点灯が逐次切り換えられることを特徴とする請求項1に記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光−電気特性が、当該太陽電池の光照射時の短絡電流、開放電圧および電流−電圧特性であることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光源が、直線的に配列された単色LEDもしくは白色LED、または、ランプを備えるものであることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記ランプが、棒状ハロゲンランプであることを特徴とする請求項7に記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光源が、発光色の異なるLEDをそれぞれ複数個ずつ備えるものであって、発光するLEDの色を切り替えることができるように構成されていることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光源が、直線的に配列されたLEDの列を複数個備えるものであって、各列のLEDの発光色が互いに異なっており、かつ、発光するLEDの色を切り替えることができるように構成されていることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光源には、光強度を均一化する光拡散板が備えられていることを特徴とする請求項1から10のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光源には、照射光のスペクトルを調整するフィルタが備えられていることを特徴とする請求項1から11のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 前記光源の光出射口の長さは太陽電池受光面の出力電極間に一致し、その幅は3mmから50mmの範囲であることを特徴とする請求項1から12のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 太陽電池の受光面は前記光源のみにより光照射されることを特徴とする請求項1から13のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価装置。
- 短冊状のセルが直列に接続された集積型薄膜太陽電池に、セルの直列接続方向に長いライン状の光を照射して、太陽電池のライン状受光部分の光−電気特性を測定することを特徴とする集積型薄膜太陽電池の評価方法。
- 前記ライン状受光部分をステップ状に移動させ、太陽電池受光面の全面の光−電気特性を測定することを特徴とする請求項15に記載の集積型薄膜太陽電池の評価方法。
- 太陽電池受光面の全面的測定結果に基づいて、面内の特性ばらつきを評価することを特徴とする請求項16に記載の集積型薄膜太陽電池の評価方法。
- 光−電気特性の測定結果に応じてクラス分けないし選別が行われることを特徴とする請求項15から17のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価方法。
- 照射光の色を変化させ、各色毎の光−電気特性を測定することを特徴とする請求項15から18のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価方法。
- 太陽電池の配置される環境の温度を変化させ、異なる温度での光−電気特性を測定することを特徴とする請求項15から19のいずれかに記載の集積型薄膜太陽電池の評価方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003032002A JP4765052B2 (ja) | 2002-12-19 | 2003-02-10 | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002368522 | 2002-12-19 | ||
JP2002368522 | 2002-12-19 | ||
JP2003032002A JP4765052B2 (ja) | 2002-12-19 | 2003-02-10 | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004247325A true JP2004247325A (ja) | 2004-09-02 |
JP4765052B2 JP4765052B2 (ja) | 2011-09-07 |
Family
ID=33031708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003032002A Expired - Lifetime JP4765052B2 (ja) | 2002-12-19 | 2003-02-10 | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4765052B2 (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010073990A (ja) * | 2008-09-19 | 2010-04-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 光電変換装置モジュールの検査装置 |
JP2011009358A (ja) * | 2009-06-24 | 2011-01-13 | Stanley Electric Co Ltd | 太陽電池評価装置 |
JP2011049474A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Sharp Corp | 太陽電池評価装置 |
JP2011082202A (ja) * | 2009-10-02 | 2011-04-21 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 検査装置 |
JP2011155225A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法 |
EP2546667A1 (en) * | 2011-07-13 | 2013-01-16 | Jean Randhahn | Method for characterizing large area thin film photovoltaic devices |
JP2013222896A (ja) * | 2012-04-18 | 2013-10-28 | Konica Minolta Inc | 太陽電池評価装置および該方法 |
TWI425233B (zh) * | 2007-10-22 | 2014-02-01 | Nisshin Spinning | 太陽能電池檢查裝置 |
JP2014523226A (ja) * | 2011-06-28 | 2014-09-08 | サン−ゴバン グラス フランス | 薄膜ソーラーモジュールの定格出力を迅速に安定させるための方法 |
CN111030595A (zh) * | 2019-12-16 | 2020-04-17 | 凯盛光伏材料有限公司 | 一种太阳能薄膜组件子电池测试方法 |
Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5920870A (ja) * | 1982-07-27 | 1984-02-02 | Sharp Corp | 太陽電池アレ−の試験方法 |
JPS6289367A (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-23 | シ−メンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法 |
JPS62134263U (ja) * | 1986-02-18 | 1987-08-24 | ||
JPH06194430A (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | Agency Of Ind Science & Technol | 太陽電池の評価方法 |
JPH08123561A (ja) * | 1994-10-20 | 1996-05-17 | Meidensha Corp | 太陽光発電システムの最大出力追従制御方法および装置 |
JPH08223815A (ja) * | 1995-02-09 | 1996-08-30 | Omron Corp | 充電装置 |
JPH09186212A (ja) * | 1996-01-05 | 1997-07-15 | Canon Inc | 光起電力素子の特性検査装置及び製造方法 |
JPH1079522A (ja) * | 1996-09-04 | 1998-03-24 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 薄膜光電変換装置およびその製造方法 |
JPH11103538A (ja) * | 1997-09-27 | 1999-04-13 | My Way Giken Kk | 光発電システム |
JPH11163379A (ja) * | 1997-12-02 | 1999-06-18 | Citizen Watch Co Ltd | アモルファスシリコン太陽電池 |
JP2001168355A (ja) * | 1999-12-06 | 2001-06-22 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 薄膜光電変換モジュールの欠陥修復方法及び薄膜光電変換モジュールの製造方法 |
JP2002111030A (ja) * | 2000-07-05 | 2002-04-12 | Canon Inc | 光電変換デバイスの、光電変換特性の測定または予測方法、および、スペクトル依存性の定量化方法、並びに、それらの装置 |
JP2003309277A (ja) * | 2002-04-18 | 2003-10-31 | Canon Inc | 光起電力モジュールの特性検査方法及び装置 |
-
2003
- 2003-02-10 JP JP2003032002A patent/JP4765052B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5920870A (ja) * | 1982-07-27 | 1984-02-02 | Sharp Corp | 太陽電池アレ−の試験方法 |
JPS6289367A (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-23 | シ−メンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法 |
JPS62134263U (ja) * | 1986-02-18 | 1987-08-24 | ||
JPH06194430A (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | Agency Of Ind Science & Technol | 太陽電池の評価方法 |
JPH08123561A (ja) * | 1994-10-20 | 1996-05-17 | Meidensha Corp | 太陽光発電システムの最大出力追従制御方法および装置 |
JPH08223815A (ja) * | 1995-02-09 | 1996-08-30 | Omron Corp | 充電装置 |
JPH09186212A (ja) * | 1996-01-05 | 1997-07-15 | Canon Inc | 光起電力素子の特性検査装置及び製造方法 |
JPH1079522A (ja) * | 1996-09-04 | 1998-03-24 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 薄膜光電変換装置およびその製造方法 |
JPH11103538A (ja) * | 1997-09-27 | 1999-04-13 | My Way Giken Kk | 光発電システム |
JPH11163379A (ja) * | 1997-12-02 | 1999-06-18 | Citizen Watch Co Ltd | アモルファスシリコン太陽電池 |
JP2001168355A (ja) * | 1999-12-06 | 2001-06-22 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 薄膜光電変換モジュールの欠陥修復方法及び薄膜光電変換モジュールの製造方法 |
JP2002111030A (ja) * | 2000-07-05 | 2002-04-12 | Canon Inc | 光電変換デバイスの、光電変換特性の測定または予測方法、および、スペクトル依存性の定量化方法、並びに、それらの装置 |
JP2003309277A (ja) * | 2002-04-18 | 2003-10-31 | Canon Inc | 光起電力モジュールの特性検査方法及び装置 |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI425233B (zh) * | 2007-10-22 | 2014-02-01 | Nisshin Spinning | 太陽能電池檢查裝置 |
KR101454929B1 (ko) | 2007-10-22 | 2014-10-27 | 닛신보 홀딩스 가부시키 가이샤 | 태양전지 검사장치 |
JP2010073990A (ja) * | 2008-09-19 | 2010-04-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 光電変換装置モジュールの検査装置 |
JP2011009358A (ja) * | 2009-06-24 | 2011-01-13 | Stanley Electric Co Ltd | 太陽電池評価装置 |
JP2011049474A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Sharp Corp | 太陽電池評価装置 |
JP2011082202A (ja) * | 2009-10-02 | 2011-04-21 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 検査装置 |
JP2011155225A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法 |
JP2014523226A (ja) * | 2011-06-28 | 2014-09-08 | サン−ゴバン グラス フランス | 薄膜ソーラーモジュールの定格出力を迅速に安定させるための方法 |
EP2546667A1 (en) * | 2011-07-13 | 2013-01-16 | Jean Randhahn | Method for characterizing large area thin film photovoltaic devices |
JP2013222896A (ja) * | 2012-04-18 | 2013-10-28 | Konica Minolta Inc | 太陽電池評価装置および該方法 |
CN111030595A (zh) * | 2019-12-16 | 2020-04-17 | 凯盛光伏材料有限公司 | 一种太阳能薄膜组件子电池测试方法 |
CN111030595B (zh) * | 2019-12-16 | 2022-08-30 | 凯盛光伏材料有限公司 | 一种太阳能薄膜组件子电池测试方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4765052B2 (ja) | 2011-09-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9103871B2 (en) | High throughput quantum efficiency combinatorial characterization tool and method for combinatorial solar test substrates | |
EP2137543B1 (en) | Test equipment for automated quality control of thin film solar modules | |
US20100073011A1 (en) | Light soaking system and test method for solar cells | |
US20040020529A1 (en) | Device for testing solar cells | |
US8810271B2 (en) | Method and apparatus for testing photovoltaic devices | |
JP3618865B2 (ja) | 光起電力素子の特性検査装置及び製造方法 | |
WO2011081114A1 (ja) | 太陽電池セルの電流電圧出力特性および欠陥の検査装置 | |
JP4765052B2 (ja) | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 | |
US10720883B2 (en) | Apparatus and method for testing performance of multi-junction solar cells | |
JP4625941B2 (ja) | 太陽電池の性能評価装置 | |
JP5134479B2 (ja) | 光電変換装置モジュールの検査装置 | |
Ebner et al. | Defect analysis in different photovoltaic modules using electroluminescence (EL) and infrared (IR)-thermography | |
JP2005197432A (ja) | 太陽電池セル特性の測定方法 | |
JP5509414B2 (ja) | 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法 | |
JP2010238906A (ja) | 太陽電池の出力特性測定装置および出力特性測定方法 | |
WO2010099964A2 (en) | Method and apparatus for measurement of ohmic shunts in thin film modules with the voc-ilit technique | |
JP2012525694A (ja) | 広面積半導体装置の電気的および光電気的な特性 | |
KR20130102268A (ko) | 발광소자 검사 장치 및 그의 검사 방법 | |
JP2011049474A (ja) | 太陽電池評価装置 | |
US20110089960A1 (en) | Measurement system | |
KR101104338B1 (ko) | 태양전지 성능 평가 장치 및 이를 이용한 태양전지 성능 평가 방법 | |
EP4075667B1 (en) | Photovoltaic device test method and test apparatus | |
TW201816409A (zh) | 用於測試太陽能電池的設備、用於生産太陽能電池的系統及用於控制模擬太陽輻射的光譜的輻照裝置的方法 | |
CN210142637U (zh) | 一种电池片测试装置 | |
Liu et al. | Using Various Pulse Durations and Reference Cells on Long-Pulse Solar Simulator for CIGS Thin-Film PV Module Performance Measurements |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041124 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080314 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080422 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080620 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080930 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081128 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090602 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100216 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4765052 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |